DE19710488C2 - Gegen 5V widerstandsfähige Eingangs-/Ausgangsschaltung - Google Patents
Gegen 5V widerstandsfähige Eingangs-/AusgangsschaltungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Eingangs-/Aus
gangsschaltung und insbesondere auf eine gegen 5 V widerstands
fähige bzw. diese aushaltende Eingangs-/Ausgangsschaltung, die
wirksam eine hohe Spannung aushalten oder handhaben kann, die
an einem Halbleiterchip liegt, der für eine niedrige Spannung
geeignet ist, welche auf einer minimalen MOS-Vorrichtung beruht.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, umfaßt ein herkömmlicher digitaler
Audioprozessor: ein Paar von Invertern 1, 2, um ein
Freigabesignal EN beziehungsweise ein Datensignal D zu invertieren, ein
NOR-Gatter 3 zum NOR-Verknüpfen der Ausgangswerte der Inverter
1, 2, ein NAND-Gatter 4 zum NAND-Verknüpfen des Ausgangswertes
des Inverters 2 und des Freigabesignales EN, ein paar von In
vertern 5, 6 zum Invertieren der Ausgangswerte des NOR-Gatters
3 und des NAND-Gatters 4 und zum Ausgeben eines PMOS-Gatter
signales PG und eines NMOS-Gattersignales NG, einen PMOS-Tran
sistor 7 und einen NMOS-Transistor 8, die in Reihe miteinander
zwischen einer Versorgungsspannung Vcc und einer Massespannung
Vss liegen und jeweils das PMOS-Gattersignal PC und das NMOS-
Gattersignal NG empfangen, die von den jeweiligen Invertern 5,
6 ausgegeben sind, und ein Paar von Invertern 9, 10, die ge
meinsam mit einem Ausgangsknoten N1 und einem Kontaktfeld PAD ver
bunden sind und sequentiell ein an dem Kontaktfeld PAD liegendes
Signal invertieren.
Fig. 2 veranschaulicht eine schematische Schnittdarstellung des
PMOS-Transistors 7 und des NMOS-Transistors 8 in der herkömm
lichen Eingangs-/Ausgangsschaltung von Fig. 1.
Der Betrieb der so aufgebauten herkömmlichen Eingangs-/Ausgangs
schaltung wird im folgenden anhand der zugehörigen Darstellungen
erläutert.
Wenn zunächst das Freigabesignal EN auf einem hohen Pegel ver
bleibt, d. h., wenn es in einem Ausgangsmodus ist, so wird das
Freigabesignal EN in dem Inverter 1 invertiert, während es an
einem Anschluß des NAND-Gatters 4 liegt, um dadurch einem An
schluß des NAND-Gatters 4 zugeführt zu sein. Wenn zu dieser
Zeit ein Datensignal von einem hohen Pegel angelegt wird, so
wird das Datensignal D in den Inverter 2 invertiert und an die
jeweiligen Anschlüsse des NOR-Gatters 3 und des NAND-Gatters 4
angelegt.
Das NOR-Gatter 3 und das NAND-Gatters 4 geben jeweils ein Sig
nal eines hohen Pegels ab, und die Inverter 5, 6 invertieren
die Signale mit hohem Pegel, um dadurch das PMOS-Gattersignal
PG und das NMOS-Gattersignal NG an den PMOS-Transistor 7 und
den NMOS-Transistor 8 auszugeben. Demgemäß wird der PMOS-Tran
sistor 7 eingeschaltet, und der NMOS-Transistor 8 wird ausge
schaltet, so daß das Kontaktfeld PAD auf einen hohen Pegel, der
identisch zu dem Datensignal D ist, gebracht wird.
Wenn sodann das Freigabesignal EN auf einem hohen Pegel ver
bleibt und das Datensignal D einen niedrigen Pegel beibehält,
so werden die Ausgangswerte des NOR-Gatters 3 und des NAND-
Gatters 4 auf einen niedrigen Pegel geschaltet, so daß das
PMOS-Gattersignal PG und das NMOS-Gattersignal NG, die jeweils
an dem PMOS-Transistor 7 und dem NMOS-Transistor 8 liegen, auf
einen niedrigen Pegel gebracht werden. Gegebenenfalls wird der
PMOS-Transistor 7 abgeschaltet, und der NMOS-Transistor 8 wird
eingeschaltet, so daß das Kontaktfeld einen niedrigen Pegel, der
identisch zu dem Datensignal D ist, annimmt.
