DE2450526A1 - Verfahren zur pruefung eines koerpers vorgegebenen schaltungsaufbaus - Google Patents

Verfahren zur pruefung eines koerpers vorgegebenen schaltungsaufbaus

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DE2450526A1
DE2450526A1 DE19742450526 DE2450526A DE2450526A1 DE 2450526 A1 DE2450526 A1 DE 2450526A1 DE 19742450526 DE19742450526 DE 19742450526 DE 2450526 A DE2450526 A DE 2450526A DE 2450526 A1 DE2450526 A1 DE 2450526A1
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data
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Raymond A Lloyd
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CBS Corp
Original Assignee
Westinghouse Electric Corp
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    • G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation

Description

DiPL-MG. KLAUS NEUEECKER
Patontanwelt
4 Düsseldorf 1 ■ Schadowplatz 9
•Düsseldorf, 23. Okt. 1974
Westinghouse Electric Corporation
Pittsburgh, Pa., V. St. A0
Verfahren zur Prüfung eines Körpers vorgegebenen· Schaltungsaufbaus
Die Erfindung bezieht sich auf Prüfanordnungen? insbesondere kontaktfreie Prüfanordnungen.
Es sind verschiedene Aufsätze und Veröffentlichungen erschienen, die sich mit· der theoretischen Durchführbarkeit von Untersuchungen auf Infrarotbasis befassen, um den einwandfreien Zustand (Integrität) elektrischer Schaltungen ^u ©mitteln« Einige solcher Systeme sind gebaut worden« Bi&@ Beschränkung dieser Systeme bildeten die infraroten Abtastverfahren, <äi® eingesetzt wurden, um . das Thermoprofii des untersucht®!» Gegenstandes zu erzeugen« In Verbindung mit diesen bekaaatea Systemen wurde ©la Profil dadurch erhalten? daß der zu untersuchende Sdaaltwsgs&ufbau (üblicherweise eine Karte mit einer_gedruckten Schaltung) aa die Fläche eines X-/Y-Positionierers angeschlossen und der Ausgangspunkt des abzutastenden Bereiches ,mit dem Brennpunkt des Infrarot-Detektocs zur Ausrichtung gebracht wurde« Der Schaltangaaufbau wurde mit Energie versorgt und dann mittels des X»/¥-PositiO2&i©rers in einer Abtastbahn im Verhältnis zu dem Brennpunkt des Infrarot-Detektors verschoben. Am Ende der Abtastbahn wird der zu untersuchende Gegenstand um einen Schritt weitergeschaltet und in derselben Ebene abgetastet. Dieses Verfahren wird fortgesetzt, bis die gesamte
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Telefon (O211) 32 O8 58 Telegramm« Cumtopat
Fläche des Gegenstandes durch den IR-Detektor abgetastet worden ist. Der X-/Y-Positionierer wird durch eine Reihe Schrittmotoren gesteuert, die typischerweise maximal hundert Schritte je Sekunde machen, wobei jeder Schritt etwa 25 η Verschiebung entspricht. Dieses Abtastverfahren erforderte lange Zeiten, um den Gegenstand abzutasten. Ein typisches Beispiel ist eine kleine Karte mit einer gedruckten Schaltung mit den Abmessungen 11,43 χ 11,43 cm. Um 11,43 cm mit einer maximalen Schrittschaltgeschwindigkeit abzutasten, würden für eine Ebene 4ff5 s benötigt. Das müßte 45öuaaal wiederholt werden, um die zweite Ebene abzutasten, mit anderen Worten, es würden 2025 s benötigt? um die gesamte Fläche der Karte abzutasten. Typische Systeme nach dem Stand der Technik werden in den folgenden Artikeln untersuchte (A) "Infrared for Electronics Equipment Diagnosis" von J« F. Stoddard, Raytheon Co., August 1968ι (B) "An Infrared Tester for Printed Circuit Boards and Microcircuits'" von R. W. Jones, Autonetics Division of North American Rockwell Corp., August 1968.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines kontaktfreien üntersuchungsverfahrens "und einer entsprechenden Vorrichtung ohne die Mängel des Sta&des der Technik«
