DE2333787A1 - Maskentraegersubstrat fuer weiche roentgenstrahlen - Google Patents
Maskentraegersubstrat fuer weiche roentgenstrahlenInfo
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Description
DipUng. Richard Müller-Börner
Di,-·!.-! v\ Üjns-HeiwJdi Vfey
t
Die Erfindung betrifft ein Maskenträgersubstrat für weiche Röntgenstrahlen
und insbesondere ein Substrat, das eine weiche Röntgenstrahlen durchlassende straffe Membran aufweist, die dazu dient, eine Schablone
aus einem Material zu tragen, welches weiche Röntgenstrahlen absorbiert.
Druckrerfahren für weiche Röntgenstrahlen sind als Technik zur Wiedergabe subaikroner ebener Muster rorgeschlagen worden (rgl. USA-Patentanaeldung
Aktz. 217 902 tob 15.1.1972 "Soft X-ray Lithographie
Apparatus and Process")· Dabei wird das Muster rorzugsweise τοη einea
Elektronenraateraikroskop erzeugt. Masken zur Belichtung ait weichen
Röntgenstrahlen wurden für akustische Oberflächenwellenwandlernuster
ait einea Elektrodenabstand τοη 1,3 -u hergestellt und erfolgreich wiedergegeben.
So zeigt die Photolichtdruckherstellung für weiche Röotgenstrahlen
eine Auflösung, die größer als bei der üblichen Photolichtdruckherstellung ist und ait der hervorragenden Elektronenrasteraikroskoptechnik rerglichen
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werden kann. Der einfache Aufbau und die niedrigen Kosten der Photolichtdruckheratellung
für weiche Röntgenstrahlen zeigen, daß diese Technik in der Zukunft einen großen Einfluß auf die Herstellung von Vorrichtungen
für ultrahohe Auflösung haben kann. Jedoch wird eine weitrerbreitete
Anwendung der Technik der weichen Röntgenstrahlen, insbesondere als industrielles HerstellungsTerfuhren, teilweise τοη der Leichtigkeit
abhängen, «it der grcGTlächige Masken hergestellt und dee Substrat oder
der zu belichtenden Platte ausgerichtet werden können. Wegen des hohen Absorptionskoeffizienten aller Feststoffe gegenüber weichen Röntgenstrahlen
■uß der tragende Teil der Maske sehr dünn sein, damit eine ausreichende
Transparenz erzielt wird.
Beryllium, der Feststoff, der weiche Röntgenstrahlen an besten
durchläßt, ist für den tragenden Teil der Maske als sehr geeignet anzusehen. Jedoch hatte die ie Handel erhältliche dünnste Berylliumfolie eine
Dicke τοη etwa 12 ,u. Die Oberfläche dieser Folie war unregelmäßig und
wie zahlreiche Vertiefungen τοη 1 ,u auf. Sie war nicht geeignet als
Substrat, auf dem submikrone Muster alt hoher Auflösung in einer absorbierenden
Schicht aufgebaut werden nüssen. Zusätzlich wird Beryllium τοη den
■eisten Säuren (schwachen sowie starken) und alkalischen Lösungen angegriffen,
so daß dieser Stoff hinsichtlich Korrosion und chemischer Verträglichkeit
problematisch ist. Außerdem ist Berylliumstaub sehr giftig, so daß genaue SicherheitsTorkehrungen ergriffen werden müssen, wenn das Material
zugeschnitten oder maschinell bearbeitet wird.
Die bei Beryl-lium auftretenden Probleme legen es nahe, nach einem
Terfügbaren besseren Material zu suchen. Jedoch ist jedes andere Material
für weiche Röntgenstrahlen weniger durchlässig und müßte als wesentlich dünnere Schicht Torliegen, welche auf Qrund ihres eigenen Gewichtes durchhängen
würde. Deshalb benötigt man einen Träger, der diese dünnere Membran hält.