Wenn dagegen das Freigabesignal EN auf einem niedrigen Pegel
verbleibt, d. h., wenn es in einem Eingabemodus ist, so liegt
das Freigabesignal EN an einem Eingangsanschluß des NAND-Gat
ters 4 und wird gleichzeitig im Inverter 1 invertiert, um da
durch an einem Anschluß des NAND-Gatters 4 zu liegen.
Daher liefert das NOR-Gatter 3 ein Signal eines niedrigen Pe
gels unabhängig von dem Pegel des Datensignales D, und das
NAND-Gatter 4 gibt ein Signal eines hohen Pegels unabhängig von
dem Pegel des Datensignales D ab, um dadurch den PMOS-Tran
sistor 7 und den NMOS-Transistor 8 abzuschalten.
Wenn zu dieser Zeit ein Signal eines hohen Pegels an dem Kontaktfeld
PAD liegt, hat ein von den Invertern 9, 10 ausgegebenes Ein
gangssignal Din einen zu dem Kontaktfeld PAD identischen Wert.
Das Kontaktfeld PAD in Fig. 2 ist mit mit einem P+-Aktivbereich, der
als Drain des PMOS-Transistors 7 dient, und einem N+-Aktivbe
reich, der als Drain des NMOS-Transistors 8 dient, verbunden,
so daß, wenn die Versorgungsspannung Vcc auf 3,3 V geht, der
Sourcebereich P+ des PMOS-Transistors 7 und die Substrat-N-
Wanne auf 3,3 V übergehen.
Wenn gleichzeitig das Kontaktfeld PAD mit 5 V beaufschlagt ist, so
geht der Drainbereich P+ des PMOS-Transistors 7 auf 5 V über,
und der Drainbereich P+ bildet eine N-Wanne, und eine PN-Diode
des PMOS-Transistors 7 und wird in Vorwärtsrichtung einge
schaltet.
Jedoch nimmt bei eingeschalteter PN-Diode die Substrat-N-Wanne
des PMOS-Transistors 7 5 V an und ist mit einer Versorgungs
spannung Vcc über einen N-Wannen-Pfropfen verbunden, so daß bei
Beaufschlagung des Kontaktfeld PAD mit 5 V die Versorgungsspannung
Vcc bei 3,3 V kurzgeschlossen wird, um so einen Fehlbetrieb des
inneren MOS-Transistors hervorzurufen. D. h., wenn die Spannung
am Kontaktfeld PAD höher als der Wert der Versorgungsspannung Vcc
wird, so tritt ein Problem auf.
Die DE-42 21 283 A1 zeigt einen CMOS-Ausgangstreiber mit
schwimmender Wanne, bei dem ein PMOS- und ein NMOS-Transistor
vorgesehen sind. Die Gates dieser Transistoren werden über
eine Logikschaltung von einem Datensignal und einem Frei
gabesignal angesteuert. Zwischen dem Ausgangsanschluß der
Schaltung und dem Gate des PMOS-Transistors ist eine gegen
5 Volt widerstandsfähige Schaltung angeordnet.
Aus der EP 0 614 279 A2 ist eine gegen 5 Volt widerstands
fähige Schaltung bekannt, die gegen Überspannungen auf einem
gemeinsamen Bus schützt, wobei die Überspannungen einen höhe
ren Spannungspegel als die interne Versorgungsspannung einer
Pufferschaltung aufweist.
Die EP 0 329 285 A2 zeigt einen Ausgangspuffer mit einer
Logikschaltung zur Ansteuerung der Ausgangstransistoren.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine gegen 5 V
widerstandsfähige Eingangs-/Ausgangsschaltung vorzusehen, um
einen elektrischen Kurzschluß zwischen einem Kontaktfeld und einer
Versorgungsspannung zu verhindern, indem die Spannung eines
Substrates eines PMOS-Transistors und eines Körpers zu einer
Kontaktfeldspannung ausgeglichen wird, wenn eine Kontaktfeldeingangsspan
nung höher als die Versorgungsspannung wird.
Zur Lösung dieser Aufgabe schafft die vorliegende Erfindung
eine gegen 5 V widerstandsfähige Eingangs-/Ausgangsschaltung mit
den Merkmalen des Patentanspruches 1.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung ergibt sich aus dem
Unteranspruch.
