DE19652890C2 - Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit - Google Patents
Verfahren zum Messen einer VerzögerungszeitInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung zur Verwendung bei einem IC-Testsystem, und
insbesondere ein Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit,
welches beim Kalibrieren einer Verzögerungszeit-Erzeugungs
schaltung ausgeführt wird.
Wie es in Fig. 1 der beigefügten Zeichnungen gezeigt ist, weist
eine herkömmliche Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 n
Schaltungen 22 variabler Verzögerung auf, von denen die Verzö
gerungszeit durch Binärdaten gebildet wird, und n Selektoren 23
zum Auswählen der jeweiligen Schaltungen 22 variabler Verzöge
rung. Jeder der Selektoren 23 wählt eines von zu seinen zwei
jeweiligen Anschlüssen, wie beispielsweise einem Anschluß A und
einem Anschluß B, zugeführten Eingangssignalen in Antwort auf
ein von einer Steuerung (nicht gezeigt) übertragenes Auswahl-
Steuersignal Sc aus und gibt das ausgewählte Eingangssignal von
seinem Anschluß X aus. Dem Anschluß A jedes der Selektoren 23
wird ein Ausgangssignal direkt von einer vorangehenden Schal
tung zugeführt, und seinem Anschluß B wird dasselbe Ausgangs
signal über die entsprechende Schaltung 22 variabler Verzöge
rung zugeführt. Wenn die Selektoren 22 selektiv betrieben wer
den, werden entsprechende Schaltungen 22 variabler Verzögerung,
die gewünschte Verzögerungszeiten haben, unter allen n Schal
tungen 22 variabler Verzögerung zueinander in Reihe geschaltet,
was die gesamte Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 auf ei
ne bestimmte gesamte Verzögerungszeit einstellt. Die Verzöge
rungszeiten der Schaltungen 22 variabler Verzögerung werden
durch von der Steuerung übertragene Kalibrierungsdaten be
stimmt.
Die Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 erzeugt ein Aus
gangssignal SO, das über eine positive Rückkoppelschleife, die
ein UND-Gatter 26, ein ODER-Gatter 25 und einen Wellenform-
Former 24 aufweist, zurück zu ihrem Eingangssignal SIN geführt
wird.
Dem UND-Gatter 26 wird ein Schleifensignal zum Ein- oder Aus
schalten der positiven Rückkoppelschleife als Eingangssignal
zusätzlich zum Ausgangssignal SO zugeführt. Dem ODER-Gatter 25
wird ein Startimpuls zum Triggern der positiven Rückkoppel
schleife zum Oszillieren als Eingangssignal zusätzlich zum als
Ausgangssignal vom UND-Gatter 26 zugeführten Ausgangssignal SO
zugeführt.
Wenn dem UND-Gatter 26 ein Schleifensignal mit hohem Pegel
(logisch "1") zugeführt wird und dem ODER-Gatter 25 ein einzel
ner Startimpuls zugeführt wird, wird dem Eingangssignal SIN der
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 ihr Ausgangssignal SO
hinzugefügt, was dazu führt, daß die positive Rückkoppelschlei
fe eine Oszillation beginnt. Da die positive Rückkoppelschleife
mit einer Oszillationsperiode oszilliert, die gleich der Verzö
gerungszeit eines Zyklus der positiven Rückkoppelschleife ist,
ist es möglich, die Verzögerungszeiten der Schaltungen 22 va
riabler Verzögerung zu bestimmen, und zwar durch Bestimmen der
Oszillationsperioden der Ausgangssignale SO, die erzeugt wer
den, wenn die Schaltungen 22 variabler Verzögerung jeweils ein
zeln ausgewählt werden, durch Bestimmen der Oszillationsperiode
eines Ausgangssignals SO, das erzeugt wird, wenn keine Schal
tung 22 variabler Verzögerung ausgewählt wird, und durch Be
rechnen der Differenzen zwischen jenen Oszillationsperioden.
Nachdem die Verzögerungszeit der Schaltungen 22 variabler Ver
zögerung bestimmt ist, wird das Schleifensignal auf einen nied
rigen Pegel (logisch "0") gesetzt, um zu veranlassen, daß die
positive Rückkoppelschleife ein Oszillieren beendet. Die Schal
tungen 22 variabler Verzögerung werden basierend auf den so be
stimmten Verzögerungszeiten kalibriert.
