DE2330545A1 - Vorrichtung und verfahren zum ablagern eines karbidfilmes - Google Patents
Vorrichtung und verfahren zum ablagern eines karbidfilmesInfo
- Publication number
- DE2330545A1 DE2330545A1 DE2330545A DE2330545A DE2330545A1 DE 2330545 A1 DE2330545 A1 DE 2330545A1 DE 2330545 A DE2330545 A DE 2330545A DE 2330545 A DE2330545 A DE 2330545A DE 2330545 A1 DE2330545 A1 DE 2330545A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- metal
- substrate
- zone
- gas
- atoms
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/0635—Carbides
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Description
• Münch 80, PSonzenouertlr. a
Rointan Framroze Bunshah, Los Angeles, California/V.3t.A·
"Vorrichtung und Verfahren sum Ablagern einet Karbidfllmts"
Die Erfindung betrifft; ein Verfahren und eint Vorrichtung
für die Ausbildung τοη Karbidfilmen auf Substraten, wit
beispielsweise Schneidwerkzeugen und versohltitt- und abriebsbeständigt Oberflächen und für die Verwendung alt
Supraleiter und für die Synthese τοη Karbidpulrtrn·
Die Filme werden mittels physikalischer Verdampfungtablagerung der Karbidverbindung durch reaktive Verdampfung
in einer Zone weg von dem Substrat erzeugt. Karbidfilmt wurden durch ohemisohts Verdampfungsabsoheidtn bei dtr
Herstellung τοη WerkaeugsaeiBeln u.dgl. zubtrtittt,
jedoch war die Absohtidungtgttohwindiglctit relativ gering.
Oxid- und Nitridfilmt wurden durch reaktive· Verdampfen
normalerweise mit einer relativ geringen Abtohtidungsgeschwindigkeit erzeugt. Sin Gegenstand der vorliegenden
Erfindung ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Herstellung von Karbidfilmen duroh reaktives Verdampfen
309881/1111
und insbesondere /zum Herstellen des Karbidfilmes bei
einer hohen Absoheidungs^eschwindigkeit, typischerweise
in dem Bereich von 1-12 yum/min·
Eine Anzahl von Verfahren ist zum Abaoheiden von Verbindungen aus der Dampfphase auf einem Substrat bekanntι
Chemisches Dampfabsoheiden, Zerstäuben der Verbindung von
einer Prallplatte der gleichen Verbindung} direktes Verdampfen der Verbindung aus einer Verdampfungsquelle der
gleichen Zusammensetzung und reaktives Verdampfen, wobei Metalldampf atome aus einer Verdampfungsquelle, welche
das geeignete Metall enthält, mit reaktiven Gasatomen reagieren, die in der Dampfphase vorhanden sind, um Verbindungen zu bilden« Ein typisches Beispiel einer reaktiven Verdampfungsausbildung von Zusammensetzungen isti
2 AL (Dampf) + 3/2 O2 (GaS)-^-Al2O5 (fest)
Si· Auswahl des Verfahrens hängt von der Fähigkeit, Ver
bindungen gewünschter Zusammensetzung und Struktur ablusoheiden und von der Abacheidungsgeschwindigkeit ab.
Das Zerstäubungsverfahren leidet an geringer Abscheidungsgosohwindigkeit, typisch in der Grossenordnung von
0,1 Mikrometer / min·, und manchmal von dem Aufbrechen
309881/1111
der Zusammensetzung In Fraktionen, welche nicht wiedervereinigt
werden können, um die gewünschte Zusammensetzung in dem abgeschiedenen Film zu erzielen· Direktes
Verdampfen der Verbindungen ist oft möglich, aber manche
Verbindungen besonderen Interesses haben sehr hohe Schmelzpunkte, was die Verwendung einer Wärmequelle hoher Intensität
erfordert, um eine merkliche Verdampfungsgeschwindigkeit und auch das mögliche Aufbrechen der Verbindung in Fraktionen
während des Verdampfens zu erzeugen·
Bei dem reaktiven Verdampfungsverfahren ist das Verdampfungemittel
ein Metall, dessen Schmelzpunkt geringer als derjenige der Metallverbindung ist*. Höhere Metallatomdiohten
in der Dampfphase sind leichter zu erzeugen, und hohe Absoheidungsgesohwindigkeiten sind möglich·
Bei der reaktiven Verdampfung reagieren Metalldampf atome
mit Gaaatomen, um Verbindungen zu bilden. In dem erwähnten Beispiel verbindet βich der Dampf der Aluminiummetallatome
mit Sauerstoff, um Aluminiumoxid zu bilden· Xhnlioherweise reagieren verdampfte Titanmetallatome
mit einem Kohlenwasserstoffgas wie beispielsweise Aoethylen, um Titankarbid zu bilden} jedoch wurde £itankarbid
bislang nicht mittels reaktiven Verdampfens ereeugt.
3 0 9 8 81/1111
Verschiedene reaktive Verdampfungsverfahren sind in der
Literatur beschrieben, wobei die Reaktion im allgemeinen auf dem Substrat und in der Gegenwart eines grossen Überschusses
der Gasatome eintritt. Auch sind mit den bekannten Verfahren lediglich dünne Filme bei sehr geringen Niederschlagsgeschwindigkeiten
erzeugt worden, wie beispielsweise Filme in der Grössenordnung von einigen tausendstel Angstrom
Dicke mit einer Geschwindigkeit in der Grössenordnung
von 0,2 Mikrometer/min.
