DE1240816B - Verfahren zum Herstellen von Einkristallen und zum Reinigen und/oder Dotieren eines festen Stoffes, insbesondere eines Halbleitermaterials - Google Patents
Verfahren zum Herstellen von Einkristallen und zum Reinigen und/oder Dotieren eines festen Stoffes, insbesondere eines HalbleitermaterialsInfo
- Publication number
- DE1240816B DE1240816B DE1959N0017540 DEN0017540A DE1240816B DE 1240816 B DE1240816 B DE 1240816B DE 1959N0017540 DE1959N0017540 DE 1959N0017540 DE N0017540 A DEN0017540 A DE N0017540A DE 1240816 B DE1240816 B DE 1240816B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- zone
- starting material
- crystals
- substance
- carrier gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
- C30B23/02—Epitaxial-layer growth
- C30B23/06—Heating of the deposition chamber, the substrate or the materials to be evaporated
- C30B23/066—Heating of the material to be evaporated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT Int. CL:
BOId
BOIj
Deutsche KL: 12c-2
Deutsche KL: 12c-2
Nummer: 1240 816
Aktenzeichen: N 17540 IVc/12c
Anmeldetag: 18. November 1959
Auslegetag: 24. Mai 1967
Das Zonenschmelzen, bei dem in einer länglichen Zusammenpackung des zu behandelnden Materials
durch örtliche Erhitzung eine geschmolzene Zone bewirkt wird, die in Längsrichtung durch diese Zusammenpackung
bewegt wird, wobei am einen Ende der Zone das zu behandelnde Material zum Schmelzen
gebracht wird und am anderen Ende das Material aus der geschmolzenen Zone auskristallisiert, ist bekannt.
In dieser Form findet dieses Verfahren weitverbreitete Anwendung zur Reinigung eines Materials von ge- ίο
wissen Verunreinigungen, deren Löslichkeit in diesem Material in geschmolzenem Zustand von der im
gleichen Material in festem Zustand verschieden ist, und umgekehrt auch zum Dotieren eines Materials
mit gewissen Verunreinigungen dadurch, daß diese der geschmolzenen Zone an der gewünschten Stelle
beigegeben werden. Weiter hat sich dieses Verfahren auch als sehr geeignet erwiesen zur Herstellung eines
Einkristalls aus einem polykristallinen Material, wobei man zu Beginn der Behandlung die geschmolzene
Zone vielfach von einem Einkristallkeim ausgehen läßt, an dem das polykristalline Material über
die geschmolzene Zone in einkristalliner Form anzuwachsen vermag. Das zur behandelnde Material kann
in einem horizontalen Schiffchen untergebracht sein, dem die geschmolzene Zone in horizontaler Richtung
entlanggeführt wird, oder es kann ohne Tiegel zonengeschmolzen werden, wobei die geschmolzene Zone
in senkrechter Richtung an einem vertikalen frei angeordneten stabförmigen Körper aus dem zu behandelnden
Material entlganggeführt wird.
Diese Verfahren sind aber nicht brauchbar für Stoffe, die bereits bei Temperaturen in der Nähe der
Schmelztemperatur beträchtlich verdampfen oder welche sublimieren, wie es bei vielen Oxyden, SuI-fielen
und Seleniden der Fall ist. In »Physical Review«, 72 (1947), S. 594, ist ein Verfahren zur Herstellung
von Einkristallen aus Cadmiumsulfid beschrieben worden, bei dem man Cadmium in Dampfform
mit Schwefelwasserstoff reagieren läßt. Zu diesein Zweck wird in einem Quarzrohr eine Menge
Cadmium erhitzt, dessen Dampf mittels eines Trägergases einer Reaktionszone hoher Temperatur im Rohr
zugeführt wird, wo man den Cadmiumdampf. mit einem ebenfalls zugeführten Schwefelwasserstoff-Gasstrom
reagieren läßt. Außerhalb der Reaktionszone setzen sich dabei auf den kühleren Teilen des
Rohres kleine Einkristalle aus Cadmiumsulfid ab.
