DE19531031C2 - Verfahren zum Trocknen von Silizium - Google Patents
Verfahren zum Trocknen von SiliziumInfo
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Description
Verfahren zum Trocknen von Silizium, bei dem das Silizium in ein Flüssigkeitsbad
eingetaucht wird, und das Silizium und die Flüssigkeit danach wieder getrennt werden.
Die Trennung kann dabei unter Zuführung eines Gases über der Oberfläche der
Flüssigkeit erfolgen, wobei das Gas in der Flüssigkeit löslich ist und die
Oberflächenspannung der Flüssigkeit senkt.
Beim Herstellen von mikroelektronischen Bauelementen unterliegt das dabei verwendete
Silizium, das in der Regel in der Form von einkristallinen Wafern vorliegt, einer
starken Verunreinigung, die durch Schleifen, Polieren, Belacken oder ähnliche
Verfahrensschritte hervorgerufen wird. Aus diesem Grund wird das Silizium in der
Regel mehreren Reinigungsschritten unterzogen, die normalerweise in
Flüssigkeitsbädern stattfinden.
Die in einer Reinigungssequenz unterschiedlichen und durch Spülschritte getrennten
chemischen Behandlungen sind im allgemeinen selektiv auf unterschiedliche
Kontaminationsklassen (z. B. Partikel, organische Beläge, funktionelle organische
Si-CR₃ oder Gruppen von Metallen, die untereinander ähnliches chemisches Verhalten
aufzeigen) wirksam.
Bezüglich der in der ersten Phase der Reinigungssequenz entfernten
Kontaminationsklassen besteht dabei die Gefahr einer Rekontamination der
Siliziumoberfläche mit Partikeln oder Metallen durch Verunreinigungen der folgenden
Spülschritte oder der bei den darauffolgenden Reinigungsschritten eingesetzten
Chemikalien, wie z. B. Stabilisatoren für H₂O₂.
Die chemischen Behandlungen werden durch Spülschritte getrennt, um die
Siliziumoberfläche chemikalienfrei zu machen und Verschleppungen zu vermeiden.
Hier ist auf höchste Wasserreinheit zu achten, um bei pH-Neutralität das Risiko einer
Rekontamination durch Metalle zu minimieren. Die gesamte Reinigungssequenz wird
durch einen Trocknungsschritt beendet.
Aus dem Stand der Technik sind viele verschiedene Trocknungsverfahren für
Siliziumoberflächen bekannt. Diese Trocknungsverfahren sind z. B. Trockenschleudern
der Scheiben über Zentrifugalkräfte, Lösemitteltrocknung mit Tri- oder Perchlorethan
oder Methylenchloriden, weiterhin werden Trocknungsverfahren unter der Verwendung
von Heißluft, Heißwasser oder Isopropylalkohol durchgeführt. Der eine Teil dieser
bekannten Trocknungsverfahren hat den Nachteil, daß durch hohe mechanische Kräfte
eine immense Streßbelastung auf die Siliziumscheibe wirkt. Zum einen besteht die
Gefahr der Damagebildung im Kantenbereich, zum anderen einer möglichen
Partikelgeneration, verursacht durch Relativbewegungen von Siliziumscheiben zur
Halterung. Im Extremfall, vor allem bei dünneren Scheiben, oder nach thermischen
Behandlungen, kann dieser Streß zum Scheibenbruch führen und so das gesamte
Trocknungsgut zerstören und das Umfeld mit Partikeln kontaminieren.
Beim anderen Teil der Trocknungsverfahren entstehen hohe Betriebskosten durch die
Verwendung von teuren Chemikalien, deren Entsorgung ein weiteres Problem darstellt.
Der gemeinsame Nachteil der oben genannten Verfahren ist, daß während des
Trocknungsvorganges die Gefahr einer metallischen Rekontamination der gereinigten
Oberflächen besteht.