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Anfängliche Versuche, einen Träger herzustellen, waren damit verbunden,
daß eine Aluminiumfolie über eine Metallscheibe geklebt wurde. Aluminium
wurde auf Silizium aufgedampft, und in das Silizium wurde hinauf bis zum
Aluminium ein Loch eingeätzt. In allen Fällen wurden keine flachen Membranen erzielt, sondern es trat ein hoher Verbiegungegrad ein. Das Ausmaß des
Durchhängens hing aufgrund der unterschiedlichen Wärmeausdehitung von
Aluminium und dem Trägerrahmen von der Temperatur ab. Das Aluminium wurde außerdem von einigen der Chemikalien angegriffen, die bei späteren
Behandlungsschritten eingesetzt wurden.
Bei einem anderen Versuch wurde ein mit Phosphor angereichertes Siliziumplättchen eingesetzt, auf dem eine epitaxiale Schicht aus
reinem Silizium aufgebaut wurde. Das mit Phosphor angereicherte Substrat wurde teilweise bis zur epitaxialen Schicht weggeätzt. Diese Membranstruktur
war chemisch resistent, ganz fest und gegenüber Temperaturveränderungen stabil. Jedoch wies die Membran schlechte Vertiefungen auf.
Beanspruchungen der epitaxialen Schicht wurden freigegeben, wenn ein mit Phosphor angereichertes Silizium abgeätzt wurde, so daß sich ein
konkaver oder konvexer Aufbau ergab. In einigen Fällen wies die Membran eine Vertiefung von mehr als 10 ,u auf. Dies war für eine Maske für hohe
Auflösung nicht günstig.
Es ist deshalb eine Aufgabe der Erfindung, ein Maskensubstrat
für weiche Röntgenstrahlen zu schaffen, welches an den tragenden Stellen dick genug, jedoch an den anderen Stellen dünn genug ist, um weiche
Röntgenstrahlen gut durchzulassen.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Maskensubstrat
für weiche Röntgenstrahlen zu schaffen, bei dem der dünne Bereich oder
die Membran, die weiche Röntgenstrahlen relativ gut durchläßt und auf der in weiche Röntgenstrahlen absorbierendem Material ein Muster aufgebaut
wird, straff ist und nicht durcSiaigt.
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Die Erfindung beruht auf der Feststellung, daß das Problem des Durchhängen«
dadurch gelöst werden könnte, daß in der Membran eine Spannung erzeugt wird, welche sie straff hält, und daß eine derartige Spannung
in einer Siliziummembran hergestellt werden kann, die ron einer dickeren
Siliziumtrageretruktur getragen wird, indem die Membran mit Bor oder
Phosphor angereichert wird, welches einen geringeren kovalenten Bindungeradi us als Silizium hat und deshalb dazu führt, daß die Membran gegenüber
der sie umgebenden Trägerstruktur aus nichtangereichertem Silizium schrumpft. Außerdem beruht sie darauf, daß eine derartige Spannung auch
hergestellt werden könnte in einer dünnen Siliziummembran, die von einer dickeren Siliziumträgerstruktur getragen wird, welche mit Arsen, Gallium,
Antimon oder Aluminium angereichert ist, von denen jedes einen größeren kovalenten Bindungsradius als Silizium aufweist und deshalb dazu führt,
daß sich die Trägerstruktur gegenüber der nichtangereicherten Siliziummembran ausdehnt und die Membran spannt.
Die Erfindung besteht aus einem Maekensubstrat für Röntgenstrahlen,
welches ein Plättchen aus einem ersten Material aufweist, wobei eine
dünne Schicht dieses Materials mit einem kleinen Prozentsatz eines zweiten Materials angereichert ist, welches die dünne Schicht aus dem ersten
Material geringfügig zusammenzieht und die Angriffsrate eines Ätzmittels auf das erste Material so weit reduziert, daß eine dünne, straffe Membran
aus dem angereicherten Material erzeugt wird, welche weiche Röntgenstrahlen durchläßt und somit als Musterfenster wirkt, wobei jedoch genügende Mengen
des ersten Materials im übrigen Teil dieses ersten Materials um das Fenster herum zurückgelassen werden, um als Trägerstruktur zu wirken.
