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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum. Trocknen eines
Substrats, wie beispielsweise eines Halbleiterwafers oder eines
Flüssigkristall-Anzeigeglasses,
nachdem das Substrat gereinigt worden ist.
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28 gibt ein Beispiel eines
bekannten Trocknungsverfahrens wieder. Dieses bekannte Verfahren
wird als "direct
displacement isopropyl alcohol (IPA) drying process (Isopropylalkohol-(IPA)-Trocknungsverfahren
mit direkter bzw. gerader Verlagerung)" bezeichnet, das auch unter dem Namen "Marangoni drying
process (Marangoni-Trocknungsverfahren)" bekannt ist. Ein Spülbad 92 ist durch
einen Deckel 91 verschlossen und mit reinem Wasser 93 gefüllt. Nachdem
ein Halbleiterwafer W (nachstehend einfach als "Wafer" bezeichnet) durch eine Chemikalie gereinigt
worden ist, wird er für
einen Spülvorgang
in das reine Wasser 93 eingetaucht. Eine Gasmischung aus
Isopropylalkohldampf und Stickstoff wird anschließend über die
Gaseinlaß-
und die Gasauslaßöffnung 95a, 95b dem
oberen Innenraum des Spülbades 92 zugeführt, um
diesen mit der Mischung zu füllen.
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Danach
wird ein Halter 94, auf dem der Wafer W angeordnet ist,
in Richtung des oberen Innenraums des Spülbades 92 angehoben,
wie es in 28 durch den unterbrochenen
Linienzug dargestellt ist. Wenn der Wafer W auf seinem Weg nach oben
den Pegel bzw. Spiegel des reinen Wassers passiert hat, gelangt
der Isopropylalkohol an die Oberfläche des Wafers W. Eine Änderung
in der Oberflächenspannung
des Wassers infolge des Konzentrationsgefälles des Isopropylalkohols
läßt eine an
der Oberfläche
des Wafers anhaftende Wasserschicht in das reine Wasser zurückfließen. Dies
ermöglicht,
daß die
Oberfläche
des Wafers schnell trocknet. Bei diesem Beispiel wird der Halter 94 innerhalb
des Spülbades 92 angehoben.
Alternativ kann das reine Wasser 93 aus dem Spülbad 92 abgezogen
werden, wobei der Halter 94 nicht bewegt wird.
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29 zeigt ein weiteres Beispiel
eines bekannten Trocknungsvorganges. Bei diesem Beispiel ist der
Halter 94 unbeweglich angeordnet. Eine Gasmischung aus
Isopropylalkohldampf und Stickstoff wird über die Gaseinlaß- und die
Gasauslaßöffnung 95a, 95b dem
oberen Innenraum des Spülbades 92 zugeführt. Der
Gasdruck veranlaßt
das reine Wasser 93, über
ein Ablaßventil 96 aus
dem Spülbad 92 auszutreten.
Nachdem das reine Wasser 93 abgeflossen ist, wird erhitzter
Stickstoff über
eine zweite Gaseinlaß-
und eine zweite Gasauslaßöffnungen 97a, 97b zugeführt, um
die Oberfläche
des Wafers thermisch zu trocknen. Bei diesem Beispiel wird das reine
Wasser 93 abgezogen. Der Halter 94 kann alternativ
aber auch angehoben werden.
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30 gibt ein weiteres Beispiel
eines bekannten Trocknungsverfahrens wieder. Dieses Trocknungsverfahren
wird als "hot water
drying process (Heißwasser-Trocknungsverfahren)" bezeichnet. Das
reine Wasser 93 innerhalb des Spülbades 92 wird auf
eine vorbestimmte Temperatur erhitzt. Der Wafer W wird in das vorhandene
heiße
Wasser eingetaucht, nachdem er mittels einer Chemikalie gereinigt
worden ist. Nachdem der Wafer gespült worden ist, wird der Halter 94,
auf dem der Wafer W angeordnet ist, auf eine Position angehoben,
die in 30 durch den
unterbrochenen Linienzug dargestellt ist. Der Wafer wird anschließend durch
Luft oder heiße
Luft getrocknet. Bei diesem Beispiel wird der Halter angehoben.
Das reine Wasser 93 kann aber alternativ aus dem Spülbad 92 abgezogen
werden, während
der Halter 94 ortsfest angeordnet ist.
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Alle
bekannten Trocknungsverfahren weisen gemeinsam die folgenden Probleme
auf. Wie in 31A gezeigt
ist, besitzt der Halter 94 ein Paar Haltearme 94a.
Mehrere Y-förmige
Waferhaltenuten 94b sind in den oberen Enden der Haltearme 94a ausgebildet.
Ein Wafer W wird in die Nuten 94b eingesetzt, wodurch der
Wafer W in einer vertikalen Ausrichtung gehalten wird. Wie dies
in einem größeren Maßstab in 32 gezeigt ist, befindet
sich ein Wafer W gleichmäßig in Kontakt
mit einem Abschnitt einer Waferhaltenut 94b.
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Wie
in 32 weiterhin gezeigt
ist, verbleiben Wassertröpfchen 98 zwischen
dem Wafer W und der Nut 94b, wenn der Wafer W aus dem reinen
Wasser herausbewegt oder das reine Wasser aus dem Spülbad abgezogen
wird.
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In
einem solchen Fall ist eine bestimmte Zeitdauer erforderlich, um
die Wassertröpfchen 98 zu trocknen.
Dies führt
zu einer Erhöhung
der Zeit, die erforderlich ist, um den Trocknungsvorgang zu vervollständigen,
und führt
zu einer Verringerung des Ausstoßes der Vorrichtung. Darüber hinaus
verbleiben Wasserflecken bzw. Wasserzeichen infolge von Fremdkörpern, die
in einem Wassertröpfchen
enthalten sind, auf der Oberfläche
des Wafers zurück,
während
das Wassertröpfchen 98 getrocknet
wird. Derartige Wasserflecken können
zu einer Fehlfunktion des Wafers führen.
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Aus
der JP 02-046727 A, die den nächstkommenden
Stand der Technik bildet, von dem die vorliegende Erfindung ausgeht,
geht ein Verfahren zum Halten eines Wafers hervor, um den Wafer
aus Reinwasser herauszuziehen und ihn zu trocknen. Hierbei ist eine
Halteranhebeeinrichtung bzw. eine Halterbewegungseinrichtung zum
Trocknen eines Substrats oberhalb eines Spülbades angeordnet. Das Substrat
wird ebenfalls oberhalb des Spülbades zum
Eintauchen in das Spülbad
herangefördert.
Dies macht es notwendig, dass die Halterbewegungseinrichtung bei
diesem bekannten Verfahren zur Seite oder aber weiter nach oben
verfahren werden muss, um ausreichend Raum für das Heranfördern des
zu reinigenden Substrats bzw. Wafers zu erzielen. Hierzu bedarf
es über
oder neben des Spülbades
eines zusätzlichen
Raumes, was die Investitionskosten für die Fertigungsstätte erhöht.
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Weiterhin
geht aus der JP 08-141526 A eine Vorrichtung zum Behandeln eines
Substrats und ein Behandlungstank hierzu hervor. Eine Halteranhebeeinrichtung
ist in dieser Entgegenhaltung nicht beschrieben.
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Schließlich geht
aus der deutschen Patentschrift 196 37 875 eine Anlage zur Nassbehandlung von
Substraten in einem ein Behandlungsfluid enthaltenden Behälter hervor,
wobei der Behälter
eine Aufnahmevorrichtung für
die Substrate aufweist. Es ist vorgesehen, dass die Substrate zusammen
mit einem Substratträger
in dem Behälter
einsetzbar sind, und die Aufnahmevorrichtung für die Substrate und der im
Behälter
eingesetzte Substratträger
in vertikaler Richtung relativ zueinander bewegbar sind.
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Es
ist demzufolge Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung
zum Trocknen eines Substrats, wie beispielsweise eines Halbleiterwafers, eines
Flüssigkristall-Anzeigeglasses
und dgl. zu schaffen, die das Zurückbleiben von Wassertröpfchen zwischen
dem Substrat und einem Halter, auf dem das Substrat beim Spülen durch
reines Wasser oder eine ähnliche
Spülflüssigkeit
gehalten wird, vermeiden.
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Gemäß einem
Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Vorrichtung zum Trocknen
eines Substrats durch Verlagern des Substrates relativ zu einer
Spülflüssigkeit
vorgeschlagen, nachdem das Substrat in einem Spülbad gespült worden ist, in dem die Spülflüssigkeit
enthalten ist. Die Vorrichtung enthält einen ersten Halter, der
in dem Spülbad
angeordnet ist, um das Substrat in einer im wesentlichen vertikalen
Ausrichtung zu halten, und der zumindest eine Substrathaltenut aufweist,
mit der das Substrat in Eingriff gebracht werden kann, einen zweiten
Halter, der in dem Spülbad
oberhalb des ersten Halters so angeordnet ist, daß er das
Substrat in einer im wesentlichen vertikalen Ausrichtung hält, wobei
der zweite Halter zumindest eine Substrathaltenut aufweist, mit
der das Substrat in Eingriff bringbar ist, und eine Halteranhebeeinrichtung,
die vorgesehen ist, den ersten und den zweiten Halter im wesentlichen vertikal
zu bewegen. Die Halteranhebeeinrichtung kann dazu verwendet werden,
den ersten Halter und den zweiten Halter im wesentlichen vertikal
so zu bewegen, daß das
Substrat nur durch den zweiten Halter gehalten wird, wenn ein Spülflüssigkeitspegel beim
Absenken bzw. auf seinem Weg nach unten an der Substrathaltenut
des ersten Halters vorbeigeht, und daß das Substrat nur durch den
ersten Halter gehalten wird, wenn der Spülflüssigkeitspegel beim Absenken
die Substrathaltenut des zweiten Halters passiert hat.
