DE19652890A1 - Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit und bei einem derartigen Verfahren verwendete Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge - Google Patents
Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit und bei einem derartigen Verfahren verwendete Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-ImpulsfolgeInfo
- Publication number
- DE19652890A1 DE19652890A1 DE19652890A DE19652890A DE19652890A1 DE 19652890 A1 DE19652890 A1 DE 19652890A1 DE 19652890 A DE19652890 A DE 19652890A DE 19652890 A DE19652890 A DE 19652890A DE 19652890 A1 DE19652890 A1 DE 19652890A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- pulse
- random
- circuit
- delay time
- feedback loop
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
- G01R29/027—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
- G01R29/0273—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being duration, i.e. width (indicating that frequency of pulses is above or below a certain limit)
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/84—Generating pulses having a predetermined statistical distribution of a parameter, e.g. random pulse generators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung zur Verwendung bei einem IC-Testsystem, und
insbesondere ein Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit,
welches beim Kalibrieren einer Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung ausgeführt wird, und eine Schaltung zum
Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge zur Verwendung bei einem
derartigen Verfahren.
Wie es in Fig. 1 der beigefügten Zeichnungen gezeigt ist, weist
eine herkömmliche Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 n
Schaltungen 22 variabler Verzögerung auf, von denen die Verzö
gerungszeit durch Binärdaten gebildet wird, und n Selektoren 23
zum Auswählen der jeweiligen Schaltungen 22 variabler Verzöge
rung. Jeder der Selektoren 23 wählt eines von zu seinen zwei
jeweiligen Anschlüssen, wie beispielsweise einem Anschluß A und
einem Anschluß B, zugeführten Eingangssignalen in Antwort auf
ein von einer Steuerung (nicht gezeigt) übertragenes
Auswahl-Steuersignal Sc aus und gibt das ausgewählte Eingangssignal von
seinem Anschluß X aus. Dem Anschluß A jedes der Selektoren 23
wird ein Ausgangssignal direkt von einer vorangehenden Schal
tung zugeführt, und seinem Anschluß B wird dasselbe
Ausgangssignal über die entsprechende Schaltung 22 variabler
Verzögerung zugeführt. Wenn die Selektoren 22 selektiv betrie
ben werden, werden entsprechende Schaltungen 22 variabler Ver
zögerung, die gewünschte Verzögerungszeiten haben, unter allen
n Schaltungen 22 variabler Verzögerung zueinander in Reihe ge
schaltet, was die gesamte Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung
21 auf eine bestimmte gesamte Verzögerungszeit einstellt. Die
Verzögerungszeiten der Schaltungen 22 variabler Verzögerung
werden durch von der Steuerung übertragene Kalibrierungsdaten
bestimmt.
Die Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 erzeugt ein Aus
gangssignal SO, das über eine positive Rückkoppelschleife, die
ein UND-Gatter 26, ein ODER-Gatter 25 und einen Wellenform-
Former 24 aufweist, zurück zu ihrem Eingangssignal SIN geführt
wird.
Dem UND-Gatter 26 wird ein Schleifensignal zum Ein- oder Aus
schalten der positiven Rückkoppelschleife als Eingangssignal
zusätzlich zum Ausgangssignal SO zugeführt. Dem ODER-Gatter 25
wird ein Startimpuls zum Triggern der positiven Rückkoppel
schleife zum Oszillieren als Eingangssignal zusätzlich zum als
Ausgangssignal vom UND-Gatter 26 zugeführten Ausgangssignal SO
zugeführt.