Die erfindungsgemäße Schaltung hält wirksam eine hohe Span
nung aus, die an einem Halbleiterchip liegt, der für eine nie
drige Spannung geeignet ist.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnungen näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein schematisches Blockdiagramm einer herkömmlichen
Eingangs-/Ausgangsschaltung,
Fig. 2 eine schematische Schnittdarstellung eines PMOS-Tran
sistors und eines NMOS-Transistors einer herkömmlichen
Eingangs-/Ausgangsschaltung,
Fig. 3 ein schematisches Blockdiagramm einer erfindungsgemäßen
Eingangs-/Ausgangsschaltung,
Fig. 4 ein Detailblockdiagramm einer gegen 5 V widerstandsfähi
gen Schaltung in Fig. 3,
Fig. 5 ein Detailblockdiagramm einer gegen 5 V widerstandsfähi
gen Schaltung in Fig. 4 gemäß einem anderen Ausführungs
beispiel der vorliegenden Erfindung,
Fig. 6 ein Detailblockdiagramm eines Modusdetektors in Fig. 5.
In Fig. 3, die eine gegen 5 V widerstandsfähige Eingangs-/Aus
gangsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung veranschaulicht,
ist der Inverter 5 der herkömmlichen Eingangs-/Ausgangsschaltung
von Fig. 1 durch eine gegen 5 V widerstandsfähige Schaltung 20 er
setzt, und der Ausgangswert PG der gegen 5 V widerstandsfähigen
Schaltung 20 liegt am Gate eines PMOS-Transistors 7 und ist
durch einen Körper bzw. "Bulk" mit dem Substrat des PMOS-Tran
sistors 7 verbunden. Zwischen dem PMOS-Transistor 7 und einem
NMOS-Transistor 8 liegt ein NMOS-Transistor 11, der immer durch
eine Versorgungsspannung eingeschaltet ist. Hier geben gleiche
Bezugszeichen entsprechende Teile der herkömmlichen Schaltung
an.
Wie in Fig. 4 veranschaulicht ist, umfaßt die gegen 5 V widerstands
fähige Schaltung 20: einen PMOS-Transistor 21, an dessen Source
eine Versorgungsspannung Vcc liegt, dessen Gate mit einem Kontaktfeld
PAD verbunden ist und dessen Drain und Substrat mit einem
Körper verbunden sind, einen PMOS-Transistor 22, dessen Source
mit dem Kontaktfeld PAD verbunden, an dessen Gate die Versorgungs
spannung Vcc liegt und dessen Drain und Substrat mit dem Körper
verbunden sind, einen PMOS-Transistor 23, dessen Source mit dem
Körper verbunden ist, dessen Gate an das NOR-Gatter 3 angeschlos
sen ist und dessen Drain an einem Ausgangsanschluß liegt, einen
NMOS-Transistor 24, dessen Drain mit dem Ausgangsanschluß ver
bunden und an dessen Gate die Versorgungsspannung Vcc liegt,
und einen NMOS-Transistor 25, dessen Drain mit Source des NMOS-
Transistors 24 verbunden ist, an dessen Gate ein Ausgangswert
NR des NOR-Gatters 3 liegt und dessen Source mit einer Masse
Spannung Vss beaufschlagt ist.
Der Betrieb der gegen 5 V widerstandsfähigen Eingangs-/Ausgangs
schaltung wird nunmehr näher beschrieben.
Wenn zunächst ein Freigabesignal En auf einem hohen Pegel ver
bleibt, d. h., wenn das Datensignal D auf einem hohen Pegel
bleibt und das Kontaktfeld PAD einen niedrigen Pegel beibehält, so
wird in einem Ausgangsmodus der Ausgangswert NR des NOR-Gatters 3
auf einen hohen Pegel gebracht.
Daher wird gemäß dem Ausgangssignal NR mit hohem Pegel des NOR-
Gatters 3 der PMOS-Transistor 23 der gegen 5 V widerstandsfähigen
Schaltung 20 abgeschaltet, und der NMOS-Transistor 25 wird ein
geschaltet, so daß ein Niederpegel-PMOS-Gattersignal PG über
den Ausgangsanschluß ausgegeben wird.
Wenn dagegen das Datensignal D auf einem niedrigen Pegel in
einem Ausgangsmodus bleibt, wird der Ausgangswert NR des NOR-
Gatters 3 auf einen niedrigen Pegel gebracht, um den PMOS-
Transistor 23 der gegen 5 V widerstandsfähigen Schaltung 20
einzuschalten, so daß das Hochpegel-PMOS-Gattersignal PG über
den PMOS-Transistor 21, 23 und den Ausgangsanschluß ausgegeben
wird.
