JPH04349626A - 半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置 - Google Patents
半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置Info
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- JPH04349626A JPH04349626A JP3121356A JP12135691A JPH04349626A JP H04349626 A JPH04349626 A JP H04349626A JP 3121356 A JP3121356 A JP 3121356A JP 12135691 A JP12135691 A JP 12135691A JP H04349626 A JPH04349626 A JP H04349626A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 52
- 238000001035 drying Methods 0.000 abstract description 14
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造に際
して半導体基板を液体中から気体中に引き上げるための
半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置に関する
。
して半導体基板を液体中から気体中に引き上げるための
半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置に関する
。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造に際しては、基板の洗
浄工程などのように、基板を液体槽中から気体中に引き
上げ、基板を乾燥させた後に次の工程に移る場合が多い
。このように半導体基板を引き上げる際、従来は、図2
あるいは図3に示すような引き上げ方法を用いている。
浄工程などのように、基板を液体槽中から気体中に引き
上げ、基板を乾燥させた後に次の工程に移る場合が多い
。このように半導体基板を引き上げる際、従来は、図2
あるいは図3に示すような引き上げ方法を用いている。
【0003】即ち、図2に示す引き上げ方法では、液体
槽1内の液体2中の基板3を4本のアーム31の基板保
持部31aで保持したままの状態で、アーム31を上昇
移動させて基板3を気体中に引き上げる。なお、上記ア
ーム31の基板保持部31aは石英で作られており、基
板周縁保持用の溝(図示せず)が形成されている。
槽1内の液体2中の基板3を4本のアーム31の基板保
持部31aで保持したままの状態で、アーム31を上昇
移動させて基板3を気体中に引き上げる。なお、上記ア
ーム31の基板保持部31aは石英で作られており、基
板周縁保持用の溝(図示せず)が形成されている。
【0004】また、図3に示す引き上げ方法では、液体
槽1内の液体2中の基板3をキャリヤ41に収納したま
まの状態で、キャリヤ41を上昇移動させて基板3を気
体中に引き上げる。なお、上記キャリヤ41の基板保持
部41aには基板周縁保持用の溝(図示せず)が形成さ
れている。
槽1内の液体2中の基板3をキャリヤ41に収納したま
まの状態で、キャリヤ41を上昇移動させて基板3を気
体中に引き上げる。なお、上記キャリヤ41の基板保持
部41aには基板周縁保持用の溝(図示せず)が形成さ
れている。
【0005】しかし、上記したような引き上げ方法は、
アーム31あるいはキャリヤ41の基板保持部が液体表
面から引き上げられる時に、アーム31の基板保持部3
1aと基板3との間、あるいは、キャリヤ41の基板保
持部41aと基板3との間、特に、基板周縁保持用の溝
に毛細管現象および液体の表面張力により液体が残留す
る。この残留液体は、基板引き上げ後の基板乾燥に際し
て基板表面上にしみを生じさせたり、ダストの増加を生
じさせる。これにより、基板面内の均一な乾燥が行われ
なくなり、乾燥時間も長くなるという問題がある。
アーム31あるいはキャリヤ41の基板保持部が液体表
面から引き上げられる時に、アーム31の基板保持部3
1aと基板3との間、あるいは、キャリヤ41の基板保
持部41aと基板3との間、特に、基板周縁保持用の溝
に毛細管現象および液体の表面張力により液体が残留す
る。この残留液体は、基板引き上げ後の基板乾燥に際し
て基板表面上にしみを生じさせたり、ダストの増加を生
じさせる。これにより、基板面内の均一な乾燥が行われ
なくなり、乾燥時間も長くなるという問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置は、基板
保持部が液体表面から引き上げられる時に、基板保持部
と基板との間に液体が残留し、基板引き上げ後の基板乾
燥に際して基板表面上にしみやダストの増加が生じ、基
板面内の均一な乾燥が行われなくなり、乾燥時間が長く
なるという問題があった。
半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置は、基板
保持部が液体表面から引き上げられる時に、基板保持部
と基板との間に液体が残留し、基板引き上げ後の基板乾
燥に際して基板表面上にしみやダストの増加が生じ、基
板面内の均一な乾燥が行われなくなり、乾燥時間が長く
なるという問題があった。
【0007】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、基板を液体中から引き上げる時に基板保持部
に液体が残留することがなく、基板引き上げ後の基板乾
