DE1521319A1 - Verfahren zur chemischen Plattierung und Plattierungsloesungen - Google Patents

Verfahren zur chemischen Plattierung und Plattierungsloesungen

Info

Publication number
DE1521319A1
DE1521319A1 DE19651521319 DE1521319A DE1521319A1 DE 1521319 A1 DE1521319 A1 DE 1521319A1 DE 19651521319 DE19651521319 DE 19651521319 DE 1521319 A DE1521319 A DE 1521319A DE 1521319 A1 DE1521319 A1 DE 1521319A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ions
iron
nickel
solution
concentrations
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19651521319
Other languages
English (en)
Inventor
Mcgrath Richard Stanley
Silcox Norman Wesley
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of DE1521319A1 publication Critical patent/DE1521319A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F41/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
    • H01F41/14Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
    • H01F41/24Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates from liquids
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/48Coating with alloys
    • C23C18/50Coating with alloys with alloys based on iron, cobalt or nickel

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

PATENTANWALT ' ■
TELEGRAMME: WESPATENT β MÜNCHEN 19
POSTSCHECK: MÜNCHEN- 16-1676 - MONTENSTRAS5E 9/1
BANKHAUS H. AUFHÄUSER 379506 TELEFON: 575203
Docket 14 115 MBOE ANMBIDUNQSUMgBKLAQg!!
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
XS=CSS==XSB«SCBBCseSCBeBS==SSBBS»i«aSSBaBSBlI
Armonk, N. Y- 10 504, U.S.A.
Verfahren zur chemischen Plattierung und
Plattierungslösungen
as ss as as as as sä as se ag es ssss as as as ss ss si as~
Die vorliegende Erfindung betrifft dünne Magnetfilme bzw. -schichten und insbesondere ein verbessertes Verfahren zur stromlosen Abscheidung von dünnen Magnetfilmen, die sich als Speicher und Schaltelemente in Datenverarbeitungs- und Rechenanlagen verwenden lassen.
Seitdem M,J. Blois Jr. (The. Journal of Applied Physics, Band 26, Seite 975, 1955) die Herstellung dünner Magnetfilme aus Nickel-Eisen {Gewichtverhältnis 80 s 20) bei Vorhandensein eines Orientierungsfelds beschrieben hat, das zur Bewirkung uniaxialer Anisotropie verwendet wurde, hat man in der Forschung sowie in der Industrie große Anstrengungen unternommen, um solche dünnen Magnetfilme als praktisch brauchbare Speicher-
909834/1160
■ ΝβΙΙΘ Unterlagen (Art. 7 |1Ab».2Nr.l SaU 3 des Änd*run«yia»*.v.4. ft. K^.:,
und Schaltanlagen für .Rechner zu entwickelnο Diese dünnen Magnetfilme weisen entlang der bevorzugten Magnet!sierungsriohtung zwei stabile Zustände, die der positiven und negativen Remanenz entsprechen, auf. Bei Anwendung bestimmter elektrischer Signale längs elektrischer Leiter, die sich in Kontakt mit den Filmen oder in deren Nähe befinden, springt die Magnetisierung von einem Remanenzzustand in den anderen und repräsentiert so Information. Die Polarität der magnetischen Remanenz entspricht speziellen Informationsbits und läßt sich durch Abfragen durch Anwendung von weiteren ausgewählten elektrischen Signalen zur Auffindung der gespeicherten Information ablesen. PUr die Wissenschaft ist die Tatsache von besonderem Interesse, daß die Umkipp-Schaltweise, nach der die Remanenz in dünnen Filmen schaltet, ein weitaus schnellerer Vorgang ist, als das Schalten durch Wand-Wanderung von Ferritkernen. Dass der dünne Magnetfilm, die Möglichkeiten schafft, die Geschwindigkeit und die Verläßlichkeit von Rechnern zu erhöhen, ist leicht ersichtlich.
Zwar stellen bekanntlich Pertiialloymeterialien, d.h. Zusammensetzungen mit einem Gehalt von 15 bis 45 % Elsen und 55 bis 85 % Nickel, ein vielversprechendes Filmmaterial für derartige Anwendungen dar, und Übliche Arbeitsweisen, wie z.B. Vakuumab- eoheldung, Elektroplattlerung, Kathodenzerstäubung und pyrolytische Reaktionen, sind zur Herstellung derartiger Filme verfügbar» doch bedarf noch vieles der Entwicklung, bevor ein dünner Magnetfilm nach einer dieser Methoden hergestellt werden kann« der bei der Verwendung in datenverarbeitenden Anlagen oder
9 0-9834/1-160 bad ofwginal
in Rechnern brauchbar 1st und sowohl vom Standpunkt; der Wissenschaft als auch vom Standpunkt der Wirtschaft mit Ferritspeiehern konkurrenzfähig ist.
Ein Verfahren, das viele der bisher erwähnten Schwierigkeiten überwunden hat, ist das der chemischen Reduktion oder stromlosen Plattierung. Ein solches Verfahren ist im Patent .......
(Patentanmeldung «Γ 27 752 VIb/48b) beschrieben. Wie in dieser Patentschrift angegeben ist, wurden Filme aus Nickel, Nickel-Kobalt und anderen Metallegierungen auf aktiven oder katalytischen Oberflächen durch Reduktion der Metallsalze mit HypophoBphit schon abgeschieden, doch wurden vor dieser Patentschrift nur geringe Portsehritte bei der Herstellung von Nickel-Eisen-Filmen, bei denen der Hauptteil des Films aus Nickel besteht« erzielt. In den bereits bekannten Fällen» in den Nickel-Elsen-Schichten stromlos abgeschieden wurden, waren diese störanfällig und zeigten ein geringes 1/0-Differenzsignal. Die erste Eigenschaft, nämlich die Störanfälligkeit, 1st ein Maß für die Fähigkeit des Films, in einem ausgewählten remanenten Zustand in Gegenwart von Streufeldern zu verbleiben) je störanfälliger ein Film ist, desto genauer müssen die Schaltfelder bestimmte : OrÖsse und Richtung haben» Die letztere GrSsse des 1/O-Differenzeignals, ist ein Mad für das beim Lesen einer Information beim Abfragen zur Verfügung stehende Signal; je kleiner dies Signal ist, desto schwieriger wird es^genau zwischen Rauschsignalen und Informationssignalen zu unterscheiden, und umso größer si.nd die Anforderungen die an die Lesekreise gestellt werden..
