DE1227146B

DE1227146B - Anordnung zum Pruefen der Umschaltezeiten von elektronischen Schalteinrichtungen aufHalbleiterbasis

Info

Publication number: DE1227146B
Application number: DES77234A
Authority: DE
Inventors: Mauritz L Granberg
Original assignee: Sperry Rand Corp
Current assignee: Sperry Corp
Priority date: 1961-06-30
Filing date: 1961-12-21
Publication date: 1966-10-20

Description

Anordnung zum Prüfen der Umschaltezeiten von elektronischen Schalteinrichtungen auf Halbleiterbasis Gegenstand der Erfindung ist eine Anordnung zur Feststellung, ob die Umschaltezeit einer Schalteinrichtung auf Halbleiterbasis, also die Zeit, die verstreicht, bis die elektronische Schalteinrichtung von einem Betriebszustand in den anderen Betriebszustand übergegangen ist, innerhalb einer vorbestimmten Zeitspanne liegt.
Obwohl sich die nachfolgende Beschreibung im wesentlichen auf die Beschreibung einer Ausführungsform der Erfindung beschränkt, die zur Prüfung der den Transistoren jeweils eigentümlichen Umschlngszeiten dient, d. h. auf die Prüfung derjenigen Zeitspannen, in der die jeweils geprüften Transistoren von einem bestimmten Leitfähigkeitszustand auf einen anderen Leitfähigkeitszustand übergehen, ist die vorliegende Erfindung doch nicht auf diese Art von Prüfeinrichtungen beschränkt, sondern sie kann ebensogut dazu verwendet werden, andere elektronische Schalteinrichtungen zu prüfen, bei denen der Wechsel bzw. der Übergang von einem Zustand der Leitfähigkeit in einen anderen Zustand der Leitfähigkeit eine bestimmte, dem jeweiligen Schaltelement eigentlimliche Zeitspanne in Anspruch nimmt.
Da von den mit elektronischen Schaltelementen ausgerüsteten Maschinen eine immer schnellere Arbeitsweise gefordert wird, ist es sehr wesentlich, festzustellen, ob die einzelnen Bauteile der Maschine überhaupt noch fähig sind, die jeweils geforderten hohen Schaltgeschwindigkeiten zu gewährleisten. Es ist bekannt, daß gerade Transistoren, die in großer Zahl in vielen elektronischen Maschinen gebraucht werden, bestimmte ihnen eigentümliche charakteristische Eigenschaften besitzen, von denen mit die wichtigste die ist, daß der Transistor, wenn er sein Schaltverhalten zwischen verschiedenen Stufen der Leitfähigkeit wechselt, hierzu eine ganz bestimmte Übergangszeit benötigt. Wenn beispielsweise ein Transistor in einem Schaltgerät verwendet wird und auf ein Steuersignal ansprechen soll, das lediglich eine Dauer von einer Mikrosekunde besitzt, so ist es sehr wesentlich, daß die Umschlagszeit oder Verzögerungszeit des Transistors das 1 Mikrosekunde dauernde Steuersignal nur zu einem geringen Teil ausfüllt. Da die Frequenz der Steuersignale immer mehr vergrößert und die zwischen den einzelnen Steuersignalen verstreichende Zeit zur Erhöhung der Arbeitsgeschwindigkeit der einzelnen Maschinen immer mehr verkleinert wird, muß auch die Umschlagszeit der Transistoren verkleinert werden.
Wenn von den einzelnen mit elektronischen Schaltelementen ausgerüsteten Geräte und Vorrichtungen eine ganz bestimmte Arbeitsgeschwindigkeit verlangt wird, so ist es erforderlich, daß auch die Umschlagszeiten der einzelnen Transistoren, die in diesem Gerät oder dieser Vorrichtung eingebaut werden sollen, innerhalb ganz bestimmter vorgegebener Grenzen liegen. Bei Schalttransistoren, die zwischen einem geöffneten und einem geschlossenen Zustand unterscheiden, ist es notwendig, die Zeitspanne zu kennen, die der Transistor benötigt, um von seinem leitenden Zustand in den nichtleitenden Zustand überzugehen, ebenso auch wie die Kenntnis der Rückfallzeit, d. h. derjenigen Zeitspanne, die der Transistor benötigt, um aus seinem nichtleitenden Zustand in seinen leitenden Zustand wieder überzugehen, und zwar infolge eines dieses Umfallen des Transistors von einem in den anderen Zustand bewirkenden Steuersignals.
Selbstverständlich kann die Umschlagszeit auch diejenige Zeitspanne darstellen, die der Transistor benötigt, um von einem Zustand geringer Leitfähigkeit in einen Zustand höherer Leitfähigkeit überzugehen, und umgekehrt. Es sind bereits Geräte bekannt, bei denen an die Umschlagszeit von Transistoren so hohe Anforderungen gestellt werden, daß derartige Transistoren Umschlagszeiten in der Größenordnung von einigen Millimikrosekunden, d. h., in anderer Bezeichnung, von einigen Nanosekunden höchstens besitzen können. Eine Prüfeinrichtung für Transistoren, um die Umschlagezeiten dieser Transistoren festzustellen, muß es also erlauben, auch so geringe Umschlagszeiten und Zeitspannen zu messen. Die Prüfung von Transistoren hinsichtlich ihrer Umschlagszeiten ist infolgedessen eine Aufgabe der Zeitmessung, und wenn diese Messung durch visuelle Wahrnelimung irgendeiner Anzeige stattfindet, beispielsweise durch Betrachtung des Verlaufs eines Signals auf dem Schirm eines Oszilloskops, so ist diese Messung sehr stark der menschlichen Unzulänglichkeit unterworfen. Die Aufgabe, Umschaltezeiten von Transistoren zu messen, wird noch dadurch erschwert, daß die Umschaltezeit unterschiedliche Werte annimmt, je nachdem, in welchen Leitfähigkeitszustand der Transistor ausgehend von einem bestimmten Leitfähigkeitszustand übergehen soll. Dies trifft sowohl für den Fall zu, daß ein Transistor von einem Zustand geringer Leitfähigkeit in einen Zustand größerer Leitfähigkeit übergeht, als auch umgekehrt für den Übergang von einem Zustand höherer Leitfähigkeit in einen Zustand niederer Leitfähigkeit. Die Erfindung erlaubt es jedoch, einen Transistor und andere elektronische Schalteinrichtungen unter den verschiedensten Betriebsbedingungen zu prüfen, wobei jeweils eine Anzeige dahingehend erfolgt, ob die Schaltzeit des Transistors oder des anderen elektronischen Schaltgerätes innerhalb vorgegebener Grenzen liegt.