燥に際して基板表面上にしみやダストの増加が生じるこ
とがなく、基板面内の均一な乾燥および乾燥時間の短縮
が可能になる半導体基板の引き上げ方法および引き上げ
装置を提供することを目的とする。
たもので、基板を液体中から引き上げる時に基板保持部
に液体が残留することがなく、基板引き上げ後の基板乾
燥に際して基板表面上にしみやダストの増加が生じるこ
とがなく、基板面内の均一な乾燥および乾燥時間の短縮
が可能になる半導体基板の引き上げ方法および引き上げ
装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体基板の引
き上げ方法は、半導体基板を液体中から気体中に引き上
げる際、液体中にある半導体基板を第1の基板保持部に
よって保持し、上記基板の一部が気体中に露出するまで
第1の基板保持部を上昇移動させ、次に、気体中に露出
した基板の一部を第2の基板保持部によって保持し、基
板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部を上
昇移動させることを特徴とする。
き上げ方法は、半導体基板を液体中から気体中に引き上
げる際、液体中にある半導体基板を第1の基板保持部に
よって保持し、上記基板の一部が気体中に露出するまで
第1の基板保持部を上昇移動させ、次に、気体中に露出
した基板の一部を第2の基板保持部によって保持し、基
板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部を上
昇移動させることを特徴とする。
【0009】また、本発明の半導体基板の引き上げ装置
は、液体中にある半導体基板を第1の基板保持部により
保持し、上記基板の一部が気体中に露出するまで第1の
基板保持部を上昇移動させる第1の移動装置と、気体中
に露出した基板の一部を第2の基板保持部により保持し
、基板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部
を上昇移動させる第2の移動装置とを具備することを特
徴とする。
は、液体中にある半導体基板を第1の基板保持部により
保持し、上記基板の一部が気体中に露出するまで第1の
基板保持部を上昇移動させる第1の移動装置と、気体中
に露出した基板の一部を第2の基板保持部により保持し
、基板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部
を上昇移動させる第2の移動装置とを具備することを特
徴とする。
【0010】
【作用】基板を液体中から引き上げる際、液体中にある
半導体基板を第1の基板保持部によって保持し、基板の
一部が気体中に露出するまで基板を上昇移動させた後、
気体中に露出した基板の一部を第2の基板保持部によっ
て保持し、基板全体を液体中から気体中に引き上げる。 この際、第2の基板保持部が液体・気体界面を通過する
ことがない。従って、第2の基板保持部に液体が残留す
ることがなく、基板引き上げ後の基板乾燥に際して基板
表面上にしみやダストの増加が生じることがなく、基板
面内の均一な乾燥および乾燥時間の短縮が可能になる。
半導体基板を第1の基板保持部によって保持し、基板の
一部が気体中に露出するまで基板を上昇移動させた後、
気体中に露出した基板の一部を第2の基板保持部によっ
て保持し、基板全体を液体中から気体中に引き上げる。 この際、第2の基板保持部が液体・気体界面を通過する
ことがない。従って、第2の基板保持部に液体が残留す
ることがなく、基板引き上げ後の基板乾燥に際して基板
表面上にしみやダストの増加が生じることがなく、基板
面内の均一な乾燥および乾燥時間の短縮が可能になる。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳
細に説明する。図1(A)乃至(C)は、本発明の半導
体基板の引き上げ装置の一実施例を用いた基板引き上げ
の様子を示している。
細に説明する。図1(A)乃至(C)は、本発明の半導
体基板の引き上げ装置の一実施例を用いた基板引き上げ
の様子を示している。
【0012】この引き上げ装置は、石英製の液体槽1内
の液体(例えば70℃の純水)2中にある半導体基板(
ウェハ)3を気体(例えば空気)中に引き上げるための
ものであり、第1の移動装置11と第2の移動装置12
とを有する。
の液体(例えば70℃の純水)2中にある半導体基板(
ウェハ)3を気体(例えば空気)中に引き上げるための
ものであり、第1の移動装置11と第2の移動装置12
とを有する。
【0013】上記第1の移動装置11は、液体中にある
半導体基板3を第1の基板保持部により保持し、上記基
板3の一部が気体中に露出するまで第1の基板保持部を
上昇移動させるものである。この移動装置11の一具体
例としては、液体中に設置されたホルダーの伸縮自在な
ロッド111の上端部の基板保持部111aで基板3を
保持し、基板保持部111aが液体中に位置したままで
前記基板3の一部が気体中に露出するまでロッド111
を伸ばす(上昇移動させる)ことが可能なように構成さ
れている。なお、上記ロッド上端部の基板保持部111
aは石英で作られており、基板周縁保持用の溝(図示せ
ず)が形成されている。
半導体基板3を第1の基板保持部により保持し、上記基
板3の一部が気体中に露出するまで第1の基板保持部を
上昇移動させるものである。この移動装置11の一具体
例としては、液体中に設置されたホルダーの伸縮自在な
ロッド111の上端部の基板保持部111aで基板3を
保持し、基板保持部111aが液体中に位置したままで
前記基板3の一部が気体中に露出するまでロッド111
を伸ばす(上昇移動させる)ことが可能なように構成さ
れている。なお、上記ロッド上端部の基板保持部111
aは石英で作られており、基板周縁保持用の溝(図示せ
