DE19832330A1

DE19832330A1 - Testsockel

Info

Publication number: DE19832330A1
Application number: DE19832330A
Authority: DE
Inventors: Mark A Swart; Gordon A Vinther; Charles J Johnston; Steve B Sargent
Original assignee: Delaware Capital Formation Inc; Capital Formation Inc
Current assignee: Delaware Capital Formation Inc; Capital Formation Inc
Priority date: 1998-03-20
Filing date: 1998-07-17
Publication date: 1999-09-30
Also published as: KR19990076475A; JP3015007B2; JPH11297444A; TW385576B; US6084421A

Abstract

Ein Testsockel für das Gehäuse einer integrierten Schaltung weist ein oberes Gehäuse und ein unteres Gehäuse auf, die an der oberen bzw. unteren Oberfläche einer Lastplatine befestigt sind. Das obere Gehäuse weist einen Hohlraum zur Aufnahme des Gehäuses der integrierten Schaltung auf und ist mit einem Loch in der Basis des oberen Gehäuses versehen, damit mehrere massive Sockelstößel in Kontakt mit Testorten auf dem Gehäuse der integrierten Schaltung gelangen können. Die Sockelstößel sind innerhalb mehrerer Kanäle angeordnet, die in dem unteren Gehäuse vorgesehen sind, und erstrecken sich durch mehrere Löcher in der Lastplatine so, daß sie in Kontakt mit den Testorten gelangen. Mehrere Federn sind in den Kanälen des unteren Gehäuses unterhalb der Sockelstößel angeordnet, um eine Federkraft zur Verfügung zu stellen, die dazu dient, die Sockelstößel nach oben zum Gehäuse der integrierten Schaltung hin vorzuspannen. Eine Kugel ist zwischen der Feder und einer Schrägkante des Stößels angeordnet, um die Vorspannung des Stößels zu unterstützen. Elektrisch leitfähige, zylindrische Ösen oder plattierte Durchgangslöcher sind innerhalb der Löcher in der Lastplatine angeordnet, um die Bewegung der Sockelstößel zu führen, und die Testsignale von den Sockelstößeln an die Lastplatine zu übertragen.

Description

Die vorliegende Anmeldung ist eine Teilfortsetzung der Patentanmeldung mit der Seriennummer 08/839,723, die am 15. April 1997 eingereicht wurde.

Die Erfindung betrifft Testsockel für Gehäuse integrierter Schaltungen, beispielsweise ein Kugelgitterarraygehäuse, bei welchem der Sockel ein oberes Gehäuse und ein unteres Gehäuse aufweist, die um eine Lastplatine herum angeordnet sind, und mehrere massive Kontaktstifte, die sich durch die Lastplatine, von dem unteren Gehäuse ausgehend, erstrecken und in Kontakt mit dem Gehäuse der integrierten Schaltung durch ein federelastisches Element in dem unteren Gehäuse gedrückt werden, damit unabhängige Federkräfte auf die massiven Kontaktstifte des Testsockels ausgeübt werden.

Der Test integrierter Schaltungen, die in einem Kugelgitterarraygehäuse (BGA-Gehäuse) angeordnet sind, wird unter Verwendung einer üblicherweise auf diesem Gebiet als Testsockel bezeichneten Vorrichtung durchgeführt. BGA- Testsockel weisen typischerweise ein Gehäuse auf, das auf einer Lastplatine angebracht ist, die als Schnittstelle zur Testelektronik dient. Die Lastplatine ist in allgemeinen eine Schaltungsplatine zur Übertragung von Testsignalen von der integrierten Schaltung in dem BGA an die Testelektronik.

Vorherige Verfahren zur Anbringung des Testsockels und der Lastplatine umfassen Durchgangslochverfahren und Oberflächenmontageverfahren. Bei der Oberflächenmontageverbindung weist der Testsockel Testanschlußflächen auf, die in Kontakt mit den Lotkugeln auf dem Boden des BGA gelangen, wenn der BGA gegen die Testanschlußflächen gedrückt wird, um die Testsignale an die Lastplatine zu übertragen. Eine Schwierigkeit, die bei der Oberflächenmontagetestsockelanordnung auftritt besteht darin, daß die Lotkugeln am Boden des BGA eine unterschiedliche Höhe aufweisen können, und daß ein ordnungsgemäßer elektrischer Kontakt zwischen jeder Lotkugel und der Testanschlußfläche nicht immer sichergestellt werden kann. Ein zweites Problem, das bei der Oberflächenmontage auftritt, besteht darin, daß die gesamte Sockelanordnung ausgetauscht werden muß, sobald die Testanschlußflächen durch die Lotkugeln verschmutzt wurden.