Alternativ kun ein Maskensubstrat für Röntgenstrahlen dadurch hergestellt
werden, daß eine dicke Schicht aus einem ersten Material angewandt wird, welches mit einem kleinen Prozentsatz eines zweiten Materials angereichert
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let, welche« da· «rate Material geringfügig auedehnt und auf welche· eine
dünne Sicht de· ersten Material· derart abgelagert ist, daß ei· Ätzaittel
wahlweiae ao riel τοη de· eraten Material entfernen kann, daß eine dünne,
atraffe Meebran au· de· nichtaagereicherten eraten Material erzeugt wird,
welche weiche Röntgenatrahlen durchläßt, um ala Muaterfenater zu wirken,
wobei genügende Mengen dea angereicherten eraten Materiala zurückgelassen werden u· das Fenster hem·, ■■ al* Trägeretruktur zu wirken.
Weitere Aufgaben, Eigenschaften und Vorteile gehen aus der folgenden
Beschreibung eines berorzugten Ausführungsbeispieles sowie den Zeichnungen
herror. In den Zeichnungen ist
der Herstellung einea erfindungageaäßen Substrate· hervorgeht;
Fig. 2 ein· Aneicht geaäß Fig. 1, aus der ein weiterer Schritt der
Herstellung des erfindungageaäßen Substrats hervorgeht;
Fig. 3 ein· Ansicht geaäß Fig. 2, aus der ein"weiterer Herstellungsschritt hervorgeht;
Fig. 4 eine Anaicht geaäß Fig. 3, welche ein fertige· Maakenträger-
Fig. 4 eine Anaicht geaäß Fig. 3, welche ein fertige· Maakenträger-
aubatrat für Röntgenatrahlen geaäß der Erfindung zeigt;
Fig. 5 eine scheaatiache Seitenanaicht, ana der der erate Schritt
der Herstellung einea alternativen erfindungsgeaäßen Substrates
hervorgeht;
Fig. 6 eine Ansicht geaäß Fig. 5, aus der ein weiterer Schritt der
Fig. 6 eine Ansicht geaäß Fig. 5, aus der ein weiterer Schritt der
Herstellung des erfindungageaäßen Subatratea hervorgeht;
Fig. 7 eine Anaicht geaäß Fig. β, aua der ein weiterer Heratelluaga-
echritt hervorgeht;
Fig. 8 eine Aaaicht geaäß Fig. 7, die ein fertigea Maakenträgeraubatrat geaäß der Erfindung zeigt; und
Fig. 8 eine Aaaicht geaäß Fig. 7, die ein fertigea Maakenträgeraubatrat geaäß der Erfindung zeigt; und
Fig. 9 eine scheaatiache perapektivische Ansicht einea Maakenträgersubatratea
für Röntgenatrahlen geaäß der Erfindung alt einer Vielzahl von Must*rfenstern und Meabranen. ·
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Bei eines bestiuten Ausführungebeispiel kann ein Trägersubstrat
für eine Maske 8 für weiche Röntgenstrahlen gemäß der Erfindung hergestellt werden, indes (Fig. 1) ein einziges Siliziuaplättchen 10 tob N-Typ
oder leicht angereicherten P-Typ rerwendet wird, welches eine Dicke ron
etwa 200 .u hat. Das Plättchen 10 wird stark alt Bor reraischt, so daß
19 —3
eine Konzentration ron etwa 2 χ 10 - ca bis auf eine Tiefe ron 3 >u ron der Oberfläche aua entsteht, so daß eine Bordiffusioneschicht 12 entsteht.
eine Konzentration ron etwa 2 χ 10 - ca bis auf eine Tiefe ron 3 >u ron der Oberfläche aua entsteht, so daß eine Bordiffusioneschicht 12 entsteht.