9 0 983Ä/1160 BAD
In der oben genannten Patentschrift ist angegeben, daß die erwähnten Probleme mit einem aus einer stromlos verwendbaren Lösung durch Reduktion erzeugten Nickeleisenfilm überwunden werden können, wobei die Hypophosphltionkonzentration in der Lösung unter 7,00 g/l gehalten wird. Wie dort ausgeführt ist, sind zwar die Ursachen für den Erfolg bei der Abscheidung nicht völlig geklärt, doch wurde hierfür eine Arbeitshypothese aufgestellt. So wird angenommen, daß bei einer stromlos zu verwendenden Lösung, die 7*00 g Hypophosphitionen je 1 oder weniger enthält, die Plattierungsgesohwindigkeit geringer als bei höheren Konzentrationen an Hypophosphit ist, was eine stärkere Wechselwirkung und ein stärkeres Wachstum von sekundären Bestandteilen gestattet, was einen hohen Wiederstand begünstigt und damit die Wirbelstrombildung verringert, wodurch ein vollständigeres Schalten dieses Films erzielt wird. Außerdem ist in dieser Patentschrift angegeben, daß es sich als notwendig erwiesen hat, den pH-Wert in der stromlos zu verwendenden Lösung für die Abscheidung dünner Magnetfilme, die in Rechenanlagen verwendbar sind, bei wenigstens 8 zu halten. Bei Lösungen mit einem pH-Wert unter diesem Wert wurde gefunden, daß sehr wenig Bisen in den Filmen abgeschieden wird, wie groß auch immer die Menge des in der Lösung enthaltenen Eisens sein mag, und daß optimale Ergebnisse erreicht werden, wenn der pH-Wert bei 10 oder darüber gehalten wird. Innerhalb dieser Grenzen der Hypophosphitkonzentration und des pH-Werts werden dünne Magnetfilme erhalten, die Verbesserungen gegenüber Filmen aufweisen, die nach anderen bekannten Arbeitswelsen hergestellt wurden.
90 9834/1160 BAD original
■■.■■· - 5 -
Es wurde nun gefunden, daß nochweitere Verbesserungen bei dem stromlosen. Abscheidungsverfahren erreichbar sind« indem man der stromlos zu verwendenden Lösung bestimmte Mengen von Eisen(III)-ionenzugibt» Es wurde gefunden, daß die Zugabe von EisenClII)-ionen das 1/0-Differenzsignal weiter erhöht, die Störanfälligkeit weiter herabsetzt, eine einheitlichere KrI-stallitkorngröße gewährleistet, gleichmäßigere Anlageoharakteristiken bewirkt, was alles zu größerer Geschwindigkeit und erhöhter Zuverlässigkeit führtο I
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Bereitstellung eines verbesserten Verfahrens der chemischen Reduktion zur stromlosen Abscheidung dünner Magnetfilme bzw. -schichten, die für Rechen« anlagen geeignet sind*
Zu weiteren Aufgaben und Zielen der Erfindung gehören:
Die Bereitstellung eines verbesserten Verfahrens zur Herstellung
von magnetischen Speicher- und Schaltelementen, die verbesserte " magnetische Eigenschaften aufweisen;
die Bereitstellung einer stromlos zu verwendenden Lösung zur chemischen Abscheidung dünner Magnetfilme mit verbesserten magnetischen Eigenschaften·
Schließlich ist Ziel der vorliegenden Erfindung, ein wirtschaftliche« und technisch brauchbares Verfahren der chemiechen Reduk-
9 0 9834/1 160 BAD
tion zur Herstellung dünner Hagnetflinse mit Reproduzierbarkeit und Gleichförmigkeit der Charakteristiken.
Diese und andere Verbesserungen und Ziele werden mit einer neuen und verbesserten Lösung zur stromlosen Plattierung erreicht, die eine wässrige alkalische Lösung von Nickel» und Eisen(II)-ionen, bis zu etwa 7 g Hyyophosphit-Ionen je 1 und bis zu etwa 850 Teilen Je Million an Bisen (III) -ionen enthält und deren pH-Wert bei wenigstens 8 gehalten wird* Das Verfahren beruht auf der gesteuerten autokatalytischen Reduktion des Nickels und Eisens alt Hilfe der Hypophosphltanlonen. Neue Nlokel-Elsen-Phosphor-Legierungen werden chemisch aus den stromlos zu verwendenden Lösungen abgeschieden, indem man mit diesen Lösungen Unterlagen in Kontakt bringt, die au» Kupar, NickeI5 Kobalt, Bisen« Stahl, Aluminium, Zink, Palladium* Platin, fiessing, Mangan, Chrom« Molybdän, Wolfram, Titan, Zinn, Silber, Kohle, Graphit oder Legierungen, die Kombinationen aus diesen Substanzen enthalten, bestehen können. Dl« katalytisch·» eigenschaften dieser Materialien, die dies· von Natur aus besitzen oder die durch Aktivierung hervorgerufen wurden, bewirken mit Hilfe der vorhandenen Hypophosphitanlonen «In« Reduktion von Nickel und Eisen zu Niokel-Blsen-Fhospiior-LegleiraQgen· Bs ist ersichtlich, defl nichtkata-Iytisch· Oberflächen, s«B. aus nichtmetallischen Materialien, , bei der Behandlung ebenfalls verwendbar sind, nachdem die Oberfläche des niohtkatalytischen Materials durch Erzeugung eines Film· eines katalytiachen Materials auf dieser Oberfläche aktiviert oder aeneitiviert ist* Dies kann durch verschiedenste bekannte Verfahren erfolgen·
90983A/118 0 BAD
Bel der Durchführung der stromlosen Plattierung von Nickel und Eisen in einer alkalischen Lösung, ist das Vorhandensein einer Verbindung, die einen wasserlöslichen Niokelkomplex bildet, notwendig, um eine Ausfällung des. Nickels als Hydroxyd oder Hypophosphlt zu verhindern. Dies wird durch Zugabe von ausreichend Ammoniak oder Ammoniaksalzen, um das Niekelhexaminkomplex-ion W\hilden, vermieden. Zur Verhinderung der Ausfällung von Eisen als Elsen(II)-ionen werden Tartrationen zugegeben, um die Konzentration der Elsen(II)»ionen unter ihrer Lösllchkeitsgrenze zu halten. In entsprechender Weise wird die Aktivität des Hypophosphltions durch Einstellung des Gehalts an freiem Alkali, gemessen durch den Hydroxylionengehalt der Lösung, gesteuert, indem man Natriumhydroxyd, Ammoniumhydroxyd oder andere Basen zugibt.
Es ist ersichtlich, daß andere komplexbildende Mittel oder Sequestrierungsmittel auSer Ammoniak und Tartrationen in der erfindungagemäßen Lösung verwendbar sind. Zu diesen gehören organische komplexbildende Mittel, die eine: oder mehrere der folgenden funktionellen Gruppen enthalten: primäre Aminogruppen (-NH2), sekundäre1 Aminogruppen (/NH), tertiäre Aminogruppen (^N-), Iminogruppen (*NH), Carböxygruppen (-COCHi) und Hydroxygruppen (-0H)0 Die bevorzugten Mittel sind Rochellasalz, Seignettesalz, Weinsäure, Ammoniak, Ammoniumhydroxyd und Ammoniumchlorid. Verwandte Polyamine und N-Carboxymethylderivate davon können ebenfalls verwendet werden» Cyanide sollen nicht verwendet werden, weil der Plattierungsvorgang bei ihrer Anwesenheit nicht funktioniert. Nickel und Eisen werden in Form irgendeines wasserlöslichen Salzes zugegeben, das der Plattierungslösung nicht entgegenwirkt. Die Kationen werden
909834/1160 BAD
in Form von Chloriden, Sulfaten, Acetaten, Sulfaiuaten und/oder Gemischen davon zugegeben.
