DE19531031C2 - Verfahren zum Trocknen von Silizium - Google Patents

Verfahren zum Trocknen von Silizium

Info

Publication number
DE19531031C2
DE19531031C2 DE19531031A DE19531031A DE19531031C2 DE 19531031 C2 DE19531031 C2 DE 19531031C2 DE 19531031 A DE19531031 A DE 19531031A DE 19531031 A DE19531031 A DE 19531031A DE 19531031 C2 DE19531031 C2 DE 19531031C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
silicon
solution
aqueous
liquid
bath
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19531031A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19531031A1 (de
Inventor
Wilhelm Schnellenberger
Dieter Herrmannsdoerfer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ICTOP ENTWICKLUNGSGESELLSCHAFT
Original Assignee
ICTOP ENTWICKLUNGSGESELLSCHAFT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ICTOP ENTWICKLUNGSGESELLSCHAFT filed Critical ICTOP ENTWICKLUNGSGESELLSCHAFT
Priority to DE19531031A priority Critical patent/DE19531031C2/de
Priority to US08/692,169 priority patent/US5714203A/en
Priority to HU9802482A priority patent/HUP9802482A3/hu
Priority to CZ1998517A priority patent/CZ291335B6/cs
Priority to ES96929234T priority patent/ES2186800T3/es
Priority to AT01130669T priority patent/ATE309613T1/de
Priority to DK96929234T priority patent/DK0846334T3/da
Priority to CN96196222A priority patent/CN1091542C/zh
Priority to PT96929234T priority patent/PT846334E/pt
Priority to DE69624830T priority patent/DE69624830T2/de
Priority to AU68720/96A priority patent/AU697397B2/en
Priority to KR1019980701119A priority patent/KR19990037642A/ko
Priority to PCT/EP1996/003541 priority patent/WO1997008742A1/en
Priority to SI9630728T priority patent/SI1199740T1/sl
Priority to CA002228168A priority patent/CA2228168A1/en
Priority to JP50977197A priority patent/JP3857314B2/ja
Priority to DE69635427T priority patent/DE69635427T2/de
Priority to EP96929234A priority patent/EP0846334B1/de
Priority to PL96325121A priority patent/PL183355B1/pl
Priority to AT96929234T priority patent/ATE227885T1/de
Priority to IL12304296A priority patent/IL123042A/en
Priority to RU98104458A priority patent/RU2141700C1/ru
Priority to SK212-98A priority patent/SK284835B6/sk
Priority to EP01130669A priority patent/EP1199740B1/de
Priority to ES01130669T priority patent/ES2250292T3/es
Priority to DK01130669T priority patent/DK1199740T3/da
Priority to TW085110167A priority patent/TW427952B/zh
Priority to UA98020935A priority patent/UA51663C2/uk
Publication of DE19531031A1 publication Critical patent/DE19531031A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19531031C2 publication Critical patent/DE19531031C2/de
Priority to US09/008,029 priority patent/US6132811A/en
Priority to NO980734A priority patent/NO980734L/no
Priority to MX9801464A priority patent/MX9801464A/es
Priority to HK98111262A priority patent/HK1010280A1/xx
Priority to HK02104685.0A priority patent/HK1043661B/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/67034Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67057Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Detergent Compositions (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)
  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)