Zur Lösung dieser Aufgabe ist eia Verfahren zur Prüfung eines Körpers vorgegebenen Sefeaituagsaufbaus zwecks Ermittlung seiner Funktionsfähigkeit ©rfifidangsgeasäS dadurch gekennzeichnet«, daß ein Referenzkörper mit dem vorgegebenen Schaltwngsaufbau mit einem Infrarotdetektor abgetastet;> sodasm der zu untersuchende Körper mit einem Infrarotdetektor sfefpfesatet und schließlich die von dem Referenzkörper einerseits uad dem untersuchten Körper andererseits erzeugten Signale zur Festlegung von dazwischen bestehenden Unterschieden verglichen und vorhandene Unterschiede statistisch analysiert werden, um zu bestimmen, ob der zu untersuchende Körper innerhalb der vorgeschriebenen Grenzen arbeitet-
Eine zur Durchführung des vorgenannten Verfahrens besonders geeignete Anordnung ist in Weiterbildung der Erfindung gekennzeichnet durch eine Einrichtung zur Prüfung des Referenzkörpers vorge-
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gebenen Schaltungsaufbaus zur Erzeugung von Referenzwerten durch Erfassung eines Parameters mit voraussehbarer Zuordnung zu der Funktion der Körper mit vorgegebenem Schaltungsaufbau; eine Einrichtung zur Prüfung zu untersuchender Körper mit vorgegebenem Schaltungsaufbau zur Erzeugung von Prüfdaten durch Erfassung der Parameter; eine Einrichtung zum Vergleich der Bezugs- und Prüfdaten zur Erzeugung von Vergleichsdaten, die in einer bestimmten Beziehung zu dem Unterschied zwischen den Referenz- und Prüfdaten stehen; sowie durch eine Einrichtung zur statistischen Analyse der Vergleichsdaten zur Bestimmung der Funktionsfähigkeit des zu untersuchenden Körpers.
Die Erfindung umfaßt eine Anordnung zur Erfassung von Infrarot-Strahlung (IR-Strahlung), die von einem elektronischen Schaltkreis erzeugt wird, und zur Analyse dieser Strahlung, um zu ermitteln, ob der Schaltkreis einwandfrei arbeitet. Grundsätzlich wird bei dem Verfahren so gearbeitet, daß ein einwandfrei arbeitender Körper mit dem zu untersuchenden Schaltungsaufbau als Referenz-Schaltkreis ausgewählt wird. Der Referenz-Schaltkreis wird in eine Fassung o. dgl. eingelegt und mit normalen Vorspannungen sowie ausgewählten Eingangssignalen beaufschlagt. Die Fläche des Referenz-Schaltkreises wird durch eine IR-TV-Kamera untersucht, um ein Videosignal zu erzeugen, das zu der von dem Referenz-Schaltkreis emittierten Infrarotstrahlung proportional ist. Das Videosignal wird ausgetastet,, nand jede Austastung wird digitalisiert, um eine erste Matrix mit digitalen Zahlen zu erzeugen, wobei die Größe der einzelnem Zahlen der von einem speziellen Teil des Schaltkreises emittierten Infrarotstrahlung proportional ist. Diese digitalen Zahlen werden daxm in einem Digitalspeicher gespeichert.
Es wird dann der zu untersuchende Schaltkreis in die Fassung oder Halterung eingelegt und mit Vorspannungen sowie Eingangssignalen beaufschlagt, die im wesentlichen denjenigen identisch sind, die zuvor an den Referenz-Schaltkreis angelegt wurden. Die Fläche des zu untersuchenden Schaltkreises wird dann durch die IR-TV-Kamera überprüft, um ein zweites Videosignal zu erzeugen, das der
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m* A mm
von dem zu untersuchenden Schaltkreis abgegebenen Infrarotstrahlung proportional ist. Dieses zweite Videosignal wird dann ausgetastetf und jede Austastung wird durch einen Analog-/Digital-Wandler digitalisiert, um eine zweite Matrix mit digitalen Zahlen zu erzeugen, wobei die Größe dieser Zahlen der Größe der Infrarotstrahlung proportional ist, die von einem bestimmten Punkt des zu untersuchenden Schaltkreises ausgeht. Diese Zahlen werden ebenfalls in dem Digitalspeicher gespeichert.
