DE2366284C2 - Verfahren zum Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses - Google Patents
Verfahren zum Verschließen eines HalbleiterbauelementgehäusesInfo
- Publication number
- DE2366284C2 DE2366284C2 DE2366284A DE2366284A DE2366284C2 DE 2366284 C2 DE2366284 C2 DE 2366284C2 DE 2366284 A DE2366284 A DE 2366284A DE 2366284 A DE2366284 A DE 2366284A DE 2366284 C2 DE2366284 C2 DE 2366284C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- cover plate
- ring
- housing
- solder ring
- recess
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 5
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 5
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 3
- KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N [Fe].[Co].[Ni] Chemical compound [Fe].[Co].[Ni] KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910001313 Cobalt-iron alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005773 Enders reaction Methods 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- JVPLOXQKFGYFMN-UHFFFAOYSA-N gold tin Chemical compound [Sn].[Au] JVPLOXQKFGYFMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67126—Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
- B23K1/0004—Resistance soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/163—Connection portion, e.g. seal
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49121—Beam lead frame or beam lead device
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
- Y10T29/49144—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc. by metal fusion
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Fuses (AREA)
- Casings For Electric Apparatus (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Connection Of Batteries Or Terminals (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses, bei dem ein
das Halbleiterelement in eyner Vertiefung aufnehmendes Gehäuseteil, eine über der Vertiefung aufgelegte
Deckplatte und ein dazwischen angeordneter, die Vertiefung umgebender Lötmittelring soweit erhitzt
werden, daß der Lötmittelring aufschmilzt und die Deckplatte dicht mit dem Gehäuseteil verbindet.
Es ist üblich, Halbleiterelemente, die bekanntlich sehr kleine Abmessungen aufweisen, in Hohlräumen von
metallischen oder keramischen Gehäusen hermetisch zu verschließen, um sie vor schädlichen atmosphärischen
Einflüssen, insbesondere vor Feuchtigkeit und vor mechanischen Einwirkungen zu schützen. An das Maß
der Dichtheit werden hierbei sehr hohe Anforderungen gestellt. In den Fällen, in denen keramische Gehäuse
verwendet werden, ist es üblich, in das Gehäuse, das den das Halbleiterelement enthaltenden Hohlraum umschließt,
einen metallischen Ring einzubetten oder einzuschmelzen.
Aus der US-PS 33 40 602 ist bereits ein Verfahren der eingangs genannten Art bekanntgeworden, bei dem ein
Lötmittelring über seinen gesamten Umfang mit dem Rand des das Halbleiterelement in einer Vertiefung
aufnehmenden Gehäuseteils verbunden wird, dessen Boden aus einer Nickel-Kobalt-Eisen-Legierung oder
aus Glas besteht, der an Seitenwände aus Glas angeschmolzen ist, die oben in einem rechteckigen
Rahmen aus der vorgenannten Legierung enden. Das Gehäuseteil, die dieses verschließende Deckplatte und
der dazwischen angeordnete Lötmittelring werden gemeinsam erhitzt, bis der Lötmittelring schmilzt und
die Verbindung zwischen Deckplatte und Gehäuseteil herstellt. Bei diesem bekannten Verfahren muß der
äußerst dünne und zerbrechliche Lötmittelring zwischen Deckplatte und Gehäuse gesondert eingebracht
werden, was mit Schwierigkeiten verbunden ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, das Verschließen des Halbleiterbauelementgehäuses zu vereinfachen. Diese
Aufgabe wird gelöst, indem gemäß der Erfindung zuerst der Lötmittelring durch örtliche Erhitzung bis zur
Schmelztemperatur an einer Anzahl auseinanderliegender Punkte mit der Deckplatte verbunden wird und
danach die so hergestellte Deckplatteneinheit auf das Gehäuseteil aufgelegt wird.
Dadurch, daß der Lötmittelring zunächst nur an auseinanderliegenden Punkten mit dem Gehäusedeckel
verbunden wird, entfällt die Notwendigkeit, den äußerst
dünnen und zerbrechlichen Lötmittelring zwischen Deckplatte und Gehäuse gesondert einzubringen, was
wegen der Beschaffenheit des Ringes praktisch kaum möglich ist.