Kein Stand der Technik beschreibt jedoch ein Verfahren oder eine Vorrichtung, die einen Karbidfilm durch Reaktion
in der Dampfphase entfernt von dem Substrat erzeugt, wobei die Reaktion unabhängig von der Subs trat temp era tür ist und
die Abscheidungsgeschwindigkeiten in der Gröss enordnung
von 1 bis 12 Mikrometer/min, sind. Auch ist in dem otand
der Technik nicht das Variieren der Stöchiometrie der sich ergebenden Zusammensetzung zu entnehmen. Es ist ein Gegenstand
der vorliegenden Erfindung, ein solches Verfahren und eine solche Vorrichtung zu schaffen.
Die Abs ehe idungs geschwindigkeit in einem reaktiven Verdampfungsverfahren
hängt von der Zufuhr der Metalldampfatome, der Zufuhr von Gasatomen, Kollision zwischen
309881/11 1 1
Metall- und Gasatomen und der Möglichkeit der nachfolgenden
Reaktion ab, um eine Verbindung zu bilden, wenn eine solche kollision eintritt. Das Gesamtausbringen der Reaktion
wird von allen erwähnten Faktoren bestimmt, wobei jeder dieser Faktoren eine Geschwindigkeitsbegrenzung sein kann·
Es besteht eine reziproke Beziehung zwischen dem Partialdruck des MetdLdampfes oder Gases und dessen durchschnittlichem
freien Weg, d.h. dem durchschnittlichen Abstand zwischen Kollision·
Bei niedrigen Partialdrücken Überschreitet der durchschnittliche
freie Weg den Abstand von Quelle zu Substrat, und eine Kollision zwischen den Reaktionsteilnehmern kann lediglich
auf dem Substrat eintreten· Wenn die Partialdrucke der Reaktionsteilnehmer erhöht werden, nimmt der freie
durchschnittliche Weg ab und wird gegebenenfalls kleiner als der Abstand von Quelle zu Substrat, so daß Kollisionen
zwischen den Reaktionsteilnehmern nun in der Dampfphase
eintreten. Für größere Abscheidungsgesohwindigkeiten nuß
die Zuführung von verdampften Metallatomen und Gasatomen, d.h. ihre Partialdrucke, gross sein, und somit tritt eine
Kollision zwischen den Reaktionsteilnehmern primär in der
Dampfphase ein.
Für hohe Abscheidungsgeschwindigkeiten kann eine adäquate
Zuführung von Metallatomen in der Dampfphase duroh
309881/1 1 1 1
Verwendung einer Verdampfungsquelle hoher Abgabe erhalten
werden, und eine adäquate Zuführung von Gasatomen wird geschaffen, indem ein ausreichend hoher Partialdiruck der Gasatome
in der Gasphase geschaffen ist, woraus sich ein hoher Kollisionsgrad zwischen den Metall- und Gasatomen
in der Dampfphase ergibt. Diese Bedingungen sind in reaktiven Verdampfungsverfahren in der Vergangenheit
zur Herstellung von Oxid- und Nitridfilmen verwendet worden; jedoch sind Karbidfilme und die hohen Niederschlagsgeaohwindiglceiten
gemäss vorliegender Erfindung nicht erhalten worden·
Eine der oben erwähnten Geschwindigkeitsbegrenzungen, welche das Gesamtausbringen der Reaktion beeinflussen, ist
die Möglichkeit einer Reaktion, wenn zwei Reaktionsteilnehmer
zusammenstoßeen. Diese Reaktion kann wahrscheinlich durch
Aktivierung eines oder beider Reaktionsteilnehmer vergröesert
werden.
Es wurden bestimmte Verbesserungen bei reaktiven Verdampf
ungsverfahren durchgeführt, die weitgehend als Aktivierung
bezeichnet sind und ein aktiviertes reaktives Verdampfungsverfahren schaffen. Nach der US-PS 2 920 002
werden dünne Filmoxide von Silizium, Zirkon, Titan, Aluminium, Zink und Zinn duroh reaktives Verdampfen erzeugt.
309881/1111
Diese Reaktion wird durch. Ionisieren des Sauerstoffs angeregt,
indem er durch eine Ionisationskammer geführt wird, welche zwei Elektroden mit einer elektrischen Energiezufuhr
aufweist, die einige 1000 Volt an den Elektroden schafft. Der ionisierte Sauerstoff strömt aus der Ionisationskammer
in die Vakuumkammer. Bei einer anderen Ausführung wird der Sauerstoff durch Durchgang durch ein
magnetisches Feld während seines Weges in die Vakuumkammer ionisiert.
In dem Bericht τοη M.T. Wank und D.K. Winslow in Appl.Phys.
Letter, 13, 286 (1968) ist der Niederschlag von Filmen von Aluminiumnitrid durch Verdampfung von Aluminium
aus einem Hochfrequenztiegel und Reagieren des auf das
Substrat niedergeschlagenen Aluminiums mit Stickstoffgas
beschrieben, das mittels einer 50 Hertz-Entleerung am Ende eines Gaszuführungsrohres entfernt worden ist. Es wurden Niederschlagsgeschwindigkeiten von 0,1 bis 0,2 Mikrometer
pro Minute erhalten.
In Journal Vac.Sei. Tech. 6, 592 (1969) und in der US-PS
3 551 312 ist die Erzeugung von dünnen Galliumnitridfilmen
durch Niederschlag von reinem Gallium von einer durch Widerstand erhitzten Quelle auf ein Substrat in Gegenwart
309881/1 1 1 1
von aktiviertem Stickstoffgas beschrieben» Das Stickstoffgas wurde durch partielle Trennung in einer Mikrowellenentladung
chemisch aktiv gemacht, die in der Leitung zwischen der Gasquelle und der Vakuumquelle angeordnet isto
Es wurde auch die Verwendung von G-Ie ichstrom ent ladungen
hoher Energie zwischen Elektroden vorgeschlagen, die einen intensiv sichtbaren Schein erzeugen können. Niederschlagsgeschwindigkeiten
von 0,2 bis 0,3 Mikrometer pro Minute wurden erzielt.
