DE2230802A1 - Leuchtschirm mit einer mosaikstruktur - Google Patents

Leuchtschirm mit einer mosaikstruktur

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DE2230802A1
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    • H01J29/385Photocathodes comprising a layer which modified the wave length of impinging radiation

Description

Dipl.-lng. ERICH P. WAlTHER Anmo!c!or: Ii. V. ?fl«.'.-C10LO^;LA»lPZriFA3RlEKEN 2230802
Abe: P-'N- 573C
Anmeldung vom· ?2. Jl.mi 1Q7?
"Leuchtschirm mit einer Mosaikstruktur".
Die Erfindung betrifft einen Leuchtschirm mit einer Leuchtmaterialschicht, die aus einem Mosaikmuster von untereinander räumlich getrennten Gebieten aufgebaut ist.
Ein derartiger Leuchtschirm ist aus
beispielsweise der U.S. Patentschrift 3·®^] *^56 bekannt, Bekannten Leuchtschirmen dieser Art ist gemein, dass das Leuchtmaterial in einem Träger angebracht ist, auf dem bereits Wände zur Trennung der Gebiete vorgesehen sind. Diese Verfahren erfordern viel Arbeit und sie
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schränken oft die freie Wahl des Leuchtmaterials, des Trägers oder der Technik zum Anbringen des Leuchtmaterials ein. Auch sind die Gebiete einer auf diese Art und Weise erhaltenen Mosaikstruktur für viele Anwendungen zu grob.
Die Erfindung bezweckt, diese Nachteile zu beseitigen, und ein Leuchtschirm der eingangs erwähnten Art ist dazu dadurch gekennzeichnet, dass die Gebiete durch im wesentlichen quer auf der Schicht gerichtete Risse in der Leuchtmaterialschicht begrenzt werden.
Die Erfindung schafft einen einfach herzustellenden Leuchtschirm, bei dem die laterale Lichtstreuung durch die Schicht stark reduziert ist und bei dem das Leuchtmaterial entsprechend einer für homogene Schichten geeigneten Technik angebracht werden kann. In einer entsprechend der Erfindung gebildeten Leuchtschicht kann eine sehr feine Rissstruktur verwirklicht werden, wobei die Abmessung der Gebiete den an die betreffende Schicht hinsichtlich des Auflösungsvermögens zu stellenden Anforderungen angepasst werden kann.
Die Erfindung wird anhand einiger in den Zeichnungen dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine skizzenhafte Darstellung eines Querschnitts durch eine bevorzugte Ausführungsform eines erfindungsgeraässen Leuchtschirms,
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Fig. 2 eine skizzenhafte Darstellung einer Draufsicht auf einen erfindungsgemässen Leuchtschirm, und
Fig. 3 eine skizzenhafte Darstellung eines Röntgenbildverstärkers, von dem ein Eingangsschirm durch einen erfindungsgemässen Leuchtschirm gebildet wird.
In einem in Fig. 1 dargestellten Leuchtschirm befindet sich eine auf einem Träger 2 vorgesehene Leuchtmaterialschicht 1. Der Träger besteht meistens aus Glas, er kann jedoch auch aus Metall wie Aluminium oder Titan zusammengesetzt sein. Ein Metallträger kann beispielsweise als Eingangsfenster für verhältnismässig harte Röntgenstrahlen und für schnelle Elektronen benutzt werden. Für weichere Röntgenstrahlen kann beispielsweise Beryllium als Trägermaterial verwendet werden. Das Leuchtmaterial wird dadurch auf dem Träger angebracht, dass man beispielsweise eine aus Leuchtmaterialkörnern, wie Zinkcadmiumsulfid bestehende viskose Masse und einen Binder in einer Dünnen Schicht auf dem Träger auslaufen und die auf diese Art und Weise gebildete Schicht danach härten lässt. Eine derartige für einen Röntgenleuchtschirm zu verwendende Leuchtschicht muss eine Dicke von etwa 400 Mikron aufweisen. Leuchtmaterial wie Caesiumjodid kan insbesondere duroli Verdampfern oder Kathodenzerstäubung auf einem
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Träger angebracht werden. Diese Verfahren bewirken, u.a. da nun kein Binder vorhanden ist, dass eine Leuchtschicht einen viel dichteren Aufbau hat. Eine derartige für Röntgenleuchtschirme hervorragend geeignete Schicht kann dadurch dünner sein und beispielsweise eine Schichtdicke von 200 mikron aufweisen. Die Schichtdicke des teuchtmaterials wird durch die Forder-, ung bestimmt, dass auftreffende Röntgenstrahlen zumindest zum gfössten Teil eingefangen werden müssen.