Wenn dem UND-Gatter 26 ein Schleifensignal mit hohem Pegel
(logisch "1") zugeführt wird und dem ODER-Gatter 25 ein
einzelner Startimpuls zugeführt wird, wird dem Eingangssignal
SIN der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 21 ihr
Ausgangssignal SO hinzugefügt, was dazu führt, daß die positive
Rückkoppelschleife eine Oszillation beginnt. Da die positive
Rückkoppelschleife mit einer Oszillationsperiode oszilliert,
die gleich der Verzögerungszeit eines Zyklus der positiven
Rückkoppelschleife ist, ist es möglich, die Verzögerungszeiten
der Schaltungen 22 variabler Verzögerung zu bestimmen, und zwar
durch Bestimmen der Oszillationsperioden der Ausgangssignale
SO, die erzeugt werden, wenn die Schaltungen 22 variabler Ver
zögerung jeweils einzeln ausgewählt werden, durch Bestimmen der
Oszillationsperiode eines Ausgangssignals SO, das erzeugt wird,
wenn keine Schaltung 22 variabler Verzögerung ausgewählt wird,
und durch Berechnen der Differenzen zwischen jenen Oszillati
onsperioden. Nachdem die Verzögerungszeit der Schaltungen 22
variabler Verzögerung bestimmt ist, wird das Schleifensignal
auf einen niedrigen Pegel (logisch "0") gesetzt, um zu veran
lassen, daß die positive Rückkoppelschleife ein Oszillieren
beendet. Die Schaltungen 22 variabler Verzögerung werden
basierend auf den so bestimmten Verzögerungszeiten kalibriert.
Beim obigen herkömmlichen Verfahren zum Messen der Verzöge
rungszeiten neigt jedoch die positive Rückkoppelschleife dann,
wenn eine Quelle eines periodischen Rauschens, wie beispiels
weise ein Systemtakt, in der Nähe der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 21 vorhanden ist, und wenn das Verhältnis
zwischen der durch die Quelle für ein periodisches Rauschen
erzeugten Rauschperiode und der Oszillationsperiode der
positiven Rückkoppelschleife nahe einer ganzen Zahl ist, dazu,
instabil zu oszillieren, was in einer Schwankung ihrer
Oszillationsperiode resultiert. Als Ergebnis können die Verzö
gerungszeiten der Schaltungen 22 variabler Verzögerung nicht
genau gemessen werden.
Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Ver
fahren zum genauen Messen einer Verzögerungszeit zu schaffen,
das nicht durch eine Interferenz beeinflußt wird, die durch ein
anderes Signal oder eine durch Rauschen hervorgebrachte Störung
verursacht wird.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge zur Verwendung
bei einem derartigen Verfahren zu schaffen.
Gemäß der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Messen
einer Verzögerungszeit einer Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung geschaffen, die ein eingegebenes Impulssi
gnal für eine vorbestimmte Zeit verzögert und das verzögerte
Impulssignal ausgibt, wobei das Verfahren folgende Schritte
aufweist: Vorsehen einer Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung zum
Ausgeben einer Folge von Impulsen in zufälligen Intervallen;
Zuführen eines Ausgangssignals der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung zu ihrem Eingangssignal über eine positive
Rückkoppelschleife; Anlegen eines Ausgangssignals von der
Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung an die positive Rückkoppel
schleife, um zu veranlassen, daß die positive
Rückkoppelschleife oszilliert; und Bestimmen einer Verzöge
rungszeit der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung aus einer
Periode, bei welcher die positive Rückkoppelschleife
oszilliert.
Gemäß der vorliegenden Erfindung weist eine Zufallsimpuls-
Erzeugungsschaltung zur Verwendung beim obigen Verfahren fol
gendes auf: einen Zufallsimpulsoszillator zum Erzeugen einer
Folge von Impulsen in zufälligen Intervallen; eine
Gatterschaltung zum Steuern des Durchlassens der Impulsfolge,
die vom Zufallsimpulsoszillator ausgegeben wird; und einen
Gatter-Impulsgenerator zum Ausgeben eines Gatterimpulses, um
die Gatterschaltung zu öffnen, um die Impulsfolge durchzulas
sen, die vom Zufallsimpulsoszillator ausgegeben wird; wobei der
Zufallsimpulsoszillator folgendes aufweist: eine Rauschquelle;
einen Differentialverstärker zum Extrahieren eines Rauschsi
gnals von einem Ausgangssignal der Rauschquelle; einen
Komparator zum Formen eines Ausgangssignals vom Differential
verstärker in einen Impuls; eine Impulsdauer-Einstellschaltung
zum Umwandeln des vom Komparator ausgegebenen Impulses in einen
Impuls mit einer vorbestimmten Dauer; und eine Impulsdichte-
Einstellschaltung mit einer Einstelleinrichtung zum Zuführen
eines Ausgangssignals von der Impulsdauer-Einstellschaltung zur
Rauschquelle durch eine negative Rückkoppelschleife, um dadurch
die Impulsdauer-Einstellschaltung dazu freizugeben, eine Im
pulsfolge mit zufälligen Intervallen aus zugeben, und zum Ein
stellen der Quantität des Signals durch die negative Rückkop
pelschleife, um die Dichte der Impulsfolge einzustellen.