Bei der Durchführung des stromlosen Platfcierungsverfahrens wird der zu plattierende Gegenstand, das heißt das katalytische Material, durch mechanische Reinigung und Entfettung nach bekannten Arbeitsweisen geeignet vorbereitet«. Falls das zu beschichtende Material aus Kupfer oder einer Kupferlegierung besteht, wird der Gegenstand dann noch weiter gereinigt, indem man ihn etwa JJO Sekunden in 10 #ige „Salzsäure bei Zimmertemperatur taucht j dann wird der Gegenstand durch Tauchen in eine 0,1 #ige PalladiumchloridlöEung etwa 15 Sekunden lang bei Zimmertemperatur aktiviert« Aufgrund einer Austauschreaktion
Metall0+ Pd+* «* Metall**+ Pd0
wird etwas Palladium auf der katalytischer*. Oberfläche abgeschieden., Es wirkt als Katalysator zur Xnitiierung der Reduktion von Nickel und Eisen durch das Hypophosphit.
Gemäß der oben erwähnten Patentschrift wird das aktivierte katalytische Material naoh der obigen Behandlung in die Plattierungslt'sung eingetaucht, die auf die benötigte Temperatur erhitzt wurde, und anschließend wird die Lösung ml 1; einer Schicht Xylol bedeckt« Die Xylolabdeckung oder Äquivalente davon wird verwendet, um die Oxydation der Eisen(II)-ionen zu Eisen(IXX)-ionen zu verhindern und die Verdampfung von Ammoniak zu verlangsamen. Es wurde bisher angenommen, daß Eisen(IJI) «-ionen für den gewünschten Effekt schädlich sind, wenn sie in Konzentra-
909834/1160
BAD ORIGINAL
■"'9 - ■■'*' ■■
tlonen von mehr als einigen Teilen je Million vorhanden sind· Es wurde nun gefunden« dafl bestimmte Zugaben von E1 .an (III)-ionen bis hinauf zu etwa 800 Teilen Je Million sehr vorteilhaft sind und in hohem Maße dazu beitragen, die erforderlichen Eigenschaften für dünne Magnetfilrae in Speicher- oder Schaltanlagen zu verbessern.
Bei der Herstellung des dünnen Magne'tf ilms wird die katalytische Oberfläche der stromlos zu verwendenden Flattierungslöaung eine ausreichende Zeitspanne lang ausgesetzt 3 um auf dieser eine Niakel-Elsen-Phoaphor-Legierung auszubilden, Zur Förderung der Entwicklung anisotroper Eigenschaften« d.h. von Magnetcharakteristiken, die Vorzugsrichtungen über die Oberfläche des Films aufweisen» wird die stromlose Plattierung in Gegenwart eines Magnetfelds durchgeführt ο Isotrope Eigenschaften* d.h. magnetische Eigenschaften« die in jeder Richtung'längs der Oberfläche des Films die gleichen sind, sind mit der Technik der erfindungsgemäßen stromlosen Plattierungsarbeitswelse ebenfalls erhältlich, doch ist dann natürlich kein äußeres Feld nötig.
Die durch das stromlose Abscheidungsverfahren hergestellten dünnen Magnetfilme haben ausgezeichnete Charakteristiken, die bei deren Verwendung in Rechnern und Datenverarbeitungsanlagen B9hv wünschenswert sind. Die dünnen Magnetfilme enthalten •twa 15 bis-.35 Gew.-$ Eisen, etwa 65 bis etwa 85 Gew.-56 Nickel, und etwa 0,25 bis etwa 2 Qew.-# Phosphor, wobei dünne Magnetfilme mit einem Gehalt von etwa 28 bis 30 Gew.-j# Eisen und etwa
909834/1160
BAD
70 bis 72 Gew.-Ji Nickel bevorzugt aind. Diese dünnen Magnetfilme haben ein Silber-metallisches Aussehen mit kleinen dunklen Flecken* die unter den Mikroskop siohtbar sind« Bei größeren Dicken wechselt Ihr Aussehen von goldbraun bis dunkelbraun. Sie haben ein» kubisch flächenzentrierte Struktur und ihre Oberfläche ist gewellt. Untersuchungen mit dem Elektronenmikroskop bei 40 000-faoher Vergrößerung zeigen ein Agglomerat von Kugeln Bit einem Durchmesser in der Größenordnung von 1 000 A · Filme mit einer Dicke von etwa 20 000 A schalten, wenn sie Betriebsfeldern ausgesetzt werden« ihre Magnetisierung innerhalb relativ kurzer Zeitspannen um. Schaltgeschwindigkeiten in der Größenordnung von 2 bis 6 nseo (IxIO^* see) bei eine« angelegten Feld von 20 Oe werden erreicht. Große 1/0-Signale, geringe Störanfälligkeit, Gleichförmigkeit des erhaltenen Produkts und verbesserte MagnetCharakteristiken sind die Ergebnisse dieses stromlosen Platt ierungsverf ahrens.
Die oben genannten und andere Ziele, Merkmale und Vorteile der Erfindung werden aus der folgenden mehr ins einzelne gehenden Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsfom der Erfindung in Verbindung mit den Figuren der beigefügten Zeichnungen klar.
Bs zeigern
Figur 1 eine perspektivische Ansicht der Unterlage* die für die Abscheidung des dtlnnen Magnetfilms entsprechend der Erfindung verwendet wirdι
Figur 2 eine Schnittanaioht der Vorrichtung* die gemäß der
908834/1160
8AD ORIGINAL
. ■ - ir -
Erfindung zur Abscheidung dee Magnetfilme verwendet wird!
Figur 3 eine graphische Darstellung der durch die Eisen(III)-ionen
in Teilen je Million (ppm) bewirkten Beeinflussung des -.— Signalausgangs einer Speicheranlage mit dünnen Magnetfilmen der in Figur 1 gezeigten Pormi .
Figur 4 eine graphische Darstellung in Form von S-Kurven der magnetischen Charakteristiken eines stromlos ohne Zugabe von Eiata(III)-ionen zu der stromlos zu verwendenden Lösung abgeschiedenen Magnetfilms;
Figur 5 eine graphische Darstellung in Form von S-Kurven, die die magnetischen Charakteristiken eines erfindungsgemäa stromlos abgeschiedenen dUnnen Magnetfilms zeigt.