Ein digitaler Prozessor liest die erste und zweite Matrix digitaler Zahlen aus dem Speicher aus und vergleicht korrespondierende Elemente der ersten und zweiten Matrix, um eine dritte Matrix digitaler Zahlen zu erzeugen. Jedes Element dieser dritten Matrix ist dem Unterschied zwischen korrespondierenden Elementen der ersten und zweiten Matrix proportional. Diese dritte Za&lenmatrix wird dann analysiert, um Gebiete anzugeben, wo dl« IR-Strahlung von dem zu untersuchenden Schaltkreis nennenswert von der IR-Strahlung des korrespondierenden Teils des Referenz-Schaltkreises abweicht* Das Auftreten nennenswerter Abweichungen zeigt an, daß die zu untersuchende Schaltung nicht einwandfrei arbeitet.
Wenn der untersuchte Schaltkreis als fehlerhaft ermittelt wird, kann das IR-Stranliffigsmuster weiter analysiert werden, um direkt oder indirekt die Komponenten der untersuchten Schaltung zu ermitteln, die möglicherweise fehlerhaft sind. Das Ausmaß, in dem diese Analyse durchgeführt werden kann, hängt allgemein von der Art der untersuchten Schaltungsanordnung ab. Bei dem erläuterten System wird der Funktioas-Parameter verwendet, um eine nicht einwandfreie Funktion in der IR-Strahlung zu: erfassen. Es können andere Parameter wie das magnetische Feld verwendet werden, indem geeignete magnetische Srfassungseinrichtungen anstelle der IR-Kamerft vorgesehen werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels in Verbindung mit der zugehörigen Zeichnung erläutert. In der Zeichnung zeigen;
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Fig. 1 die funktioneilen Komponenten des Systems;
Fig. 2 eine typische Matrix, wie sie durch Abtasten des Referenz-Schaltkreises erhalten wird;
Fig. 3 eine typische Matrix, wie sie durch Abtasten des zu untersuchenden Schaltkreises erhalten wird;
Fig. 4 eine den Abweichungen zwischen den Matrizes nach Fig. 2 und 3 proportionale Matrix;
Fig. 5 eine Matrix, die andeutet, welche der Elemente der mit Fig. 4 wiedergegebenen Matrix von Bedeutung sind; und
Fig. 6 die Matrix nach Fig. 5 bei überlagerung eines Umrisses der Schaltkreiskomponenten, die den zu untersuchenden Schaltungsaufbau bilden.
Im einzelnen zeigt Fig. 1 die Komponenten des bevorzugten Ausführungsbeispiels des Systems nach der Erfindung. Der zu untersuchende Schaltkreis wird auf eine Fassung oder Halterung 11 aufgelegt. Die Halterung 11 ist so ausgestaltet, daß der Schaltkreis 10 in einer vorgegebenen räumlichen Zuordnung zu einer INfrarot-TV-Kamera (IR-TV-Kamera) 12 gehalten wird. Vorspannungen und Prüf-Eingangssignale werden dem Schaltkreis 10 mittels einer Energieversorgungs- und Signalgenerator-Einheit 13 zugeführt. Die von der IR-TV-Kamera 12 erzeugten Signale werden ausgetastet und durch einen Analog-/Digitalwandler (A/D-Wandler) 14 digitalisiert, um eine Zahlenmatrix zu erzeugen, die für die von der Fläche des zu untersuchenden Schaltkreises ausgehende IR-Strahlung repräsentativ ist. Die von dem A/D-Wandler 14 erzeugten digitalen Zahlen werden in einem Speicher 15 gespeichert. Der Inhalt des Speichers 15 wird dann durch einen Prozessor 16 analysiert, um Signale zu erzeugen, die für die Funktionsfähigkeit des zu untersuchenden Schaltkreises 10 repräsentativ sind, über den Schaltkreis 10 (Schaltkarte o. dgl.) wird Luft aus einem Luftschacht 20 geleitet. Die Luft kann dem Luftschacht 20 durch jede geeignete Einrichtung zugeführt werden. Das verhindert, daß Infrarotstrahlungsmuster, wie sie von
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einem Schaltkreis abgegeben werden, infolge der Erwärmung der Luftmassen in Nähe der Schaltkreiskomponenten eine Verzerrung erfahren.