Durchgangslochverfahren zur Verbindung des Sockels mit der Lastplatine umfassen Löcher, die durch die Lastplatine gebohrt sind, damit federbelastete Kontaktstifte hindurchgehen können, welche in Kontakt mit den Lotkugeln auf dem BGA gelangen, und die Testsignale an die Lastplatine mit Hilfe des Kontakts zwischen den Teststiften und den Löchern in der Lastplatine übertragen. Eine Schwierigkeit, die bei der Durchgangslochsockelanordnung auftritt, besteht darin, daß die Teststifte, die durch die Lastplatine verlaufen, leicht verbogen oder beschädigt werden können, was die Testergebnisse negativ beeinflußt. Um diese Schwierigkeit zu vermeiden kann eine Aufnahme zwischen dem Sockel und :der Lastplatine vorgesehen werden, um die Teststifte zu schützen, die sich durch die Lastplatine erstrecken. Wird eine Aufnahme vorgesehen, so muß die Länge der Teststifte in dem Sockel erhöht werden, was bei dem Test integrierter Schaltungen, die mit hoher Geschwindigkeit arbeiten, zu Problemen führt. Um diese Schwierigkeit anzugehen wurden Federsonden eingesetzt, die eine kurze Bewegungsentfernung aufweisen, jedoch ist bei Federn mit einer kurzen Bewegungsentfernung die Lebensdauer der Feder gering, so daß die Federn häufig ausgetauscht werden müssen. Weiterhin kann die Verwendung von Federsonden in dem Sockel ein Impedanzproblem bei der Übertragung des Testsignals von dem BGA zur Lastplatine hervorrufen.

Daher besteht ein Bedürfnis nach einem neuen Testsockel für BGA-Gehäuse, welcher die bei Testsockeln nach dem Stand der Technik auftretenden Probleme verringert.

Die vorliegende Erfindung stellt einen neu konstruierten Testsockel zur Verfügung, und insbesondere einen Testsockel für integriert Kugelgitterarrayschaltungsgehäuse, welcher die Probleme verringert, die bei Testsockelanordnungen nach dem Stand der Technik auftraten. Obwohl bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung der Testsockel so ausgelegt ist, daß er bei BGA-Gehäusen eingesetzt wird, läßt sich der Sockel auch zum Einsatz mit anderen Gehäusen integrierter Schaltungen einsetzen, beispielsweise bei QFP-Gehäusen. Kurz gefaßt weist der Testsockel gemäß der vorliegenden Erfindung ein oberes Gehäuse und ein unteres Gehäuse auf, die an der oberen bzw. unteren Oberfläche einer Lastplatine angebracht sind. Die Lastplatine ist eine kleine Schaltungsplatine, die als elektrische Schnittstelle zur Testelektronik eines externen Testgerätes dient. Das obere Gehäuse weist einen Hohlraum zur Aufnahme des BGA auf, und ist mit einem Loch in der unteren Oberfläche versehen, damit mehrere massive Sockelstößel die Lotkugeln am Boden des BGA berühren können. Die Sockelstößel sind innerhalb mehrere Kanäle angeordnet, die in Form von Zeilen und Spalten in dem unteren Gehäuse angeordnet sind, und erstrecken sich durch mehrere Löcher, ebenfalls in einer Anordnung aus Zeilen und Spalten, durch die Lastplatine hindurch, so daß sie die Lotkugeln berühren.