Einkristalle können auch durch Sublimation aus der Dampfphase gebildet werden. Dabei wird in
einem geschlossenen, länglichen Rohr an einem Ende die gesamte Menge des zu behandelnden Stoffes hoch
Verfahren zum Herstellen von Einkristallen
und zum Reinigen und/oder Dotieren eines festen Stoffes, insbesondere eines Halbleitermaterials
Anmelder:
N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven
(Niederlande)
Vertreter:
Dipl.-!ng. E. E. Walther, Patentanwalt,
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Als Erfinder benannt:
Michael Avinor, Eindhoven (Niederlande)
Beanspruchte Priorität:
Niederlande vom 13. Oktober 1959 (244 298) - -
erhitzt und der Dampf infolge eines vorhandenen Temperaturgradienten im Rohr zu einem kälteren
Teil geführt, wo er sich an der Wand in Form von Einkristallen absetzt oder an bereits vorhandenen
Kristallen anwächst. Auch ist bereits bekannt, bei diesem Verfahren den Temperaturgradienten; durch
eine langsame Bewegung des Rohres von dem kalten Teil in Richtung des warmen Teiles zu verschieben.
Diesem und auch anderen bekannten Verfahren, bei denen Kristallisation über die Dampfphase erfolgt,
haftet der große Nachteil an, daß die dabei erhaltenen Kristalle, sogar die bei gleicher Bearbeitung
erhaltenen, gegenseitig sehr verschiedene Eigenschaften haben. So findet z. B. bei nach den bekannten
Verfahren hergestellten Cadmiumsulfid-Kristallen, die zu Photoleitungszwecken bestimmt sind, bei ein
und derselben Charge Kristalle mit hoher Dunkelleitfähigkeit neben Kristallen mit im wesentlichen
Dunkelisolierung, wobei die letztgenannten Kristalle noch einen großen Unterschied in bezug auf Photoempfindlichkeit
aufweisen. Infolgedessen ist es erforderlich, die Kristalle nachträglich sorgfältig zu selektieren,
was eine langwierige und kostspielige Arbeit ist. Die Ausbeute an Kristallen mit den vorgeschriebenen
Eigenschaften ist gering.
Die erwähnten Nachteile können bei einem Verfahren zum Herstellen von Einkristallen, zum Reinigen
und/oder Dotieren eines festen Stoffes, insbesondere eines Halbleitermaterials durch Verdampfen
eines gegebenenfalls Dotierstoffe enthaltenden festen
709 587/475
Ausgangsmaterials in einem geschlossenen Gefäß und Niederschlagen des Stoffes aus dem Dampf an
einer anderen Stelle des Gefäßes beseitigt werden, wenn axial durch eine längliche Packung des Ausgangsmaterials
von einem Ende her eine innerhalb eines Ofens erzeugte Heizzone, die eine den Stoff
verdampfende Temperatur hervorruft, geführt wird,
Zur Beförderung des Dampfes von einem Ende der Zone zum anderen Ende der Zone kann ein
Trägergasstrom in einer der Bewegungsrichtung der Zone entgegengesetzten Richtung durch die Zone
hindurchgeführt werden.
Von den bekannten Kristallisationsmethoden über die Dampfphase unterscheidet sich das Verfahren
nach der Erfindung grundsätzlich darin, daß dabei nicht, wie bei den bekannten Verfahren, das Ausgangsmaterial
gleichzeitig zur Gänze bis zur Verdampfung erhitzt wird, sondern daß von dem Ausgangsmaterial
die verschiedenen Teile die Zone hoher Temperatur zeitlich nacheinander erreichen, in
Dampfform gebracht und in gleicher Reihenfolge am anderen Ende der Zone wieder in den festen Zustand
übergeführt werden. Die Beschaffenheit, insbesondere die Konzentrationsverteilung der Verunreinigungen
längs der Längsachse der länglichen Zusammenpackung, von der ausgegangen wird, wird in der
Beschaffenheit längs der Längsachse der erhaltenen Charge von Einkristallen wiedergegeben. Während
bei den bekannten Verfahren, bei denen das gesamte Ausgangsmaterial auf einmal verdampft wird, wodurch
die verschiedenen Verunreinigungen in Reihenfolge ihrer Flüchtigkeit verdampfen und infolgedessen
in den zuerst gebildeten Kristallen die flüchtigsten Verunreinigungen in größerem Maß vorhanden sein
werden, die Verteilung der Verunreinigungen in den erhaltenen Kristallen in hohem Maß inhomogen sein
wird, ist es beim Verfahren nach der Erfindung möglich, durch Aufspalten in Zeitfolgen des Verdampfungsvorgangs
das ursprüngliche Verteilungmuster in günstigem Maß beizubehalten. Bei Verbindungen
von zwei oder mehr als zwei Komponenten können auf entsprechende Weise auch Abweichungen der
Stöchiometrie im Ausgangsmaterial in das Kristallisationsprodukt übertragen werden. Wird dagegen
von einer Zusammenpackung praktisch homogener Zusammensetzung ausgegangen, so entstehen Kristalle
homogener Zusammensetzung.
