DE1947799A1 - Verfahren zum Anbringen einer Elektrode an einem Halbleiterelement und danach hergestelltes Halbleiterelement - Google Patents

Verfahren zum Anbringen einer Elektrode an einem Halbleiterelement und danach hergestelltes Halbleiterelement

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Description

Verfahren zum Anbringen einer Elektrode an einem Halbleiterelement und danach hergestelltes Halbleiterelement
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Anbringen einer Elektrode an einem Halbleiterelement, insbesondere aus Oxydkeramik, durch Auftragen eines Silber enthaltenden Kontaktmaterials und anschließendes Einbrennen, sowie auch ein danach hergestelltes Halbleiterelement«,
Es ist bekannt, Halbleiterelemente mit Silberelektroden zu versehen. Zu diesem Zweck wird auf eine Kontaktfläche des Elements Silber, z.B. in Pastenform (kolloidales Silber in einer Suspension aus einem organischen Träger), aufgetragen und dann eingebrannt. Statt reinen Silbers kann auch eine Silber abgebende Verbindung aufgetragen werden.
Dieses Verfahren läßt sich jedoch bei zahlreichen Halbleiterelementen, insbesondere solchen aus Oxydkeramik, nicht anwenden. In dieses Gebiet gehören aber gerade technisch sehr interessante Halbleiterelemente, z.B. PTC-Widerstände. Ein bekannter Vertreter dieser Halbleiterelemente ist Bariumtitanat (BaTiO3). Bei einem solchen Material entsteht beim Einbrennen an der Kontaktfläche eine störende Zwischenschicht, die einerseits einen hohen Übergangswiderstand zwischen Elektrode und Halbleitermaterial
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hervorruft und deren Widerstand andererseits häufig noch stromrichtungsabhängig ist. Insbesondere bei hochbelastbaren PTC-Widerständen, z. B. für Motoren und dgl., bei denen eine Leistung von mehreren Watt, z. B. 25 W, umgesetzt wird, muß ein solcher Übergangswiderstand unbedingt vermieden werden, da sich anderenfalls die Erwärmung auf diese Übergangszone konzentrieren und eine unzulässige Temperaturerhöhung hervorrufen würde.
Es hat sich gezeigt, daß die hochohmige Übergangszone auf eine Oxydations-Sperrschicht zurückzuführen ist, die beim Aufbrennen des Silbers entsteht. Das einzige bekannte brauchbare Verfahren zur Beseitigung dieser Sperrschicht besteht darin, daß auf die aufgebrannte Elektrode eine Zink- oder Zinnschicht aufgebracht und einer solchen Erwärmung ausgesetzt wird, daß Zink oder Zinn durch die Elektrode hindurch diffundiert und das Oxydmaterial in. der Sperrschicht so weit reduziert, daß die störenden Eigenschaften der Sperrschicht ganz oder teilweise beseitigt werden. Nachteilig ist hierbei jedoch, daß an das Einbrennen noch ein Diffusions-Arbeitsschritt und eine Nachbehandlung bei erhöhter Temperatur anschließen muß. Der verbleibende Übergangswiderstand ist für viele Fälle zu hoch und steigt mit der Zeit irreversibel bis zu 40 % anο
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen sehr viel einfacheren Weg anzugeben, um ein Halbleiterelement mit aufgebrannter Elektrode mit besserem Übergangsverhalten bzw. ohne . störende Sperrschicht herzustellen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß dem aufzutragenden Zontaktmaterial ein leicht oxydierbares Metall und ein Aktivator, der oberhalb einer -rorgegebenen Reaktionstemperatur das Oxyd dieses Metalls reduziert, beigemischt wird und daß das Einbrennen bei einer Temperatur oberhalb der Reaktionsrtemperatur erfolgt. ' :
Bei diesem Yerfahren wird die Bildung der Sperrschicht während des Aufbrennvorgangs unterdrückt. Ein naphträgliches Eindiffundieren eines Metalls zum Beseitigen der Sperrschicht kann entfallen. Das leicht oxydierbare Metall sorgt dafür, daß keine
..;,;,,;.--.;. . ; ν .^Α'ΠΟ 1 Q 9 8 1 47 1 0 7 0 QRiQiHAL INSPECTED
Oxydationssperrschicht entsteht bzw. daß alle sich dort bildenden störenden Oxyde sofort in das nicht störende Oxyd des betreffenden Metalls umgewandelt werden. Hierbei ist allerdings zu berücksichtigen, daß sich ein leicht oxydierbares Metall schon im Normalzustand, also unter dem Einfluß der Luft, mit einer Oxydhaut überzieht. Das Metall wäre daher nur bedingt für die gewünschte Reduktion wirksam. Dieses Hindernis wird aber durch die Verwendung des Aktivators überwunden. Der Aktivator wird erst beim Einbrennen, wenn nämlich seine Reaktionstemperatur überschritten ist, wirksam. Er beseitigt die Oxydhülle des Metalls durch Reduktion, so daß dieses im Bereich der Übergangszone seine volle Wirkung entfalten kannö Es ergibt sich ein sehr geringer Übergangswiderstand, der auch später, wenn das Halbleiterelement den Betriebsbedingungen ausgesetzt wird, keine wesentlichen Änderungen erfährt.