Das den Oberbegriff des beigefügten Anspruches 1 bildende Verfahren zum Trocknen
von Silizium ist aus dem Artikel "ULTRACLEAN MARANGONI DRYING in Gases
and Liquids 3: Detection, Characterization and Control, Edited by K.L. Mittal, Plenum
Press, New York, 1993, Seiten 269 bis 282" bekannt. Bei dem in diesem Artikel
beschriebenen Verfahren zum Trocknen von Silizium wird vorgeschlagen,
Siliziumscheiben in ein Wasserbad einzutauchen, und die Siliziumscheiben daraufhin
unter Zuführung eines Isopropylalkohol/Stickstoff-Gemisches über der Oberfläche des
Wasserbades aus diesem herauszuziehen. Isopropylalkohol ist in Wasser löslich und
senkt, wenn er im Wasser gelöst ist, die Oberflächenspannung des Wassers. Das
bekannte Trocknungsverfahren basiert dabei auf dem sogenannten Marangoni-Prinzip.
Dieses Marangoni-Prinzip beruht darauf, daß beim Herausziehen der Siliziumscheiben
aus dem Wasserbad an der leicht aufwärts gekrümmten Grenzfläche zwischen der
Siliziumoberfläche und der Wasseroberfläche eine höhere Konzentration an
Isopropylalkohol herrscht, als in der restlichen, weiter von der Siliziumoberfläche
entfernten Wasseroberfläche. Die höhere Isopropylalkohol-Konzentration an der
Grenzfläche zwischen der Siliziumoberfläche und der Wasseroberfläche führt dort zu
einer geringeren Oberflächenspannung als in der restlichen Wasseroberfläche. Dieser
Gradient in der Oberflächenspannung führt zu einem Fluß des Wassers von der
Oberfläche des Siliziums weg hin zur restlichen Wasseroberfläche, so daß eine
Trocknung der Siliziumoberfläche erfolgt. Nachteilig bei diesem bekannten Verfahren
ist, daß metallische Verunreinigungen im Wasser zwangsläufig zu einer
Metallkontamination der Siliziumoberfläche führen. Weiterhin sind organische
Rückstände auf der Oberfläche, die insbesondere aus der Verwendung von
Isopropylalkohol resultieren können, nicht auszuschließen.
Aus der GB 1581418 ist ein Verfahren zum Reinigen und Trocknen von Silizium bekannt,
das den Oberbegriff des beigefügten Anspruches 2 bildet. Die GB 1581418 betrifft die
Reinigung von Siliziumgranulat, das einen Verunreinigungsanteil bis zu 5 Gewichtsprozent
aufweist. Die Korngröße des Granulats beträgt 2 mm bis 0,1 mm. Aus diesen Angaben
wird deutlich, daß das ganze Volumen des Siliziumgranulates homogen mit
Verunreinigungen durchsetzt ist. Weiterhin wird explizit darauf hingewiesen, daß durch
ein Auslaugen des Siliziumgranulates in Säure oder Säuremischungen keine ausreichende
Reinigungswirkung erzielt werden kann. Deshalb wird in der GB 1581418 vorgeschlagen,
das Siliziumgranulat durch mechanisches Abschleifen unter kontinuierlicher Abnahme der
Korngröße bei gleichzeitigem Auslaugen durch Säuren bzw. Mischungen von Säuren mit
Oxidantien zu reinigen. Dabei wird insbesondere darauf hingewiesen, daß das Silizium
durch die Säuren bzw. Säuremischungen nicht angegriffen wird, sondern daß nur die
Verunreinigungen ausgelaugt werden. Das Abschleifen erfolgt unter Verwendung harter
Schleifmaterialien (keramische Materialien, Siliziumcarbit, polykristallines Silizium) bei
gleichzeitiger Drehung in einer Trommelmühle der dergleichen. Als Säure bzw.
Säuremischung wird u. a. HF-Säure bzw. wäßrige HF-Säuremischung vorgeschlagen.
Weiterhin wird ausgeführt, daß es vorteilhaft ist, während dem Schleifen einen Luftstrom
zuzuführen, um den Reinigungseffekt zu erhöhen. Nach der Reinigung des
Siliziumgranulates wird das Silizium aus der Reinigungsvorrichtung entfernt und
getrocknet. Die Trocknung des gereinigten Siliziums ist in der GB 1581418 nicht näher
beschrieben.