Die Erfindung ist besonders wichtig für sublimationsfähige
Stoffe, wie Oxyde, Sulfide oder Selenide, insbesondere die von zweiwertigen Metallen,
wie Cadmiumsulfid, Cadmiumselenid, die für die Photoleitung ausnutzende Bauelemente sehr wichtig
sind. Dabei kann als Ausgangsmaterial wenigstens eine Komponente des niederzuschlagenden Stoffes
und ein wenigstens eine Komponente enthaltendes Trägergas benutzt werden, um. auf diese Weise die
Verbindung in Dampfform zu bilden und am anderen Ende der erhitzten Zone niederzuschlagen.
Weil die Stelle der Kristallisation laufend verschoben
wird, können auch große Materialmengen ohne Verstopfung des Rohres behandelt werden.
Zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden
näher beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 einen Längsschnitt durch ein schematisch
dargestelltes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung,
Fig.2 einen Längsschnitt durch ein weiteres schematisch
dargestelltes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach der
Erfindung.
Die Vorrichtung nach Fig. 1 ist z. B. verwendbar
zur Herstellung von Kristallen aus pulverförmigem Material. In einem an beiden Enden offenen langgestreckten
Quarzrohr 1 ist ein Schiffchen 2, z. B. aus Quarz, untergebracht. In diesem Schiffchen 2 wird
ίο das zu behandelnde Material in Form einer länglichen
Zusammenpackung 3 angebracht. Das Quarzrohr 1 erstreckt sich über einen Teil seiner Länge in einem
Ofen 4, der örtlich im Rohr eine Zone hoher Temperatur bewirkt. Diese Zone hoher Temperatur ist
durch Verschiebung des Ofens 4 in horizontaler Richtung dem Quarzrohr 1 entlang bewegbar. Zu diesem
Zweck treibt auf an sich bekannte Weise ein Antriebsmotor 5 eine Antriebsschraube 7 über einen
Übertragungsmechanismus 6 an. In diesem Zusammenhang sei noch bemerkt, daß es selbstverständlich
auch möglich ist, die Bewegung der Zone hoher Temperatur nicht durch Verschiebung des Ofens 4,
sondern durch Verschiebung des Quarzrohres 1 samt Inhalt bei unbeweglichem Ofen 4 auszuführen. Während
der Behandlung wird das Schiffchen 2 mitsamt der länglichen Zusammenpackung 3 langsam in die
Zone hoher Temperatur eingeführt, wodurch diese Zusammenpackung 3, von einem Ende derselben
ausgehend, örtlich der Zone hoher Temperatur ausgesetzt wird, so daß das Material örtlich über eine
gestrichelt angedeutete schmale Zone völlig in Dampfform übergeht. In einer der Verschiebungsrichtung
der Zone hoher Temperatur entgegengesetzten Richtung (s. den Pfeil beim Ofen 4) wird ein langsamer
inerter Gasstrom durch die Einlaßöffnung 8 und die Auslaßöffnung 9 durch das Quarzrohr 1 hindurchgeführt.
Von diesem Gasstrom wird der Dampf von einem Ende der Zone, wo er entsteht, zum anderen
Ende der Zone mitgeführt. Wo der Dampf am anderen Ende der Zone hinreichend niedrige Temperatur
erreicht, erfolgt die Kristallisation und Kristallablagerung, z. B. von der Wand des Quarzrohres ausgehend.