In dem in Fig, 1 dargestellten Leuchtschirm ist die Leuchtmaterialschicht 1 von einer Trennschicht abgedeckt. Diese Trennschicht hat u.a. die Funktion, eine auf der Trennschicht anzubringende, beispielsweise aus Caesiumantimon bestehende Photokathode h gegen nachteilige chemische Einflüsse vom Leuchtmaterial aus zu schützen. Die Trennschicht 3 besteht beispielsweise aus Aluminiumoxyd. Ist eine gewisse elektrische Leitung durch die Trennschicht gewünscht, so kann dies dadurch erreicht werden, dass die in Form von Aluminium angebrachte Schicht nur teilweise oxydiert wird.
Entsprechend der Erfindung ist die Leuchtmaterialschicht 1 durch Risse 5 in kleine Gebiete 6 eingeteilt. In Fig. 2 ist, von einer Richtung einfallender Strahlung aus gesehen, eine Risstruktur angegeben. Die Rissstruktur wird zum Beispiel durch die Art des Leuchtmaterials und die Technik zum Anbringen dos
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Leuchtmaterials auf dem Träger, die Temperatur des Trägers beim Anbringen des Leuchtmaterials, den thermischen Ausdehnungskoeffizienten der Leuchtmaterialschicht und des Trägermaterials, die Schichtdicke und die Ausführungsform des Trägers bestimmt. In einer Caesiumjodidschicht kann z.B. auf folgende Weise eine gute Rissstruktur erzielt werden. Das Caesiumjodid wird auf einem aus einem Material mit einem Ausdehnungskoeffizienten von etwa 2,0 bis 2,5 x 10 --· bestehenden Träger angebracht (aufgedampft). Der Träger wird beim Aufdampfen beispielsweise mit Infrarotstrahlern auf einer Temperatur von etwa 150 bis 200°C gehalten. Nach dem Auftragen der Schicht wird der Schirm allmählich abgekühlt. Da die Leuchtmaterialschicht einen Ausdehnungskoeffizienten von etwa k,5 bis 5»0 χ 10 aufweist, schrumpft die Leuchtschicht mehr als der Träger, und es treten Risse in der Leuchtschicht auf. Da die dabei auftretenden Zugspannungen lateral in der Schicht gerichtet sind, verlaufen die Risse im wesentlichen quer auf der Schicht. Der Brechungsindex des Leuchtmaterials ist grosser als 1, so dass an den durch die Risse gebildeten Übergängen eine Totalreflektion auftritt und die laterale Lichtstreuung eingeschränkt wird.
