DE1244112B - Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Flaeche eines Substrats - Google Patents

Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Flaeche eines Substrats

Info

Publication number
DE1244112B
DE1244112B DEH47983A DEH0047983A DE1244112B DE 1244112 B DE1244112 B DE 1244112B DE H47983 A DEH47983 A DE H47983A DE H0047983 A DEH0047983 A DE H0047983A DE 1244112 B DE1244112 B DE 1244112B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
germanium
silicon
hydrogen
reaction gas
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEH47983A
Other languages
English (en)
Inventor
Edwin Matovich
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raytheon Co
Original Assignee
Hughes Aircraft Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hughes Aircraft Co filed Critical Hughes Aircraft Co
Publication of DE1244112B publication Critical patent/DE1244112B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/08Germanium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F23COMBUSTION APPARATUS; COMBUSTION PROCESSES
    • F23NREGULATING OR CONTROLLING COMBUSTION
    • F23N2225/00Measuring
    • F23N2225/02Measuring filling height in burners
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F23COMBUSTION APPARATUS; COMBUSTION PROCESSES
    • F23NREGULATING OR CONTROLLING COMBUSTION
    • F23N2235/00Valves, nozzles or pumps
    • F23N2235/02Air or combustion gas valves or dampers
    • F23N2235/06Air or combustion gas valves or dampers at the air intake
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F23COMBUSTION APPARATUS; COMBUSTION PROCESSES
    • F23NREGULATING OR CONTROLLING COMBUSTION
    • F23N2235/00Valves, nozzles or pumps
    • F23N2235/12Fuel valves
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S148/00Metal treatment
    • Y10S148/122Polycrystalline
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S148/00Metal treatment
    • Y10S148/15Silicon on sapphire SOS
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S438/00Semiconductor device manufacturing: process
    • Y10S438/967Semiconductor on specified insulator