Beim obigen herkömmlichen Verfahren zum Messen der Verzöge
rungszeiten neigt jedoch die positive Rückkoppelschleife dann,
wenn eine Quelle eines periodischen störenden bzw. zusätzlichen
Signals, wie beispielsweise ein Systemtakt, in der Nähe der
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 vorhanden ist, und wenn
das Verhältnis zwischen der durch die Quelle für ein periodi
sches Störsignal erzeugten Störperiode und der Oszillationspe
riode der positiven Rückkoppelschleife nahe einer ganzen Zahl
ist, dazu, instabil zu oszillieren, was in einer Schwankung ih
rer Oszillationsperiode resultiert. Als Ergebnis können die
Verzögerungszeiten der Schaltungen 22 variabler Verzögerung
nicht genau gemessen werden.
Aus der DE 43 39 669 A1 ist es bekannt, einen digitalen Pseudo-
Zufallscode als Modulationssignal zu verwenden. Die Druck
schrift zeigt insbesondere eine Vorrichtung zum ungestörten Er
fassen und Auslesen von relativ zu dieser Vorrichtung bewegli
chen Transpondern. Dabei werden ein Laufzeitfilter bildende
Phasenmodulatoren im Sende- bzw. Empfangspfad mit demselben
Pseudo-Zufallscode angesteuert, der zweite von ihnen jedoch
zeitverzögert. Eine Auswertung reflektierter Empfangssignale
erfolgt durch eine Vergleich von Laufzeiten mit der Verzögerung
des dem zweiten Modulator zugeführten Modulationssignals.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
zum genauen Messen einer Verzögerungszeit zu schaffen, das
nicht durch eine Interferenz beeinflußt wird, die durch ein an
deres Signal oder eine durch ein Störsignal hervorgebrachte
Störung verursacht wird.
Diese Aufgabe wird gemäß der vorliegenden Erfindung durch ein
im unabhängigen Patentanspruch definiertes Verfahren gelöst.
Dieses Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit einer Verzö
gerungszeit-Erzeugungsschaltung, die ein eingegebenes Impuls
signal für eine vorbestimmte Zeit verzögert und das verzögerte
Impulssignal ausgibt, weist folgende Schritte auf: Eingeben
eines Impulssignals zu einer Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung
zum Erzeugen und Ausgeben einer Impulsfolge in zufälligen Inter
vallen; Zuführen eines Ausgangssignals der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung zu ihrem Eingangssignal über eine positive
Rückkoppelschleife; Anlegen eines Ausgangssignals von der Zu
fallsimpuls-Erzeugungsschaltung an die positive Rückkop
pelschleife, um zu veranlassen, daß die positive Rückkop
pelschleife oszilliert; und Bestimmen einer Verzögerungszeit der
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung aus einer Periode, bei
welcher die positive Rückkoppelschleife oszilliert.
Eine Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung zur Verwendung beim obi
gen Verfahren weist folgendes auf: einen Zufallsimpulsoszilla
tor zum Erzeugen einer Folge von Impulsen in zufälligen Inter
vallen; eine Gatterschaltung zum Steuern des Durchlassens der
Impulsfolge, die vom Zufallsimpulsoszillator ausgegeben wird;
und einen Gatter-Impulsgenerator zum Ausgeben eines Gatterim
pulses, um die Gatterschaltung zu öffnen, um die Impulsfolge
durchzulassen, die vom Zufallsimpulsoszillator ausgegeben wird;
wobei der Zufallsimpulsoszillator folgendes aufweist: eine
Rauschquelle; einen Differentialverstärker zum Extrahieren ei
nes Rauschsignals von einem Ausgangssignal der Rauschquelle;
einen Komparator zum Formen eines Ausgangssignals vom Differen
tialverstärker in einen Impuls; eine Impulsdauer-
Einstellschaltung zum Umwandeln des vom Komparator ausgegebenen
Impulses in einen Impuls mit einer vorbestimmten Dauer; und ei
ne Impulsdichte-Einstellschaltung mit einer Einstelleinrichtung
zum Zuführen eines Ausgangssignals von der Impulsdauer-
Einstellschaltung zur Rauschquelle durch eine negative Rückkop
pelschleife, um dadurch die Impulsdauer-Einstellschaltung dazu
freizugeben, eine Impulsfolge mit zufälligen Intervallen auszu
geben, und zum Einstellen der Quantität des Signals durch die
negative Rückkoppelschleife, um die Dichte der Impulsfolge ein
zustellen.