Durch die Verschiebung des Ofens 4 wird die erhitzte Zone in Längsrichtung der Zusammenpackung
3 geführt, wodurch in Zeitfolge nacheinander entsprechend dieser Verschiebung aufeinanderfolgende
Teile der Zusammenpackung am Vorderende der Zone dem Verdampfungsvorgang unterzogen
werden und sich am hinteren Ende der Zone in Form von Kristallen (in der Zeichnung mit dem
Bezugszeichen 10 angedeutet) absetzen. Da im oben geschilderten Fall das Krretallisationsprodukt 10 mit
der gleichen Geschwindigkeit aus der erhitzten Zone herausbewegt wird wie die Geschwindigkeit, mit der
die Zusammenpackung in die erhitzte Zone eingeführt wird, ist im Idealfall bei völlig symmetrischer
Anordnung im Kristallisationsprodukt 10 eine praktisch vollkommene Abbildung der Beschaffenheit der
Zusammenpackung, von der ausgegangeen wurde, erreichbar. In der Praxis ist dies in hohem Maß dadurch
verwirklichbar, daß die Verschiebung langsam erfolgt, so daß bei jeder Verschiebung der erhitzten
Zone die angewachsenen Kristalle aus der erhitzten Zone herausgeführt werden. Das Kristallisationsprodukt
wird längs der Längsachse praktisch das gleiche Verteilungsmuster von Verunreinigungen
wie das Ausgangsprodukt haben, weil sie stets und in jedem Zeitpunkt unter gleicher Temperatur und
atmosphärischen Umständen anwachsen, so daß, wenn von einem einheitlichen Produkt ausgegangen
wird, auch ein praktisch in hohem Maß einheitliches Kristallisationsprodukt entsteht. Um eine möglichst
getreue Abbildung des Verunreinigungsmusters längs der Längsachse der Zusammenpackung im endgültigen
Kristallisationsprodukt zu erhalten, soll vorteilhaft der Temperaturgradient am Vorderende, wo das
Material in Dampfform übergeführt wird, möglichst steil sein, so daß die Zone, wo die Verdampfung erfolgt,
sehr eng ist. Dies ist namentlich wichtig, wenn man ein inhomogenes Aktivatorverteilungsmuster aus
der Zusammenpackung auf das Kristallisationsprdukt zu übertragen wünscht, und findet auch vorzugsweise
Anwendung bei der Behandlung eines einheitlichen Ausgangsproduktes. Namentlich bei der Übertragung
inhomogener Verunreinigungen wird der Temperaturgradient am anderen Ende der erhitzten Zone, wo
die Kristallisation erfolgt, im wesentlichen von der gleichen Größe oder Größenordnung gewählt. Wenn
man am Kristallisationsende der Zone das Wachstum größerer Einkristalle zu fördern wünscht, kann es
vorteilhaft sein, den Temperaturgradienten am Kristallisationsende der Zone nicht zu steil zu
machen.
Auf die in Fig. 1 dargestellte Weise werden
Cadmiumsulfidkristalle hergestellt, wobei von reinem
Cadmiumsulfidpulver ausgegangen wurde, das in länglicher Form im Schiffchen untergebracht worden
war. Eine spektographische Analyse der noch vorhandenen Verunreinigungen im Ausgangsmaterial
hatte folgendes Ergebnis:
Si <Ξ 0,001 Gewichtsprozent
Fe 5g 0,0002 Gewichtsprozent
Mg <Ξ 0,0002 Gewichtsprozent
Al <Ξ 0,0005 Gewichtsprozent
Cu «i 0,00005 Gewichtsprozent
Ag «s 0,0002 Gewichtsprozent
Zn ä; 0,1 Gewichtsprozent
Fe 5g 0,0002 Gewichtsprozent
Mg <Ξ 0,0002 Gewichtsprozent
Al <Ξ 0,0005 Gewichtsprozent
Cu «i 0,00005 Gewichtsprozent
Ag «s 0,0002 Gewichtsprozent
Zn ä; 0,1 Gewichtsprozent
Das Trägergas bestand aus sauerstofffreiem Stickstoff. Die Ofentemperatur wurde konstant auf
11000C gehalten; Verschiebungsgeschwindigkeit des
Ofens betrug etwa 2,6 cm pro Stunde. Dies ergab ein Kristallisationsprodukt, das aus einer großen Anzahl
von Kristallen in Nadel- oder Bandform od. dgl. bestand. Eine spektographische Analyse des Kristallisationsproduktes
ergab das gleiche Ergebnis wie oben. Die Kristalle hatten ohne Bestrahlung einen
spezifischen Widerstand von etwa 1 Ohm · cm, wobei von Kristall zu Kristall nur eine geringe Änderung
auftrat. Die äußersten spezifischen Widerstandswerte der Kristalle waren nur um einen Faktor 10 voneinander
verschieden, wobei bemerkt sei, daß ein Teil dieses Unterschieds der Ungenauigkeit bei der Querschnittsvermessung
der Kristalle zuzuschreiben ist. Die Dunkelleitfähigkeit der erhaltenen Kristalle ist
wahrscheinlich die Folge eines Schwefelmangels im Gitter. Nach Anlassen in einer Schwefelwasserstoffatmosphäre
bei 800° C wurden die Kristalle isolierend und waren photoleitend mit einer ausgesprochenen
Spitze bei etwa 515 Millimikron und einer geringen Empfindlichkeit nach größeren Wellenlängen zu.