Description

Verfahren zum Trocknen von Silizium, bei dem das Silizium in ein Flüssigkeitsbad eingetaucht wird, und das Silizium und die Flüssigkeit danach wieder getrennt werden. Die Trennung kann dabei unter Zuführung eines Gases über der Oberfläche der Flüssigkeit erfolgen, wobei das Gas in der Flüssigkeit löslich ist und die Oberflächenspannung der Flüssigkeit senkt.
Beim Herstellen von mikroelektronischen Bauelementen unterliegt das dabei verwendete Silizium, das in der Regel in der Form von einkristallinen Wafern vorliegt, einer starken Verunreinigung, die durch Schleifen, Polieren, Belacken oder ähnliche Verfahrensschritte hervorgerufen wird. Aus diesem Grund wird das Silizium in der Regel mehreren Reinigungsschritten unterzogen, die normalerweise in Flüssigkeitsbädern stattfinden.
Die in einer Reinigungssequenz unterschiedlichen und durch Spülschritte getrennten chemischen Behandlungen sind im allgemeinen selektiv auf unterschiedliche Kontaminationsklassen (z. B. Partikel, organische Beläge, funktionelle organische Si-CR₃ oder Gruppen von Metallen, die untereinander ähnliches chemisches Verhalten aufzeigen) wirksam.
Bezüglich der in der ersten Phase der Reinigungssequenz entfernten Kontaminationsklassen besteht dabei die Gefahr einer Rekontamination der Siliziumoberfläche mit Partikeln oder Metallen durch Verunreinigungen der folgenden Spülschritte oder der bei den darauffolgenden Reinigungsschritten eingesetzten Chemikalien, wie z. B. Stabilisatoren für H₂O₂.
Die chemischen Behandlungen werden durch Spülschritte getrennt, um die Siliziumoberfläche chemikalienfrei zu machen und Verschleppungen zu vermeiden. Hier ist auf höchste Wasserreinheit zu achten, um bei pH-Neutralität das Risiko einer Rekontamination durch Metalle zu minimieren. Die gesamte Reinigungssequenz wird durch einen Trocknungsschritt beendet.
Aus dem Stand der Technik sind viele verschiedene Trocknungsverfahren für Siliziumoberflächen bekannt. Diese Trocknungsverfahren sind z. B. Trockenschleudern der Scheiben über Zentrifugalkräfte, Lösemitteltrocknung mit Tri- oder Perchlorethan oder Methylenchloriden, weiterhin werden Trocknungsverfahren unter der Verwendung von Heißluft, Heißwasser oder Isopropylalkohol durchgeführt. Der eine Teil dieser bekannten Trocknungsverfahren hat den Nachteil, daß durch hohe mechanische Kräfte eine immense Streßbelastung auf die Siliziumscheibe wirkt. Zum einen besteht die Gefahr der Damagebildung im Kantenbereich, zum anderen einer möglichen Partikelgeneration, verursacht durch Relativbewegungen von Siliziumscheiben zur Halterung. Im Extremfall, vor allem bei dünneren Scheiben, oder nach thermischen Behandlungen, kann dieser Streß zum Scheibenbruch führen und so das gesamte Trocknungsgut zerstören und das Umfeld mit Partikeln kontaminieren.
Beim anderen Teil der Trocknungsverfahren entstehen hohe Betriebskosten durch die Verwendung von teuren Chemikalien, deren Entsorgung ein weiteres Problem darstellt.
Der gemeinsame Nachteil der oben genannten Verfahren ist, daß während des Trocknungsvorganges die Gefahr einer metallischen Rekontamination der gereinigten Oberflächen besteht.
Das den Oberbegriff des beigefügten Anspruches 1 bildende Verfahren zum Trocknen von Silizium ist aus dem Artikel "ULTRACLEAN MARANGONI DRYING in Gases and Liquids 3: Detection, Characterization and Control, Edited by K.L. Mittal, Plenum Press, New York, 1993, Seiten 269 bis 282" bekannt. Bei dem in diesem Artikel beschriebenen Verfahren zum Trocknen von Silizium wird vorgeschlagen, Siliziumscheiben in ein Wasserbad einzutauchen, und die Siliziumscheiben daraufhin unter Zuführung eines Isopropylalkohol/Stickstoff-Gemisches über der Oberfläche des Wasserbades aus diesem herauszuziehen. Isopropylalkohol ist in Wasser löslich und senkt, wenn er im Wasser gelöst ist, die Oberflächenspannung des Wassers. Das bekannte Trocknungsverfahren basiert dabei auf dem sogenannten Marangoni-Prinzip. Dieses Marangoni-Prinzip beruht darauf, daß beim Herausziehen der Siliziumscheiben aus dem Wasserbad an der leicht aufwärts gekrümmten Grenzfläche zwischen der Siliziumoberfläche und der Wasseroberfläche eine höhere Konzentration an Isopropylalkohol herrscht, als in der restlichen, weiter von der Siliziumoberfläche entfernten Wasseroberfläche. Die höhere Isopropylalkohol-Konzentration an der Grenzfläche zwischen der Siliziumoberfläche und der Wasseroberfläche führt dort zu einer geringeren Oberflächenspannung als in der restlichen Wasseroberfläche. Dieser Gradient in der Oberflächenspannung führt zu einem Fluß des Wassers von der Oberfläche des Siliziums weg hin zur restlichen Wasseroberfläche, so daß eine Trocknung der Siliziumoberfläche erfolgt. Nachteilig bei diesem bekannten Verfahren ist, daß metallische Verunreinigungen im Wasser zwangsläufig zu einer Metallkontamination der Siliziumoberfläche führen. Weiterhin sind organische Rückstände auf der Oberfläche, die insbesondere aus der Verwendung von Isopropylalkohol resultieren können, nicht auszuschließen.