Es sei nun zur Beschreibung der Bildung des Magnetfilms auf einem Speicherelement durch die neue Lösung und das erfindungsgemäße verfahren auf die Figur 1 Bezug genommen, die einen leitenden Streifen von kettenihnlicher Konfiguration zeigt/ auf dessen Oberfläche der Magnetfilm erfindungsgemäß abgeschieden wird. Figur 1' zeigt einige Elemente 10 der kettenähnlichen Konfiguration vor der Abscheidung des Magnetmaterials. Das leitfähige Streifen-Element 10 weist toroidal oder elliptisch geformte Teile 14 auf, die durch die Verbindungsstücke 11 elektrisch verbunden sind. Die toroidal oder elliptisch geformten Teile 14 stellen die Speichereinheit dar. Sine Speichervorrichtung aus einem solchen leitfähigen Streifen 1st ausführlicher in den Patentschriften -> ..»<,.„ (Patentanmeldungen J 2? 1TO IXc/21a und J 27 145 IXc/21a) beschrieben.
90 98 34/1160
Obgleich in der kettenähnliohen Konfiguration nur zwei Speicherelemente gezeigt sind« let natürlich ersichtlich, daß viele derartige Elemente Teil einer kettenähnlichen Unterlage sein können.
Bei der Bildung der Unterlage, d.h. des leitfälligen Streifens 10, wird eine 2 Unzen Walzkupferfolie (2 ounces) (0,0? mm bzw. 0,0028 Zoll Stärke) bevorzugt, doch kann wie oben erwähnt, jede katalytieohe Oberfläche verwendet werden. Die Kupferfolie wird in einer 10 $lgen Salzsäurelösung gereinigt, mit Wasser gespült und getrocknet· Dann wird eine übliche Photosohloht aufgebracht und das Material wird dann im Positivverfahren einige Sekunden mit einer Xenonbogenlampe oder einer entsprechenden Lichtquelle belichtet· Das Material wird dann mit einer Eisen(III)-Chloridlösung von 50*Be* geätzt und in ein photographisches Fixierbad getaucht/ und die erforderliche kettenähnliche Struktur wird gemäß üblichen Verfahren entwickelt.
In Anschluß hieran wird die kettenähnliohe Struktur wieder in Salzsäure gespült, in Wasser gewaschen und dann etwa 15 see bei Zimmertemperatur in eine Lösung von 1 g gereinigtem Palladiumohlorid in einem Gemisch von 1 000 ml Wasser und 1 ml konzentrierter Slazsäure zur SensitiVierung getaucht. Danach wird die kettenähnliohe Struktur wieder mit Wasser gespült.
Dl· kettenähnliohe Unterlage ist dann zur Abscheidung des Magnetfilms fertig« Dies geschieht in einer Anlage 16 (Figur 2). Eine Reihe leitfähiger Streifen 15 werden an einem Rahmen 17 befestigt
und in den Behälter 19 eingesetzt, der die benötigte stromlos zu verwendende Lösung 21 enthält. Diese wird dann mit einer Schicht Xylol 23 bedeckt., Wie bereits erwähnt, wurde früher angenommen, daß die Xyloltbedeckung notwendig sei« um die Oxydation der Eisenkationen in der stromlos zu verwendenden Lösung zu unterbinden. Es wurde nun gefunden, daß die Zugabe von Elsen(IH)-ionen außerordentlich günstig und vorteilhaft ist, wenn die Menge der in die Lösung eingebrachten Eisen(III)-ionen innerhalb der oben und im folgenden genannten Mengenverhältnisse gehalten wird. Der Rahmen 17 1st Innerhalb des Behälters 19 auf Halterungen 25 montiert« die entlang der Selten des Behälters 19angeordnet sind, und der Behälter 19 wird in die Wanne 27 eingesetzt, die ein flüssiges Medium 29 enthält, z.B. Wasser oder öl, um eine konstante Badtemperatur aufrecht zu erhalten. Figur 2 zeigt den Behälter 19 von einer zylindrischen Spule J51 umgeben, die in Funktion gesetzt wird, um die anisotropen Eigenschaften des erhaltenen Films zu bewirken. Wie oben angeführt, wird die stromlose Plattierung einer Unterlage ohne Magnetfeld durchgeführt, wenn man isotrope Verhältnisse wünscht.
Die stromlos zu verwendende Lösung gemäß der vorliegenden Erfindung enthält Bestandteile in Konzentrationen, wie sie in der folgenden Aufstellung angegeben sind. Es sei bemerkt, daß die folgenden Beispiele die Erfindung erläutern sollen, ohne diese zu beschränken. Die Aufstellung zeigt zwar als komplexbildende Mittel Ammoniak« Ammoniumsalze und Tartrat, doch können auch andere komplexbildende Mittel verwendet werden, wie anschließend
909834/1110 ba0
erörtert wirdο Die Aufstellung zeigt die Konzentrationen in g/l wässriger Lösung jedes in der Lösung als Bestandteil vorhandenen Ions. In jedem Fall wird die minimale, bevorzugte und maximale Konzentration für jede Verbindung, jedes Salz und jedes Ion in Tabellenform angegeben.
g/l Minimal Bevorzugt Maximal
Stromlos zu verwendende Lösung Ni** pH 0,3 3,30 30
Niokelionen Pe+* 0,1 1,1 10
Elsen(II)-ionen '■*·+**,- 200 ppm 500 ppm 850 ppm
Eisen(III)-ionen 2po2)"- 2,0 3,5 7,0
Hypophosphitionen (H 5 17,5 80
Tartratlonen (C Verhältnis von
Nickel- zu Eisen(II)- .
ionen Ni /We
UO 3,0 5
8 10,5 13
Ammoniumionen 0,6 6k 300
Temperatur 50*C 75eC 95eC
Zeit 5 min ^5 min 120 min
Plattierungs-
gesohwindigkeit
150 A/min O
500 A/min
15OO A/min
Wie oben bemerkt ist das bevorzugte Verhältnis von Nickel- zu Eisen(XI)-ionen etwa 3 :1s die Hypophosphitionen werden vorzugsweise bei etwa 3,5 g je 1 gehaltenj die Eisen(III)-ionenzugabe wird bei etwa 500 Teilen je Million (ppm) gehalten; und der pH-Wert wird bei etwa 10,5 gehalten, um die aus der stromlos zu verwendenden Lösung erzielbaren optimalen Charakteristiken zu entwickeln.
908834/1180
BAD ORiQiNAL
-.15 -
Um daa Verfahren der vorliegenden Erfindung zu erläutern» ist ein weiteres Beispiel ira folgenden angegeben .