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

  • Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Fläche eines Substrats Es ist ein Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- öder -Siliciumschicht auf - einer erhitzten Fläche eines nicht aus Germanium oder Silicium bestehenden Substrats durch Reduktion von gas= förmigem Germanium- bzw. Siliciümtetrahalogenid mit Wasserstoff bekannt.
  • Der Erfindung liegt die . .Aufgabe zugrunde; das genannte Verfahren mit dein Ziel zu verbessern,- auf Flächen, die Dicke der erzeugten Schicht in Weiten Grenzen und mit großer Genauigkeit zu steuern. Zu diesen Zweck wird erfindungsgemäß die dem Wasser, stoff und Teürahalögenid enthaltenden Reaktionsgas ausgesetzte Fläche zunächst auf eine Temperatur erhitzt; die so niedrig ist,- däß - auf der Fläche eine noch weiter reduäierbäre Germanium- bzW. Siliciumverbindung niedergeschlagen wird, und daß dann diese Verbindung mit reinem Wasserstoff bei erhöhter Temperatur zu elementarem Germanium bzw. Sili= cium reduziert wird.
  • Es wurde nämlich gefunden, daß, wenn man glas Substrat dein Gas bei einer relativ niedrigen Temperatur aussetzt, keine kontinuierlich zunehmende Abscheidung der Germäniuüi- bzw. Siiiciumverbindung stattfindet, vielmehr lediglich eine" gerichtete monomolekulare Schicht entstellt, .auf der. sich dann nichts weiter niederschlägt. Wenn dagegen--die so entstandene Schicht durch Reduzieren mit reinem Wasserstoff zu einer monomolekularen Schicht aus elementarem Germanium bzw. Silicium reduziert worden ist, dann besteht diese Einschränkung nicht, und es läßt sich weiteres Germaäaium,bderSilicium äufihrniederschlägen. Dies .geschieht irr der bevorzugten Aüsfiihrung der lrfiridung in besonders- einfacher Weise dadurch, daß auf der durch Reduktion mit reinem Wasserstoff entstandenen Schicht aus elementarem Germanium :bzw: Silicium weiteres Germanium bzw. Silicium mittels des vorher verwendeten Wasserstoff und Tetrahalogenid enthaltenden Reaktionsgases niedergeschlagen wird.
  • Handelt es sich um dir- Eizeugung einer Germaniumschicht unter Verwendung eines Gemisches aus Germaniuintetiahalogeriid und Wasserstoff als Reaktionsgas, darin wird .zweckmäßig das dem Reaktionsgas ausgesetzte Substrat zunächst ,auf eine Temperatur zwischen 420 und 59:0° C erhitzt, Handelt ies sich um die Eizeugung deiner Siliciumschicht :unter Verwendung eines Gemisches aus Siliciumtetrahälogenid und Wasserstoff, als Reaktionsgas, dann wird .am besten das :dem Reaktionsgas ausgesetzte Substrat zunächst auf eine Temperatur zwischen ?30 und 910° C erhitzt.
  • Die Zeichnung-veranschaulicht ein Ausführungsbeispiel., Sie zeigt ein Schema einer Apparatur zur Erzeugung von Schichten aus monokristallinem Germanium.
  • Die Apparatur :enthält ein Gerät zur Erzeugung reinen Wasserstoffgases, das aus :einem an eine Wasserstoffquelle angeschlossenen Ventil 11 in einer Leitung 12 .und einem katalytischen Reaktor 13 besteht. Der Reaktor bezweckt, etwa anwesenden Sauerstoff in Wasser umzuwandeln. Das Wasserstoffgas tritt dann durch aus festem. Stoff bestehende Trockenmittel mit CaS04 und aktiviertem Aluminiumoxyd in einer Kammer 14 und sodann durch eine mit flüssigem Stickstoff arbeitende Kühlfalle 1:9 hindurch, um Reste von Wasserdampf und Sauerstoff zu entfernen. Das Wasserstoffgas wird hierauf mittels eines Ventils 15 :dosiert durch ein nach .Art eines Waschflasche gebautes Gerät 16 :geleitet, wo es durch flüssiges .Germaniumtetrachlorid (GeClj tritt. Dabei wird Germaniumtetrachloriddampf in :einem Volumen mitgenommen, das dem Dampfdruck der Flüssigkeit proportional ist. Das mit Germaniumtetrachlorid angereicherte Wasserstoffgas wird in einem Mischer 1'7 mit reinem Trägergas aus Wasserstflff vermengt, das über ein Ventil 18 zugeleitet wird. Das Gemenge :tritt sodann durch eine Gasmisch- J kammer 20 in eine als Ofen gebaute Reaktionskammer 21. Der Mischer 17 und die Mischkammer 20 sind so gestaltet, daß sie Schichtbildung von leichtem Wasserstoffgas durch Trennung von den schwereren Gasen verhindern. Ein Quarztiegel 22 bildet den Träger einer Unterlage oder eines Substrats 23, auf dem Germanium niedergeschlagen werden soll. Mindestens" eine. Oberfläche des Substrats ist gegenüber dem Quarziegel nahezu vollständig abgedeckt.
  • Das aus Wasserstoff bestehende Trägergas verläßt die Kammer 21 durch eine mit flüssigem Stickstoff arbeitende Kühlfalle 24, in der nicht reagiertes Germaniumtetrachlorid und das aus Salzsäure bestehende Reaktionsprodukt wiedergewonnen werden. Dies geschieht aus Sicherheitsgründen, um die Stoffe nicht frei-. nach außen treten zu lassen. Die wiedergewonnenen Mengen sind dagegen recht klein. Das aus der Kühlfalle 24 austretende Gas passiert sodann eine mit Öl arbeitende Waschflasche, die den Zweck hat, Rückdiffusion von atmosphärischer Luft in das System zu verhindern. Der Auslag der Waschflasche 25 besteht aus einem Brenner 26 mit offener Flamme.
  • Eine Quelle 27 liefert Argongas zum Zweck der Verdünnung oder Reinigung. Sie ist vor der Trockenkammer 14 an das System angeschlossen. Quellen anderer Gase zum dotieren oder aktivieren des gezüchteten Niederschlages bestehen aus Geräten 31 und 32 in Form von Waschflaschen, die an den Wasserstoffgaskanal in Parallelschaltung zu der mit Germaniumtetrachlorid gefüllten Flasche 16 angeschlossen sind. Eine' Flasche 31 liefert, gesteuert durch ein Venti134, Phosphortrichlorid und eine Flasche 32, gesteuert durch ein Ventil 35, Bortribromid. Nachdem epitäktisches Wachstum eingesetzt hat, kann der Leitfähigkeitstyp der Kristallzüchtung und das Maß der Dotierung oder Aktivierung dadurch gesteuert werden, daß man die Strömung abwechselnd mit Bortribrömid oder Phosphortrichlorid anreichert, so daß - entsprechend abwechselnd p-Schichten und n-Schichten aus kristallinem Germanium entstehen. Jedes Halid kann verwendet werden, solange die Temperaturen so gewählt werden, daß die Mengen mittels des Dampfdrucks steuerbar sind.
  • Um auf einer verlangten Substratoberfläche Germanium zu züchten; wird als erster Schritt das Substrat in die Kammer 21 gesetzt. Das Substrat möge in dem betrachteten Beispiel aus anodisch behandeltem Metall, etwa Tantal, oder aus Quarz bestehen. Es kann jedoch auch aus oxydiertem Metall oder irgendeinem anderen Material bestehen, das hitzebeständig in dem Sinne ist, daß es im wesentlichen unverändert bleibt, sich also weder zersetzt, noch mit anderen Stoffen reagiert, noch sich sonst unter den Bedingungen verändert; denen es in der nachstehend beschriebenen Weise unterworfen wird. Nach dem Einlegen des Substrats in die Kammer 21 wird der Wasserstoffkanal finit gereinigtem Wasserstoffgas durchgespült. Das 'Substrat 23 in der Kammer 21 wird alsdann auf 420 bis 590° C erhitzt, worauf das Ventil 15 geöffnet wird, um Germaniumtetrachlorid aus der Flasche 16- beizugeben. Bei Temperaturen unterhalb von 420° C findet keine Reaktion statt. Bei Temperaturen oberhalb von 600° C wird alles mit nicht orientiertem Germanium überzogen, mit der Ausnahme, daß epitaktisches Wachstum an dafür geeigneten kristallinen Substraten auftritt. Im vorliegenden Prozeß wird bei 500° C das Germaniumtetrachlorid teilweise durch Wasserstoff zu HGeC13 reduziert, und zwar gemäß der Gleichung GeC14 -I- T32 = HGeCI$ =I- HCl HGeCl3 gilt als polares Molekül, und zwar als Dipol, bei dem sich der negative Pol an dem Cl-reichen Ende und der positive Pol an demjenigen Ende befindet, das das H-Atom enthält. Da ferner angenommen werden kann, daß jeder Festkörper in der Gasströmung durch thermoionische Emission positiv geladen wird, so hängt sich durch elektrostatische Anziehung das HGeC13 Molekül an den Festkörper. Diese Oberflächenmoleküle, die bei einer Temperatur zwischen 420 und 590° C abgesetzt werden, gelten wegen ihrer Dipolstruktur als ausgerichtet oder orientiert. Die Temperatur in dem strömenden Wasserstoff kann nun über 600° C hinaus erhöht werden, vorzugsweise auf etwa 650 oder 700° C. Bei solchen Temperaturen wird die Oberfläche durch den Wasserstoff zu Germanium reduziert, ohne daß die Orientierung verloren geht. Die Temperatur wird sodann wieder auf einen Wert zwischen 420 und 590° C gesenkt und die Germaniumtetrachloridquelle wieder eingeschaltet, um epitaktisches Wachstum auf der mittels des ersten Schrittes niedergeschlagenen Germaniumoberfläche eintreten zu lassen. Die Konzentration des Germaniumtetrachlerids im Wasserstoff soll weniger als 0,1 Molprozent betragen, um eine -ätzende Reaktion zu vermeiden. Wachstumsgeschwindigkeiten von 12 Mikron pro Stunde werden mit einem totalen Gasstrom . von 250 em3/min in laboratoriumsmäßigen Öfen oder Heizkammern erreicht.
  • Kristallines Germanium kann auch auf bestimmt ausgewählten Flächen gezüchtet werden, wenn die anderen Flächenteile maskiert werden.
  • Die gasförmigen Chloride werden für die Bildung der polaren Moleküle bevorzugt, doch können auch andere Halogene verwendet werden, nämlich Bromide und Jodide, wobei die Reaktionstemperaturen entsprechend anzupassen sind.

Claims (4)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zur Erzeugung einer Germanium-oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Fläche eines nicht aus Germanium oder Silicium bestehenden Substrats durch Reduktion von gasförmigem Germanium- bzw. Siliciumtetrahalogenid mit Wasserstoff, dadurch gekennzeichn e t, daß die dem Wasserstoff und Tetrahalogenid enthaltenden Reaktionsgas ausgesetzte Fläche zunächst auf eine Temperatur erhitzt wird, die so niedrig ist, daß auf der Fläche eine noch weiter reduzierbare Germanium- bzw. Siliciumverbindung niedergeschlagen wird, und daß dann diese Verbindung mit reinem Wasserstoff bei höherer Temperatur zu elementarem Germanium bzw. Silicium reduziert wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf der durch Reduktion mit reinem Wasserstoff entstandenen Schicht aus elementarem Germanium bzw. Silicium weiteres Germanium bzw. Silicium mittels des vorher verwendeten Wasserstoff und Tetrahalogenid enthaltende Reaktionsgases niedergeschlagen wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 zur Erzeugung einer Germaniumschicht unter Verwendung eines Gemisches aus Germaniumtetrahalogenid und Wasserstoff als Reaktionsgas, dadurch gekennzeichnet, daß das dem Reaktionsgas ausgesetzte Substrat zunächst auf eine Temperatur zwischen 420 und 590° C erhitzt wird.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 1 zur Erzeugung einer Siliciumschicht unter Verwendung eines Gemisches aus Siliciumtetrahalogenid und Wasserstoff als Reaktionsgas, dadurch gekennzeichnet, daß das dem Reaktionsgas ausgesetzte Substrat zunächst auf eine Temperatur zwischen 730 und 910° C erhitzt wird. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 865160, 883 784, 885 756; französische Patentschrift Nr. 1125 207; Powell, Campell, Genser: nVapor Platingcc, 1955, S. 3 bis 12; Electronics, vom B. Juli 1960, S. 66/67.
DEH47983A 1962-01-29 1963-01-17 Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Flaeche eines Substrats Pending DE1244112B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US169276A US3152932A (en) 1962-01-29 1962-01-29 Reduction in situ of a dipolar molecular gas adhering to a substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1244112B true DE1244112B (de) 1967-07-13