Auch nach dieser Temperaturbehandlung ergab sich ein großes Maß von Gleichheit der Empfindlichkeitskurven zwischen den verschiedenen Kristallen, und
die Absolutwerte des spezifischen Widerstands der verschiedenen Kristalle bei Bestrahlung waren in den
meisten Fällen um weniger als einen Faktor 10 voneinander verschieden. Wird ein Gemisch von Wasserstoff
und Schwefelwasserstoff als Trägergas verwendet, so kann der Schwefemangel der erhaltenen Kristalle
vermieden oder wenigstens herabgesetzt werden. Zum Dotieren können dem Trägergas bestimmte
gewünschte aktive Stoffe, wie Verunreinigungen oder
ίο Komponenten der Verbindung, einverleibt werden,
die dann während der Kristallisation in das Kristallisationsprodukt eingebaut werden. So wurden mit
Chlor aktivierte Cadmiumsulfidkristalle auf die gleiche Weise wie oben geschildert hergestellt, mit
dem Unterschied, daß man das Trägergas vorher durch ein auf ungefähr Zimmertemperatur gehaltenes
Gefäß mitsamt der Schwefelverbindung S2Cl2 in Blasen
hochsprudeln läßt. Nachdem die Zone unter diesen Umständen von einem Ende der Zusammenpackung
bis zum anderen Ende verschoben worden war, ergab sich ein praktisch homogenes Kristallisationsprodukt,
bei dem der spezifische Widerstand der Kristalle und die eingebaute Chlorkonzentration
mit nur sehr geringen Differenzen zwischen den Kristallen etwa 0,03 Ohm · cm bzw. 5 · 10~5 Atome
Chlor je Mol CdS betrug. Auf ähnliche Weise wurde auch eine Aktivierung mit Jod ausgeführt. Dieses
Dotierungsverfahren über das Tränengas ist auch vorteilhaft anwendbar, um in das endgültige Kristallisationsprodukt
ein bestimmtes Verteilungsmuster aktiver Zentren dadurch einzubauen, daß die Konzentration
an aktiven Zentren, oder die Art der Zentren, im Trägergas während der Behandlung entsprechend
dem gewünschten Muster geändert wird.
Auf diese Weise lassen sich im Kristallisationsprodukt aufeinanderfolgende Zonen verschiedener
Aktivierung und verschiedener elektrischer Leitfähigkeit erhalten.
Die Dotierung des Kristallisationsproduktes kann aber nicht nur über das Trägergas erfolgen, sondern
es kann das Dotiermaterial auch dem Ausgangsmaterial zugefügt werden. Mit Indium aktivierte
Cadmiumsulfidkristalle werden z. B. dadurch hergestellt, daß von einem mit Indium aktivierten Pulver
ausgegangen wurde.
Im Rahmen der Erfindung sind viele Abwandlungen des an Hand von Fig. 1 geschilderten Verfahrens
möglich. So ist z. B. ein Schiffchen größerer Länge verwendbar, das sich bis in die Kristallisationszone
erstreckt, wobei das Material in einem Teil des Schiffchens in Dampfform übergeführt wird
und in einem am anderen Ende der Zone hoher Temperatur liegenden Teil des Schiffchens kristallisiert.
Um die Einkristallbildung zu fördern, kann
z. B. zu Beginn der Behandlung am Kristallisationsende der Zone ein sogenannter »kalter Finger« angebracht
werden, der das Kristallwachstum fördert. Zu diesem Zweck ist sehr vorteilhaft ein einkristalliner
Keim aus dem betreffenden, zu behandelnden Material verwendbar.
Die Verwendung eines Schiffchens, das ja an sich eine Quelle von Verunreinigung des zu behandelnden
Materials sein kann, läßt sich sogar dadurch vermeiden, daß von einem stabförmigen, z. B. gesinterten
Körper aus dem zu behandelnden Material ausgegangen wird.