Da alle aus dem Stand der Technik bekannten Trocknungsverfahren, wie weiter oben
beschrieben wurde, eine erneute Verunreinigung des Siliziums bzw. der
Siliziumoberflächen zur Folge haben, weist damit auch das in der GB 1581418
beschriebene Verfahren diesen Nachteil auf.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist somit, Verfahren zum Trocknen von
Silizium gemäß den Oberbegriffen der beigefügten Ansprüche 1 und 2 zu liefern, die
auf einfache Weise die Aufrechterhaltung des Sauberkeitsgrades der gereinigten
Siliziumoberflächen und eine effektive Trocknung des Siliziums bei einer gleichzeitigen
Reinigung der Siliziumoberfläche gewährleisten.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zum Trocknen von Silizium gemäß dem
Oberbegriff des beigefügten Anspruches 1 gelöst, das dadurch gekennzeichnet ist, daß
die Flüssigkeit des Bades aus einer wäßrigen HF-Lösung mit einer Konzentration
zwischen 0,001 und 50% besteht und daß das über der Oberfläche der HF-Lösung
zugeführte Gas ein O₂/O₃-Gasgemisch enthält.
Diese Aufgabe wird außerdem durch ein Verfahren zum Trocknen von Silizium gemäß
dem beigefügten Anspruch 2 gelöst. Die Prozentangabe der Konzentration des HF in
der wäßrigen Lösung steht dabei für Gew.-%.
Das über der Oberfläche der HF-Lösung zugeführte Gasgemisch enthält O₂/O₃, wobei
z. B. Stickstoff oder dergleichen als Trägergas vorgesehen sein kann. Der Anteil von
O₃ in dem O₂/O₃-Gasgemisch beträgt vorzugsweise 1 mg bis 0,5 g pro Liter O₂/O₃-
Gasgemisch. Das Gasgemisch kann nur aus O₂/O₃ bestehen. Ist jedoch ein Trägergas
vorgesehen, so ist der Volumenanteil des O₂/O₃-Gasgemisches vorzugsweise größer als
10%.
Durch das HF werden die oberflächenaktiven Siliziumatome in Si-H und
Si-F-Bindungen umgewandelt. Der dadurch sich einstellende hydroyphobe
Oberflächencharakter läßt ein Trocknen auch bei sehr niedrigen Temperaturen zu.
Der pH-Wert < 7 beim Trocknen aus einer wäßrigen HF-Lösung heraus verhindert
eine metallische Rekontamination. Weiterhin entfernt das HF im Flüssigkeitsbad
Metallverunreinigungen, die in oxidierter Form (= ionisch) vorliegen, wie z. B. Fe und
hält sie in Form von Metall-Fluor-Komplexen in der Flüssigkeit zurück. Wird gemäß
Anspruch 1 Ozon über die Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung zugeführt, löst sich
dieses teilweise in der wäßrigen HF-Lösung und führt kovalent vorliegende
Si-Me-Bindungen durch Oxidation in ionische Bindungen über.
Außerdem tritt beim Lösen von Ozon in der wäßrigen HF-Lösung entsprechend dem
Ozon-Konzentrations-Gradienten der Marangoni-Effekt auf. Die Siliziumoberfläche
taucht hydrophil aus einer wäßrigen HF-Lösung auf.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren gemäß Anspruch 2 wird das O₂/O₃ enthaltende
Gasgemisch erst nach dem Trennen des Siliziums von der wäßrigen HF-Lösung über
die Oberfläche des Siliziums geleitet. Die Hydrophilierung der Siliziumoberfläche
findet somit erst nach dem Trocknungsvorgang statt. Der Vorteil dieses Verfahrens ist,
daß eine sehr schnelle Trocknung des Siliziums ermöglicht wird.
Das Trennen des Siliziums und der wäßrigen HF-Lösung kann bei beiden
erfindungsgemäßen Verfahren entweder durch Herausnehmen des Siliziums aus der
HF-Lösung oder durch Ablassen der HF-Lösung oder durch eine Kombination davon
aus dem Bad erfolgen.
Beim Verfahren gemäß Anspruch 1 beträgt die relative Trenngeschwindigkeit, d. h. die
Herausnahme-Geschwindigkeit des Siliziums aus der Lösung bzw. die
Ablaßgeschwindigkeit der Lösung aus dem Bad vorzugsweise einige mm/sec. Eine
derartig langsame Geschwindigkeit ist von Vorteil, da der Marangoni-Effekt bei den
langsamen Geschwindigkeiten besonders wirksam ist. Beim Verfahren gemäß Anspruch
2 beträgt die relative Trenngeschwindigkeit zwischen dem Silizium und der Oberfläche
der Lösung vorzugsweise einige cm/sec., da hier die Trocknung sehr schnell
durchgeführt werden kann.