Dabei ermöglicht die Erfindung nicht allein eine Prüfung des Schaltverhaltens elektronischer Geräte in einer sehr genauen Weise, sondern der ganze Meßvorgang ist in hohem Maße völlig unabhängig von Bedienungsfehlern. Außerdem kann die Prüfeinrichtung durch einfache Umschaltemaßnahmen zur Messung der verschiedensten Zeitverzögerungen geeignet gemacht werden und errnöglicht außerdem die Messung von Verzögerungszeiten, die entstehen, wenn die einzelnen elektronischen Schaltelemente zwischen den verschiedensten Leitfähigkeitszuständen wechseln.
Dies erreicht die Erfindung durch eine Anordnung zum Feststellen, ob die für eine elektronische Einrichtung zum Umschalten von einem zu einem anderen Arbeitszustand erforderliche Zeitspanne innerhalb einer vorbestimmten Zeitspanne liegt, in welcher die elektronische Einrichtung periodisch durch einen Impuls zur Umschaltung ihres Arbeitszustandes gesteuert wird, welche dadurch gekennzeichnet ist, daß mehrere Verzögerungselemente hintereinandergeschaltet sind, welche unter dem Einfluß eines Anreizimpulses aufeinanderfolgende Taktimpulse erzeugen, von denen einer die zu prüfende elektronische Einrichtung zur Umschaltung ihres Arbeitszustandes steuert, ein weiterer einen Prüfkreis am Ende der vorbestimmten Zeitspanne sperrt und ein anderer durch einen Rückkopplungskreis auf den Eingang des ersten Verzögerungselementes rückgekoppelt ist, so daß die unter dem Einfluß eines Anreizimpulses erzeugte Folge von Taktimpulsen und damit die Prüfung der elektronischen Einrichtung ständig wiederholt wird.
Bei einer Ausführung der Erfindung, die später noch im einzelnen beschrieben wird, wird mit Hilfe einer Zeitkette eine Grundfrequenz erzeugt, die eine Vielzahl elektrischer Zeitimpulse liefert, die in einem ganz bestimmten Abstand voneinander getrennt sind.
Diese Zeitsignale haben die Form vorn Impulsen, die eine Anstiegs- und Abstiegsfianke besitzen und die dadurch die einzelnen Zeitverhältnisse bestimmen.
Ein der Zeitschaltkette entnommenes Zeitsignal wird an die zu prüfende Einrichtung geschaltet, um in die-5er den Übergang von einem ersten Zustand der Leitfähigkeit auf einen anderen Zustand der Leitfähigkeit zu bewirken. Mit Hilfe eines Stromkreises wird das Arbeitsverhalten des zu prüfenden Gerätes überwacht und mit diesem Stromkreis festgestellt, zu welchem Zeitpunkt das zu prüfende Gerät unter Wirkung des Steuersignals den bestimmten Zustand seiner Leitfähigkeit erreicht. Wenn nun dieser bestimmte andere Zustand in der Leitfähigkeit des zu prüfenden Gerätes festgestellt wird, wird ein Ausgangssignal durch diesen Überwachungsstrornkreis erzeugt, um damit anzuzeigen, daß das zu prüfende Gerät den bestimmten anderen Schaltzustand eingenommen hat.
Mit Hilfe eines anderen der Zeitschaltkette entnommenen Signals, das einen bestimmten zeitlichen Abstand zu dem erstgenannten Signal besitzt, wird verhindert, daß durch den Prüfstromkreis ein Signal erzeugt wird, wenn der andere Zustand der Leitfähigkeit des zu prüfenden Gerätes noch nicht erreicht sein sollte. Zusätzlich zu den vorhergehenden Zeitimpulsen wird dem zu prüfenden Gerät dann ein weiterer Zeitimpuls zugeführt, der dieses Gerät wieder in seinen ursprünglichen Schaltzustand zurückbringt. Mit Hilfe des Überwachungsstromkreises wird dann festgestellt, ob und wann das zu prüfende Gerät den ursprünglichen Leitfähigkeitszustand wieder einnimmt und beim Erreichen dieses Zustandes ein weiteres Ausgangssignal erzeugt. Ein viertes Zeitsignal, das eine bestimmte Zeitspanne nach der Aussendung dieses Rücksteuersignals folgt, sperrt den tSberwachungsstromkreis und verhindert ihn an der Bildung dieses besagten letzten Ausgangssignals, falls das zu prüfende Gerät seinen ursprünglichen Schaltzustand noch nicht eingenommen haben sollte.