Beim obigen Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit einer
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung wird ein Ausgangssignal
von der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung durch die positive
Rückkoppelschleife an ihr Eingangssignal angelegt, und ein Aus
gangssignal von der Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung an die
positive Rückkoppelschleife, um zu veranlassen, daß die positi
ve Rückkoppelschleife oszilliert. Die Impulsfolge in Zufallsin
tervallen, die zu dieser Zeit von der Zufallsimpuls-
Erzeugungsschaltung gerade ausgegeben wird, minimiert die Wir
kung eines Störsignals bezüglich der positiven Rückkoppel
schleife. Folglich leidet die positive Rückkoppelschleife nicht
an einem Störsignal und oszilliert daher mit einer stabilen Pe
riode, ohne durch die Periode des Störsignals beeinflußt zu
werden.
Ausführungsbeispiele der vor
liegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung unter
Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen klar.
Fig. 1 ist ein Blockdiagramm einer Schaltungsanordnung, die
bei einem herkömmlichen Verfahren zum Messen einer
Verzögerungszeit verwendet wird;
Fig. 2 ist ein Blockdiagramm einer Schaltungsanordnung, die
bei einem Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit
gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird; und
Fig. 3 ist ein Blockdiagramm einer Schaltungsanordnung einer
Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung in der in Fig.
2 gezeigten Schaltungsanordnung.
Bei der in Fig. 1 gezeigten Schaltungsanordnung, die beim her
kömmlichen Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit verwen
det wird, wird ein einziger Anfangsimpuls dazu verwendet, die
positive Rückkoppelschleife zu triggern, damit sie ein Oszil
lieren beginnt. Gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine Zu
fallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung zum Erzeugen einer Impuls
folge in zufälligen Intervallen zum herkömmlichen Schaltungs
aufbau hinzugefügt, und Impulse, die von der Zufallsimpulsfol
ge-Erzeugungsschaltung ausgegeben werden, werden an die positi
ve Rückkoppelschleife angelegt, um zu veranlassen, daß die
letztere oszilliert.
Wie es in Fig. 2 gezeigt ist, weist eine Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 gemäß der vorliegenden Erfindung folgen
des auf: n Schaltungen 2 variabler Verzögerung, deren Verzöge
rungszeiten durch Binärdaten gebildet werden, und n Selektoren
3 zum Auswählen der jeweiligen Schaltungen 2 variabler Verzöge
rung. Jeder der Selektoren 3 wählt in Antwort auf ein Auswahl-
Steuersignal Sc, das von einer Steuerung (nicht gezeigt) über
tragen wird, eines der Eingangssignale aus, die zu seinen zwei
jeweiligen Anschlüssen, z. B. einem Anschluß A und einem An
schluß B, zugeführt werden, und gibt das ausgewählte Eingangs
signal von seinem Anschluß X aus. Dem Anschluß A jedes der Se
lektoren 3 wird ein Ausgangssignal direkt von einer vorangehen
den Schaltung zugeführt, und seinem Anschluß B wird dasselbe
Ausgangssignal über die entsprechende Schaltung 2 variabler
Verzögerung zugeführt. Wenn die Selektoren 3 selektiv betrieben
werden, werden entsprechende Schaltungen 2 variabler Verzöge
rung, die gewünschte Verzögerungszeiten haben, unter allen n
Schaltungen 2 variabler Verzögerung zueinander in Reihe ge
schaltet, was die gesamte Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung
1 auf eine bestimmte gesamte Verzögerungszeit einstellt. Die
Verzögerungszeiten der Schaltungen 2 variabler Verzögerung wer
den durch Kalibrierdaten bestimmt, die von der Steuerung über
tragen werden.
Die Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1 erzeugt ein Aus
gangssignal SO, das über eine positive Rückkoppelschleife, die
ein UND-Gatter 6, ein ODER-Gatter 5 und einen Wellenform-Former
4 aufweist, zu ihrem Eingangssignal SIN zurückgeführt wird. Dem
UND-Gatter 6 wird ein Schleifensignal zum Ein- oder Ausschalten
der positiven Rückkoppelschleife zusätzlich zum Ausgangssignal
SO als Eingangssignal zugeführt. Dem ODER-Gatter 5 werden Aus
gangsimpulse von einer Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung 7
zugeführt, die eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen er
zeugt.