Während des Verschließvorganges erreicht der Ring bei dem erfindungsgemäßen Verfahren seine Schmelztemperatur
wegen seiner kleineren Masse und seiner geringeren thermischen Trägheit viel früher, als die
Deckplatte und das Gehäuse auf die gleiche Temperatur kommen, so daß die Schmelzverbindung schneller und
bei viel niedrigeren Temperaturen der Deckplatte und des Gehäuses zustandekommt. Hierdurch wird die bei
höheren Temperaturen eintretende Gasbildung in dem das Halbleiterelement aufnehmenden Behälterhohlraum
und eine hierdurch entstehende nachteilige Einwirkung auf das Halbleiterelement selbst vermieden.
Wenn der Lötmittelring mit der Deckplatte über seine ganze Fläche verbunden wäre, würde er wegen seiner
geringen Stärke und seiner hohen Wärmeleitfähigkeit seine Schmelztemperatur erst gleichzeitig mit der
Deckplatte erreichen, d. h. die Temperatur der Deckplatte und des Gehäuses würden ebenfalls bis zu der
Schmelztemperatur des Ringes selbst ansteigen. Das erfindungsgemäße Verfahren erleichtert schließlich
auch die Automatisierung der für das Zusammenfügen der einzelnen Teile erforderlichen Arbeitsgänge.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung dargestellt. Es zeigt
F i g. 1 eine Vorrichtung zum Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren in einem Blockdiagramm,
F i g. 2 eine Vorrichtung zum Verbinden eines entsprechend geformten Lötmittelringes mit einer
Deckplatte für ein Halbleiterbauelementgehäuse und damit zum Herstellen einer Deckplatteneinheit in
perspektivischer Darstellung und
F i g. 3 ein nach dem Verfahren gemäß der Erfindung zu verschließendes Halbleiterbauelementgehäuse in
einer Explosionsdarstellung.
In F i g. 1 sind die drei wesentlichen Verfahrensschritte
zum dichten Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses schematisch dargestellt. In einer Vorrichtung
10 wird ein entsprechend geformter abdichtender Lötmittelring 14, wie weiter unten beschrieben, mit
einer Deckplatte 13 verbunden. In einer Vorrichtung 11 wird die auf diese Weise hergestellte Deckplatteneinheit
13, 14 mit dem Gehäuse zusammengefügt, und in einer Vorrichtung 12, beispielsweise einem Brennofen,
werden die zusammengefügten Teile auf eine Temperatur erhitzt, bei welcher der abdichtende Lötmittelring
mit der Deckplatte 13 und dem Gehäuse verschmilzt, so daß der Verschluß zustandekommt.
In F i g. 2 ist die Anwendung der Vorrichtung 10 nach
Fig. 1 dargestellt. Eine flache Deckplatte 13 mit einem
aufgesetzten schmelzbaren, elektrisch leitenden Lötmittelring 14 ist in eine flache Vertiefung 15 einer
nichtleitenden Halterung 16 eingesetzt. Die äußeren Abmessungen der Vertiefung 15 sind nur geringfügig
größer als die der Deckplatte 13 und des Lötmittelringes 14, um ein Übereinstimmen der Lage des Lötmittelringes
14 mit dem Umfang der Deckplatte 13 zu gewährleisten. Die Deckplatte 13 kann beispielsweise
aus einer unter dem Handelsnamen »Kovar« erhältlichen Kobalt-Nickel-Eisen-Legierung hergestellt und
etwa 0,25 mm dick sein. Der Lötmittelring 14 dagegen besteht üblicherweise aus einer eutektischen Gold-Zinn-Legierung
und ist rund 0,05 mm dick. Seine äußeren Abmessungen entsprechen denen der Deckplatte 13. In
der Zeichnung ist zur besseren Darstellung die Dicke der Deckplatte 13 und des Ringes 14 stark vergrößert.