Ein wesentliches Beispiel für die Anwendung der vorbeschriebenen Prüfeinrichtung ist die Prüfung von Transistoren hinsichtlich des zeitlichen Ablaufs ihres jeweiligen Schaltverhaltens, wenn sie vom gesperrten in den geöffneten Zustand übergehen. Bei diesen Transistoren wird ein erster Zeitimpuls an ihre jeweilige Steuerelektrode angelegt und dadurch der betreffende Transistor von dem geöffneten in den gesperrten Zustand oder umgekehrt übergeführt. Mit Hilfe eines zweiten Zeitimpulses erfolge dann die Rückführung in den nichtgesperrten bzw. gesperrten Zustand. Der Überwachungsstromkreis, der mit einer anderen Elektrode des Transistors gekoppelt ist, erzeugt ein erstes Ausgangssignal, wenn der Transistor den Zustand größerer Leitfähigkeit in Abhängigkeit von dem ersten Zeitsignal erreicht, während ein zweites Ausgangssignal dann erzeugt wird, wenn der Transistor in seinen nichtleitenden Zustand oder in den Zustand geringerer Leitfähigkeit übergeht, und zwar wiederum in Abhängigkeit zu dem zweiten Zeitimpuls. Ein der Zeitschaltkette entnommener dritter Zeitimpuls wird dem Überwachungsstromkreis zugeführt, und zwar in der zwischen dem ersten und dem zweiten Zeitimpuls liegenden Zeitspanne. Dieser Zeitimpuls hat die Aufgabe, die Erzeugung des besagten ersten Ausgangssignals zu verhindern, falls die Erzeugung dieses zweiten Ausgangssignals nicht in der Zeitspanne stattfindet, die bis zum Eintreffen dieses dritten Zeitimpulses verstreicht. In gleicher Weise wird ein vierter Zeitimpuls an den Überwachungsstromkreis angeschaltet und verhindert die Erzeugung des zweiten Ausgangssignals, wenn bis zu diesem Zeitpunkt das Ausgangssignal noch nicht in Erscheinung getreten ist. Auf diese Weise werden mit Hilfe eines Prüfungsvorganges beide Umschlagszeiten von Transistoren hinsichtlich ihrer zeitlichen Grenzen geprüft, und zwar sowohl diejenige Zeitspanne, die vergeht, bis der Transistor von einem Zustand geringerer Leitfähigkeit in einen Zustand größerer Leitfähigkeit übergegangen ist, als auch die Zeitspanne, die zur Umkehrung des besagten Vorganges notwendig ist. Zusätzlich zu der vorbeschriebenen Arbeitsweise kann man noch einen weiteren, fünften Zeitimpuls an die zu prüfende Einrichtung anschalten, wobei dieser fünfte Zeitimpuls zwischen dem erwähnten dritten und zweiten Zeitimpuls liegt. Dieser fünfte Zeitimpuls hat die Aufgabe, den Transistor bereits vor Erreichen des endgültigen Zustandes der seinem Betriebsverhalten entsprechenden Leitfähigkeit wieder zurückzuschalten, um damit die Möglichkeit zu geben, die Schaltzeit des Transistors auch dann zu messen, wenn der Übergang von dem Zustand einer noch nicht maximalen Leitfähigkeit in einen Zustand geringerer Leitfähigkeit stattfindet. Die durch den Überwachungsstromkreis erzeugten Ausgangssignale können sowohl dazu dienen, um anzuzeigen, ob die Umschlagszeit des zu messenden Gerätes innerhalb vorgegebener Grenzen liegt, als auch dazu, die Zeitspanne zu bestimmen, in der das Umschalten der Geräte erfolgt. Außerdem kann die Prüfeinrichtung noch mit einem weiteren Stromkreis ausgerüstet werden, durch den es möglich ist, dann, wenn nicht alle Ausgangssignale erzeugt werden, ein Signal einzuschalten, das einmal anzeigt, ob der Transistor über die einzelnen Sollwerte hinausgehende Schaltzeiten besitzt oder ob der Transistor als solcher selbst beschädigt ist. Es ist auch möglich, den Durchlauf der Zeitkette zu variieren, und zwar in der Weise, daß ein Transistor mehrmals mit immer höherer Schaltgeschwindigkeit geprüft wird. Dadurch können weitere Besonderheiten der Transistoren herausgelesen werden, so daß die Prüfung der Vorrichtung bzw. des Transistors vollkommener wird. Bei einer Ausführungsform der Erfindung werden die einzelnen Resultate der wiederholt vorgenommenen Prüfung eines Gerätes integriert und auf diese Weise eine Anzeige geschaffen, die durch den Beobachter abgelesen werden kann. Da diese Anzeige im Verhältnis zur Geschwindigkeit der Durchführung der einzelnen Prüfungsvorgänge sehr träge ist, nimmt sie gelegentliche Falschanzeigen gar nicht auf und gibt nur dann eine Anzeige, wenn das zu prüfende Gerät bei einer Vielzahl der nacheinander folgenden einzelnen Prüfvorgänge ein unrichtiges Schaltverhalten aufgewiesen hat. Will man aber eine Anzeige auch dann bereits erreichen, wenn ein Gerät innerhalb eines Zyklus von mehreren Prüfvorgängen nur einmal ein falsches Schaltverhalten aufgewiesen hat, so kann man bestimmte Schaltmittel vorsehen, die beim Auftreten eines Fehlers innerhalb des wiederholten Prüfzyklus anhalten und damit anzeigen, daß nach bestimmten Prüfvorgängen das betreffende Gerät ein Schaltverhalten zeigt, das nicht mehr unter die vorgegebenen bzw. vorgeschriebenen Bedingungen fällt.
Diese und andere Merkmale und Vorteile der Erfindung werden durch die nachfolgende Beschreibung im einzelnen erläutert, wobei auf die Zeichnung Bezug genommen ist. In dieser stellt dar F i g. 1 eine Ausführungsform der Erfindung im Blockschaltbild, Fig.2 ein Impulsdiagramm für den Ablauf der einzelnen Zeitimpulse, die in der Prüfeinrichtung verwendet bzw. erzeugt werden, F i g. 3 ein Schaltschema der Erfindung, F i g. 3 a eine Fortsetzung des in F i g. 3 dargestellten Schaltbildes.