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Weiterhin
ist vorgesehen, dass die zumindest eine Substrathaltenut des zweiten
Halters unterhalb der zumindest einen Substrathaltenut des ersten
Halters anordbar ist, während
sich die zumindest eine Substrathaltenut des zweiten Halters in
Eingriff mit dem Substrat befindet, dass die Bewegung des ersten
Halters und des zweiten Halters eine vertikale Bewegung ist, dass
die Halteranhebeeinrichtung in der Nähe eines Bodens des Spülbades angeordnet ist,
wobei die Halteranhebeeinrichtung ein Gehäuse zum Bilden eines abgedichteten
Raumes darin aufweist, dass die Halteranhebeeinrichtung innerhalb des
abgedichteten Raumes einen ersten Exzenternocken, einen zweiten
Exzenternoken, einen dritten Exzenternocken, eine erste Führungsplatte,
eine zweite Führungsplatte
und eine dritte Führungsplatte aufweist,
wobei der zweite Exzenternocken und der dritte Exzenternocken beidseits
des ersten Exzenternokens angeordnet sind und wobei die erste, die zweite
und die dritte Führungsplatte
mit jeweils dem ersten, dem zweiten und dem dritten Exzenternocken verbunden
ist und vertikal bewegt wird, wenn der erste, der zweite und der
dritte Exzenternocken gedreht wird, dass die Halteranhebeeinrichtung
weiterhin ein Betätigungsmittel
zum Drehen des ersten, des zweiten und des dritten Exzenternockens
aufweist, dass der erste Halter aus zwei Halteelementen gebildet
ist, zwischen denen der zweite Halter angeordnet ist, wobei das
eine Halteelement mit der zweiten Führungsplatte verbunden ist
und das andere Halteelement mit der dritten Führungsplatte verbunden ist,
und dass der zweite Halter mit der ersten Führungsplatte verbunden ist.
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Darüber hinaus
ist die Halteranhebeeinrichtung in der Nähe eines Bodens des Spülbades angeordnet.
Die Halteranhebeeinrichtung weist ein Gehäuse auf, in dem ein abgedichteter
Raum gebildet ist. Die Halteranhebeeinrichtung besitzt darüber hinaus
innerhalb des abgedichteten Raumes einen ersten Exzenternocken,
einen zweiten Exzenternocken, einen dritten Exzenternocken, eine
erste Führungsplatte,
eine zweite Führungsplatte
und eine dritte Führungsplatte.
Der zweite und der dritte Exzenternocken sind an gegenüberliegenden
Seiten des ersten Exzenternockens angeordnet. Die erste, die zweite
und die dritte Führungsplatte
ist jeweils mit dem ersten, dem zweiten und dem dritten Exzenternocken
verbunden und wird jeweils vertikal bewegt, wenn der erste, der
zweite und der dritte Exzenternocken in Rotation versetzt wird.
Die Halteranhebeeinrichtung weist außerdem ein Betätigungsmittel
zum Drehen des ersten, des zweiten und des dritten Exzenternockens
auf. Der erste Halter ist aus zwei Halteelementen gebildet, zwischen
denen der zweite Halter in einer Zwischenposition angeordnet ist.
Eines der Halteelemente ist mit der zweiten Führungsplatte verbunden, wogegen
das andere Halteelement mit der dritten Führungsplatte verbunden ist. Der
zweite Halter ist mit der ersten Führungsplatte verbunden.
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Gemäß der Vorrichtung
der vorliegenden Erfindung befindet sich das Substrat nicht in Kontakt
mit demjenigen Halter, an dessen Substrathaltenut der Spülflüssigkeitspegel
vorbeigeht. Diese Anordnung verhindert, daß Wassertröpfchen zwischen dem Halter
sowie dem Substrat verbleiben und führt zu einer Verringerung der
Zeit, die zum Trocknen eines Substrats notwendig ist. Darüber hinaus
verbleiben keine Wasserflecken auf der Oberfläche des Substrats, wodurch
eine Verschlechterung in der Zuverlässigkeit des Substrates vermieden
wird.
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Das
Gehäuse
kann ein Paar aus einer oberen und einer unteren, flexiblen Bahn
aufweisen, durch die der zweite Halter und die Halteelemente abgedichtet
an der ersten Führungsplatte
und an der zweiten bzw. an der dritten Führungsplatte montiert sind.
Durch eine derartige Anordnung wird die Halteranhebeeinrichtung
außerhalb
eines direkten Kontakts mit der Spülflüssigkeit gehalten. Unter diesen Umständen erfolgt
keine Verunreinigung der Spülflüssigkeit
durch die Halteranhebeeinrichtung bzw. gelangen keine Fremdkörper in
die Spülflüssigkeit durch
die Halteranhebeeinrichtung. Das Substrat kann mit einem hohen Maß an Reinheit
getrocknet werden.
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Gemäß einem
weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Vorrichtung
zum Trocknen eines Substrats durch Verlagern des Substrates relativ
zu einer Spülflüssigkeit
vorgeschlagen, nachdem das Substrat in einem Spülbad gespült worden ist, in dem die Spülflüssigkeit
enthalten ist. Die Vorrichtung enthält einen ersten Halter, der
in dem Spülbad
angeordnet ist, um das Substrat in einer im wesentlichen vertikalen
Ausrichtung zu halten, und der zumindest eine Substrathaltenut aufweist,
mit der das Substrat in Eingriff gebracht werden kann, einen zweiten
Halter, der in dem Spülbad
oberhalb des ersten Halters so angeordnet ist, daß er das
Substrat in einer im wesentlichen vertikalen Ausrichtung hält, wobei
der zweite Halter zumindest eine Substrathaltenut aufweist, mit
der das Substrat in Eingriff bringbar ist, und eine Halteranhebeeinrichtung,
die vorgesehen ist, den ersten und den zweiten Halter im wesentlichen
vertikal zu bewegen. Die Halteranhebeeinrichtung kann dazu verwendet
werden, den ersten Halter und den zweiten Halter im wesentlichen
vertikal so zu bewegen, daß das
Substrat nur durch den zweiten Halter gehalten wird, wenn ein Spülflüssigkeitspegel
beim Absenken bzw. auf seinem Weg nach unten an der Substrathaltenut
des ersten Halters vorbeigeht, und daß das Substrat nur durch den ersten
Halter gehalten wird, wenn der Spülflüssigkeitspegel beim Absenken
die Substrathaltenut des zweiten Halters passiert hat.
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Weiterhin
ist vorgesehen, dass die zumindest eine Substrathaltenut des zweiten
Halters unterhalb der zumindest einen Substrathaltenut des ersten
Halters anordbar ist, während
sich die zumindest eine Substrathaltenut des zweiten Halters in
Eingriff mit dem Substrat befindet, dass die Bewegung des ersten
Halters und des zweiten Halters eine vertikale Bewegung ist, dass
die Halteranhebeeinrichtung ein Paar abgedichteter Gehäuse aufweist,
die mit einer vorbestimmten Distanz beabstandet voneinander und
in der Nähe
eines Bodens des Spülbades
angeordnet sind, dass die Halteranhebeeinrichtung ein Paar erster
Exzenternocken, ein Paar zweiter Exzenternocken, ein Paar dritter
Exzenternocken, ein Paar erster Führungsplatten, ein Paar zweiter
Führungsplatten
und ein Paar dritter Führungsplatten
aufweist, wobei die Paare der ersten, der zweiten und der dritten
Exzenternocken und die Paare der ersten, der zweiten und der dritten
Führungsplatten
jeweils innerhalb der beiden abgedichteten Gehäuse angeordnet sind, wobei
die Paare der zweiten und der dritten Exzenternocken beidseits des
Paares der ersten Exzenternocken angeordnet sind und wobei die Paare der
ersten, der zweiten und der dritten Führungsplatten mit den Paaren
der ersten, der zweiten und der dritten Exzenternocken verbunden
sind und vertikal bewegt werden, wenn die Paare der ersten, der
zweiten und der dritten Exzenternocken gedreht werden, dass die
Halteranhebeeinrichtung ein erstes Rohr, das sich zwischen dem Paar
aus den abgedichteten Gehäusen
wasserdicht erstreckt, eine erste Drehbetätigungseinrichtung, die innerhalb
des ersten Rohres aufgenommen ist und die mit dem Paar aus den ersten
Exzenternocken verbunden ist, ein zweites Rohr, das sich zwischen
dem Paar aus den abgedichteten Gehäusen wasserdicht erstreckt,
und eine zweite Drehbetätigungseinrichtung
aufweist, die innerhalb des zweiten Rohres aufgenommen ist und die
mit dem Paar aus den zweiten Exzenternocken verbunden ist, dass
die Halteranhebeeinrichtung weiterhin ein drittes Rohr, das sich
zwischen dem Paar aus den abgedichteten Gehäusen wasserdicht erstreckt,
und eine Antriebswelle aufweist, die sich in dem dritten Rohr erstreckt,
wobei das Paar aus den dritten Exzenternocken mit der Antriebswelle
verbunden ist und wobei das eine Ende der Antriebswelle mit der
zweiten Drehbetätigungseinrichtung
verbunden ist, wodurch die Antriebswelle gleichzeitig mit der zweiten
Drehbetätigungseinrichtung
in Drehung versetzt wird, dass der erste Halter aus zwei Halteelementen
gebildet ist, zwischen denen der zweite Halter angeordnet ist, wobei
ein Halteelement sich zwischen dem Paar aus den zweiten Führungsplatten und
das andere Halteelement sich zwischen dem Paar aus den dritten Führungsplatten
erstreckt, und dass sich der zweite Halter zwischen dem Paar aus den
dritten Führungsplatten
erstreckt.
