DE19500355A1 - Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop - Google Patents

Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop

Info

Publication number
DE19500355A1
DE19500355A1 DE19500355A DE19500355A DE19500355A1 DE 19500355 A1 DE19500355 A1 DE 19500355A1 DE 19500355 A DE19500355 A DE 19500355A DE 19500355 A DE19500355 A DE 19500355A DE 19500355 A1 DE19500355 A1 DE 19500355A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
angle
reticle
microscope
measuring device
angle measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19500355A
Other languages
English (en)
Inventor
Reinhardt Dr Lihl
Kurt Dipl Ing Salzmann
Gerhold Garkisch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica AG Austria
Original Assignee
Leica AG Austria
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica AG Austria filed Critical Leica AG Austria
Priority to DE29520929U priority Critical patent/DE29520929U1/de
Priority to DE19500355A priority patent/DE19500355A1/de
Priority to JP28454295A priority patent/JPH08210807A/ja
Publication of DE19500355A1 publication Critical patent/DE19500355A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/24Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes

Description

Die Erfindung betrifft eine Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop unter Verwendung eines drehbaren Reticles.
Meßmikroskope werden hauptsächlich für zweidimensionale Messungen verwen­ det. Dabei handelt es sich vor allem um Längenmessungen zwischen zwei Punkten des mikroskopischen Objektes. Oftmals ist aber auch die Messung eines Winkels innerhalb der Objektstrukturen von großer Bedeutung. Bei den bekannten Meßmi­ kroskopen wird zu diesem Zweck meist der Binotubus entfernt und durch ein dreh­ bares Okular mit einem Reticle ersetzt. Auch ist bereits eine Ausführung bekannt, die eine größere Scheibe als das eigentliche Reticle verwendet, um mit einer zu­ sätzlichen Ablesevorrichtung - zum Beispiel einer Lupe - die Winkelmessung am äußeren Rand dieser Scheibe durchführen zu können (Nikon-"Protractor Eye­ piece"). Darüber hinaus ist auch eine Vorrichtung mit fest eingebauter Winkelmes­ sungs-Einrichtung bekannt, die ein drehbares Reticle und eine Einspiegelung des Meßwertes in das Okular besitzt (Leitz-WM-Mikroskop).
Nachteilig bei diesen bekannten Winkelmeß-Einrichtungen im Okular ist zum einen der notwendige Umbau von Binotubus auf einen monokularen Einblick. Die durch Leitz bekannte Einbau-Variante hat darüber hinaus den Nachteil, daß sie nicht mo­ dular ausgeführt ist und dadurch preismäßig das eigentliche Grundgerät belastet. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß die Ablesung in Grad und Minuten über Skalen eine ständige Fehlerquelle darstellt. Schließlich ist es als nachteilig anzu­ sehen, daß, da die Anzeige nicht auf Null gestellt werden kann, der gemessene Winkel erst durch eine Subtraktion von Anfangs- und Endwert ermittelbar ist.
Es daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Nachteile der bekannten Meßmikroskope zu vermeiden und eine leicht handhabbare, nachrüstbare Winkel­ meß-Einrichtung für Mikroskope bereitzustellen, die ohne anderweitige Umrüst- Maßnahmen bedienungsfreundlich einsetzbar ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Winkelmeß-Einrichtung der ein­ gangs genannten Art gelöst, bei der die Drehung des Reticles mit der Drehung eines Winkelcodierers gekoppelt ist. Dabei ist es möglich, daß sich die Spur bzw. Spuren mit dem (den) Code(s) des Winkelcodierers auf bzw. an dem drehbaren Reticle bzw. der Reticle-Fassung befindet (befinden). Darüber hinaus ist es auch möglich, daß zwischen dem Reticle und dem Winkelcodierer eine spiel- und schlupffreie Verbindung in Form eines Transmissionsbandes besteht. Eine beson­ ders vorteilhafte Ausführungsvariante ist dadurch gekennzeichnet, daß sie als Ein­ schub-Modul konzipiert ist, wobei das Reticle in Wirkstellung in einer Zwischen­ bildebene des Mikroskops senkrecht zu dessen optischer Achse positionierbar ist. Auch ist es möglich, die Einrichtung derart auszuführen, daß das Reticle in dem Einschub-Modul austauschbar gehaltert ist. Mit Vorteil ist der Winkelcodierer mit einer externen Anzeigeeinheit verbunden.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1: eine Draufsicht des Einschub-Moduls;
Fig. 2: eine perspektivische Darstellung des Einschub-Moduls mit gekoppelter An­ zeigeeinheit.
In Fig. 1 ist ein als länglicher Schieber ausgebildeter Einschub-Modul 1 dargestellt, der in eine entsprechende Ausnehmung eines nicht dargestellten Meßmikroskops einschiebbar ist. Die optische Achse 7 des Meßmikroskops steht senkrecht auf der Zeichenebene sowie auf dem drehbar gehalterten Reticle 2. In Fig. 1 zeigt das Re­ ticle 2 zwei diametrale Faden-Striche 9, 10, die sich unter 60° im Zentrum schnei­ den. Ein Winkelcodierer 3 ist als kreisförmige Scheibe erkennbar. Zwischen dem Winkelcodierer 3 und dem Reticle 2 bzw. der Fassung des Reticles 2 befindet sich ein Transmissionsband 5, das beispielsweise ein spiel- und schlupffreies Stahl­ band sein kann.
In Fig. 2 erkennt man den kompletten Einschub-Modul 1, der in Richtung des Dop­ pelpfeils 4 in die Ausnehmung eines Meßmikroskops einschiebbar ist. In Wirkstel­ lung befindet sich das Zentrum des Reticles 2 genau in der optischen Achse 7 des Gesamtsystems. Bei der in Fig. 2 gezeigten Gesamtdarstellung ist das Transmissi­ onsband 5 durch die obere Abdeckung des Einschub-Moduls 1 nicht erkennbar. Unterhalb des eigentlichen Winkelcodierers 3 befindet sich eine Handhabe 6, mit­ tels der der Mikroskopiker den Winkelcodierer in Funktion und damit das Reticle 2 in richtige Azimutal-Position bringen kann.
Wenngleich die in den Figuren dargestellte Lösung so ausgeführt ist, daß der Win­ kelcodierer 3 nicht direkt am drehbaren Reticle 2 angeordnet ist, sondern über ein spielfreies Transmissionsband 5 an das Reticle gekoppelt ist, liegt es gleichwohl im Rahmen der vorliegenden Erfindung, die Codierungen des Winkelcodierers direkt im Bereich des Reticles 2 an dessen Peripherie bzw. an der Peripherie der Reticle- Fassung anzuordnen. In der gezeigten Ausführungsvariante ragt der Winkelcodie­ rer 3 aus dem nicht mit dargestellten Mikroskopkörper seitlich heraus, so daß der Mikroskopiker in ergonomisch günstiger Position die Handhabe 6 zur Winkeleinstel­ lung bedienen kann.
Die Anzeige zur Winkelmessung - vgl. die in Fig. 2 schematisch dargestellte Anzei­ geeinheit 8 - kann jederzeit auf Null gestellt werden; auch ist die Genauigkeit durch geeignete Wahl des Winkelcodierers gegenüber den herkömmlichen Systemen deutlich gesteigert. Eine Weiterverarbeitung des Meßwertes über Drucker ist mög­ lich; dies ist jedoch nicht Gegenstand der vorliegenden Erfindung, sondern gehört vielmehr zum Stand der Technik.

Claims (7)

1. Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop mit einem drehbaren Reticle, dadurch gekennzeichnet, daß die Drehung des Reticles (2) mit der Drehung eines Winkelcodierers (3) gekoppelt ist.
2. Winkelmeß-Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Spur(en) mit den Codes des Winkelcodierers (3) auf bzw. an dem drehbaren Reticle (2) befindet (befinden).
3. Winkelmeß-Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß zwischen dem Reticle (2) und dem Winkelcodierer (3) eine spiel- und schlupffreie Verbindung in Form eines Transmissionsbandes (5) besteht.
4. Winkelmeß-Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß sie als Einschub-Modul (1) konzipiert ist, wobei das Reticle (2) in Wirkstellung in einer Zwischenbildebene des Mikroskops senkrecht zu dessen optischer Achse (7) positionierbar ist.
5. Winkelmeß-Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß das Reticle (2) in dem Einschub-Modul (1) austauschbar gehaltert ist.
6. Winkelmeß-Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß der Winkelcodierer (3) mit einer externen Anzeigeeinheit (8) verbunden ist.
7. Verwendung eines Winkelcodierers (3) für die Drehung eines mittels einer modu­ laren Winkelmeß-Einrichtung in die Zwischenbildebene eines Mikroskops bring­ baren Reticles (2) für die Ermittlung eines Winkels in einer mikroskopischen Ob­ jektstruktur sowie für die Anzeige des erhaltenen Winkelwertes in einer Anzei­ geeinheit (8).
DE19500355A 1994-10-05 1995-01-09 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop Withdrawn DE19500355A1 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE29520929U DE29520929U1 (de) 1994-10-05 1995-01-09 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop
DE19500355A DE19500355A1 (de) 1994-10-05 1995-01-09 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop
JP28454295A JPH08210807A (ja) 1994-10-05 1995-10-05 測定顕微鏡の角度測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4435254 1994-10-05
DE19500355A DE19500355A1 (de) 1994-10-05 1995-01-09 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19500355A1 true DE19500355A1 (de) 1996-04-11

Family

ID=6529796

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19500355A Withdrawn DE19500355A1 (de) 1994-10-05 1995-01-09 Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19500355A1 (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0842393B1 (de) Verfahren zum gegenseitigen ausrichten von körpern und lagemesssonde hierfür
DE4040794A1 (de) Verfahren und lagegeber zur lagebestimmung eines positionierkoerpers relativ zu einem bezugskoerper
DE19500355A1 (de) Winkelmeß-Einrichtung zu einem Meßmikroskop
DE739515C (de) Anordnung zum Herstellen von Skaleneinteilungen von Zeigermessgeraeten
DD228054A1 (de) Anordnung zur winkelmessung, insbesondere fuer geodaetische geraete
DE911548C (de) Mikrometrische Ablesevorrichtung mit Ablesespirale, insbesondere fuer Werkzeugmaschinen
DE19733711B4 (de) Verfahren zur Aufnahme und/oder Überprüfung der geometrischen Abweichungen der Z-Achse eines Koordinatenmeßgerätes
DE932037C (de) Vorrichtung zum Einstellen und Messen grosser Laengen
DE912758C (de) Praezisionslaengenmesser
DE1211812B (de) Optisches Beobachtungsinstrument, insbesondere Mikroskop, mit Einstrahlphotometer
DE606937C (de) Orientierungsbussole
DE873751C (de) Vorrichtung zum Messen von Laengen- oder Winkelgroessen an einem Werkstueck und Verfahren zu ihrer Anwendung
DE948195C (de) Fernrohr zur Verwendung in Verbindung mit einem fernen Reflektor
DE492948C (de) Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen vorgeschriebener Masse bei Kurbelzapfen von Lokomotiv-Radsaetzen
DE340139C (de) Topographischer Apparat mit Visiervorrichtung und Entfernungsmesser
DE83663C (de)
DE240889C (de)
AT154964B (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der rechtwinkeligen Koordinaten von Geländepunkten, insbesondere von Polygonzügen u. dgl.
DE1423555A1 (de) Optisches Geraet zum Messen kleiner Abstaende
DE663181C (de) Geraet fuer das Ausrichten eines schwenkbaren Rundteiltisches zur Achse der Bohrspindel einer Bohrmaschine
DE742112C (de) Vorrichtung zum Pruefen von Schneidraedern fuer Zahnraeder und Verzahnungen beliebiger Form und der damit hergestellten Raeder u. dgl. auf Mass- und Formhaltigkeit
CH232925A (de) Winkelmessgerät.
DE851555C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Abstandes zwischen den optischen Zentren zweier oder mehrerer nebeneinander in einem Halter angebrachter Linsen oder optischer Systeme
DE9622C (de) Entfernungsmesser
DE2146110C3 (de) Winkelmengerät mit einer Visiervorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8130 Withdrawal
8165 Unexamined publication of following application revoked