Family

ID=22614962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEH47983A Pending DE1244112B (de) 1962-01-29 1963-01-17 Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Flaeche eines Substrats

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3152932A (de)
DE (1) DE1244112B (de)
FR (1) FR1345944A (de)
GB (1) GB998211A (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3354004A (en) * 1964-11-17 1967-11-21 Ibm Method for enhancing efficiency of recovery of semi-conductor material in perturbable disproportionation systems
US3361600A (en) * 1965-08-09 1968-01-02 Ibm Method of doping epitaxially grown semiconductor material
US3345223A (en) * 1965-09-28 1967-10-03 Ibm Epitaxial deposition of semiconductor materials
US3645785A (en) * 1969-11-12 1972-02-29 Texas Instruments Inc Ohmic contact system
CA1280055C (en) * 1985-10-24 1991-02-12 Ronald Edward Enstrom Vapor deposition apparatus

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE865160C (de) * 1951-03-07 1953-01-29 Western Electric Co Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper
DE883784C (de) * 1949-04-06 1953-06-03 Sueddeutsche App Fabrik G M B Verfahren zur Herstellung von Flaechengleichrichtern und Kristallverstaerkerschichten aus Elementen
DE885756C (de) * 1951-10-08 1953-06-25 Telefunken Gmbh Verfahren zur Herstellung von p- oder n-leitenden Schichten
FR1125207A (fr) * 1954-05-18 1956-10-26 Siemens Ag Procédé de préparation de substances très pures de préférence pour emploi comme semi-conducteurs, dispositif pour sa réalisation et produits conformes à ceux obtenus

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB778383A (en) * 1953-10-02 1957-07-03 Standard Telephones Cables Ltd Improvements in or relating to the production of material for semi-conductors
FR1141561A (fr) * 1956-01-20 1957-09-04 Cedel Procédé et moyens pour la fabrication de matériaux semi-conducteurs