Aus der GB 1581418 ist ein Verfahren zum Reinigen und Trocknen von Silizium bekannt, das den Oberbegriff des beigefügten Anspruches 2 bildet. Die GB 1581418 betrifft die Reinigung von Siliziumgranulat, das einen Verunreinigungsanteil bis zu 5 Gewichtsprozent aufweist. Die Korngröße des Granulats beträgt 2 mm bis 0,1 mm. Aus diesen Angaben wird deutlich, daß das ganze Volumen des Siliziumgranulates homogen mit Verunreinigungen durchsetzt ist. Weiterhin wird explizit darauf hingewiesen, daß durch ein Auslaugen des Siliziumgranulates in Säure oder Säuremischungen keine ausreichende Reinigungswirkung erzielt werden kann. Deshalb wird in der GB 1581418 vorgeschlagen, das Siliziumgranulat durch mechanisches Abschleifen unter kontinuierlicher Abnahme der Korngröße bei gleichzeitigem Auslaugen durch Säuren bzw. Mischungen von Säuren mit Oxidantien zu reinigen. Dabei wird insbesondere darauf hingewiesen, daß das Silizium durch die Säuren bzw. Säuremischungen nicht angegriffen wird, sondern daß nur die Verunreinigungen ausgelaugt werden. Das Abschleifen erfolgt unter Verwendung harter Schleifmaterialien (keramische Materialien, Siliziumcarbit, polykristallines Silizium) bei gleichzeitiger Drehung in einer Trommelmühle der dergleichen. Als Säure bzw. Säuremischung wird u. a. HF-Säure bzw. wäßrige HF-Säuremischung vorgeschlagen. Weiterhin wird ausgeführt, daß es vorteilhaft ist, während dem Schleifen einen Luftstrom zuzuführen, um den Reinigungseffekt zu erhöhen. Nach der Reinigung des Siliziumgranulates wird das Silizium aus der Reinigungsvorrichtung entfernt und getrocknet. Die Trocknung des gereinigten Siliziums ist in der GB 1581418 nicht näher beschrieben.
Da alle aus dem Stand der Technik bekannten Trocknungsverfahren, wie weiter oben beschrieben wurde, eine erneute Verunreinigung des Siliziums bzw. der Siliziumoberflächen zur Folge haben, weist damit auch das in der GB 1581418 beschriebene Verfahren diesen Nachteil auf.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist somit, Verfahren zum Trocknen von Silizium gemäß den Oberbegriffen der beigefügten Ansprüche 1 und 2 zu liefern, die auf einfache Weise die Aufrechterhaltung des Sauberkeitsgrades der gereinigten Siliziumoberflächen und eine effektive Trocknung des Siliziums bei einer gleichzeitigen Reinigung der Siliziumoberfläche gewährleisten.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zum Trocknen von Silizium gemäß dem Oberbegriff des beigefügten Anspruches 1 gelöst, das dadurch gekennzeichnet ist, daß die Flüssigkeit des Bades aus einer wäßrigen HF-Lösung mit einer Konzentration zwischen 0,001 und 50% besteht und daß das über der Oberfläche der HF-Lösung zugeführte Gas ein O₂/O₃-Gasgemisch enthält.
Diese Aufgabe wird außerdem durch ein Verfahren zum Trocknen von Silizium gemäß dem beigefügten Anspruch 2 gelöst. Die Prozentangabe der Konzentration des HF in der wäßrigen Lösung steht dabei für Gew.-%.
Das über der Oberfläche der HF-Lösung zugeführte Gasgemisch enthält O₂/O₃, wobei z. B. Stickstoff oder dergleichen als Trägergas vorgesehen sein kann. Der Anteil von O₃ in dem O₂/O₃-Gasgemisch beträgt vorzugsweise 1 mg bis 0,5 g pro Liter O₂/O₃- Gasgemisch. Das Gasgemisch kann nur aus O₂/O₃ bestehen. Ist jedoch ein Trägergas vorgesehen, so ist der Volumenanteil des O₂/O₃-Gasgemisches vorzugsweise größer als 10%.
Durch das HF werden die oberflächenaktiven Siliziumatome in Si-H und Si-F-Bindungen umgewandelt. Der dadurch sich einstellende hydroyphobe Oberflächencharakter läßt ein Trocknen auch bei sehr niedrigen Temperaturen zu.
Der pH-Wert < 7 beim Trocknen aus einer wäßrigen HF-Lösung heraus verhindert eine metallische Rekontamination. Weiterhin entfernt das HF im Flüssigkeitsbad Metallverunreinigungen, die in oxidierter Form (= ionisch) vorliegen, wie z. B. Fe und hält sie in Form von Metall-Fluor-Komplexen in der Flüssigkeit zurück. Wird gemäß Anspruch 1 Ozon über die Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung zugeführt, löst sich dieses teilweise in der wäßrigen HF-Lösung und führt kovalent vorliegende Si-Me-Bindungen durch Oxidation in ionische Bindungen über.
Außerdem tritt beim Lösen von Ozon in der wäßrigen HF-Lösung entsprechend dem Ozon-Konzentrations-Gradienten der Marangoni-Effekt auf. Die Siliziumoberfläche taucht hydrophil aus einer wäßrigen HF-Lösung auf.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren gemäß Anspruch 2 wird das O₂/O₃ enthaltende Gasgemisch erst nach dem Trennen des Siliziums von der wäßrigen HF-Lösung über die Oberfläche des Siliziums geleitet. Die Hydrophilierung der Siliziumoberfläche findet somit erst nach dem Trocknungsvorgang statt. Der Vorteil dieses Verfahrens ist, daß eine sehr schnelle Trocknung des Siliziums ermöglicht wird.
Das Trennen des Siliziums und der wäßrigen HF-Lösung kann bei beiden erfindungsgemäßen Verfahren entweder durch Herausnehmen des Siliziums aus der HF-Lösung oder durch Ablassen der HF-Lösung oder durch eine Kombination davon aus dem Bad erfolgen.