Eine elastomere Membran ist zwischen der oberen Oberfläche des unteren Gehäuses und der unteren Oberfläche der Lastplatine vorgesehen, und erstreckt sich über die Kanäle in dem unteren Gehäuse und in diese hinein, unterhalb der Stößel, um eine Federkraft zur Verfügung zu stellen, damit die Sockelstößel nach oben in Richtung auf den BGA vorgespannt werden. Die flexible Membran sorgt für einen unabhängigen, federbelasteten Druckkontakt für die beweglichen Sockelstößel, die in dem unteren Gehäuse angebracht sind. Alternativ, und bevorzugt, werden Federn im unteren Gehäuse unterhalb der Stößel angeordnet, um die Stößel vorzuspannen. Eine nicht-leitende Kugel ist zwischen dem Stößel und der Feder angeordnet, um Störungen bei Hochfrequenzeinsätzen zu verhindern. Elektrisch leitfähige, zylindrische Ösen sind innerhalb der Löcher in der Lastplatine angeordnet, um die Bewegung der Sockelstößel zu führen, und die Testsignale von dem Sockelstößel an die Lastplatine zu übertragen. Alternativ hierzu werden die Durchgangslöcher in der Lastplatine für die Testsignalübertragung plattiert.

Der Sockelstößel gemäß der vorliegenden Erfindung schaltet die Schwierigkeiten aus, die bei bisherigen BGA- Testsockelanordnungen auftraten, und zwar durch Ausschaltung einer großen Leitungslänge, und von Problemen bezüglich der Induktivität der Feder, da nämlich gemäß der Erfindung ein massiver Sockelstößel vorgesehen wird, der durch eine elastomere Membran vorgespannt wird. Diese Anordnung sorgt darüber hinaus für eine große Bewegungsentfernung des Stößels, um eine mangelnde Ebenheit von Lotkugeln auf dem BGA auszugleichen. Weiterhin erhöht die Verwendung einer elastomeren Membran die Nutzlebensdauer des Testsockels, verglichen mit mechanischen Federn.

Darüber hinaus sorgt die Testsockelanordnung gemäß der vorliegenden Erfindung für eine einfache und kostengünstige Reparatur des Testsockels, da die Stößel leicht ausgetauscht werden können, wenn sie durch die Lotkugeln verschmutzt wurden. Die Sockelstößel werden einfach dadurch ersetzt, daß das untere Gehäuse und die elastische Membran entfernt werden, so daß dann die Stößel aus dem Testsockel frei herunterfallen können. Eine mit neuen Stößeln versehene Nachfüllkassette wird dann über der unteren Oberfläche der Lastplatine angeordnet, die dann umgedreht werden kann, um den Testsockel mit neuen Stößeln aufzufüllen. Die elastische Membran und das untere Gehäuse können dann erneut an der Lastplatine für weitere Versuche angebracht werden. Diese Konstruktion sorgt für eine einfache Reparatur durch einfachen Austausch der Stößel, statt die gesamte Sockelanordnung auszutauschen.

Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert, aus welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Es zeigt:

Fig. 1 eine Querschnittsvorderansicht des BGA- Testsockels gemäß der vorliegenden Erfindung im vorgespannten Zustand;

Fig. 2 eine Querschnittsvorderansicht des Testsockels von Fig. 1 im nicht-vorgespannten Zustand;

Fig. 3 eine vergrößerte Detailansicht zur Erläuterung der Sockelstößelanordnung;

Fig. 4 eine Perspektivansicht einer Nachfüllkassette für den Testsockel;

Fig. 5 eine Querschnittsvorderansicht einer alternativen Testsockelanordnung; und

Fig. 6 eine Teilquerschnittsansicht einer alternativen Ausbildung zur Vorspannung des Stößels.

Ein Testsockel 10 für das Gehäuse 12 einer integrierten Kugelgitterarrayschaltung ist in den Fig. 1 und 2 dargestellt. Obwohl die Erfindung im Zusammenhang mit dem Einsatz bei einem BGA-Gehäuse beschrieben und erläutert wird, kann die neue Konstruktion des Testsockels ebenso bei dem Test anderer Gehäuse integrierter Schaltungen eingesetzt werden. Zur Vereinfachung der Beschreibung beschränkt sich der Hauptteil der Beschreibung auf BGA-Gehäuse. Der Testsockel 10 gemäß der vorliegenden Erfindung weist ein oberes Gehäuse 14 und ein unteres Gehäuse 16 auf, die an der oberen Oberfläche 18 bzw. der unteren Oberfläche 20 einer Lastplatine 22 befestigt sind. Das obere Gehäuse 14 und das untere Gehäuse 16 bestehen vorzugsweise aus Kunststoff, und sind fest mit der Lastplatine durch Schrauben 24 verbunden, die durch das Gehäuse hindurch und in die Lastplatine hineingehen. Die Lastplatine ist eine Schaltungsplatine, die als elektrische Schnittstelle zur Testelektronik eines externen Testgerätes (nicht gezeigt) dient.