In keiner der bekannten Veröffentlichungen ist die Erzeugung
von Karbidfilmen durch reaktives Verdampfen in der Dampfphase, d.h. nicht auf dem Substrat und auch nicht die
Erzeugung eines solchen Filmes bei hohen Abscheidungsgeschwindigiceiten
von wenigstens ungefähr 0,8 Mikrometer pro Minute und bis zu 12 Mikrometer pro Minute und höher mit
einer Dicke in dem Bereich von 25 bis 100 Mikrometer beschrieben.
Die Erfindung schafft eine physikalische Dampfabscheidung
von Karbidfilmen durch reaktives Verdampfen mit aktivierten Metalldampf- und Kohlenwasserstoffgasatomen in der
Dampfphase in einer Reaktionszone, d,h. in dem Raum zwischen
dem Substrat und der Metallquelle. Das Metall wird erhitzt
303881/1 1 1 1
und in einer Vakuumkammer mittels eines Elektronenstrahls
verdampft, um die Metalldampfatome in der Reaktionszone
zu schaffen. Das Kohlenwasserstoffgas wird in die Reaktionszone eingeführt, und die Metalldampf- und Gasatome werden
von einigen Elektronen des das Metall erhitzenden Elektronenstrahles aktiviert, die in die Reaktionszone mittels
eines Hiederspannungsfeldes abgelenkt werden, das von
einer Ablenkelektrode erzeugt wird, welche an der Reaktionszone angeordnet ist. Die Aktivierung der Reaktionsteilnehmer vergrössert die Wahrscheinlichkeit einer Reaktion
zwischen ihnen und die Reaktion von Metalldampf-Kohlenwasserstoff gas wird mit einer hohen Wirksamkeit erzielt,
wobei der gewünschte Metallkarbidfilm auf dem Substrat ausgebildet wird. Bei diesem Verfahren werden Abscheidungsgeschwindigkeiten
erhalten, die wesentlich höher als die bekannten sind, und die Substrattemperatur ist nicht ein
Begrenzungsfaktor wie bei der chemischen Dampfabscheidung. Die Wirkungen der Verbindungssynthese und des Filmwachsturnes
sind getrennt· Die MikroStruktur der Ablagerung und somit deren physikalische und mechanische Eigenschaften sind von
der Substrattemperatur abhängig, welche gewünschtenfalls
geändert werden kann. Somit können die Eigenschaften der Abscheidung gesteuert werden, was einen wesentlichen
Vorteil darstellt. Die Stöchiometrie der Verbindung,
(d.h. das Verhältnis von Kationen zu Anionen) kann
90$8ΝΒΊ'/Ί1ΊΊ
-Ιο-
variiert werden, indem das Verhältnis der eingeführten Reaktionsteilnehmer geändert wird« Dies ist ein Vorteil,
da Eigenschaften oft durch Stöchiometrie gesteuert werden» Ablagerungsgeschwindigkeiten von 1 bis 12 Mikrometer pro
Minute und höher werden erzielt.
Die Erfindung wird nachfolgend an einem Ausführungsbeispiel anhand der beigefügten Zeichnung näher erläutert, welche
eine vertikale Schnittansicht einer Vakuumkammer und einer zugehörigen Anordnung zeigt, mittels welcher das Verfahren
gemäss der Erfindung durchgeführt werden kann«
Die gezeigte Vorrichtung schließt eine Vakuumkammer ein, die eine herkömmliche Abdeckung oder einen Dom 1o aufweist,
der auf einem Boden 11 mit einer Dichtungsscheibe 12
an dem unteren Band der Abdeckung 1o ruht.
Eine Stütz- bzw. Zuführeinheit 13 für eine Metallstange 14 kann in dem Boden 11 angeordnet sein» Die Einheit 13
schliesst einen (nicht gezeigten) Mechanismus zum Bewegen der Metallstange 14 aufwärts mit gesteuerter Geschwindigkeit
ein. Kühlspulen 15 können in der Einheit 13 angeordnet sein und mit Kühlwasser von einer Kühlwasserquelle 16 gespeist
werden. Eine Elektronenschleuder 2o ist in der Einheit 13 angeordnet und schafft einen Elektronenstrahl längs
des Weges 21 zu der oberen Oberfläche der Metallstange 14»
309881/1 1 1 1
wobei die Elektronenschleuder von einer Energiezuführung 22 erregt wird.
Ein Substrat 24» auf welchem der Karbidfilm niedergeschlagen werden soll, ist in einem Rahmen 25 an einer Stange getragen,
die sich aufwärts von diesem Boden 11 erstreckt. Das Substrat 24 kann mittels eines elektrischen-Widerstandserhitzers
27 erhitzt werden, der von einem Bügel 28 getragen ist. Energie für den Erhitzer 27 gelangt von einer Energiezuführung
29 über ein Kabel 3o. Die Temperatur des Substrates 24 wird auf einem gewünschten Wert mittels eines Thermoelementes
32 gehalten, das in Berührung mit der oberen Oberfläche des Substrats 24 ist, wobei das Thermoelement mit
einem Regler 33 über eine Leitung 34 verbunden ist, wobei das Reglerausgangssignal die Energie von der Zuführung 29
zum Erhitzer 27 regelt.