Zur Durchführung des Prüfverfahrens nach der Erfindung wird ein Schaltkreis (Schaltplatte) 10, der den vorgegebenen Schaltungsaufbau hat und einwandfrei arbeitet, auf die Fassung 11 gebracht. Dieser Schaltkreis wird als Referenz-Schaltkreis angesehen. Die Energieversorgungs- und Signalgenerator-Einheit 13 wird mit dem Referenz-Schaltkreis über eine Kabelverbindung 21 gekoppelt. Die Luftversorgung (nicht dargestellt) wird eingeschaltet, um durch den Luftschacht 20 einen konstanten Luftstrom strömen zu lassen. Die IR-TV-Kamera 12, der A/D-Wandler 14, der Speicher 15 und der Prozessor 16 werden dann eingeschaltet. Die IR-TV-Kamera 12 wird auf den Schaltkreis 10 fokussiert. Das Video-Ausgangssignal der TV-Kamera wird mit dem A/D-Wandler 14 über ein Kabel 22 gekoppelt. Der A/D-Wandler 14 tastet das von der TV-Kamera erzeugte Signal aus und digitalisiert es, um so eine erste Matrix mit digitalen Zahlen zu erzeugen, wie das in Fig. 2 mit Symbolen angedeutet ist. Geeignete Verfahren zur Austastung* und Digitalisierung von TV-Signalen sind allgemein bekannt.
Xn allen Darstellungen werden Symbole anstelle von Zahlen verwendet. Dies erleichtert die visuelle Analyse der Matrizes, wie sie in Fig. 2 bzw. weiteren Zeichnungen dargestellt sind. Die Matrix nach Fig, 2 ist repräsentativ für die Punkt-zu-Punkt-IR-Strahltjng des Schaltkreises 10, Da man von dem Schaltkreis 10 weiß, daß er einwandfrei arbeitet, werden die diese Matrix bildenden Zahlen als Referenzdaten verwendet und mit ähnlichen Daten verglichen, wie sie durch Prüfung des zu untersuchenden Schaltkreises erzeugt werden. Es wurde gefunden, daß ein fünfwertiger Code eine ausreichende Auflösung gewährleistet. Der fünf wertige Code gestattet auch die Verwendung eines einfachen A/D-Wandlers und die Beschränkung der Bit-Zahl in dem digitalen Datenwort auf drei. Eine Verringerung der Anzahl Bits in dem Datenwort führt zu einer Verringerung der Speicher- und Datenverarbeitungsanforderungen.
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Der zur Erzeugung der ersten Zahlen-Matrix verwendete Referenz-Schaltkreis wird jetzt von der Fassung 11 entfernt und durch einen zu untersuchenden Schaltkreis ersetzt. Dieser Schaltkreis wird mit.der Energieversorgungs- und Signalgenerator-Einheit 13 über die Kabelverbindung 21 gekoppelt. Die IR-TV-Kamera 12 wird auf den zu untersuchenden Schaltkreis fokussiert, und es wird eine zweite Zahlen-Matrix durch Austasten und Digitalisieren der Video-Ausgangssignale der TV-Kamera 12 erzeugt. Diese Zahlen werden in dem Speicher 15 gespeichert, wie das zuvor erläutert wurde. Die zweite Zahlen-Matrix ist mittels Symbolen in Fig. 3 wiedergegeben. Der digitale Prozessor 16 liest die erste und zweite Zahlen-Matrix der Fig. 2. und 3 und subtrahiert die einzelnen Elemente der zweiten Matrix von den korrespondierenden Elementen der ersten Matrix, um eine neue Zahlen-Matrix zu erzeugen, die für die Differenz zwischen den beiden Matrizes repräsentativ ist. Diese neue Zahlen-Matrix ist mit Fig. 4 wiedergegeben.