Dann werden Siliziuadioxidachichten (Fig. 2) 14 und 16, die jeweils
etwa 0,1 αχ dick sind, auf die obere und untere Oberfläche dea Plättchens
10 aufgebaut· Siliziuadioxidschichten sind rorgesehen, ua eine Schutzschicht
zu bilden, welche rerhindert, daß ein unerwünschtes Angreifen des Siliziuaa entsteht. Anschließend wird das gewünschte Maakenauster
(Fig. 3)- für weiche Röntgenstrahlen la Musterbereich 19 auf der Siliziuadioxidschicht
16 hergestellt, wozu bekannte Verfahren wie die Elektronenrasteraikroakoptechnik
oder photolithographische Verfahren eingesetzt werden. Das Maskenaueter 18 kann aua Gold oder irgendeinea anderen guten,
weiche Röntgenstrahlen absorbierenden Material hergestellt werden. In Fig. 3 wird eine Goldschicht 20 ron einer Dicke ron 0,3 λχ rerwendet,
und eine Zwischenschicht 22 aus Chroa alt einer Dicke ron 0,03 ax wird
angewandt, ua die Haftfeatigkeit zwischen der Goldachicht 20 und der
Siliziuadioxidachicht 16 su rerbessern. Gegenüber dea Maakenauster 18
wird eine Öffnung 24 in die Siliziuadioxidachicht 14 eingeätzt, wozu
ein Ätzaittel wie Fluorwaaserstoffpuffersäure angewandt wird, welche die
Siliziuadioxidachicht 14 und nicht das Siliziua dea Plättchens 10 angreift.
Anschließend wird daa Plättchen in eine 115 C warne Lösung ron
68 al Äthjlendiaain, 12g Brenzkatechol und 32 al Wasser für etwa 1 1/2
Stunden eingetaucht. Die Lösung ätzt die Silikonaaaae unterhalb der
Öffnung 24 ia der Siliziuadioxidachicht 14 weg und erzeugt ia Siliziua-
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plättchen 10 ein Musterfenster 26 (Fig. 4), welches dem Musterbereich
entspricht, der auf der anderen Seite des Plättchens 10 in der weiche
Röntgenstrahlen absorbierenden Goldschicht 20 erzeugt wurde. Dieses Ätzmittel
ist nur über den Bereich der Bordiffusionsschicht 12 uund nicht weiter
wirksam. Außerdem greift dieses Ätzmittel nicht die Chrom- oder Goldteile
an. Auf-grund dieses Ätzens bildet sich eine Membran 28 aus dem Teil
der Bordiffusioneschicht 12, welche sich über das Musterfenster 26
erstreckt. Die Membran 28 ist relatir dünn, d.h. etwa 3 ,u dick, und
entspricht in der Dicke der Bordiffusionsschicht 12. Demzufolge ist die
Membran 28 für weiche Röntgenstrahlen röllig durchlässig, welche dazu
dienen, Substrate durch den Musterbereich 18 der Maske 8 zu belichten.
Zusätzlich zur Herstellung einer Trägerstruktur, die wenigstens
im kritischen Bereich dünn genug ist, um für weiche Röntgenstrahlen relatir transparent zu sein, wird mit diesem Herstellungsrerfahren auch
eine Straffheit der Membran 28 durch die Wirkung der Boranreicherung im Silizium herbeigeführt. Eine Spannung entsteht wegen der geringfügigen
Verringerung der Gitterkonstante, die durch die Boranreicherung entsteht, weil Bor einen kleineren koralenten Bindungsradius als Silizium hat.
Demzufolge schrumpft die Membran 28 und wird sie gegenüber dem übrigen Teil des Siliziumsubstrate, der nicht mit Bor angereichert ist, straff.