Der gewünschte niedrige Druck wird innerhalb der Vakuumkammer
mittels einer Vakuumpumpe 36 aufrechterhalten, die mit dem Inneren der Kammer über eine Leitung 37 verbunden
ist. Gas von einer Gaszuführung 39 wird in die Zone zwischen der Metallstange 14 und dem Substrat 24 über eine Leitung 4o
und eine Düse 41 eingeführt. Eine Blende 43 ist an einer Stange 44 angeordnet, die von Hand drehbar ist, um die
Blende in und aus der Lage zwischen der Metallstange 14 und dem Substrat 24 zu bewegen.
3 0 9 8 8 1/1111
Eine Ablenkelektrode wie eine WoIframstange 46 ist von
dem Boden 11 in der Reaktionszone zwischen der Metallstange
14 und dem Substrat 24 getragen. Ein elektrisches Potential wird für die Stange 46 von einer Spannungszuführung
47 über eine Leitung 48 geschaffen. Eine elektrisch isolierende Hülse 49 aus Glas ist für die Stange 46 innerhalb
der Vakuumkammer vorgesehen, wobei die Metalloberfläche der Stange lediglich in der Zone zwischen der Quelle
und dem Substrat freigelegt ist. Wenn ein Potential an diese Elektrode gebunden wird, werden einige Elektronen
aus dem Strahl 41 in die Reaktionszone abgelenkt, wie dies mittels der gestrichelten linie 5o angedeutet ist» Die
Schleuder 2o ist die bevorzugte Elektronenquelle für die Elektrode 46, jedoch könnte eine getrennte Elektronenschleuder
gewünsentenfalls zugefügt werden.
Verschiedene Teile, welche in der oben beschriebenen Vorrichtung verwendet werden, können herkömmlich sein. Die
Verdampfungskammer kann einen Durchmesser von 61 cm und eine Höhe von 91 cm haben und aus einer wassergekühlten,
nicht rostenden Stahlglocke sein. Die Vakuumpumpe kann eine fraktionierende Diffusionspumpe mit einem Durchmesser
von 25,4 cm mit einer flüssigen Stickstoffsperre sein. Die Einheit 13 kann eine Elektronenstrahlschleuder mit einem
Durchmesser von 2,5 cm sein, welche von einer Stange gespeist wird und von einer selbstbeschleunigenden Ablenkungsart ist, wie beispielsweise Airco Temescal Modell RIH-270.
309881/1111
Die Energiezufuhr 22 kann eine Airco Temescal Modell CV3O
30 kw-Einheit, die mit einer konstanten Spannung, wie beispielsweise 10 Kilovolt betrieben ist, mit einem variablen
Emissionsdruck sein»
Verschiedene Substratgrössen und -formen können verwendet
werden. Ein typisches Substrat ist ein Metallblech von 15,2 χ 15,2 cm und einer Dicke von caβ 5 MiIo Verschiedene
Metalle werden verwendet, einschließlich nichtrostender Stahl, Kupfer, Titan und Zirkon. Bei einer Ausführungsform
ist das Substrat ungefähr 20,3 cm oberhalb der Oberfläche der Metallteile H angeordnet. Der Erhitzer 27 kann ein
4 kw-Wolfram-Widerstandserhitzer sein, welcher ein Erhitzen des Substrates auf 7000C und höher bewirkt. Die Reaktion
erfolgt primär in der Dampfphase in der Reaktionszone weg von dem Substrat, und die Reaktion ist unabhängig von der
Substrattemperatur. Wie unten beschrieben ist, ist die Dichte der Abscheidung eine Funktion der Substrattemperatur, und
wenn ein Karbiäpulver gewünscht ist, kann das Substrat bei Umgebungstemperatur gelassen werden oder auf eine relativ
niedrige Temperatur erhitzt werden, woraus sich eine pulverförmige Ablagerung ergibt.,
Das Quellenmetall kann eine Stange oder ein Barren sein, und für die erwähnte Zuführeinrichtung hat die Stange einen
Durchmesser von ca. 2 cm und eine Länge von 15,2 cm. Titan, Zirkon, Hafnium, Vanadium. Niob und Tantal wurden verwendet,
309881/1 1 1 1
um Karbidfilme herzustellenο Legierungen und Gemische von
Metallen können Verwendet werden, um gemischte Karbide und Legierungskarbide zu erzeugen.
Ein Kohlenwasserstoffgas, das sich leicht trennt, ist
für dieses Verfahren wünschenswert. Das Kohlenwasserstoffgas
für die Reaktion wird in die Vakuumkammer durch eine Reihe von Nadelventilen eingeführt, und der bevorzugte Gasdruckbereich
ist 2 χ 10 Torr bis 8 χ 10 Torr. Acetylen ist für diese Synthese von Karbiden das bevorzugte Gas und
Äthylen kann ebenfalls verwendet werden.
Die Zuführung 47 schafft eine Niederspannung für die Ablenkelektrode
46 und ist vorzugsweise eine Gleichstromzuführung mit einer variablen Ausgangsspannung. Das Potential für
die Ablenkelektrode liegt in dem Bereich von ca0 50 bis ca«
200 Volt und vorzugsweise in dem Bereich von 60 bis 100 Volt. Höhere Spannungen können verwendet werden, wenn dies erwünscht
ist. Es wurde eine Gleichstromenergiezuführung, deren Spannung kontinuierlich variaL^l ist, (Lamda-Model 71) verwendet.
Ein Wechselstrompotential wurde ebenfalls an der Ablenkelektrode mit Spannungen in dem gleichen Bereich verwendet
.