Beim obigen Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit einer
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung wird ein Ausgangssignal
von der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung durch die positive
Rückkoppelschleife an ihr Eingangssignal angelegt, und ein
Ausgangssignal von der Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung an die
positive Rückkoppelschleife, um zu veranlassen, daß die
positive Rückkoppelschleife oszilliert. Die Impulsfolge in Zu
fallsintervallen, die zu dieser Zeit von der Zufallsimpuls-
Erzeugungsschaltung gerade ausgegeben wird, minimiert die Wir
kung eines Rauschens bezüglich der positiven Rückkoppelschlei
fe. Folglich leidet die positive Rückkoppelschleife nicht an
einem Rauschen und oszilliert daher mit einer stabilen Periode,
ohne durch die Periode des Rauschens beeinflußt zu werden.
Die obigen und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vor
liegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung unter
Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen klar, welche ein
Beispiel der vorliegenden Erfindung darstellen.
Fig. 1 ist ein Blockdiagramm einer Schaltungsanord
nung, die bei einem herkömmlichen Verfahren zum
Messen einer Verzögerungszeit verwendet wird;
Fig. 2 ist ein Blockdiagramm einer Schaltungsanord
nung, die bei einem Verfahren zum Messen einer
Verzögerungszeit gemäß der vorliegenden Erfin
dung verwendet wird; und
Fig. 3 ist ein Schaltungsdiagramm, und zwar teilweise
in Blockform, einer Zufallsimpulsfolge
Erzeugungsschaltung in der in Fig. 2 gezeigten
Schaltungsanordnung.
Bei der in Fig. 1 gezeigten Schaltungsanordnung, die beim her
kömmlichen Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit verwen
det wird, wird ein einziger Anfangsimpuls dazu verwendet, die
positive Rückkoppelschleife zu triggern, damit sie ein Oszil
lieren beginnt. Gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine
Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung zum Erzeugen einer Im
pulsfolge in zufälligen Intervallen zum herkömmlichen Schal
tungsaufbau hinzugefügt, und Impulse, die von der
Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung ausgegeben werden, wer
den an die positive Rückkoppelschleife angelegt, um zu veran
lassen, daß die letztere oszilliert.
Wie es in Fig. 2 gezeigt ist, weist eine Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 gemäß der vorliegenden Erfindung folgen
des auf: n Schaltungen 2 variabler Verzögerung, deren Verzöge
rungszeiten durch Binärdaten gebildet werden, und n Selektoren
3 zum Auswählen der jeweiligen Schaltungen 2 variabler
Verzögerung. Jeder der Selektoren 3 wählt in Antwort auf ein
Auswahl-Steuersignal Sc, das von einer Steuerung (nicht ge
zeigt) übertragen wird, eines der Eingangssignale aus, die zu
seinen zwei jeweiligen Anschlüssen, z. B. einem Anschluß A und
einem Anschluß B, zugeführt werden, und gibt das ausgewählte
Eingangssignal von seinem Anschluß X aus. Dem Anschluß A jedes
der Selektoren 3 wird ein Ausgangssignal direkt von einer vor
angehenden Schaltung zugeführt, und seinem Anschluß B wird
daßelbe Ausgangssignal über die entsprechende Schaltung 2 va
riabler Verzögerung zugeführt. Wenn die Selektoren 3 selektiv
betrieben werden, werden entsprechende Schaltungen 2 variabler
Verzögerung, die gewünschte Verzögerungszeiten haben, unter
allen n Schaltungen 2 variabler Verzögerung zueinander in Reihe
geschaltet, was die gesamte Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 auf eine bestimmte gesamte Verzögerungs
zeit einstellt. Die Verzögerungszeiten der Schaltungen 2 va
riabler Verzögerung werden durch Kalibrierdaten bestimmt, die
von der Steuerung übertragen werden.