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE883784C (de) * 1949-04-06 1953-06-03 Sueddeutsche App Fabrik G M B Verfahren zur Herstellung von Flaechengleichrichtern und Kristallverstaerkerschichten aus Elementen
DE865160C (de) * 1951-03-07 1953-01-29 Western Electric Co Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper
DE885756C (de) * 1951-10-08 1953-06-25 Telefunken Gmbh Verfahren zur Herstellung von p- oder n-leitenden Schichten
FR1125207A (fr) * 1954-05-18 1956-10-26 Siemens Ag Procédé de préparation de substances très pures de préférence pour emploi comme semi-conducteurs, dispositif pour sa réalisation et produits conformes à ceux obtenus

Also Published As

Publication number Publication date
GB998211A (en) 1965-07-14
FR1345944A (fr) 1963-12-13
US3152932A (en) 1964-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE865160C (de) Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper
DE1900116C3 (de) Verfahren zum Herstellen hxxochreiner, aus Silicium bestehender einkristalliner Schichten
DE3856068T2 (de) Dampfphasenabscheidung von Zinnoxyd auf Floatglas im Zinnbad
DE1667657B2 (de) Verfahren zur herstellung von siliciumkarbidwhiskers
DE2945141C2 (de) Verfahren zum Herstellen von für Halbleiterbauelemente verwendbarem Silizium aus Quarzsand
DE1906197A1 (de) Verfahren zur Entfernung von borhaltigen Verunreinigungen aus Chlorsilanverbindungen
DE2703873C3 (de) Verfahren zur Herstellung von kristallinen Verbindungen A1™ B&trade
DE1244112B (de) Verfahren zur Erzeugung einer Germanium- oder Siliciumschicht auf einer erhitzten Flaeche eines Substrats
DE1176102B (de) Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumarsenidstaeben aus Galliumalkylen und Arsenverbindungen bei niedrigen Temperaturen
DE1544287B2 (de) Verfahren zum Herstellen einer Schutzschicht aus Siliciumnitrid
DE2040761A1 (de) Infrarotempfindliches photoleitendes Halbleiterbauelement und Verfahren zum Herstellen dieses Halbleiterbauelementes
DE1814579C3 (de) Verfahren zum Herstellen von AIuminiumnitridüberzügen
DE2447224A1 (de) Verfahren zum aufwachsen von pyrolitischen siliciumdioxidschichten
DE1519892A1 (de) Verfahren zum Herstellen von hochreinen kristallinen,insbesondere einkristallinen Materialien
DE1237400C2 (de) Verfahren zum Vakuumaufdampfen eines feuchtigkeitsfesten isolierenden UEberzuges aufHalbleiterbauelemente, insbesondere auf Halbleiterbauelemente mit pn-UEbergang
DE1521397C (de) Verfahren zum Niederschlagen von Sihciumdioxidfilmen
DE1082883B (de) Verfahren zur Herstellung von hochreinem Bor, Silicium oder Germanium bzw. Gemischendieser Substanzen
DE1621286C (de) Verfahren zur Abscheidung von SiIiciumdioxidfilmen
DE1546044A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von feuerbestaendigen Draehten od.dgl. hoher Festigkeit,insbesondere von borhaltigen Heizdraehten
DE2036604A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Sihciumcarbidwhiskers
DE1521397B2 (de) Verfahren zum niederschlagen von siliciumdioxidfilmen
DE1769177C3 (de) Verfahren zum Aufbringen einer Aluminiumsilikat-Schicht auf Halbleitermaterial
DE2111961A1 (de) Verfahren zur Herstellung von hoch reinem,einkristallinem Silizium
DE1523001A1 (de) Verfahren zur Bestimmung des Donatorgehalts von hochreinen Halogensilanen,insbesondere von Siliciumtetrachlorid oder Silicochloroform
DE1696061B2 (de) Hohlkoerper aus quarzglas, insbesondere rohrfoermige quarzglaskoerper, zur verwendung bei unter hohen temperaturen durchzufuehrenden herstellungsverfahren fuer halbleiterbauelemente