Wie es in Fig. 3 gezeigt ist, weist die Zufallsimpulsfolge-
Erzeugungsschaltung 7 folgendes auf: einen Zufallsimpulsoszil
lator 10 zum Erzeugen einer Impulsfolge in zufälligen Interval
len, eine Gatterschaltung 11 zum Steuern des Durchlassens einer
Impulsfolge, die vom Zufallsimpulsoszillator 10 ausgegeben
wird, und einen Gatter-Impulsgenerator 12 zum Ausgeben eines
Gatterimpulses, der die Gatterschaltung 11 öffnet, um eine Im
pulsfolge durchzulassen, die vom Zufallsimpulsoszillator 10
ausgegeben wird.
Der Zufallsimpulsoszillator 10 weist folgendes auf: eine Diode
D1, die eine Rauschquelle ist, einen Differentialverstärker 13,
der einen Kondensator C1 und einen Widerstand R1 aufweist, zum
Extrahieren eines Rauschsignals von einem Ausgangssignal der
Diode D1, einen Komparator 14 zum Formen eines Ausgangssignals
vom Differentialverstärker 13 in einen Impuls, eine Impulsdau
er-Einstellschaltung 15, die einen Inverter INV, eine Verzöge
rungsschaltung To und ein UND-Gatter UND aufweist, zum Umwan
deln des vom Komparator 14 ausgegebenen Impulses in einen Im
puls mit einer vorbestimmten Dauer, und eine Impulsdichte-
Einstellschaltung 16 zum Einstellen der Dichte der erzeugten
Impulse, wobei die Impulsdichte-Einstellschaltung 16 einen Puf
fer BUF, einen Integrierer bestehend aus einem widerstand R2
und einem Kondensator T2, einen variablen Widerstand zum Ein
stellen einer Impulsdichte und einen Differentialverstärker As
aufweist.
Die Impulsdauer-Einstellschaltung 15 hat einen Ausgangsan
schluß, der an die Impulsdichte-Einstellschaltung 16 ange
schlossen ist, und die Impulsdichte-Einstellschaltung 16 hat
einen Ausgangsanschluß, der an die Diode D1 angeschlossen ist,
was eine negative Rückkoppelschleife bildet. Der Zufallsimpulsoszillator
10 beginnt zur selben Zeit, zu der er eingeschaltet
wird, eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen auszugeben.
Die Quantität eines Signals, das über die negative Rückkoppel
schleife zurückgeführt wird, wird durch den variablen Wider
stand zum Einstellen einer Impulsdichte in der Impulsdichte-
Einstellschaltung 16 eingestellt, um dadurch die Dichte einer
Impulsfolge einzustellen, die vom Zufallsimpulsoszillator 10
ausgegeben wird.
Der Gatterimpulsgenerator 12 erzeugt einen Gatterimpuls mit ei
ner vorbestimmten Dauer (Zeit) in Antwort auf einen ihm einge
gebenen einzelnen Anfangsimpuls. Die Gatterschaltung 11 gibt
eine vom Zufallsimpulsoszillator 10 ausgegebene Impulsfolge zum
ODER-Gatter 5 während der Dauer des Gatterimpulses aus, der vom
Gatterimpulsgenerator 12 zur Gatterschaltung 11 zugeführt wird.
Wenn ein Schleifensignal mit hohem Pegel zum UND-Gatter 6 zuge
führt wird, wird ein Ausgangssignal SO der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 über die positive Rückkoppelschleife zu
ihrem Eingangssignal SIN zugeführt. In Antwort auf einen An
fangsimpuls gibt die Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung 7
eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen aus. Die positive
Rückkoppelschleife der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1
wird nun getriggert, um eine Oszillation durch die zum ODER-
Gatter 5 zugeführte Impulsfolge zu beginnen. Da die Impulsfolge
in zufälligen Intervallen an die positive Rückkoppelschleife
der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1 angelegt wird, lei
det die positive Rückkoppelschleife nicht an einem Störsignal
und oszilliert daher mit einer stabilen Periode, ohne durch die
Periode eines Störsignals beeinflußt zu werden. Folglich kann
die Verzögerungszeit der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1
genau gemessen werden.