Die Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1 erzeugt ein Aus
gangssignal SO, das über eine positive Rückkoppelschleife, die
ein UND-Gatter 6, ein ODER-Gatter 5 und einen Wellenform-Former
4 aufweist, zu ihrem Eingangssignal SIN zurückgeführt wird. Dem
UND-Gatter 6 wird ein Schleifensignal zum Ein- oder Ausschalten
der positiven Rückkoppelschleife zusätzlich zum Ausgangssignal
SO als Eingangssignal zugeführt. Dem ODER-Gatter 5 werden Aus
gangsimpulse von einer Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung 7
zugeführt, die eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen
erzeugt.
Wie es in Fig. 3 gezeigt ist, weist die Zufallsimpulsfolge
Erzeugungsschaltung 7 folgendes auf: einen Zufallsimpulsoszil
lator 10 zum Erzeugen einer Impulsfolge in zufälligen
Intervallen, eine Gatterschaltung 11 zum Steuern des Durchlas
sens einer Impulsfolge, die vom Zufallsimpulsoszillator 10
ausgegeben wird, und einen Gatter-Impulsgenerator 12 zum
Ausgeben eines Gatterimpulses, der die Gatterschaltung 11 öff
net, um eine Impulsfolge durchzulassen, die vom Zufallsimpul
soszillator 10 ausgegeben wird.
Der Zufallsimpulsoszillator 10 weist folgendes auf: eine Diode
D1, die eine Rauschquelle ist, einen Differentialverstärker 13,
der einen Kondensator C1 und einen Widerstand R1 aufweist, zum
Extrahieren eines Rauschsignals von einem Ausgangssignal der
Diode D1, einen Komparator 14 zum Formen eines Ausgangssignals
vom Differentialverstärker 13 in einen Impuls, eine
Impulsdauer-Einstellschaltung 15, die einen Inverter INV, eine
Verzögerungsschaltung To und ein UND-Gatter UND aufweist, zum
Umwandeln des vom Komparator 14 ausgegebenen Impulses in einen
Impuls mit einer vorbestimmten Dauer, und eine Impulsdichte-
Einstellschaltung 16 zum Einstellen der Dichte der erzeugten
Impulse, wobei die Impulsdichte-Einstellschaltung 16 einen
Puffer BUF, einen Integrierer bestehend aus einem Widerstand R2
und einem Kondensator T2, einen variablen Widerstand zum Ein
stellen einer Impulsdichte und einen Differentialverstärker As
aufweist.
Die Impulsdauer-Einstellschaltung 15 hat einen Ausgangsan
schluß, der an die Impulsdichte-Einstellschaltung 16 ange
schlossen ist, und die Impulsdichte-Einstellschaltung T6 hat
einen Ausgangsanschluß, der an die Diode D1 angeschlossen ist,
was eine negative Rückkoppelschleife bildet. Der Zufallsimpuls
oszillator 10 beginnt zur selben Zeit, zu der er eingeschaltet
wird, eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen auszugeben.
Die Quantität eines Signals, das über die negative Rückkoppel
schleife zurückgeführt wird, wird durch den variablen Wider
stand zum Einstellen einer Impulsdichte in der Impulsdichte-
Einstellschaltung 16 eingestellt, um dadurch die Dichte einer
Impulsfolge einzustellen, die vom Zufallsimpulsoszillator 10
ausgegeben wird.