Die Unterschiede oder Abweichungen in der IR-Strahlung von den verschiedenen Bereichen äer Schaltkreise könn^iich entweder aus der normalen Unterschiedlichkeit der den Schaltkreis bildenden Komponenten oder aber aus von der Norm abweichenden Bedingungen ergeben. Es ist daher notwendig, die Abweichungen in Fig. 4 zu analysieren, um zu bestimmen, welche dieser Abweichungen von Bedeutung sind. Ein statistisches Kriterium, das sich hinsichtlich der Analyse der Daten als nützlich erwiesen hat; besteht in der Analyse der wiedergegebenen Matrix der Fig. 4 auf Linie-zu-Linie-Basis in horizontaler Richtung. Es werden nur solche Gebiete als bedeutsam angesehen, in denen in mindestens drei benachbarten Elementen eine Abweichung vorliegt. Die Zahlen-Matrix der Fig. 4 wurde in dieser Weise ausgewertet. Zur Darstellung der Punkte in der Matrix, die diesem Kriterium entsprechen, wurde ein Dollar-Zeichen verwendet, und die sich ergebende Matrix ist mit Fig. 5 gezeigt. Die Matrix nach Fig. 5 wurde einem Umriß der Komponenten, die den untersuchten Schaltkreis bilden, überlagert. Das Ergebnis zeigt Fig. 6, wo die äußeren Abmessungen jeder Schaltkreiskomponente durch Daten angegeben sind, die in Segmenten einer geraden Linie angeordnet sind.
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Der zur Erzeugung der in der vorliegenden Anmeldung verwendeten Matrizes untersuchte Schaltkreis bestand aus integrierten Schaltungen und Widerständen. Die integrierten Schaltkreise sind in Fig. 6 mit dem Symbol IC und einer anschließenden Kennziffer bezeichnet. Die Widerstände sind in ähnlicher Weise mit dem Symbol R bezeichnet.
Es versteht sich, daß der zu untersuchende Schaltkreis auch in Abschnitten überprüft werden kann. Dies ist in Fig. 6 dadurch angedeutet, daß nur Teile oder Abschnitte von ICl, IC2 und IC5 im Betrachtungsbereich der Kamera liegen.
Fig. 6 zeigt, daß die Hauptabweichung zwischen den IR-Strahlungsmustern des Referenz-Schaltkreises und des zu untersuchenden Schaltkreises von einem integrierten Schaltkreis herrühren, der in dem linken unteren Eckbereich der Fig. 6 mit IC7 bezeichnet ist. Diese Abweichung wurde in der Tat durch das Einführen eines Fehlers in den integrierten Schaltkreis IC7 hervorgerufen. Die Abweichung in der Strahlung von den integrierten Schaltkreisen IC6, IC3 und IC5 ergab sich aus einer kleinen Änderung der Arbeitskennwerte dieser integrierten Schaltkreise infolge des in dem integrierten Schaltkreis IC7 aufgetretenen Fehlers. Dies zeigt deutlich, daß von einem fehlerhaften Schaltkreis erwartet werden kann, daß er ein abnormes IR-Strahlungsmuster abgibt, und daß diese Abnormitäten analysiert werden können, um zu ermitteln, welche Komponente das Problem verursacht.