Beim Verfahren gemäß Anspruch 1 beträgt die relative Trenngeschwindigkeit, d. h. die Herausnahme-Geschwindigkeit des Siliziums aus der Lösung bzw. die Ablaßgeschwindigkeit der Lösung aus dem Bad vorzugsweise einige mm/sec. Eine derartig langsame Geschwindigkeit ist von Vorteil, da der Marangoni-Effekt bei den langsamen Geschwindigkeiten besonders wirksam ist. Beim Verfahren gemäß Anspruch 2 beträgt die relative Trenngeschwindigkeit zwischen dem Silizium und der Oberfläche der Lösung vorzugsweise einige cm/sec., da hier die Trocknung sehr schnell durchgeführt werden kann.
Weiterhin kann die wäßrige HF-Lösung Zusätze, z. B. Säuren, Tenside, etc. enthalten, falls sie die oben beschriebenen Effekte nicht zerstören und eine effektive Reinigung und Trocknung des Siliziums weiterhin gewährleistet ist. Es sind spezielle Anwendungen denkbar, bei denen durch Hinzufügen einer oder mehrerer weiterer Säuren in die wäßrige HF-Lösung eine Verstärkung der beschriebenen Effekte oder eine Verbesserung der Reinigung und Trocknung erreicht wird.
Es ist weiterhin von Vorteil, die wäßrige HF-Lösung vor dem Eintauchen des Siliziums mit Ozon anzureichern oder zu sättigen. Hierdurch wird eine verbesserte Reinigung der Siliziumoberflächen erreicht. Mehrere Monolagen Silizium werden hierbei oxidiert und anschließend abgetragen. Somit ist die Reinigung auch für unmittelbar unter der Oberfläche liegende Metalle (subsurface contamination) wirksam.
Die HF-Konzentration in der wäßrigen Lösung liegt vorzugsweise zwischen 0,01 und 0,1%.
Es ist weiterhin von besonderem Vorteil, daß das erfindungsgemäße Verfahren in einem Temperaturbereich von 0°C-100°C durchgeführt werden kann, wobei der bevorzugte Temperaturbereich 20°C-50°C ist.
Die vorliegende Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbeispieles unter Bezug auf die beigefügten Figuren näher erläutert, in denen zeigen:
Fig. 1 schematisch das Entnehmen einer Siliziumscheibe aus einem Bad mit einer wäßrigen HF-Lösung, unter Zuführung eines O₂/O₃-haltigen Gasgemisches,
Fig. 2 schematisch das Entnehmen einer Siliziumscheibe aus einem Bad mit einer wäßrigen HF-Lösung ohne Zufuhr von O₂/O₃, und
Fig. 3a bis 3c in schematischer Darstellung die chemischen Vorgänge bei der Reinigung bzw. der Hydrophilierung der Siliziumoberfläche bei den erfindungsgemäßen Verfahren.
Fig. 1 zeigt eine Siliziumscheibe 1, die, nachdem sie vollständig in ein Bad 2 mit einer wäßrigen HF-Lösung 3 eingetaucht worden war, langsam aus dem Bad entnommen wird. Die Entnahmerichtung der Siliziumscheibe 1 ist durch den senkrecht nach oben weisenden Pfeil oberhalb der Siliziumscheibe 1 angedeutet. Die Entnahmegeschwindigkeit beträgt dabei vorzugsweise einige Millimeter pro Sekunde. Ein schräg zur Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung 3 weisender Pfeil deutet die gleichzeitige Zuführung des O₂/O₃-Gasgemisches über die Oberfläche der Lösung an.
Beim langsamen Herausziehen der Siliziumscheibe 1 aus der wäßrigen HF-Lösung 3 haftet die Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung an der Siliziumoberfläche an und wird nach oben gekrümmt. Dies ist in der Fig. 1 durch eine Aufwärtskrümmung der Oberfläche der Lösung an den Grenzflächen zur Siliziumscheibe dargestellt. Dabei geht an der Grenzfläche zwischen der Oberfläche der Lösung und der Oberfläche der Siliziumscheibe 1 (Punkt A) mehr Ozon in Lösung als an der restlichen Oberfläche der Lösung, hier beispielsweise durch den Punkt B gekennzeichnet. Da bei Punkt A eine höhere Ozon-Konzentration als bei Punkt B herrscht, tritt bei A eine geringere Oberflächenspannung auf als bei B. Dieser Gradient in der Oberflächenspannung führt zu einem Fluß der wäßrigen HF-Lösung von Punkt A nach Punkt B, so daß eine Trocknung der Siliziumoberfläche erfolgt.
Fig. 2 zeigt eine Siliziumscheibe 1, die, nachdem sie vollständig in ein Bad 2 mit einer wäßrigen HF-Lösung 3 eingetaucht worden war, langsam aus dem Bad entnommen wird. Die Entnahmerichtung der Siliziumscheibe 1 ist durch den senkrecht nach oben weisenden Pfeil oberhalb der Siliziumscheibe 1 angedeutet. Wegen der Hydrophobie der Siliziumoberfläche wird die Flüssigkeitsoberfläche unmittelbar an der Siliziumoberfläche nach unten gekrümmt. Die Hydrophilierung der Siliziumoberfläche durch Ozon geschieht erst nach Beendigung des Trocknungsvorganges.
In Fig. 3a ist schematisch dargestellt, daß durch das HF in der wäßrigen Lösung ein Abtragen von Silizium-Oxidschichten, in die Metallionen, wie z. B. Fe eingebettet sein können, gewährleistet ist.
Metallverunreinigungen, wie z. B. Cu, die direkt mit einem Si-Atom verbunden sind, werden, wie in Fig. 3b dargestellt, durch einen Redox-Prozeß entfernt.
In Fig. 3c ist dargestellt, wie durch das Ozon eine Oxidation der Siliziumoberfläche erfolgt.
Das Silizium verläßt das Trockenbad somit perfekt gereinigt, hydrophil und trocken.

Claims (11)

1. Verfahren zum Trocknen von Silizium (1), bei dem das Silizium in ein Flüssigkeits- Bad (2) eingetaucht wird, und das Silizium (1) und die Flüssigkeit (3) unter Zuführung eines Gases über der Oberfläche der Flüssigkeit getrennt werden, wobei das Gas in der Flüssigkeit löslich ist und die Oberflächenspannung der Flüssigkeit senkt, dadurch gekennzeichnet, daß die Flüssigkeit des Bades (2) aus einer wäßrigen HF-Lösung (3) mit einer Konzentration zwischen 0,001 und 50% besteht und daß das über der Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung (3) zugeführte Gas ein O₂/O₃-Gasgemisch enthält.
2. Verfahren zum Trocknen von Silizium, bei dem das Silizium in ein Flüssigkeitsbad (2) eingetaucht wird, und das Silizium (1) und die Flüssigkeit (3) danach wieder getrennt werden, wobei die Flüssigkeit des Bades (2) aus einer wäßrigen HF-Lösung (3) mit einer Konzentration zwischen 0,001 und 50% besteht, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Trennen des Siliziums (1) von der wäßrigen HF-Lösung ein O₂/O₃-haltiges Gasgemisch über die Oberfläche des Siliziums (1) geleitet wird.
3. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die relative Trenngeschwindigkeit zwischen dem Silizium (1) und der Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung (3) einige mm/sec. beträgt.
4. Verfahren gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die relative Trenngeschwindigkeit zwischen dem Silizium (1) und der Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung (3) einige cm/sec. beträgt.
5. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Silizium (1) und die wäßrige HF-Lösung (3) durch Entnehmen des Siliziums aus der wäßrigen HF-Lösung getrennt werden.
6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Silizium (1) und die wäßrige HF-Lösung (3) durch Ablassen der wäßrigen HF-Lösung aus dem Bad (2) getrennt werden.
7. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die HF-Konzentration in der wäßrigen HF-Lösung zwischen 0,01 und 0,1% liegt.
8. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die wäßrige HF-Lösung (3) Zusätze, insbesondere Säuren, Tenside, enthält.
9. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die wäßrige HF-Lösung (3) vor dem Eintauchen des Siliziums mit O₃ angereichert oder gesättigt wird.
10. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren im Temperaturbereich von 20°C bis 50°C stattfindet.
11. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Anteil von O₃ in dem O₂/O₃-Gasgemisch zwischen 1 mg und 0,5 g pro Liter O₂/O₃-Gasgemisch liegt.
DE19531031A 1995-08-23 1995-08-23 Verfahren zum Trocknen von Silizium Expired - Fee Related DE19531031C2 (de)

Priority Applications (33)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19531031A DE19531031C2 (de) 1995-08-23 1995-08-23 Verfahren zum Trocknen von Silizium
US08/692,169 US5714203A (en) 1995-08-23 1996-08-05 Procedure for the drying of silicon
IL12304296A IL123042A (en) 1995-08-23 1996-08-09 Silicone drying process
PL96325121A PL183355B1 (pl) 1995-08-23 1996-08-09 Sposób suszenia powierzchni podłoża
CZ1998517A CZ291335B6 (cs) 1995-08-23 1996-08-09 Způsob sušení povrchu substrátu
DK96929234T DK0846334T3 (da) 1995-08-23 1996-08-09 Fremgangsmåde til tørring af substrater
CN96196222A CN1091542C (zh) 1995-08-23 1996-08-09 干燥基片表面的方法
PT96929234T PT846334E (pt) 1995-08-23 1996-08-09 Processo para secar silicio
DE69624830T DE69624830T2 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten
AU68720/96A AU697397B2 (en) 1995-08-23 1996-08-09 Procedure for the drying of silicon
KR1019980701119A KR19990037642A (ko) 1995-08-23 1996-08-09 실리콘을 건조시키는 방법
PCT/EP1996/003541 WO1997008742A1 (en) 1995-08-23 1996-08-09 Procedure for drying silicon
SI9630728T SI1199740T1 (sl) 1995-08-23 1996-08-09 Postopek za susenje silicijevih substratov
CA002228168A CA2228168A1 (en) 1995-08-23 1996-08-09 Procedure for drying silicon
JP50977197A JP3857314B2 (ja) 1995-08-23 1996-08-09 シリコン乾燥方法
DE69635427T DE69635427T2 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten
HU9802482A HUP9802482A3 (en) 1995-08-23 1996-08-09 Procedure for drying silicon
ES96929234T ES2186800T3 (es) 1995-08-23 1996-08-09 Procedimiento de secado de sustratos.
AT01130669T ATE309613T1 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Ein verfahren zum trocknen von siliziumsubstraten
AT96929234T ATE227885T1 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum trocknen von substraten
RU98104458A RU2141700C1 (ru) 1995-08-23 1996-08-09 Способ просушивания кремния
SK212-98A SK284835B6 (sk) 1995-08-23 1996-08-09 Spôsob sušenia povrchu substrátu
EP01130669A EP1199740B1 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Ein Verfahren zum Trocknen von Siliziumsubstraten
ES01130669T ES2250292T3 (es) 1995-08-23 1996-08-09 Procedimiento de secado de sustratos de silicona.
DK01130669T DK1199740T3 (da) 1995-08-23 1996-08-09 Fremgangsmpde til törring af silicium
EP96929234A EP0846334B1 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten
TW085110167A TW427952B (en) 1995-08-23 1996-08-20 Procedure for drying silicon
UA98020935A UA51663C2 (uk) 1995-08-23 1996-09-08 Спосіб осушення кремнію
US09/008,029 US6132811A (en) 1995-08-23 1998-01-16 Procedure for the drying of silicon
NO980734A NO980734L (no) 1995-08-23 1998-02-20 Fremgangsmåte for törking av silisium
MX9801464A MX9801464A (es) 1995-08-23 1998-02-23 Procedimiento para secar silicio.
HK98111262A HK1010280A1 (en) 1995-08-23 1998-10-14 Procedure for drying substrates
HK02104685.0A HK1043661B (zh) 1995-08-23 1998-10-14 乾燥矽之方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19531031A DE19531031C2 (de) 1995-08-23 1995-08-23 Verfahren zum Trocknen von Silizium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19531031A1 DE19531031A1 (de) 1997-02-27
DE19531031C2 true DE19531031C2 (de) 1997-08-21

Family

ID=7770207

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19531031A Expired - Fee Related DE19531031C2 (de) 1995-08-23 1995-08-23 Verfahren zum Trocknen von Silizium
DE69624830T Expired - Lifetime DE69624830T2 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten
DE69635427T Expired - Lifetime DE69635427T2 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69624830T Expired - Lifetime DE69624830T2 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten
DE69635427T Expired - Lifetime DE69635427T2 (de) 1995-08-23 1996-08-09 Verfahren zum Trocknen von Substraten

Country Status (24)

Country Link
EP (2) EP1199740B1 (de)
JP (1) JP3857314B2 (de)
KR (1) KR19990037642A (de)
CN (1) CN1091542C (de)
AT (2) ATE309613T1 (de)
AU (1) AU697397B2 (de)
CA (1) CA2228168A1 (de)
CZ (1) CZ291335B6 (de)
DE (3) DE19531031C2 (de)
DK (2) DK0846334T3 (de)
ES (2) ES2186800T3 (de)
HK (2) HK1010280A1 (de)
HU (1) HUP9802482A3 (de)
IL (1) IL123042A (de)
MX (1) MX9801464A (de)
NO (1) NO980734L (de)
PL (1) PL183355B1 (de)
PT (1) PT846334E (de)
RU (1) RU2141700C1 (de)
SI (1) SI1199740T1 (de)
SK (1) SK284835B6 (de)
TW (1) TW427952B (de)
UA (1) UA51663C2 (de)
WO (1) WO1997008742A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10036691A1 (de) * 2000-07-27 2002-02-14 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur chemischen Behandlung von Halbleiterscheiben

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19800584C2 (de) * 1998-01-09 2002-06-20 Steag Micro Tech Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Trocknen von Substraten
DE19613620C2 (de) 1996-04-04 1998-04-16 Steag Micro Tech Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Trocknen von Substraten
DE19833257C1 (de) * 1998-07-23 1999-09-30 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe
DE19927457C2 (de) * 1999-06-16 2002-06-13 Wacker Siltronic Halbleitermat Verwendung eines bekannten Verfahrens als Vorbehandlung zur Bestimmung der Diffusionslängen von Minoritätsträgern in einer Halbleiterscheibe
DE10064081C2 (de) * 2000-12-21 2002-06-06 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe
DE10360269A1 (de) * 2003-12-17 2005-07-28 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren zur schnellen Mischung von kleinvolumigen Flüssigkeiten und Kit zu dessen Anwendung
WO2006066115A2 (en) 2004-12-17 2006-06-22 The Procter & Gamble Company Process for extracting liquid from a fabric
KR100897581B1 (ko) 2007-11-14 2009-05-14 주식회사 실트론 웨이퍼 건조 방법
RU2486287C2 (ru) * 2011-04-29 2013-06-27 Антон Викторович Мантузов Способ очистки поверхности полупроводниковых пластин и регенерации травильных растворов
CN114993028B (zh) * 2022-06-17 2023-05-30 高景太阳能股份有限公司 一种硅片烘干处理方法及系统

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2722783A1 (de) * 1977-05-20 1978-11-30 Wacker Chemitronic Verfahren zum reinigen von silicium
US4169807A (en) * 1978-03-20 1979-10-02 Rca Corporation Novel solvent drying agent
DE3317286A1 (de) * 1983-05-11 1984-11-22 Heliotronic Forschungs- und Entwicklungsgesellschaft für Solarzellen-Grundstoffe mbH, 8263 Burghausen Verfahren zur reinigung von silicium durch saeureeinwirkung
FR2591324B1 (fr) * 1985-12-10 1989-02-17 Recif Sa Appareil pour le sechage unitaire des plaquettes de silicium par centrifugation
JPS62198127A (ja) * 1986-02-25 1987-09-01 Sanyo Electric Co Ltd 半導体ウエハの洗浄方法
US4722752A (en) * 1986-06-16 1988-02-02 Robert F. Orr Apparatus and method for rinsing and drying silicon wafers
US4902350A (en) * 1987-09-09 1990-02-20 Robert F. Orr Method for rinsing, cleaning and drying silicon wafers
NL8900480A (nl) * 1989-02-27 1990-09-17 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het drogen van substraten na behandeling in een vloeistof.
JPH0366126A (ja) * 1989-08-04 1991-03-20 Sharp Corp 絶縁膜の製造方法及びその製造装置
JPH0466175A (ja) * 1990-07-03 1992-03-02 Seiko Epson Corp 水切り乾燥方法
JPH04346431A (ja) * 1991-05-24 1992-12-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体シリコンウェハの洗浄装置
WO1995008406A1 (en) * 1993-09-22 1995-03-30 Legacy Systems, Inc. Process and apparatus for the treatment of semiconductor wafers in a fluid

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10036691A1 (de) * 2000-07-27 2002-02-14 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren zur chemischen Behandlung von Halbleiterscheiben

Also Published As

Publication number Publication date
ATE227885T1 (de) 2002-11-15
UA51663C2 (uk) 2002-12-16
CZ291335B6 (cs) 2003-02-12
EP0846334A1 (de) 1998-06-10
HUP9802482A2 (hu) 1999-02-01
SI1199740T1 (sl) 2006-06-30
MX9801464A (es) 1998-11-30
NO980734D0 (no) 1998-02-20
AU6872096A (en) 1997-03-19
IL123042A0 (en) 1998-09-24
CN1192824A (zh) 1998-09-09
HK1010280A1 (en) 1999-06-17
JPH11514496A (ja) 1999-12-07
IL123042A (en) 2001-04-30
DE69624830D1 (de) 2002-12-19
SK284835B6 (sk) 2005-12-01
SK21298A3 (en) 1998-10-07
ATE309613T1 (de) 2005-11-15
DK0846334T3 (da) 2003-02-10
JP3857314B2 (ja) 2006-12-13
PT846334E (pt) 2003-02-28
CZ51798A3 (cs) 1998-07-15
RU2141700C1 (ru) 1999-11-20
AU697397B2 (en) 1998-10-08
DE19531031A1 (de) 1997-02-27
ES2250292T3 (es) 2006-04-16
HK1043661A1 (en) 2002-09-20
DE69635427D1 (de) 2005-12-15
PL325121A1 (en) 1998-07-06
CA2228168A1 (en) 1997-03-06
EP1199740A3 (de) 2003-09-03
DE69624830T2 (de) 2003-03-27
EP0846334B1 (de) 2002-11-13
EP1199740B1 (de) 2005-11-09
NO980734L (no) 1998-02-20
CN1091542C (zh) 2002-09-25
KR19990037642A (ko) 1999-05-25
TW427952B (en) 2001-04-01
DE69635427T2 (de) 2006-07-27
DK1199740T3 (da) 2006-03-27
HUP9802482A3 (en) 2002-11-28
EP1199740A2 (de) 2002-04-24
PL183355B1 (pl) 2002-06-28
WO1997008742A1 (en) 1997-03-06
ES2186800T3 (es) 2003-05-16
HK1043661B (zh) 2006-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69722542T2 (de) Verbesserungen an oder in Bezug auf Halbleiteranordnungen
DE69530118T2 (de) Reinigung von halbleitern unter ultraniedrigen partikelgehaltsbedingungen
EP1369904B1 (de) Vorrichtung zur Flüssigkeitsbehandlung von scheibenförmigen Gegenständen
DE19531031C2 (de) Verfahren zum Trocknen von Silizium
US6132811A (en) Procedure for the drying of silicon
DE69916728T2 (de) Verfahren zur Reinigung eines Halbleitersubstrats
DE112005003233B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines epitaktischen Silizium-Wafers
DE3027934A1 (de) Verfahren zur einseitigen aetzung von halbleiterscheiben
DE69909346T2 (de) Reinigungslösung für elektronische Bauteile sowie deren Verwendung
DE19806406C1 (de) Verfahren zum Rauhätzen einer Halbleiter-Oberfläche
DE112014001496T5 (de) Verfahren zum Polieren eines Siliziumwafers und Verfahren zur Herstellung eines Epitaxiewafers
DE112012002437T5 (de) Verfahren zum Reinigen eines Halbleiterwafers
DE3733670C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Reinigen insbesondere von scheibenfoermigen oxidischen Substraten
DE102007027112B4 (de) Verfahren zur Reinigung, Trocknung und Hydrophilierung einer Halbleiterscheibe
DE19824046B4 (de) Verfahren zur Planarisierung von Halbleiterwafern
DE19801360A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln von Halbleiter-Oberflächen
DE10162958A1 (de) Oberflächenbehandlungsverfahren für ein Halbleitersubstrat
DE10118167A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Reinigung von Halbleiterwafern
DE4205347A1 (de) Nassverfahrensvorrichtung und verfahren zu deren regelung
DE69632107T2 (de) Reinigungslösung für Halbleiteranordnung und Reinigungsmethode
DE60107035T2 (de) Quarzglasvorrichtungen für die Halbleiterindustrie und Verfahren zur deren Herstellung
DE2239145A1 (de) Verfahren zur behandlung von halbleitermaterialien aus iii-v-verbindungen
EP1328968A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum reinigen einer halbleiterscheibe
DE112018001115T5 (de) Verfahren zum Reinigen eines Halbleiterwafers
DE1178947B (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiter-bauelementen mit mindestens einer durch Diffusion dotierten duennen Halbleiterschicht

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20150303