Beispielsweise wurde Titankarbid mittels aktivierter reaktiver Verdampfungsabscheidung erzeugt, wobei Titanmetall
und Acetylengas verwendet wurde mit der folgenden Reaktion:
309881/1111
2 Ti (Dampf) + C2H2 (Gas)—>2 TiC (fest) + H2 (Gas)
Die Vakuumkammer wurde anfänglich auf einen Druck von
1O~ Torr gepumpt und dann mit dem Gas bei 10 Torr während
einigen Minuten gespült· Die Kammer wurde wiederum
heraub auf 10~ Torr gepumpt. Dieses Verfahren wurde verwendet, um das Vorhandensein von störenden Gasen auf ein
Minimum herabzusetzen·
Als der Druck in der Kammer wiederum 10~ Torr war, wurde
die Elektronenschleuder angeschaltet, und ein geschmolzenes Metallbad wurde mittels des Elektronenstrahles am oberen
Ende der Stange H gebildet. Die Blende 43 war in der Lage, in welcher sie das Substrat 24 blockiert. Das Reaktionsgas wurde dann in die Vakuumkammer mit einer gesteuerten
Geschwindigkeit eingeführt, um den gewünschten Kammerdruck zu erhalten. Die Energiezufuhr für die Ablenkelektrode
wurde angeschaltet und das Potential bis zu Beginn der Reaktion vergrö'ssert, wie dies durch eine wesentliche
Stromzunahme in der Elektrode 46 angezeigt wurde. Als Dauerbetriebszustände erhalten wurden, wurde die Blende
43 zu einer Seite bewegt, und der Karbidfilm wurde auf dem Substrat niedergeschlagen. Das Verfahren wurde fortgesetzt,
bis die gewünschte Filmdicke erhalten wurde, wonach die Blende in die Block!erlage bewegt wurde und
die verschiedenen Zuführungen abgeschaltet wurden.
309881 /1111
Der Gaspartialdruck innerhalb der Kammer, das Potential der Ablenkelektrode und der Strom des Elektronenstrahles, der
erfordert war, um den Karbidfilm zu erzeugen, stehen in etwa in Wechselbeziehung und können über einen wesentlichen Bereich
Variiert werdenο Bei höheren Elektronenstrahlströmen
nimmt das zum Einleiten der Reaktion erforderliche Ablenkelektrodenpotential ab. Ähnlich nimmt bei höheren Gaspartialdrücken
das erforderliche Elektrodenpotential abo Für das
gegebene Beispiel wurde eine erfolgreiche Ausbildung von Karbidfilmen mit einer Elektronenschleuderkraft in dem
Bereich von 1 KvY bis 3 KW mit einem Gaspartialdruck in dem Bereich von 1 χ 1o Torr bis 3 x 1o Torr und einem
4-
Elektrodenpotential in dem Bereich von 6o bis 9o YoIt erzielt.
Die folgenden zusätzlichen Beispiele von Materialien, die bei der Erzeugung von Karbidfilmen mittels des erfindungsgemässen
Verfahrens verwendet wurden, werden nachfolgend aufgeführt:
2 Zr + G2H2—=>2 ZrG + H2 2 Ta + C2H2 —>2 TaC + H2
2 Hf + C2H2—>2 HfC + H2 2 Ti + C3H4 —>2 TiC + H4
2 V +C2H2 ^2 VC + H2 2(Hfx - Zry) + C3H2 -^-2(Hfx - Zry)
y) + C3H2 2(Hfx Zry)
C + H
2 Nb + C2H2 —v2NbC + H2 wobei χ = 97 und y = 3 ist.
3 0 ;; 8 8 1 / 1 1 1 1
Acetylen (02H3) ist ein bevorzugtes Kohlenwasserstoffgas
für das Verfahren, weil es ein höchst ungesättigter Kohlenwasserstoff ist· Methan (CH.) iat kein geeignetes Gas
aufgrund der gesättigten Kohlenwasserstoffbindung. Äthylen
(^2H/.) ist ein ungesättigtes Kohlenwasserstoff gas, das unter
manchen Umständen verwendet werden kann.
Die Wirkungen der Ausbildung der Verbindung und Wachstum der Ablagerung sind getrennte Stufen bei diesem Verfahrene
Die Eigenschaft der Abscheidung ändert sich mit der Substrattemperatur. In dem Bereich von O0C bis ungefähr 0,3 Tm (Tm ist
dabei der Schmelzpunkt der Verbindung in Grad Kelvin) weist die Ablagerung weniger als die volle Dichte auf, wobei die
Dichte mit der Ablagerungs temp era tür zunimmt. Die von der Abscheidung gezeigte Morphologie ist konische Kristalliten
mit Porosität zwischen den Kristalliten. Solche Abscheidungen
zeigen Mikrohärtewerte von ca. 3000 kg/mm bei einer Belastung
von 50 g für TiC mit einheitlicher Stöchiometrie und diese Mikrohärtewerte sind vergleichbar mit denen, die
für TiC genannt sind, das künstlich mittels anderer Verfahren hergestellt ist. Bei Substrattemperaturen von etwas
höher als 0,3 Tm wird die Abscheidung völlig dicht, und ihre Morphologie zeigt nun säulenförmige Körner über die Dicke der
Abscheidung. Solch eine Struktur enthält einige Unvollständigkeiten (beispielsweise Porosität, Sprünge u.dgl.) und
weist so viel höhere Mikrohärtewerte von 4000 bis 5000 kg/mm
bei 50 g Belastung auf. Dies muss erwartet werden, da die
3 0 9 8 81/1111
Eigenschaften von spröden Materialien, wie z.B« Keramik
primär von dem Gehalt an Unvollkommenheiten beherrscht
werden. r
Es wurde gefunden, daß die Sxöchiometrie der Karbidabscheidung
(das Verhältnis von Kohlenstoff zu Metall) durch Indern der relativen Mengen der Reaktionsteilnehmer gesteuert
werden kann. Beispielsweise wird das Verhältnis von Kohlenstoff zu Metall durch Zunehmen des Partialdruckes
des Kohlenstoff enthaltenden Gases bei einer konstanten Verdampfungsgeschwindigkeit von Titan erhöht.