In dem Blockschaltbild der F i g. 1 dient die aus den einzelnen Verzögerungsgliedern 10, 12 und 14 gebildete Zeitschaltkette DI zusammen mit der Verzögerungsleitung 16 zur Bildung der den zeitlichen Ablauf jedes Prüfvorganges bestimmenden Zeitimpulse. Ein dem ersten Zeitglied 10 innerhalb der Kette zugeführtes Steuersignal gelangt nacheinander durch die anderen Zeitglieder 12 und 14 und anschließend in die Verzögerungsleitung 16. Über die Leitung 18 ist der Ausgang der Verzögerungsleitung 16 mit dem Eingang der Schaltkette verbunden, so daß jedes Zeitsignal, das die einzelnen Stufen der Zeitkette und die Verzögerungsleitung 16 durchlaufen hat, über die Leitung 18 zu dem Eingang des Schaltgliedes 10 zurückgeführt wird und erneut die Zeitkette durchläuft. Eine Bezugnahme auf die F i g.2, die die einzelnen Zeitimpulse hinsichtlich ihres zeitlichen Auftretens wiedergibt, erleichtert das Verständnis der Erfindung. Aus einer nicht dargestellten Impulsquelle wird ein einziger Eingangsimpuls an die Klemme 20 angelegt. Die F i g. 2 zeigt nun, wie aus diesem Impuls die verschiedenen Zeitimpulse mit Hilfe der Verzögerungsvorrichtung, bestehend aus den Einrichtungen 10, 12, 14 und 16, abgeleitet werden. Der zeitliche Ablauf schreitet in F i g. 2 von links nach rechts, so daß das jeweils linke Ende jedes Impulses die Anstiegsfianke und das rechte Ende jedes Impulses die Abstiegsflanke darstellt. Die einzelnen Verzögerungsglieder 10, 12 und 14 der Zeitschaltvorrichtung bestimmen einmal den zeitlichen Einsatz der einzelnen Steuerbefehle und bewirken außerdem eine Verstärkung dieser Impulse sowie eine Impulsformung, so daß der Einsatz und die Beendigung der einzelnen Impulse innerhalb ganz genauer Zeitabschnitte fällt. Es sei noch bemerkt, daß die in Fig. 2 dargestellten Impulse lediglich ihren zeitlichen Abstand gegeneinander darstellen sollen und daß die dargestellte Art von Impulsen für die Durchführung des jeweiligen Prüfvorganges nicht entscheidend ist. Die Anstiegsflanke des der Eingangsklemme 20 zugeführten einzigen Impulses erscheint nach entsprechendem Durchlauf durch die Stufen 10 und 12 der Zeitkette am Ausgang des Verzögerungsgliedes 12, und zwar auf der Leitung 22 zu einem mit T0 bezeichneten Zeitpunkt. Dieser Impuls, der in F i g. 2 mit B bezeichnet ist, wird dem Eingang eines Steuerstromkreises 24 zugeführt. Außerdem wird dieser Impuls weiter verzögert und invertiert durch die Vorrichtungl4 in die Verzögerungsleitung 16 gegeben. Der Abgriff 26 ist längs der Verzögerungsleitung variabel und überträgt diesen verzögerten und invertierten Impuls, der in F i g. 2 mit B bezeichnet ist zum Zeitpunkt T1 zum Trigger 28. Der in F i g. 2 mit C bezeichnete und zum Zeitpunkt T2 einsetzende Impuls wird dem Steuerstromkreis 24 über die Leitung 30 zugeführt, die ebenfalls an einen verschiebbaren Abgriff der Verzögerungsleitung 16 angeschlossen ist. In einem Zeitpunkt T3 findet die Beendigung des in F i g. 2 mit A bezeichneten Impulses statt. Das nächste, für die Durchführung des Prüfvorganges wesentliche zeitliche Ereignis ist die Beendigung des in Fig. 2D dargestellten Impulses. Dieser Impuls ist anders polarisiert als die einander im wesentlichen entsprechenden Impulse der Fig. 2B und 2C. Die Beendigung dieses zweiten Impulses der Fig. 2D findet zum Zeitpunkt T statt. An der Verzögerungsleitung 16 ist noch ein dritter veränderbarer Abgriff vorhanden, der zu der Leitung 32 führt. Über diese wird ein Impuls dem Trigger 34 zugeführt. Hat der erste Steuerimpuls die einzelnen Verzögerungs- und Invertierstufen 10, 12 und 14 sowie die Verzögerungsleitung 16 durchlaufen, so gelangt er über die Leitung 18 wieder zum Eingang der Verzögerungs-und Invertierstufe 10, und wenn er auch diese Stufe durchlaufen hat, gelangt er zum Zeitpunkt T55 wie dies in der Fig. 2E dargestellt ist, über die Leitung 36 zum Flip-Flop 38 und zum ein umgekehrtes Schaltverhalten aufweisenden Flip-Flop 40. Wenn auch die zeitliche Aufeinanderfolge der einzelnen Steuerimpulse in der eben beschriebenen Weise erfolgt, so können sich doch noch bestimmte Zeitverzögerungen einstellen, die ihrerseits wieder bestimmte Zeitverzögerungen in den einzelnen Schaltvorgängen auslösen, die durch diese Zeitsignale gesteuert werden Da sich aber dadurch lediglich das Verhältnis zwischen allen Signalen ändert, wird dadurch die Genauigkeit des jeweiligen Meßvorganges nicht gestört. Es sei auch noch darauf hingewiesen, daß die in F i g. 2 dargestellte Polarität der einzelnen Impulse auch gewechselt werden kann, da es in diesem Fall lediglich notwendig ist, eine einfache Inversion der einzelnen Impulse vorzunehmen, durch die das zeitliche Verhältnis zwischen den einzelnen Impulsen nicht gestört wird.