Der Gatterimpulsgenerator 12 erzeugt einen Gatterimpuls mit
einer vorbestimmten Dauer (Zeit) in Antwort auf einen ihm ein
gegebenen einzelnen Anfangsimpuls. Die Gatterschaltung 11 gibt
eine vom Zufallsimpulsoszillator 10 ausgegebene Impulsfolge zum
ODER-Gatter 5 während der Dauer des Gatterimpulses aus, der vom
Gatterimpulsgenerator 12 zur Gatterschaltung 11 zugeführt wird.
Wenn ein Schleifensignal mit hohem Pegel zum UND-Gatter 6
zugeführt wird, wird ein Ausgangssignal SO der
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1 über die positive Rück
koppelschleife zu ihrem Eingangssignal SIN zugeführt. In Ant
wort auf einen Anfangsimpuls gibt die Zufallsimpulsfolge
Erzeugungsschaltung 7 eine Impulsfolge in zufälligen Interval
len aus. Die positive Rückkoppelschleife der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 wird nun getriggert, um eine Oszillation
durch die zum ODER-Gatter 5 zugeführte Impulsfolge zu beginnen.
Da die Impulsfolge in zufälligen Intervallen an die positive
Rückkoppelschleife der Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung 1
angelegt wird, leidet die positive Rückkoppelschleife nicht an
einem Rauschen und oszilliert daher mit einer stabilen Periode,
ohne durch die Periode eines Rauschens beeinflußt zu werden.
Folglich kann die Verzögerungszeit der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 genau gemessen werden.
Nachdem die Verzögerungszeit der Verzögerungszeit-
Erzeugungsschaltung 1 gemessen worden ist, wird das zum
UND-Gatter 6 zugeführte Schleifensignal auf einen niedrigen Pegel
eingestellt, was dazu führt, daß die positive
Rückkoppelschleife ein Oszillieren aufhört.
Während die Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung 7 derart darge
stellt ist, daß sie die in Fig. 3 gezeigte Schaltungsanordnung
aufweist, ist die Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung 7 nicht auf
die dargestellten Details beschränkt, sondern kann irgendeine
andere Schaltungsanordnung sein, insoweit sie eine Impulsfolge
in zufälligen Intervallen erzeugen kann.
Es soll verstanden werden, daß, obwohl die Eigenschaften und
Vorteile der vorliegenden Erfindung in der vorangehenden Be
schreibung aufgezeigt worden sind, die Offenbarung lediglich
darstellender Art ist und Änderungen beim Aufbau der Teile in
nerhalb des Schutzumfangs der beigefügten Ansprüche durchge
führt werden können.
Claims (2)
1. Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit einer
Verzögerungszeit-Erzeugungsschaltung, die ein eingegebenes
Verzögerungssignal für eine vorbestimmte Zeit verzögert und
das verzögerte Impulssignal ausgibt, wobei das Verfahren
folgende Schritte aufweist:
Vorsehen einer Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung zum Ausgeben einer Impulsfolge in zufälligen Intervallen;
Zuführen eines Ausgangssignals der Verzögerungszeit- Erzeugungsschaltung zu ihrem Eingangssignal über eine posi tive Rückkoppelschleife;
Anlegen eines Ausgangssignals von der Zufallsimpuls- Erzeugungsschaltung an die positive Rückkoppelschleife, um zu veranlassen, daß die positive Rückkoppelschleife oszil liert; und
Bestimmen einer Verzögerungszeit der Verzögerungszeit- Erzeugungsschaltung aus einer Periode, bei welcher die po sitive Rückkoppelschleife oszilliert.
Vorsehen einer Zufallsimpuls-Erzeugungsschaltung zum Ausgeben einer Impulsfolge in zufälligen Intervallen;
Zuführen eines Ausgangssignals der Verzögerungszeit- Erzeugungsschaltung zu ihrem Eingangssignal über eine posi tive Rückkoppelschleife;
Anlegen eines Ausgangssignals von der Zufallsimpuls- Erzeugungsschaltung an die positive Rückkoppelschleife, um zu veranlassen, daß die positive Rückkoppelschleife oszil liert; und
Bestimmen einer Verzögerungszeit der Verzögerungszeit- Erzeugungsschaltung aus einer Periode, bei welcher die po sitive Rückkoppelschleife oszilliert.