Um einen Leuchtschirm für eine bestimmte Anwendung lierzuste 1 Leu, wie hier als Eingangsschirm
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für einen Röntgenbildverstärker, ist das Leuchtmaterial und damit die Schichtdicke und Form und Material des Trägers oftmals als vorgegeben zu be-, trachten. Als Parameter, der die Rissstruktur mitbestimmt, bleibt dann die Temperatur des Trägers beim Anbringen des Leuchtmaterials übrig. Obwohl darin einige Änderungen möglich sind, werden diese dennoch eingeschränkt, da bei einer zu kleinen Temperaturerhöhung oder bei einer etwaigen Temperatursenkung, wenn die Ausdehnungskoeffizienten in einem umgekehrten Grössenverhältnis liegen, zu wenig Risse auftreten und diese Risse zu Gebieten mit sehr unterschiedlicher Grosse führen. Eine zu hohe Temperatur des Trägers verursacht häufig ein Loslösen des Leuchtmaterials vom Träger. Eine gute Lösung für dieses Problem bietet die Schichtdicke. Es hat sich nämlich gezeigt, dass die Dichte der Risse, auch Rissfrequenz genannt, durch die Schichtdicke des Leuchtmaterials stark beeinflusst werden kann. Ein bevorzugtes Verfahren zum Zusammensetzen einer Leuchtschicht mit einer optimalen Rissfrequenz und einer geringen Streuung in den Abmessungen der Gebiete besteht daher darin, dass zunächst eine Teilschicht auf einem Träger angebracht wird. Die Dicke dieser Teilschicht wird nun derart gewählt, dass eine optimale Rissstruktur entsteht. Der Schirm wird dann abgekühlt, wieder erwärmt und niLt
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einer zweiten Teilschicht versehen, Bei der zweiten und gegebenenfalls darauffolgenden Abkühlung zeigt sieh nun, dass sich die in der ersten Teilschicht vorhandene Rissstruktur in den danach angebrachten Teilsehichten fortsetzt. Vorzugsweise sind die auf die erste folgenden Teilsehichten nicht dicker als jene erste. Insbesondere für aufgedampfte Caesiumjodidschirme mit einer Schichtcf.cke von etwa 200 Mikron sind durch zwei- oder dreimaliges Aufdampfen Schirme mit einer sehr regelnlässigen Rissstruktur und mithin Gebiete mit der gewünschten Abmessung verwirklicht. Hierdurch besteht zugleich die Möglichkeit, Leuchtschirme, die aus mehrfachen Schichten verschiedener Leuchtmaterialien aufgebaut sind, mit einer Rissstruktur herzustellen.
Ein anderes Verfahren zur Herstellung eines Leuchtschirms mit einer Rissstruktur besteht darin, dass von einem Trager ausgegangen wird, bei dem auf einer Oberfläche, auf der das Leuehtmaterial angebra Ht wird, eine bestimmte Struktur vorgesehen ist. Dies kann beispielsweise dadurch ausgeführt werden, dass eine Gazestruktur in die Oberflache gewalzt wird, oder dass eine Struktur wie beispielsweise in Druckereien üblich in den Träger gedruckt wird. In makroskopischer Hinsicht ist die Trägeroberfläche auch dann noch flach, so dass von Stnhrändern nicht die Rede sein kann, die später (1 i ο Begrenzungen bilden. Mikroskopische Unregelmassig-
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keiten in der Oberfläche des Trägers wirken bereite als Startmuster für die Rissstruktur. Entsprechend diesem Verfahren kann die Grobheit der Struktur mithin vorher aufgeprägt werden. Die Wahrscheinlichkeit einer regelmassigeren Struktur hinsichtlich Grosse der Gebiete ist grosser.
1 Eine in Gebiete eingeteilte Schicht kann auch verwirklicht werden, indem eine Gaze mit einer der erwünschten Rissstruktur entsprechenden Maschenabmessung aufgedampft oder zerstäubt wird. Es zeigt sich dabei, dass sich das Leuchtmaterial vorzugsweise auf den Drähten der Gaze niederschlägt, wodurch kleine Materialsäulen anwachsen. Es ist dabei erwünscht, unter der Gaze eine wärmeisolierende Platte, beispielsweise eine Glasplatte, vorzusehen. Für Röntgenleuchtschirme kann von einer geflochtenen Gaze mit einer Maschenweite von 50 bis 75 Mikron ausgegangen werden. Für Beobachtungsschirme für Bildverstärkerröhren kann eine Gaze mit einer Maschenweite von 5 bis 7>5 Mikron verwendet werden. Als Gazematerial kann man u.a. Kupfer, Nickel oder Molybdän verwenden. Wenn die gebildeten Säulen miteinander verwachsen sind, was bei flachen Gazen manchmal geschieht, können sie mittels einer Temperaturbehandlung durch Risse des Leuchtmaterials voneinander getrennt werden.