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Bei
einem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind
der erste und der zweite.
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Halter
synchron in entgegengesetzte Richtungen vertikal bewegbar. Wenn
einer der Halter, der erste oder der zweite Halter, angehoben wird,
wird der andere Halter abgesenkt. Diese Anordnung verhindert eine Änderung
in dem Volumen der Spülflüssigkeit,
die bei einer vertikalen Bewegung der flexiblen Bahnen auftreten
kann, und verhindert ebenfalls eine Änderung in dem Pegel der Spülflüssigkeit,
die auftreten kann, wenn der erste und der zweite Halter vertikal
in entgegengesetzte Richtungen bewegt werden. Das Substrat kann
auf diese Weise mit einem hohen Reinheitsgrad getrocknet werden,
da der Wasserspiegel des Spülwassers
auf keinen Fall bewegt oder Wasser verspritzt wird.
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Bei
einem bevorzugten Ausführungsbeispiel besitzt
die Halteranhebeeinrichtung ein Paar abgedichteter Gehäuse, die
in einem vorbestimmten Abstand zueinander angeordnet und in der
Nähe eines Bodens
des Spülbades
(1) vorgesehen sind. Die Halteranhebeeinrichtung besitzt
darüber
hinaus ein Paar erster Exzenternocken, ein Paar zweiter Exzenternocken,
ein Paar dritter Exzenternocken, ein Paar erster Führungsplatten,
ein Paar zweiter Führungsplatten
und ein Paar dritter Führungsplatten.
Die Paare aus den ersten, den zweiten und den dritten Exzenternocken
sowie die Paare aus den ersten, den zweiten und den dritten Führungsplatten
sind jeweils innerhalb des Paares abgedichteter Gehäuse angeordnet.
Die Paare aus den zweiten und den dritten Exzenternocken sind an
gegenüberliegenden
Seiten des Paares aus den ersten Exzenternocken vorgesehen. Die
Paare aus den ersten, den zweiten und den dritten Führungsplatten
sind jeweils mit den Paaren aus den ersten, den zweiten und den
dritten Exzenternocken verbunden und werden vertikal bewegt, wenn
die Paare aus den ersten, den zweiten und den dritten Exzenternocken
in Drehung versetzt werden. Die Halteranhebeeinrichtung besitzt
ein erstes Rohr, das sich zwischen dem Paar abgedichteter Gehäuse wasserdicht
erstreckt, eine erste Drehbetätigungseinrichtung,
die innerhalb des ersten Rohres angeordnet ist und die mit dem Paar
aus den ersten Exzenternocken verbunden ist, ein zweites Rohr, das sich
zwischen dem Paar abgedichteter Gehäuse wasserdicht erstreckt,
und eine zweite Drehbetätigungseinrichtung,
die innerhalb des zweiten Rohres angeordnet ist und die mit dem
Paar aus den zweiten Exzenternocken verbunden ist. Die Halteranhebeeinrichtung
weist darüber
hinaus ein drittes Rohr, das sich zwischen dem Paar abgedichteter
Gehäuse wasserdicht
erstreckt, und eine Antriebswelle auf, die sich durch das dritte
Rohr erstreckt. Das Paar aus den dritten Exzenternocken ist mit
der Antriebswelle verbunden. Die Antriebswelle besitzt ein Ende,
das mit der zweiten Drehbetätigungseinrichtung
verbunden ist, wodurch die Antriebswelle synchron mit der zweiten
Drehbetätigungseinrichtung
in Drehung versetzt wird. Der erste Halter ist aus zwei Halteelementen
gebildet, zwischen denen der zweite Halter angeordnet ist. Eines
der beiden Halteelemente erstreckt sich zwischen dem Paar aus den
zweiten Führungsplatten,
wogegen sich das andere Halteelement zwischen dem Paar aus den dritten
bzw. ersten Führungsplatten
erstreckt. Der zweiter Halter erstreckt sich zwischen dem Paar aus
dritten bzw. ersten Führungsplatten.
Durch diese Anordnung bestehen zwischen dem Boden des Spülbades und
dem Substrat keine Hindernisse, die die Strömung der Spülflüssigkeit behindern können. Auf
diese Weise kann das Substrat wirksamer getrocknet werden.
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Bei
einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist
der zweite Halter mit einer zentralen Öffnung versehen, die sich vertikal
durch ihn hindurch erstreckt. Die Halteranhebeeinrichtung besitzt
ein Schwimmerteil, welches auf der Spülflüssigkeit schwimmt und welches
ein dreiecksförmiges
oberes Ende aufweist, das in die zentrale Öffnung einführbar ist und das in der Lage
ist, infolge eines Aufschwimmens in Kontakt mit einem unteren Ende
des Substrates zu gelangen. Die Spülflüssigkeit kann an dem unteren
Ende des Substrates verbleiben, wenn sich der Pegel der Spülflüssigkeit
von dem unteren Ende des Substrates weg weiter nach unten bewegt.
Jedoch veranlaßt
diese Anordnung die Spülflüssigkeit
entlang des mit Kanten versehenen oberen Endes des Schwimmerteils
zu fließen
und anschließend
wieder in die Spülflüssigkeit
zu gelangen. Auf diese Weise verbleiben keine Wassertröpfchen an
dem unteren Ende des Substrates, wodurch die Oberfläche des
Substrates und die Nuten in einer deutlich kürzeren Zeit getrocknet werden.
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Die
Prinzipien der vorliegenden Erfindung werden nun nachstehend unter
Bezugnahme auf die 1A bis 1E erläutert.
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Wie
dies aus den genannten Figuren hervorgeht, sind die Wafer W in diesem
Fall ortsfest angeordnet, wogegen das reine Wasser 26 aus
einem Spülbad 1 abgezogen
wird. Um die vorliegende Erfindung auszuführen, sind zum Halten der Wafer
W erste und zweite Halter 2, 3 erforderlich. Der
erste Halter 2 ist unterhalb des zweiten Halters 3 angeordnet.
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Nachdem
die Wafer durch eine geeignete Chemikalie gereinigt worden sind,
werden die Wafer W in vertikaler Ausrichtung auf dem ersten und
dem zweiten Halter 2, 3 innerhalb des Spülbades 1 plaziert,
wie es in 1A gezeigt
ist.
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Zu
Beginn des Verfahrens können
die Wafer W durch beide Halter 2, 3, dem ersten und
dem zweiten Halter 2, 3, oder durch einen der
beiden Halter 2, 3, dem ersten oder dem zweiten
Halter 2, 3, gehalten werden. Es ist jedoch bevorzugt,
daß die
Wafer nur durch den zweiten Halter 3 gehalten werden. Diese Anordnung
erleichtert die Bewegung der Halter in den nachfolgenden Schritten.
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Nachdem
die Wafer von dem zweiten Halter 3 aufgenommen worden sind,
wird reines Wasser oder eine ähnliche
Spülflüssigkeit 26 in
das Spülbad 1 eingefüllt, wie
es in 1B gezeigt ist,
so daß das Wasser
oder die Flüssigkeit
die Chemikalie und dgl. von den Oberflächen der Wafer W entfernen
oder abspülen
kann. Nachdem die Wafer gespült
worden sind, werden die Wafer W durch Verwendung des IPA-Trocknungsverfahrens
mit direkter bzw. gerader Verlagerung oder durch das Heißwasser-Trocknungsverfahren
getrocknet, wie dies vorstehend erläutert worden ist, wenn das
reine Wasser 26 aus dem Spülbad 1 abgezogen worden
ist.
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Wenn
dabei, wie es in 1C gezeigt
ist, der Pegel des reinen Wassers 26 das obere Ende des ersten
Halters 2 oder dessen Waferhaltenuten erreicht, was mit
L1 gekennzeichnet ist, wird der erste Halter 2 um
eine vorbestimmte Strecke abgesenkt. Der zweite Halter 3 wird
so gesteuert, daß er
die Wafer W nur noch alleine hält,
wodurch die Wafer außer Kontakt
mit dem ersten Halter 2 gelangen. Der zweite Halter 3 besitzt
eine Höhe,
die kleiner ist als die des ersten Halters 2, und ist innerhalb
des ersten Halters 2 angeordnet.
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An
den Wafern W, die sich nicht in Kontakt mit dem ersten Halter 2 befinden,
verbleiben keine Wassertröpfchen
zwischen den Wafern W und dem ersten Halter 2, wenn der
Pegel des reinen Wassers 26 weiter abgesenkt wird. Auf
diese Weise können die
Wafer W und die Nuten des ersten Halters 2 in einer sehr
kurzen Zeitperiode sauber getrocknet bzw. ausgetrocknet werden.
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Wenn
anschließend,
wie es in 1D gezeigt
ist, der Pegel des reinen Wassers bis auf das obere Ende des zweiten
Halters 3 oder dessen Waferhaltenuten abgesenkt wird, wie
es mit L2 gekennzeichnet ist, wird der erste
Halter 2 angehoben, um die Wafer W zu halten. Gleichzeitig
wird der zweite Halter 3 um eine vorbestimmte Strecke abgesenkt, so
daß die
Wafer W nur durch den ersten Halter 2 gehalten werden.
Die Wafer W befinden sich nicht in Kontakt mit dem zweiten Halter 3 und
werden nur durch den ersten Halter 2 gehalten.
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Bei
den sich nicht in Kontakt mit dem zweiten Halter 3 befindlichen
Wafern W verbleiben keine Wassertröpfchen zwischen den Wafern
W und dem zweiten Halter 3, wenn der Pegel des reinen Wassers 26 weiter
abgesenkt wird. Auf diese Weise können die Wafer W und die Nuten
des zweiten Halters 3 in einer sehr kurzen Zeitperiode
sauber ausgetrocknet bzw. getrocknet werden.