2. Zufallsimpulsfolge-Erzeugungsschaltung, die folgendes
aufweist:
einen Zufallsimpulsoszillator zum Erzeugen einer Im pulsfolge in zufälligen Intervallen;
eine Gatterschaltung zum Steuern des Durchlassens der Impulsfolge, die vom Zufallsimpulsoszillator ausgegeben wird; und
einen Gatter-Impulsgenerator zum Ausgeben eines Gatter impulses, um die Gatterschaltung zu öffnen, um die Impuls folge durchzulassen, die vom Zufallsimpulsoszillator ausge geben wird;
wobei der Zufallsimpulsoszillator folgendes aufweist:
eine Rauschquelle;
einen Differentialverstärker zum Extrahieren eines Rauschsignals aus einem Ausgangssignal der Rauschquelle;
einen Komparator zum Formen eines Ausgangssignals vom Differentialverstärker in einen Impuls;
eine Impulsdauer-Einstellschaltung zum Umwandeln des vom Komparator ausgegebenen Impulses in einen Impuls mit einer vorbestimmten Dauer;
eine Impulsdichte-Einstellschaltung mit einer Einstell einrichtung zum Zuführen eines Ausgangssignals von der Impulsdauer-Einstellschaltung zur Rauschquelle über eine negative Rückkoppelschleife, um dadurch die Impulsdauer- Einstellschaltung dazu freizugeben, eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen auszugeben, und zum Einstellen der Quantität des Signals über die negative Rückkoppelschleife, um die Dichte der Impulsfolge einzustellen.
einen Zufallsimpulsoszillator zum Erzeugen einer Im pulsfolge in zufälligen Intervallen;
eine Gatterschaltung zum Steuern des Durchlassens der Impulsfolge, die vom Zufallsimpulsoszillator ausgegeben wird; und
einen Gatter-Impulsgenerator zum Ausgeben eines Gatter impulses, um die Gatterschaltung zu öffnen, um die Impuls folge durchzulassen, die vom Zufallsimpulsoszillator ausge geben wird;
wobei der Zufallsimpulsoszillator folgendes aufweist:
eine Rauschquelle;
einen Differentialverstärker zum Extrahieren eines Rauschsignals aus einem Ausgangssignal der Rauschquelle;
einen Komparator zum Formen eines Ausgangssignals vom Differentialverstärker in einen Impuls;
eine Impulsdauer-Einstellschaltung zum Umwandeln des vom Komparator ausgegebenen Impulses in einen Impuls mit einer vorbestimmten Dauer;
eine Impulsdichte-Einstellschaltung mit einer Einstell einrichtung zum Zuführen eines Ausgangssignals von der Impulsdauer-Einstellschaltung zur Rauschquelle über eine negative Rückkoppelschleife, um dadurch die Impulsdauer- Einstellschaltung dazu freizugeben, eine Impulsfolge in zufälligen Intervallen auszugeben, und zum Einstellen der Quantität des Signals über die negative Rückkoppelschleife, um die Dichte der Impulsfolge einzustellen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19655110A DE19655110C2 (de) | 1995-12-21 | 1996-12-18 | Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33315195A JP3410269B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | 遅延時間測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19652890A1 true DE19652890A1 (de) | 1997-07-03 |
DE19652890C2 DE19652890C2 (de) | 2003-06-18 |
Family
ID=18262871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19652890A Expired - Fee Related DE19652890C2 (de) | 1995-12-21 | 1996-12-18 | Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5942902A (de) |
JP (1) | JP3410269B2 (de) |
KR (1) | KR100235386B1 (de) |
CN (1) | CN1119862C (de) |
DE (1) | DE19652890C2 (de) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3724398B2 (ja) * | 2001-02-20 | 2005-12-07 | ティアック株式会社 | 信号処理回路及び信号処理方法 |
CN101127228B (zh) * | 2001-02-20 | 2011-04-13 | 蒂雅克株式会社 | 信号处理电路及信号处理方法 |
JP3869699B2 (ja) * | 2001-10-24 | 2007-01-17 | 株式会社アドバンテスト | タイミング発生器、半導体試験装置、及びタイミング発生方法 |