Wenn auch die nachfolgende Beschreibung eines Prüfvorganges sich lediglich mit der Prüfung eines Transistors beschäftigt, so sei nochmals darauf hingewiesen, daß die Erfindung nicht auf die Durchführung eines solchen Prüfvorganges beschränkt ist.
Auch dadurch, daß in der nachfolgenden Beschreibung eine Vielzahl von Prüfvorgängen unter den verschiedensten Betriebsbedingungen dargelegt wird, wird der Rahmen der Erfindung nicht abgesteckt, da vielmehr auch solche Prüfvorgänge unter die Erfindung fallen, die nur Teilprüfungen vornehmen, ebenso wie solche Prüfvorgänge, die in der nachfolgenden Beschreibung nicht im einzelnen erwähnt sind, wenn sie nur den Grundgedanken der Erfindung verwirklichen.
Der Transistor, der geprüft werden soll, wird in den Prüfsttomkreis 42 eingeschaltet. Der Steuerstromkreis 24 wird mit der Steuerelektrode des zu prüfenden Transistors, also für gewöhnlich mit der Basis dieses Transistors verbunden. Diese Verbindung erfolgt über die Leitung 44, in der außerdem die Größe des jeweiligen Steuersignals begrenzt wird, das den in den Prüfstromkreis eingeschalteten Transistor von einem bestimmten Ausgangszustand seiner Leitfähigkeit in einen anderen Zustand überführen soll.
Über die Leitung 46 wird die Arbeitsweise des zu prüfenden Transistors überwacht, da diese Leitung 46 mit einer der Elektroden des Transistors für gewöhnlich mit dem Kollektor des Transistors verbunden ist. Um die Arbeitsweise des Transistors zu überwachen, wird ein die jeweilige Leitfähigkeit des Transistors anzeigendes Signal vom - Transistor abgenommen, das über die Leitung 46 dem Trigger 28 und dem ein umgekehrtes Schaltverhalten aufweisenden Trigger 34 zugeführt wird. Die beiden Trigger 28 und 34 sind so eingestellt, daß dann, wenn das über die Leitung 46 am Kollektor des zu prüfenden Transistors abgenommene Signal eine bestimmte Amplitude erreicht, um damit einen bestimmten Grad der Leitfähigkeit des Transistors anzuzeigen, beide Trigger ein Ausgangssignal erzeugen, das angibt, daß der Transistor den vorgegebenen Leitfähigkeitszustand eingenommen hat. Die über die Leitungen 26 und 32 von der Verzögerungsleitung 16 angenommenen Zeitimpulse werden ebenfalls den Triggers28 und 34 zugeführt, und wenn diese Trigger bis zum Eintreffen dieser Zeitimpulse kein Ausgangssignal erzeugt haben, werden diese Trigger gesperrt und dadurch an der Erzeugung eines Ausgangssignals gehindert.
Das von den Triggern 28 und 34 abgenommene Ausgangssignal erscheint auf den Leitungen 48 bzw.
50 und wird in bistabile Flip-Flops gegeben. Diese bistabilen Flip-Flops 38 und 40 weisen ein gegeneinander umgekehrtes Schaltverfahren auf. Das über die Leitung 36 von der Zeitkette abgenommene Zeitsignal schaltet die Flip-Flops 38 und 40 in ihren jeweiligen Ausgangszustand wieder zurück. Die Ausgänge der Flip-Flops 38 und 40 sind an die UND-Schaltung 56 über die Leitungen 52 und 54 geschaltet. Wenn auf beiden Leitungen ein Ausgangs signal erscheint, wird in der Ausgangsleitung 58 der UND-Schaltung56 ebenfalls ein Signal erzeugt, das einer Treiberstufe 60 zugeleitet wird. Über diese Treiberstufe 60 wird eine Anzeige des jeweiligen Signals auf optische Weise in einem Tableau 62 bewirkt, das nun anzeigt, daß der zu prüfende Transistor hinsichtlich seines Schaltverhaltens in den vorgegebenen Grenzen liegt.
Wird die UND-Schaltung 56 über die beiden Steuerleitungen 52 und 54 nicht geöffnet, so wird auch die Treiberstufe 60 nicht beaufschlagt, und es erfolgt in der Anzeigeeinrichtung 64 die Anzeige, daß die Schaltzeiten des zu prüfenden Transistors außerhalb der noch als zulässig erachteten Grenzen liegen.
Um die Wirkungsweise der im Blockdiagramm der F i g. 1 dargestellten Schaltungsanordnung im einzelnen zu beschreiben, sei nun auf die Fig.2 Bezug genommen. Damit nicht bei der Erläuterung der einzelnen Impulse der F i g. 2 immer von der Anstiegsflanke und von der Abstiegsflanke der einzelnen Impulse gesprochen werden muß, was die Erläuterung der Schaltungsanordnung erschweren würde, werden im folgenden die in F i g. 2 dargestellten Impulse mit T bezeichnet, deren jeweiliger Index anzeigt, in welcher Beziehung die einzelnen Flanken der verschiedenen Impulse zueinander stehen. So ist beispielsweise die ansteigende Flanke des in F i g. 2A dargestellten Impulses als Zeitsignal To bezeichnet, während die Abstiegsflanke dieses Impuls es die Bezeichnung T3 trägt. Alle übrigen Zeitsignale, die zur Beschreibung der Wirkungsweise der Schaltungsanordnung nach Fig. 1 benötigt werden, tragen infolgedessen die Bezeichnung Tt, T2, T4 und T5, und zwar in der Reihenfolge, wie die einzelnen Zeitsignale aufeinanderfolgen.