Die räumliche getrennten Gebiete einer erfindungsgemässen Leuchtschicht sind bei einer im
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Betrieb befindlichen Schicht durch Vakuumübergänge voneiander getrennt. Durch Unterschiede im Brechungsindex tritt eine (Total-)Reflexion an den Übergängen auf, und es ist mithin eine optische Trennung verwirklicht. Das Auflösungsvermögen der Schicht ist hierdurch grosser geworden. Bei besonderen Anwendungen kann es günstig sein, die Risse zu füllen. Dies lässt sich einfach durchführen, beispielsweise dadurch, dass eine mit Rissen versehene Schicht in einem thermoplastischen Stoff mit den erwünschten Eigenschaften oder einem Binder, in dem Stoffe mit den erwünschten Eigenschaften aufgelöst oder suspendiert sind, warm getränkt wird. Entsprechend diesem Verfahren können die Risse beispielsweise völlig lichtundurchlassig oder Röntgengstrahlen absorbierend gemacht werden. Bei diesem Schirm wird dadurch die Menge durchfallender Röntgenstrahlen oder von aussen auf einen Schirm auftreffenden Lichte reduziert. Bei diesen Schirmen tritt auch eine Selektion in bezug auf einfallende Strahlen auf. Schräg einfallende Strahlen werden nun nämlich zu einem grossen Teil durch die nun gefüllten Risse eingefangen. Ein derartiger Schirm hat dann zugleich eine Art Bucky-Wirkung. Letzteres kann beispielsweise vorteilhaft für Schirme angewendet werden, die an der Eingangsseite der zu detektierenden Strahlung an eine Faseroptikplatte oder an eine Kanalverstärkerplatte gekoppelt sind.
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Derartige Platten haben einen grossen Öffnungswinkel für die austretenden Strahlen oder Teilchen (Elektronen). Eine dadurch zu erwartende externe Streuung in der Leuchtschicht kann nun durch die absorbierenden übergänge stark reduziert werden. Unter externer Streuung wird hier diejenige Streuung verstanden, die dadurch auftritt, dass die auf die Leuchtschicht auftreffende Strahlung unzureichend kollimiert ist. Auch bei Röntgenaufnahmen, bei denen ein Auffangschirm dicht hinter einem zu durchstrahlenden Transparent angeordnet ist, kann ein derartiger Schirm die Funktion eines Röntgenfluoreszenzschirms und.eines Streurasters kombinieren. Es kann hier beispielsweise an eine Untersuchung von Materialfolien gedacht werden, die gegebenenfalls unter Einfügung einer Faseroptikplatte dicht gegen einen Leuchtschirm angebracht werden. Es ist bei solchen mehrfach angebrachten Schichten möglich, dass Anfülen der Risse in den Teilschichten mit dazu geeigneten Materialien durchzuführen.
Eine in Fig. 3 auf schematische Weise dargestellte Röntgenbildverstärkerröhre 7 empfängt Röntgenstrahlen 8, die von einer Röntgenquelle 9 herrühren und ein zu untersuchendes transparentes Objekt 10 durchstrahlen. Die Röntgenbildverstärkerröhre 7 enthält eine Umhüllung 11, von der ein Eingangsfenster 12 und ein Beobachtungsfenster 13 einen Teil bilden.