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Es
wird nun auf 1E Bezug
genommen. Der Trocknungsvorgang ist abgeschlossen, wenn der Pegel
des reinen Wassers 26 die unteren Enden der Wafer W erreicht,
wie es mit L3 gekennzeichnet ist, oder wenn
das reine Wasser 26 vollständig aus dem Spülbad 1 abgezogen
worden ist. Danach werden die Wafer W für einen nachfolgenden Schritt
mittels einer Transporteinrichtung (nicht gezeigt) transportiert.
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Weitere
vorteilhafte Ausgestaltungen sowie Ausführungsbeispiele werden nachstehend
unter Bezugnahme auf die beigefügten
Zeichnungsfiguren erläutert.
Hierbei ist:
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1A–1E die
Wiedergabe des Prinzips eines mit der erfindungsgemäßen vorrichtung
durchgeführten
Verfahrens;
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2 eine schematische Vertikalschnittansicht
einer Trocknungsvorrichtung gemäß einem
ersten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
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3 eine schematische Draufsicht
auf die in 2 gezeigte
Trocknungsvorrichtung;
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4 eine Schnittansicht entlang
der Linie 4-4 in 2;
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5 eine Schnittansicht entlang
der Linie 5-5 in 2;
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6 eine Vorderansicht eines
ersten Halters;
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7 eine Draufsicht auf den
in 6 gezeigten ersten
Halter;
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8 eine Seitenansicht des
in 6 gezeigten ersten
Halters;
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9 eine vergrößerte Ansicht
auf mehrere Waferhaltenuten des ersten Halters;
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10 eine Ansicht von vorn
auf einen zweiten Halter;
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11 eine Draufsicht auf den
in 10 gezeigten zweiten
Halter;
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12 eine Seitenansicht des
in 10 gezeigten zweiten
Halters;
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13A, 13B eine Wiedergabe der Vorgehensweise,
in der ein Wafer von den Nuten des ersten Halters getrennt wird;
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14 eine schematische Schnittansicht
einer Trocknungsvorrichtung gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
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15 eine schematische Draufsicht
auf die in 14 gezeigte
Trocknungsvorrichtung;
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16 eine Schnittansicht entlang
der Linie 16-16 in 15;
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17 eine schematische Schnittansicht
einer Trocknungsvorrichtung gemäß einem
dritten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
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18 eine schematische Draufsicht
auf die in 17 gezeigte
Trocknungsvorrichtung;
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19 eine Schnittansicht entlang
der Linie 19-19 in 17;
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20 eine Schnittansicht entlang
der Linie 20-20 in 19;
-
21 eine Schnittansicht entlang
der Linie 21-21 in 19;
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22 eine perspektivische
Ansicht, die die Vorgehensweise wiedergibt, in der eine Verbindungseinrichtung
angeschlossen ist;
-
23A, 23B Seiten- sowie Draufsichten auf einen
zweiten Halter;
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24 eine perspektivische
Ansicht eines Schwimmerteils;
-
25 eine Wiedergabe der Arbeitsweise des
Schwimmerteils;
-
26 eine Wiedergabe der Arbeitsweise einer
Führungsplatte,
die in 17 mittig angeordnet ist;
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27A eine Wiedergabe der
Arbeitsweise einer Führungsplatte,
die an der rechten Seite in 17 angeordnet
ist;
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27B eine Wiedergabe der
Arbeitsweise einer Führungsplatte,
die an der linken Seite in 17 angeordnet
ist;
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28 eine Wiedergabe eines
Beispiels für ein
bekanntes Trocknungsverfahren;
-
29 eine Wiedergabe eines
weiteren Beispiels für
ein bekanntes Trocknungsverfahren;
-
30 eine Wiedergabe eines
weiteren Beispiels für
ein bekanntes Trocknungsverfahren;
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31A eine Vorderansicht eines
Halters, der im Stand der Technik verwendet wird;
-
31B eine Schnittansicht
entlang der Linie 31B-31B in 31A;
und
-
32 eine Wiedergabe der Art
und Weise, wie ein Wafer in Eingriff mit Waferhaltenuten des Halters
gehalten wird.
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Die
vorliegende Erfindung wird nun nachstehend im Wege von Beispielen
unter Bezugnahme auf die beigefügten
Zeichnungsfiguren erläutert.
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Die 2 bis 13 geben eine Trocknungsvorrichtung gemäß einem
ersten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung wieder.
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Im
Wege eines Beispiels ist die vorliegende Erfindung bei einer Trocknungsvor richtung
eingesetzt, bei der reines Wasser oder eine Spülflüssigkeit aus einem Reinigungsbad
abgezogen wird, wobei zwei Halter zum Halten des Substrates weitestgehend
an Ort und Stelle verbleiben.
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Es
wird nun speziell auf die 2 und 3 Bezug genommen. Reines
Wasser ist in einem Spülbad 1 vorhanden.
Eine Halteranhebeeinrichtung 4 ist in der Nähe des Bodens
des Spülbades 1 angeordnet, um
ein Paar aus ersten Haltern 2a, 2b sowie einen zweiten
Halter 3 wahlweise nach oben und unten zu bewegen. Zwei
Betätigungsbehälter bzw.
Betätigungsgehäuse 7a, 7b sind
an den gegenüberliegenden
Seiten der Halteranhebeeinrichtung 4 vorgesehen. Jeweils
eine pneumatisch angetriebene Betätigungseinrichtung 6a, 6b ist
innerhalb des entsprechenden Betätigungsgehäuses 7a, 7b aufgenommen und
ist in der Lage, die Halteranhebeeinrichtung 4 anzutreiben.
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Obwohl
dies nicht speziell gezeigt ist, besitzen die Betätigungsgehäuse 7a, 7b jeweils
einen Lufteinlaß zum
Zuführen
von Druckluft zu den Betätigungseinrichtungen 6a, 6b,
einen Luftauslaß und eine
Entlüftung,
durch die der Innenraum sowohl der Halteranhebeeinrichtung 4 als
auch die Betätigungsgehäuse 7a, 7b mit
der Umgebungsatmosphäre
in Kontakt stehen.
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Die
erste Betätigungseinrichtung 6a besitzt eine
Antriebswelle 8a, welche über eine Kupplung 9a mit
einer ersten im wesentlichen horizontal verlaufenden Antriebswelle 10a der
Halteranhebeeinrichtung 4 verbunden ist. Zwei Exzenternocken 11a, 11b sind
an der ersten Antriebswelle 10a unmittelbar unter den entsprechenden
ersten Haltern 2a, 2b fest bzw. drehfest montiert,
um die ersten Halter 2a, 2b jeweils nach oben
und unten zu bewegen.
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In ähnlicher
Weise besitzt die zweite Betätigungseinrichtung 6b eine
Antriebswelle 8b, welche über eine Kupplung 9b mit
einer zweiten im wesentlichen horizontal verlaufenden Antriebswelle 10b der Halteranhebeeinrichtung 4 verbunden
ist. Ein Exzenternocken 11c ist fest bzw. drehfest an der
zweiten Antriebswelle 10b unmittelbar unter dem zweiten Halter 3 montiert,
um den zweiten Halter 3 nach oben und unten zu bewegen.
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Die
erste Antriebswelle 10a und die zweite Antriebswelle 10b erstrecken
sich durch zwei Verstärkungsplatten 12a, 12b und
werden durch die beiden Verstärkungsplatten 12a, 12b gehalten.
Die beiden Verstärkungsplatten 12a, 12b dienen
daher sowohl als Lagerplatten als auch als Positionierplatten.
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Die
Halteranhebeeinrichtung 4 besitzt eine vordere Platte 13a,
eine hintere Platte 13b, eine rechte Seitenplatte 14a sowie
eine linke Seitenplatte 14b. Diese vier Platten werden
so zusammengebaut, daß sich
ein abgedichtetes Gehäuse
ergibt. Zwei flexible Bahnen 15a, 15b, die beispielsweise
aus Polytetraflouräthylen
hergestellt sein können,
sind über
Dichtungen (nicht gezeigt) an den oberen und unteren Seiten des
Gehäuses
dicht angeordnet. Zwei Linearschienen bzw. zwei gerade Schienen 16a, 16b sind an
der Innenseite der hinteren Platte 13b so angebracht, daß sie eine
Vertikalbewegung der entsprechenden ersten Halter 2a, 2b führen. In ähnlicher Weise
ist eine Linearschiene bzw. eine gerade Schiene 16c an
der Innenseite der hinteren Platte 13b angebracht, um eine
Vertikalbewegung des zweiten Halters 3 zu führen.
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Drei
Führungsplatten 17a bis 17c für eine vertikale
Verschiebbewegung sind gleitbar an den entsprechenden Linearschienen 16a bis 16c angeordnet.
Wie dies aus 4 entnehmbar
ist, ist das obere Ende jeder Führungsplatte 17a, 17b über die obere
flexible Bahn 15a abgedichtet an den ersten Haltern 2a, 2b angebracht.
Das untere Ende jeder Führungsplatte 17a, 17b ist über Halteplatten 18a, 18b an
der unteren flexiblen Bahn 15b abgedichtet angebracht.
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Die
Führungsplatten 17a, 17b besitzen
horizontal verlaufende, U-förmige
Ausnehmungen 19a, 19b, innerhalb denen die Exzenternocken 11a, 11b, die
auf der ersten Antriebswelle 10a fest angebracht sind,
jeweils drehbar aufgenommen sind.
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Mit
dieser Anordnung wird die erste Betätigungseinrichtung 6a gesteuert
so betrieben, daß die erste
Antriebswelle 10a zusammen mit den Exzenternocken 11a, 11b inkremental
bzw. schrittweise oder allmählich über 180 ° gedreht
wird. Dies veranlaßt
die Führungsplatten 17a, 17b um
eine Strecke entsprechend dem Betrag der Verschiebung der Exzenternocken 11a, 11b von
der Drehachse der Antriebswelle 10a aus vertikal bewegt
zu werden. Die ersten Halter 2a, 2b werden vertikal
mit den Führungsplatten 17a, 17b bewegt.