Der Ausdruck »Ring« ist hier und in dem Anspruch in einem umfassenden Sinn verwendet. Er schließt alle
Arten geschlossener Schleifen aus leitfähi.5'em Material
aus, deren Gestalt dem Außenumfang der Deckplatte 13 entspricht. In der Regel ist dieser Umfang rund oder
rechteckig.
Die zum Zusammenfügen bestimmte Vorrichtung nach F i g. 2 weist ferner eine Anzahl auseinaiiderliej,ender,
d. h. in einem gewissen Abstand voneinander angeordneter Elektrodenpaare 17, 18 und 19, 20 auf,
wobei die Elektrode 20 in der Figur verdeckt ist. Die Elektroden 17 bis 20 sind in Haltern 21 bis 24
verschieblich befestigt und werden von auf einer Betätigungsplatte 29 abgestützten und innerhalb der
Häher 21 bis 24 angeordneten Federn 25 bis 28 nach unten gedrückt. Die Betätigungsplatte 29 ist mit einem
Amriebszylinder 30 üblicher Bauart verbunden. Wenn der Antriebszylinder die Betätigungspla'te 29 nach
unten drückt, so werden die Elektroden 17 bis 20 nachgiebig auf den Lötmittelring 14 gepreßt, und zwar
alle mit etwa der gleichen Kraft.
Zwischen jedem Elektrodenpaar wird sodann ein besonderer Stromimpuls erzeugt. So entsteht durch den
Impulserzeuger 31 ein Stromimpuls zwischen den Elektroden 17 und 18, wobei der Impulserzeuger 31 über
Anschlußklemmen 32 von einem Schalter 33 erregt wird. Entsprechend wird zwischen den Elektroden 19
und 20 von dem Impulserzeuger 34, der über die Anschlußklemmen 35 von einem Schalter 36 erregt
wird, ein Stromimpuls erzeugt. Es ist auch möglich, die Punktverbindung unter Verwendung nur eines Impulserzeugers
herzustellen, von dem die Stromimpulse, wie oben geschildert, in den Elektrodenpaaren erzeugt
werden.
Nachdem die Deckplatte 13 und der Lötmittelring 14, wie in Fig. 2 dargestellt, in die Vertiefung 15 eingelegt
worden sind, wird die Betätigungsplatte 29 durch den Antriebszylinder 30 nach unten gedrückt. Die Elektro- '
den 17 bis 20 werden dabei an den Punkten 37 bis 40 federnd auf den Ring 14 gepreßt. Auf diese Weise fließt
dann der Strom von einer Elektrode eines Paares durch die Deckplatte und den LötinittelHng 14 zu der anderen
Elektrode. Tatsächlich teilt sich der Strompfad zwischen dem Lötmittelring 14 und der Deckplatte 13 auf, es fließt
aber genügend Strom durch den Berührungspunkt der
' Elektrode mit dem Ring 14, um, wie beschrieben, eine
Punktverbindung des Ringes 14 mit der Deckplatte 13 zu bewerkstelligen. Würde man alle Elektroden
gleichzeitig mit einem einzigen Impulserzeuger verbinden, so würde sich der Strom auf die verschiedenen
Strompfade zwischen den Elektroden entsprechend den unterschiedlichen Widerständen aufteilen. Einige der
Elektroden würde dann ein stärkerer Strom durchfließen als andere, und einige wurden dann keine
einwandfreie Punktverbindung ergeben.
Nachdem der Lötmittelring 14 mit der Deckplatte 13, wie eben beschrieben, verbunden und auf diese Weise
eine Deckplatteneinheit 13,14 erzeugt worden ist, wird
durch eine Leitung 41 und eine Bohrung 42 in der Halteplatte 16 auf die Unterseite der Deckplatte 13 ein
Luftstrom aufgebracht, um die Deckplatteneinheit 13, 14 aus der Vertiefung 15 und beispielsweise in den
Auffangtrichter einer automatischen Montagevorrichtung auszuwerfen.