Die Kupferunterlage wird« wie oben erläutert, für eine stromlose Abscheidung eines dünnen Magnetfilms auf ihr vorbereitet, und der aus Kupfer bestehende kettenähnliche Teil wird in eine stromlos zu verwendende Lösung, die die im nachfolgenden angegebenen Bestandteile enthält, getauchtt
T a b e 1 1 β I
Verbindung Grajmm^Liter
NiCl2 ♦ 6H2O 266*0
NaH2PO2 · H2O 277,0
NaKC4H4O6 ο 4H2O 600,0
NHhOH
28"30Ji NH^, spez. Gew* 0,9) 230 (ml/1)
Fe (NH4)2(SO4)2 ° 6H2O 7.78
Temperatur 75*C
pH 10,5
Dies Bad enthält an Ionen:
T a be 11 e ΪΙ
Ni
(HgPO8)
Gramm/Liter
1/1 0,50 λ* .
20,8 31,6
909634/1160
Der pH-Wert der stromlos zu verwendenden Lösung nach Tabelle I und II wird bei etwa 11,5 und das Verhältnis von Nickel zu Eisen(II)-ionen bei etwa J5 % i gehalten. Die Lösung wird in einen Behälter gegossen, mit einer 12,5 mm (1/2 inch) dicken Schicht Xylol bedeckt und durch geeignete Maßnahmen auf eine Badtemperatur von etwa 750C erwärmt. Die von dem Rahmen herabhängenden aktivierten Unterlagen werden in die Lösung etwa 40 Minuten lang eingebracht., Sowohl anisotrope als auch isotrope Magnetfilme werden in getrennten Versuchen hergestellt. Im Falle der anisotropen Filme wird ein homogenes lineares Magnetfeld von etwa 40 Oe längs der longitudlnalen Achse des Trägers angewendet. Nach der Behandlung der stromlosen Abscheidung werden die Unterlagen entfernt, mit Wasser gespült und getrocknet.
Wie in Figur J5 gezeigt ist, ist der Einfluß der Eisen(III)-ionen, wenn man diese Ionen selektiv zugibt, im Hinblick auf den Signalausgang der Speicheranlage außerordentlich ausgeprägt <> Figur 3 zeigt, daß bei Zugabe von etwa iOO Teilen je Million an Eisen(UI)-ionen zur stromlos zu verwendenden Abseheidungslösung der Signal» ausgang um etwa 15 Millivolt erhöht ist. Der Signalausgang steigt mit der Zugabe der Eisen(III)-ionen an und erreicht bei etwa 500 Teilen Je Million an Eisen(III)«-ionen eine Höhe von etwa 45 Millivolt. Wenn die Konzentration an Ei sen(III)-ionen 600 Teile je Million erreicht, werden optimale Bedingungen festgestellt. Zwar sind auch Zugaben von Eisen(III) -ionen über einer Konzentration von 600 ppm vorteilhaft im Vergleich zu einer Lösung^die keine Bisen(III)-ionen enthält, doch werden bei Konzentrationen von
909834/1160
BAD
über 850 ppm an Eisen(III)-ionen keine grossen Vorteile erreichtο
Um den vorteilhaften und nützlichen Einfluß der Zugabe von Eisen(III)-ionen zu der stromlos zu verwendenden Plattierungelösung noch weiter zu erläutern, wird nun auf die Figuren 4 und Bezug genommen, die die S-Kurven für stromlos abgeschiedene dünne Magnetfilme zeigen» Die S-Kurven der Figur 4 wurden mit einem stromlos abgeschiedenen dUnnen Magnetfilm erhalten, der in einer lösung hergestellt war, der keine E.tsen(lII)-ionen zugegeben wurden, während die S-Kurven der Figur 5 mit einem dUnnen Magnetfilm erhalten wurden, der unter Zugabe von Eisen(III)-ionen hergestellt wurde» Die S-Kurven 3ind repräsentativ für die magnetischen öharakteristiken^dle mit den dUnnen Magnetfilmen erhältlich sind, wenn man sie in einem Informationsspeioherelement verwendet.
Diese Kurven werden mit einem konstanten Wortpuls erhalten, während der Bitpuls variiert wird» Wie in den beiden oben erwähnten Patentschriften .0»ο...(Patentanmeldungen J 27 110 IXc/21a, J 27 145 IXc/21a) beschrieben, wird das in Figur 1 gezeigte Speicherelement umgeschaltet, d.h. die magnetische Remanenz von einem stabilen Zustand in den anderen geschaltet, indem Längs- und Querpulse angelegt werden. Der Längspuls, der Wortpuls, wird längs der longitudinalen Achs« des Elementes, d.h. längs der 'Richtung, die durch den Pfeil A angedeutet ist, angelegt, während der Querpule, der Bitpuls, längs des Leiters 22 (für ein Element
909834/1180 ?
gezeigt) durch die öffnung des Elements geführt wird. Uta In das Element einzuschreiben, wird ein unipolarer Wortpula von etwa 640 mA Amplitude und einer Anstiegszeit von 20 naeo längs der longitudinalen Aohse des Elements geführt« Ein Bitstrom mit einer Zeitverzögerung von etwa 55 naeo wird durch den durch die öffnung des Elements gehenden Leiter 22 geleitet. Der Bitstrom hat eine Amplitude,, die von 0 auf 600 mA ansteigt,und eine Anstiegszeit von 30 nsec. Das Lesen wird an der Vorderflanke des Wortpulses bewirkt, während das Einschreiben zustande gebracht wird« wenn Wortpuls und Bitpuls sich Überlappen» Indem man den Wortpuls konstant hält und den Bitpuls über die in Figur 4 bzw. aufgezeigten Bereiche variiert, erhält man die Wellenform fUr das ungestörte 1-Signal (uV.), Um die Wellenform für das gestörte 1-Signal dV^ zu erhalten, verfährt man Hie für das ungestörte 1-Signal uV^, stört jedoch die gespeicherte Information,nachdem der Bit pul s angewendet worden 1st, indem man 500 bis 1 000 BItpulae von geeigneter Polarität und einer bis zu 20 % höheren Amplitude als der des vorherigen Bitpulses mit einer Anstiegszeit von 30 nsec anwendet« Der ungestörte Q-Wert uV_ wird wie der ungestörte 1-Wert UV1 erhalten, doch wird die Polarität des BItpulees gegenüber der Polarität des ungestörten t-Wertes uVj umgekehrt . In ähnlicher Welse wird der gestörte O-Wert dV„ wie der gestörte 1-Wert dV| erhalten, indem die Polaritäten des Bitpulses, wie für den ungestörten 1-Wert UV1 beschrieben, umgekehrt werden.
Diese Kurven zeigen, welches 1/0-Differenssignal für das Abtasten der Information beim Betrieb des Speicherelemente erhältlich ist.