D. h., wenn das Kontaktfeld PAD auf einen niedrigen Pegel gebracht
ist und die Eingangs-/Ausgangsspannung in einem Ausgangsmodus
verbleibt, so wird die gegen 5 V widerstandsfähige Schaltung 20
als ein Inverter betrieben.
Wenn inzwischen das Kontaktfeld PAD auf einem hohen Pegel gleich
wertig zu der Versorgungsspannung Vcc in dem Ausgangsmodus
bleibt, so liegt kein elektrischer Strom zwischen dem Substrat
des PMOS-Transistors 7 und dem Kontaktfeld PAD vor.
Wenn das Freigabesignal EN auf einem niedrigen Pegel ist, d. h.,
wenn es in einem Eingangsmodus ist, so liefert das NOR-Gatter 3
ein Niederpegel-Ausgangssignal NR unabhängig von dem Pegel des
Datensignales D, um dadurch den Ausgangswert PG der gegen 5 V
widerstandsfähigen Schaltung 20 auf einen hohen Pegel zu brin
gen.
Wenn zu dieser Zeit die Eingangsspannung des Kontaktfeldes PAD niedri
ger als die Versorgungsspannung Vcc wird, so wird der PMOS-Tran
sistor 22 abgeschaltet, und der PMOS-Transistor 21 wird einge
schaltet. Hier wird der PMOS-Transistor 23 durch das Niederpe
gel-Ausgangssignal NR des NOR-Gatters 3 eingeschaltet, so daß
der Ausgangswert PG der gegenüber 5 V widerstandsfähigen Schal
tung 20 eine Versorgungsspannung Vcc wird.
Wenn die Eingangsspannung des Kontaktfeldes PAD auf 5 V ist, was höher
als die Versorgungsspannung Vcc ist, und die Kontaktfeldspannung
höher als der Wert Vcc + Vtp wird, so wird der PMOS-Transistor
22 eingeschaltet und eine Kontaktfeldspannung liegt an dem Körper.
Hier bezeichnet Vtp eine Schwellenwertspannung des PMOS-Transis
tors 22.
Der eingeschaltete PMOS-Transistor 23 bewirkt, daß die Körper
spannung, die identisch zu der Kissenspannung ist, ein Ausgangs
signal PG der gegen 5 V widerstandsfähigen Schaltung 20 wird.
Gegebenenfalls wird der PMOS-Transistor 7 abgeschaltet, und zu
dieser Zeit wird das Substrat des PMOS-Transistors 7 mit dem
Körper verbunden, so daß kein elektrischer Strom zwischen dem
Substrat des PMOS-Transistors 7 und dem Kontaktfeld PAD fließt.
Wie in Fig. 5 gezeigt ist, umfaßt die gegen 5 V widerstandsfähige
Schaltung 20 gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung außerdem: einen Modusdetektor 30 zum Empfan
gen und Detektieren eines Freigabesignales EN, um einen erd
freien oder schwimmenden Zustand des Körpers zu überwinden,
wenn der PMOS-Transistor 21 in der gegen 5 V widerstandsfähigen
Schaltung 20 abgeschaltet wird, und einen PMOS-Transistor 26,
an dessen Source die Versorgungsspannung Vcc liegt, dessen Gate
mit dem Ausgangswert MD des Modusdetektors 30 beaufschlagt ist
und dessen Drain und Substrat mit dem Körper verbunden sind.
Der Modusdetektor 30 umfaßt, wie in Fig. 6 gezeigt ist: ein NAND-
Gatter 31 mit einem Kontaktfeld PAD als Eingang hiervon, ein NAND-
Gatter 32, das ein Freigabesignal EN über einen Anschluß hier
von und den Ausgangswert des NAND-Gatters 31 über einen anderen
Anschluß hiervon empfängt, einen Inverter 33 zum Invertieren
des Ausgangswertes des NAND-Gatters 32, einen PMOS-Transistor
34, an dessen Gate die Versorgungsspannung Vcc liegt, dessen
Source mit dem Kontaktfeld PAD verbunden ist, dessen Drain an den
Ausgangsanschluß angeschlossen ist und dessen Substrat mit dem
Körper verbunden ist, einen NMOS-Transistor 35, dessen Gate mit
der Versorgungsspannung Vcc beaufschlagt ist und dessen Drain
mit dem Ausgangsanschluß verbunden ist, und einen NMOS-Transis
tors 36, dessen Drain mit Source des NMOS-Transistors 35 ver
bunden ist, an dessen Gate der Ausgangswert des Inverters 33
liegt und dessen Source mit der Massespannung beaufschlagt ist.