Wegen dieser Straffheit oder Spannung bildet die Membran 28 «in sehr flaches, starres Substrat für die Goldabeorptioneech-icht 20 und deren
Zwischenschicht 22. Ein zusätzlicher Vorteil dieser Technik besteht darin, daß das eingesetzte Ätzmittel viel schneller in der Kristallrichtung
V^lOO^ als in der Richtung /ill ^>
ätzt, so daß sich das Ätzrerfahren riel schneller in der Richtung weg ron der Siliziumdioxidschicht 14
zur Bordiffusioneschicht 12 als in der zu dieser Bahn in Querrichtung
verlaufenden seitlichen Richtung bewegt, so daß das Fenster 26 in einem Bereich unterhalb der Öffnung 24 ohne jede ernsthafte Unterschneidung
an den Seiten des Fensters 26 unter den übrigen Teilen der Siliziumdioxid-
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schicht 14 hergestellt wird. In Wirklichkeit werden mit dem Ätzverfahren
schräge Wände 32 und 34 hergestellt, die im Fenster 26 nach innen laufen. Eine Maske von etwa einem Quadratzoll mit neunundvierzig 5 /Um
2
dicken Musterfenstern von jeweils 60 ,u wurde ohne Durchhängen der
dicken Musterfenstern von jeweils 60 ,u wurde ohne Durchhängen der
Das Muster 18 kann jede Art von Mikro-Miniaturschaltung oder -system
wie elektronische Schaltungen oder Mikrotonschaltungen sein. Das Substrat
weist zahlreiche Vorteile auf: Silizium ist sehr korrosionsbeständig, und da die Siliziumtechnik hochentwickelt ist, sind Materialien hoher Qualität,
die Präzisionsspesifikationen erfüllen, leicht erhältlich. Da außerdem
das gesamte Substrat 6 einschließlich der Trägerstruktur 30 und der Membran 28 aus demselben einzigen Kristall hergestellt sind, besteht kein
Haftproblem und werden Temperaturveränderungen die Membran 28 nicht zerstören«
Alternativ kann ein Trägersubstrat 6* für eine Maske 8' für weiche
Röntgenstrahlen konstruiert werden (Fig. 5), indem ein einziges kristallines
19
wird stark mit Arsen bis zu einer Konzentration von etwa 10 Atomen/cm
vermischt.
Eine epitaxiale Schicht 40 von 3 ,u (Fig. 6) aus reinem Silizium
wird auf eine Oberfläche aufgebaut, und Siliziumnitridschichten 14* und 16'
von einer Dicke von etwa 1/10 ,u werden auf beiden Oberflächen vorgesehen.
Die Siliziumnitridschichten 14' und 16' bilden eine Schutzschicht, die
einen unerwünschten chemiechen Angriff auf das Silizium verhindern.
Anschließend wird das gewünschte Maskenmuster 18' (Fig. 7) für weiche Röntgenstrahlen im Musterbereich 19* der Siliziumnitridschicht 16* hergestellt,
wozu bekannte Verfahren wie Elektronrastermikroskoplithographie oder photolithographische Techniken angewandt werden. Das Maskenmuster 18'
kann aus Gold oder einem anderen guten Röntgenstrahlen absorbierenden Material hergestellt werden. In Fig. 7 wird eine Goldschicht 20' von 3/10 ,u
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Dicke angewandt. Gegenüber den Maskenmuster 18* wird eine Öffnung 24· in
die Siliziumnitridschicht 14' eingeätzt, wozu ein Ätzeittel wie konzentrierte
Fluorwasserstoffsäure eingesetzt wird, welche die Siliziumnitridschicht 14',
aber nicht das Silizium des Plättchene 10* angreift.
Anschließend wird das Plättchen 10' in eine Lösung aus einem Teil
Fluorwasserstoffsäure, drei Teilen Salpetersäure und sehn Teilen Essigsäure für etwa anderthalb Stunden eingetaucht. Diese Lösung ätzt die «it Arsen
angereicherte Siliziummasse unter der Öffnung 24' in der Siliziumnitridschicht
14' weg und erzeugt und ein Musterfenster 26' (Fig. 8) im Siliziumplättchen
10', welches de» Musterbereich 18' entspricht, das auf der anderen
Seite des Plättchens 10' in der weich· Röntgenstrahlen absorbierenden Goldschicht 20' erzeugt worden ist. Diese Lösung greift die Goldschicht 20',
die Siliziumnitridschicht 14', 16' oder die Siliziumschicht 40 nicht an.
40
SiliziuBschicht/gebildet wird, die sich über das Musterfenster 26* erstreckt.
SiliziuBschicht/gebildet wird, die sich über das Musterfenster 26* erstreckt.
Die Membran 28' ist relatir dünn, d.h. etwa 3 ,u dick und entspricht der
Dicke der Siliziumschicht 40. Folglich ist die Membran 28' ganz durchlässig für die weichen Röntgenstrahlen, die eingesetzt werden, um Substrate durch
die Musterbereiche 18' der Maske 8* zu belichten.
Zusätzlich zur Herstellung einer Trägerstruktur, die wenigstens im
kritischen Bereich mo dünn ist, daß sie weiche Röntgenstrahlen relatir
gut durchläßt, führt dieses Herstellungsverfahren auch zu einer Straffheit der Membran 28* auf Grund der Wirkung der Arsenanreicherung des Siliziums:
Wegen der leichten Erhöhung der von der Arsenanreicherung hergestellten
Gitterkonetante entsteht eine Spannung, weil Arsen einen größeren kovalenten Bindungsradius als Silizium hat. Demzufolge dehnt sich die Trägerstruktur 30*
gegenüber der Siliziumschicht 40, die nicht mit Arsen angereichert ist, wodurch die Membran 28' gestrafft wird. Auf-gruad dieser Straffheit oder
Spannung bildet die Membran 28* ein sehr flaches, starres Substrat für
die absorbierende Goldschicht 20'.
309883/1362
- -ίο -
Vorzugsweise sind auf einem Substrat mehr al« ein Maskenmuster und
ein Musterfenster rorgeaehen. So kann gemäß Fig. 9 das Substrat 6''
Ton etwa einem Quadratzoll rierzig Membranen 28*' und rierzig Musterfenster
26·' enthalten, von denen jedes etwa 65 ,u2groß ist.
309883/1362
ORIGINAL INSPECTED
Claims (16)
- Patentansprüche/ Iy Trägersubstrat für weiche Röntgenstrahlen, gekennzeichnet durch: eine dicke limfangsträgerstruktur aus Silizium; und eine dünne, straffe Siliziummembran, die weiche Röntgenstrahlen durchläßt und τοη der Trägerstruktur getragen wird, wobei sie den Bereich innerhalb der Peripherie der Trägerstruktur bedeckt, um eine weiche Röntgenstrahlen absorbierende Schicht zu tragen, die in einem vorbestimmten Muster auf der Membran innerhalb der Peripherie der Trägerstruktur angeordnet ist; wobei die Membran mit einem Material angereichert ist, das einen kleineren kovalenten Bindungsradius als Silizium aufweist, damit die Membran zum Schrumpfen gebracht und somit eine Spannung in derselben entsteht, durch die sie straff wird.
- 2. Substrat nach Aspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Membran einstückig mit der Trägerstruktur ausgebildet ist.
- 3. Substrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die absorbierende Schicht ein absorbierendes Element und ein Zwischenelement zur Verbesserung der Haftfestigkeit zwischen der Membran und dem absorbierenden Element aufweist.
- 4. Substrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daßdie Membran mit Bor angereichert ist, welches einen kleineren kovalenten Bindungsradius als Silizium aufweist, so daß die Membran zum Schrumpfen gebracht wird und somit eine Spannung in derselben entsteht, durch die sie straff wird.
- 5. Substrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Membran mit Phosphor angereichert wird, das einen kleineren kovalenten Bindungeradius als Silizium aufweist, damit die Membran zum Schrumpfen gebracht wird und somit eine Spannung in derselben entsteht, durch die sie straff wird.309883/1362ORIGINAL INSPECTED
- 6. Substrat nach A spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerstruktur mit einem Material angereichert wird, das einen größeren kovalenten Bindungsradius als Silizium hat, damit die Trägeretruktur ausgedehnt wird und somit eine Spannung in der Membran entsteht, durch die die letztere straff wird.
- 7. Substrat nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägeretruktur mit Antimon angereichert ist.