909834/1160
BAD ORIGiNAL
wünschenswert bei einer derartigen S-Kurve ist* daß die gestörten 1 -Werte dV, und O-Werte dV_ Innerhalb eines weiten Gebiets der Bltströme groß sind^ und Insbesondere, daß die Signale bei kleinen Bitströmen groß sind« d.h., daß die Kurven von Null aus steil ansteigen. Ebenfalls wünschenswert ist, daß die Kurve des gestörten 1-Wertes dV. ziemlich nahe an der Kurve des ungestörten 1-Signales uVV liegt, und entsprechend, daß die Kurve fUr das gestörte O-Slgnal dV„ ziemlich nahe an der für das ungestörte 0-Signal uV-liegt» Das heißt, es ist wUrischenswert, daß der Abstand f zwischen dem unzerstorten 1-Signal uV. und dem gestörten 1-Signal dV^ und der Abstand g zwischen dem ungestörten 0-Signal uV und dem gestörten 0-Signal dVw ein minimaler ist» Weiterhin ist es wünschenswert, daß der Übergangspunkt für das gestörte 1 -Signal dV.j und das gestörte 0-Signal dVz, d.h. der Punkt K, wo das gestörte 1-Signal UV1 und das gestörte 0-Signal dV_ die Abszisse berühren, soweit rechts vom Ursprung
wie möglich liegte. Wenn diese Bedingungen bei der S-Kurve erreicht werden, erhält man große -O- und 1-Signale, land ein weiter Bereich von Bltstrumen*einschließlich von BJtströnien geringer ' Amplitude, steht zum Umschalten der Information in dem Speicherelement zur Verfügung, wodurch die Einheitliohkeitsanforderungen für Elemente in einer großen Speicheranlage verringert werden« Auch wird die Information In einem Speicherelement nicht leicht durch zuflillig angelegte Streufelder oder durch den Einfluß von Nachbarfelderh gelöscht,, Werden diese Bedingungen andererseits durch die S-Kurve nicht erfüllt, d.ho wenn die gestörten 0-Signale dVg und die gestörten 1-Signale dV^ klein sind, wenn sie
909834/1160
nicht von annähernd gleicher Signalgröße sind* wenn der Bereich von Bitströmen, die große 1- und O-Signale ergeben,eng ist oder wenn der Ubergangspunkt nicht möglichst weit rechts liegt, liefert der Film ein kleines Signal beim Abfragen wnd es sind sehr einheitliche Speicherelemente mit genau dem gleichen Bereich brauchbarer Bitströme erforderliche Außerdem hat das Element dann geringe Beständigkeit gegen den Einfluß von Streufeldern.
Vergleicht man nun die S-Kurven der Figur 4 mit denjenigen der Figur so kann man verschiedene Verbesserungen im Falle der stromlos zu verwendenden Lösung, die zusätzliche Eisen(III)-ionen enthält,im Vergleich mit derjenigen, die keine solchen enthält, bemerkent Die Vorderflanke der Wellenformen, die die Ausgangs- signale repräsentieren, steigt rascher an und ergibt damit ein schnelleres Ansprechen. Die Wellenformen der gestörten Signale dV«und dVp liegen enger an den Wellenformen der ungestörten Signale UV1 bzw. uVg. Die starke Ähnlichkeit zwischen diesen Wellenforraen zeigt, daß die Eisen(III)-ionen die Beständigkeit der Vorrichtung gegenüber dem Einfluß von Streusignalen verbessert^ wodurch das Speichervermögen erhöht und die Zuverlässigkeit der Vorrichtung vergrößert wird.
Das Differenzsignal für die Vorrichtung im Falle der Figur 4 liegt zwischen 20 und 50 mV Über einen Bereich vonBitströmen von etwa 100 mA; das Differenzsignal der Vorrichtung im Falle von Figur 5 liegt zwischen 55 und 60 mV über denselben Bereich bei einem etwas niedrigeren Ubergangspunktο Diese Vergleiche wurden mit Elementen durchgeführt^wie sie in Figur 1 gezeigt sind,
909834/1160 bad oriq.nal
'"■■'.'- - 21 -
die einen Außendurchmesser von etwa 0,5 mm (0,02 inch) einen Innendurohmesser von O,„"58 mm (0,015 inch) und eine Dicke von etwa0,06 mm (0,0025 inch) hatten« Die Dicke der stromlosen Abscheidung betrug etwa 18 000 A, und die Zusammensetzung der Magnetfilme betrug etwa 28 # Eisen, 71 »5 $* Nickel und etwa 0,5 %Phosphor.
Um den Einfluß der Eisen(III)-lonenzugabe au der stromlos zu verwendenden Lösung noch weiter zu zeigen, werden die Daten der folgenden Tabelle III angegeben, die mit der stromlos zu verwendenden LÖ3ung des obigen .Beispiels unter den angegebenen Bedingungen erhalten wurden. Verschiedene Mengen an Elsen(III)-ionen wurden in Form von Eisen (-III)-aaimoniumsulfat in den angegebenen Konzentrationen zugegeben, und das dV--Signal wurde gemessenο
Tabelle III
20 28
50 31
100 36 ;
150 37
200 39
400 43
500 43
600 38
800 25
1 000 kein Signal
Die Nickel- und Eisen(III)-ionen werden der Lösung in Form irgendeines wasserlöslichen Salzes, z.B. als Chlorid, Sulfat,
90983 4/1160
BAD
Acetat, Sulfanet oder Gemischen davon« augegeben, solange die Anionen die Abscheidung nicht stören. In entsprechender Weise werden die Hypophosphitionen in Form von wasserlöslichen Salzen verschiedener Basen, z.B. als Natriumhypophosphit, Kaliumhypophosphit, unterphosphorige Säure oder Gemlsohan davon, zugegeben,
Die Eisen(III)-ionen werden in Form von Perriairimontumsulfat, Ferriohlorid, FerrisuJ.fat und/oder Ferrinitrat-zugegeben« Jedes wasserlösliche ELsensalz* das Eisen(III)-ionen in der Lösung ergibt, ist verwendbar, vorausgesetzt, daß das Salz mit- den vorhandenen Ionenarten verträglich ist.
Es ist zwar bevorzugt, komplexbildende Mittel und Sequestrierungsmittel, wie Ammoniak und Natriumkaliumtartrat, zu verwenden, doch können auch organische Reagentien mit einar oder mehreren der folgenden funktioneilen Gruppen in Konzentrationen im Bereich von 5g bis 100 g je 1 und vorzugsweise etwa 25 g je 1 verwendet Werdens Primäre Aminogruppen {-NlU), sekundäre Aminogruppen £>NH), tertiäre Aminogruppen (-^-N-), Iminogruppen (=NH), Carboxygruppen (-COOH), Hydroxygruppen (-0H). Zu bevorzugten Mitteln gehören Rochellesalz, Selgnettesalz, Ammoniak, Ammoniumhydroxyd und Ammoniumch.Lorid«
Entsprechend können verschiedene alkalischmachende Mittel zugegeben werden, wozu alle oben aufgezählten komplexbildenden Mittel gehören, die in wässriger Lösung eine basische Reaktion zeigen, und außerdem alle wasserlöslichen Basen wie Natrium-, Kalium- und Lithiumhydroxyd, und dgl. .