Weiterhin kann die wäßrige HF-Lösung Zusätze, z. B. Säuren, Tenside, etc. enthalten,
falls sie die oben beschriebenen Effekte nicht zerstören und eine effektive Reinigung
und Trocknung des Siliziums weiterhin gewährleistet ist. Es sind spezielle
Anwendungen denkbar, bei denen durch Hinzufügen einer oder mehrerer weiterer
Säuren in die wäßrige HF-Lösung eine Verstärkung der beschriebenen Effekte oder
eine Verbesserung der Reinigung und Trocknung erreicht wird.
Es ist weiterhin von Vorteil, die wäßrige HF-Lösung vor dem Eintauchen des Siliziums
mit Ozon anzureichern oder zu sättigen. Hierdurch wird eine verbesserte Reinigung der
Siliziumoberflächen erreicht. Mehrere Monolagen Silizium werden hierbei oxidiert und
anschließend abgetragen. Somit ist die Reinigung auch für unmittelbar unter der
Oberfläche liegende Metalle (subsurface contamination) wirksam.
Die HF-Konzentration in der wäßrigen Lösung liegt vorzugsweise zwischen 0,01 und
0,1%.
Es ist weiterhin von besonderem Vorteil, daß das erfindungsgemäße Verfahren in einem
Temperaturbereich von 0°C-100°C durchgeführt werden kann, wobei der bevorzugte
Temperaturbereich 20°C-50°C ist.
Die vorliegende Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbeispieles unter
Bezug auf die beigefügten Figuren näher erläutert, in denen zeigen:
Fig. 1 schematisch das Entnehmen einer Siliziumscheibe aus einem Bad mit einer
wäßrigen HF-Lösung, unter Zuführung eines O₂/O₃-haltigen Gasgemisches,
Fig. 2 schematisch das Entnehmen einer Siliziumscheibe aus einem Bad mit einer
wäßrigen HF-Lösung ohne Zufuhr von O₂/O₃, und
Fig. 3a bis 3c in schematischer Darstellung die chemischen Vorgänge bei der
Reinigung bzw. der Hydrophilierung der Siliziumoberfläche bei den
erfindungsgemäßen Verfahren.
Fig. 1 zeigt eine Siliziumscheibe 1, die, nachdem sie vollständig in ein Bad 2 mit einer
wäßrigen HF-Lösung 3 eingetaucht worden war, langsam aus dem Bad entnommen
wird. Die Entnahmerichtung der Siliziumscheibe 1 ist durch den senkrecht nach oben
weisenden Pfeil oberhalb der Siliziumscheibe 1 angedeutet. Die
Entnahmegeschwindigkeit beträgt dabei vorzugsweise einige Millimeter pro Sekunde.
Ein schräg zur Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung 3 weisender Pfeil deutet die
gleichzeitige Zuführung des O₂/O₃-Gasgemisches über die Oberfläche der Lösung an.
Beim langsamen Herausziehen der Siliziumscheibe 1 aus der wäßrigen HF-Lösung 3
haftet die Oberfläche der wäßrigen HF-Lösung an der Siliziumoberfläche an und wird
nach oben gekrümmt. Dies ist in der Fig. 1 durch eine Aufwärtskrümmung der
Oberfläche der Lösung an den Grenzflächen zur Siliziumscheibe dargestellt. Dabei geht
an der Grenzfläche zwischen der Oberfläche der Lösung und der Oberfläche der
Siliziumscheibe 1 (Punkt A) mehr Ozon in Lösung als an der restlichen Oberfläche der
Lösung, hier beispielsweise durch den Punkt B gekennzeichnet. Da bei Punkt A eine
höhere Ozon-Konzentration als bei Punkt B herrscht, tritt bei A eine geringere
Oberflächenspannung auf als bei B. Dieser Gradient in der Oberflächenspannung führt
zu einem Fluß der wäßrigen HF-Lösung von Punkt A nach Punkt B, so daß eine
Trocknung der Siliziumoberfläche erfolgt.