Als Beispiel kann bei einer Verdampfungsgeschwindigkeit von 0,66 g/Minute Titan und einem Azetylendruck von einheitlicher
Stöchiometrie (TiC1 Λ7 bei einer Abscheidungs-
i ,υ
geschwindigkeit von 4 Mikrometer/Minute und bei einem Abstand
von Quelle zu Substrat von 20,3 cm erzeugt werden» Typische Filmdicken liegen im Bereich von 25 bis 100 Mikrometer»
Es wurden Abscheidungsgeschwindigkeiten von 1 bis 12 Mikrometer pro Minute erzielt. Höhere und geringere Geschwindigkeiten
können erreicht werden, indem die Parameter des Systems geändert werden. Die Metallverdampfungsgeschwindigkeit
kann gesteuert werden, indem der Ausgang der Elektronenschleuder 2o variiert wird, und der Gasdruck kann durch
Einstellen eines ^entiles 41 in der Gasleitung 4o gesteuert
werden.
3 0 8 8 8 1/1111
Claims (1)
- -19- . Patentans prüche1 β) Verfahren zum Abscheiden eines Karbidfilmes durch reaktives Verdampfen, dadurch gekennzeichnet, daß ein Substrat in einem Vakuum gehalten wird, daß ein Metall mittels eines auf das Metall gerichteten Elektronenstrahles verdampft wird, daß ein Metalldampf in einer Zone zwischen dem Metall und dem Substrat erzeugt wird, daß ein Kohlenwasserstoffgas in die Zone eingeführt wird und ein elektrisches Niederspannungsfeld in dieser Zone zum Ablenken von Elektronen in diese Zone erzeugt wird, daß das Substrat auf eine vorbestimmte'Temperatur erwärmt wird, um eine vorbestimmte Dichte der Abscheidung auf dem Substrat zu erzeugen, wobei die Metalldampfatome und Gasatome in dieser Zone reagieren, und ein Metallkarbid auf dem Substrat abscheiden, wobei die Elektronen, welche von dem Feld abgelenkt werden, die Atome bei dieser Reaktion aktivieren.2o) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das elektrische Niederspannungsfeld mit einem Potential von nicht mehr als einige 100 Volt erzeugt wird.3.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das elektrische Niederspannungsfeld mit einem Gleiehstrompotential erzeugt wird.3 0 9 8 81/1111-2ο-4·) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das elektrische Niederspannungsfeld mit einem Wechselstrompotential erzeugt wird.5·) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Kohlenwasserstoffgas aus der Gruppe ausgewählt ist, welche aus Azetylen und Äthylen besteht.»6.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Metall aus der Gruppe enthaltend Titan, Zirkon, Hafnium, Vanadium, Niob und Tantal und Kombinationen daraus ausgewählt ist.7o) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Kohlenwas s er st off gas Azetylen und das Metall Titan ist ο8o) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Partialdruck der G-asatome wenigstens ca» 10 ist»9·) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abscheidungsgeschwindigkeit des Karbidfilmes auf dem Substrat wenigstens ungefähr 1 Mikrometer/Minute ist.Ιο.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Relativmengen von Metall, Dampf und Gas in der Zone gesteuert werden, um eine Metall-Kohlenstoffverbindung vorbestimmter Stöchiometrie zu erzeugenο3 0-3881/111111.) Vorrichtung zum schnellen physikalischen Dampfabscheiden eines Karbidfilmes mittels aktivierter Reaktionsabscheidung, gekennzeichnet durch eine Vakuumkammer, eine Einrichtung zum Aufrechterhalten eines hohen Vakuums in dieser Kammer, eine Einrichtung zum Anordnen eines «Substrates in dieser Kammer; eine Elektronenschleuder zum Richten eines Elektronenstrahles auf das Quellenmaterial zum Erhitzen des Materials und zum Erzeugen eines Metalldampfes in einer Zone innerhalb dieser Kammer zwischen dem Quellenmetall und dem Substrat, durch eine Quelle an Kohlenwasserstoffgas; durch eine Einrichtung zum Einfuhren eines Gases von der Quelle in die Kammer in dieser Zone; durch eine Ablenkelektrode, welche in der Kamm er in dieser Zone angeordnet ist, und durch eine Einrichtung zum Verbinden einer elektrischen Energiezuführung mit dieser Elektrode zum Entwickeln eines Niederspannungsfeldes in dieser Zone und zum Ablenken von Elektronen in diese Zone zum Aktivieren von Metalldampfatomen und Gasatomen.12.7 Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Quellenmetall aus der Gruppe bestehend aus Titan, Zirkon, Hafnium, Vanadium, Niob und Tantal und Kombinationen daraus ausgewählt ist.13.) Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Kohlenwasserstoffgas aus der Gruppe ausgewählt ist, welche aus Azetylen und Äthylen besteht.309881/1111Η·) Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Quellenmaterial Titan und das Kohlenwasserstoffgas Azetylen ist.15«) Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung zum Erhitzen des Substrates auf eine vorbestimmte !Temperatur vorgesehen ist, um eine vorbestimmte Dichte der Abscheidung auf dem Substrat zu erzeugen»309881/11 11
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US26370872A | 1972-06-16 | 1972-06-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2330545A1 true DE2330545A1 (de) | 1974-01-03 |