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Wie
in 5 gezeigt ist, ist
das obere Ende der Führungsplatte 17c über die
obere flexible Bahn 15a an dem zweiten Halter 3 abgedichtet
angebracht. Das untere Ende der Führungsplatte 17c ist über eine
Halteplatte 18c an der unteren flexiblen Bahn 15b abgedichtet
angebracht.
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Die
Führungsplatte 17c besitzt
eine horizontal verlaufende, U-förmige
Ausnehmung 19c, innerhalb der der Exzenternocken 11c,
welcher auf der zweiten Antriebswelle 10b befestigt ist,
drehbar aufgenommen ist.
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Mit
dieser Anordnung wird die zweite Betätigungseinrichtung 6b gesteuert
so betätigt,
daß die zweite
Antriebswelle 10b zusammen mit dem Exzenternocken 11c inkremental
bzw. schrittweise oder allmählich über 180° gedreht
wird. Dies veranlaßt
die Führungsplatte 17c vertikal
um eine Strecke entsprechend dem Betrag der Verschiebung des Exzenternockens 11c von
der Drehachse der zweiten Antriebswelle 10b aus vertikal
bewegt zu werden. Der zweite Halter 3 wird vertikal mit
der zweiten Führungsplatte 17c bewegt.
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Es
wird nun insbesondere auf die 6 bis 8 Bezug genommen. Die ersten
Halter 2a, 2b besitzen jeweils zwei Haltevorsprünge oder
Haltearme 20a, 20b. Die Länge der beiden Haltearme 20a, 20b und der
Abstand zwischen den beiden Haltearmen 20a, 20b wird
in Abhängigkeit
der Größe eines
Wafers W ausgewählt.
Eine vorbestimmte Zahl an Waferhaltenuten 21a, 21b sind
in den entsprechenden oberen Enden der Haltearme 20a, 20b ausgebildet,
um die Wafer W aufzunehmen. Das Bezugszeichen 22 kennzeichnet
ein Bolzenloch, durch das sich ein Bolzen so erstreckt, daß er die
ersten Halter 2a, 2b an den oberen Enden der Führungsplatten 17a, 17b festhält.
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Wie
dies in einem größeren Maßstab in 9 gezeigt ist, besitzen
die Nuten 21a, 21b jeweils eine Breite, die deutlich
größer ist
als die Dicke eines Wafers W. Die Nuten 21a, 21b weisen
jeweils abgeschrägte
Oberflächen
auf, die in entgegengesetzte Richtungen geneigt und leicht seitlich
verschoben sind, um einen Wafer W in seiner vertikalen Ausrichtung
zu halten, während
der Wafer W zwischen den Nuten 21a, 21b angeordnet
ist.
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Die
besondere Form der Nuten 21a, 21b ermöglicht eine
feste Halterung eines Wafers W. Wenn der Wafer W mit Abstand zu
den Nuten 21a, 21b angeordnet ist, bleibt ein
ausreichend großer
Raum zwischen dem Wafer W und den Nuten 21a, 21b übrig, wie
dies in den 13A, 13B gezeigt ist, wodurch
die Gefahr minimiert wird, daß Wassertröpfchen in
den Nuten 21a, 21b verbleiben.
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Wie
es in den 10 bis 12 gezeigt ist, weist der
zweite Halter 3 vier Haltearme 23a bis 23d auf. Mehrere
Waferhaltenuten 24a bis 24d sind in den jeweiligen
oberen Enden der Haltearme 23a bis 23d ausgebildet
und besitzen eine zu den Nuten 21a, 21b der ersten
Halter 2a, 2b entsprechende Form. Das Bezugszeichen 25 kennzeichnet
ein Bolzenloch, durch das sich ein Bolzen so erstreckt, daß er den zweiten
Halter 3 an dem oberen Ende der Führungsplatte 17c sicher
hält.
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Nachstehend
wird nunmehr das Trocknungsverfahren erläutert, welches mit der Trocknungsvorrichtung
ausgeführt
werden kann.
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Zu
Beginn des Verfahrens werden die Wafer W nur durch den zweiten Halter 3 gehalten.
Die ersten Halter 2a, 2b sind unterhalb der Wafer
W angeordnet.
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Die
Wafer W werden mittels einer Fördereinrichtung
und einer Klemmeinrichtung (nicht gezeigt) in das Spülbad 1 transportiert,
nachdem sie durch eine geeignete Chemikalie oder ein Waschmittel
gereinigt worden sind. Die Wafer werden vertikal innerhalb des Spülbades 1 auf
dem zweiten Halter 3 angeordnet. Das Spülbad 1 wird durch
einen oberen Deckel (nicht gezeigt) abgedeckt. Reines Wasser 26 wird
anschließend
von einer Quelle für
reines Wasser (nicht gezeigt) zugeführt, um die Oberflächen der Wafer
W zu spülen.
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Nachdem
die Wafer W gespült
worden sind, wird eine Mischung aus Isopropylalkohol und Stickstoff
aus einer Gasquelle (nicht gezeigt) in den oberen Innenraum des
Spülbades 1 eingebracht.
Ein Ablaßventil
(nicht gezeigt) wird anschließend
geöffnet, um
das reine Wasser aus dem Spülbad 1 abzuziehen.
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Das
reine Wasser kann mit der größtmöglichen
Geschwindigkeit solange abgezogen werden, bis der Pegel des Wassers
die oberen Ende der Wafer W erreicht. Nachdem der Wasserpegel die
oberen Enden der Wafer W erreicht hat, sollte das Ablaßventil
gesteuert betrieben werden, um das reine Wasser mit einer Geschwindigkeit
von beispielsweise 1,5 cm/s abzuziehen, die zum Erzielen des Marangoni-Effekts
geeignet ist.
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Wenn
der Wasserpegel bzw. Wasserspiegel unter die oberen Enden der Wafer
W abgesenkt worden ist, ist ein Teil der Oberfläche jedes Wafers W oberhalb
des Wasserpegels unter dem Marangoni-Effekt sauber getrocknet, da
der Wasserpegel entlang der Oberfläche der Wafer W absinkt. Wenn der
Wasserpegel die oberen Enden der ersten Halter 2a, 2b oder
die Position der Nuten 21a, 21b erreicht, was
durch L1 gekennzeichnet ist, bleibt das
reine Wasser nur in den Nuten 21a, 21b übrig, da
die Wafer W beabstandet von den Nuten 21a, 21b sind
(vgl. 13A, 13B).
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Daher
können
die Wafer W und die Nuten 21a, 21b in einer sehr
kurzen Zeitperiode getrocknet werden, nachdem sich die Wafer W und
die Nuten 21a, 21b über dem Wasserpegel befinden.
Bei der bekannten Anordnung verbleibt eine beträchtliche Zahl an Wassertröpfchen an
Kontaktbereichen zwischen einem Wafer und den Waferhaltenuten. Daher bleiben
Wasserflecken übrig,
wenn diese Wassertröpfchen
getrocknet sind. Bei der vorliegenden Erfindung bleiben keine Wasserflecken übrig, da
die Wassertröpfchen
bloß zwischen
den Wafern und den Nuten 21a, 21b verbleiben.
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Wenn
der Wasserspiegel weiter zu dem oberen Ende des zweiten Halters 3 oder
zu der Position der Nuten 24a, 24b abgesenkt wird,
wie es durch L2 gekennzeichnet ist, wird
eine Steuereinrichtung (nicht gezeigt) in Betrieb genommen, um die
Betätigungseinrichtungen 6a, 6b so
zu steuern, daß die erste
Antriebswelle 10a und die zweite Antriebswelle 10b um
180° gedreht
werden.
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Da
die Exzenternocken 11a bis 11c mit der ersten
und der zweiten Antriebswelle 10a, 10b in Drehung
versetzt werden, werden die Führungsplatten 17a, 17b um
eine Strecke entsprechend dem Betrag der Verschiebung der Nocken 11a, 11b von
der Drehachse nach oben bewegt, wogegen die Führungsplatte 17c um
eine Strecke entsprechend dem Betrag der Verschiebung des Nockens 11c von
der Drehachse aus nach unten bewegt wird.
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Die
ersten Halter 2a, 2b werden über die flexible Bahn 15a mit
den Führungsplatten 17a, 17b nach
oben bewegt. Darüber
hinaus wird der zweite Halter 3 mit der Führungsplatte 17c nach
unten bewegt. Wenn der Wasserspiegel das obere Ende des zweiten
Halters 3 erreicht, wie es durch L2 gekennzeichnet
ist, werden die Wafer W aus den Nuten 24a bis 24d des
zweiten Halters 3 herausgenommen und stattdessen durch
die ersten Halter 2a, 2b gehalten, d.h., daß die Wafer
W durch die Nuten 21a, 21b der ersten Halter 2a, 2b gehalten
werden, deren Nuten trocken sind.
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Wenn
der Wasserspiegel weiter bis zu den Nuten 24a bis 24d des
zweiten Halters 3 abgesenkt wird, bleibt das reine Wasser 26 bloß zwischen
den Wafern W und den Nuten 24a bis 24d übrig, da
die Wafer W bereits außer
Eingriff mit den Nuten 24a bis 24d gelangt sind,
wie dies vorstehend erläutert
worden ist.