ず)が形成されている。
【0014】前記第2の移動装置12は、気体中に露出
した基板3の一部を第2の基板保持部により保持し、基
板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部を上
昇移動させるものである。この第2の移動装置12の一
具体例としては、気体中に設置されたチャックの2本の
アーム121の基板保持部121aで、気体中に露出し
た基板3の周縁部を挟むように保持し、アーム121を
上昇移動させて基板3を液体中から引き上げることが可
能なように構成されている。なお、上記アーム121の
基板保持部121aは石英で作られており、基板周縁保
持用の溝(図示せず)が形成されている。
した基板3の一部を第2の基板保持部により保持し、基
板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部を上
昇移動させるものである。この第2の移動装置12の一
具体例としては、気体中に設置されたチャックの2本の
アーム121の基板保持部121aで、気体中に露出し
た基板3の周縁部を挟むように保持し、アーム121を
上昇移動させて基板3を液体中から引き上げることが可
能なように構成されている。なお、上記アーム121の
基板保持部121aは石英で作られており、基板周縁保
持用の溝(図示せず)が形成されている。
【0015】上記引き上げ装置を用いて基板3を液体2
中から引き上げる際には、液体2中にある基板3を第1
の基板保持部111aによって保持し、基板3の一部が
気体中に露出するまで第1の基板保持部111aを徐々
に上昇移動させた後、気体中に一部が露出した基板3の
一部を第2の基板保持部121aによって保持し、基板
全体が気体中に露出するように第2の基板保持部121
aを上昇移動させる。この際に、第1の基板保持部11
1aおよび第2の基板保持部121aが液体・気体界面
を通過することがない。従って、第2の基板保持部12
1aに液体2が残留することがなく、基板引き上げ後の
基板乾燥に際して基板表面上にしみやダストの増加が生
じることがなく、基板面内の均一な乾燥および乾燥時間
の短縮が可能になる。なお、上記実施例のホルダーやチ
ャックの支点は何点でも構わない。
中から引き上げる際には、液体2中にある基板3を第1
の基板保持部111aによって保持し、基板3の一部が
気体中に露出するまで第1の基板保持部111aを徐々
に上昇移動させた後、気体中に一部が露出した基板3の
一部を第2の基板保持部121aによって保持し、基板
全体が気体中に露出するように第2の基板保持部121
aを上昇移動させる。この際に、第1の基板保持部11
1aおよび第2の基板保持部121aが液体・気体界面
を通過することがない。従って、第2の基板保持部12
1aに液体2が残留することがなく、基板引き上げ後の
基板乾燥に際して基板表面上にしみやダストの増加が生
じることがなく、基板面内の均一な乾燥および乾燥時間
の短縮が可能になる。なお、上記実施例のホルダーやチ
ャックの支点は何点でも構わない。
【0016】また、上記実施例では、第2の移動装置1
2の全体が常に気体中に位置するように設けたが、これ
に限らず、第2の移動装置12の一部が一時的に液体中
に入っても構わない。但し、この場合には、基板3を液
体中から引き上げる時に第2の移動装置12の基板保持
部が液体・気体界面を通過することがないように、換言
すれば、第2の基板保持部が液体・気体界面を通過する
時には第2の基板保持部が基板3から離れていなければ
ならない。
2の全体が常に気体中に位置するように設けたが、これ
に限らず、第2の移動装置12の一部が一時的に液体中
に入っても構わない。但し、この場合には、基板3を液
体中から引き上げる時に第2の移動装置12の基板保持
部が液体・気体界面を通過することがないように、換言
すれば、第2の基板保持部が液体・気体界面を通過する
時には第2の基板保持部が基板3から離れていなければ
ならない。
【0017】また、上記実施例では、第1の移動装置1
1の全体が常に液体中に位置するように設けたが、これ
に限らず、第1の移動装置11の一部が気体中に位置し
ても構わないない。例えば、V字状のホルダーの底部を
液体中に浸入させた状態で吊し、このホルダーの内底部
の基板保持部で液体中の基板を保持し、この基板の一部
が気体中に露出するまで上記基板保持部を上昇移動させ
るように構成してもよい。
1の全体が常に液体中に位置するように設けたが、これ
に限らず、第1の移動装置11の一部が気体中に位置し
ても構わないない。例えば、V字状のホルダーの底部を
液体中に浸入させた状態で吊し、このホルダーの内底部
の基板保持部で液体中の基板を保持し、この基板の一部
が気体中に露出するまで上記基板保持部を上昇移動させ
るように構成してもよい。
【0018】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、基板を
液体中から引き上げる時に基板保持部に液体が残留する
ことがなく、基板引き上げ後の基板乾燥に際して基板表
面上にしみやダストの増加が生じることがなく、基板面
内の均一な乾燥および乾燥時間の短縮が可能になる半導
体基板の引き上げ方法および引き上げ装置を実現できる
。
液体中から引き上げる時に基板保持部に液体が残留する
ことがなく、基板引き上げ後の基板乾燥に際して基板表
面上にしみやダストの増加が生じることがなく、基板面
内の均一な乾燥および乾燥時間の短縮が可能になる半導
体基板の引き上げ方法および引き上げ装置を実現できる
。
【図1】本発明の半導体基板の引き上げ装置の一実施例
を用いた基板引き上げの様子を図。
を用いた基板引き上げの様子を図。
【図2】従来の半導体基板の引き上げ方法の一例を示す
図。
図。