Ein einziger positiver Impuls, der im wesentlichen demjenigen der F i g. 2A entspricht, wird an die Klemme 20 über eine nicht dargestellte Impulsquelle angelegt. Dieser Impuls wird durch die Zeitkette, die bereits im vorstehenden beschrieben wurde, verarbeitet und erscheint an verschiedenen Punkten der Zeitkette zu verschiedenen Zeitpunkten, wobei diese Zeitpunkte jeweils durch die Größe der Verzögerung, die durch die einzelnen Inverterstufen und durch die Verzögerungsleitung 16 bewirkt wird, bestimmt werden. Die Beschreibung beschränkt sich auf den Durchlauf eines einzigen Impulses durch die Zeitkette, und es ist augenscheinlich, daß ein wiederholter Durchlauf dieses Impulses durch die Zeitkette eine Wiederholung der einzelnen Prüffunktionen zur Folge hat.
Nach einer doppelten Invertierung des Eingangssignals durch die Verzögerungs- und Inverterstufen 10 und 12 erscheint der an die Eingangsklemme 20 angelegte Impuls auf der Leitung 22, um hier das Zeitsignal To zu bilden. Dieses Signal wird dem Steuereingang der Steuervorrichtung 24 zugeführt.
Wenn man annimmt, daß der zu prüfende Transistor, der in dem Prüfstromkreis 42 geschaltet ist, sich ursprünglich im nichtleitenden bzw. Trennzustand befindet, so veranlaßt das Zeitsignal To die Steuervorrichtung 24, die Basis des Transistors so zu beeinflussen, daß dieser Transistor von dem nichtleitenden Zustand in den leitenden Zustand gelangt. Dieser leitende Zustand soll bei einem bestimmten Grad der Leitfähigkeit hergestellt sein. Die Funktion des Transistors wird im Kollektorstromkreis überwacht, und auf der Leitung 46 erscheint ein Prüfsignal, das den Grad der Leitfähigkeit des Transistors anzeigt. Infolge der den Transistor eigentümlichen Merkmale benötigt der Übergang des Transistors vom nichtleitenden Zustand in den leitenden Zustand eine bestimmte Schaltzeit. Diese beginnt mit dem Erscheinen des ZeitsignalsTO. Der Trigger 28 ist so voreingestellt, daß, wenn ein Signal auf der Steuerleitung 46 erscheint und dieses Signal eine bestimmte Amplitude besitzt, am Ausgang des Triggers ein Ausgangssignal erscheint, das auf die Leitung 48 gegeben wird. Wenn jedoch das in F i g. 2B dargestellte Zeitsignal T1 noch vor der Erzeugung eines Ausgangssignals durch den Trigger 28 erscheint, so wird der Trigger 28 gesperrt und an der Erzeugung eines Ausgangssignals gehindert. Wenn am Ausgang des Triggers 28 kein Ausgangssignal erscheint, so wird dadurch angezeigt, daß der Transistor innerhalb der vorgeschriebenen Zeitspanne, d. h. innerhalb des Intervalls zwischen den Zeitsignalen T0 und Tt, den gewünschten Grad seiner Leitfähigkeit nicht eingenommen hat. Wenn bei der Prüfung des Transistors nur die Kenntnis dieser Umschlagszeit vom nichtleitenden in den leitenden Zustand von Wichtigkeit ist, so ist es augenscheinlich, daß damit nun gemäß der Erfindung der jeweilige Prüfvorgang beendet ist. Es ist ferner augenscheinlich, daß verschiedene Zeitspannen dadurch in einfacher Weise eingestellt werden können, daß der Abgriff der Leitung 26 an der Verzögerungsleitung 16 verändert wird. Es wird später noch im einzelnen beschrieben werden, wie durch entsprechende Einstellung des Triggers 28 der jeweils gewünschte Grad der Leitfähigkeit im Zustand des zu prüfenden Transistors Berücksichtigung findet. Das in Fig. 2 C dargestellte und zwischen den Zeitsignalen Tj und T3 liegende Zeitsignal T2 wird über die Leitung 30 von der Verzögerungsleitung 16 abgenommen und dem Steuerstromkreis 24 zugeführt. Damit kann der Basisstrom des Transistors beeinflußt werden, so daß dieser in einen größeren Grad der Leitfähigkeit getrieben wird. Damit wird auch ein Mittel geschaffen, um die Prüfung des Transistors unter der Bedingung vorzunehmen, daß er schon wieder stark leitend sein soll, noch bevor er seinen nichtleitenden Zustand eingenommen hat. Mit Hilfe des Zeitsignals T3, das in Fig. 2A dargestellt wird und das der Steuereinrichtung über die Leitung 22 zugeführt wird, wird der Basisstrom des Transistors ebenfalls beeinflußt, und zwar in der Weise, daß dadurch die Rückkehr des Transistors in seinen nichtleitenden Zustand bewirkt werden soll. Das über die Leitung 46 abgenommene Prüfsignal, das den Zu- stand des Kollektorstromkreises des Transistors kennzeichnet, wird in den Trigger 34 gegeben. Hat dieses Abtastsignal am Kollektor des zu prüfenden Transistors eine bestimmte Amplitude, deren Höhe durch die Voreinstellung des Triggers 34 gegeben ist, so erzeugt der Trigger 34 ein Ausgangssignal auf der Leitung 50, das anzeigt, daß der Transistor seinen nichtleitenden Zustand infolge des Zeitsignals T3 wie der eingenommen hat. Wird der Transistor nicht ganz sperrend bis zum