Nachdem die Verzögerungszeit der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 gemessen worden ist, wird das zum UND-
Gatter 6 zugeführte Schleifensignal auf einen niedrigen Pegel
eingestellt, was dazu führt, daß die positive Rückkoppelschlei
fe ein Oszillieren aufhört.
Während die Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung 7 derart darge
stellt ist, daß sie die in Fig. 3 gezeigte Schaltungsanordnung
aufweist, ist die Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung 7 nicht auf
die dargestellten Details beschränkt, sondern kann irgendeine
andere Schaltungsanordnung sein, insoweit sie eine Impulsfolge
in zufälligen Intervallen erzeugen kann.
Claims (1)
- Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit einer Verzögerungs zeit-Erzeugungsschaltung (1), die ein eingegebenes Impulssignal um eine vorbestimmte Zeit verzögert und ein verzögertes Im pulssignal (SO) ausgibt, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist:
Eingeben eines Impulssignals in eine Zufallsimpuls- Erzeugungsschaltung (7) zum Erzeugen und Ausgeben einer Im pulsfolge in zufälligen Intervallen;
Zuführen des Ausgangssignals (SO) der Verzögerungszeit- Erzeugungsschaltung (1) zu ihrem Eingangssignal (SIN) über eine positive Rückkoppelschleife;
Anlegen des Ausgangssignals der Zufallsimpuls- Erzeugungsschaltung (7) an die positive Rückkoppelschleife, um zu veranlassen, daß die positive Rückkoppelschleife oszilliert; und
Bestimmen einer Verzögerungszeit der Verzögerungszeit- Erzeugungsschaltung (1) aus einer Periode, bei welcher die posi tive Rückkoppelschleife oszilliert.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19655110A DE19655110C2 (de) | 1995-12-21 | 1996-12-18 | Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33315195A JP3410269B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | 遅延時間測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19652890A1 DE19652890A1 (de) | 1997-07-03 |
DE19652890C2 true DE19652890C2 (de) | 2003-06-18 |
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ID=18262871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19652890A Expired - Fee Related DE19652890C2 (de) | 1995-12-21 | 1996-12-18 | Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5942902A (de) |
JP (1) | JP3410269B2 (de) |
KR (1) | KR100235386B1 (de) |
CN (1) | CN1119862C (de) |
DE (1) | DE19652890C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004042079B3 (de) * | 2004-08-31 | 2006-04-27 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Messung einer Laufzeit einer Digitalschaltung und entsprechende Vorrichtung |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101131848B (zh) * | 2001-02-20 | 2011-07-06 | 蒂雅克株式会社 | 信号处理电路及信号处理方法 |
JP3724398B2 (ja) * | 2001-02-20 | 2005-12-07 | ティアック株式会社 | 信号処理回路及び信号処理方法 |
JP3869699B2 (ja) * | 2001-10-24 | 2007-01-17 | 株式会社アドバンテスト | タイミング発生器、半導体試験装置、及びタイミング発生方法 |
US7124155B2 (en) * | 2002-07-25 | 2006-10-17 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Latching electronic circuit for random number generation |
US6771104B2 (en) | 2002-07-25 | 2004-08-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Switching electronic circuit for random number generation |
US7047262B2 (en) * | 2002-08-21 | 2006-05-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Entropy estimation and decimation for improving the randomness of true random number generation |
US20040049525A1 (en) * | 2002-09-06 | 2004-03-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Feedback random number generation method and system |
US6956422B2 (en) * | 2003-03-17 | 2005-10-18 | Indiana University Research And Technology Corporation | Generation and measurement of timing delays by digital phase error compensation |
US7379395B2 (en) * | 2004-06-30 | 2008-05-27 | Teradyne, Inc. | Precise time measurement apparatus and method |