【図3】従来の半導体基板の引き上げ方法の他の例を示
す図。
す図。
1…液体槽、2…液体、3…半導体基板、11…第1の
移動装置、12…第2の移動装置、111…ロッド、1
11a…第1の基板保持部、121…アーム、121a
…基板保持部。
移動装置、12…第2の移動装置、111…ロッド、1
11a…第1の基板保持部、121…アーム、121a
…基板保持部。
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体基板を液体中から気体中に引き
上げる際、液体中にある半導体基板を第1の基板保持部
によって保持し、上記基板の一部が気体中に露出するま
で第1の基板保持部を上昇移動させ、次に、気体中に露
出した基板の一部を第2の基板保持部によって保持し、
基板全体が気体中に露出するように第2の基板保持部を
上昇移動させることを特徴とする半導体基板の引き上げ
方法。 - 【請求項2】 液体中にある半導体基板を第1の基板
保持部により保持し、上記基板の一部が気体中に露出す
るまで第1の基板保持部を上昇移動させる第1の移動装
置と、気体中に露出した基板の一部を第2の基板保持部
により保持し、基板全体が気体中に露出するように第2
の基板保持部を上昇移動させる第2の移動装置とを具備
することを特徴とする半導体基板の引き上げ装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の半導体基板の引き上げ
装置において、前記第1の基板保持部は液体中に設置さ
れ、液体中に位置したままで前記基板の一部が気体中に
露出するまで第1の基板保持部を上昇移動させることを
特徴とする半導体基板の引き上げ装置。 - 【請求項4】 請求項1または2記載の半導体基板の
引き上げ装置において、前記第2の基板保持部は気体中
に設置されていることを特徴とする半導体基板の引き上
げ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3121356A JPH04349626A (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3121356A JPH04349626A (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04349626A true JPH04349626A (ja) | 1992-12-04 |
Family
ID=14809246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3121356A Pending JPH04349626A (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 半導体基板の引き上げ方法および引き上げ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04349626A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000036644A1 (fr) * | 1998-12-11 | 2000-06-22 | Toho Kasei Ltd. | Dispositif de traitement de plaquettes |
US6244281B1 (en) | 1997-11-19 | 2001-06-12 | Kaijo Corporation | Method and apparatus for drying substrate |
US6904702B2 (en) | 2002-05-15 | 2005-06-14 | Toho Kasei, Ltd | Method and apparatus for drying substrate |
KR100872995B1 (ko) * | 2007-09-07 | 2008-12-09 | 주식회사 케이씨텍 | 기판처리장치 및 이를 이용한 기판처리방법 |
-
1991
- 1991-05-27 JP JP3121356A patent/JPH04349626A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6244281B1 (en) | 1997-11-19 | 2001-06-12 | Kaijo Corporation | Method and apparatus for drying substrate |
US6325865B2 (en) | 1997-11-19 | 2001-12-04 | Kaijo Corporation | Method for drying substrate |
WO2000036644A1 (fr) * | 1998-12-11 | 2000-06-22 | Toho Kasei Ltd. | Dispositif de traitement de plaquettes |
US6589386B1 (en) | 1998-12-11 | 2003-07-08 | Toho Kasei Ltd. | Device for processing wafer |
US6904702B2 (en) | 2002-05-15 | 2005-06-14 | Toho Kasei, Ltd | Method and apparatus for drying substrate |
KR100872995B1 (ko) * | 2007-09-07 | 2008-12-09 | 주식회사 케이씨텍 | 기판처리장치 및 이를 이용한 기판처리방법 |
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