Eintreffen des Zeitsignals T4, so wird durch dieses Zeitsignal, das dem Trigger 34 über die Leitung 32 zugeführt wird, der Trigger gesperrt und verhindert das Auftreten eines Ausgangssignals am Ausgang des Triggers 34. Auf diese Art und Weise zeigt das Erscheinen eines Signals auf der Leitung 50 an, daß die Rückfallzeit des Transistors innerhalb der vorgegebenen Zeitspanne liegt, was bedeutet, daß die dem Transistor eigene Schaltverzögerungszeit nicht so groß ist, daß dadurch der betreffende Transistor für den gewünschten Verwendungszweck ausfallen müßte. Bei einem Transistor, dessen Schaltzeit innerhalb der vorgegebenen Grenze liegt, muß dieses Ausgangssignal in der Zeitspanne zwischen den Zeitsignalen T3 und T4 auftreten. Ist dies nicht der Fall, d. h., tritt auf der Ausgangsleitung 5 in dieser Zeitspanne kein Signal auf, so bedeutet dies, daß die Schaltzeit des Transistors die vorgegebene Grenze überschreitet. Die bereits hinsichtlich der Umschaltezeit des Transistors vom nichtleitenden in den leitenden Zustand gemachten Betrachtungen und Möglichkeiten treffen nun voll und ganz auch auf den umgekehrten Schaltvorgang zu, bei dem der Transistor vom leitenden Zustand in den nichtleitenden Zustand gebracht wird. Soll sich die Prüfung der Transistoren nur auf diese Zeitspanne erstrecken bzw. soll nur geprüft werden, ob die Umschlagszeit der Transistoren vom leitenden in den nichtleitenden Zustand den gewünschten Bedingungen entspricht, so ist mit diesem Prüfvorgang die gesamte Prüfung im Sinne der Erfindung beendet. Die hierfür erforderliche Prüfeinrichtung braucht dann auch nur diese Teile der Fig. 1 zu umfassen.
Der in Fig. 1 dargestellte Schaltungsauszug umfaßt aber auch Mittel, um die einzelnen Transistoren sowohl daraufhin zu prüfen, ob die für das Umschalten vom nichtleitenden in den leitenden Zustand als auch die für das Umschalten vom leitenden Zustand in den nichtleitenden Zustand erforderlichen Schaltzeiten den jeweiligen Soll-Zeiten genügen.
Wenn man annimmt, daß die bistabilen Flip-Flops 38 und 40 sich in einem bestimmten Ausgangszustand befinden, so wird durch ein Ausgangssignal aus dem Trigger 28, das über die Leitung 48 zum Flip-Flop 38 gelangt, dieses in den anderen Betriebszustand gebracht und damit ein Ausgangssignal auf der Leitung 52 erzeugt. Ein dem Trigger 34 entnommenes Ausgangssignal gelangt über die Leitung 50 zum bistabilen Flip-Flop 40 und steuert dies ebenfalls in seinen anderen Betriebszustand, wobei wiederum ein Ausgangssignal auf der Leitung 54 erzeugt wird. Da die Flip-Flops 38 und 40 bistabil sind, bleibt das auf der Leitung 52 erzeugte Signal, das der UND-Schaltung 56 zugeführt wird, auch dann bestehen, wenn der Transistor aus seinem leitenden Zustand in seinen nichtleitenden Zustannd gebracht wird. Liegt diese Zeitspanne innerhalb des Soll-Wertes, so erscheint auf der Leitung 54 ebenfalls ein Signal, und der UND-Schaltung 56 wird über die Leitungen 52 und 54 gleichzeitig je ein Steuersignal zugeführt, das diese UND-Schaltung öffnet und damit ein Ausgangssignal auf der Leitung 58 erzeugt. Dieses wird der Treiberstufe 60 zugeführt. Die Einstellung der Treiberstufe 60 ist dabei so getroffen, daß im Ruhezustand die Anzeigeeinrichtung 64 so beeinflußt wird, daß diese den zu prüfenden Transistor als nicht brauchbar bezeichnet. Erscheint aber auf der Leitung 58 über die UND-Schaltung 56 ein Signal, so wird die Treiberstufe 60 umgesteuert und dadurch die Anzeigevorrichtung 62 zur Erzeugung eines Signals beeinflußt, das die Brauchbarkeit des zu prüfenden Transistors anzeigt, während die Anzeigevorrichtung 64 erlöscht.
Es ist selbstverständlich, daß die beiden Anzeigevorrichtungen 62 und 64 auch vereinigt werden können in der Weise, daß mit Hilfe einer einzigen Anzeigevorrichtung die Anzeige daraufhin erfolgt, ob der geprüfte Transistor brauchbar ist oder nicht.
Das Zeitsignal T5, das in F i g. 2 E dargestellt ist, gelangt über die Leitung 36 von dem Inverter 10 zu den Flip-Flops 38 und 40 und steuert diese in ihren Ausgangszustand zurück. Auf diese Weise wird sichergestellt, daß diese Flip-Flops bereits ihren Ausgangszustand wieder eingenommen haben, bevor noch ein nachfolgender weiterer Prüfvorgang desselben Transistors erfolgt. Es ist klar, daß dann, wenn eine wiederholte Prüfung nicht vorgenommen werden soll, das Zeitsignal T5 auch dadurch erzeugt werden kann, daß an der Verzögerungsleitung 16 ein entsprechender Abgriff geschaffen wird. Es ist außerdem möglich, dieses Rückstellsignal an anderen Inverterstufen abzunehmen oder noch weitere Inverterstufen hinzuzufügen, von denen dann das Zeitsignal T5 zum jeweils gewünschten Zeitpunkt abgenommen werden kann.