Der praktischste Weg, das System zu betreiben, wobei dieses Verfahren auch in der Tat eingesetzt wurde, um die Matrizes nach Fig. 2 - 6 zu erzeugen, besteht in der Verwendung eines Allzweck-Digitalcomputers als Prozessor. Die mit Fig. 2-6 wiedergegebenen Matrizes können durch einen von dem Computer gesteuerten Drucker erzeugt werden. Der Digitalcomputer wurde ebenfalls verwendet, um den A/D-Wandler 14 zu steuern. Der Speicher 15 war ein Bestandteil des Computers. Das tatsächlich bei dem experimentellen System angewandte Programm, geschrieben in Fortran, ist nachstehend wiedergegeben:
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COMMON INI (BW,6H),IN2(80,60),M(80)
LLM2 C C OPEN DATA CHANNAL C
CALL FOPENU3, "ROATA")
WRTTE(LL,150) C C READ,CONVERT Ä PRINT REFERENCE DATA C DO 40 JbI,60
READ (13, 100) (INI (I, J), IMf 80)
CALL CONVERT(I,J) CONTINUE
WRITE(LL,151) C C READ CONVERT, & PRINT TEST DATA C DU 50 JM,60
REAl)(13,100)(IN2(I,J),IM,80)
CALL CONVERTU,J) CONTINUE
WRITE(LL,152) C C CALCULATE ABS VALUE OF DIFFERENCES BETWEEN C CORRESPONDING ITEMS C DO 801 1*1,60 DO 7Pi JM,80
IF(INl(J,I) ,LE. IF(INl(J,!) ,EO. 2)(ίΟ TO 9R IF(tWlCJ-fX) .EQ. 4)IN1(J,I)b2 GO TO TNi(J,I)M CONTINUE CALL CONVERT(I,I ) CONTINUE WRITE(LL,91) FORMAT(IHl, » DATA DESENSITIZED ') C C SCAN FÜR STRING OF THREE OR HORE NON NULL, ITEHS C DO 10(90 I = I,fiH
IF(INl(IPTi,I) .LT. 5) GO TO IF(IPTl .EQ. 80) GQ TO
GO TO 26)0 !.COUNT M IPT2MPT1 + IF(IM(IPT2,X) .EQ. 5) GO TO ICOUNTMCOUNT +1 IF(IPT2 ,EO, Ββ) GO TO IPT2MPT2+1 GO TO
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360 IPT3-IPT2-1
IF(ICUUNT .LT, 3) GO ΤΠ
DO 370 K-IPTl,IPT3 370 INi(K,I)-I
IF(IFLAG ,EQ. 1) GO TO
GO TO
3OW DQ 382 MIPTt,IPT3 302 INl(K,I)«5 IPT1*IPT2 CO TO 2610 CALL CnNVERT(I1I) 1000 COnTIMUE C C WRITE(LL,154)
154 FuRMAT(IHl,' LAYOUT OVERLAY ') C NOW READ IN OUTLINE DO 490 JbI,60
READ(13,110)(IN2(I,J),I«l,80) 40d CONTINUE C C C C COMBINE DESENSITIZED DATA & PATTERN OUTLINE C DO 42Λ J-I,60 DO 41« IbI,β!»
IF(INl(I,J) .EO, 5)IN1(I,J)bI t IF(INl(I,J) .EQ, 1) INl(I,J)B«$t IF(IN2(I,J) ,NE, » 1HNlCX,J)MNS(XfJ) 410 CONTINUE C C PRINT FINAL KESULT C
WKITE(LL,12»)(INl (II,J),11-1,80) 420 CONTINUE HD FORMAT(BiIAl) 120 FnRMAT(IX, 8PIA1) 100 FORMAT(B(*I1) 15H FORMAT(IHl,' DATA SET 1 ')
151 FORMAT(IHl,' ΠΑΤΑ SET 2 ')
152 FORMAT(IHl,' DIFFERENCE-·« DATA 3ET I = DATA SET 2 *) END
SUBROUTINE CONVERT (N,NN) COMMON INl (80,60) , ΙΝ2 (RM, 6(8) ,M (80) C THIS SUBROUTINE CONVERTS A LINE OF NUMERIC DATA C TO SYMBOLS AND THEN PRINTS IT C ARGUMENTS
C N-ARRAY * C NN-LINE H
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H sosU
DO 15 K-M ,80 IF(N ,EQ. 1) GOTO 30 KKMN2(K,NN) GO TO 40
30 KKbINJJ (K, NN) GOTO(I,2,3,4,51KK
1 M(K)BIfI
ROTO J5
2 H(K)d + t • GOTO 15
3 M(K)b'-I
GO TO 15
4 M(K). ',ι GO TO 15
5 M(K)Bt l 15 CONTINUE
t WHITF.(12,2«0) (M(II), 11«1 * 80) ; 200 FOHMAI(1X/R0A1)
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Das mit Fig. 1 wiedergegebene System kann aus allgemein auf dem Markt befindlichen Bauteilen zusammengesetzt werden. Geeignete Komponenten sind nach Hersteller und Teilenummer nachstehend aufgeführt:
(1) Die IR-TV-Kamera kann ein Thermovision-Modell Nr. 680 von AGA Corporation sein;
(2) der A/D-Wandler kann vom Typ ADC-H-4B von Dated Systems Corporation sein;
(3) der Speicher und der Prozessor können zusammengefaßt und ein Allzweck-Digitalcomputer Modell NOVA 1200 von Data General Corp, sein.