US6771104B2 (en) | 2002-07-25 | 2004-08-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Switching electronic circuit for random number generation |
US7124155B2 (en) * | 2002-07-25 | 2006-10-17 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Latching electronic circuit for random number generation |
US7047262B2 (en) * | 2002-08-21 | 2006-05-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Entropy estimation and decimation for improving the randomness of true random number generation |
US20040049525A1 (en) * | 2002-09-06 | 2004-03-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Feedback random number generation method and system |
US6956422B2 (en) * | 2003-03-17 | 2005-10-18 | Indiana University Research And Technology Corporation | Generation and measurement of timing delays by digital phase error compensation |
US7379395B2 (en) * | 2004-06-30 | 2008-05-27 | Teradyne, Inc. | Precise time measurement apparatus and method |
JP4846215B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2011-12-28 | 株式会社アドバンテスト | パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法 |
DE102004042079B3 (de) * | 2004-08-31 | 2006-04-27 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Messung einer Laufzeit einer Digitalschaltung und entsprechende Vorrichtung |
JP4849996B2 (ja) * | 2006-08-23 | 2012-01-11 | 株式会社アドバンテスト | 遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 |
KR100921815B1 (ko) * | 2007-06-18 | 2009-10-16 | 주식회사 애트랩 | 지연시간 측정회로 및 지연시간 측정 방법 |
WO2011055611A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | ローム株式会社 | 信号伝達回路装置、半導体装置とその検査方法及び検査装置、並びに、信号伝達装置及びこれを用いたモータ駆動装置 |
CN101995530B (zh) * | 2010-11-18 | 2013-01-23 | 四川九洲电器集团有限责任公司 | 一种闭环自适应测距工作方法 |
CN102654572B (zh) * | 2011-03-03 | 2014-08-13 | 河北省电力公司电力科学研究院 | 智能电能表信号控制端子延迟输出时间测试方法 |
CN103176059B (zh) * | 2011-12-21 | 2016-12-21 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种测量脉冲宽度的方法、装置和频率计 |
CN105699734A (zh) * | 2014-11-26 | 2016-06-22 | 环旭电子股份有限公司 | 检测信号延迟时间的装置及方法 |
CN106643843B (zh) * | 2016-12-14 | 2018-12-25 | 广州大学 | 超声波检测装置中信号电路延迟时间的检测装置和方法 |
CN106770671B (zh) * | 2016-12-14 | 2019-03-12 | 广州大学 | 一种超声波检测装置中超声波回波处理装置及方法 |
US11693046B2 (en) * | 2017-07-20 | 2023-07-04 | Tektronix, Inc. | Monitoring waveforms from waveform generator at device under test |
WO2021050397A1 (en) * | 2019-09-10 | 2021-03-18 | Hatch Transformers, Inc. | Methods and apparatuses for dimming a constant-voltage output led driver |
US11264999B2 (en) | 2020-03-12 | 2022-03-01 | Raytheon Company | High resolution counter using phased shifted clock |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4339669A1 (de) * | 1993-11-23 | 1995-05-24 | Sel Alcatel Ag | Vorrichtung zum Erfassen und Auslesen von relativ zu dieser Vorrichtung beweglichen Transpondern |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3622905A (en) * | 1952-09-04 | 1971-11-23 | Us Army | Random pulse generator |
JPS49625B1 (de) * | 1969-08-27 | 1974-01-09 | ||
US3758873A (en) * | 1972-07-14 | 1973-09-11 | Epsco Inc | Random pulse generator |
US3866128A (en) * | 1973-06-25 | 1975-02-11 | Nasa | Random pulse generator |
DE3544342C1 (de) * | 1985-12-14 | 1987-05-07 | Philips Patentverwaltung | Regelschaltung zum Abgleich einer Laufzeitleitung |
JPS62142281A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Fujitsu Ltd | ケ−ブル遅延時間測定方法 |
US5216301A (en) * | 1991-12-20 | 1993-06-01 | Artisoft, Inc. | Digital self-calibrating delay line and frequency multiplier |
JPH05256922A (ja) * | 1992-03-12 | 1993-10-08 | Fujitsu Ltd | 遅延時間測定装置 |