9 09834/1160
BAD ORIGINAL
Oberflächenaktive Substanzen, ZoBo Natriumlaurylsulfat, können zugegeben werden, solange die Substanzen die Plattierungsreaktion nicht stören. Exaltantien (exaltants) können ebenfalls zugegeben werden, um die Abseheidungsgesohwindigkeit durch Aktivierung der Hypophosphitanionen zu erhöhen, beispielsweise Bernsteinsäure, Adipinsäureanionen, Alkallfluoride und andere bekannte Exaltantien. Stabilisatoren können in geringen Konzentrationen, z.B. 10 Teile je Milliarde, zugegeben werden» Es kann sich um Stabilisatoren handeln^wie z.B. Thioharnstoff, Natriumäthylxanthat, Bleisulfat und dgl. . Auoh den pH-Wert, einstellende Mittel und Puffer, z.B. Borsäure, Dinatriumphosphat und andere, können der Lösung zugegeben werden.
Andere Metallionen können zu der stromlos zu verwendenden Lösung in ihrer niedrigsten Oxydationsstufe zugegeben werden, z.B. Kobalt (Co**), Molybdän (Mo*4), Chrom (Cr**) und dgl. . Diese Kationen erhöhen die Koerzitivkraft der Filme und steigern damit die Beständigkeit gegen Störfeider.
Es wurde ein ferromagnetlscher Film mit geringer Störanfälligkeit und für hohe Signalwerte beschrieben, der sich zur Verwendung in Rechnern und datenverarbeitenden Anlagen eignet und 15 bis 35 Oewo-Jfc Eisen, 65 bis 85 Oew.-Jß Nickel und 0,25 bis 2 Gew.-% Phosphor enthält. Diese Filme werden entweder mit isotropen oder anisotropen Eigenschaften hergestellt, je.nachdem^ob ein Feld während des Herstellungsvorgangs angewendet wird oder nicht. Der Film ist das Produkt eines chemischen Reduktionsverfahrens, wobei Hypophosphlt verwendet wird· Ersichtlicherweise können andere
§09834/1160
BAD
reduzierende Mittel, ζ „Be Hydrazin und BorhydrM und dgl«'., die zur Reäuktion von Nickel und Risen in einer stromlos zu verwendenden Lösung befähigt sind, verwendet'werden, doch sind die magnetischen Charakteristiken derartiger Filme für die beabsichtigte Anwendung nicht so geeignet,,
Pur ferromagnetische Filme der vorliegenden Erfindung m3 f: einem Gehalt von 15 bis 55 Gew*-?' Eisen, 6$ bis 85 Gew.-^ Nickel .und 0,25 bis 2 Gew.-% Phosphor variiert, die rragnetisohe Remanenz (B,,) von etwa 0,0ί> bis etwa 0.,.7^i Maxwe?X, die' Kowraitivkraf Iv von etwa 2 bis etwa 6 Oe und die Sohaltgeschwindigkeit;, d,h. die Zeit^die nötig ißt, ism die Magnetisierung "um 180® tratftr Anwendung «ines Felds von 20 Oe zu drehen.;, von etwa 2 bis 6 msec« Mit diesen .Eigenschaften werden Speicher» und Schaltelemente zur Verwendung in IiatenverartaeJ.tnngsmaschJrLen rn<i RechenanJagen aur Verfügung gestellt, die Charakter:) stlken hab'e?n, wie sie bisher auf diesem-Gebiet nicht erhältlich waren.
-Während wünschenswerte magnetise!"■? Elgennchaf 1^n für Speicher« und Schaltelemente? durnh .fe.rxOmapcnetische Filme erreicht werden^ die 15 bis >5 Gew.-^ .-Eisen* 65 Ms 8»y Gew. ™% Nickel tand 0,2.5 bis 2 Gew.-^Phosphor enthalten, sind größere SrignalabstMnde mit ferromagnetischen Filmen ©rhälfcjjloh, d.ie'^4 b:la 35 Gew.-4>"Eisen, 65 bis 76 Gew,,-# Nickel unc, 0.2f" Ms 2 &m-.-% Phosphor enthaiv.en.. Die optimalen Charakteristiken i?;ur Verwendung in d-at;enverarbeit«ii.·- den Maschinen und Rechen.anlagen werden mit einem ferromagnetischen Film erhalten., cle'^ 28 bis JiO .Gew.,.·-^ Ä'isen, "0 bi« 12 Gew<.~^ Micke.?
90983Λ/116C
8AD ORIGINAL
und 0,25 bis 2 Gewc-% Phosphor enthält,, Diese ferromagnetisohen Filme ergeben magnetische Charakteristiken, wie sie bisher nicht erhältlich waren.
9 0 9834/ 1 160

Claims (1)

  1. Patentansprüche
    1» Wässrige Plattierungslösung zur stromlosen Abscheidung von Magnetmaterial, gekennzeichnet durch einen Gehalt von wasserlöslichen Nickel" und Eisensalzen in ausreichenden Konzentrationen« um ein Verhältnis von Nickel- zu Eisen(II)-ionen im Bereich zwischen 1 und 5 zu ergeben, und Eisen (XII)-ionen äα einer Menge bis zu 850 Teilen Je Million, Hypophosphitionen in Konzentrationen bis zu 7,0 g Je 1 und ausreichend Hydroxylionen, um den pH-Wert bei wenigstens 8 zu halten..
    2c Plattierungslösung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daS die Hypophosphitionenkonzentration zwischen 2 und 7,0 g Je liegt und daß sie außerdem ein Metallkomplexbildungsmlttel, das zur Bildung eines stabilen wasserlöslichen Komplexes mit Nickel und Eisen befähigt ist, enthältο
    >. Plattierungslösung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie als Koraplexbildungsmittel Ammoniak und/oder organische komplexbildende Verbindungen mit wenigstens einer funktioneilen Amino-, Imino«, Carboxy- oder Hydroxygruppe enthält,
    ^Z 4e Plattierung3lösung nanh Anspruch 2 oder 3» dadurch gekenn-
    -* zeichnet, daß sie das Komplexbi!düngemittel in einer Konzentraco
    tion von 5 bis 100 g Je 1 enthält.'
    cn
    f>» Plat&i.?rungs,'u"'-sung nach einem eier vorhergeVien.fien Ansprüche *
    Unterlagen (Art 7 g l Abs. 2 Nr. 1 Sau 3 des Anderunosee8. ν. 4 '■)
    dadurch gekennzeichnet, daß sie 5 bis 8o g insbesondere 17,5 g Tartrationen Je 1 und ausreichend Ammoniumionen, um das Nickelhexaminkomplexion in Lösung zu bilden, enthält»
    6. Plattierungslösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis von Nickel- zu Eisen(II)· ionen im Bereich von 3 bis 1 liegt und Insbesondere etwa 3*1 beträgt und die Hypophosphitionen in einer Konzentration von 2 bis 7*0 g/l, insbesondere von etwa 3*5 &/!·* ausreichend Ammoniumionen^ um das Nickelhexaminkomplexion in der Lösung zu bilden^und ausreichend Hydroxylionen, um den pH-Wert bei zumindest 10,5 zu halten« vorliegen»
    7* Plattierungslösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Nickelionen in Konzentrationen im Bereich zwischen 0,3 und 30 g je 1, und die Elsen(II)-ionen in Konzentrationen zwischen 0,1 und 10 g je 1 und Eisen(III)-ionen in Konzentrationen im Bereich zwischen 200 und 850,insbesondere von 500 Teilen je Million vorhanden sind«.