Der Betrieb der so aufgebauten, gegen 5 V widerstandsfähigen
Eingangs-/Ausgangsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung
wird im folgenden beschrieben.
Wenn das Freigabesignal EN auf einem hohen Pegel verbleibt
d. h., wenn es in einem Ausgangsmodus ist, so ist das Kontaktfeld PAD
auf einem hohen Pegel gleichwertig zu der Versorgungsspannung
Vcc, während der PMOS-Transistor 51 ausgeschaltet wird, so daß
der Körper in einem erdfreien oder schwimmenden Zustand ver
bleibt.
Wenn zu dieser Zeit das Kontaktfeld PAD bis um die Versorgungsspan
nung Vcc reicht, so wird der PMOS-Transistor 34 des Modusde
tektors 30 ausgeschaltet, und das Ausgangssignal des NAND-Gat
ters 31 wird auf einen hohen Pegel gebracht und das Ausgangs
signal des NAND-Gatters 32 nimmt einen niedrigen Pegel an, wo
durch der PMOS-Transistor 36 eingeschaltet wird und die Körper
spannung stabilisiert.
Wie oben beschrieben ist, führt die vorliegende Erfindung die
Spannung des Substrats und des Körpers so, daß sie identisch zu
derjenigen einer Kontaktfeldspannung werden und demgemäß den Strom
pfad sperren, wenn eine externe Spannung, die höher als die
Versorgungsspannung ist, an dem Halbleiterchip anliegt, um so
einen Fehlbetrieb der MOS-Transistoren zu verhindern und zu
einem genauen Betrieb in einem Ausgangsmodus zu führen, indem
das Substrat der Transistoren im Ausgangsbetrieb in der Versor
gungsspannung enthalten bleibt.
Claims (2)
1. Gegen 5 V widerstandsfähige Eingangs-/Ausgangsschaltung, mit:
einem ersten Inverter (1), der ein Freigabesignal (EN) emp fängt, und einem zweiten Inverter (2), der ein Datensignal (D) empfängt,
einem NOR-Gatter (3) zum NOR-Verknüpfen der Ausgangswerte des ersten und zweiten Inverters,
einem NAND-Gatter (4) zum NAND-Verknüpfen des Ausgangswertes des zweiten Inverters (2) und des Freigabesignales (EN),
einer gegen 5 V widerstandsfähigen Schaltung (20) zum Empfangen eines Ausgangswertes des NOR-Gatters (3) und zum Verhindern ei nes elektrischen Kurzschlusses zwischen einem Kontaktfeld (PAD) und einer Versorgungsspannung (Vcc), wenn eine Eingangsspannung an dem Kontaktfeld (PAD) höher als die Versorgungsspannung (Vcc) wird,
einem ersten PMOS-Transistor (7) und einem ersten NMOS- Transistor (8), die in Reihe zwischen der Versorgungsspannung (Vcc) und einer Massespannung (Vss) liegen, wobei das Gate des ersten PMOS-Transistors (7) einen Ausgangswert der gegen 5 V wi derstandsfähigen Schaltung (20) erhält und das Gate des ersten NMOS-Transistors (8) einen invertierten Ausgangswert (NG) des NAND-Gatters (4) erhält, wobei die gegen 5 V widerstandsfähige Schaltung umfaßt:
einen zweiten PMOS-Transistor (21), dessen Source mit der Ver sorgungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist, dessen Gate mit dem Kontaktfeld (PAD) verbunden ist, und dessen Drain und Substrat mit dem Körper verbunden sind,
einen dritten PMOS-Transistor (22), dessen Source mit dem Kon taktfeld (PAD) verbunden ist, an dessen Gate die Versorgungs spannung (Vcc) liegt und dessen Drain und Substrat mit dem Kör per verbunden sind,
einen vierten PMOS-Transistor (23), dessen Source mit dem Kör per verbunden ist, an dessen Gate der Ausgangswert des NOR- Gatters (3) liegt und dessen Drain an den Ausgangsanschluß (PG) der gegen 5 V widerstandsfähigen Schaltung angeschlossen ist,
einen zweiten NMOS-Transistor (24), dessen Drain mit dem Aus gangsanschluß (PG) verbunden ist und dessen Gate mit der Ver sorgungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist,
einen dritten NMOS-Transistor (25), dessen Drain mit der Source des zweiten NMOS-Transistors (24) verbunden ist, an dessen Gate der Ausgangswert des NOR-Gatters (3) liegt und dessen Source mit der Massespannung (Vss) beaufschlagt ist,
einen Modusdetektor (30) zum Empfangen eines Kontaktfeldsignals und Detektieren des Freigabesignales (EN), wenn der zweite PMOS-Transistor (21) ausgeschaltet wird, und
einen fünften PMOS-Transistor (26), dessen Source mit der Ver sorgungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist, an dessen Gate der Ausgangswert des Modusdetektors (30) liegt und dessen Drain und Substrat mit dem Körper verbunden sind.