DE2330545B2 DE2330545B2 (de) | 1977-06-08 |
Family
ID=23002928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732330545 Ceased DE2330545B2 (de) | 1972-06-16 | 1973-06-15 | Verfahren und vorrichtung zum abscheiden von karbiden durch bedampfen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3791852A (de) |
JP (1) | JPS5148463B2 (de) |
DE (1) | DE2330545B2 (de) |
GB (1) | GB1392583A (de) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3916052A (en) * | 1973-05-16 | 1975-10-28 | Airco Inc | Coating of carbon-containing substrates with titanium carbide |
JPS5318184B2 (de) * | 1973-08-04 | 1978-06-13 | ||
JPS51107287A (ja) * | 1975-03-18 | 1976-09-22 | Fujikoshi Kk | Koshitsuhimakukeiseisochi |
JPS5841351B2 (ja) * | 1975-08-19 | 1983-09-12 | ニホンシンクウギジユツ カブシキガイシヤ | カツセイカハンノウジヨウチヤクソウチ |
GB1579999A (en) * | 1977-09-12 | 1980-11-26 | Gen Electric | Annular metal cutting die of titanium carbide coating tool steel and method of shaving metal rods |
ES494779A0 (es) * | 1979-08-09 | 1981-03-16 | Mitsubishi Metal Corp | Procedimiento para la fabricacion de cuchillas dotadas de recubrimiento,para herramientas de corte |
US4416912A (en) * | 1979-10-13 | 1983-11-22 | The Gillette Company | Formation of coatings on cutting edges |
US4297387A (en) * | 1980-06-04 | 1981-10-27 | Battelle Development Corporation | Cubic boron nitride preparation |
US4336277A (en) * | 1980-09-29 | 1982-06-22 | The Regents Of The University Of California | Transparent electrical conducting films by activated reactive evaporation |
US4537794A (en) * | 1981-02-24 | 1985-08-27 | Wedtech Corp. | Method of coating ceramics |
US4609564C2 (en) * | 1981-02-24 | 2001-10-09 | Masco Vt Inc | Method of and apparatus for the coating of a substrate with material electrically transformed into a vapor phase |
US4596719A (en) * | 1981-02-24 | 1986-06-24 | Wedtech Corp. | Multilayer coating method and apparatus |
JPS5928629B2 (ja) * | 1981-03-30 | 1984-07-14 | 工業技術院長 | 硬質被膜の製造方法 |
GB8324779D0 (en) * | 1982-09-29 | 1983-10-19 | Nat Res Dev | Depositing film onto substrate |
AU563115B2 (en) * | 1983-09-30 | 1987-06-25 | Vsesojuzny Nauchno-Issledovatelsky Instrumentalny Institut | Metal-cutting tool and method for manufacture thereof |
US4656052A (en) * | 1984-02-13 | 1987-04-07 | Kyocera Corporation | Process for production of high-hardness boron nitride film |
DK148784D0 (da) * | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Nexus Aps | Pulverprodukt |
JPS60234965A (ja) * | 1984-05-04 | 1985-11-21 | Diesel Kiki Co Ltd | 薄膜製造方法 |
GB8508699D0 (en) * | 1985-04-03 | 1985-05-09 | Barr & Stroud Ltd | Chemical vapour deposition of products |
JPS6222314A (ja) * | 1985-07-22 | 1987-01-30 | 株式会社ボッシュオートモーティブ システム | 薄膜製造方法 |
US4781989A (en) * | 1986-03-07 | 1988-11-01 | Mitsubishi Kinzoku Kabushiki Kaisha | Surface-coated cutting member |
US4816293A (en) * | 1986-03-27 | 1989-03-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Process for coating a workpiece with a ceramic material |
DE3627151A1 (de) * | 1986-08-11 | 1988-02-18 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven aufdampfen von metallverbindungen |
US4816291A (en) * | 1987-08-19 | 1989-03-28 | The Regents Of The University Of California | Process for making diamond, doped diamond, diamond-cubic boron nitride composite films |
US4957773A (en) * | 1989-02-13 | 1990-09-18 | Syracuse University | Deposition of boron-containing films from decaborane |
JPH0620464B2 (ja) * | 1989-04-03 | 1994-03-23 | 信越化学工業株式会社 | 医療用切開、圧入器具およびその製造方法 |
DE4006457C2 (de) * | 1990-03-01 | 1993-09-30 | Balzers Hochvakuum | Verfahren zum Verdampfen von Material in einer Vakuumaufdampfanlage sowie Anlage derselben |
EP0470777A3 (en) * | 1990-08-07 | 1993-06-02 | The Boc Group, Inc. | Thin gas barrier films and rapid deposition method therefor |
CH683776A5 (de) * | 1991-12-05 | 1994-05-13 | Alusuisse Lonza Services Ag | Beschichten einer Substratfläche mit einer Permeationssperre. |
DE4336681C2 (de) * | 1993-10-27 | 1996-10-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Einrichtung zum plasmaaktivierten Elektronenstrahlverdampfen |
DE4336680C2 (de) * | 1993-10-27 | 1998-05-14 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum Elektronenstrahlverdampfen |
EP0784102B1 (de) * | 1996-01-10 | 2001-12-12 | Alcan Technology & Management AG | Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten einer Substratfläche |
DE19724996C1 (de) * | 1997-06-13 | 1998-09-03 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum plasmaaktivierten Elektronenstrahlverdampfen und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
US6827828B2 (en) * | 2001-03-29 | 2004-12-07 | Honeywell International Inc. | Mixed metal materials |
WO2003082482A1 (en) * | 2002-03-25 | 2003-10-09 | Penn State Research Foundation | Method for producing boride thin films |
JP4181332B2 (ja) * | 2002-03-26 | 2008-11-12 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜の製造方法及び製造装置 |