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Die Umhüllung mit den Fenstern besteht vorzugsweise aus Glas, die Fenster bestehen manchmal aus Faseroptikplatten, aber insbesondere das Eingangsfenster kann wie bereits erwähnt auch aus Metall bestehen. Die Fenster bilden vorzugsweise Träger für die darauf anzubringenden Leuchtschichten. Auf dem Eingangsfenster 12 ist eine Leuchtschicht 14 entsprechend einem der beschriebenen Verfahren nach der Erfindung angebracht. Das Leuchtmaterial besteht vorzugsweise aus Caesiumjodid, und die Schichtdicke beträgt z.B. 200 Mikron. Auf der Leuchtmaterialschicht 14 befinden sich eine Trennschicht 15 und eine Photokathode, beide z.B. entsprechend dem in Fig. 1 angegebene Aufbau. Die elektrisch leitende
Photokathode ist über eine Durchführung 17 nach aussen geführt. Zum Beschleunigen und zum Abbilden von durch die Photokathode 17 auszusendenden Elektronen auf dem Guckfenster 13 befinden sich in der Umhüllung eine Hilfselektrode 18 mit einer Durchführung 191 eine erste Anode 20 mit einer Durchführung 21 und gegebenenfalls eine zweite Anode 22 mit einer Durchführung 23· Die zweite Anode 22 ist unter Einfügung von elektrisch isolierenden beispielsweise aus Glasperlen bestehenden Unterbrechern 2k auf der ersten Anode montiert. Auf dem Beobachtungsfenster 13 befinden sich eine Leuchtschicht 25, die beispielsweise aus Caesiumj;odid mit einer Schicht-dicke von etwa 5 Mikron besteht, und eine
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elektrisch leitende beispielsweise lichtreflektierende Schicht 26. Die Schicht 26 ist über einen elektrischen Kontakt 27 mit der ersten Anode verbunden. Weil in bestehenden Bildverstärkern dieser Art der Eingangsleuchtschirm häufig das Auflösungsvermögen des Systems einschränkt, wird insbesondere dazu ein Leuchtschirm mit einer erfindungsgemässen Rissstruktur verwendet. Es wird dabei eine Rissfrequenz von etwa 120 bis 125 Linien pro cm angestrebt. Hierdurch entstehen Gebiete mit einer mittleren lateralen Abmessung von etwa 100 Mikron. Einige verhaltnismässig grosse Gebiete mit beispielsweise einer Abmessung von 500 Mikron werden die Bildqualität nicht ernstlich beeinflussen. Wohl aber können diese grossen Gebiete örtliche Potentialsprünge verursachen, die die Homogenität in den Photoelektronen stören können.
Ist der Eingangsschirm mit einer erfindungsgemässen Leuchtschicht versehen, so kann bei einer guten elektronenoptischen Abbildung in der Röhre der Bildschirm das Auflösungsvermögen bestimmen. Es ist dann zweckmässig auch den Beobachtungsschirm mit einer Leuchtschicht mit einer Rissstruktur zu versehen. Die Rissfrequenz muss dann dem Verhältnis der Abmessungen des Eingangsschirms und des Wahrnehmungsschirms angepasst werden und sie wird z.B. etwa um einen Faktor 10 höher sein als für den Eingangsschirm.
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Dies hat etwa 100 Risse pro ram zur Folge, wodurch Gebiete mit einer mittleren Abmessung von etwa 10 Mikron entstehen.
Die Röntgenverstärkerröhre gilt nur als Beispiel für eine Anwendung eines erfindungsgemässen Leuchtschirms. Da der Eingangsschirm verhältnismässig dick ist, fallen die Vorteile hier deutlich auf. Es sind jedoch mehrere Anwendungen möglich, wie beispielsweise in Lichtverstärkern, u.a. Infrarotfernrohren, Gammadetektoren, Elektronenmikroskopen, Oszillographröhren, hochwertigen Fernsehwiedergaberöhren, beispielsweise für Messmonitoren und derartige Geräte.