Das oben untersuchte Verfahren zur Analyse der Videosignale kann durch Anwendung von Analogverfahren verwirklicht werden. In dem bevorzugten, oben erläuterten System wurde mit Digitalverfahren gearbeitet, weil nach dem derzeitigen Stand der Hardware-Entwicklung eine Tendenz zur bevorzugten Anwendung von Digitalverfahren für Fälle der vorliegenden Art besteht.
Patentansprüche
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Claims (8)

  1. Patentansprüche
    Verfahren zur Prüfung eines Körpers vorgegebenen Schaltungsaufbaus zur Ermittlung seiner Funktionsfähigkeit, dadurch gekennzeichnet, daß ein Referenzkörper mit dem vorgegebenen Schaltungsaufbau mit einem Infrarotdetektor abgetastet, sodann der zu untersuchende Körper mit einem Infrarotdetektor abgetastet und schließlich die von dem Referenz-Körper einerseits und dem untersuchten Körper andererseits erzeugten Signale zur Festlegung von dazwischen bestehenden Unterschieden verglichen und vorhandene Unterschiede statistisch analysiert werden, um zu bestimmen, ob der zu untersuchende Körper innerhalb der vorgeschriebenen Grenzen arbeitet.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet/ daß die Abtastung mittels Fokussierung eher IR-TV-Kamera £12) auf mindestens einen der. Körper erfolgt.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Signale von der Referenz- und der Prüf-Abtastung in gleicher Weise ausgetastet und digitalisiert werden, um erste und zweite Matrizes digitaler Zahlen zu erzeugen.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß korrespondierende Elemente der ersten und der zweiten Matrix digitaler Zahlen verglichen werden, um eine dritte Matrix zu erzeugen, die dem Unterschied dazwischen gleich ist.
  5. 5. Anordnung zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zur Prüfung des Referenzkörpers vorgegebenen Schaltungsaufbaus zur Erzeugung von Referenzdaten durch Erfassung eines Parameters mit voraussehbarer Beziehung zu der Funktion der Körper mit vorgegebenem Schaltungsaufbau; eine Einrichtung zur Prüfung zu untersuchender Körper mit vorgegebenem Schaltungsaufbau zur Erzeugung von Prüfdaten durch Erfassung der Parameter; eine Einrichtung zum Vergleich der Bezugs-
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    und Prüfdaten zur Erzeugung von Vergleichsdaten, die in einer bestimmten Beziehung zu dem Unterschied zwischen den Referenz- und Prüfdaten stehen; sowie durch eine Einrichtung zur statistischen Analyse der Vergleichsdaten zur Bestimmung der Funktionsfähigkeit des zu untersuchenden Körpers.
  6. 6. Anordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Prüfung des Referenzkörpers und des zu untersuchenden Körpers eine IR-TV-Kamera (12) aufweist.
  7. 7. Anordnung nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch eine Aus-
    tast- und eine Digitalisier-Einrichtung zur Austastung und Digitalisierung der von der IR-TV-Kamera erzeugten Referenz- und Prufdaten.
  8. 8. Anordnung nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur statistischen Analyse der Vergleichsdaten einen Digitalcomputer aufweist.
    KN/ot 3
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    Leerseite
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