Das obere Gehäuse weist einen Hohlraum 26 im Innern zur Aufnahme des Kugelgitterarraygehäuses 12 auf. Das Kugelgitterarraygehäuse weist eine integrierte Schaltung 28 auf, die auf einem Substrat 30 angeordnet ist, und mit mehreren Lotkugeln 32 versehen ist, die auf der unteren Oberfläche des Substrats gegenüberliegend der integrierten Schaltung angeordnet sind, und in elektrischer Verbindung mit der integrierten Schaltung über das Substrat stehen. Die Lotkugeln 32 dienen als Testanschlußflächen zur Untersuchung der integrierten Schaltung. Das Substrat 30 liegt auf einem Flansch 34 an der Basis des Hohlraums 26 auf, und die Lotkugeln 32 erstrecken sich durch ein Loch 36, das durch den Flansch 34 festgelegt wird, oberhalb der oberen Oberfläche 18 der Lastplatine 22.

Das Loch 36 in der Basis des oberen Gehäuses sorgt darüber hinaus für die Bereitstellung einer Öffnung, damit mehrere massive Sockelstößel 38 in Kontakt mit den Lotkugeln 32 gelangen können. Die Sockelstößel sind innerhalb mehrerer Kanäle 40 angeordnet, die in Form von Zeilen und Spalten in dem unteren Gehäuse 16 angeordnet sind, und erstrecken sich durch mehrere Löcher 41 durch die Lastplatinen hindurch, so daß sie in Kontakt mit den Lotkugeln 32 gelangen, wie am deutlichsten aus Fig. 3 hervorgeht. Die Löcher 41 sind ebenfalls in Form von Zeilen und Spalten entsprechend dem Muster der Lotkugeln 32 auf dem BGA-Gehäuse angeordnet. Der massive Sockelstößel 38 weist einen vergrößerten Kopfabschnitt 42 und einen länglichen Armabschnitt 44 mit geringerem Durchmesser auf. Der Armabschnitt verläuft durch das Loch 41 in der Lastplatine 22, wogegen der vergrößerte Kopfabschnitt 42 innerhalb des Kanals 40 in dem unteren Gehäuse 16 bleibt.

Eine elastomere Membran 46 ist zwischen der oberen Oberfläche 48 des unteren Gehäuses 16 und der unteren Oberfläche 20 der Lastplatine angeordnet, und verläuft über den Kanälen 40 und in diese hinein in dem unteren Gehäuse unterhalb des Kopfabschnitts 42 der Sockelstößel, um eine Federkraft zur Verfügung zu stellen, durch welche die Sockelstößel nach oben in Richtung auf den BGA gedrückt werden, so daß die abgewinkelte obere Oberfläche 50 des Stößelarms 44 einen ordnungsgemäßen elektrischen Kontakt mit der Lotkugel 32 herstellt. Die abgewinkelte Oberfläche 50 am Ende des Stößelarms ist so bearbeitet, daß sie einen Vorspannkontakt mit den Lotkugeln zur Verfügung stellt. Die flexible Membran 46 sorgt für einen unabhängigen, federbelasteten Druckkontakt für die beweglichen Sockelstößel, die in dem unteren Gehäuse angebracht sind. Elektrisch leitfähige, zylindrische Ösen 52 sind durch jedes Loch 41 in der Lastplatine 22 vorgesehen, um die Bewegung der Sockelstößelarme zu führen, und die von den Lotkugeln erzeugten Testsignale über die Sockelstößel in die Lastplatine zu übertragen. Die Ösen bestehen vorzugsweise aus einem elektrisch leitfähigen Material, beispielsweise Kupfer- Berillium oder Nickel-Silber. Durchgangslöcher 41 in der Lastplatine sind typischerweise plattiert, und die Öse weist einen Lotvorformring 53 auf, durch welchen die Öse an dem plattierten Durchgangsloch verlötet wird, um die Öse fest an der Lastplatine zu befestigen.