JP3334762B2 (ja) * | 1993-06-22 | 2002-10-15 | 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体チップ上の論理回路の遅延時間測定回路 |
-
1995
- 1995-12-21 JP JP33315195A patent/JP3410269B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-12-09 US US08/762,819 patent/US5942902A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-12 KR KR1019960064600A patent/KR100235386B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-12-18 DE DE19652890A patent/DE19652890C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-21 CN CN96121347A patent/CN1119862C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4339669A1 (de) * | 1993-11-23 | 1995-05-24 | Sel Alcatel Ag | Vorrichtung zum Erfassen und Auslesen von relativ zu dieser Vorrichtung beweglichen Transpondern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1159586A (zh) | 1997-09-17 |
US5942902A (en) | 1999-08-24 |
CN1119862C (zh) | 2003-08-27 |
JP3410269B2 (ja) | 2003-05-26 |
KR100235386B1 (ko) | 1999-12-15 |
DE19652890C2 (de) | 2003-06-18 |
KR970048486A (ko) | 1997-07-29 |
JPH09171061A (ja) | 1997-06-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19652890A1 (de) | Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit und bei einem derartigen Verfahren verwendete Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge | |
DE4332618B4 (de) | Einbrenntestschaltung für eine Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE102008046831B4 (de) | Ereignisgesteuerte Zeitintervallmessung | |
DE102016100539B4 (de) | ON-Chip Oszilloskop | |
DE112005000210T5 (de) | Impulsbreiten-Einstellschaltung, Impulsbreiten-Einstellverfahren und Halbleiterprüfvorrichtung | |
DE10101899A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterbauelementen | |
DE112008001125T5 (de) | Prüfgerät und Prüfverfahren | |
DE68913807T2 (de) | Taktgeber. | |
DE19546805C2 (de) | Impulsbreitenmodulationsschaltung | |
DE2727201A1 (de) | Beruehrungssteuertastenschaltung | |
DE3428580C2 (de) | ||
DE3813734A1 (de) | Induktiver naeherungsfuehler | |
DE2939401A1 (de) | Elektronisches klangsignalgenerator | |
DE3221211A1 (de) | Impulsgenerator | |
DE1623971A1 (de) | Ultraschall-Fuellstandsmessanordnung | |
DE69821461T2 (de) | Logische Schaltung mit eigener Takterzeugung und zugehöriges Verfahren | |
DE60122960T2 (de) | Digitale eingebaute Selbsttestschaltungsanordnung für Phasenregelschleife | |
DE10035169A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Setup-Zeit und Hold-Zeit von Signalen einer Schaltung mit getakteter Datenübertragung | |
DE602004010136T2 (de) | Testvorrichtung mit einer einrichtung zur wellenform-formatierung | |
DE3209529C2 (de) | Bezüglich Drift und Nicht-Linearität kompensierter, intervallausdehnender Zeitgeber | |
DE19651713C2 (de) | Bauelement-Testgerät zum Testen elektronischer Bauelemente | |
DE3046740A1 (de) | Batteriespannungs-anzeigeeinrichtung einer kamera | |
DE4233947A1 (de) | Ausgangsschaltung fuer eine integrierte halbleiterschaltung | |
DE4230853A1 (de) | Abtastverfahren für verjitterte Signale | |
DE19655110C2 (de) | Schaltung zum Erzeugen einer Zufalls-Impulsfolge |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8172 | Supplementary division/partition in: |
Ref country code: DE Ref document number: 19655110 Format of ref document f/p: P |
|
Q171 | Divided out to: |
Ref country code: DE Ref document number: 19655110 |
|
AH | Division in |
Ref country code: DE Ref document number: 19655110 Format of ref document f/p: P |
|
8304 | Grant after examination procedure | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |