DE19649859C2 - Induktiver Dünnfilmkopf, Verfahren zum Herstellen desselben und magnetisches Schreib/Lese-Laufwerk - Google Patents
Induktiver Dünnfilmkopf, Verfahren zum Herstellen desselben und magnetisches Schreib/Lese-LaufwerkInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen induktiven
Kopf (IND-Kopf) zur Verwendung beim Schreiben von magneti
schen Signalen im einem Magnetplattenlaufwerk oder einem
Magnetbandlaufwerk nach dem Anspruch 1, ferner ein Verfah
ren zum Herstellen des IND-Kopfes nach den Ansprüchen 12
und 13 und ein magnetisches Schreib-/Leselaufwerk nach dem
Anspruch 8, in dem der magnetoresistive/induktive Kopf
(MR/IND-Kopf) verwendet wird.
Aus der JP 3-178015 A ist bereits ein induktiver Dünn
filmkopf bekannt, der zwei Magnetkerne aufweist, die aus
Magnetschichten gebildet sind. Bei dieser bekannten Kon
struktion ist eine Leiterspule zwischen den Magnetschichten
angeordnet und es liegen sich die vorderen Endabschnitte
der Magnetschichten über eine Lückenschicht gegenüber.
Aus der JP 5-189720 A ist ein kombinierter Schreib-
/Lesekopf bekannt.
Ferner ist es aus der JP 3-100909 A bekannt, in Ver
bindung mit der Herstellung eines Magnetkopfes ein ani
sotropes Ätzverfahren zur Anwendung zu bringen, um eine
ganzflächig aufgebrachte Bedeckungsschicht hauptsächlich
auf den ebenen Flächen zu entfernen. Speziell wird bei die
sem bekannten Ätzverfahren ein anisotropes Ionenstrahl-Ätz
verfahren zum Ätzen von Polstücken eines Magnetkopfes ein
gesetzt.
Aus der JP 3-232109 A ist ein weiteres Verfahren zum
Ionenstrahl-Ätzen bekannt, bei dem ein bekannter an sich
unerwünschter Nebeneffekt beim Ionenstrahl-Ätzen ausgenutzt
wird, und zwar das Wiederanlagern von abgetragenen Parti
keln an Seitenflächen einer Ätzstruktur.
In den letzten Jahren hat der MR/IND-Kopf große Auf
merksamkeit auf sich gezogen, da er für eine hohe Schreib
dichte und die Miniaturisierung des Magnetplattenlaufwerks
eingesetzt werden kann. Von dem MR/IND-Kopf ist eine hohe
Leistung verlangt worden. Die Entwicklung der MR-Vorrich
tung mit hoher Leistung auf dem Gebiet des Lesekopfes (MR-
Kopfes) ist im Gange gewesen. Die magnetoresistiven Spin-
Valve-Vorrichtungen (MR-Spin-Valve-Vorrichtungen), etc., die
nicht von der Bewegungsgeschwindigkeit des magnetischen
Schreibmediums abhängen und hohe magnetische Ausgangssigna
le vorsehen können, werden jetzt aufmerksam untersucht. An
dererseits ist eine hohe Leistung auch auf dem Gebiet des
Schreibkopfes gewünscht worden. Es ist nach solch einem
MR/IND-Kopf gefragt worden, der das Schreiben der magneti
schen Signale bis zu einem hohen Frequenzbereich und eine
kleinere Schreibstreuung gestattet.
Fig. 1A ist eine perspektivische Ansicht, die einen
MR/IND-Kopf des kombinierten Typs nach Stand der Technik
zeigt. Fig. 1B ist eine Schnittansicht, die den MR/IND-Kopf
des kombinierten Typs längs einer Linie I-I in Fig. 1A
zeigt. Fig. 2 ist eine Vorderansicht, die eine Luftlager
oberfläche (ABS) des MR/IND-Kopfes in Fig. 1A von der vorde
ren Endseite aus gesehen im Querschnitt zeigt.
Wie in Fig. 1A, iß und 2 gezeigt, sind auf der Lese
seite (R) ein unterer Magnetschirm 1 und ein oberer Magnet
schirm 4 unter bzw. auf einer magnetoresistiven Vorrichtung
(MR-Vorrichtung) 2 gebildet, um dazwischen die MR-Vorrich
tung 2 in vertikaler Richtung anzuordnen. Um zu verhindern,
daß das magnetische Feld, das auf der benachbarten Schreib
spur erzeugt wird, in die MR-Vorrichtung eintritt, sind der
untere Magnetschirm 1 und der obere Magnetschirm 4 der MR-
Vorrichtung 2 gebildet, um in der Spurbreitenrichtung eine
große Breite zu haben.
Auf der Schreibseite (W) wird ein unterer Magnetkern 4
des Schreibkopfes gemeinsam als oberer Magnetschirm 4 des
Wiedergabekopfes verwendet. Ein oberer Magnetkern 6 des
Schreibkopfes ist auf dem unteren Magnetkern 4 über einem
Isolierfilm 5 gebildet. Die ABS des oberen Magnetkerns 6 ist
in der Breite eingeengt, um mit einer Breite der Schreibspur
zu koinzidieren. Zwecks einer leichten Bearbeitbarkeit wird
als Material für den oberen Magnetkern 6 NiFe gewählt.
Übrigens ist eine leitfähige Spule 8 zwischen dem unteren
Magnetkern 4 und dem oberen Magnetkern 6 angeordnet und
durch den Isolierfilm 5 von ihnen isoliert.
Um die magnetische Schreibfeldstärke statt jene des
obigen MR/IND-Kopfes zu erhöhen, hat es ein Beispiel gege
ben, bei dem der FeN-Film auf dem Abschnitt des oberen
Magnetkerns, der aus einem NiFe-Film hergestellt war, gebil
det war, der dem unteren Magnetkern gegenüberliegt, um eine
hohe Leistung zu erreichen (japanische Patentanmeldungsver
öffentlichung TOKUKAIHEI6-131630).
Falls jedoch der untere Magnetkern 4 breiter gebildet
ist, wird das Schreibmagnetfeld in der Spurbreitenrichtung
ausgebreitet. Dadurch wird, wie in Fig. 6B gezeigt, die
Magnetisierung, die auf der Schreibspur aufgezeichnet wird,
mehr als eine spezifizierte Breite der Schreibzone ausge
breitet und ist an beiden Schreibausbreitungsabschnitten
gekrümmt. Als Gründe für diese Erscheinung gelten folgende.
Und zwar wird, da die ABS des oberen Magnetkerns 6 des
Magnetkopfes (Magnetfeldaustrittsseite) dünn ist, ein magne
tischer Fluß in dessen Seitenwänden und dessen gegenüberlie
gendem Abschnitt, der dem unteren Magnetkern 4 gegenüber
liegt, leicht gesättigt. Deshalb beginnt die magnetische
Sättigung, sich beim Schreiben der magnetischen Signale von
der ABS allmählich auszubreiten. Daher werden, wie in Fig.
6B gezeigt, da sich die magnetische Sättigungszone von der
ABS allmählich ausbreitet, Magnetkraftlinien entsprechend
von Abschnitten erzeugt, die von der ABS entfernt sind.
Auf Grund dieser Erscheinung ist die Schreibmagnetisie
rung, die auf dem magnetischen Schreibmedium 10 aufgezeich
net wird, in der Breite ausgebreitet worden, und beide
Endabschnitte der Schreibmagnetisierung sind auf Grund einer
Phasenverzögerung der Magnetkraftlinie, die von Abschnitten
ausgeht, die von der ABS weit entfernt sind, gekrümmt wor
den.
Das Krümmen der Schreibmagnetisierung an beiden Endab
schnitten bewirkt ein Rauschen beim Lesen der magnetischen
Signale, wodurch ein Lesefehler verursacht wird. Solch ein
Ausbreiten der Schreibmagnetisierung verhindert eine hohe
Schreibdichte in der Schreibspur.
In der Literatur (S. X. Wang und P. R. Webb; "Modeling
of Submicron Trackwidth Inductive Write Head Designs", IEEE,
Trans. Magn., Bd. 31, S. 2687, 1995) ist der MR/IND-Kopf
untersucht worden, in dem FeN mit einer magnetischen Fluß
dichte mit hoher Sättigung (Bs) als weichmagnetisches Mate
rial des oberen Magnetkerns verwendet wird. FeN ist effek
tiv, um die magnetische Sättigung zu unterdrücken. FeN kann
jedoch nur durch ein reaktives Sputterverfahren abgeschieden
werden. Um das FeN zu dem Magnetkern zu verarbeiten, ist
deshalb ein geeigneter Ätzprozeß erforderlich. In diesem
Fall haften Ätzprodukte an den Seitenwänden der Ätzmaske und
verbleiben als Grat. Es kommt zu dem Problem, daß leicht
Risse auftreten, selbst wenn der Ätzprozeß gut ausgeführt
worden ist, und deshalb ist es schwierig, FeN zu verwenden.
In der obigen Literatur ist der FeN-Film, der als obe
rer Magnetkern verwendet wird, als Shunt auf den Seitenab
schnitten der Lücke vorgesehen, damit das Magnetfeld aus
den Kantenabschnitten der Lücke nicht aus der Lücke heraus
tritt. Jedoch sind die erwarteten Resultate nicht erreicht
worden, und, im Gegenteil, die Ausbreitung des Magnetfeldes
ist im Vergleich zu dem gewöhnlichen MR/IND-Kopf eher ver
stärkt.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht
darin, einen IND-Kopf zu schaffen, bei dem die Ausbreitung
des Schreibmagnetfeldes auf ABSs von Magnetkernen auf der
Schreibkopfseite unterdrückt werden kann, ferner ein magne
tisches Schreib-/Leselaufwerk, in dem der MR/IND-Kopf ver
wendet werden kann und ein Verfahren zum Herstellen des
IND-Kopfes zu schaffen.
In Verbindung mit dem IND-Kopf wird die genannte Auf
gabe durch die im Anspruch 1 aufgeführten Merkmale gelöst.
Besonders vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbil
dungen des erfindungsgemäßen IND-Kopfes ergeben sich aus
den Ansprüchen 2 bis 7.
In Verbindung mit dem magnetischen Schreib-/Leselauf
werk wird die genannte Aufgabe durch die im Anspruch 8 an
gegebenen Merkmale gelöst, wobei vorteilhafte Ausgestaltun
gen des erfindungsgemäßen magnetischen Schreib-/Leselauf
werks aus den Ansprüchen 9 bis 11 hervorgehen.
In Verbindung mit dem Verfahren zur Herstellung des
induktiven Dünnfilmkopfes wird die genannte Aufgabe durch
die im Anspruch 12 und 13 ausgeführten Verfahrensschritte gelöst,
wobei vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen
Verfahren aus dem Unteranspruch 14 hervorgehen.
In dem IND-Kopf der vorliegenden Erfindung, der zwei
Magnetkerne hat, deren ABSs gebildet sind, um über die Lüc
kenschicht hinweg einander gegenüberzuliegen, sind Sei
tenwände der ABS von wenigstens einem Magnetkern gebildet,
um eine magnetische Flußdichte mit höherer Sättigung als
jene des übrigen Abschnittes des Magnetkerns zu haben.
Daher kann beim Ausführen des magnetischen Schreibens
auf dem magnetischen Schreibmedium die magnetische Sätti
gung an den Seitenabschnitten des Magnetkerns unterdrückt
werden. Deshalb kann ein Austrittsbereich von Magnetkraft
linien auf die dem magnetischen Schreibmedium und seinem
Nachbarbereich gegenüberliegende Oberfläche begrenzt wer
den, so daß die Ausbreitung des Magnetfeldes außerhalb der
Lücke unterdrückt werden kann. Da die Magnetisierung, die
auf dem magnetischen Schreibmedium aufgezeichnet wird, we
der in der Breite ausgebreitet noch an beiden Endabschnit
ten gekrümmt wird, kann somit ein Fehler beim Lesen der ma
gnetischen Signale verhin
dert werden, und ein Schreiben mit hoher Dichte der magneti
schen Signale kann auch implementiert werden.
Da die Seitenwände des einen Magnetkerns und die gegen
überliegende Oberfläche des einen Magnetkerns, die dem
anderen Magnetkern gegenüberliegt, gebildet sind, um eine
magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung zu haben, kann
die magnetische Sättigung des Magnetkerns beim Schreiben der
magnetischen Signale unterdrückt werden. So werden Magnet
kraftlinien nur von der Oberfläche des Magnetkerns aus
erzeugt, die dem magnetischen Schreibmedium und seiner
benachbarten Oberfläche gegenüberliegt, und deshalb kann die
Ausbreitung des Magnetfeldes außerhalb der Lücke effektiver
unterdrückt werden.
Da entweder die Seitenwände des einen Magnetkerns oder
beide Seitenwände und die gegenüberliegende Oberfläche des
einen Magnetkerns gebildet sind, um eine magnetische Fluß
dichte mit hoher Sättigung zu haben, und zusätzlich die
Oberflächenschicht des anderen Magnetkerns gebildet ist, um
eine magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung zu haben,
kann die magnetische Sättigung nicht nur bei dem einen
Magnetkern sondern auch bei dem anderen Magnetkern unter
drückt werden. Deshalb werden eine Austrittszone und eine
Eintrittszone von Magnetkraftlinien keineswegs erweitert,
und somit kann das Ausbreiten des Magnetfeldes von dem
Magnetkern außerhalb der Lücke effektiv unterdrückt werden.
Da ein Abschnitt des anderen Magnetkerns, der dem einen
Magnetkern gegenüberliegt, gebildet ist, um im wesentlichen
mit derselben Breite wie jener des einen Magnetkerns hervor
zustehen, breiten sich Magnetkraftlinien, die aus dem einen
Magnetkern austreten, nicht außerhalb der Lücke aus, sondern
treten durch das magnetische Schreibmedium in den vorstehen
den Abschnitt des anderen Magnetkerns ein. In Kooperation
mit dem Unterdrückungseffekt der magnetischen Sättigung, der
durch den einen Magnetkern verursacht wird, kann daher die
Ausbreitung des Magnetfeldes in Richtung der Schreibspur
breite unterdrückt werden.
Ferner können anstelle des Vorstehens des anderen
Magnetkerns mit derselben Breite wie der eine Magnetkern
Breiten von dem einen Magnetkern und dem anderen Magnetkern
festgelegt sein, um im wesentlichen gleich zu sein.
Falls des weiteren eine Breite des anderen Magnetkerns
ähnlich jener des einen Magnetkerns verengt ist, tritt in
dem anderen Magnetkern leicht eine magnetische Sättigung
auf. So ist es beim Unterdrücken der magnetischen Sättigung
effektiv, an den Seitenoberflächen und der gegenüberliegen
den Oberfläche des anderen Magnetkerns eine magnetische
Flußdichte mit höherer Sättigung als bei dem übrigen Ab
schnitt des anderen Magnetkerns vorzusehen.
Ferner kann gemäß dem Verfahren zum Herstellen des IND-
Kopfes der vorliegenden Erfindung, falls der zweite weich
magnetische Film, z. B. der NiFe-Film, mit dem Film mit
einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung bedeckt
wird, z. B. mit dem FeN-Film, und dann durch anisotropes
Ätzen gemustert wird, der Film mit einer magnetischen Fluß
dichte mit hoher Sättigung auf den Seitenwänden des zweiten
weichmagnetischen Films ohne die Ätzmaske gebildet werden.
Da von dem Film mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher
Sättigung kein Grat verbleibt und Hauptabschnitte des Ma
gnetkerns aus dem NiFe-Film gebildet sind, kann deshalb auch
die Erzeugung von Rissen verhindert werden.
Indessen war wohlbekannt, daß sich im Fall des Ätzens
des FeN-Films durch Ionenstrahlätzen oder Sputterätzen die
Materialien, die von Ätzprodukten zerstäubt werden, wieder
auf den Seitenwänden des Vorsprungs abscheiden würden.
Dieses Merkmal wird in dem anderen Verfahren zum Herstellen
des IND-Kopfes der vorliegenden Erfindung genutzt. Mit
anderen Worten, nachdem der weichmagnetische Film entspre
chend der Plattierungsmaske auf dem Film mit einer magneti
schen Flußdichte mit hoher Sättigung, z. B. auf dem FeN-
Film, selektiv gebildet ist, wird der Basisfilm mit einer
magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung geätzt, um die
Filme mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung
als Ätzprodukte auf den Seitenwänden des zweiten weichmagne
tischen Films zu bilden. Aus diesem Grund kann der Film mit
einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf den
Seitenwänden und der gegenüberliegenden Oberfläche des
zweiten weichmagnetischen Films ohne die Ätzmaske gebildet
werden. Da von dem Film mit magnetischer Flußdichte mit
hoher Sättigung kein Grat verbleibt und Hauptabschnitte des
Magnetkerns auch aus dem NiFe-Film gebildet sind, kann
deshalb die Erzeugung von Rissen verhindert werden.
Gemäß dem magnetischen Schreib/Lese-Laufwerk der vor
liegenden Erfindung kann, da der MR/IND-Kopf in ihm instal
liert ist, verhindert werden, daß sich Magnetkraftlinien,
die von der ABS des Magnetkerns in dem Schreibabschnitt in
das magnetische Schreibmedium eintreten oder von diesem in
die ABS des Magnetkerns eintreten, außerhalb der Lücke
ausbreiten.
Da das Ausbreiten der Schreibmagnetisierung, die auf
dem magnetischen Schreibmedium aufgezeichnet wird, und das
Krümmen der Schreibmagnetisierung an beiden Endabschnitten
unterdrückt werden kann, kann deshalb der Signalfehler beim
Lesen der magnetischen Signale verhindert werden und kann
auch das Schreiben mit hoher Dichte der magnetischen Signale
verbessert werden.
Fig. 1A ist eine perspektivische Ansicht, die eine ABS
eines MR/IND-Kopfes nach Stand der Technik zeigt;
Fig. 1B ist eine Schnittansicht, die die ABS längs
einer Linie I-I in Fig. 1A zeigt;
Fig. 2 ist eine Vorderansicht, die die ABS in Fig. 1A
im Querschnitt zeigt;
Fig. 3A ist eine perspektivische Ansicht, die die ABS
des MR/IND-Kopfes gemäß der ersten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 3B ist eine Schnittansicht, die die ABS längs
einer Linie II-II in Fig. 3A zeigt;
Fig. 4 ist eine Vorderansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer ersten Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung im Querschnitt zeigt;
Fig. 5A bis 5E sind Schnittansichten, die ein Verfahren
zum Herstellen des MR/IND-Kopfes gemäß der ersten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung zeigen;
Fig. 6A ist eine perspektivische Ansicht, die einen
Prozeß zum Schreiben magnetischer Signale auf einem magneti
schen Schreibmaterial unter Verwendung des MR/IND-Kopfes
gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
zeigt;
Fig. 6B ist eine perspektivische Ansicht, die einen
Prozeß zum Schreiben magnetischer Signale auf einem magneti
schen Schreibmaterial unter Verwendung des MR/IND-Kopfes
gemäß einem Vergleichsbeispiel zeigt;
Fig. 7 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer zweiten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt;
Fig. 8A bis 8E sind Schnittansichten, die ein Verfahren
zum Herstellen des MR/IND-Kopfes gemäß der zweiten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung zeigen;
Fig. 9 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer dritten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt;
Fig. 10 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer vierten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt;
Fig. 11 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer fünften Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt;
Fig. 12 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer sechsten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 13 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer siebten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt;
Fig. 14 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer achten Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung zeigt;
Fig. 15 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer neunten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt; und
Fig. 16 ist eine Draufsicht, die ein magnetisches
Schreib/Lese-Laufwerk gemäß einer zehnten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt, das mit dem MR/IND-Kopf
nach irgendeiner der ersten bis neunten Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung versehen ist.
Unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen wer
den unten bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung erläutert.
Fig. 3A ist eine perspektivische Ansicht, die die ABS
(den vorderen Endabschnitt) des MR/IND-Kopfes gemäß der
ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
Fig. 3B ist eine Schnittansicht, die die ABS des MR/IND-
Kopfes längs einer Linie II-II in Fig. 3A zeigt. Fig. 4 ist
eine Schnittansicht, die die ABS des MR/IND-Kopfes längs
einer Linie III-III in Fig. 3A zeigt.
Wie in Fig. 3A gezeigt, sind auf der Wiedergabeseite
(R) ein unterer Magnetschirm 21 und ein oberer Magnetschirm
24 unter bzw. auf einer magnetoresistiven Vorrichtung (MR-
Vorrichtung) 22 vertikal gebildet, um die MR-Vorrichtung 22
dazwischen anzuordnen. Zwischen der MR-Vorrichtung 22 und
dem unteren Magnetschirm 21 und zwischen der MR-Vorrichtung
22 und dem oberen Magnetschirm 24 sind jeweils Isolierfilme
23 eingefügt, die aus einem Aluminiumoxidfilm oder Silizi
umoxidfilm gebildet sind. Um zu verhindern, daß das Magnet
feld von einer benachbarten Schreibspur in die MR-Vorrich
tung eintritt, sind der untere Magnetschirm 21 und der obere
Magnetschirm 24 gebildet, um in der Spurbreitenrichtung eine
größere Breite zu haben.
Auf der Schreibseite (W) wird ein unterer Magnetkern
(eine erste weichmagnetische Schicht) 24 des Schreibkopfes
auch als oberer Magnetschirm 24 des Wiedergabekopfes verwen
det. Ein NiFe-Film wird als unterer Magnetkern 24 verwendet.
In der ABS des MR/IND-Kopfes ist ein oberer Magnetkern
(eine zweite weichmagnetische Schicht) 26 des Schreibkopfes
über einem Isolierfilm (Lückenschicht), der aus einem Alumi
niumoxidfilm oder Siliziumoxidfilm gebildet ist, auf dem
unteren Magnetkern 24 gebildet.
Eine ABS des oberen Magnetkerns 26 ist in der Breite
eingeengt, um mit einer Schreibspurbreite zu koinzidieren.
Eine Distanz einer Lücke 27 ist durch eine Filmdicke der
Lückenschicht bestimmt. Der obere Magnetkern 26 ist aus
einem NiFe-Film (der übrige Abschnitt) 26a gebildet. Ein
FeN-Film (Film mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher
Sättigung) 26b mit magnetischer Flußdichte mit hoher Sätti
gung (Bs) ist auf den gesamten Oberflächen auf beiden Seiten
der eingeengten ABS gebildet. Der NiFe-Film 26a hat eine Bs
von etwa 1 T, während der FeN-Film 26b eine Bs von 2 T hat.
In dem zentralen Abschnitt des MR/IND-Kopfes ist eine
leitfähige Spule 33, die ein Magnetfeld zum Schreiben er
zeugt, zwischen dem unteren Magnetkern 24 und dem oberen
Magnetkern 26 angeordnet und von ihnen durch den Isolierfilm
25 isoliert.
Ferner ist einer sich über die gesamte Oberfläche
erstreckender oberer Magnetkern 26 mit einem Isolierfilm 25
bedeckt, der aus einem Aluminiumoxidfilm oder Siliziumoxid
film gebildet ist.
Als nächstes wird ein Verfahren zum Herstellen des
MR/IND-Kopfes gemäß der ersten Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung unter Bezugnahme auf Fig. 5A bis 5E erläu
tert. Fig. 5A bis 5E sind Schnittansichten, die Herstel
lungsschritte bei dem Verfahren zum Herstellen des MR/IND-
Kopfes zeigen.
Zuerst wird die Situation vor Bildung des oberen
Magnetkerns 26 in Fig. 5A gezeigt. Wie in Fig. 5A gezeigt,
ist der obere Magnetschirm 24 auf dem unteren Magnetschirm
21 auf der Wiedergabeseite (R) über dem Isolierfilm 23
gebildet. Der Isolierfilm 23 ist aus einem etwa 50 bis 400
nm dicken Aluminiumoxidfilm oder Siliziumoxidfilm gebildet,
während der obere Magnetschirm 24 aus einem 0,5 bis 3 µm
dicken NiFe-Film gebildet ist. Die MR-Vorrichtung 22 ist
zwischen dem unteren Magnetschirm 21 und dem oberen Magnet
schirm 24 gebildet und von dem unteren Magnetschirm 21 und
dem oberen Magnetschirm 24 isoliert.
Der Isolierfilm (Lückenschicht) 25a, der aus einem etwa
0,1 bis 0,6 µm dicken Aluminiumoxidfilm oder Siliziumoxid
film hergestellt ist, ist auf dem oberen Magnetschirm 24
gebildet. Die Filmdicke der Lückenschicht 27 definiert den
Abstand in der Lücke des Schreibkopfes.
In diesem Zustand wird, wie in Fig. 5B gezeigt, ein
Resistmuster 31a auf dem Isolierfilm 25a gebildet. Öffnungen
32a, die jeweils eine Breite von 3 bis 4 µm haben, werden in
dem Resistmuster 31a gebildet, um den oberen Magnetkern 26
auf dem Isolierfilm 25a zu bilden.
Dann wird ein NiFe-Film 26a mit einer Dicke von etwa 3
µm in den Öffnungen 32a des Resistmusters 31a durch Plattie
rung unter Verwendung des Resistmusters 31a als Maske gebil
det.
Danach wird, wie in Fig. 5C gezeigt, der FeN-Film 26b
mit einer Dicke von 100 bis 1500 nm durch Aufsputtern gebil
det, nachdem das Resistmuster 31a entfernt ist.
Anschließend wird unter Einsatz des Ionenstrahlätzens
unter Verwendung von Argongas der FeN-Film 26b durch aniso
tropes Ätzen geätzt, um den FeN-Film 26b nur auf den Seiten
wänden des NiFe-Films 26a zu hinterlassen. Da in diesem Fall
keine Ätzmaske erforderlich ist, ist es nicht wahrschein
lich, daß Ätzprodukte des FeN-Films 26b an den Seitenwänden
der Ätzmaske haften, so daß sie in keiner Weise als Grat
verbleiben. Damit ist, wie in Fig. 5D gezeigt, der obere
Magnetkern 26, bei dem der FeN-Film 26b auf den Seitenwänden
der ABS des NiFe-Films 26a gebildet ist, vollendet.
Als nächstes wird dann, wie in Fig. 5E gezeigt, der
Isolierfilm 25b gebildet, der aus einem Aluminiumoxidfilm
oder Siliziumoxidfilm hergestellt wird, um den oberen
Magnetkern 26 zu bedecken. Danach wird der magnetoresistive
Kopf durch vorbestimmte Herstellungsschritte vollendet.
Obwohl in der obigen Ausführungsform der FeN-Film 26b
auf den gesamten Seitenoberflächen des NiFe-Films 26a statt
nur auf den Seitenoberflächen der ABS des NiFe-Films 26a
gebildet wird, werden durch solch eine Abänderung weder der
Effekt des Unterdrückens der magnetischen Sättigung in der
ABS noch andere magnetische Charakteristiken beeinträchtigt.
Es werden die Resultate des Schreibens der magnetischen
Signale bei Verwendung des MR/IND-Kopfes, der wie oben
hergestellt ist, erläutert. Für Vergleichszwecke sind auch
die Resultate des Schreibens der magnetischen Signale bei
Verwendung des MR/IND-Kopfes geprüft worden, bei dem kein
FeN-Film auf den Seitenoberflächen der ABSs des oberen
Magnetkerns 6 gebildet ist. Das Schreiben ist in Form von
einer magnetomotorischen Kraft von Windungen von 0,5 A
ausgeführt worden, die durch Anwenden des Stroms auf die
leitfähige Spule 33 erzeugt wurde. Die Prüfungsresultate
sind in Fig. 6A und 6B gezeigt. Wie in Fig. 6A gezeigt, ist
gemäß dem MR/IND-Kopf nach der ersten Ausführungsform die
Schreibmagnetisierung weder in der Breite ausgebreitet noch
an ihren beiden Endabschnitten gekrümmt worden. Im Gegenteil
ist, wie in Fig. 6B gezeigt, bei dem Vergleichsbeispiel eine
Breite der Schreibmagnetisierung ausgebreitet worden, und
eine Krümmung der Schreibmagnetisierung ist an beiden End
abschnitten der Ausbreitungsschreibmagnetisierung erschie
nen.
Als Gründe für die obige Erscheinung gelten folgende.
Und zwar wird in dem MR/IND-Kopf gemäß der ersten Ausfüh
rungsform, da der FeN-Film 26b auf Seitenoberflächen des
oberen Magnetkerns 26 auf der Schreibkopfseite
(Magnetfeldaustrittsseite) gebildet ist, eine magnetische
Flußdichte mit hoher Sättigung aufweist, und an den Seitenober
flächen des oberen Magnetkerns 26 nie eine magnetische
Sättigung verursacht. Somit wird angenommen, daß Magnet
kraftlinien von einer dem magnetischen Schreibmedium 44 oder
seiner benachbarten Oberfläche gegenüberliegenden Oberfläche
des oberen Magnetkerns 26 erzeugt werden, so daß sie sich
nicht außerhalb der Lücke 27 ausbreiten.
Im Gegensatz dazu werden bei dem Vergleichsbeispiel,
wie in Fig. 6B gezeigt, ein Teil der ABS des oberen Magnet
kerns 6 des Schreibkopfes (Magnetfeldaustrittsseite), der
dem unteren Magnetkern 4 gegenüberliegt, und seine Seiten
teile magnetisch gesättigt. Deshalb scheint es, daß auf
Grund solch einer magnetischen Sättigung Magnetkraftlinien
von Teilen erzeugt werden, die von der Oberfläche, die dem
magnetischen Schreibmedium 10 gegenüberliegt, weit entfernt
sind.
Da gemäß der ersten Ausführungsform, wie oben erläu
tert, das Ausbreiten des Magnetfeldes von dem Magnetkern
außerhalb der Lücke unterdrückt werden kann, ist die
Schreibmagnetisierung weder in der Breite ausgebreitet noch
an ihren beiden Endabschnitten gekrümmt worden. Dadurch kann
ein Fehler beim Wiedergeben der magnetischen Signale verhin
dert werden, und ein Schreiben mit hoher Dichte kann auch
erreicht werden.
Fig. 7 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer zweiten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt.
Die zweite Ausführungsform unterscheidet sich von der
ersten Ausführungsform darin, daß der FeN-Film 26c, der eine
magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung hat, des weiteren
auf der gegenüberliegenden Oberfläche des oberen Magnetkerns
26 der Schreibseite (W) gebildet ist, die dem unteren Ma
gnetkern 24 gegenüberliegt. In Fig. 7 bezeichnen gleiche
Bezugszeichen wie in Fig. 4 gleiche Teile wie in Fig. 4.
Als nächstes wird ein Verfahren zum Herstellen des
MR/IND-Kopfes gemäß der zweiten Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung unter Bezugnahme auf Fig. 8A bis 8E erläu
tert. Fig. 8A bis 8E sind Schnittansichten, die Herstel
lungsschritte beim Verfahren zum Herstellen des MR/IND-
Kopfes zeigen.
In Fig. 8A ist die Situation vor Bildung des oberen
Magnetkerns 26 gezeigt. Wie in Fig. 8A gezeigt, ist der
obere Magnetschirm 24 auf dem unteren Magnetschirm 21 auf
der Leseseite (R) über dem Isolierfilm 23, wie z. B. einem
Aluminiumoxidfilm, gebildet. Die MR-Vorrichtung 22 ist
zwischen dem unteren Magnetschirm 21 und dem oberen Magnet
schirm 24 angeordnet und von dem unteren Magnetschirm 21 und
dem oberen Magnetschirm 24 isoliert. Auf dem oberen Magnet
schirm 24 ist ein Isolierfilm 25a gebildet, der aus einem
Aluminiumoxidfilm oder Siliziumoxidfilm mit einer Dicke von
etwa 0,1 bis 0,6 µm hergestellt ist. Der Abstand in der
Lücke des Schreibkopfes ist durch die Filmdicke des Isolier
films 25a definiert.
In diesem Zustand wird der FeN-Film 26c auf dem Iso
lierfilm 25a durch reaktive Zerstäubung gebildet, um eine
Filmdicke von etwa 0,1 bis 1 µm zu haben.
Dann wird, wie in Fig. 8B gezeigt, ein Resistmuster 31b
auf dem Isolierfilm 25a gebildet. Das Resistmuster 31b hat
Öffnungen 32b, die jeweils eine Breite von 3 bis 4 µm haben,
um den oberen Magnetkern 26 auf dem Isolierfilm 25a zu
bilden. Anschließend wird ein NiFe-Film 26a mit einer Dicke
von etwa 3 µm in den Öffnungen 32b des Resistmusters 31b
durch Plattierung unter Verwendung des Resistmusters 31b als
Maske gebildet.
Dann wird das Resistmuster 31b entfernt. Danach wird
unter Einsatz des Ionenstrahlätzens, bei dem Argongas mit
dem Gasdruck von 2 × 10-4 Torr verwendet wird, der FeN-Film
26c, der auf dem Isolierfilm 25a gebildet ist, geätzt. Dabei
wird, wie in Fig. 8C gezeigt, der geätzte FeN-Film 26c
wieder an Seitenwänden des NiFe-Films 26a abgeschieden. Da
in diesem Fall keine Ätzmaske verwendet wird, besteht nicht
die Möglichkeit, daß Ätzprodukte des FeN-Films 26b, die an
den Seitenwänden der Ätzmaske haften, als Grat verbleiben.
Dadurch wird, wie in Fig. 8D gezeigt, der FeN-Film 26b
auf den Seitenwänden der ABS des NiFe-Films 26a gebildet,
und der FeN-Film 26c ist auch auf der gegenüberliegenden
Oberfläche der ABS des NiFe-Films 26a gebildet, die dem
unteren Magnetkern 24 gegenüberliegt. Der obere Magnetkern
26 ist somit vollendet.
Als nächstes wird, wie in Fig. 8E gezeigt, der Isolier
film 25b gebildet, der aus einem Aluminiumoxidfilm oder
Siliziumoxidfilm hergestellt wird, um den oberen Magnetkern
26 zu bedecken. Danach wird der magnetoresistive Kopf durch
vorbestimmte Herstellungsschritte vollendet.
In dem so gebildeten MR/IND-Kopf haben die FeN-Filme
26b, 26c, die auf den Seitenwänden und der gegenüberliegen
den Oberfläche der ABS des NiFe-Films 26a gebildet sind,
eine magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung. Aus diesem
Grund tritt beim Schreiben der magnetischen Signale in dem
oberen Magnetkern 26 keine magnetische Sättigung auf. Daher
werden Magnetkraftlinien von der dem magnetischen Schreib
medium 44 oder seiner benachbarten Oberfläche gegenüberlie
genden Oberfläche des oberen Magnetkerns 26 so erzeugt, daß
sie sich nicht außerhalb der Lücke 27 ausbreiten.
Dementsprechend ist, falls die magnetischen Signale
durch den MR/IND-Kopf gemäß der zweiten Ausführungsform, wie
in Fig. 6A, aufgezeichnet werden, die Schreibmagnetisierung
weder in der Breite ausgebreitet noch an beiden Endabschnit
ten des oberen Magnetkerns 26 gekrümmt worden. Deshalb kann
ein Wiedergabefehler der magnetischen Signale verhindert
werden, und es kann auch ein Schreiben mit hoher Dichte
erreicht werden.
Fig. 9 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer dritten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt.
Ein Unterschied der dritten Ausführungsform von den
obigen Ausführungsformen besteht darin, daß ein FeN-Film 28
mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf
der Oberfläche des unteren Magnetkerns 24 auf der Schreib
seite (W) gebildet ist, die dem oberen Magnetkern 26 gegen
überliegt. In Fig. 9 bezeichnen gleiche Bezugszeichen wie in
Fig. 7 die gleichen Teile wie in Fig. 7.
In diesem Fall wird dann, nachdem der NiFe-Film, der
als unterer Magnetkern 24 dient, in Fig. 8A gebildet ist,
der FeN-Film 28 gebildet. Der MR/IND-Kopf wird durch diesel
ben Schritte vollendet, die unter Bezugnahme auf Fig. 8B bis
8E erläutert wurden.
Der untere Magnetkern 24 wird magnetisch gesättigt, ob
wohl er nicht so extrem wie der schmale obere Magnetkern 26
gesättigt wird, da der untere Magnetkern 24 dem oberen
Magnetkern 26 gegenüberliegt. Sobald die magnetische Sätti
gung des unteren Magnetkerns 24 eintritt, erstreckt sich
solch eine Sättigungszone allmählich von der dem oberen
Magnetkern 26 gegenüberliegenden Oberfläche zu ihren peri
pheren Abschnitten.
Da gemäß der dritten Ausführungsform der FeN-Film 28
mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf
der Oberfläche des unteren Magnetkerns 24 gebildet ist, kann
die magnetische Sättigung nicht nur bei dem oberen Magnet
kern 26 sondern auch bei dem Bereich des unteren Magnetkerns
24 unterdrückt werden, der dem oberen Magnetkern 26 gegen
überliegt. Als Resultat kann die Ausbreitung des Magnetfel
des von dem Magnetkern außerhalb der Lücke viel mehr unter
drückt werden.
Fig. 10 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer vierten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt.
Die vierte Ausführungsform ist der dritten Ausführungs
form dahingehend ähnlich, daß der FeN-Film 28, der eine
magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung hat, auf der
Oberfläche des unteren Magnetkerns 24 auf der Schreibseite
(W) gebildet ist, die dem oberen Magnetkern 26 gegenüber
liegt. Jedoch unterscheidet sich die vierte Ausführungsform
von der dritten Ausführungsform darin, daß der FeN-Film 28
auf einen Bereich begrenzt ist, der unter dem oberen Magnet
kern 26 angeordnet ist. In Fig. 10 bezeichnen gleiche Be
zugszeichen wie in Fig. 9 die gleichen Teile wie in Fig. 9.
In diesem Fall wird dann, nachdem der NiFe-Film, der
als unterer Magnetkern 24 dient, in Fig. 8A gebildet ist,
der FeN-Film 28 gebildet und gemustert. Der MR/IND-Kopf wird
durch dieselben Schritte vollendet, die unter Bezugnahme auf
Fig. 8B bis 8E erläutert wurden.
Gemäß der vierten Ausführungsform kann, da der FeN-Film
28, der eine magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung hat,
auf der Oberfläche des unteren Magnetkerns 24 gebildet ist,
wie bei der dritten Ausführungsform, die magnetische Sätti
gung des Bereiches des unteren Magnetkerns 24, der dem
oberen Magnetkern 26 gegenüberliegt, unterdrückt werden.
Demzufolge kann die Ausbreitung des Magnetfeldes von dem
Magnetkern außerhalb der Lücke immer mehr unterdrückt wer
den.
Wie oben erläutert, kann gemäß den dritten und vierten
Ausführungsformen die Ausbreitung des Magnetfeldes von dem
Magnetkern zu dem Bereich außerhalb der Lücke unterdrückt
werden, und deshalb ist die Schreibmagnetisierung weder in
der Breite ausgebreitet noch an beiden Endabschnitten des
oberen Magnetkerns 26 gekrümmt worden. So kann ein Wieder
gabefehler verhindert werden, und das Schreiben der magneti
schen Signale kann auch mit hoher Dichte implementiert
werden.
Fig. 11 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer fünften Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt.
Ein Aspekt der fünften Ausführungsform unterscheidet
sich von der zweiten Ausführungsform darin, daß ein vorste
hender Abschnitt 29 mit einer Dicke von 0,1 bis 1 µm auf dem
unteren Magnetkern 24 gebildet ist, um dem oberen Magnetkern
26 auf der Schreibseite (W) gegenüberzuliegen, um im wesent
lichen dieselbe Breite wie der obere Magnetkern 26 an einem
dem oberen Magnetkern 26 gegenüberliegenden Bereich des
unteren Magnetkerns 24 zu haben. In Fig. 11 kennzeichnen
gleiche Bezugszeichen wie in Fig. 7 die gleichen Teile wie
in Fig. 7.
In diesem Fall wird der als unterer Magnetkern 24 die
nende NiFe-Film, nachdem er in Fig. 8A gebildet ist, durch
selektives Ätzen 0,1 bis 1 µm tief geätzt. Der magnetoresi
stive Kopf wird durch dieselben Schritte vollendet, die
unter Bezugnahme auf Fig. 8B bis 8E erläutert wurden.
Da gemäß der fünften Ausführungsform der untere Magnet
kern 24 entsprechend dem oberen Magnetkern 26 aus dem ande
ren Bereich des unteren Magnetkerns 24 mit derselben Breite
wie der obere Magnetkern 26 herausragt, breiten sich Magnet
kraftlinien, die aus dem oberen Magnetkern 26 entweichen,
nicht außerhalb der Lücke 27 aus, sondern treten durch das
magnetische Schreibmedium in den vorstehenden Abschnitt 29
auf dem unteren Magnetkern 24 ein. In Kooperation mit dem
die magnetische Sättigung unterdrückenden Effekt, der durch
die FeN-Filme 26a, 26b, 26c verursacht wird, kann daher die
Ausbreitung des Magnetfeldes in der Richtung der Schreib
spurbreite weiter unterdrückt werden.
Als Resultat ist die Schreibmagnetisierung weder in der
Breite ausgebreitet noch an beiden Endabschnitten des oberen
Magnetkerns 26 gekrümmt worden. So kann ein Wiedergabefehler
verhindert werden, und ein Schreiben mit hoher Dichte der
magnetischen Signale kann auch erreicht werden.
In den dritten bis fünften Ausführungsformen ist der
FeN-Film 26c auf der Oberfläche des oberen Magnetkerns 26
gebildet worden, die dem unteren Magnetkern 24 gegenüber
liegt, aber er kann weggelassen werden, falls die FeN-Filme
26b auf den Seitenabschnitten des oberen Magnetkerns 26
gebildet werden.
Fig. 12 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer sechsten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt.
Ein Unterschied der sechsten Ausführungsform von der
ersten Ausführungsform besteht darin, daß der untere Magnet
kern 30, der dem oberen Magnetkern 26 gegenüberliegt, auf
der Schreibseite (W) im wesentlichen dieselbe Breite wie der
obere Magnetkern 26 hat und separat von dem oberen Magnet
schirm 24 auf der Wiedergabeseite (R) gebildet ist. In Fig.
12 bezeichnen gleiche Bezugszeichen wie in Fig. 4 die glei
chen Teile wie in Fig. 4.
In diesem Fall wird wie bei Fig. 5A und 5B, nachdem der
Isolierfilm 25a gebildet ist, der NiFe-Film (der übrige
Abschnitt) 30a mit einer Dicke von etwa 0,5 bis 3 µm gebil
det, der als unterer Magnetkern 30 dient. Nachdem wieder der
Isolierfilm 25a gebildet ist, wird anschließend der MR/IND-
Kopf durch dieselben Schritte vollendet, die unter Bezug
nahme auf Fig. 5A bis 5E erläutert wurden.
Gemäß der obigen sechsten Ausführungsform wird, da der
FeN-Film 26b auf den Seitenabschnitten der ABSs des oberen
Magnetkerns 26 gebildet ist und der untere Magnetkern 30,
der dieselbe Breite wie der obere Magnetkern 26 an der ABS
des MR/IND-Kopfes hat, separat von dem oberen Magnetschirm
24 auf der Wiedergabeseite (R) gebildet ist, an den Seiten
abschnitten des oberen Magnetkerns 26 keine magnetische
Sättigung verursacht, und zusätzlich breiten sich Magnet
kraftlinien, die aus dem oberen Magnetkern 26 entweichen,
nicht außerhalb der Lücke 27 aus, sondern treten durch das
magnetische Schreibmedium in den unteren Magnetkern 30 ein.
Falls die magnetischen Signale durch diesen MR/IND-Kopf
aufgezeichnet wurden, ist daher die Schreibmagnetisierung
weder in der Breite ausgebreitet noch an beiden Endabschnit
ten des oberen Magnetkerns 26 gekrümmt worden. Somit kann
ein Wiedergabefehler verhindert werden, und das Schreiben
mit hoher Dichte der magnetischen Signale kann auch erreicht
werden.
Fig. 13 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer siebten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt.
Die siebte Ausführungsform unterscheidet sich von der
sechsten Ausführungsform darin, daß an der ABS des MR/IND-
Kopfes der FeN-Film 26c, der eine magnetische Flußdichte mit
hoher Sättigung hat, auf der Oberfläche des oberen Magnet
kerns 26 gebildet ist, die dem unteren Magnetkern 30 auf der
Schreibseite (W) gegenüberliegt. In Fig. 13 bezeichnen
gleiche Bezugszeichen wie in Fig. 12 die gleichen Teile wie
in Fig. 12.
In diesem Fall wird ähnlich wie bei Fig. 5A und 5B,
nachdem der Isolierfilm 25a gebildet ist, der NiFe-Film 30a
mit einer Dicke von etwa 0,5 bis 3 µm, der als unterer
Magnetkern 30 dient, gebildet. Nachdem im Anschluß daran der
Isolierfilm 25a gebildet ist, wird der MR/IND-Kopf anschlie
ßend durch die ähnlichen Schritte vollendet, die unter
Bezugnahme auf Fig. 8A bis 8E erläutert wurden.
Gemäß der obigen siebten Ausführungsform kann, da der
FeN-Film 26c auf der gegenüberliegenden Oberfläche des
oberen Magnetkerns 26, die dem unteren Magnetkern 30 gegen
überliegt, sowie auf den Seitenwänden der ABSs des oberen
Magnetkerns 26 gebildet ist, die magnetische Sättigung auf
den Seitenabschnitten des oberen Magnetkerns 26 und der
gegenüberliegenden Oberfläche des oberen Magnetkerns 26
unterdrückt werden. Deshalb breiten sich Magnetkraftlinien,
die aus dem oberen Magnetkern 26 entweichen, nicht außerhalb
der Lücke 27 aus, sondern treten durch das magnetische
Schreibmedium in den unteren Magnetkern 30 ein.
Fig. 14 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer achten Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung zeigt.
Ein Aspekt der achten Ausführungsform unterscheidet
sich von der siebten Ausführungsform darin, daß der FeN-Film
30b, der eine magnetische Flußdichte mit hoher Sättigung
hat, auf den Seitenoberflächen des unteren Magnetkerns 30
gebildet ist, der eine Breite hat, die jener des oberen
Magnetkerns 26 auf der Schreibseite (W) ähnlich ist. Beson
ders falls der untere Magnetkern 30 gebildet ist, um die
selbe Breite wie jene des oberen Magnetkerns 26 zu haben,
wird das effektiver, da in ihm leicht eine magnetische
Sättigung erfolgt. In Fig. 14 bezeichnen gleiche Bezugszei
chen wie in Fig. 13 die gleichen Teile wie in Fig. 13.
In diesem Fall wird auf dieselbe Weise wie in Fig. 5A
bis 5D beschrieben, nachdem der Isolierfilm 25a gebildet
ist, der NiFe-Film 30a mit einer Dicke von etwa 0,5 bis 3
µm, der als unterer Magnetkern 30 dient, gebildet, und dann
werden die FeN-Filme 30b auf den Seitenoberflächen des NiFe-
Films 30a gebildet. Nachdem wieder der Isolierfilm 25a
gebildet ist, wird anschließend der MR/IND-Kopf durch die
ähnlichen Schritte vollendet, die unter Bezugnahme auf Fig.
8A bis 8E erläutert wurden.
Da gemäß der achten Ausführungsform der untere Magnet
kern 30, der die ähnliche Breite wie jene des oberen Magnet
kerns 26 hat, separat von dem oberen Magnetschirm 24 auf der
Wiedergabeseite (R) gebildet ist, treten Magnetkraftlinien,
die aus dem oberen Magnetkern 26 entweichen, durch das
magnetische Schreibmedium in den unteren Magnetkern 30 ein,
ohne sich außerhalb der Lücke 27 auszubreiten. Zusätzlich
kann, da die FeN-Filme 30b mit einer magnetischen Flußdichte
mit hoher Sättigung auf den Seitenoberflächen des NiFe-Films
30a des unteren Magnetkerns 30 gebildet sind, die magneti
sche Sättigung des unteren Magnetkerns 30 unterdrückt wer
den, und deshalb kann auch die Ausbreitung des Magnetfeldes
außerhalb der Lücke 27 unterdrückt werden.
Fig. 15 ist eine Schnittansicht, die eine ABS eines
MR/IND-Kopfes gemäß einer neunten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung zeigt.
Ein Unterschied zwischen der neunten Ausführungsform
und der achten Ausführungsform besteht darin, daß der FeN-
Film 30c, der eine magnetische Flußdichte mit hoher Sätti
gung hat, auch auf der Oberfläche des unteren Magnetkerns 30
gebildet ist, die dem oberen Magnetkern 26 auf der Schreib
seite (W) gegenüberliegt. In Fig. 15 bezeichnen gleiche
Bezugszeichen wie in Fig. 14 die gleichen Teile wie in Fig.
14.
In diesem Fall wird, nachdem der FeN-Film 30b auf den
Seitenwänden des unteren Magnetkerns 30 auf dieselbe Weise
wie bei der ersten Ausführungsform gebildet ist, der NiFe-
Film auf der Gesamtheit gebildet und dann gemustert, um den
FeN-Film 30c auf dem unteren Magnetkern 30 zu belassen.
Nachdem wieder der Isolierfilm 25a gebildet ist, wird an
schließend der MR/IND-Kopf durch die ähnlichen Schritte
vollendet, die unter Bezugnahme auf Fig. 8A bis 8D erläutert
wurden.
Da gemäß der neunten Ausführungsform der untere Magnet
kern 30, der eine Breite hat, die jener des oberen Magnet
kerns 26 ähnlich ist, separat von dem oberen Magnetschirm 24
auf der Wiedergabeseite (R) gebildet ist, treten Magnet
kraftlinien, die aus dem oberen Magnetkern 26 entweichen,
durch das magnetische Schreibmedium in den unteren Magnet
kern 30 ein, ohne sich außerhalb der Lücke 27 auszubreiten.
Da ferner die FeN-Filme 26b, 26c, 30b, 30c mit einer magne
tischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf den Seitenober
flächen und der gegenüberliegenden Oberfläche des unteren
Magnetkerns 30 bzw. auf den Seitenoberflächen und der gegen
überliegenden Oberfläche des oberen Magnetkerns 26 gebildet
sind, kann die magnetische Sättigung des oberen Magnetkerns
26 und des unteren Magnetkerns 30 unterdrückt werden. Des
halb kann auch die Ausbreitung des Magnetfeldes außerhalb
der Lücke 27 unterdrückt werden.
Dementsprechend ist gemäß den sechsten bis neunten Aus
führungsformen, da die Ausbreitung des Magnetfeldes außer
halb der Lücke zwischen dem unteren Magnetkern 30 und dem
oberen Magnetkern 26 noch mehr unterdrückt werden kann, die
Schreibmagnetisierung weder in der Breite ausgebreitet noch
an beiden Endabschnitten gekrümmt worden. Dadurch kann ein
Fehler beim Wiedergeben der magnetischen Signale verhindert
werden, und das Schreiben mit hoher Dichte der magnetischen
Signale kann auch erfolgen.
Obwohl das Material mit einer magnetischen Flußdichte
mit hoher Sättigung in den ersten bis neunten Ausführungs
formen durchgehend den FeN-Film umfaßt, ist es nicht auf
solch einen Film begrenzt. Zum Beispiel kann ein FeZrN-Film,
FeTaN-Film, CoZr-Film, CoNiFe-Film oder dergleichen als
Material mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sätti
gung verwendet werden. Statt dessen kann die Zone mit einer
magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf den Seiten
wänden des unteren Magnetkerns 30 oder des oberen Magnet
kerns 26 durch selektives Ionenimplantieren von Fe oder Co
in die weichmagnetische Schicht gebildet werden, die als
unterer Magnetkern 30 oder oberer Magnetkern 26 dient.
Fig. 16 ist eine Draufsicht, die ein magnetisches
Schreib/Lese-Laufwerk nach einer zehnten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt. Der MR/IND-Kopf nach irgendei
ner der ersten bis neunten Ausführungsformen der vorliegen
den Erfindung ist in einem Gleiter des magnetischen
Schreib/Lese-Laufwerks installiert.
Wie in Fig. 16 gezeigt, umfaßt das magnetische
Schreib/Lese-Laufwerk 41 einen Gleiter 43, in dem der MR-
Kopf inkorporiert ist, eine Magnetplatte (magnetisches
Schreibmedium) 44 und einen Federarm zum Stützen des Glei
ters 43.
Da gemäß dem obigen magnetischen Schreib/Lese-Laufwerk
der MR-Kopf nach einer der ersten bis neunten Ausführungs
formen in ihm installiert ist, kann noch mehr verhindert
werden, daß Magnetkraftlinien, die von den/in die ABSs des
oberen Magnetkerns 26 und des unteren Magnetkerns 30 in
das/von dem magnetischen Schreibmedium 44 eintreten, außer
halb der Lücke 27 ausgebreitet werden.
Da das Ausbreiten der Schreibmagnetisierung, die auf
der Magnetplatte 44 aufgezeichnet wird, und die Krümmung der
Schreibmagnetisierung an beiden Endabschnitten unterdrückt
werden kann, kann deshalb bei der Wiedergabe der magneti
schen Signale ein Fehler verhindert werden, und das Schrei
ben mit hoher Dichte der magnetischen Signale kann auch
verbessert werden.
Wie oben beschrieben worden ist, sind in dem MR/IND-
Kopf der vorliegenden Erfindung, der zwei Magnetkerne hat,
deren ABSs gebildet sind, um über die Lückenschicht hinweg
einander gegenüberzuliegen, Seitenwände der ABS von wenig
stens einem Magnetkern gebildet, um eine magnetische Fluß
dichte mit einer höheren Sättigung als jene eines übrigen
Abschnittes der ABS zu haben.
Daher kann beim Ausführen des magnetischen Schreibens
auf dem magnetischen Schreibmedium eine magnetische Sätti
gung an den Seitenabschnitten des Magnetkerns unterdrückt
werden. Deshalb kann ein Austrittsbereich der Magnetkraft
linien auf die Oberfläche, die dem magnetischen Schreib
medium und seinem benachbarten Bereich gegenüberliegt,
begrenzt werden, so daß das Ausbreiten des Magnetfeldes
außerhalb der Lücke unterdrückt werden kann. Da die Magneti
sierung, die auf dem magnetischen Schreibmedium aufgezeich
net wird, weder in der Breite ausgebreitet noch an beiden
Endabschnitten gekrümmt wird, kann somit der Signalfehler
beim Lesen der magnetischen Signale verhindert werden, und
das Schreiben mit hoher Dichte der magnetischen Signale kann
auch implementiert werden.
Da ferner der andere Magnetkern, der dem einen Magnet
kern gegenüberliegt, gebildet ist, um im wesentlichen die
selbe Breite wie jene des einen Magnetkerns zu haben, brei
ten sich Magnetkraftlinien, die aus dem einen Magnetkern
fließen, nicht außerhalb der Lücke aus, sondern treten durch
das magnetische Schreibmedium in den anderen Magnetkern ein.
Daher kann in Kooperation mit dem die magnetische Sättigung
unterdrückenden Effekt, der durch den einen Magnetkern
verursacht wird, das Ausbreiten des Magnetfeldes in Richtung
der Schreibspurbreite unterdrückt werden.
Da weiterhin die magnetische Sättigung in dem anderen
Magnetkern leicht auftritt, falls eine Breite des anderen
Magnetkerns ähnlich jener des einen Magnetkerns eingeengt
ist, ist es beim Unterdrücken der magnetischen Sättigung
effektiv, an den Seitenoberflächen und an der gegenüberlie
genden Oberfläche des anderen Magnetkerns eine magnetische
Flußdichte mit höherer Sättigung als an dem übrigen Ab
schnitt des anderen Magnetkerns vorzusehen.
Des weiteren kann gemäß dem Verfahren zum Herstellen
des MR/IND-Kopfes der vorliegenden Erfindung, falls der
weichmagnetische Film, z. B. ein NiFe-Film, mit dem Film mit
einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung, z. B.
einem FeN-Film, bedeckt wird und dann durch anisotropes
Ätzen gemustert wird, der Film mit einer magnetischen Fluß
dichte mit hoher Sättigung an den Seitenwänden des weich
magnetischen Films ohne die Ätzmaske gebildet werden.
Übrigens können gemäß dem anderen Verfahren zum Her
stellen des MR/IND-Kopfes der vorliegenden Erfindung durch
Nutzung der Eigenschaft, daß Ätzprodukte, die erzeugt wer
den, wenn der FeN-Film durch Ionenstrahlätzen geätzt wird,
oder dergleichen an den Seitenwänden des Vorsprungs haften,
die Filme mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sätti
gung als Ätzprodukte auf den Seitenwänden des weichmagneti
schen Films gebildet werden.
Gemäß den obigen Herstellungsverfahren verbleibt auf
Grund dessen, daß der Film mit einer magnetischen Flußdichte
mit hoher Sättigung auf den Seitenwänden und der gegenüber
liegenden Oberfläche des weichmagnetischen Films ohne die
Ätzmaske gebildet werden kann, kein Grat des Films mit einer
magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung. Da Haupt
abschnitte des Magnetkerns auch aus dem NiFe-Film gebildet
sind, kann die Erzeugung von Rissen verhindert werden.
Da gemäß dem magnetischen Schreib/Lese-Laufwerk der
vorliegenden Erfindung der MR/IND-Kopf der vorliegenden
Erfindung in ihm inkorporiert ist, kann noch mehr verhindert
werden, daß Magnetkraftlinien, die von der/in die ABS des
Magnetkerns im Schreibabschnitt in das/von dem magnetischen
Schreibmedium eintreten, außerhalb der Lücke ausgebreitet
werden. Da das Ausbreiten der Schreibmagnetisierung, die auf
dem magnetischen Schreibmedium aufgezeichnet wird, und die
Krümmung der Schreibmagnetisierung an beiden Endabschnitten
unterdrückt werden kann, kann deshalb bei der Wiedergabe der
magnetischen Signale der Signalfehler verhindert werden, und
das Schreiben mit hoher Dichte der magnetischen Signale kann
auch verbessert werden.
Obwohl MR/IND-Köpfe (kombinierte MR-Köpfe), von denen
jeder sowohl den Schreib- als auch den Leseabschnitt hat,
oder deren Verfahren in Fig. 3, 4, 5, 7, 8, 9, 10, 11, 12,
13, 14 und 15 gezeigt sind, können übrigens die Schreib-(W)-
und Lese-(R)-Abschnitte separat gebildet sein (ein Hucke
pack-MR-Kopf). In einem kombinierten MR-Kopf oder einem
Huckepack-MR-Kopf wird der Schreibabschnitt (W) als indukti
ver Dünnfilmkopf bezeichnet.
Claims (14)
1. Induktiver Dünnfilmkopf mit:
einem unteren Magnetkern (24 oder 30), der auf einer Unterlagenschicht ausgebildet ist;
einer Isolierschicht (25), die auf dem unteren Magnet kern (24 oder 30) ausgebildet ist;
einer Leiterspule (33), die durch die Isolierschicht (25) im wesentlichen parallel zu einer Oberfläche des unte ren Magnetkerns (24 oder 30) hindurch verläuft;
einem oberen Magnetkern (26), der auf der Isolier schicht (25) ausgebildet ist und der an einem schmalen Teil (26a) eines Frontendabschnitts von dem unteren Magnetkern (24 oder 30) getrennt ist und der den unteren Magnetkern (24 oder 30) an einer Zone kontaktiert, die von dem Fron tendabschnitt entfernt liegt;
einer Lückenschicht (27) aus einem Isolator, die zwi schen dem unteren Magnetkern (24 oder 30) und dem schmalen Teil (26a) des oberen Magnetkerns (26) eingefaßt ist; und
ersten Filmen (26b, 26c) mit einer magnetischen Fluß dichte hoher Sättigung, die auf beiden Seitenoberflächen des schmalen Teiles (26a) des oberen Magnetkernes (26) und einer Oberfläche derselben ausgebildet sind, die dem unte ren Magnetkern (24 oder 30) gegenüberliegt, wobei die er sten Filme (26b, 26c) mit der magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung eine höhere gesättigte magnetische Flußdichte be sitzen als diejenige des oberen Magnetkerns (26).
einem unteren Magnetkern (24 oder 30), der auf einer Unterlagenschicht ausgebildet ist;
einer Isolierschicht (25), die auf dem unteren Magnet kern (24 oder 30) ausgebildet ist;
einer Leiterspule (33), die durch die Isolierschicht (25) im wesentlichen parallel zu einer Oberfläche des unte ren Magnetkerns (24 oder 30) hindurch verläuft;
einem oberen Magnetkern (26), der auf der Isolier schicht (25) ausgebildet ist und der an einem schmalen Teil (26a) eines Frontendabschnitts von dem unteren Magnetkern (24 oder 30) getrennt ist und der den unteren Magnetkern (24 oder 30) an einer Zone kontaktiert, die von dem Fron tendabschnitt entfernt liegt;
einer Lückenschicht (27) aus einem Isolator, die zwi schen dem unteren Magnetkern (24 oder 30) und dem schmalen Teil (26a) des oberen Magnetkerns (26) eingefaßt ist; und
ersten Filmen (26b, 26c) mit einer magnetischen Fluß dichte hoher Sättigung, die auf beiden Seitenoberflächen des schmalen Teiles (26a) des oberen Magnetkernes (26) und einer Oberfläche derselben ausgebildet sind, die dem unte ren Magnetkern (24 oder 30) gegenüberliegt, wobei die er sten Filme (26b, 26c) mit der magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung eine höhere gesättigte magnetische Flußdichte be sitzen als diejenige des oberen Magnetkerns (26).
2. Induktiver Dünnfilmkopf nach Anspruch 1, bei dem der
obere und untere Magnetkern (24 oder 30, 26) einen Schrei
babschnitt (W) bilden und der untere Magnetkern auch als
Magnetschirm eines Leseabschnittes dient.
3. Induktiver Dünnfilmkopf nach Anspruch 1, bei dem eine
Oberfläche (28, 28a oder 30c) des Frontendabschnitts des
unteren Magnetkernes (24 oder 30), die dem Frontendab
schnitt des oberen Magnetkernes (26) gegenüberliegt, eine
höhere Sättigung der magnetischen Flußdichte besitzt als
ein verbleibender Abschnitt des unteren Magnetkernes (24
oder 30).
4. Induktiver Dünnfilmkopf nach Anspruch 1, bei dem ein
Teil (29) des Frontendabschnitts des unteren Magnetkernes
(24) von einer horizontalen Ebene vorsteht, die durch den
unteren Magnetkern (24) definiert ist, und zwar in einer
Richtung zu dem oberen Magnetkern (26) hin.
5. Induktiver Dünnfilmkopf nach Anspruch 1, bei dem die
Frontendabschnitte des oberen und des unteren Magnetkernes
(30, 26), die einander gegenüberliegen, eine im wesentli
chen gleiche Breite besitzen.
6. Induktiver Dünnfilmkopf nach Anspruch 5, bei dem beide
Seitenflächen (30b) des Frontendabschnitts des unteren Ma
gnetkernes (30), die dem Frontendabschnitt des oberen Ma
gnetkernes (26) gegenüberliegen, eine höhere Sättigung der
Magnetflußdichte als ein verbleibender Teil des unteren Ma
gnetkernes (30) besitzen.
