DE2225316A1 - Verfahren zur Behandlung eines Glaskörpers - Google Patents
Verfahren zur Behandlung eines GlaskörpersInfo
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Description
7 79RT1R
Dipl.-Ing. HORST AUER . ο id
AnFnQIdCrIN1V1PHILU-S-GLOEiLAIi]PENFAaRIEKEN
Aktes PHN- 5652
Anmslduna vom· 24. Mai 1972
Anmslduna vom· 24. Mai 1972
Verfahren zur Behandlung eines Glaskörpers.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Behandlung eines Glaskörpers, der aus einer Glasztisammensetzung
besteht, deren Leitfähigkeit durch eine reduzierende oder oxydierende Behandlung an der Oberflache derart
geändert werden kann, dass Elektronenleitung vorherrschend wird.
Es sind eine Anzahl derartiger Glaszusammensetzungen bekannt, z.B. PbO-haltige Gläser, von denen eine Oberflächenschicht
durch Erhitzung in einer wasserstoffhaltigen Atmosphäre eine erhöhte Leitfähigkeit erhält (siehe die
deutsche Offenlegungsschrift 1.-953.738, die britische Patentschrift
1.168.M5 und die französische Patentschrift 1.599.61*0«
Eine bedeutende Anwendung dieser Glaszusammensetzungen
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- 2 - PHN. 5652
liegt auf dem Gebiet der kontinuierlichen Sekundäremissionselektroden.
Diese Elektroden bestehen aus einem Körper mit zwei parallelen Begrenzungsflächen, der mit einer Anzahl
gegebenenfalls zu den erwähnton Begrenzungsflächen senkrechter
Kanäle versehen ist, die an beiden Enden offen sind. Die Begrenzungsflächen sind beide mit einer elektrisch
leitenden Schicht überzogen und zwischen ihnen wird ein Spannungsunterschied angelegt. Unter dem Einfluss des auf
diese Weise erhaltenen elektrischen Feldes bewegen sich Elektronen durch die erwähnten Kanäle von einer Seite der
Elektrode zu der anderen.
Die Wände der Kanäle bestehen z.B. aus einem PbO-haltigen
Glas der obenerwähnten Art, das an sich nicht den gewünschten Oberflächenwiderstand aufweist und nicht imstande ist,
Elektronen zu liefern, diese Eigenschaft aber durch die erwähnte Reduktionsbehandlung erhält. Ausserdem weist diese
Glasart bei der durch den üblichen Spannungsunterschied herbeigeführten Elektronengeschwindigkeit einen Sekundäremissionsfaktor
von mehr als 1 auf. Dies bedeutet, dass für jedes gegen die Wand aufprallende Elektron durchschnittlich
mehr als ein Elektron aus der Wand herausgelöst wird.
Ein Glaskörper für eine derartige Sekundäremissionselektrode,
die z.B. einen Durchmesser von 3 bis 10cm, eine
Dicke von 1 bis 2,5mm und eine Anzahl Oeffnungen in der
5 / 2
Grossanordnung von 10 /cm mit einem mittleren Querschnitt pro Oeffnung von etwa 20 - 40/um aufweist, wird mit Rohrpias, das unter Erhitzung ausgezogen wird, als Ausgangsmaterial hergestellt. Die erhaltenen Rohre werden zu einem Bündel
Grossanordnung von 10 /cm mit einem mittleren Querschnitt pro Oeffnung von etwa 20 - 40/um aufweist, wird mit Rohrpias, das unter Erhitzung ausgezogen wird, als Ausgangsmaterial hergestellt. Die erhaltenen Rohre werden zu einem Bündel
2 0 9 B r>
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·■·■:.■:■■ - 3 - ' pHN.
vereinigt und das Ganze wird aufs neue ausgezogen, gebündelt
und dann in einer Lehre zusammengefügt und erhitzt,.bis
das Wandmaterial der Rohre verschmolzen ist und durch Zusammen flies sen des Materials die Zwischenräume ausfüllt.
Auch manganhaltige Oxydglaser sind u.a. für den
gleichen Zweck bekannt, wobei aber der gewünschte Wert
des Oberflächenwiderstandes dieser Gläser durch eine oxydierende Behandlung bei erhöhter Temperatur eingestellt
werden muss»
Versuche haben ergeben, dass die bei der Reduktion gebildeten und somit die Leitung herbeiführenden Bleiteilchen
sich nicht unmittelbar an der Glasoberfläclie befinden,
sondern über eine Tiefe zwischen 100 und 20.000 Ä* verteilt
sind. Auch für die Mangangläser, deren die Leitung herbeiführende
Elektronen aus der Kombination MnO-Mn-O,, in einem
bestimmten Gleichgewichtsverhältnis geliefert werden, stellte
sich heraus, dass das Optimum der Leitung sich etwa über
die gleiche Tiefe erstrecktes
Das Verfahren nach der Erfindung zur Einstellung des
Wertes der elektrischen Leitfähigkeit eines Glases durch eine eine Elektroneilübertragung bewirkende Behandlung bei
erhöhter Temperatur ist dadurch gekennzeichnet, dass im Anschluss an die vorerwähnte Behandlung das Glas solange
mit einer alkalischen wässrigen Lösung oder mit einer
fluorwasserstoffsäurehaltigen Lösung in Berührung gehalten wird, bis eine Schicht von 200 bis 10000 A* von
der Glasoberflache abgeätzt ist. Beim Aetzen ist es nämlich
wichtig, dass neben der Entfernung der netzwerkändernden Ionen
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- h - v PHN. 5652
auch Angriff des SiO-Netzwerks auftritt.
Das Verfahren nach der Erfindung ergibt einen viel besser reproduzierbaren Wert des Oberflächenwiderstandes.
Ausserdem wird ein höherer Sekundäremissionsfaktor als mit einer nicht nach diesem Verfahren behandelten Glasart erreicht.
Bei Anwendung eines auf diese ¥eise behandelten Glases in einer Sekundäremissionseiektrode werden viel grössere Verstärkungsfaktoren
erhalten. Das Verfahren eignet sich besonders gut zur Anwendung in denjenigen Fällen, in denen es bisher
unmöglich war, einem Bleiglas durch eine einfache reduzierende Behandlung einen Oberflächenwiderstand Von mindestens 10 «A,pro
Quadrat zu erteilen. Auch eignet sich das Verfahren zur Anwendung in denjenigen Fällen, in denen die Oberflächenleitung
infolge einer Wärmebehandlung stark abgenommen hat.
Auch lässt sich gemäss der Erfindung behandeltes Glas für den Hals einer Fernsehwiedergabeelektronenstrahlröhre
verwenden.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand einiger Beispiele näher erläutert.
1. Eine Anzahl Gläser mit der Zusammensetzung nach der Tabelle I wurden geschmolzen, ausgegossen und in Block-" chen mit Abmessungen von 20 χ 10 χ 5 nun gesägt. Von diesen Blöckchen wurden eine Anzahl, von jeder Zusammensetzung eines, 6 Stunden lang einem kontinuierlichen Wasserstoffstrom mit einer Geschwindigkeit von 5 l/min ausgesetzt und auf die in der Tabelle angegebenen Temperatur erhitzt. Eine gleiche Anzahl B15ckchen wurden . * derselben Behandlung unterworfen; die Proben wurden aber
1. Eine Anzahl Gläser mit der Zusammensetzung nach der Tabelle I wurden geschmolzen, ausgegossen und in Block-" chen mit Abmessungen von 20 χ 10 χ 5 nun gesägt. Von diesen Blöckchen wurden eine Anzahl, von jeder Zusammensetzung eines, 6 Stunden lang einem kontinuierlichen Wasserstoffstrom mit einer Geschwindigkeit von 5 l/min ausgesetzt und auf die in der Tabelle angegebenen Temperatur erhitzt. Eine gleiche Anzahl B15ckchen wurden . * derselben Behandlung unterworfen; die Proben wurden aber
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' - 5 - .· PHN. 5652
anschliessend während der angegebenen Zeit in eine
Sn NaOH-Lösung bei Zimmertemperatur getaucht, dann in
entionisiertem Wasser gespült und getrocknet. Dann wurden eine gleiche Anzahl Blöckchen 3 Stunden lang auf die
angegebene Temperatur in. der Wasserstoffatmosphäre erhitzt,
während schliesslich eine gleiche Anzahl Blöckchen derselben Behandlung ausgesetzt wurden, wobei die
Proben während der angegebenen Zeit in eine 6n NaOH-Lösung
getaucht, gespült und getrocknet wurden. In der Tabelle I wird der Logarithmus des erhaltenen Oberflächenwiderstandes
(log 3t ) angegeben, wobei "JC in Ω ausgedrückt
und bei Zimmertemperatur und im Vakuum gemessen wird.
9 η Q ρ ς 1 /ιπαρ
Probe ■ Nr. |
SiO2 | PbO | Bi2O3 | Zusammensetzung | K2° | in Mol | * | As2 | Rest | O3 0,2 | ,7; As2O3 | 0,1. |
1 | 72,6 | 10,8. | 2,5 | Na2O | 6,9 | A12°3 | CaO | 1,8; ZnO 1 | 0,2; CaO | 0,1 | ||
2 | 73,4 | 4,9 | 2,0 | 5,9 | - | 1,1 | As2 | O3 0,1; MnO | 0,1 . | |||
3 | 72,4 | 10,7 | 2,0 | 16,0 | 3,7. | 0,1 | CaO | 0,2; As2O3 | 0,1; MnO | 0,2 | ||
4 | 66,0 | 11,2 | 2,0 | 9,8 | 9,6 | 1,0 | CaO | 3,1; As2O3 | 3,0 | |||
5 | 67,1 | 14,9 | 2,0 | 9,8 | 9,5 | 1,1 | As2 | 0„ 0,1; CaO | ,7; As2O3 | 0,2 | ||
6 | 71,9 | 10,3 | 2,0 | 2,1 | 7,5 | 1,0 | CaO | 1,8; ZnO 1 | 0,2; MnO | 0,2 | ||
7 | 73,2 | 4,9 | 2,5 | 4,6 | - | 0,6 | CaO | 0,1; As2O3 | ||||
8 | 72,4 | 10,4 | 2,5 | 15,6 | 3,6 | 0,1 | ||||||
9,6 | 1,0 | |||||||||||
mit | (ohm) | mit | Temperatur | Aetzzeit. | |
log X | Aetzung, | Aetzung | (9C) Reduktion |
(Minut en) | |
6 h Reduktion | 12,2 | 3 h Reduktion | 12,8 | ||
ohne | 13,2 | ohne | 13,-5 | ||
Aetzung | 12,2 | Aetzung | 12,6 | 300 | 30 |
13,4 | 12,7 | 13,4 | 13,1 | 320 | 20 |
13,5 | 11,2 | 13,6 | 11,7 | 335 | 15 |
12,7 | 12,4 | 12,9 | 13,0 | 325 | 15 |
13,4 | 13*3 | 13,4 | 13,6 | 400 ■ | 20 |
12,0 | 11,7 | 12,1 | 12,0 | 350 | 30 |
13,0 | 13,3 | 325 | 20 | ||
13,7 | 13,8 | 350 | 1'5 | ||
12,3 | 1 2,4 |
- 7 - -.- ' ΡΗΝ· 5652
Von der Oberflache der Proben wurde etwa 500 A*
abgeätzt. ,
2, Eine Anzahl Gläser mit der Zusammensetzung nach der
Tabelle II wurden geschmolzen, ausgegossen und in Blöckchen mit Abmessungen von 20 χ 10 x 5 mm gesägt.
Von diesen Blöckchen wurden eine Anzahl, von jeder Zusammensetzung eines, 3 Stunden lang auf* die in der
Tabelle erwähnte Temperatur in der Luft erhitzt. Eine gleiche Anzahl BlSckchen wurden dieser Behandlung unterworfen;
die Proben wurden aber anschliessend während der in der Tabelle angegebenen Zeit in eine 6n NaOH-Lösung
bei Zimmertemperatur getaucht.,, dann in ent ionisiert em .
Wasser gespült und getrocknet. Eine-gleiche Anzahl J318ckchen
wurden 6 Stunden lang auf die erwähnte Temperatur in der Luft erhitzt, während schliesslich eine gleiche
Anzahl Blöckchen dieser Behandlung ausgesetzt wurden, wonach die Proben während der erwähnten Anzahl Minuten
in eine 6n NaOH-Lösung getaucht, gespült und getrocknet
wurden. In der Tabelle wird wieder der,Logarithmus des
erhaltenen Oberflächenwiderstandes (logtf) angegeben,
wobei 2t in n/Quadrat ausgedrückt unr? bei Zimmertemperatur
und im Vakuum gemessen wird.
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— O -
Probe Nr. |
Zusammensetzung in Mol $ | SiO2 | Al2O3 | MnO | Na2O | K2O | Li2O | As2O3 |
9 10 11 12 13 |
73,1 71,1 75,1 73,1 71,1 |
1,1 1,1 1,1 1,1 1,1 |
12,8 10,8 12,8 14,8 |
5,9 5,9 5,9 5,9 5,9 |
6,9 6,9 6,9 |
On On
III VO vo |
0,2 0,2 0,2 0,2 0,2 |
log IC (HC in ohm) | mit Aetzung |
6 h Oxydation | mit Aetzung |
Oxyd. Temp, I ® f ι V / |
Aetz- zeit (Min.) |
3 h Oxydation | 15,8 15,4 12,1 11,1 |
ohne Aetzung |
15,9 15,5 15,1 12,1 11 ,0 |
350 300 350 4oo |
30 15 60 30 15 |
ohne Aetzung |
16,0 16,0 15,4 13,0 12,4 |
||||
16,1 15,8 13,0 12,6 |
Von den Proben wurde etwa 500 A* abgeätzt.
2 0 9 8 B 1 / 1 0 A 9
Claims (1)
- " 222531BPATENTANSPRÜCHE:1» Verfahren zur Einstellung des Wertes der elektrischen Leitfähigkeit eines Glases durch eine eine Elektronenübertragung bewirkende Behandlung bei erhöhter Temperatur, dadurch gekennzeichnet, dass im Anschluss an diese Behandlung das Glas solange mit einer alkalischen wässrigen Lösung oder mit einer fluorwasserstoffhaltigen Lösung in Berührung gehalten wird, bis eine Schicht von 200 bis 10,000 A* von der Glasoberfläche abgeätzt ist.2, Glasgegenstand, insbesondere ein Glaskörper für eine Sekundäreraissionselektrpde, der gemäss dem Verfahren nach: Anspruch 1 behandelt ist.
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DE3039749C2 (de) * | 1980-10-22 | 1982-08-19 | Heraeus Quarzschmelze Gmbh, 6450 Hanau | Verfahren zur Herstellung von blasenfreiem, glasigem Werkstoff |
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