WO2005010953A2 (en) * | 2003-02-28 | 2005-02-03 | Penn State Research Foundation | Boride thin films on silicon |
US8122600B2 (en) * | 2003-03-03 | 2012-02-28 | United Technologies Corporation | Fan and compressor blade dovetail restoration process |
GB0307745D0 (en) * | 2003-04-03 | 2003-05-07 | Microemissive Displays Ltd | Method and apparatus for depositing material on a substrate |
WO2004102634A2 (en) | 2003-04-16 | 2004-11-25 | The Regents Of The University Of California | Metal mems devices and methods of making same |
JP5139002B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2013-02-06 | 株式会社東芝 | 微粒子担持方法および微粒子担持装置 |
US8526137B2 (en) | 2010-04-16 | 2013-09-03 | International Business Machines Corporation | Head comprising a crystalline alumina layer |
US9023422B1 (en) * | 2011-08-31 | 2015-05-05 | Maxim Integrated Products, Inc. | High rate deposition method of magnetic nanocomposites |
US10167555B2 (en) | 2014-08-18 | 2019-01-01 | Dynetics, Inc. | Method and apparatus for fabricating fibers and microstructures from disparate molar mass precursors |
US11499230B2 (en) | 2014-08-18 | 2022-11-15 | Dynetics, Inc. | Method and apparatus for fabricating fibers and microstructures from disparate molar mass precursors |
CN106676480B (zh) * | 2017-03-10 | 2019-11-08 | 南京大学 | 一种蒸发速率可控的电子束蒸发源 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3230110A (en) * | 1962-01-22 | 1966-01-18 | Temescal Metallurgical Corp | Method of forming carbon vapor barrier |
US3373050A (en) * | 1964-12-30 | 1968-03-12 | Sperry Rand Corp | Deflecting particles in vacuum coating process |
US3419487A (en) * | 1966-01-24 | 1968-12-31 | Dow Corning | Method of growing thin film semiconductors using an electron beam |
US3695910A (en) * | 1969-01-21 | 1972-10-03 | Anthony W Louderback | Method of applying a multilayer antireflection coating to a substrate |
US3677795A (en) * | 1969-05-01 | 1972-07-18 | Gulf Oil Corp | Method of making a prosthetic device |
-
1972
- 1972-06-16 US US00263708A patent/US3791852A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-06-05 GB GB2663873A patent/GB1392583A/en not_active Expired
- 1973-06-15 DE DE19732330545 patent/DE2330545B2/de not_active Ceased
- 1973-06-15 JP JP48067000A patent/JPS5148463B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5148463B2 (de) | 1976-12-21 |
DE2330545B2 (de) | 1977-06-08 |
JPS4952186A (de) | 1974-05-21 |
US3791852A (en) | 1974-02-12 |
GB1392583A (en) | 1975-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2330545A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum ablagern eines karbidfilmes | |
EP0478909B1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Diamantschicht und Anlage hierfür | |
DE3875815T2 (de) | Methode zur behandlung der substratoberflaechen mit hilfe von plasma und reaktor fuer die durchfuehrung dieser methode. | |
DE69815348T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur keimbildung und abscheidung von diamant mittels heissdraht-dc-plasma | |
DE3417462C3 (de) | Verfahren zur Lichtbogenbedampfung eines Substrates | |
DE3027526C2 (de) | ||
DE69302398T2 (de) | Vorrichtung für Mikrowellen - Plasma - CVD | |
DE1931412A1 (de) | Duennschichtwiderstaende und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
WO2008145459A1 (de) | Vakuumbehandlungsanlage und vakuumbehandlungsverfahren | |
CH631743A5 (de) | Verfahren zum aufdampfen von material in einer vakuumaufdampfanlage. | |
DE69516053T2 (de) | Erzeugung eines Diamantfilmes | |
EP0442163A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von ultrafeinen Partikeln und deren Verwendung | |
EP2439306A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Wärmedämmschichtaufbaus | |
EP2236641A1 (de) | Verfahren zur Vorbehandlung von Substraten fuer PVD Verfahren | |
DE3206622C2 (de) | ||
DE69407839T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Disilan aus Monosilan durch elektrische Entladung und Benützung einer Kühlfalle, sowie Reaktor zu seiner Durchführung | |
EP1252365A1 (de) | Verfahren zur erzeugung von funktionsschichten mit einer plasmastrahlquelle | |
EP1654397B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung oder modifizierung von oberflächen | |
EP0734459B1 (de) | Verfahren und einrichtung zum plasmaaktivierten bedampfen | |
DE3315971C2 (de) | ||
DE69905498T2 (de) | VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES METALLEGIERUNGSPULVERS VOM TYP MCrAlY UND NACH DIESEM VERFAHREN ERHALTENE ÜBERZÜGE | |
DE2254434A1 (de) | Vorrichtung zum niederschlagen von metall mittels aufstaeuben aus fluessiger phase | |
EP0438627B1 (de) | Bogenentladungsverdampfer mit mehreren Verdampfertiegeln | |
EP0291444B1 (de) | Herstellung von Polymer-Metallverbindungen durch Abscheidung in Glimmentladungszonen | |
DE2113375A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung eines duennen Grundmaterials mit einem duennen Film |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BHV | Refusal |