7. Induktiver Dünnfilmkopf nach Anspruch 6, bei dem zu
sätzlich zu den beiden Seitenflächen (30b) des Frontendab
schnitts des unteren Magnetkernes (30) eine andere Oberflä
che (30c) des Frontendabschnitts des unteren Magnetkernes
(30), die dem Frontendabschnitt des oberen Magnetkernes
(26) gegenüberliegt, eine höhere Sättigung der Magnetfluß
dichte besitzt als der restliche Teil des unteren Magnet
kernes (30).
8. Magnetisches Schreib-/Leselaufwerk mit:
- a) einem magnetischen Schreibmedium (44) zum Beschreiben mit magnetischen Signalen; und
- b) einem induktiven Dünnfilmkopf mit:
- 1. einem Schreibabschnitt (W) zum Schreiben der ma gnetischen Signale in das magnetische Schreibme dium (44), welcher Schreibabschnitt (W) einen oberen und einen unteren Magnetkern (24 oder 30, 26) enthält, die aus jeweiligen Magnetschichten gebildet sind, wobei der obere und der untere Ma gnetkern (24 oder 30, 26) eine in einer vertika len Richtung zwischen sich eingefügte Leiterspule (33) aufweisen, Frontendabschnitte des oberen und des unteren Magnetkernes sich einander über eine Lückenschicht gegenüberliegen, wobei beide Sei tenflächen des Frontendabschnitts des oberen Ma gnetkernes (26) und eine Fläche desselben, die dem unteren Magnetkern (24 oder 30) gegenüber liegt, eine höhere Sättigung der magnetischen Flußdichte aufweisen als der restliche Teil (26a) des oberen Magnetkernes (26), und
- 2. einem Leseabschnitt zum Lesen von magnetischen Signalen aus dem magnetischen Schreibmedium (44).
9. Magnetisches Schreib-/Leselaufwerk nach Anspruch 8,
bei dem zusätzlich zu den beiden Seitenoberflächen (26b)
des Frontendabschnitts des oberen Magnetkernes (26) und der
genannten Fläche (26c) desselben, die dem unteren Magnet
kern (24) gegenüberliegt, eine Oberfläche (28, 28a) des
Frontendabschnitts des unteren Magnetkernes (24), der dem
oberen Magnetkern (26) gegenüberliegt, eine höhere Sätti
gung der magnetischen Flußdichte als ein restlicher Teil
des unteren Magnetkernes (24) besitzt.
10. Magnetisches Schreib-/Leselaufwerk nach Anspruch 8,
bei dem der Frontendabschnitt des oberen und des unteren
Magnetkernes (30, 26) im wesentlichen die gleiche Breite
besitzen.
11. Magnetisches Schreib-/Leselaufwerk nach Anspruch 8,
bei dem ein Teil (29) des Frontendabschnitts des unteren
Magnetkernes (24), der dem Frontendabschnitt des oberen Ma
gnetkernes (26) gegenüberliegt, von einem restlichen Teil
des unteren Magnetkernes (24) vorragt.
12. Verfahren zum Herstellen eines induktiven Dünnfilmkop
fes, der einen oberen und einen unteren Magnetkern (24, 26)
hat, deren Frontendabschnitte so ausgebildet sind, daß sie
sich über eine Lückenschicht (27) gegenüberliegen, wobei
das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt:
Ausbilden eines Isolierfilms (25a), der als Lücken schicht (27) dient, auf einer ersten Magnetschicht (24), die als unterer Magnetkern dient;
Ausbilden einer Maske (31a) mit einem Öffnungsab schnitt (32a) in derselben auf dem Isolierfilm (25a);
Ausbilden einer zweiten Magnetschicht (26a) in dem Öffnungsabschnitt (32a) gemäß der Maske (31a);
Bedecken der zweiten Magnetschicht (26a) mit einem Film mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung, der nach Entfernen der Maske (31a) gebildet wird; und
anisotropes Ätzen des Films mit der magnetischen Fluß dichte mit hoher Sättigung (26), um den Film mit der magne tischen Flußdichte mit hoher Sättigung (26), der auf dem Isolierfilm (25a) und auf der zweiten Magnetschicht (26a) gebildet ist, zu entfernen und um den Film mit der magneti schen Flußdichte mit hoher Sättigung (26b) auf Seitenwänden der zweiten Magnetschicht (26a) zu hinterlassen, wodurch ein oberer Magnetkern (26), der mit dem Film mit der magne tischen Flußdichte mit hoher Sättigung (26b) auf beiden Seitenflächen des Frontendabschnitts des oberen Magnetker nes (26) versehen ist, gebildet wird.
Ausbilden eines Isolierfilms (25a), der als Lücken schicht (27) dient, auf einer ersten Magnetschicht (24), die als unterer Magnetkern dient;
Ausbilden einer Maske (31a) mit einem Öffnungsab schnitt (32a) in derselben auf dem Isolierfilm (25a);
Ausbilden einer zweiten Magnetschicht (26a) in dem Öffnungsabschnitt (32a) gemäß der Maske (31a);
Bedecken der zweiten Magnetschicht (26a) mit einem Film mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung, der nach Entfernen der Maske (31a) gebildet wird; und
anisotropes Ätzen des Films mit der magnetischen Fluß dichte mit hoher Sättigung (26), um den Film mit der magne tischen Flußdichte mit hoher Sättigung (26), der auf dem Isolierfilm (25a) und auf der zweiten Magnetschicht (26a) gebildet ist, zu entfernen und um den Film mit der magneti schen Flußdichte mit hoher Sättigung (26b) auf Seitenwänden der zweiten Magnetschicht (26a) zu hinterlassen, wodurch ein oberer Magnetkern (26), der mit dem Film mit der magne tischen Flußdichte mit hoher Sättigung (26b) auf beiden Seitenflächen des Frontendabschnitts des oberen Magnetker nes (26) versehen ist, gebildet wird.
13. Verfahren zum Herstellen eines induktiven Dünnfilmkop
fes, der einen unteren und einen oberen Magnetkern (24, 26)
besitzt, deren Frontendabschnitte derart ausgebildet sind,
daß sie sich über eine Lückenschicht (27) gegenüberliegen,
wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt:
Ausbilden eines Isolierfilms (25a), der als Lücken schicht (27) dient, auf einer ersten Magnetschicht (24), die als unterer Magnetkern dient;
Ausbilden eines Films (26c) mit einer magnetischen Flußdichte hoher Sättigung auf dem Isolierfilm (25a);
Ausbilden einer Maske (31b) mit einem Öffnungsab schnitt (32b) in derselben auf dem Film (26c) mit der ma gnetischen Flußdichte hoher Sättigung;
Ausbilden einer zweiten Magnetschicht (26a) in dem Öffnungsabschnitt (32b) gemäß der Maske (31b); und
Ätzen des Films (26c) mit der magnetischen Flußdichte hoher Sättigung, der von der zweiten Magnetschicht (26a) exponiert ist, nach Entfernen der Maske (31b), um Ätzpro dukte (26b), die aus dem Film mit der magnetischen Fluß dichte mit hoher Sättigung gebildet sind, auf Seitenwänden abzuscheiden, wodurch der obere Magnetkern (26) ausgebildet wird, der mit dem Film (26b, 26c) mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf beiden Seitenflächen des Frontendabschnitts des oberen Magnetkerns und einer Ober fläche desselben, die dem unteren Magnetkern (24 oder 30) gegenüberliegt, versehen ist.
Ausbilden eines Isolierfilms (25a), der als Lücken schicht (27) dient, auf einer ersten Magnetschicht (24), die als unterer Magnetkern dient;
Ausbilden eines Films (26c) mit einer magnetischen Flußdichte hoher Sättigung auf dem Isolierfilm (25a);
Ausbilden einer Maske (31b) mit einem Öffnungsab schnitt (32b) in derselben auf dem Film (26c) mit der ma gnetischen Flußdichte hoher Sättigung;
Ausbilden einer zweiten Magnetschicht (26a) in dem Öffnungsabschnitt (32b) gemäß der Maske (31b); und
Ätzen des Films (26c) mit der magnetischen Flußdichte hoher Sättigung, der von der zweiten Magnetschicht (26a) exponiert ist, nach Entfernen der Maske (31b), um Ätzpro dukte (26b), die aus dem Film mit der magnetischen Fluß dichte mit hoher Sättigung gebildet sind, auf Seitenwänden abzuscheiden, wodurch der obere Magnetkern (26) ausgebildet wird, der mit dem Film (26b, 26c) mit einer magnetischen Flußdichte mit hoher Sättigung auf beiden Seitenflächen des Frontendabschnitts des oberen Magnetkerns und einer Ober fläche desselben, die dem unteren Magnetkern (24 oder 30) gegenüberliegt, versehen ist.
14. Verfahren zur Herstellung eines induktiven Dünnfilm
kopfes nach Anspruch 12 oder 13, bei dem die zweite Magnet
schicht (26a) aus einem NiFe-Film herstellt ist und bei dem
der Film (26b, 26c) mit der magnetischen Flußdichte mit ho
her Sättigung entweder aus einem Film hergestellt ist, der
Fe enthält oder aus einem Film hergestellt ist, der Co und
Zr enthält.
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