einem ersten Inverter (1), der ein Freigabesignal (EN) emp fängt, und einem zweiten Inverter (2), der ein Datensignal (D) empfängt,
einem NOR-Gatter (3) zum NOR-Verknüpfen der Ausgangswerte des ersten und zweiten Inverters,
einem NAND-Gatter (4) zum NAND-Verknüpfen des Ausgangswertes des zweiten Inverters (2) und des Freigabesignales (EN),
einer gegen 5 V widerstandsfähigen Schaltung (20) zum Empfangen eines Ausgangswertes des NOR-Gatters (3) und zum Verhindern ei nes elektrischen Kurzschlusses zwischen einem Kontaktfeld (PAD) und einer Versorgungsspannung (Vcc), wenn eine Eingangsspannung an dem Kontaktfeld (PAD) höher als die Versorgungsspannung (Vcc) wird,
einem ersten PMOS-Transistor (7) und einem ersten NMOS- Transistor (8), die in Reihe zwischen der Versorgungsspannung (Vcc) und einer Massespannung (Vss) liegen, wobei das Gate des ersten PMOS-Transistors (7) einen Ausgangswert der gegen 5 V wi derstandsfähigen Schaltung (20) erhält und das Gate des ersten NMOS-Transistors (8) einen invertierten Ausgangswert (NG) des NAND-Gatters (4) erhält, wobei die gegen 5 V widerstandsfähige Schaltung umfaßt:
einen zweiten PMOS-Transistor (21), dessen Source mit der Ver sorgungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist, dessen Gate mit dem Kontaktfeld (PAD) verbunden ist, und dessen Drain und Substrat mit dem Körper verbunden sind,
einen dritten PMOS-Transistor (22), dessen Source mit dem Kon taktfeld (PAD) verbunden ist, an dessen Gate die Versorgungs spannung (Vcc) liegt und dessen Drain und Substrat mit dem Kör per verbunden sind,
einen vierten PMOS-Transistor (23), dessen Source mit dem Kör per verbunden ist, an dessen Gate der Ausgangswert des NOR- Gatters (3) liegt und dessen Drain an den Ausgangsanschluß (PG) der gegen 5 V widerstandsfähigen Schaltung angeschlossen ist,
einen zweiten NMOS-Transistor (24), dessen Drain mit dem Aus gangsanschluß (PG) verbunden ist und dessen Gate mit der Ver sorgungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist,
einen dritten NMOS-Transistor (25), dessen Drain mit der Source des zweiten NMOS-Transistors (24) verbunden ist, an dessen Gate der Ausgangswert des NOR-Gatters (3) liegt und dessen Source mit der Massespannung (Vss) beaufschlagt ist,
einen Modusdetektor (30) zum Empfangen eines Kontaktfeldsignals und Detektieren des Freigabesignales (EN), wenn der zweite PMOS-Transistor (21) ausgeschaltet wird, und
einen fünften PMOS-Transistor (26), dessen Source mit der Ver sorgungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist, an dessen Gate der Ausgangswert des Modusdetektors (30) liegt und dessen Drain und Substrat mit dem Körper verbunden sind.
2. Schaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Modusdetektor (30) aufweist:
ein erstes NAND-Gatter (31) mit dem Kontaktfeld (PAD) als einem Eingangsanschluß hiervon,
ein zweites NAND-Gatter (32), das das Freigabesignal (EN) über einen Eingangsanschluß hiervon und einen Ausgangswert des er sten NAND-Gatters (31) über einen anderen Anschluß hiervon em pfängt,
einen Inverter (33) zum Invertieren eines Ausgangswertes des zweiten NAND-Gatters (32),
einen sechsten PMOS-Transistor, dessen Gate mit der Versor gungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist, dessen Source mit dem Kontaktfeld (PAD) verbunden ist, dessen Drain an den Ausgangs anschluß (MD) des Modusdetektors angeschlossen ist und dessen Substrat mit dem Körper verbunden ist,
einen vierten NMOS-Transistor (35), dessen Gate mit der Versor gungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist und dessen Drain mit dem Ausgangsanschluß (MD) verbunden ist, und
einen fünften NMOS-Transistor (36), dessen Drain mit der Source des vierten NMOS-Transistors (35) verbunden ist, an dessen Gate der Ausgangswert des Inverters (33) liegt und dessen Source mit der Massespannung (Vss) beaufschlagt ist.
ein erstes NAND-Gatter (31) mit dem Kontaktfeld (PAD) als einem Eingangsanschluß hiervon,
ein zweites NAND-Gatter (32), das das Freigabesignal (EN) über einen Eingangsanschluß hiervon und einen Ausgangswert des er sten NAND-Gatters (31) über einen anderen Anschluß hiervon em pfängt,
einen Inverter (33) zum Invertieren eines Ausgangswertes des zweiten NAND-Gatters (32),
einen sechsten PMOS-Transistor, dessen Gate mit der Versor gungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist, dessen Source mit dem Kontaktfeld (PAD) verbunden ist, dessen Drain an den Ausgangs anschluß (MD) des Modusdetektors angeschlossen ist und dessen Substrat mit dem Körper verbunden ist,
einen vierten NMOS-Transistor (35), dessen Gate mit der Versor gungsspannung (Vcc) beaufschlagt ist und dessen Drain mit dem Ausgangsanschluß (MD) verbunden ist, und
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CN101206494B (zh) * | 2006-12-22 | 2010-12-01 | 上海贝岭股份有限公司 | 电压发生器电路 |
JP2010197878A (ja) * | 2009-02-26 | 2010-09-09 | Panasonic Corp | 容量性負荷駆動装置及びpdp表示装置 |
JP2011258797A (ja) * | 2010-06-10 | 2011-12-22 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 発光ダイオードの駆動制御回路およびバックライト照明装置 |
US9557755B2 (en) * | 2014-06-13 | 2017-01-31 | Gn Resound A/S | Interface circuit for a hearing aid and method |
CN117176127B (zh) * | 2023-11-03 | 2024-02-02 | 苏州旗芯微半导体有限公司 | 采样开关电路 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0329285A2 (de) * | 1988-02-11 | 1989-08-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ausgangspuffer |
DE4221283A1 (de) * | 1991-06-28 | 1993-01-28 | Digital Equipment Corp | Cmos-ausgangstreiber mit schwimmender wanne |
EP0614279A2 (de) * | 1993-03-02 | 1994-09-07 | National Semiconductor Corporation | Überspannungstolerante Ausgangspufferschaltung |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3190233B2 (ja) * | 1995-08-22 | 2001-07-23 | 株式会社東芝 | 出力バッファ回路 |
-
1996
- 1996-11-27 KR KR1019960058086A patent/KR100242987B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-03-13 DE DE19710488A patent/DE19710488C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-03-20 CN CN97103623A patent/CN1096749C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-08 US US08/889,193 patent/US6282456B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-11-27 JP JP32625197A patent/JP3599542B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0329285A2 (de) * | 1988-02-11 | 1989-08-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ausgangspuffer |
DE4221283A1 (de) * | 1991-06-28 | 1993-01-28 | Digital Equipment Corp | Cmos-ausgangstreiber mit schwimmender wanne |
EP0614279A2 (de) * | 1993-03-02 | 1994-09-07 | National Semiconductor Corporation | Überspannungstolerante Ausgangspufferschaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1096749C (zh) | 2002-12-18 |
CN1183677A (zh) | 1998-06-03 |
JPH10163852A (ja) | 1998-06-19 |
DE19710488A1 (de) | 1998-06-18 |
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KR100242987B1 (ko) | 2000-02-01 |
US6282456B1 (en) | 2001-08-28 |
KR19980039129A (ko) | 1998-08-17 |
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