DE1251288B - Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumphosphidstaben und Galliumphosphid-Galliumarsemd Mischkristallen - Google Patents
Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumphosphidstaben und Galliumphosphid-Galliumarsemd MischkristallenInfo
- Publication number
- DE1251288B DE1251288B DES90904A DE1251288DA DE1251288B DE 1251288 B DE1251288 B DE 1251288B DE S90904 A DES90904 A DE S90904A DE 1251288D A DE1251288D A DE 1251288DA DE 1251288 B DE1251288 B DE 1251288B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- gallium
- gallium phosphide
- phosphorus
- reactor
- phosphide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N Gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 33
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 title claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 20
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 11
- 150000003018 phosphorus compounds Chemical class 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910052904 quartz Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 10
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- -1 phosphorus alkyl halides Chemical class 0.000 claims description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 claims description 3
- 229940093920 Gynecological Arsenic compounds Drugs 0.000 claims description 2
- 150000001495 arsenic compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229940058949 for amoebiasis and other protozoal diseases Arsenic compounds Drugs 0.000 claims description 2
- 229940058907 for leishmaniasis and trypanosomiasis Arsenic compounds Drugs 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims 1
- 238000006011 modification reaction Methods 0.000 claims 1
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N phosphine Chemical class P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N Arsine Chemical compound [AsH3] RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UPWPDUACHOATKO-UHFFFAOYSA-K Gallium trichloride Chemical compound Cl[Ga](Cl)Cl UPWPDUACHOATKO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- FAIAAWCVCHQXDN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus trichloride Chemical compound ClP(Cl)Cl FAIAAWCVCHQXDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001350 alkyl halides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 1
- PWAPABRPCBSKKS-UHFFFAOYSA-J dichlorogallium Chemical compound Cl[Ga]Cl.Cl[Ga]Cl PWAPABRPCBSKKS-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 238000007323 disproportionation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable Effects 0.000 description 1
- 239000003517 fume Substances 0.000 description 1
- 150000002259 gallium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002483 hydrogen compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N oxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001376 precipitating Effects 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004857 zone melting Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/301—AIII BV compounds, where A is Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B25/00—Phosphorus; Compounds thereof
- C01B25/06—Hydrogen phosphides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B25/00—Phosphorus; Compounds thereof
- C01B25/08—Other phosphides
- C01B25/088—Other phosphides containing plural metal
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
Int. CL:
COIb
Deutsche Kl.: 12 i- 25/08
Nummer:
Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Auslegetag:
Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Auslegetag:
1251288
S 90904IV a/12 i
2. Mai 1964
5. Oktober 1967
S 90904IV a/12 i
2. Mai 1964
5. Oktober 1967
Es ist bekannt, Galliumphosphid in Tiegeln oder Quarzschiffen in evakuierten Quarzampullen bei Temperaturen
von etwa 14000C aus den Elementen herzustellen.
Das nach diesem Verfahren hergestellte Galliumphosphid ist vor allem stets mit Silicium und
Sauerstoff verunreinigt, da Gallium bei 14000C Quarz
reduziert. Der Gehalt an Verunreinigungen, der teilweise durch Zonenschmelzen nur unwesentlich beeinflußt
werden kann, wirkt sich auf die Verwendung von Galliumphosphid als Halbleitermateiial störend
aus. Ferner ist ein Verfahren zur Herstellung von Galliumphosphid bekannt, das in der Reaktion von
Gallium(I)-oxyd mit Phosphordampf besteht. Auch dieses Verfahren wird in einem abgeschlossenen Gefäß
im Vakuum durchgeführt und erfordert eine hohe Reaktionstemperatur. Es treten dabei ähnliche Nachteile
auf wie bei der Herstellung des Galliumphosphids aus den Elementen.
Es ist ferner bekannt, Galliumphosphid durch die Umsetzung von GalliuiD(il)-chlorid mit Phosphor oder
dessen Wasserstoffverbindungen herzustellen. Es ist auch bekannt, Galliumphosphid auf Grund einer
chemischen Austauschreaktion zwischen Phosphorchlorid (PCI 3) und Gallium oder Gallium(II)-chlorid
(GaCl2) und Phosphor herzustellen. Das nach diesen Verfahren erhaltene Galliumphosphid ist nicht sehr
rein, da einerseits Verunreinigungselemente als Halogenide bei der Reaktion mitgeschleppt werden und
andererseits durch sekundär auftretende Disproportionierungsreaktionen die erhaltenen Verbindungen
nicht stöchiometrisch vorliegen.
Tn einem weiteren Verfahren ist vorgeschlagen worden, AinBv-Verbindungen über Metallalkyle herzustellen.