Die elastomere Membran 46 wird zwischen dem unteren Gehäuse und der Lastplatine durch die Schrauben 24 gehalten. Die elastomere Membran ist vorzugsweise als dünne flexible Platte aus einem ausdehnbaren Latexgummi ausgebildet, die in direktem Kontakt mit den Sockelstößelköpfen 42 steht. Obwohl die elastomere Membran vorzugsweise aus Latexgummi besteht, kann man sich auch andere Materialien überlegen, die dafür sorgen, daß die Membran eine Vorspannfederkraft auf die Sockelstößel ausübt. In ihrer normalen Lage ist die Membran gestreckt, so daß sie sich an die Form jedes Stößelkopfabschnitts anpaßt, und führt eine Axialkraft, die auf jeden Stößel in Richtung der Membran im Betrieb einwirkt, zu einer Streckung der Membran, und stellt eine Federkraft für die Enden der Stößel auf ähnliche Weise wie eine übliche Rückführfeder zur Verfügung. In Reaktion auf die Axialbewegung des Stößels kann sich die dünne, flexible Membran frei in die Kanäle 40 in dem unteren Gehäuse ausdehnen, so daß sich die Membran frei in den Leerraum jedes Kanals ausdehnen oder strecken kann. Die Axialkraft wird auf die Sockelstößel bei einer Ausführungsform, die in Fig. 1 gezeigt ist, durch einen Gehäusedeckel 54 ausgeübt, der schwenkbar mit dem oberen Gehäuse 14 verbunden und an dem oberen Gehäuse in einer geschlossenen Position durch eine (nicht gezeigte) Klemme befestigt ist. Der Deckel 54 weist einen vergrößerten Zentrumsabschnitt 56 auf, der solche Abmessungen aufweist, daß das BGA-Gehäuse nach unten gegen die Sockelstößel gedrückt wird, wodurch die elastische Membran gestreckt wird. Alternativ hierzu kann die Axialkraft auf das BGA-Gehäuse über einen Roboterarm 58 einwirken, der oberhalb des BGA-Gehäuses angeordnet ist, und sich in das obere Gehäuse über den Hohlraum 26 erstreckt, wie dies in Fig. 2 gezeigt ist. Bei dieser Anordnung ist kein Gehäusedeckel erforderlich, oder muß in einer geöffneten Position gehalten werden. Die Verwendung eines Roboterarms würde man bei einer automatischen Testanordnung vorsehen. Die elastische Membran in Fig. 2 ist in ihrer normalen Position gezeigt, bevor die Axialkraft auf das BGA-Gehäuse einwirkt.

Die Testsockelanordnung gemäß der vorliegenden Erfindung sorgt für eine einfache und kostengünstige Reparatur des Testsockels infolge der Fähigkeit, die Sockelstößel einfach auszutauschen, wenn sie durch die Lotkugeln 32 verschmutzt werden. Durch wiederholten Gebrauch kann die abgewinkelte Oberfläche 50 des Sockelstößels durch Zinn- oder Bleiablagerungen von den Lotkugeln verschmutzt werden. Die Reparatur kann einfach unter Verwendung einer Nachfüllkassette 60 durchgeführt werden, die in Fig. 4 gezeigt ist. Die Nachfüllkassette 60 ist vorzugsweise als Kunststoffblock ausgebildet, der mehrere Ausnehmungen 62 aufweist, die als Spalten und Zeilen ausgebildet sind, die sich in die Nachfüllkassette hinein erstrecken, um Austauschsockelstößel 64 aufzunehmen. Fig. 4 zeigt sechs Ersatzsockelstößel, die sich nach oben aus den Ausnehmungen 62 heraus erstrecken, zur Vereinfachung der Erläuterung. Es wird darauf hingewiesen, daß ein getrennter Sockelstößel 64 innerhalb jeder Ausnehmung 62 angeordnet wäre, und mit der oberen Oberfläche 66 der Nachfüllkassette fluchtet. Die Nachfüllkassette weist weiterhin Positionierungslöcher 68 auf, um die Nachfüllkassette während des Reparaturvorgangs auszurichten.

Um den Testsockel zu reparieren werden die verschmutzten Sockelstöße einfach dadurch ersetzt, daß das untere Gehäuse und die elastische Membran entfernt werden, so daß die verschmutzten Stöße frei von dem Testsockel herunterfallen können. Die Nachfüllkassette wird dann über der unteren Oberfläche der Lastplatine angebracht, und dann umgedreht, um den Testsockel mit den neuen Stößeln nachzufüllen. Die elastische Membran und das untere Gehäuse werden dann wieder an der Lastplatine für weitere Versuche angebracht.

In Fig. 5 ist eine erste alternative Testsockelanordnung dargestellt. Der Testsockel 70 von Fig. 5 ist ähnlich wie der Testsockel gemäß Fig. 1 und 2 ausgebildet, mit Ausnahme der Tatsache, daß die federelastische Vorrichtung eine Feder 72 ist, die innerhalb Kanälen 40 in dem unteren Gehäuse 16 angeordnet ist. Bei dieser Ausführungsform liegt die obere Oberfläche 48 des unteren Gehäuses neben der unteren Oberfläche 20 der Lastplatine 22. Kanäle 40 in dem unteren Gehäuse sind Sacklöcher, die sich nicht durch das untere Gehäuse hindurch erstrecken, sondern an einem Bodenabschnitt 74 enden. Obwohl dieser Testsockel zum Testen von BGA-Gehäusen verwendet werden könnte, wird aus Fig. 5 deutlich, daß andere Gehäuse integrierter Schaltungen getestet werden können, die andere Arten von Testorten 76 aufweisen, die beispielsweise als Testanschlußflächen oder Testleitungen ausgebildet sein können.

Eine zweite alternative und bevorzugte Testsockelanordnung 80 ist in Fig. 6 gezeigt. Der Testsockel 80 ist im wesentlichen ähnlich aufgebaut wie der Sockel gemäß den Fig. 1, 2 und 5, und weist eine unterschiedliche Anordnung vom Vorspannen des Stößels 82 auf. Jeder Stößel wird durch eine Feder 84 vorgespannt, die innerhalb eines Lochs 86 angeordnet ist, das durch das untere Gehäuse 8 hindurch verläuft. Federn 84 sind innerhalb der Löcher 86 durch eine Haltekappe 90 festgehalten, die an der unteren Oberfläche 92 des unteren Gehäuses durch (nicht dargestellte) Schrauben befestigt ist. Die Haltekappe 90 deckt die Zeilen und Spalten der Löcher 86 in dem unteren Gehäuse ab.

Eine Kugel 94 ist zwischen dem Stößelkopf 96 und der Feder 84 angeordnet. Die Kugel drückt den Stößel gegen die plattierten Durchgangslöcher oder Ösen 98 in der Lastplatine 100 infolge der Berührung mit einer Schrägfläche 102 am Boden des Stößelkopfes 96. Die Kugeln können aus Metall bestehen, oder aus einem nicht-leitenden Material wie beispielsweise Keramik, für Hochfrequenzanwendungen, um Störungen mit dem Testsignal zu verhindern. Der Stößel weist ebenfalls ein abgeschrägtes Ende 104 auf, für die Berührung mit den Lotkugeln 106 der integrierten Schaltung 108. Abgeschrägte Enden 104 sorge für einen guten Kontakt mit den Testorten.

Obwohl die vorliegende Erfindung in Bezug auf drei ihrer Ausführungsformen geschildert und dargestellt wurde, wird darauf hingewiesen, daß sie hierauf nicht beschränkt ist, da sich Änderungen und Modifikationen vornehmen lassen, die vom Wesen und Umfang der vorliegenden Erfindung umfaßt werden, welche sich aus der Gesamtheit der vorliegenden Anmeldeunterlagen ergeben und von den beigefügten Patentansprüchen umfaßt sein sollen.

Claims

1. Testsockel für ein Gehäuse einer integrierten Schaltungen, welches mehrere Testorte aufweist, wobei vorgesehen sind:
ein oberes Gehäuse, das auf einer Schaltungsplatine angeordnet ist, die mit einem Hohlraum zur Aufnahme des Gehäuses der integrierten Schaltung versehen ist;
ein unteres Gehäuse, das unterhalb der Schaltungsplatine angeordnet ist, und mehrere Kanäle zur Aufnahme massiver Teststifte aufweist; und
eine federelastische Vorrichtung, die unterhalb der Schaltungsplatine angeordnet ist, um die Teststifte durch die Schaltungsplatine und in elektrischen Kontakt mit den Testorten auf dem Gehäuse der integrierten Schaltung zu drücken.

2. Testsockel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsplatine mehrere Löcher aufweist, wobei jedes Loch mit einer elektrisch leitfähigen Öse zum Führen des Ausbreitungsweges der Teststifte durch die Schaltungsplatine und zur Übertragung von Testsignalen von den Testorten des Gehäuses der integrierten Schaltung zur Schaltungsplatine versehen ist.

3. Testsockel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsplatine mehrere plattierte Durchgangslöcher zum Führen des Ausbreitungsweges der Teststifte durch die Schaltungsplatine und zur Übertragung von Testsignalen von den Testorten zur Schaltungsplatine aufweist.

4. Testsockel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die federelastische Vorrichtung eine Feder ist, die innerhalb jedes Kanals des unteren Gehäuses unterhalb der Teststifte angeordnet ist.

5. Testsockel nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch eine Kugel, die zwischen der Feder und den Teststiften angeordnet ist.

6. Testsockel nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Kugel aus einem nicht-leitenden Material besteht.

7. Testsockel nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Teststifte eine abgeschrägte Kante für den Kontakt mit der Kugel aufweisen.

8. Testvorrichtung für das Gehäuse einer integrierten Schaltung, welches mehrere Testorte aufweist, die auf einer unteren Oberfläche des Gehäuses der-integrierten Schaltung vorgesehen sind, mit:
einem oberen Gehäuse, das auf einer Schaltungsplatine angeordnet ist, die einen Hohlraum zur Aufnahme des Gehäuses der integrierten Schaltung aufweist, wobei der Hohlraum sich in eine Öffnung für die Testorte in der Basis des oberen Gehäuses erstreckt;
einem unteren Gehäuse, das unterhalb der Schaltungsplatine angeordnet ist, und mehrere Kanäle aufweist, wobei jeder Kanal einen massiven Teststift aufweist; und
einer Feder, die in jedem Kanal in dem unteren Gehäuse angeordnet ist, um eine Axialkraft auf die Teststifte für einen elektrischen Kontakt mit den Testorten aufzubringen.

9. Testvorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch eine Kugel, die zwischen jeder Feder und jedem Teststift in den Kanälen angeordnet ist.

10. Testvorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsplatine mehrere plattierte Durchgangslöcher zum Führen der Bewegung der Teststifte durch die Schaltungsplatine und zur Übertragung von Testsignalen von dem Gehäuse der integrierten Schaltung zur Schaltungsplatine aufweist.

11. Testvorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Kugel aus einem nicht-leitenden Material besteht.

12. Testvorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Teststifte einen abgeschrägten Rand für den Kontakt mit der Kugel aufweisen.

13. Testvorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch eine Haltekappe, die auf einer unteren Oberfläche des unteren Gehäuses neben den Kanälen angeordnet ist.

14. Testsockel für das Gehäuse einer integrierten Kugelgitterarrayschaltung mit:
einem oberen Gehäuse, das auf einer Lastplatine angeordnet ist, welche einen Hohlraum zur Aufnahme des Gehäuses der integrierten Kugelgitterarrayschaltung aufweist, wobei der Hohlraum sich in eine Öffnung in einer Basis des oberen Gehäuses erstreckt;
einem unteren Gehäuse, das unterhalb der Lastplatine angeordnet ist, und mehrere Kanäle zur Aufnahme eines massiven Teststiftes aufweist;
wobei die Teststifte zumindest ein abgeschrägtes Ende aufweisen;
einer Feder, die in jedem Kanal unterhalb der Teststifte angeordnet ist; und
einer Kugel, die in jedem Kanal zwischen der Feder und der abgeschrägten Kante des Teststiftes angeordnet ist, wobei die Feder und der Ball die Teststifte in elektrischen Kontakt mit dem Gehäuse der integrierten Kugelgitterarrayschaltung durch die Lastplatine drücken.

15. Testsockel nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Kugel aus einem nicht-leitenden Material besteht.

16. Testsockel nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsplatine mehrere plattierte Durchgangslöcher zum Führen der Bewegung der Teststifte durch die Schaltungsplatine und zur Übertragung von Testsignalen von dem Gehäuse der integrierten Kugelgitterarrayschaltung an die Schaltungsplatine aufweist.

17. Testsockel nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß eine Haltekappe vorgesehen ist, die an einer unteren Oberfläche des unteren Gehäuses neben den Kanälen angeordnet ist.

18. Testsockel nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß ein Gehäusedeckel vorgesehen ist, der über dem oberen Gehäuse angeordnet ist, um das Gehäuse der integrierten Kugelgitterarrayschaltung gegen die Teststifte zusammen zu drücken.