Fig. 2 zeigt eine Siliziumscheibe 1, die, nachdem sie vollständig in ein Bad 2 mit
einer wäßrigen HF-Lösung 3 eingetaucht worden war, langsam aus dem Bad
entnommen wird. Die Entnahmerichtung der Siliziumscheibe 1 ist durch den senkrecht
nach oben weisenden Pfeil oberhalb der Siliziumscheibe 1 angedeutet. Wegen der
Hydrophobie der Siliziumoberfläche wird die Flüssigkeitsoberfläche unmittelbar an der
Siliziumoberfläche nach unten gekrümmt. Die Hydrophilierung der Siliziumoberfläche
durch Ozon geschieht erst nach Beendigung des Trocknungsvorganges.
In Fig. 3a ist schematisch dargestellt, daß durch das HF in der wäßrigen Lösung ein
Abtragen von Silizium-Oxidschichten, in die Metallionen, wie z. B. Fe eingebettet sein
können, gewährleistet ist.
Metallverunreinigungen, wie z. B. Cu, die direkt mit einem Si-Atom verbunden sind,
werden, wie in Fig. 3b dargestellt, durch einen Redox-Prozeß entfernt.
In Fig. 3c ist dargestellt, wie durch das Ozon eine Oxidation der Siliziumoberfläche
erfolgt.
Das Silizium verläßt das Trockenbad somit perfekt gereinigt, hydrophil und trocken.
Claims (11)
1. Verfahren zum Trocknen von Silizium (1), bei dem das Silizium in ein Flüssigkeits-
Bad (2) eingetaucht wird, und das Silizium (1) und die Flüssigkeit (3) unter Zuführung
eines Gases über der Oberfläche der Flüssigkeit getrennt werden, wobei das Gas in der
Flüssigkeit löslich ist und die Oberflächenspannung der Flüssigkeit senkt,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Flüssigkeit des Bades (2) aus einer wäßrigen HF-Lösung (3) mit einer
Konzentration zwischen 0,001 und 50% besteht und daß das über der Oberfläche der
wäßrigen HF-Lösung (3) zugeführte Gas ein O₂/O₃-Gasgemisch enthält.
2. Verfahren zum Trocknen von Silizium, bei dem das Silizium in ein Flüssigkeitsbad (2)
eingetaucht wird, und das Silizium (1) und die Flüssigkeit (3) danach wieder getrennt
werden, wobei die Flüssigkeit des Bades (2) aus einer wäßrigen HF-Lösung (3) mit einer
Konzentration zwischen 0,001 und 50% besteht,
dadurch gekennzeichnet,
daß nach dem Trennen des Siliziums (1) von der wäßrigen HF-Lösung ein O₂/O₃-haltiges
Gasgemisch über die Oberfläche des Siliziums (1) geleitet wird.
3. Verfahren gemäß Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die relative Trenngeschwindigkeit zwischen dem Silizium (1) und der Oberfläche
der wäßrigen HF-Lösung (3) einige mm/sec. beträgt.
4. Verfahren gemäß Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die relative Trenngeschwindigkeit zwischen dem Silizium (1) und der Oberfläche
der wäßrigen HF-Lösung (3) einige cm/sec. beträgt.
5. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Silizium (1) und die wäßrige HF-Lösung (3) durch Entnehmen des Siliziums
aus der wäßrigen HF-Lösung getrennt werden.
6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Silizium (1) und die wäßrige HF-Lösung (3) durch Ablassen der wäßrigen
HF-Lösung aus dem Bad (2) getrennt werden.
7. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die HF-Konzentration in der wäßrigen HF-Lösung zwischen 0,01 und 0,1% liegt.
8. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die wäßrige HF-Lösung (3) Zusätze, insbesondere Säuren, Tenside, enthält.
9. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die wäßrige HF-Lösung (3) vor dem Eintauchen des Siliziums mit O₃ angereichert
oder gesättigt wird.
10. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Verfahren im Temperaturbereich von 20°C bis 50°C stattfindet.
11. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Anteil von O₃ in dem O₂/O₃-Gasgemisch zwischen 1 mg und 0,5 g pro Liter
O₂/O₃-Gasgemisch liegt.