    80 Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Magnetmaterial auf einer Unterlage, dadurch gekennzeichnet, daß man die Unterlage in eine Lösung nach einem der Ansprüche 1 bis 7 eintaucht„
    9" Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß man die Plattierung mit einer Geschwindigkeit von I50 A bis 15OO A je Minute vornimmto
    90983 4/1160
DE19651521319 1964-12-21 1965-12-20 Verfahren zur chemischen Plattierung und Plattierungsloesungen Pending DE1521319A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US419669A US3379539A (en) 1964-12-21 1964-12-21 Chemical plating

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1521319A1 true DE1521319A1 (de) 1969-08-21

Family

ID=23663240

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19651521319 Pending DE1521319A1 (de) 1964-12-21 1965-12-20 Verfahren zur chemischen Plattierung und Plattierungsloesungen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3379539A (de)
DE (1) DE1521319A1 (de)
FR (1) FR1468977A (de)
GB (1) GB1054359A (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3637386A (en) * 1967-05-02 1972-01-25 Philips Corp Metallizing solution for intensifying layers of metallic, imaged nuclei
US3532541A (en) * 1967-06-19 1970-10-06 Ibm Boron containing composite metallic films and plating baths for their electroless deposition
US3543251A (en) * 1967-10-20 1970-11-24 Hughes Aircraft Co Thin film chain memory
US3661556A (en) * 1969-03-03 1972-05-09 Du Pont Method of making ferromagnetic metal powders
US3753665A (en) * 1970-11-12 1973-08-21 Gen Electric Magnetic film plated wire
US4128691A (en) * 1974-02-21 1978-12-05 Fuji Photo Film Co., Ltd. Process for the production of a magnetic recording medium
US4935263A (en) * 1987-12-18 1990-06-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method for manufacturing a strain detector
US20060091742A1 (en) * 2004-11-02 2006-05-04 General Electric Company Electroless metallic plating method for leak repair and prevention in liquid-cooled generator stator bars
CN102899640B (zh) * 2012-10-25 2014-06-25 南京大地冷冻食品有限公司 一种化学镀解胶工作液的维护方法
JP6960677B2 (ja) * 2019-01-22 2021-11-05 メルテックス株式会社 無電解Ni−Fe合金めっき液

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2827399A (en) * 1956-03-28 1958-03-18 Sylvania Electric Prod Electroless deposition of iron alloys
US3282723A (en) * 1960-11-18 1966-11-01 Electrada Corp Electroless deposition and method of producing such electroless deposition
US3268353A (en) * 1960-11-18 1966-08-23 Electrada Corp Electroless deposition and method of producing such electroless deposition
DE1243493B (de) * 1961-02-04 1967-06-29 Bayer Ag Waessriges Bad zur chemischen Abscheidung von borhaltigen Metallueberzuegen
US3255033A (en) * 1961-12-28 1966-06-07 Ibm Electroless plating of a substrate with nickel-iron alloys and the coated substrate
US3265511A (en) * 1963-06-12 1966-08-09 Honeywell Inc Electroless plating

Also Published As

Publication number Publication date
FR1468977A (fr) 1967-02-10
US3379539A (en) 1968-04-23
GB1054359A (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1286865B (de) Waessrige Loesung fuer die stromlose Abscheidung eines Magnetmaterials
US3032486A (en) Electrolytic bath for use in electrodeposition of ferromagnetic compositions
DE69224914T2 (de) Stromloses goldbeschichtungsbad
US3370979A (en) Magnetic films
DE1521319A1 (de) Verfahren zur chemischen Plattierung und Plattierungsloesungen
DE3787937T2 (de) Verfahren zur Herstellung von metallisierten Bildern.
DE1920221C3 (de) Verfahren zur galvanischen Abschei dung dunner ferromagnetischer Schichten
DE1147817B (de) Verfahren zum galvanischen Abscheiden eines Nickel-Eisen-UEberzuges
DE2335497B2 (de) Verfahren zum katalytischen sensibilisieren von oberflaechen von kunststoffen und loesung zur durchfuehrung des verfahrens
DE68907681T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines dünnen Legierungsfilms mit hoher Sättigung der magnetischen Flussdichte.
DE2223932C3 (de) Verfahren zum galvanischen Niederschlagen magnetisierbarer Schichten
DE112019006704T5 (de) LÖSUNG ZUR STROMLOSEN ABSCHEIDUNG EINER Ni-Fe LEGIERUNG
DE1421999A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Magnetaufzeichnungsbands und Baeder hierfuer
DE60133795T2 (de) Verfahren zum Herstellen von leitenden Schichten auf dielektrischen Oberflächen
DE1521328A1 (de) Chemisches Reaktionsbad zur Magnetschichtherstellung
DE2148744A1 (de) Verfahren zum stromlosen Abscheiden einer Nickel-Zinn- oder Nickel-Molybdaen-Legierung
DE1929687A1 (de) Verfahren zum Herstellen von magnetischen Zylinderschichten fuer Speicherzwecke mit uniaxialer Anisotropie der Magnetisierung
US3469973A (en) Magnetic alloy for data storage devices
DE1771286A1 (de) Verfahren zur Herstellung duenner ferromagnetischer Schichtspeicherelemente
AT243530B (de) Wässerige Badlösung zur Herstellung von Magnetschichtspeichern mit hoher Speicherdichte
DE1241226B (de) Bad und Verfahren zum galvanischen Abscheiden magnetisierbarer Nickel-Eisen-Molybdaen-Legierungsueberzuege
DE1960230A1 (de) Verfahren zum Beeinflussen von magnetischen Eigenschaften einer duennen magnetischen Schicht
AT225492B (de) Verfahren zum stromlosen Verkupfern
DE1249630B (de) Verfahren zum galvanischen Abscheiden dünner ferromagnetische!· Überzüge aus Nickel-Eisen-Legierungen
DE1929562A1 (de) Galvanisches Kupferbad und Verfahren zum Abscheiden von Kupferfilmen