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Daher
können
die Wafer W und die Nuten 24a bis 24d in einer
sehr kurzen Zeitperiode getrocknet werden, nachdem sich die Wafer
W und die Nuten 24a bis 24d oberhalb des Wasserspiegels
befinden. Wie dies vorstehend erläutert worden ist, verbleiben
beim Stand der Technik eine große
Zahl an Wassertröpfchen
zwischen einem Wafer und den Waferhaltenuten. Wasserflecken bleiben
beim Trocknen derartiger Wassertröpfchen zurück. Bei der vorliegenden Erfindung
bleiben keine Wasserflecken zurück,
da die Wassertröpfchen
nur zwischen dem Wafer W und den Nuten 24a bis 24d vorhanden
sind.
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Das
Trocknungsverfahren ist beendet, wenn der Pegel des reinen Wassers 26 unter
die unteren Enden der Wafer W abgesenkt worden ist, wie es durch
L3 gekennzeichnet ist, oder wenn das reine Wasser 26 vollständig aus
dem Spülbad 1 abgezogen
worden ist. Die Wafer W werden danach aus dem Spülbad 1 herausbewegt
und für
einen nachfolgenden Bearbeitungsschritt mittels einer Klemmeinrichtung
und einer Fördereinrichtung
(nicht gezeigt) transportiert.
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Es
ist zu bemerken, daß die
flexiblen Bahnen 15a, 15b in ihrer Gesamtheit
mit den ersten Haltern 2a, 2b und dem zweiten
Halter 3 vertikal bewegt werden. Dies führt zu Veränderungen in dem Volumen des
Spülbades 1 und
daher zu Veränderungen
in dem Pegel des reinen Wassers innerhalb des Spülbades 1. Daher werden
bei diesem Ausführungsbeispiel
die ersten Halter 2a, 2b und der erste Halter 3 in
entgegengesetzte Richtungen bewegt. Dies bedeutet, daß, wenn
die ersten Halter 2a, 2b angehoben werden, der
zweite Halter 3 gleichzeitig abgesenkt wird. Wenn die ersten
Halter 2a, 2b abgesenkt werden, wird der zweite
Halter 3 gleichzeitig angehoben. Dies nimmt eine Änderung
in dem Volumen des Spülbades 1 auf,
beseitigt eine entsprechende Änderung
in dem Wasserspiegel und verhindert daher, daß reines Wasser verspritzt
wird oder der Wasserspiegel stark bewegt wird. Die Wafer können so
mit einem hohen Grad an Reinheit gereinigt werden.
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Die 14 bis 16 geben ein zweites Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung wieder.
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Das
zweite Ausführungsbeispiel
umfaßt
eine Halteranhebeeinrichtung, welche in ihrem Aufbau von derjenigen
verschieden ist, die im Zusammenhang mit dem ersten Ausführungsbeispiel
verwendet worden ist.
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Bei
dem zweiten Ausführungsbeispiel
besitzt eine Halteranhebeeinrichtung eine erste lineare Antriebseinrichtung 33,
die über
eine Verbindungsstange 32 mit einem ersten Halter 2 verbunden
ist, sowie eine zweite lineare Antriebseinrichtung 35,
die über eine
Verbindungsstange 34 mit einem zweiten Halter 3 verbunden
ist. Die erste und die zweite lineare Antriebseinrichtung 33, 35 werden
gesteuert betätigt, um
den ersten und den zweiten Halter 2, 3 jeweils
zu bewegen.
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Die
zeitliche Abfolge der vertikalen Bewegungen des ersten und des zweiten
Halters 2, 3 sowie des Trocknungsverfahrens sind
identisch mit der zeitlichen Abfolge in dem ersten Ausführungsbeispiel,
so daß sie
daher nachstehend nicht erläutert werden.
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Die 17 bis 25 geben eine Trocknungsvorrichtung gemäß einem
dritten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung wieder. In 17 sind
gleiche Bauteile durch gleiche Bezugszeichen wie bei dem ersten
Ausführungsbeispiel
gekennzeichnet.
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Wie
aus den 17 bis 19 hervorgeht, weist eine
Halteranhebeeinrichtung 4 des dritten Ausführungsbeispiels
zwei abgedichtete Gehäuse 41a, 41b auf,
die über
drei Rohre 42 bis 44 miteinander in Verbindung
stehen. Eine geeignete Einrichtung ist in den abgedichteten Gehäusen 41a, 41b vorgesehen,
um die ersten Halter 2a, 2b und einen zweiten
Halter 3 vertikal zu bewegen.
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Innerhalb
des mittig angeordneten Rohres 42 (vgl. 19) ist eine erste Drehbetätigungseinrichtung 45 als
ein Antriebsmittel für
die vertikale Bewegung des zweiten Halters 3 angeordnet.
Wie in dem schematischen Schnitt in 21 erkennbar
ist, besitzt die erste Drehbetätigungseinrichtung 45 einen
Rotor 45b, der drehbar innerhalb eines Zylinderelements 45a angeordnet
ist. Das Zylinderelement 45a besitzt einen Lufteinlaß 45c und
einen Luftauslaß 45d.
Druckluft wird wahlweise über
den Lufteinlaß 45c der
ersten Drehbetätigungseinrichtung 45 zugeführt und über den
Luftauslaß 45d aus
der ersten Drehbetätigungseinrichtung 45 ausgetragen,
um den Rotor 45b reversibel um 180° zu drehen.
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Eine
zweite Drehbetätigungseinrichtung 46 ist
innerhalb des Rohres 43 (re. Seite in 19) angeordnet und dient als ein Antriebsmittel
für die
vertikale Bewegung der ersten Halter 2a, 2b. Wie
bei der ersten Drehbetätigungseinrichtung 45,
die in 21 gezeigt ist,
weist die zweite Drehbetätigungseinrichtung 46 einen
Lufteinlaß 46c und
einen Luftauslaß 46d auf.
Druckluft wird in die zweite Drehbetätigungseinrichtung 46 eingebracht
und aus der zweiten Drehbetätigungseinrichtung 46 ausgetragen,
um einen Rotor 46b um 180° reversibel zu drehen.
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Innerhalb
des Rohres 44 (li. Seite in 19) ist
eine Antriebswelle 48 angeordnet, die über einander gegenüberliegende
Verbindungen bzw. Verbindungsstangen 47a, 47b durch
die zweite Drehbetätigungseinrichtung 46 angetrieben
wird.
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Zwei
Wellen 49a, 49b sind innerhalb des Rohres 42 mit
den gegenüberliegenden
Enden der ersten Drehbetätigungseinrichtung 45 verbunden. Wenn
der Rotor 45b über
180° gedreht
wird, werden die Wellen 49a, 49b ebenfalls über 180° in die gleiche
Richtung gedreht. Die Wellen 49a, 49b erstrecken
sich über
ein Paar einander gegenüberliegender
Lager 50a, 50b in das linke bzw. rechte abgedichtete
Gehäuse 41a, 41b.
Zwei Exzenternocken 51a, 51b sind fest bzw. drehfest
an den distalen Enden der Wellen 49a, 49b angebracht.
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Zwei
Führungsplatten 53a, 53b werden
vertikal entlang zweier entsprechender linearer Gleitschienen 52a, 52b bewegt
und besitzen entsprechende horizontal verlaufende, U-förmige Ausnehmungen 54a, 54b,
innerhalb denen die Exzenternocken 51a, 51b aufgenommen
sind. Die Führungsplatten 53a, 53b sind
so gestaltet, daß sie
die Drehbewegungen in vertikale Bewegungen umwandeln. Wenn die Exzenternocken 51a, 51b über 180° gedreht
werden, werden die Führungsplatten 53a, 53b vertikal
um eine Strecke entsprechend dem Versatzbetrag der Exzenternocken 51a, 51b vertikal
bewegt. Um den Reibungswiderstand zwischen den Exzenternocken 51a, 51b und
den Ausnehmungen 54a, 54b zu minimieren, sind
zwei Lager 55a, 55b um die beiden Exzenternocken 51a, 51b angeordnet.
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Um
den zweiten Halter 3 vertikal zu bewegen, sind zwei Antriebsschäfte 56a, 56b jeweils
mit einem Ende versehen, das mit der oberen Oberfläche einer
entsprechenden Führungsplatte 53a, 53b verbunden
ist, wobei das andere Ende der Schäfte mit dem zweiten Halter 3 verbunden
ist. Die Antriebswellen 56a, 56b erstrecken sich über obere
Enden der abgedichteten Gehäuse 41a, 41b in
das Spülbad 1 hinein.
Zwei Faltenbalge 57a, 57b sind um die entsprechenden
Antriebsschäfte 56a, 56b angeordnet, um
den Eintritt von reinem Wasser in die abgedichteten Gehäuse 41a, 41b zu
verhindern. Die Antriebswellen 56a, 56b werden über die
Faltenbalge 57a, 57b frei nach oben und unten
bewegt.
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Die
beiden Wellen 58a, 58b sind innerhalb des Rohres 43 mit
den gegenüberliegenden
Enden der zweiten Drehbetätigungseinrichtung 46 verbunden.
Wenn der Rotor 46b über
180° gedreht
wird, werden die Wellen 58a, 58b ebenfalls um
180° in
die gleiche Richtung gedreht. Die Wellen 58a, 58b erstrecken
sich über
zwei Lager 59a, 59b in das linke bzw. das rechte
abgedichtete Gehäuse 41a, 41b. Zwei
Exzenternocken 60a, 60b sind fest auf dem jeweiligen
Ende der Wellen 58a, 58b angebracht.
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Zwei
Führungsplatten 62a, 62b sind
vertikal entlang eines entsprechenden Paares einander gegenüberliegender
linearer Gleitschienen 61a, 61b bewegbar und besitzen
entsprechende horizontal verlaufende, U-förmige Ausnehmungen 62a, 62b,
innerhalb der die Exzenternocken 60a, 60b aufgenommen
sind. Die Führungsplatten 62a, 62b sind
so gestaltet, daß sie
eine Drehbewegung in eine Vertikalbewegung umwandeln. Wenn die Exzenternocken 60a, 60b um
180° gedreht
werden, werden die Führungsplatten 62a, 62b um
eine Strecke entsprechend dem Versatzbetrag der Exzenternocken 60a, 60b vertikal
bewegt. Um den Reibungswiderstand zwischen den Exzenternocken 60a, 60b und
den Ausnehmungen 63a, 63b zu minimieren, sind
zwei Lager 64a, 64b um die beiden Exzenternocken 60a, 60b angeordnet.