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn als Aktivator Titanhydrid (TiHp) verwendet wird und die Einbrenntemperatur über dessen Zersetzungstemperatur liegt. Wenn sich Titanhydrid bei etwa 4500C zersetzt, wird die Oxydhaut des leicht oxydierbaren Metalls durch den frei werdenden Wasserstoff reduziert. In der Elektrodenschicht verbleibt dann das unschädliche Titan, während Wasserstoff bzw« Wasser als Gase austreten können. Auch liegt die Zersetzungstemperatur unterhalb eines Wertes, der beim Einbrennen angewendet werden kann. Ein weiterer brauchbarer Aktivator ist Zirkonhydrid.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung wird ein leicht oxydierbares Metall verwendet, dessen Schmelzpunkt unter der Einbrenntemperatur liegt. Wenn das Metall beim Einbrennen schmilzt, durchbricht flüssiges Metall die Öxydhaut und steht zur Reduktion an der Übergangszone zur Verfügung. Auf diese Weise kann eine geringere Aktivatormenge ausreichen. Das Metall hat eine höhere Reduktionsaktivität während des Einbrennens und führt daher zu sehr homogenen Kontaktübergängen. Wenn die Schmelztemperatur des Metalls unter der Reaktionstemperatur des Aktivators liegt, beginnt die Reduktion auch schon bei einer relativ geringen Temperatur.
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Ein für die Praxis hervorragend geeignetes, leicht oxydierbares Metall ist Zink mit einem Schmelzpunkt von 4200C. Andere brauchbare Metalle sind Blei (3270C), Zinn (2320C) oder Indium (1560C) oder aber Metallegierungen,die bei niedriger Temperatur schmelzen, zeB. 25% Indium + 75% Blei (227-2640C)0
Ein anderes, gut brauchbares, leicht oxydierbares Metall ist Aluminium,, Zwar wird beim Einbrennen in der Regel nicht der Schmelzpunkt dßs Aluminium von 6600C erreicht werden. Es genügt aber die Reduzierung der Aluminium-Oxydhaut durch den Aktivator,, Aluminium ist preiswert und als unmittelbar brauchbares Pulver handelsübliche
Zweckmäßigerweise sind die beigemischten Bestandteile nämlich pulverförmig, insbesondere kolloidal. Auf diese Weise ergibt sich eine sehr gleichmäßige Verteilung und eine große Reaktionsoberfläche. Die pulvefförmigen Bestandteile können mit besonderem Vorteil einer an sich bekannten Silberpaste beigemischt werden. Da in der Silberpaste kolloidales Silber enthalten ist, werden die drei genannten Mischungsbestandteile äußerst gleichmäßig verteilt.
In der Praxis hat es sich als günstig herausgestellt, annähernd gleiche Volumina des leicht oxydierbaren Metalls und des Aktivators beizumischen,, Allerdings sollte das Silber volumenmäßig überwiegen. Beispielsweise können 70 - 85Vo1% Silber, 30-15VoI^ leicht oxydierbares Metall und Aktivator beigemischt werden»
Ein sehr unkritisches Kontaktmaterial, das insbesondere für die Massenfabrikation geeignet ist, besteht aus 80 VoIJHi Silber in Pastenform, 10 Vol% Zink und 10 Vol% Titanhydrid„
Vorteilhafte Einbrenntemperaturen liegen zwischen 450 und 6000C, vorzugsweise zwischen 500 und 55O°C. Bei diesen Temperaturen ist einerseits- die' Zersetzungstemperatur des Titanhydrid überschrit-
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ten, andererseits aber noch keine so hohe Temperatur erreicht, daß unerwünschte andere Reaktionen auftreten. Als Einbrenndauer haben sich 10 - 20 Min. als zweckmäßig erwiesen.
Ein nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestelltes Halbleiterelement ist dadurch gekennzeichnet., daß die Elektrode außer Silber noch Titan und ein leicht oxydierbares Metall bzw. deren Oxyde enthält. Durch diese Stoffe wird die Leitfähigkeit des Silbers nicht merklich beeinträchtigt und der ohmsche Charakter des Kontakts nicht gestört. Umgekehrt erhält aber die Elektrode durch diese Stoffe eine größere Dicke und Festigkeit.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung veranschaulicht.. Ein PTC-Widerstandskörper 1 aus Oxydkeramik, hier aus Bariumtitanat, trägt an beiden Stirnseiten 2 eine aufgebrannte Elektrode 3, die im wesentlichen aus Silber besteht. An diese Elektrode ist ein Anschlußdraht 4 mittels Lötung 5 befestigt.
Zur Herstellung der Elektrode wurde eine handelsübliche Silberpaste (kolloidales Silber in einem organischen Bindemittel) mit Zinkpulver und Titanhydrid-Pulver vermischt. Das Titanhydrid-Pulver und das Zinkpulver wurden vor dem Beimischen 30 Min. lang bei 1450C getrocknet. Dann wurde dieses Kontaktmaterial in Form der Elektrode 3 auf die Kontaktfläche 2 aufgebracht und anschließend während 10 Min. bei 5000C eingebrannt.
Bei einem Bariumtitanat-Körper mit einem Massewiderstand von 60 0hm ergab sich nach Anbringen der Elektroden ein fast unveränderter Gesamtwiderstand, wenn bei gleichen Volumenanteilen von Zink und Titanhydrid das Silbervolumen zwischen 65 und 95 % lag. Bei einer Erhöhung der Einbrenndauer auf 15 Min. erzielte man ähnliche Verhältnisse bei einem Silberanteil von 80 - 90 %.
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Bei einem anderen Ausführungsbeispiel wurde statt Zink-Aluminiumpulver benutzt. Hier ergaben sich, nur geringfügig über dem Ursprungswert liegende Widerstandswerte, wenn bei gleichem Yolumenanteil von Aluminium und Titanhydrid das Silber-vcLumen 70 - 85 % betrug.
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Claims (13)

  1. PATENTANSPRÜCHE
    erfahren zum Anbringen einer Elektrode an einem Halbleiterement, insbesondere aus Oxydkeramik, durch Auftragen eines Silber enthaltenden Kontaktmaterials und anschließendes Einbrennen, dadurch, gekennzeichnet, daß dem Kontaktmaterial ein leicht oxydierbares Metall und ein Aktivator, der oberhalb einer vorgegebenen Reaktionstemperatur das Oxyd dieses Metalls reduziert, beigemischt wird und daß das Einbrennen bei einer Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur erfolgt.
  2. 2. Verfahren nach. Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Aktivator Titanhydrid (TiH2) verwendet wird und die Einbrenntemperatur über dessen Zersetzungstemperatur liegt.
  3. 3β Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein leicht oxydierbares Metall verwendet wird, dessen Schmelzpunkt unter der Einbrenntemperatur liegt«,
  4. 4. .Verfahren nach einem der Ansprüche 1,-3, dadurch gekennzeichnet, daß das leicht oxydierbare Material Zink ist.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß das leicht oxydierbare Material Aluminium ist,
  6. 6«, Verfahren nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, daß die beigemischten Bestandteile pulverförmig, insbesondere kolloidal, sind.
  7. 7· Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die pulverförmigen Bestandteile einer an sich bekannten Silberpaste beigemischt werden.
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  8. 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 - 7» dadurch gekennzeichnet, daß annähernd gleiche Volumina des leicht oxydierbaren Metalls und des Aktivators beigemischt werden.
  9. 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-8, dadurch gekennzeichnet, daß 70 - 85 Vol.Ji Silber 30 - 15 Vol.Ji leicht oxydierbares Metall und Aktivator beigemischt werden.
  10. 10. Verfahren nach Anspruch 2, 4, 8, 9» dadurch gekennzeichnet, daß 80 VoI.Ji Silber in Pastenform, 10 Vol. Ji Zink und 10-VoIJi Titanhydrid verwendet werden.
  11. 11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 - 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Einbrenntemperatur zwischen 450 und 600 0C, vorzugsweise zwischen 500 und 55O°C, liegt.
  12. 12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 - 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Einbrenndauer 10 - 20 Min. beträgt.
  13. 13. Nach dem Verfahren der Ansprüche 1 - 12 hergestelltes Halbleiterelement, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode äußer Silber noch Titan und ein leicht oxydierbares Metall bzw. deren Oxyde enthält.
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DE19691947799 1969-09-20 1969-09-20 Verfahren zum sperrschichtfreien Kontaktieren eines aus Oxidkeramik bestehenden Halbleiterbauelementes Expired DE1947799C3 (de)

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DE1947799B2 DE1947799B2 (de) 1972-10-26
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4695818A (en) * 1985-03-07 1987-09-22 Siemens Aktiengesellschaft Electrical resistor with a negative temperature coefficient for incremental resistance values and method for manufacturing same

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US4695818A (en) * 1985-03-07 1987-09-22 Siemens Aktiengesellschaft Electrical resistor with a negative temperature coefficient for incremental resistance values and method for manufacturing same

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DE1947799B2 (de) 1972-10-26
US3743538A (en) 1973-07-03
JPS509359B1 (de) 1975-04-11
GB1305748A (de) 1973-02-07
NL7012348A (de) 1971-03-23
DK127143B (da) 1973-09-24

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