Ferner ist ein Verfahren zur Herstellung von Galliumphosphid bekannt, bei dem eine zersetzliche
galliumorganische Verbindung einer Temperatur oberhalb 6000C ausgesetzt und das dabei entstehende
Gallium mit Phosphordampf zur Reaktion gebracht wird. Dieses Verfahren hat den Nachteil, daß zur
Aufrechterhaltung eines ausreichenden Phosphordampfdruckes und zur Verhinderung der Kondensation
des Phosphors an der Wand des Reaktionsgefäßes der gesamte Reaktionsraum auf einer Temperatur
von über 6000C gehalten werden muß. Bei diesen
Temperaturen besteht die Gefahr, daß das Reaktionsgas und dessen Spaltprodukte die Gefäßwand angreifen
und Fremdstoff«: in das sich an der Gefäßwand abscheidende Galliumphosphid eingebaut werden.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumphosphidstäben aus Galliumalkylen
und Phosphorverbindungen bei niedrigen
Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von
Galliumphosphidstäben und Galliumphosphid-Galliumarsenid-Mischkristallen
Galliumphosphidstäben und Galliumphosphid-Galliumarsenid-Mischkristallen
Anmelder:
Siemens Aktiengesellschaft, Berlin und München, Erlangen, Werner-von-Siemens-Str. 50
Als Erfinder benannt:
Dr. Walter Miederer, Hanau;
Dr. Richard Dötzer, Nürnberg
Temperaturen in einem geschlossenen Quarzreaktor, welches erlaubt, Galliumphosphid tiegelfrei bei verhältnismäßig
niedrigen Temperaturen herzustellen. Dies ist, vom Standpunkt der Reinheit aus betrachtet,
besonders günstig.
Die neue Lösung besteht darin, daß in den Reaktor ein Gasgemisch aus Wasserstoff, Galliumalkylen und
Phosphorveibindungen eingeblasen wird und mit einer in Abhängigkeit vom Querschnitt des Reaktors gewählten
Durchflußmenge von 0,5 bis 501 pro Stunde auf eine auf 100 bis 6000C erhitzte Galliumphosphidseele
trifft. Dabei zersetzen sich die Galliumalkyle und Phosphorverbindungen thermisch, und auf der GaI-liumphosphidseele
scheidet sich Galliumphosphid ab.
Für die tiegelfreie Herstellung von Galliumarsenidstäben
wurde ein entsprechendes Verfahren vorgeschlagen (deutsche Patentschrift 1176 102).
Der Quarzreaktor wird auf einer Temperatur unterhalb von 3000C gehalten, so daß das genannte Gasgemisch
sowie dessen Spaltprodukte das Quarzglas nicht angreifen und keine Fremdstoffe in das sich
abscheidende Galliumphosphid eingebaut werden. Vorzugsweise wird die Wand des Quarzreaktors auf
einer Temperatur von etwa 50 bis 900C gehalten. Als Phosphorverbindungen werden insbesondere die Halogenide,
Alkyle, Alkylhalogenide, Alkylhydride oder Hydride des Phosphors gewählt. Der Galliumphosphidkörper
wixd vorzugsweise auf eine Temperatur zwischen 300 und 5000C erwärmt. Insbesondere hat sich
eine Temperatur von etwa 450°C als geeignet erwiesen.
Vorteilhafterweise erfolgt diese Erwärmung der GaI-liumphosphidseele
durch direkten Stromdurchgang.
Werden dem in den Quarzreaktor einströmenden Gasgemisch aus Wasserstoff, Galliumalkylen und
So Phosphorverbindungen außerdem noch thermisch
spaltbare Arsenverbindungen definiert zugemischt, so können nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
709 550/370
auf der genannten GalHumphosphidseele auch GaI-liumphosphid-GalliumarsenM-Mischkristallebeliebiger
Zusammensetzung abgeschieden werden. In diesem Falle ist statt der Galliumphosphidseele auch eine
solche aus Galliumarsenid oder Galliumphosphid-Gajliumarsenid für das Verfahren geeignet.
An !land der Zeichnung und eines Ausführungsbeispieli
wird das erfindungsgemäße Verfahren zur
tiCistelftng von Galliumphosphid noch näher erläutert.
^^SUpZeichnung zeigt eine Vorrichtung zum Durchführen
des Verfahrens gemäß der Erfindung. Das Reaktionsgefäß 11 (Reaktor) besteht aus einem Quarzrohr
12 von 120 mm Länge und 30 mm Durchmesser und einem Quarzschliff 13 an jedem Ende. Der Reaktor
11 wird mit einem Deckel 14 und einem Boden 15 verschlossen. Im Deckel 14 sind Gaseinlaßstutzen 16
angebracht, im Boden 15 Gasauslaßstutzen 17. Im Boden und Deckel ist im Mittelpunkt eine Durchführung
18 vorgesehen, die gestattet, eine Galliumphosphidseele 19 gasdicht durch den Boden und
Deckel durchzuführen. Die durch Boden und Deckel durchgeführte Galliumphosphidseele wird außerhalb
des Reaktors bei 200 kontaktiert und mit einem elektrischen Strom aufgeheizt. Der elektrische Strom wird
einer Stromquelle 28 entnommen und direkt durch die Galliumphosphidseele geleitet.
Aus einem Wasserstoffvorratsbehälter 20 wird ein Wasserstoffstrom über einen Galliumalkylbebälter 21
geleitet und dahinter mittels eines Strömungsmessers22
die Durchflußmenge gemessen. Aus einem anderen Wasserstoffvorratsbehälter 23 wird ein Wasserstoffstrom
über einen pH,-Behälter 24 (Phosphorwasserstoff) geleitet und dahinter ebenfalls die Durchflußmenge
des Gasstromes mittels des Strömungsmessers25 gemessen. Die beiden Gasströme werden in dem Rohrteil
30 gemischt und über die Gaseinleitungsstutzen 16 dem Reaktor zugeführt.
An der erhitzten Galliumphosphidseele werden die Alkyle und Phosphorverbindungen zersetzt, und auf
der Galliumphosphidseele scheidet sich dann Galliumphosphid ab. Das Abgas wird über Absorptionsgefäße 29 zur Rückgewinnung von Gallium- und
Phosphorverbindungen geleitet und dann durch Abzüge abgeführt. Die Hähne 26 gestatten, den Reaktor
11 und alle Gasleitungen mit Wasserstoff allein durchzuspülen, so daß Galliumalkyle und Phosphorverbindungen
mit Wasserstoff als Trägergas erst in den Reaktor gelangen, wenn die Luft durch Wasserstoff
verdrängt wurde und die Galliumphosphidseele auf eine für das erfindungsgemäße Verfahren günstige
Temperatur gebracht worden ist.
Der Reaktor 11 ist von einem Wärmeaustauscher 27 umgeben, der es gestattet, die Reaktorwand auf einer
Temperatur zu halten, die unterhalb der Zersetzungstemperatur der Galliumalkyle und Phosphorverbindungen,
aber oberhalb der Kondensationstemperaturen dieser Verbindungen liegt. Vorzugsweise wird
durch Kühlung eine Temperatur von 50 bis 9O0C
eingestellt.
Sollen nach dem erfindungsgemäßen Verfahren Galliumphosphid - Galliumarsenid - Mischkristalle hergestellt
werden, so braucht man an das Rohr 30 (Figur) nur eine weitere Kombination aus z. B. Wasserstoffvorratsbehälter,
AsH3-Behälter (Arsenwasserstoff), Strömungsmesser und den nötigen Abschlußhähnen
anzuschließen. Die Kombination entspräche der Anordnung für die Phosphorwasserstoffzuführung mit
den Bezugszeichen 23 bis 26.
Durch Einleiten von Zink-, Kadmium-, Selen- oder
Telluralkylen mittels Wasserstoff in den Reaktor kann das aufwachsende Galliumphosphid leicht dotiert und
ein definierter Fremdmetallgehalt eingestellt werden. Außerdem können in dem aufwachsenden Galliumphosphid
durch wechselweises Einleiten verschiedener Dotierungsmetallalkyle mittels Wasserstoff verschiedenartig
dotierte Schichten wechselweise abgeschieden werden.
Eine Galliumphosphidseele von 150 mm Länge und mm Durchmesser wird auf 450° C erhitzt. Wasserstoff
strömt durch einen Alkylverdampfer, der mit Ga(C2Hj)3 gefüllt ist, bei 3O0C mit einer Durchflußmenge
von 3 l/h. Durch einen weiteren Verdampfer, der mit PH3 gefüllt ist, strömt Wasserstoff bei —130° C
mit einer Geschwindigkeit von 3 l/h. Während einer Zeit von 30 Minuten scheidet sich eine Schicht GaP
so von etwa 40 μ Dicke auf der GaP-Seele ab.
Eine GaP-Seele von 150 mm Länge und 3 mm Durchmesser
wird auf 45O0C erhitzt. Wasserstoff strömt durch einen Alkylverdampfer, der mit Ga(C2H5)3 gefüllt
ist, bei 3O0C mit einer Durchflußmenge von 3 l/h.
Durch einen weiteren Verdampfer, der mit PHS gefüllt ist, strömt Wasserstoff bei —130° C mit einer Geschwindigkeit
von 2 l/h. Durch einen dritten Verdämpfer, der mit AsH3 gefüllt ist, strömt Wasserstoff
bei —1300C mit einer Durchflußmenge von 2 l/h.
Während einer Zeit von 30 Minuten scheidet sich eine Schicht von etwa 30 μ Dicke auf der GaP-Seele ab.
Die Zusammensetzung beträgt etwa Ga(P0,8AsOi2).