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Claims (1)

  1. 2730802
    PHN.5730
    PATENTANSPRÜCHE:
    Leuchtschirm mit einer Leuchtmaterialschicht, die aus einem Mosaikmuster von untereinander räumlich getrennten Gebieten aufgebaut ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Gebiete durch im wesentlichen quer auf der Schicht gerichtete Risse in der Leuchtmaterialschicht begrenzt werden.
    2. Leuchtschirm nach Anspruch 1, dadurch
    gekennzeichnet, dass sie eine auf einem Träger niedergeschlagene Leuchtmaterialschicht, die im wesentlichen aus Caesiumjodid (CsJ) besteht, enthält. 3· Leuchtschirm nach Anspruch 1 oder 2,
    dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchtmaterialschicht aus mehreren Teilschichten besteht. h. Leuchtschicht nach Anspruch 1 oder 2,
    dadurch gekennzeichnet, dass sie einen Träger enthält, in dem auf der dem Leuchtmaterial zugekehrten Oberfläche eine mikroskopische Struktur angebracht ist.
    5. Leuchtschirm nach Anspruch 1, 2, 3 oder k, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger aus -einem Metall wie Aluminium oder Titan besteht.
    6. Leuchtschirm nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Leuchtmaterial auf einer Gazeform niedergeschlagen ist und quer zur Gazefläche gerichtete Säulen aufweist.
    20 9R83/1028
    7230802
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    7. Leuchtschirm nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass durch die Risse entstandene Räume zwischen den Gebieten mit einem eine elektromagnetische Strahlung absorbierenden Material angefüllt sind.
    8. Leuchtschirm nach Anspruch 3 und 7 > dadurch gekennzeichnet, dass die Teilschichten unterschiedliche Materialien als Leuchtmaterial und/oder als Füllmaterial enthalten.
    9. Bilderzeugende Anordnung mit einem oder mehreren Strahlungsenergie umwandelnden Schirmen, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest einer der die Strahlungsenergie umwandelnden Schirme einen Leuchtschirm nach einem der vorhergehenden Ansprüche enthält.
    10. Röntgenverstärkerröhre mit einem Eingangsschirm und einem Beobachtungsschirm, dadurch gekenn*. zeichnet, dass zumindest einer dieser Schirme durch einen Leuchtschirm nach einem der Ansprüche 1 bis 8 gebildet wird.
    11. Strahlungsdetektor mit dem Kennzeichen, dass ein Aufgangsschirm durch einen Leuchtschirm nach einem der Ansprüche 1 bis 8 gebildet wird.
    12. Verfahren zum Herstellen eines Leucht-.schirms nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass Leuchtmaterial auf einem Träger niedergeschlagen wird, wonach die Schicht mittels einer Wärmebehandlung mit ο j nor Rissstruktür versehen wird.
    20988 3/10?«
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    13· Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger an einer Oberfläche, auf der das Leuchtmaterxal angebracht wird, mit einem einer erwünschten Rissstruktur entsprechenden Muster versehen wird.
    14. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Leuchtmaterial in Teilschichten angebracht wird, wobei eine zuerst angebrachte Teilschicht mit einer Rissstruktur versehen wird, welche Rissstruktur an den danach anzubringenden Teilschichten fortgesetzt wird.
    15· Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Leuchtmaterial auf einer feinmaschigen Gaze aufgedampft wird, die auf einem thermisch isolierenden Untergrund vorgesehen ist.
    16. Verfahren zum Herstellen eines Leuchtschirms nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Rissstruktur durch mechanische Verformung des Trägers mit der aufgetragenen Leuchtschicht in der Leuchtschicht angebracht wird.
DE2230802A 1971-07-10 1972-06-23 Verfahrn zum Herstellen eines Leuchtschirmes für das Eingangsfenster einer Röntgenbildverstärkerröhre Expired DE2230802C2 (de)

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