JP4846215B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2011-12-28 | 株式会社アドバンテスト | パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法 |
JP4849996B2 (ja) * | 2006-08-23 | 2012-01-11 | 株式会社アドバンテスト | 遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 |
KR100921815B1 (ko) * | 2007-06-18 | 2009-10-16 | 주식회사 애트랩 | 지연시간 측정회로 및 지연시간 측정 방법 |
CN102845037B (zh) | 2009-11-05 | 2016-03-16 | 罗姆股份有限公司 | 信号传输电路器件、半导体器件、检查半导体器件的方法和装置、信号传输器件以及使用信号传输器件的电机驱动装置 |
CN101995530B (zh) * | 2010-11-18 | 2013-01-23 | 四川九洲电器集团有限责任公司 | 一种闭环自适应测距工作方法 |
CN102654572B (zh) * | 2011-03-03 | 2014-08-13 | 河北省电力公司电力科学研究院 | 智能电能表信号控制端子延迟输出时间测试方法 |
CN103176059B (zh) * | 2011-12-21 | 2016-12-21 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种测量脉冲宽度的方法、装置和频率计 |
CN105699734A (zh) * | 2014-11-26 | 2016-06-22 | 环旭电子股份有限公司 | 检测信号延迟时间的装置及方法 |
CN106643843B (zh) * | 2016-12-14 | 2018-12-25 | 广州大学 | 超声波检测装置中信号电路延迟时间的检测装置和方法 |
CN106770671B (zh) * | 2016-12-14 | 2019-03-12 | 广州大学 | 一种超声波检测装置中超声波回波处理装置及方法 |
US11693046B2 (en) * | 2017-07-20 | 2023-07-04 | Tektronix, Inc. | Monitoring waveforms from waveform generator at device under test |
WO2021050397A1 (en) * | 2019-09-10 | 2021-03-18 | Hatch Transformers, Inc. | Methods and apparatuses for dimming a constant-voltage output led driver |
US11264999B2 (en) | 2020-03-12 | 2022-03-01 | Raytheon Company | High resolution counter using phased shifted clock |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4339669A1 (de) * | 1993-11-23 | 1995-05-24 | Sel Alcatel Ag | Vorrichtung zum Erfassen und Auslesen von relativ zu dieser Vorrichtung beweglichen Transpondern |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3622905A (en) * | 1952-09-04 | 1971-11-23 | Us Army | Random pulse generator |
JPS49625B1 (de) * | 1969-08-27 | 1974-01-09 | ||
US3758873A (en) * | 1972-07-14 | 1973-09-11 | Epsco Inc | Random pulse generator |
US3866128A (en) * | 1973-06-25 | 1975-02-11 | Nasa | Random pulse generator |
DE3544342C1 (de) * | 1985-12-14 | 1987-05-07 | Philips Patentverwaltung | Regelschaltung zum Abgleich einer Laufzeitleitung |
JPS62142281A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Fujitsu Ltd | ケ−ブル遅延時間測定方法 |
US5216301A (en) * | 1991-12-20 | 1993-06-01 | Artisoft, Inc. | Digital self-calibrating delay line and frequency multiplier |
JPH05256922A (ja) * | 1992-03-12 | 1993-10-08 | Fujitsu Ltd | 遅延時間測定装置 |
JP3334762B2 (ja) * | 1993-06-22 | 2002-10-15 | 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体チップ上の論理回路の遅延時間測定回路 |
-
1995
- 1995-12-21 JP JP33315195A patent/JP3410269B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-12-09 US US08/762,819 patent/US5942902A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-12 KR KR1019960064600A patent/KR100235386B1/ko not_active IP Right Cessation
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- 1996-12-21 CN CN96121347A patent/CN1119862C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4339669A1 (de) * | 1993-11-23 | 1995-05-24 | Sel Alcatel Ag | Vorrichtung zum Erfassen und Auslesen von relativ zu dieser Vorrichtung beweglichen Transpondern |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004042079B3 (de) * | 2004-08-31 | 2006-04-27 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Messung einer Laufzeit einer Digitalschaltung und entsprechende Vorrichtung |
US7260490B2 (en) | 2004-08-31 | 2007-08-21 | Infineon Technologies, Inc. | Method for measuring a delay time of a digital circuit and corresponding device and digital circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100235386B1 (ko) | 1999-12-15 |
KR970048486A (ko) | 1997-07-29 |
JPH09171061A (ja) | 1997-06-30 |
CN1159586A (zh) | 1997-09-17 |
DE19652890A1 (de) | 1997-07-03 |
US5942902A (en) | 1999-08-24 |
CN1119862C (zh) | 2003-08-27 |
JP3410269B2 (ja) | 2003-05-26 |
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