In F i g. 2 ist eine solche Anordnung schematisch in einem Längsschnitt dargestellt. In einem vertikal
i 240
angeordneten Quarzrohr 11 mit einer Zuführungsöffnung 15 und einer Abführöffnung 16 für den
Trägergasstrom ist ein Stab aus dem zu behandelnden Material frei angeordnet. Bei dieser Ausbildung ist
der Ofen 13 ortsfest, und es wird entweder das Quarzrohr 11 samt Inhalt in vertikaler Richtung oder
der Stab in dieser Richtung bewegt. Infolgedessen ist eine erhitzte Zone in vertikaler Richtung bewegbar.
Vorzugsweise erfolgt der Kristallzuwachs in Abwärtsrichtung, und es wird die Zone hoher Tem- ίο
peratur abwärts verschoben. Auf diese Weise wird mit der Zone im oberen Teil des Quarzrohres angefangen,
wobei man, um den Kristallzuwachs in Stabform zu fördern, zu Beginn der Behandlung einen
Keim, z. B. einen einkristallinen Keim, des zu behandelnden Materials an der Kristallisationsseite der
Zone hoher Temperatur einführt. Anschließend wird die erhitzte Zone in Abwärtsrichtung langsam bis
zum anderen Ende des Stabes verschoben. Bei dieser Bewegungsrichtung entsteht ein weiterer Vorteil, daß
die Aufwärtsbewegung des Dampfes den Zuwachs in Stabform fördert, namentlich wenn eine sehr enge
schmale erhitzte Zone verwendet wird, Während man die Stabteile 12 und 14 beide mit gleicher Geschwindigkeit
durch die erhitzte Zone hindurchführen kann, ist es auch möglich, der erhitzten Zone die
Stabteile 12 und 14 mit verschiedenen Geschwindigkeiten zuzuführen bzw. aus dieser Zone herauszuführen.
Weiter ist es möglich, durch Änderung der Temperatur in der erhitzten Zone die wirksame
Breite der Verdampfungszone während der Behandlung zu ändern bzw. anzupassen.
Das Verfahren ist aber auch zum Reinigen eines festen Stoffes anwendbar, weil die nichtflüchtigen
Verunreinigungen, z. B. Kupfer, oder die im Verhältnis zur Flüchtigkeit des zu behandelnden Stoffes
wenig flüchtigen Verunreinigungen nicht bzw. in geringerer Konzentration in das Kristallisationsprodukt
eingebaut werden. Es eignet sich insbesondere zur Anwendung bei Halbleiterstoffen, bei denen ja eine
genaue Prüfung des Verunreinigungsgehaltes sehr wichtig ist. Das Verfahren ist auch anwendbar auf
Zinksulfid und Zinkselenid, Siliciumcarbid oder elementare Stoffe wie Arsen.
Die Zone hoher Temperatur zur Verdampfung des Stoffes ist auf verschiedene Weise bewirkbar, entsprechend
dem zu behandelnden Stoff, z. B. durch die Verwendung von Öfen mit Strahlungs- oder Konvektionserwärmung
oder durch Hochfrequenzinduktion.
Es sei noch bemerkt, daß das Verfahren nach der Erfindung im allgemeinen bei Stoffen Anwendung
finden kann, die sich in irgendeine Dampfform überführen lassen. So ist es z. B. möglich, das Verfahren
nach der Erfindung bei Stoffen anzuwenden, die selbst nicht auf einfache Weise in ihren Dampf überführbar
sind, aber von denen flüchtige Verbindungen bei Temperaturen gebildet werden können, die beträchtlich
oberhalb der Zimmertemperatur liegen und die sich bei noch höheren Temperaturen wieder
in die Komponenten zersetzen. Bei Anwendung des Verfahrens nach der Erfindung auf diese Stoffe kann
ein solcher Stoff in einem an das Ausgangsmaterial angrenzenden Teil der erhitzten Zone mittels des
Trägergases in die betreffende flüchtige Verbindung umgesetzt, in einem weiterliegenden Teil von noch
höherer Temperatur der erhitzten Zone wieder in die Komponenten zersetzt und am Kristallisationsende
der Zone in fester Form abgelagert werden. Auf diese Weise kann z. B. ein stabförmiger Siliciumkörper
durch Verwendung eines jodhaltigen Trägergases im ersten Teil der erhitzten Zone in Siliciumjodid umgesetzt
werden, z. B. bei einer Temperatur von etwa 500° C, wonach dieser Dampf in einem weiteren Teil
der erhitzten Zone, der eine höhere Temperatur hat, z.B. etwa HOO0C, sich wieder zersetzt unter Ablagerung
von festem Silicium am Kristallisationsende der erhitzten Zone. Schließlich sei bemerkt, daß es
auch möglich ist, die Temperatur der erhitzten Zone derart zu wählen, daß die Verdampfung nicht über
den ganzen Querschnitt des stabförmigen Körpers, sondern nur bis zu einer beschränkten Tiefe des
Querschnittes erfolgt, wodurch es möglich ist, durch Verschiebung der Zone nur eine Oberflächenschicht
des stabförmigen Körpers der Behandlung zu unterziehen.
Claims (1)
1. Verfahren zum Herstellen von Einkristallen, zum Reinigen und/oder Dotieren eines festen
Stoffes, insbesondere eines Halbleitermaterials durch Verdampfen eines gegebenenfalls Dotierstoffe
enthaltenden festen Ausgangsmaterials in einem geschlossenen Gefäß und Niederschlagen
des Stoffes aus dem Dampf an einer anderen Stelle des Gefäßes, dadurch gekennzeichnet,
daß axial durch eine längliche Packung des Ausgangsmaterials von einem Ende her eine
innerhalb eines Ofens erzeugte Heizzone, die eine den Stoff verdampfende Temperatur hervorruft,
geführt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß von einem Ende der Zone zum
anderen Ende der Zone ein Trägergasstrom in einer der Bewegungsrichtung der Zone entgegengesetzten
Richtung durch die Zone hindurchgeführt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß dem Trägergas Dotierstoffe
beigegeben werden.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangsmaterial
horizontal angeordnet wird.
5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangsmaterial
in Stabform frei gehaltert vertikal angeordnet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß eine feststehende Heizzone angewandt
und der Stab und ein über ihm befindlicher Stab nach oben bewegt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Stäbe mit der gleichen Geschwindigkeit
bewegt werden.
8. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der auf beiden Seiten
der Heizzone auftretende Temperaturgradient derart gewählt wird, daß er von der gleichen
Größenordnung ist.
9. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß als Ausgangsmaterial
wenigstens eine Komponente des niederzuschlagenden Stoffes und ein wenigstens eine Komponente
enthaltendes Trägergas benutzt wird.
10. Verfahren nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß als Ausgangsmaterial ein Oxyd, Sulfid und/oder Selenid benutzt wird.
1.1. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß als Ausgangsmaterial ein Oxyd,
Sulfid und/oder Selenid eines zweiwertigen Metalls, wie Cadmium und/oder Zink, benutzt wird.
10
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 865 160; deutsche Auslegeschriften Nr. 1017 795,
555;
österreichische Patentschrift Nr. 194 444;
G. Matz: »Die Kristallisation in der Verfahrenstechnik«,
1954, S. 80 ff.;
Zeitschrift für Elektrochemie, 58 (1954), S. 322.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
709 587/475 5.67 Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL244298 | 1959-10-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1240816B true DE1240816B (de) | 1967-05-24 |
Family
ID=19751976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1959N0017540 Pending DE1240816B (de) | 1959-10-13 | 1959-11-18 | Verfahren zum Herstellen von Einkristallen und zum Reinigen und/oder Dotieren eines festen Stoffes, insbesondere eines Halbleitermaterials |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH442236A (de) |
DE (1) | DE1240816B (de) |
ES (1) | ES261609A1 (de) |
FR (1) | FR1270317A (de) |
GB (1) | GB962166A (de) |
NL (1) | NL244298A (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1258397B (de) * | 1962-11-15 | 1968-01-11 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung durch einkristallines Aufwachsen halbleitender Schichten mittels Transportreaktion |
AU2001241197A1 (en) | 2000-03-23 | 2001-10-03 | Nippon Steel Chemical Co. Ltd. | Sublimation purifying method and apparatus |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE865160C (de) * | 1951-03-07 | 1953-01-29 | Western Electric Co | Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper |
DE1017795B (de) * | 1954-05-25 | 1957-10-17 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung reinster kristalliner Substanzen, vorzugsweise Halbleitersubstanzen |
AT194444B (de) * | 1953-02-26 | 1958-01-10 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zur Behandlung einer längserstreckten Halbleiterkristallanordnung |
DE1032555B (de) * | 1951-11-16 | 1958-06-19 | Western Electric Co | Verfahren und Vorrichtung zum Zonenschmelzen |
-
0
- NL NL244298D patent/NL244298A/xx unknown
-
1959
- 1959-11-18 DE DE1959N0017540 patent/DE1240816B/de active Pending
-
1960
- 1960-10-10 ES ES0261609A patent/ES261609A1/es not_active Expired