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Um
den ersten Halter 2a vertikal zu bewegen, ist jeweils ein
Ende von zwei Antriebsschäften 65a, 65b mit
der oberen Oberfläche
einer entsprechenden Führungsplatte 62a, 62b verbunden,
wogegen das jeweilige andere Ende der Antriebsschäften 65a, 65b mit
den ersten Haltern 2a verbunden ist. Die Antriebsschäfte 65a, 65b erstrecken
sich über
die oberen Enden der abgedichteten Gehäuse 41a, 41b in
das Spülbad 1.
Ein Paar Faltenbalge 66a, 66b sind um die entsprechenden
Antriebsschäfte 65a, 65b angeordnet,
um den Eintritt von reinem Wasser in die abgedichteten Gehäuse 41a, 41b zu
verhindern. Die Antriebsschäfte 65a, 65b sind
frei nach oben und unten über
die Faltenbalge 66a, 66b bewegbar.
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Die
Antriebswelle 48 ist innerhalb des Rohres 44 aufgenommen
und erstreckt sich in die abgedichteten Gehäuse 41a, 41b hinein.
Die Verbindungselemente bzw. Verbindungsstangen 47a, 47b sind
mit den einander gegenüberliegenden
Enden der Antriebswelle 48 verbunden. Die Antriebswelle 48 wird über die
Verbindungsstangen 47a, 47b durch die zweite Drehbetätigungseinrichtung 46 angetrieben.
Die Exzenternocken 68a, 68b sind auf den gegenüberliegenden
Enden der Antriebswelle 48 fest angebracht.
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Zwei
Führungsplatten 70a, 70b sind
entlang eines entsprechenden Paares einander gegenüberliegender
linearer Gleitschienen 69a, 69b bewegbar und besitzen
jeweils horizontal verlaufende, U-förmige Ausnehmungen 71a, 71b,
innerhalb denen die Exzenternocken 68a, 68b aufgenommen
sind. Die Führungsplatten 70a, 70b sind
so gestaltet, daß sie
eine Drehbewgung in eine Vertikalbewegung umsetzen. Wenn die Exzenternocken 68a, 68b über 180° gedreht
werden, werden die Führungs platten 70a, 70b um
eine Strecke entsprechend dem Versatzbetrag der Exzenternocken 68a, 68b vertikal
bewegt. Um den Reibungswiderstand zwischen den Exzenternocken 68a, 68b und
den Ausnehmungen 71a, 71b zu minimieren, sind
zwei Lager 72a, 72b um die beiden Exzenternocken 68a, 68b angeordnet.
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Um
den ersten Halter 2b vertikal zu bewegen, ist das jeweilige
Ende zweier Antriebsschäfte 73a, 73b mit
der oberen Oberfläche
der entsprechenden Führungsplatte 70a, 70b und
das andere Ende der Antriebsschäfte 73a, 73b mit
dem ersten Halter 2b verbunden ist. Die Antriebsschäfte 73a, 73b erstrecken
sich über
das obere Ende der abgedichteten Gehäuse 41a, 41b in
das Spülbad 1.
Ein Paar Faltenbalge 74a, 74b sind um die Antriebsschäfte 73a, 73b entsprechend
angeordnet, um das Eintreten von reinem Wasser in die abgedichteten
Gehäuse 41a, 41b zu
vermeiden. Die Antriebsschäfte 73a, 73b sind über die
Faltenbalge 74a, 74b frei nach oben und unten
bewegbar.
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Wie
in 22 gezeigt ist, ist
ein Ende jeder Verbindungsstange 47a, 47b mit
einer entsprechenden Welle der beiden Wellen 58a, 58b über einen
jeweiligen Hebel der Hebel 75a, 75b und das andere Ende
mit der Antriebswelle 48 über einen entsprechenden Hebel
der einander gegenüberliegenden Hebel 76a, 76b verbunden.
Die Hebel 75a, 76a und die Hebel 75b, 76b sind
gegeneinander über
90° versetzt
angeordnet, um eine weiche hin- und hergehende Bewegung der Verbindungselemente 47a, 47b zu unterstützen.
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Die
ersten Halter 2a, 2b und der zweite Halter 3,
die bei dem dritten Ausführungsbeispiel
verwendet werden, sind in ihrem Aufbau ähnlich zu denen des ersten
Ausführungsbeispiels,
jedoch wurden die folgenden Veränderungen
an dem in dem dritten Ausführungsbeispiel
verwendeten, zweiten Halter 3 vorgenommen.
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Es
wird nun speziell auf die 23A, 23B Bezug genommen. Der zweite
Halter 3 besitzt eine mittige Öffnung 80, um ein
Schwimmerteil 81 aufzunehmen.
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Das
Schwimmerteil 81 besitzt einen Schwimmerkörper 81b mit
einem dreiecksförmigen
oberen Ende 81a sowie zwei Seitenarme 81c, die
sich horizontal von einander gegenüberliegenden Seiten des Schwimmerkörpers 81b erstrecken.
Der Schwimmerkörper 81b ist
im Vergleich zu dem Wafer W stärker hydrophil
gegenüber
dem reinen Wasser. Der Schwimmerkörper 81b ist aus einem
synthetischen Harz hergestellt, das ein spezifisches Gewicht aufweist,
welches geringer als das spezifische Gewicht des reinen Wassers
ist. Alternativ kann der Schwimmerkörper 81b aus Metall
hergestellt sein. In diesem Fall sollte jedoch der Schwimmerkörper 81b hohl sein,
so daß er
auf der Oberfläche
des reinen Wassers schwimmen kann. In diesem Fall ist der Schwimmerkörper 81b beispielsweise
aus Polyetheretherketon (PEEK) hergestellt.
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Wie
in den 17 und 18 gezeigt ist, sind die
Seitenarme 81c, 81c des Schwimmerteil 81 über Stifte 83a, 83b an
ihrem jeweiligen einen Ende schwenkbar an der Seitenwand der abgedichteten Gehäuse 41a, 41b angebracht.
Wie in 25 gezeigt ist,
wird der Schwimmerkörper 81b um
die Stifte 83a, 83b infolge eines Aufschwimmens
nach oben verschwenkt, wie es durch ausgezogene Linien wiedergegeben
ist, wenn ein Pegel La des reinen Wassers oberhalb des Schwimmerteils 81 vorhanden
ist, um das dreiecksförmige
obere Ende 81a des Schwimmerteils 81b in Kontakt
mit dem unteren Ende des Wafers W zu bringen.
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Wenn
auf der anderen Seite ein Pegel Lb des reinen Wassers unterhalb
des Schwimmerteils 81 vorhanden ist, wird das Schwimmerteil 81b infolge seines
Eigengewichtes nach unten verschwenkt, wie es durch die unterbrochenen
Linien dargestellt ist, um das dreiecksförmige obere Ende 81a zu
veranlassen, weg von dem unteren Ende des Wafers W bewegt zu werden.
Diese Anordnung ermöglicht
dem dreiecksförmigen
oberen Ende 81a des Schwimmerkörpers 81b, Wassertröpfchen,
die andernfalls an dem unteren Ende des Wafers W zurückbleiben,
weg fließen
zu lassen, wenn der Pegel des reinen Wassers an dem unteren Ende
des Wafers W vorbeigeht, wodurch keine Wassertröpfchen an der unteren Kante
des Wafers W übrig
bleiben.
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Nachstehend
wird das Trocknungsverfahren erläutert,
daß durch
die Trocknungsvorrichtung gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel
ausgeführt wird.
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Zu
Beginn des Verfahrens befinden sich alle Führungsplatten 53a, 53b, 60a, 60b, 70a, 70b in
ihrer am weitesten obenliegenden Position, wie es durch die ausgezogenen
Linien in den 26, 27 dargestellt ist. Ein Wafer
W wird durch sämtliche
ersten Halter 2a, 2b sowie dem zweiten Halter 3 gehalten.
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Nachdem
die Wafer W durch eine geeignete Chemikalie gereinigt worden sind,
werden die Wafer W mittels einer Fördereinrichtung und einer Klemmeinrichtung
(nicht gezeigt) in das Innere des Spülbades 1 transportiert.
Die Wafer W werden anschließend
auf den ersten Haltern 2a, 2b und dem zweiten Halter 3 vertikal
ausgerichtet plaziert. Nachdem das obere Ende des Spülbades 1 durch
einen oberen Deckel (nicht gezeigt) verschlossen worden ist, wird
reines Wasser aus einer Quelle für
reines Wasser (nicht gezeigt) eingebracht, um die Oberfläche der
Wafer W zu spülen.
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Nachdem
die Wafer W gespült
bzw. ausgespült
worden sind, wird eine Gasmischung aus Propylalkoholdampf und Stickstoff
aus einer Gasquelle (nicht gezeigt) in den oberen Innenraum des
Spülbades 1 eingebracht
und ein Ablaßventil
(nicht gezeigt) geöffnet,
um reines Wasser aus dem Spülbad 1 in
einer vorbestimmten Geschwindigkeit abzuziehen. Wenn der Pegel des
reinen Wassers abgesenkt wird und an den Oberflächen der Wafer W vorbeigegangen
ist, werden die Wafer wirksam unter dem Marangoni-Effekt getrocknet,
wie es vorstehend erläutert worden
ist.