Claims (8)
1. Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumphosphidstäben aus Galliumalkylen und
Phosphorverbindungen bei niedrigen Temperaturen in einem geschlossenen Quarzreaktor, dadurch
gekennzeichnet, daß in den Reaktor ein Gasgemisch aus Wasserstoff, Galliumalkylen und
Phosphorverbindungen eingeblasen wird und mit einer in Abhängigkeit vom Querschnitt des Reaktors
gewählten Durchflußmenge von 0,5 bis 501 pro Stunde auf eine auf 100 bis 6000C erhitzte
Galliumphosphidseele trifft.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Galliumphosphidseele auf eine
Temperatur zwischen 300 und 500° C erwärmt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Phosphorverbindungen
Phosphoralkyle, Phosphoralkylhalogenide, Phosphoralkylhydride,
Phosphorhalogenide oder Phosphorhydride eingesetzt werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Galliumphosphidseele
auf etwa 4500C erwärmt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Galliumphosphidseele
durch direkten Stromdurchgang erwärmt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Dotierung des
aufgewachsenen Halbleitermaterials Kadmium-, Selen-, Tellur- oder Zinkalkyle mittels Wasserstoff
in den Reaktor eingeleitet werden.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Wand des Quarz-
reaktors auf einer Temperatur von etwa 50 bis 900C gehalten wird.
8. Abänderung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß
zur Herstellung von Galliumphosphid-Galliumarsenid-Mischkristallen
beliebiger Zusammensetzung dem in den Reaktor einströmenden Gasgemisch zusätzlich thermisch spaltbare Arsenverbindungen
zugemischt werden und daß das Gasgemisch in dem Reaktor gegen eine Galliumphosphid-,
Galliumarsenid- oder Galliumphosphid-Galliumarsenid-Seele
geblasen wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1130 421.
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1130 421.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1251288B true DE1251288B (de) | 1967-10-05 |
Family
ID=604699
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES90904A Pending DE1251288B (de) | Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumphosphidstaben und Galliumphosphid-Galliumarsemd Mischkristallen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1251288B (de) |
-
0
- DE DES90904A patent/DE1251288B/de active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1900116C3 (de) | Verfahren zum Herstellen hxxochreiner, aus Silicium bestehender einkristalliner Schichten | |
DE865160C (de) | Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper | |
EP1896362B1 (de) | Verfahren zur herstellung von silicium aus halogensilanen | |
DE1235266B (de) | Verfahren zum Herstellen reinster kristalliner Stoffe, insbesondere fuer Halbleiterzwecke | |
DE2825415A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von silicium | |
DE1176102B (de) | Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumarsenidstaeben aus Galliumalkylen und Arsenverbindungen bei niedrigen Temperaturen | |
DE1906197A1 (de) | Verfahren zur Entfernung von borhaltigen Verunreinigungen aus Chlorsilanverbindungen | |
DE1150366B (de) | Verfahren zur Herstellung von Reinstsilicium | |
DE1251288B (de) | Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumphosphidstaben und Galliumphosphid-Galliumarsemd Mischkristallen | |
DE2316602A1 (de) | Verfahren zum herstellen polykristallinen siliciums | |
DE1444502B2 (de) | Verfahren zur Regelung der Schärfe von an Galliumarsenid-Einkristallen zu bildenden pn-übergängen | |
DE1129145B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochreinem Silicium | |
DE1244112B (de) | Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Flaeche eines Substrats | |
DE1519892A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von hochreinen kristallinen,insbesondere einkristallinen Materialien | |
DE1244136B (de) | Verfahren zur Herstellung von Boraziten, insbesondere von Borazit-Einkristallen | |
DE1281404B (de) | Verfahren zur Herstellung einer halbleitenden Verbindung mit zwei oder mehr Komponenten | |
DE896147C (de) | Verfahren zur Herstellung von Germaniumniederschlaegen aus gas- oder dampffoermigen Germaniumverbindungen | |
DE1207922B (de) | Verfahren zum Herstellen von hochreinen Halbleitersubstanzen, insbesondere von Silizium | |
DE1082883B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochreinem Bor, Silicium oder Germanium bzw. Gemischendieser Substanzen | |
DE1042553B (de) | Verfahren zur Herstellung von Silicium grosser Reinheit | |
DE1181919B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochreinem Arsen | |
DE1082890B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochreinem Siliciumhexachlorid | |
AT211792B (de) | Verfahren zur Herstellung von Kristalliten oder einem Einkristall aus einen Gehalt an Störstoffen besitzendem halbleitendem Material bzw. von Halbleiterlegierungen | |
DE1072815B (de) | Verfahren zur Herstellung von Metal'len und anderen chemischen Elementen metallischen Charakters von hohem Reinheitsgrad | |
DE1134973B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochreinen Siliciumhalogeniden |