- 1960-10-10 CH CH1135860A patent/CH442236A/de unknown
- 1960-10-10 GB GB3462160A patent/GB962166A/en not_active Expired
- 1960-10-12 FR FR840998A patent/FR1270317A/fr not_active Expired
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE865160C (de) * | 1951-03-07 | 1953-01-29 | Western Electric Co | Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper |
DE1032555B (de) * | 1951-11-16 | 1958-06-19 | Western Electric Co | Verfahren und Vorrichtung zum Zonenschmelzen |
AT194444B (de) * | 1953-02-26 | 1958-01-10 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zur Behandlung einer längserstreckten Halbleiterkristallanordnung |
DE1017795B (de) * | 1954-05-25 | 1957-10-17 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung reinster kristalliner Substanzen, vorzugsweise Halbleitersubstanzen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL244298A (de) | |
GB962166A (en) | 1964-07-01 |
FR1270317A (fr) | 1961-08-25 |
CH442236A (de) | 1967-08-31 |
ES261609A1 (es) | 1960-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1739210B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von dotierten Halbleiter-Einkristallen, und III-V-Halbleiter-Einkristall | |
DE944209C (de) | Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkoerpern | |
DE1803731B2 (de) | Verfahren zum kristallisieren einer binaeren halbleiterverbindung | |
DE1947382A1 (de) | Verfahren zum gesteuerten Zuechten von kristallinen Schichten ternaerer Verbindungen aus Elementen der II. und VI. Spalte des Periodischen Systems der Elemente und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens | |
DE1034772B (de) | Verfahren zum Ziehen von spannungsfreien Einkristallen fast konstanter Aktivatorkonzentration aus einer Halbleiterschmelze | |
DE2305019B2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum epitaktischen Aufwachsen von Halbleiterschichten mittels Flüssigphasen-Epitaxie | |
DE1230227B (de) | Verfahren zur Herstellung von homogenen Koerpern aus Germanium-Silicium-Legierungen | |
DE1101775B (de) | Vorrichtung zum Ziehen von Einkristallen mit vorbestimmter konstanter Fremdstoffkonzentration | |
DE1025995B (de) | Verfahren zur Herstellung von Halbleiterkoerpern mit aneinandergrenzenden Zonen verschiedener Leitfaehigkeit | |
DE1063815B (de) | Verfahren zum Herstellen von einkristallinen Mischkristallen aus Germanium-Silizium-Legierungen | |
DE1240816B (de) | Verfahren zum Herstellen von Einkristallen und zum Reinigen und/oder Dotieren eines festen Stoffes, insbesondere eines Halbleitermaterials | |
DE1719024A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Stabes aus Halbleitermaterial fuer elektronische Zwecke | |
DE1251272B (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen eines Stabes durch Aufziehen aus einer Schmelze | |
DE2452197C3 (de) | Verfahren zum Abscheiden von unterschiedlich dotierten Halbleiterschichten auf einem Halbleitersubstrat | |
DE1161036B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochdotierten AB-Halbleiterverbindungen | |
AT224716B (de) | Verfahren zur Behandlung von festen Stoffen, insbesondere halbleitenden Stoffen | |
DE2301148A1 (de) | Verfahren zur herstellung einkristalliner halbleiterkoerper und halbleiteranordnungen, insbesondere strahlungsdetektoren, die derartige einkristalline halbleiterkoerper enthalten | |
DE2165169C3 (de) | Legierung, Herstellung derselben und Verwendung derselben für Vorrichtungen zur unmittelbaren thermoelektrischen Energieumwandlung | |
DE1963853C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von aus einer Galliumverbindung bestehenden Einkristallen | |
AT243858B (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterkörpers mit einem p-n-Übergang | |
DE2032638C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Verbindungseinkristalls | |
DE1052571B (de) | Halbleiter mit pn-UEbergang und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE1544315C3 (de) | Verfahren zum Dotieren von Halbleiterkristallen mit Fremdatomen | |
AT281921B (de) | Verfahren zum Kristallisieren einer binären Halbleiterverbindung | |
DE2214996A1 (de) | Verfahren zum Herabsetzen der Wirkungen der Ausdiffusion bei der Herstellung einer epitaktischen Halbleiterschicht |