In Fig. 3 wird das Verfahren zum Verbinden der Deckplatteneinheit 13, 14 mit einem Gehäuse 43
erläutert, das einen Hohlraum 44 mit einem darin enthaltenen Halbleiterelement 45 aufweist. Das Gehäuse
43 wird von einer größeren Halteplatte 46 getragen, die aus keramischem Material bestehen kann, und weist
in die Halteplatte 46 eingebettete Anschlußstifte 47, 48 auf, die in den Zuführungsdrähten für das Halbleiterelement
45 enden. Das Gehäuse 43 kann entweder aus keramischem Material oder aus Metall bestehen. Falls
es aus keramischem Material besteht, ist auf ihn um den Hohlraum 44 herum ein leitender Ring 49 eingeschmolzen.
Die in F i g. 3 dargestellter! zusammengefügten Teile
werden, nachdem die Deckplatteneinheit 13, 14 aufgelegt worden ist, durch einen geeigneten Bandofen
hindurchgeführt (Vorrichtung 12 in Fig. 1), um den abdichtenden Ring 14 zum Schmelzen zu bringen.
Hierbei wird das im Hohlraum 44 enthaltene Halbleiterelement 45 hermetisch abgeschlossen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Verfahren zum Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses, bei dem ein das Halbleiterelement in einer Vertiefung aufnehmendes Gehäuseteil, eine über der Vertiefung aufgelegte Deckplatte und ein dazwischen angeordneter, die Vertiefung umgebender Lötmittelring soweit erhitzt werden, daß der Lötmittelring aufschmilzt und die Deckplatte dicht mit dem Gehäuseteil verbindet, dadurch gekennzeichnet, daß zuerst der Lötmittelring (14) durch örtliche Erhitzung bis zur Schmelztemperatur an einer Anzahl auseinanderliegender Punkte (37 bis 40) mit der Deckplatte (13) verbunden wird und danach die so hergestellte Deckplatteneinheit (13,14) auf das Gehäuseteil (43) aufgelegt wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00257390A US3823468A (en) | 1972-05-26 | 1972-05-26 | Method of fabricating an hermetically sealed container |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2366284C2 true DE2366284C2 (de) | 1982-12-23 |
Family
ID=22976114
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2326614A Expired DE2326614C3 (de) | 1972-05-26 | 1973-05-25 | Verfahren zum Herstellen einer Deckplatteneinheit zum hermetischen Abschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses |
DE2366284A Expired DE2366284C2 (de) | 1972-05-26 | 1973-05-25 | Verfahren zum Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2326614A Expired DE2326614C3 (de) | 1972-05-26 | 1973-05-25 | Verfahren zum Herstellen einer Deckplatteneinheit zum hermetischen Abschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3823468A (de) |
JP (2) | JPS5636577B2 (de) |
CA (1) | CA966556A (de) |
DE (2) | DE2326614C3 (de) |
GB (1) | GB1391383A (de) |
NL (1) | NL169044C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0407649A1 (de) * | 1988-01-19 | 1991-01-16 | Microelectronics and Computer Technology Corporation | Verfahren zur Herstellung eines hermetisch versiegelten flachen Gehäuses, das ein elektronisches Bauelement enthält |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2227182B2 (de) * | 1973-01-26 | 1979-01-19 | Usinor | |
JPS5197978A (en) * | 1975-02-25 | 1976-08-28 | Shusekikairono patsukeejino shiiringuyosuzuro | |
US4117300A (en) * | 1977-04-05 | 1978-09-26 | Gte Sylvania Incorporated | Redundant welding method for metal battery containers |
IT1160700B (it) * | 1977-10-25 | 1987-03-11 | Bfg Glassgroup | Pannelli |
JPS6011644Y2 (ja) * | 1978-12-28 | 1985-04-17 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
US4280039A (en) * | 1979-01-12 | 1981-07-21 | Thomas P. Mahoney | Apparatus for fabricating and welding core reinforced panel |