Priority Applications (33)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19531031A DE19531031C2 (de) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | Verfahren zum Trocknen von Silizium |
US08/692,169 US5714203A (en) | 1995-08-23 | 1996-08-05 | Procedure for the drying of silicon |
IL12304296A IL123042A (en) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Silicone drying process |
PL96325121A PL183355B1 (pl) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Sposób suszenia powierzchni podłoża |
CZ1998517A CZ291335B6 (cs) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Způsob sušení povrchu substrátu |
DK96929234T DK0846334T3 (da) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Fremgangsmåde til tørring af substrater |
CN96196222A CN1091542C (zh) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | 干燥基片表面的方法 |
PT96929234T PT846334E (pt) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Processo para secar silicio |
DE69624830T DE69624830T2 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Verfahren zum Trocknen von Substraten |
AU68720/96A AU697397B2 (en) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedure for the drying of silicon |
KR1019980701119A KR19990037642A (ko) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | 실리콘을 건조시키는 방법 |
PCT/EP1996/003541 WO1997008742A1 (en) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedure for drying silicon |
SI9630728T SI1199740T1 (sl) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Postopek za susenje silicijevih substratov |
CA002228168A CA2228168A1 (en) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedure for drying silicon |
JP50977197A JP3857314B2 (ja) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | シリコン乾燥方法 |
DE69635427T DE69635427T2 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Verfahren zum Trocknen von Substraten |
HU9802482A HUP9802482A3 (en) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedure for drying silicon |
ES96929234T ES2186800T3 (es) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedimiento de secado de sustratos. |
AT01130669T ATE309613T1 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Ein verfahren zum trocknen von siliziumsubstraten |
AT96929234T ATE227885T1 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Verfahren zum trocknen von substraten |
RU98104458A RU2141700C1 (ru) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Способ просушивания кремния |
SK212-98A SK284835B6 (sk) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Spôsob sušenia povrchu substrátu |
EP01130669A EP1199740B1 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Ein Verfahren zum Trocknen von Siliziumsubstraten |
ES01130669T ES2250292T3 (es) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedimiento de secado de sustratos de silicona. |
DK01130669T DK1199740T3 (da) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Fremgangsmpde til törring af silicium |
EP96929234A EP0846334B1 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Verfahren zum Trocknen von Substraten |
TW085110167A TW427952B (en) | 1995-08-23 | 1996-08-20 | Procedure for drying silicon |
UA98020935A UA51663C2 (uk) | 1995-08-23 | 1996-09-08 | Спосіб осушення кремнію |
US09/008,029 US6132811A (en) | 1995-08-23 | 1998-01-16 | Procedure for the drying of silicon |
NO980734A NO980734L (no) | 1995-08-23 | 1998-02-20 | Fremgangsmåte for törking av silisium |
MX9801464A MX9801464A (es) | 1995-08-23 | 1998-02-23 | Procedimiento para secar silicio. |
HK98111262A HK1010280A1 (en) | 1995-08-23 | 1998-10-14 | Procedure for drying substrates |
HK02104685.0A HK1043661B (zh) | 1995-08-23 | 1998-10-14 | 乾燥矽之方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19531031A DE19531031C2 (de) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | Verfahren zum Trocknen von Silizium |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19531031A1 DE19531031A1 (de) | 1997-02-27 |
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DE69624830T Expired - Lifetime DE69624830T2 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Verfahren zum Trocknen von Substraten |
DE69635427T Expired - Lifetime DE69635427T2 (de) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Verfahren zum Trocknen von Substraten |
Family Applications After (2)
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FR2591324B1 (fr) * | 1985-12-10 | 1989-02-17 | Recif Sa | Appareil pour le sechage unitaire des plaquettes de silicium par centrifugation |
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US4722752A (en) * | 1986-06-16 | 1988-02-02 | Robert F. Orr | Apparatus and method for rinsing and drying silicon wafers |
US4902350A (en) * | 1987-09-09 | 1990-02-20 | Robert F. Orr | Method for rinsing, cleaning and drying silicon wafers |
NL8900480A (nl) * | 1989-02-27 | 1990-09-17 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het drogen van substraten na behandeling in een vloeistof. |
JPH0366126A (ja) * | 1989-08-04 | 1991-03-20 | Sharp Corp | 絶縁膜の製造方法及びその製造装置 |
JPH0466175A (ja) * | 1990-07-03 | 1992-03-02 | Seiko Epson Corp | 水切り乾燥方法 |
JPH04346431A (ja) * | 1991-05-24 | 1992-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体シリコンウェハの洗浄装置 |
WO1995008406A1 (en) * | 1993-09-22 | 1995-03-30 | Legacy Systems, Inc. | Process and apparatus for the treatment of semiconductor wafers in a fluid |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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