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Wenn
der Pegel des reinen Wassers bis nahe an das obere Ende der ersten
Halter 2a, 2b abgesenkt worden ist, wird die zweite
Drehbetätigungseinrichtung 46 angetrieben,
um den Rotor 46b über 180° zu drehen.
Dies veranlaßt
die Wellen 58a, 58b, sich in die gleiche Richtung
um 180° zu
drehen.
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Die
Exzenternocken 60a, 60b werden mit den Wellen 58a, 58b um
180° gedreht,
wie es durch die unterbrochenen Linien in 27A gezeigt ist, um dadurch die Führungsplatten 62a, 62b aus
einer Position, die in ausgezogenen Linien dargestellt ist, zu der
am tiefsten gelegenen Position zu bewegen, die in unterbrochenen
Linien wiedergegeben ist. Im Ergebnis wird der erste Halter 2a,
der mit dem Ende der Antriebswellen 65a, 65b verbunden
ist, auf seine am weitesten untenliegende Position abgesenkt und
von den Wafern W getrennt (vgl. 13A, 13B).
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Die
Drehung der Wellen 58a, 58b wird auf die Antriebswelle 48 über die
Verbindungsstangen 47a, 47b übertragen, wodurch die Antriebswelle 48 um
180° in
die gleiche Richtung gleichzeitig mit dem Rotor 46b gedreht
wird. Die Exzenternocken 68a, 68b werden mit der
Antriebswelle 48 um 180° gedreht,
wie es durch die unterbrochene Linie in 27B gezeigt ist, um dadurch die Führungsplatten 70a, 70b in
ihrer am weitesten untenliegenden Position zu bewegen, die durch
die unterbrochenen Linien dargestellt ist. Im Ergebnis wird der
erste Halter 2b, der mit dem Ende der Antriebswellen 73a, 73b verbunden
ist, ebenfalls in seine am weitesten untenliegende Position bewegt
und von den Wafern W getrennt (vgl. 13A, 13B).
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Die
Wafer W werden anschließend
nur durch den zweiten Halter 3 gehalten. Wie dies vorstehend erläutert worden
ist, sind die Verbindungsstangen 47a, 47b an den Wellen 58a, 58b sowie
der Antriebswelle 48 mit den Hebeln 75a, 76a und
den Hebeln 75b, 76b angebracht, während sie
gegeneinander um 90° versetzt
angeordnet sind. Daher können
die Verbindungsstangen 47a, 47b zu diesem Zeitpunkt gleichmäßig gedreht
werden.
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Wenn
der Pegel des reinen Wassers auf die Nuten 21a, 21b der
ersten Halter 2a, 2b abgesenkt worden ist (vgl. 6–8),
verbleibt kein reines Wasser in den Nuten 21a, 21b,
da jeder Wafer W bereits von den Nuten 21a, 21b entfernt
worden ist.
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Daher
können
die Wafer W und die Nuten 21a, 21b in einer sehr
kurzen Zeitperiode getrocknet werden und keine Wasserflecken bleiben
an den Oberflächen
der Wafer W übrig.
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Wenn
der Pegel des reinen Wassers weiter nahe dem oberen Ende des zweiten
Halters 3 abgesenkt worden ist, wird die zweite Drehbetätigungseinrichtung 46 um
180° gedreht
und kehrt in ihre Ausgangsposition zurück. Dies veranlaßt die Führungsplatten 62a, 62b, 70a, 70b in
ihre am weitesten obenliegende Position zurückzukehren, wie es durch die ausgezogenen
Linien in den 27A, 27B gezeigt ist. Zur gleichen
Zeit wird die erste Drehbetätigungseinrichtung 45 angetrieben,
um den Rotor 45b um 180° zu
drehen. Dies veranlaßt
die Wellen 49a, 49b, sich in die gleiche Richtung
um 180° zudrehen.
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Darüber hinaus
werden die Exzenternocken 51a, 51b mit den Wellen 49b, 49b so
gedreht, daß die
Führungsplatten 53a, 53b zu
ihrer am weitesten untenliegenden Position bewegt werden, wie es durch
die unterbrochenen Linien in 26 gezeigt ist.
Diese Bewegung veranlaßt
den zweiten Halter 3, zu seiner am weitesten untenliegenden
Position bewegt und von den Wafern W getrennt zu werden.
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Unter
diesen Umständen
werden die Wafer W nur durch die ersten Halter 2a, 2b und
nicht durch den zweiten Halter 3 gehalten.
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Obwohl
der zweite Halter 3 von den Wafern W getrennt ist, wird
der Schwimmerkörper 81b des Schwimmerteils 81 um
die Stifte 83a, 83b durch ein Aufschwimmen nach
oben verschwenkt, um das dreiecksförmige obere Ende 81b in
Kontakt mit den unteren Enden der Wafer W zu bringen, wie es in 25 gezeigt ist.
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Durch
diese Anordnung verbleibt kein reines Wasser in den Nuten 24a bis 24d im Gegensatz
zu dem Stand der Technik, wenn der Pegel des reinen Wassers an den
Nuten 24a bis 24d des zweiten Halters 3 vorbeigegangen
ist (vgl. 10). Dies
deshalb, da die Nuten 24a bis 24d bereits von
den Wafern W getrennt worden sind.
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Wenn
der Pegel des reinen Wassers nach unten bewegt wird, um die am weitesten
untenliegenden Enden der Wafer W freizusetzen, wird das letzte Wassertröpfchen,
das an dem unteren Ende jedes der Wafer W vorhanden ist, veranlaßt, entlang
des dreiecksförmigen
oberen Endes 81a des Schwimmerkörpers 81b zu wandern,
und wird anschließend in
das reine Wasser abgeführt.
Auf diese Weise werden im wesentlichen sämtliche Wassertröpfchen von den
unteren Enden der Wafer W entfernt.
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Demzufolge
ist die Oberfläche
des Wafers und die Nuten 24a bis 24b in einer
sehr kurzen Zeitperiode getrocknet worden.
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Dieses
Trocknungsverfahren wird beendet, wenn der Pegel des reinen Wassers
unter die unteren Enden der Wafer W gelangt oder wenn das reine Wasser
vollständig
aus dem Spülbad 1 entfernt
worden ist. Nachdem dieser Vorgang ausgeführt worden ist, werden die
Wafer W für
einen nachfolgenden Schritt mittels der Klemmeinrichtung und der
Transporteinrichtung transportiert.
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Bei
dem dritten Ausführungsbeispiel
sind die abgedichteten Gehäuse 41a, 41b nur
durch die drei Rohre 42–44 miteinander verbunden.
Kein Hindernis, wie die flexiblen Bahnen 15a, 15b,
die bei dem ersten Ausführungsbeispiel
verwenden worden sind (vgl. 2),
ist zwischen dem Boden des Spülbades 1 und
den Wafern W vorhanden. Diese vorteilhafte Anordnung unterstützt das
Spülen
der Wafer.
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Es
ist zu bemerken, daß das
Schwimmerteil 81 bei dem ersten und dem zweiten Ausführungsbeispiel
ebenfalls verwendet werden kann.
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Bei
allen drei Ausführungsbeispielen
wird reines Wasser als eine Spülflüssigkeit
verwendet. Jedoch ist die Erfindung hierauf nicht beschränkt. Eine Vielzahl
von Spülflüssigkeiten
kann in Abhängigkeit der
Art der Wafer und der Spülerfordernisse
ausgewählt
werden.
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Darüber hinaus
ist der Halbleiterwafer als ein zu spülendes und zu trocknendes Substrat
verwendet worden. Jedoch ist die vorliegende Erfindung hierauf nicht beschränkt. Beispielweise
kann sie bei Flüssigkristall-Anzeigegläsern oder
anderen Scheiben Verwendung finden.
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Als
Beispiel wurde bei der vorliegenden Erfindung eine IPA-Trocknungsvorrichtung
mit direkter Verlagerung eingesetzt. Jedoch ist die Erfindung hierauf
nicht beschränkt.
Die vorliegende Erfindung kann in gleicher Weise für jede Art
von Trocknungsvorrichtung eingesetzt werden, in der ein Substrat durch
Bewegen des Substrates aus einer Spülflüssigkeit heraus oder durch
Abziehen der Spülflüssigkeit
erfolgt, nach dem das Substrat in die Spülflüssigkeit eingetaucht worden
ist, während
es in einer vertikalen Ausrichtung durch Halter gehalten wird.
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Die
Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zum Trocknen
eines Substrates W, nachdem das Substrat W in einem Spülbad 1 gespült worden
ist, in dem eine Spülflüssigkeit 26 enthalten ist.
Das Substrat W wird wahlweise durch erste und zweite Halter 2a, 2b, 3 vertikal
gehalten. Der zweite Halter 3 ist zwischen den ersten Haltern 2a, 2b und unterhalb
dieser ersten Halter 2a, 2b angeordnet. Jeder
der ersten und zweiten Halter 2a, 2b, 3 weist
Nuten auf, mit denen das Substrat in Eingriff bringbar ist. Wenn
der Pegel der Spülflüssigkeit
beim Absinken an den Nuten 21a, 21b der ersten
Halter 2a, 2b vorbeigegangen ist, wird das Substrat
W nur durch den zweiten Halter 3 gehalten. Wenn anschließend der Pegel
der Spülflüssigkeit
beim Absinken an den Nuten 24a bis 24d des zweiten
Halters 3 vorbeigeht, wird das Substrat W nur durch den
ersten Halter 2a, 2b gehalten.
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Die
vorliegende Erfindung ist mit Bezug auf die bevorzugten Ausführungsbeispiele
erläutert
worden. Es ist zu bemerken, daß verschiedene
Modifikationen und Änderungen
eingesetzt werden können, ohne
daß von
den Erfindungsgedanken, die durch die beigefügten Ansprüche dargelegt sind, abgewichen
wird.