US4190176A (en) * | 1979-01-23 | 1980-02-26 | Semi-Alloys, Inc. | Sealing cover unit for a container for a semiconductor device |
US4232814A (en) * | 1979-06-14 | 1980-11-11 | Semi-Alloys, Inc. | Method and apparatus for fabricating a sealing cover unit for a container for a semiconductor device |
US4291815B1 (en) * | 1980-02-19 | 1998-09-29 | Semiconductor Packaging Materi | Ceramic lid assembly for hermetic sealing of a semiconductor chip |
JPS58186951A (ja) * | 1982-04-24 | 1983-11-01 | Toshiba Corp | 電子部品のパッケ−ジング方法 |
US4572924A (en) * | 1983-05-18 | 1986-02-25 | Spectrum Ceramics, Inc. | Electronic enclosures having metal parts |
DE3587003T2 (de) * | 1984-04-30 | 1993-06-17 | Allied Signal Inc | Nickel/indium-legierung fuer die herstellung eines hermetisch verschlossenen gehaeuses fuer halbleiteranordnungen und andere elektronische anordnungen. |
US4601958A (en) * | 1984-09-26 | 1986-07-22 | Allied Corporation | Plated parts and their production |
US4666796A (en) * | 1984-09-26 | 1987-05-19 | Allied Corporation | Plated parts and their production |
JPS61204953A (ja) * | 1985-03-08 | 1986-09-11 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | ハ−メチツクシ−ルカバ−及びその製造方法 |
US4640438A (en) * | 1986-03-17 | 1987-02-03 | Comienco Limited | Cover for semiconductor device packages |
US5639014A (en) * | 1995-07-05 | 1997-06-17 | Johnson Matthey Electronics, Inc. | Integral solder and plated sealing cover and method of making same |
US6390353B1 (en) | 1998-01-06 | 2002-05-21 | Williams Advanced Materials, Inc. | Integral solder and plated sealing cover and method of making the same |
US6958446B2 (en) * | 2002-04-17 | 2005-10-25 | Agilent Technologies, Inc. | Compliant and hermetic solder seal |
JP3776907B2 (ja) * | 2003-11-21 | 2006-05-24 | ローム株式会社 | 回路基板 |
BR112013005319B1 (pt) * | 2010-09-06 | 2018-02-06 | Honda Motor Co., Ltd. | Welding method and welding device |
JP7138026B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2022-09-15 | 京セラ株式会社 | 光学装置用蓋体および光学装置用蓋体の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3340602A (en) * | 1965-02-01 | 1967-09-12 | Philco Ford Corp | Process for sealing |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE564064A (de) * | 1957-03-01 | 1900-01-01 | ||
US2979599A (en) * | 1959-05-12 | 1961-04-11 | Air Reduction | Multiple electrode holder |
US3141226A (en) * | 1961-09-27 | 1964-07-21 | Hughes Aircraft Co | Semiconductor electrode attachment |
US3266137A (en) * | 1962-06-07 | 1966-08-16 | Hughes Aircraft Co | Metal ball connection to crystals |
US3415973A (en) * | 1966-02-08 | 1968-12-10 | Budd Co | Method of welding sheet material |
US3538597A (en) * | 1967-07-13 | 1970-11-10 | Us Navy | Flatpack lid and method |
US3579817A (en) * | 1969-05-21 | 1971-05-25 | Alpha Metals | Cover for coplanar walls of an open top circuit package |
US3648357A (en) * | 1969-07-31 | 1972-03-14 | Gen Dynamics Corp | Method for sealing microelectronic device packages |
-
1972
- 1972-05-26 US US00257390A patent/US3823468A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-03-27 CA CA167,138A patent/CA966556A/en not_active Expired
- 1973-04-18 GB GB1867173A patent/GB1391383A/en not_active Expired
- 1973-04-27 NL NLAANVRAGE7305997,A patent/NL169044C/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-05-25 JP JP5790273A patent/JPS5636577B2/ja not_active Expired
- 1973-05-25 DE DE2326614A patent/DE2326614C3/de not_active Expired
- 1973-05-25 DE DE2366284A patent/DE2366284C2/de not_active Expired
-
1977
- 1977-02-17 JP JP1664277A patent/JPS52132676A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3340602A (en) * | 1965-02-01 | 1967-09-12 | Philco Ford Corp | Process for sealing |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0407649A1 (de) * | 1988-01-19 | 1991-01-16 | Microelectronics and Computer Technology Corporation | Verfahren zur Herstellung eines hermetisch versiegelten flachen Gehäuses, das ein elektronisches Bauelement enthält |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2326614A1 (de) | 1973-12-20 |
JPS5749142B2 (de) | 1982-10-20 |
NL7305997A (de) | 1973-11-28 |
GB1391383A (en) | 1975-04-23 |
NL169044B (nl) | 1982-01-04 |
CA966556A (en) | 1975-04-22 |
JPS52132676A (en) | 1977-11-07 |
JPS4943578A (de) | 1974-04-24 |
DE2326614B2 (de) | 1979-11-08 |
JPS5636577B2 (de) | 1981-08-25 |
US3823468A (en) | 1974-07-16 |
NL169044C (nl) | 1982-06-01 |
DE2326614C3 (de) | 1980-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2366284C2 (de) | Verfahren zum Verschließen eines Halbleiterbauelementgehäuses | |
DE69818011T2 (de) | Elektrische schmelzsicherung | |
DE1514273B2 (de) | Halbleiteranordmng | |
DE2946162C2 (de) | ||
DE102008047419A1 (de) | Sicherungen mit geschlitztem Sicherungskörper | |
DE3716391A1 (de) | Subminiatur-sicherung | |
DE19813468C1 (de) | Sensorbauelement | |
DE2925509A1 (de) | Packung fuer schaltungselemente | |
DE3230610A1 (de) | Verschliessverfahren unter verwendung eines verlorenen heizelementes | |
WO2005117219A1 (de) | Überspannungsableiter | |
DE102018116410A1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer hochtemperaturfesten bleifreien Lotverbindung und hochtemperaturfeste bleifreie Lotverbindung | |
EP0003034A1 (de) | Gehäuse für eine Leistungshalbleiterbauelement | |
EP0785563B1 (de) | Verfahren zum Befestigen eines ersten Teils aus Metall oder Keramik an einem zweiten Teil aus Metall oder Keramik | |
DE3304263A1 (de) | Glasschmelzsicherungen sowie verfahren zu ihrer herstellung | |
DE2646233A1 (de) | Schweissgeraet | |
DE1236081B (de) | Verfahren zur Herstellung von ohmschen Kontakten an Halbleiterbauelementen | |
EP3200568B1 (de) | Batteriebrücke und verfahren zum aktivieren einer elektronischen vorrichtung | |
DE3116589A1 (de) | Heizvorrichtung fuer einen elektrischen zigarettenanzuender | |
DE4117762C2 (de) | Thermische Schutzvorrichtung | |
DE2748239A1 (de) | Verfahren zum kontaktieren eines elektrischen kaltleiter-widerstandes mit einem anschlusselement | |
DE2735468A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer passiven elektro-optischen anzeigezelle | |
DE2340423A1 (de) | Weichgeloetete kontaktanordnung | |
DE3532472A1 (de) | Mehrteilige leitungsdurchfuehrung durch einen isolator | |
DE2041063B2 (de) | Elektrische Schmelzsicherung, insbesondere für Zigarrenanzünder in Kraftfahrzeugen | |
DE6607827U (de) | Halbleiterbauteil |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OI | Miscellaneous see part 1 | ||
OI | Miscellaneous see part 1 | ||
OI | Miscellaneous see part 1 | ||
OD | Request for examination | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee | ||
AC | Divided out of |
Ref country code: DE Ref document number: 2326614 Format of ref document f/p: P |
|
D2 | Grant after examination | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: ALLIED CORP., MORRIS TOWNSHIP, N.J., US |
|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: RUEGER, R., DR.-ING. BARTHELT, H., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 7300 ESSLINGEN |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |