JPH08107100A - 薬液処理方法及び薬液処理装置 - Google Patents

薬液処理方法及び薬液処理装置

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JPH08107100A
JPH08107100A JP24256994A JP24256994A JPH08107100A JP H08107100 A JPH08107100 A JP H08107100A JP 24256994 A JP24256994 A JP 24256994A JP 24256994 A JP24256994 A JP 24256994A JP H08107100 A JPH08107100 A JP H08107100A
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JP
Japan
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wafer
chemical
liquid
state
liquid tank
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Application number
JP24256994A
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English (en)
Inventor
Keita Suzuki
啓太 鈴木
Nobuyuki Kawasaki
信幸 川崎
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH08107100A publication Critical patent/JPH08107100A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウエハの処理面内で均一な処理効果を得るこ
とができる薬液処理方法及び薬液処理装置を提供する。 【構成】 第1工程では、液槽11内に溜められた薬液
12の液面12aに対してウエハ13の処理面13aが
ほぼ垂直をなす第1の状態でウエハ13を下降させ、薬
液12中にウエハ13を浸漬する。第2工程では、所定
時間が経過した後、ウエハ13の上下が上記第1の状態
と反転する第2の状態でウエハ13を上昇させ、ウエハ
13を薬液12中から引き上げる。これによって、第1
工程でウエハ13を薬液12中に浸漬させる際に薬液1
2と早く接触したウエハ13部分から順に、ウエハ13
を薬液12中から引き上げ、ウエハ13の処理面13a
内における薬液12への浸漬時間を均一化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薬液を用いたウエハ表
面のエッチング処理や洗浄処理のように、半導体装置の
製造工程で行われるウエハ表面の薬液処理方法及び薬液
処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程では、例えば液槽
内に溜められた薬液中にウエハを浸漬することによって
当該ウエハの処理面を薬液処理する。この際、先ず、薬
液の液面に対して処理面がほぼ垂直をなす第1の状態に
保たれたウエハを下降させることによって、当該ウエハ
を上記第1の状態で上記薬液中に浸漬する。次いで、所
定の処理時間が経過した後、ウエハを上記と同様の第1
の状態に保ちながら上昇させ、当該ウエハを薬液中から
引き上げる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の薬液処
理方法には、以下のような課題があった。すなわち、上
記のようにウエハの処理面を薬液の液面に対して垂直に
配置した第1の状態を保ったまま薬液中にウエハを出し
入れした場合、ウエハの処理面における下部領域と上部
領域とでは薬液への浸漬時間に差が生じる。つまり、処
理面の下部領域は、当該処理面の上部領域と比較して早
く薬液中に浸漬され遅く引き上げられる。このため、上
記下部領域では上部領域と比較して薬液への浸漬時間が
長くなる。
【0004】上記のように1枚のウエハの処理面内で薬
液への浸漬時間に差が生じた場合、当該処理面内での薬
液処理効果にばらつきが生じる。さらに、近年ウエハの
大口径化が進展していることから、上記処理面内におけ
る薬液への浸漬時間の時間差は大きくなる傾向にある。
このため、処理面内における薬液処理効果のばらつきは
ますます大きくなる傾向にある。
【0005】そこで本発明は、ウエハの処理面内で均一
な処理効果を得ることができる薬液処理方法及び薬液処
理装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の第1の薬液処理方法は、薬液中にウエハを出
し入れする際、当該薬液の液面に対してウエハの処理面
がほぼ垂直をなす第1の状態で当該ウエハを下降させで
当該ウエハを薬液中に浸漬し、ウエハの上下が上記第1
の状態と反転する第2の状態で当該ウエハを上記薬液中
から上昇させる。
【0007】また、第2の薬液処理方法は、上記第1の
状態に保って上昇及び下降させて1回目の薬液処理を行
ったウエハを、上記第1の状態と上下が反転する第2の
状態に保って上昇及び下降させて2回目の薬液処理を行
う。
【0008】第3の薬液処理方法は、薬液の液面に対し
てウエハの処理面を平行な状態または斜めに傾けた状態
で当該ウエハを下降及び上昇させることによって、上記
薬液に上記ウエハの処理面を接触または浸漬する。
【0009】第4の薬液処理方法は、液槽内で循環させ
た純水中にウエハを浸漬し、次いで上記液槽内に薬液を
添加する。所定時間が経過した後、上記液槽内に純水を
オーバーフロー状態で加えて上記薬液を純水に置換す
る。次に、純水中から上記ウエハを引き上げる。上記液
槽内への薬液の添加は徐々に少量ずつ行うこととし、さ
らに液槽内の複数の位置から薬液を添加しても良い。
【0010】また、本発明の薬液処理装置は、薬液を溜
める液槽と、液槽内に溜められた薬液の液面に対してほ
ぼ垂直になる面内を回動すると共に先端が当該薬液内を
移動する支持部材とを有している。上記支持部材の先端
にはウエハホルダが接続されている。
【0011】
【作用】上記第1の薬液処理方法では、薬液の液面に対
してウエハの処理面がほぼ垂直をなす第1の状態で当該
ウエハを下降させ、ウエハの上下が上記第1の状態と反
転する第2の状態で当該ウエハを上昇させることによっ
て、薬液中にウエハを出し入れする。このことから、ウ
エハを薬液中に浸漬させる際に当該薬液と早く接触した
ウエハ部分から先に、当該ウエハが薬液中から引き上げ
られる。したがって、ウエハの下降速度と上昇速度とを
調節することによって、薬液への浸漬時間がウエハの処
理面内で均一化される。
【0012】また、上記第2の薬液処理方法では、上記
第1の状態に保って上昇及び下降させて1回目の薬液処
理を行ったウエハを、上記第1の状態と上下が反転する
第2の状態に保って上昇及び下降させて2回目の薬液処
理を行う。このことから、1回目の薬液処理の際に薬液
に早く接触して遅く引き上げられることによって薬液へ
の浸漬時間が長いウエハ部分から先に、2回目の薬液処
理の際には薬液に遅く接触して早く引き上げられことに
よって薬液への浸漬時間が短くなる。したがって、1回
目の薬液処理と2回目の薬液処理との上昇及び下降の速
度を調節することによって、薬液への浸漬時間がウエハ
の処理面内で均一化される。
【0013】そして、上記第3の薬液処理方法では、薬
液の液面に対してウエハの処理面を平行または斜めに傾
けた状態で当該ウエハを下降及び上昇させる。このこと
から、薬液に対して処理面の一部分が接触しはじめてか
ら処理面全体が当該薬液と接触するまでの時間が、薬液
の液面に対して処理面を垂直にした状態で当該ウエハを
下降及び上昇させて薬液処理を行った場合よりも短縮さ
れる。したがって、薬液への浸漬時間または薬液との接
触時間の時間差が処理面内で減少する。
【0014】さらに、上記第4の薬液処理方法では、純
水中にウエハを浸漬した後に、上記液槽内に薬液を添加
する。このことから、ウエハの薬液処理は当該ウエハが
純水に浸漬された後に開始される。そして、所定時間が
経過した後上記薬液を当該純水に置換し、純水中から上
記ウエハを引き上げる。このことから、ウエハの薬液処
理が終了した後に当該ウエハが純水中から引き上げられ
る。このため、薬液に対するウエハの下降及び上昇動作
に伴って生じる薬液への浸漬時間のばらつきが処理面内
で防止される。また、上記純水への薬液の添加は、純水
を攪拌した状態で行われることから、添加された薬液は
短時間で液槽内に拡散され、液槽内における薬液の濃度
差が低く抑えられる。そして、液槽内への薬液の添加を
徐々に少量ずつ行うことによって、液槽内での薬液濃度
の変化量が低く抑えられる。さらに、液槽内の複数の位
置から薬液を添加した場合には、添加された薬液はさら
に短時間で液槽内に拡散される。したがって、薬液との
接触時間が処理面内で均一化される。
【0015】また、本発明の薬液処理装置は、液槽内に
溜められた薬液の液面に対してほぼ垂直になる面内を回
動すると共にウエハホルダを設けた先端が上記薬液中を
移動する支持部材を備えている。このことから、上記ウ
エハホルダは、液槽内に溜められた薬液の液面に対して
ほぼ垂直の円軌道を描いて当該薬液内を移動する。この
ため、上記ウエハホルダは上記薬液中に挿入される場合
と搬出される場合とで上下が反転した状態になる。した
がって、上記ウエハホルダにウエハを保持させることに
よって、上記液槽内に溜められた薬液に対して、第1の
状態で下降して当該薬液中に浸漬されたウエハは、上記
第1の状態と上下が反転した第2の状態で上昇して当該
薬液中から引き上げられる。
【0016】
【実施例】以下、第1実施例の薬液処理方法を図1の工
程図に基づいて説明する。図1(1)に示す第1工程で
は、先ず液槽11内に薬液12を溜める。薬液12は、
例えばシリコンからなるウエハ表面の酸化膜をエッチン
グ除去するためのフッ酸溶液である。次に、薬液12の
液面12aに対してウエハ13の処理面13aがほぼ垂
直をなす第1の状態にウエハ13を配置する。また例え
ばここでは、上記第1の状態でウエハ13のオリエンテ
ーションフラット(以下、オリフラと記す)13bが液
面12aと平行でかつウエハ13の上部に配置されてい
ることとする。その後、ウエハ13を上記第1の状態に
保ったまま薬液12中に下降させる。そして、ウエハ1
3の処理面13a内でオリフラ13bと対する端部に位
置する点A,処理面13の中央に位置する点B,オリフ
ラ13b付近の点Cの順に各点が薬液12と接触するよ
うに、ウエハ13を薬液12中に浸漬する。この際、ウ
エハ13の下降速度は、薬液12によるウエハ13の処
理時間から規定される所定の一定速度に保つ。
【0017】その後、第2工程では、先ず図1(2)に
示すように、処理面13a内の各点A,B,Cの配置状
態の上下関係が上記第1の状態から反転した第2の状態
になるように、ウエハ13を回転させる。この場合、例
えば、液槽11の底部分にオリフラ13bの位置合わせ
を行うためのローラーを配置し、このローラーの回転に
よってオリフラ13bがウエハ13の最下部になるよう
にウエハ13を回転させても良い。この工程は、ウエハ
13を薬液12中に浸漬している間に行う。
【0018】次に、ウエハ13を薬液12中に浸漬して
から所定の処理時間が経過した後、図1(3)に示すよ
うに、ウエハ13を上記第2の状態に保ったまま薬液1
2中から上昇させる。そして、処理面13a上の点C,
点B,点Aの順に各点が薬液12中から引き出されるよ
うに、ウエハ13を薬液12中から引き上げる。この
際、ウエハ13の上昇速度は、上記第1工程でのウエハ
13の下降速度と同じ速度に設定する。
【0019】上記第1実施例の薬液処理方法では、処理
面13a内の各点A,B,Cは、点A,点B,点Cの順
で薬液12中に浸漬され、同じ順で薬液12中から引き
出される。また、ウエハ13の下降速度と上昇速度とは
同じ速度に設定されている。このため、処理面13a内
の各点A,B,Cの薬液12への浸漬時間は均一に保た
れる。したがって、処理面13a内における薬液12に
よるエッチング量が均一に保たれる。
【0020】次に、上記第1実施例の薬液処理方法を行
う薬液処理装置の一例を、図2の構成図に基づいて説明
する。薬液処理装置2は、液槽11と、液槽12内に溜
められる薬液12と、液槽11の上方に配置される支持
部材21と、支持部材21の先端に設けられるウエハホ
ルダ22とで構成される。
【0021】支持部材21は、例えばウエハホルダ22
が設けられている先端と反対側の端部に回転軸21aを
備えている。この回転軸21aの回転によってウエハホ
ルダ22が薬液12の液面12aに対してほぼ垂直に回
動するように、回転軸21aはその軸方向をほぼ水平に
して配置されている。また、支持部材21と液槽11と
の配置間隔は、支持部材21の回動によってその先端の
ウエハホルダ22が描く円軌道のほぼ下半分が薬液12
内に配置されるような間隔とする。
【0022】上記ウエハホルダ22は、薬液処理を行う
ウエハ13を支持部材21の先端に保持するためのもの
である。このウエハホルダ22は、例えばウエハ13の
処理面13aを露出させた状態でその周辺部分を2方向
から押さえ込むチャッキング機構で構成されている。こ
のチャッキング機構は、支点部分を軸にして開閉自在で
あり、ウエハ13の周辺部分と接触する抑え部は、処理
を行うウエハ13の径に合わせた曲面で構成されてい
る。そして、上記支持部材21が回動した場合にもウエ
ハ13を保持できるように、上記抑え部はウエハ13の
周辺に沿ってある程度の長さを有している。
【0023】液槽11は、薬液12の使用量を抑えるた
めに、上記ウエハホルダ22が描く円軌道に合わせて底
面を曲面で形成したものでも良い。
【0024】上記薬液処理装置2を用いたウエハ13の
薬液処理は、以下のように行う。先ず、ウエハホルダ2
2が描く円軌道のほぼ下半分を浸漬する分量の薬液12
を液槽11内に溜める。また、支持部材21を回動さ
せ、ウエハホルダ22を薬液12中から引き出してお
く。そして、ウエハホルダ22に、処理を行うウエハ1
3を保持させる。次に、支持部材21を一定速度で回動
させ、薬液12内でウエハホルダ22を移動させる。そ
して、ウエハホルダ22が薬液12中から引き上げられ
た後、支持部材21の回動を停止する。
【0025】上記薬液処理装置2では、上記ウエハホル
ダ22に保持されたウエハ13は、薬液12の液面12
aに対してほぼ垂直になる面内で円軌道を描きながら当
該薬液12中を移動する。この際、液槽11内に溜めら
れた薬液12に対して、第1の状態で下降して浸漬され
たウエハ13は、上記第1の状態と上下が反転した第2
の状態で上昇して当該薬液12中から引き上げられる。
したがって、上記薬液処理装置2を用いることによっ
て、上記第1実施例の薬液処理を行うことができる。
【0026】尚、上記薬液処理装置2のウエハホルダ2
2は、図3に示すような構成のものでも良い。ここで示
すウエハホルダ22は、複数のウエハ13を収納するウ
エハカセット部22aと、このウエハカセット部22a
に収納されたウエハ13の周辺部分を上方から押さえ込
む蓋状のロック部22bとで構成されている。ロック部
22bは、ウエハカセット部22aに対して開閉自在で
あり、閉じた状態では上記支持部材21が回動してもウ
エハ13の重みによって開くことのないように構成され
ている。このウエハホルダ22へのウエハ13の出し入
れは、ロック部22bがウエハカセット部22aの上方
に位置するように支持部材21が回動した位置で行うこ
ととする。上記のようなウエハホルダ22を用いた場合
には、複数のウエハ13を上記第1実施例のように薬液
処理することが可能になる。
【0027】次に、第2実施例の薬液処理方法を図4に
基づいて説明する。先ず、図4(1)に示す第1工程で
は、第1回目の薬液処理を行う。ここでは、上記第1実
施例と同様に液槽11内に薬液12を溜める。次いで、
第1実施例の第1工程と同様の第1の状態に保ったウエ
ハ13を、薬液12に対して所定の下降速度で下降させ
る。そして、処理面13a内でオリフラ13bと対する
端部に位置する点A,処理面13の中央に位置する点
B,オリフラ13b付近の点Cの順に各点が薬液12と
接触するように、ウエハ13を薬液12中に浸漬する。
次いで、例えば所定の処理時間の半分の時間が経過した
後、ウエハ13を上記第1の状態に保ったまま薬液12
中から上昇させる。そして、処理面13a内における点
C,点B,点Aの順に薬液12中から引き出す。この
際、ウエハ13の上昇速度は、上記下降速度と同じ速度
に設定する。
【0028】次の第2工程では、第2回目の薬液処理を
行う。ここでは、先ず図4(2)に示すように、薬液1
2中から引き上げたウエハ13を、処理面13a内の各
点A,B,Cの配置状態の上下関係が上記第1の状態か
ら反転した第2の状態になるように回転させる。
【0029】その後、図4(3)に示すように、第2の
状態に保ったウエハ13を上記第1工程での下降速度と
同じ速度で下降させる。そして、上記第1工程とは逆
に、点C,点B,点Aの順に各点が薬液12と接触する
ように、ウエハ13を薬液12中に浸漬して第2回目の
処理を行う。次いで、所定の処理時間の残りの時間が経
過した後、ウエハ13を上記第2の状態に保ったまま薬
液12中から上昇させる。そして、処理面13a内にお
ける点A,点B,点Cの順に薬液12中から引き出す。
この際、ウエハ13の上昇速度は、上記下降速度と同じ
速度に設定する。
【0030】上記第2実施例の薬液処理方法では、処理
面13a内の各点A,B,Cの薬液との接触時間は、1
回目の薬液処理の際には点A,点B,点Cの順に長く、
2回目の薬液処理の際には逆になる。また、1回目と2
回目の薬液処理の際のウエハの下降速度と上昇速度と
は、同じ速度に設定されている。このため、1回目と2
回目との薬液処理を合わせると、処理面13a内の各点
A,B,Cの薬液12への浸漬時間は均一に保たれる。
したがって、薬液12への浸漬時間が処理面13a内で
均一化される。
【0031】第3実施例の薬液処理方法を図5に基づい
て説明する。先ず、第1工程では、図5(1)に示すよ
うに、上記各実施例と同様に液槽11内に薬液12を溜
める。次いで、液槽11内に溜められた薬液12の液面
12aに対してウエハ13の処理面13aを斜めに傾け
た状態にする。この際、処理面13aは、液面12aと
対向する状態かまたはその逆にする。ここでは、液面1
2aに対して処理面13aを対向させて配置する。そし
て、上記の状態を保ったウエハ13を薬液12に対して
下降させ、図5(2)に示すように、薬液12中にウエ
ハ13を浸漬する。
【0032】次に、図5(3)に示す第2工程では、所
定の処理時間が経過した後、薬液12の液面12aに対
してウエハ13の処理面13aを斜めに傾けた状態で、
ウエハ13を上昇させる。そして、薬液12中からウエ
ハ13を引き上げる。
【0033】上記第3実施例の薬液処理方法では、上記
第1実施例で示したような薬液12の液面12aに対し
てウエハ13の処理面13aを垂直にした状態でウエハ
13を下降及び上昇させて薬液処理を行った場合より
も、ウエハ13の一部分が薬液12に接触しはじめてか
らウエハ13全体が薬液12中に浸漬されるまでの時間
が短縮される。このため、処理面13a内での薬液12
との接触時間の時間差が減少する。したがって、処理面
13a内における薬液12との接触時間のばらつきが小
さく抑えられる。
【0034】次に、第4実施例の薬液処理方法を図6に
基づいて説明する。第1工程では、先ず図6(1)に示
すように、上記各実施例と同様に液槽11内に薬液12
を溜め、薬液12を液槽11内で循環させておく。次い
で、液槽11内に溜められた薬液12の液面12aに対
してウエハ13の処理面13aを対向する状態に配置す
る。そして、液面12aに対して処理面13aを平行ま
たは斜めに保つ。ここでは、液面12aと処理面13a
とを平行にする。次に、上記の状態を保ったウエハ13
を薬液12に対して下降させ、図6(2)に示すよう
に、薬液12中にウエハ13を浸漬する。
【0035】その後、図6(3)に示す第2工程では、
所定の処理時間が経過した後、ウエハ13を上記第1工
程と同様に保って上昇させる。そして、薬液12中から
ウエハ13を引き上げる。
【0036】上記第4実施例の薬液処理方法では、循環
させた薬液12に対してウエハ13を下降及び上昇させ
ているため、ウエハ13の処理面13aには常に新たな
薬液が供給され、上記第3実施例と比較して処理面13
aと薬液12との接触がスムーズに行われる。このた
め、ウエハ13の処理面13aを薬液12の液面12a
と平行に保った状態でウエハ13を下降させた場合に、
処理面13aと液面12aとの間に気泡が入り込むこと
が防止される。この場合、処理面13a内の各点は同時
に液面12aと接触するため、処理面13a内における
処理面13aと薬液12との接触時間の時間差がなくな
る。したがって、薬液12との接触時間を処理面13a
内で均一にすることが可能になる。
【0037】第5実施例の薬液処理方法を図7に基づい
て説明する。先ず、第1工程では、図7(1)に示すよ
うに、平面に吹き上げ高さが達する状態で薬液12をシ
ャワー状に吹き上げる。次いで、平面状の吹き上げ面1
2bに対して、ウエハ13の処理面13aを平行に対向
させた第1の状態にウエハ13を保つ。次いで、ウエハ
13を第1の状態に保ちながら下降させ、図7(2)に
示すように、薬液12に処理面13aを接触させる。
【0038】次に、図7(3)に示す第2工程では、薬
液12に処理面13aを接触させてから所定の処理時間
が経過した後、ウエハ13を上記第1の状態に保ちなが
ら上昇させる。そして、薬液12からウエハ13を引き
上げる。
【0039】上記第5実施例の薬液処理方法では、上記
第4実施例と同様に、ウエハ13の処理面13aには常
に新たな薬液が供給されるため、上記第3実施例と比較
して処理面13aと薬液12との接触がスムーズに行わ
れる。また、ウエハ13の処理面13aと薬液12の液
面12aとは対向する状態で平行に保たれているため、
処理面13a内の各点は同時に薬液12と接触する。こ
のため、処理面13a内での処理面13aと薬液12と
の接触時間の時間差がなくなる。したがって、上記第4
実施例と同様に薬液12との接触時間が処理面13a内
で均一になる。
【0040】第6実施例の薬液処理方法を図8に基づい
て説明する。先ず、図8(1)に示す第1工程では、液
槽11内に溜められた純水71中にウエハ13を浸漬す
る。ここでは、ウエハ13を収納した液槽11内に純水
71を供給することによって、純水71中にウエハ13
を浸漬しても良い。
【0041】次に、図8(2)に示す第2工程では、液
槽11内の純水71を攪拌した状態で、液槽11内に薬
液72を添加する。これによって、液槽11内の純水7
1を所定濃度の薬液12にする。この際、純水71中へ
の薬液72の添加は、徐々に少量ずつ行う。
【0042】その後、図8(3)に示す第3工程では、
所定の処理時間が経過した後、液槽11内に純水73を
添加し、液槽11内の薬液12を純水73に置換する。
【0043】次いで、図8(4)に示す第4工程では、
上記純水73中からウエハ13を引き上げる。
【0044】上記第6実施例の薬液処理方法では、ウエ
ハ13の薬液処理は当該ウエハ13が純水71に浸漬さ
れた後に開始される。そして、ウエハ13の薬液処理が
終了した後にウエハ13が純水中73から引き上げられ
る。このため、ウエハ13の下降及び上昇動作に伴って
生じるウエハ13の処理面13a内における薬液12へ
の浸漬時間のばらつきが防止される。また、攪拌された
純水71内へは徐々に少量ずつ薬液72が添加されるこ
とから、添加された薬液72は短時間で液槽11内に拡
散され、かつ液槽11内での薬液濃度の変化量が低く抑
えられる。したがって、処理面13a内における処理効
果が均一化される。
【0045】第7実施例の薬液処理方法を図9に基づい
て説明する。第7実施例の薬液処理方法は、上記第6実
施例の薬液処理方法の第2工程で、純水中に薬液を添加
する場合に、図9(2)に示すように、液槽11内の複
数の位置から薬液72を供給する方法である。
【0046】上記第2工程以外の、図9(1)に示す第
1工程,図9(3)に示す第3工程及び図9(4)に示
す第4工程は、上記第6実施例と同様に行う。
【0047】上記第7実施例の薬液処理方法では、液槽
11内の複数の位置から薬液72を添加することによっ
て、上記第6実施例よりもさらに短時間で薬液72が液
槽11内に拡散される。したがって、上記第6実施例よ
りもさらに処理面13a内での薬液処理効果のばらつき
を抑えることが可能になる。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1の薬
液処理方法によれば、液面に対して処理面をほぼ垂直に
配置したウエハを薬液中に出し入れする際、ウエハの上
下を反転させて薬液中に早く浸漬したウエハ部分から順
に薬液中から引き上げることによって、薬液への浸漬時
間を処理面内で均一化することが可能になる。したがっ
て、ウエハ面内で均一な処理効果を得ることができる。
【0049】また、第2の薬液処理方法によれば、第1
の状態に保って1回目の薬液処理を行ったウエハを上記
第1の状態と上下が反転する第2の状態に保って2回目
の薬液処理を行うことで、1回目の薬液処理の際に浸漬
時間が長いウエハ部分から順に、2回目の薬液処理の際
には浸漬時間を短くすることによって、薬液への浸漬時
間を処理面内で均一化することが可能になる。したがっ
て、上記第1の方法と同様にウエハ面内で均一な処理効
果を得ることができる。
【0050】そして、第3の薬液処理方法によれば、薬
液の液面に対してウエハの処理面を平行または斜めに傾
けた状態で当該ウエハを下降及び上昇させることで、ウ
エハの一部分が薬液に接触しはじめてからウエハ全体が
当該薬液と接触し終わるまでの時間を短縮することによ
って、処理面内における処理面と薬液との接触時間の時
間差を減少させることができる。したがって、ウエハ面
内において処理効果のばらつきを抑えることが可能にな
る。
【0051】さらに、第4の薬液処理方法によれば、ウ
エハを浸漬した純水中に薬液を添加し、上記薬液を当該
純水に置換した後に当該純水中から上記ウエハを引き上
げることで、ウエハの下降及び上昇動作に伴う薬液と処
理面との接触時間の処理面内におけるばらつきを防止す
ることが可能になる。また、薬液を添加する際には純水
を攪拌することから、液槽内における薬液の濃度差を低
く抑えることが可能になる。そして、液槽内への薬液の
添加を少量ずつ行うことによって液槽内での薬液濃度の
変化量が低く抑え、液槽内の複数の位置から薬液を添加
することで薬液をさらに短時間で液槽内に拡散させるこ
とができる。したがって、ウエハの処理面内において処
理効果のばらつきを抑えることが可能になる。
【0052】また、本発明の薬液処理装置によれば、液
槽内に溜められた薬液の液面に対して垂直に回動すると
共にウエハ保持部が設けられた先端が上記薬液内を移動
する支持部材を備えることによって、ウエハを薬液内に
挿入する場合と搬出する場合とで当該ウエハの上下を反
転させることが可能になる。したがって、処理面内で均
一な処理効果を得ることができる上記第1の薬液処理方
法を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例を示す工程図である。
【図2】第1実施例を行う薬液処理装置の構成図であ
る。
【図3】ウエハホルダの構成図である。
【図4】第2実施例を示す工程図である。
【図5】第3実施例を示す工程図である。
【図6】第4実施例を示す工程図である。
【図7】第5実施例を示す工程図である。
【図8】第6実施例を示す工程図である。
【図9】第7実施例を示す工程図である。
【符号の説明】
2 薬液処理装置 11 液槽 12 薬液 12a 液面 12b 吹き上げ面 13 ウエハ 13a 処理面 21 支持部材 22 ウエハホルダ 71,73 純水 72 薬液

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液槽内に溜められた薬液の液面に対して
    ウエハの処理面がほぼ垂直をなす第1の状態で当該ウエ
    ハを下降させ、当該薬液中に前記ウエハを浸漬する第1
    工程と、 所定時間が経過した後、前記ウエハの上下が前記第1の
    状態と反転する第2の状態で当該ウエハを上昇させ、当
    該ウエハを前記薬液中から引き上げる第2工程とからな
    ることを特徴とする薬液処理方法。
  2. 【請求項2】 液槽内に溜められた薬液の液面に対して
    ウエハの処理面がほぼ垂直をなす第1の状態で、当該ウ
    エハを下降させて当該薬液中に前記ウエハを浸漬し所定
    時間が経過した後前記ウエハを上昇させて前記薬液中か
    ら当該ウエハを引き上げる第1工程と、 前記ウエハの上下が前記第1の状態と反転する第2の状
    態で、当該ウエハを下降させて前記薬液中に当該ウエハ
    を浸漬し所定時間が経過した後前記ウエハを上昇させて
    前記薬液中から当該ウエハを引き上げる第2工程とから
    なることを特徴とする薬液処理方法。
  3. 【請求項3】 液槽内に溜められた薬液の液面に対して
    ウエハの処理面を斜めに傾けた状態で当該ウエハを下降
    させ、前記薬液中に前記ウエハを浸漬する第1工程と、 所定時間が経過した後、前記薬液の液面に対して前記ウ
    エハの処理面を斜めに傾けた状態で当該ウエハを上昇さ
    せ、前記薬液中から前記ウエハを引き上げる第2工程と
    からなることを特徴とする薬液処理方法。
  4. 【請求項4】 液槽内で循環させた薬液の液面とウエハ
    の処理面とを対向させかつ前記液面に対して前記処理面
    を平行な状態または斜めに傾けた状態で当該ウエハを下
    降させ、前記薬液中に前記ウエハを浸漬する第1工程
    と、 所定時間が経過した後、前記薬液の液面に対して前記ウ
    エハの処理面を平行な状態または斜めに傾けた状態で当
    該ウエハを上昇させ、前記薬液中から前記ウエハを引き
    上げる第2工程とからなることを特徴とする薬液処理方
    法。
  5. 【請求項5】 平面に吹き上げ高さが達する状態でシャ
    ワー状に吹き上げる薬液の吹き上げ面に対して、ウエハ
    の処理面を平行に対向させる第1の状態に保ちながら当
    該ウエハを下降させ、前記薬液に前記ウエハの処理面を
    接触させる第1工程と、 所定時間が経過した後、前記ウエハを前記第1の状態に
    保ちながら上昇させ、前記薬液から前記ウエハを引き上
    げる第2工程とからなることを特徴とする薬液処理方
    法。
  6. 【請求項6】 液槽内の純水中にウエハを浸漬する第1
    工程と、 前記純水を攪拌しながら前記液槽内に薬液を添加する第
    2工程と、 所定時間が経過した後、前記液槽内に純水をオーバーフ
    ロー状態で加えて当該液槽中の前記薬液を当該純水に置
    換する第3工程と、 前記純水中から前記ウエハを引き上げる第4工程とから
    なることを特徴とする薬液処理方法。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の薬液処理方法において、 前記液槽内への薬液の添加は、徐々に少量ずつ行われる
    ことを特徴とする薬液処理方法。
  8. 【請求項8】 請求項6または7記載の薬液処理方法に
    おいて、 前記液槽内への薬液の添加は、当該液槽内の複数の位置
    から行われることを特徴とする薬液処理方法。
  9. 【請求項9】 薬液を溜める液槽と、 前記液槽内の前記薬液の液面に対してほぼ垂直をなす面
    内を回動すると共に先端が当該薬液内を移動する支持部
    材と、 前記支持部材の先端に設けられるウエハホルダとを備え
    たことを特徴とする薬液処理装置。
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