- 8· Substrat nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerstruktur mit Gallium angereichert ist.
- 9. Substrat nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägeretruktur mit Arsen angereichert ist.
- 10. Substrat nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägeretruktur mit Aluminium angereichert ist.
- 11. Verfahren zum Herstellen eines Maskenträgersubstrates für weiche Röntgenstrahlen, gekennzeichnet durch: Anreicherung einer ersten Oberfläche eines Siliziumeubetrates mit Bor bis auf eine vorbestimmte Dicke, damit der angereicherte Teil zusammenschrumpft; Aufbringen einer ätzfesten Schicht auf die zweite Oberfläche des Substrates mit Ausnahme des Bereiches, der dem Bereich der ersten Oberfläche entspricht, der dazu dient, ein rorbestimmtes Musterraue weiche Röntgenstrahlen absorbierendem Material zu tragen; Behandlung des ausgesetzten Bereiches des Trägersubstrates mit einem Ätzmittel, welches das Silizium des Trägersubstrates angreift und welches nicht so wirkt, daß das mit Bor angereicherte Silizium und die ätzfeste Schicht geätzt werden, damit ein Fenster im Siliziumsubstrat geschaffen wird, das mit einer Membran ▼erschlossen ist, die aus dem mit Bor angereicherten Silizium besteht und durch das Zusammenschrumpfen des mit Bor angereicherten Siliziums straff gehalten wird.309883/1362
- 12. Verfahren zur Herstellen eines Maskenträgersubstrates fur weiche Röntgenstrahlen, gekennzeichnet durch: Anreicherung einer ersten Oberfläche eines Siliziuasubstrates mit Phosphor bis auf eine vorbestiaate Dicke, damit der angereicherte Teil zuaaaaenachruapft; Aufbringeneiner ätzfesten Schicht auf die zweite Oberfläche des Substrats mit Ausnahme des Bereiches, der dea Bereich der ersten Oberfläche entspricht, der dazu dient, ein rorbestiantes Muster aus weiche Röntgenstrahlen absorbierendea Material zu tragen; Behandlung des ausgesetzten Bereiches des Trägersubstrates ait einem At/mittel, welches das Siliziua des Trägersubstrates angreift und welches nicht so wirkt, daß das ait ''angereicherte Siliziua und die ätzfeste Schicht geätzt werden, daait ein Fenster ia Silisiuasubstrat geschaffen wird, das ait einer Meabran verschlossen ist, die aus dea ait Phoeplic angereicherten Siliziuas straff gehalten wird«
- 13. Verfahren zua Herstellen eines Trägersubstrates für weiche Röntgenstrahlen, gekennzeichnet durchAnreichern eines Plättchems aus Siliziua mit Antiaon, ua das Plättchen auszudehnen;Ablagerung einer Siliziuaschicht auf eine erste Oberfläche des Plättchens;Aufbringen einer ätzfesten Schicht auf die zweite Oberfläche des Plättchens alt Ausnahae des Bereiches, der dea Bereich der ersten Oberfläche entspricht, der dazu dient, ein vorbestiaates Muster aus ee weiche Röntgenstrahlen absorbierendea Material zu tragen; undBehandlung des ausgesetzten Teiles der zweiten Oberfläche ait einea Xtzaittel, welches das alt Antiaon angereicherte Siliziuaplättchen angreift und welches nicht sowirkt, daß die Siliziuaschicht und die ätzfeste Schicht angegriffen werden, daait ein Fenster in dea ait Antiaon angereicherten Silisiuaplättchea entsteht, das ait einer Meabren abgeschlossen ist, die aus der Silisiuaschicht besteht und durch die Ausdehnung des ait Antiaon angereicherten Silisiuaplättchen« straff fehaltenwird# 309883/1362
- 14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Siliziumplättchen mit Gallium angereichert wird.
- 15. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß da· Siliziumplättchen »it Arsen angereichert wird.
- 16. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Siliziumplättchen mit Aluminium angereichert wird.309883/1362
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