Die Vorsehung eines Rücklaufstromkreises für die Zeitkette über die Leitung 18, die sich am Ausgang der Verzögerungsleitung 16 anschließt und zum Eingang der Inverterstufe 10 führt, ermöglicht, daß die einzelnen Zeitsignale in ihren zeitlichen Abständen für alle nacheinander wiederholten Prüfvorgänge konstant bleiben. Es ist bekannt, daß die inneren Kristalltemperaturen eines Transistors einen sehr großen Einfluß auf die jeweilige Umschaltezeit des Transistors besitzen. Wenn man die einzelnen Prüfvorgänge, wie sie oben beschrieben wurden, nacheinander mehrmals wiederholt, so ergeben sich mit der Zeit höhere Temperaturen in dem Transistor, und es wird dadurch der Transistor nicht nur bei einer Betriebstemperatur, sondern auch bei höheren Temperaturen geprüft. Wenn man beispielsweise annimmt, daß die Fortschaltegeschwindigkeit der Pulse durch die Zeitkette so gewählt ist, daß die einzelnen Zeitimpulse in den Abständen von einer hundertstel Sekunde aufeinanderfolgen, d. h., daß innerhalb einer Sekunde 100 Zeitimpulse einlaufen, so wird der Transistor mit derselben Prüfgeschwindigkeit beeinflußt, und dadurch wird eine höhere innere Temperatur im Transistor erzeugt, als dies bei einem einmaligen Prüfvorgang der Fall ist.
Wenn die einzelnen Prüfungen für jeden Transistor nacheinander wiederholt werden und wenn eine optische Anzeige des jeweiligen Prüfergebnisses stattfindet, so ist es augenscheinlich, daß dann, wenn sich innerhalb dieses Prüfzyklus ein einziger Fehler ereignet, der optische Anzeiger gar nicht dazu fähig ist, auf diesen einzigen Fehler innerhalb einer großen Anzahl von Meßergebnissen bzw. Anzeigen anzusprechen. Wenn beispielsweise die Prüfungen für jeden Transistor mit der Geschwindigkeit aufeinanderfolgen, daß innerhalb einer Sekunde 100 Prüfungen durchgeführt werden und ein Fehler sich bei jeder zwanzigsten Prüfung einstellt, so kann ein optischer Anzeiger gar nicht schnell genug ansprechen, um nun einen solchen Fehler, da dieser ja nur 5 ovo des jeweill gen Meßergebnisses beträgt, anzuzeigen. Wird jedoch der Transistor in derartigen hochwertigen Stromkreisen eingesetzt, bei denen ein einziger Fehler bereits dann nicht mehr tragbar ist, wenn er sich nur einmal innerhalb einer großen Zahl von Prüfvorgängen ereignet, so kann man die Vorrichtung auch so einrichten, daß dieser einzige Fehler im Verlauf einer Vielzahl von Prüfvorgängen angezeigt wird. Man kann dies in der Weise bewirken, daß die wiederholte Durchführung von Prüfvorgängen dann beendet wird, wenn sich der erste Fehler einstellt. Obgleich in der Zeichnung eine derartige Möglichkeit nicht dargestellt ist, so ist es doch augenscheinlich, daß man bereits mit fachmännischen Mitteln Schaltungseinrichtungen entsprechend abändern bzw. ergänzen kann. Es ist beispielsweise ohne weiteres möglich, eine Torschaltung in die Leitung zu legen, die von der Verzögerungsleitung 16 zum Eingang der Inverterstufe 10 führt. Wird diese als UND-Schaltung gebaute Torschaltung an einen Ausgang der UND-Schaltung 56 angeschlossen und diese UND-Schaltung 56 dabei so eingestellt, daß sie ein entsprechendes Ausgangs signal auf die in die Leitung 18 gelegte Torschaltung gibt, wenn nicht auf beiden Steuerleitungen 52 und 54 ein Signal auftritt, d. h. immer dann, wenn der Prüfvorgang einen Fehler des Transistors anzeigt, so kann auf diese Weise die Torschaltung in diesem Zustand geschlossen und damit die Fortschaltung des Prüfzyklus unterbrochen werden. Durch geeignete Anzeigemittel kann dann der Überwachungsperson angezeigt werden, daß der betreffende Transistor nicht brauchbar ist.
Die F i g. 3 und 3A zeigen in schematischer Form einige der typischen Stromläufe, die in den in F i g. 1 dargestellten Baugruppen eingesetzt sind. Die meisten Bauteile der Fig. 3 und 3A sind durch gestrichelte Linien zu einzelnen Baugruppen zusammengefaßt und entsprechen den in der Fig. 1 eingezeichneten Baugruppen. Infolgedessen tragen diese Baugruppen auch dieselben Bezeichnungen wie diejenigen der Fig. 1. Es sind in den Fig. 3 und 3A aus Gründen der Einfachheit nur wenige Leitungen weggelassen, die in der Fig. 1 erwähnt sind. Die in den Fig. 3 und 3A eingezeichneten Bauelemente sind nicht bemessen, um damit auch anzudeuten, daß die Verwirklichung des Erfindungsgedankens bzw. die Erfindung selbst nicht an irgendwelche Bauvorschriften gebunden ist. Es ist zudem augenscheinlich, daß der jeweils verwendete Transistortyp variabel sein kann; wenn auch vorzugsweise pnp-Transistoren mit der gezeigten Schaltungsanordnung geprüft werden können, so können doch ohne weiteres auch npn-Transistoren geprüft und in der Schaltungsanordnung verwendet werden, wozu lediglich ein Wechsel in der Polarität der einzelnen Potentiale erforderlich ist. Die Höhe der einzelnen Steuerpotentiale ist in dem Stromkreis ebenfalls nicht dargestellt, da auch hier durchaus irgendwelche Abweichungen möglich sind und die Erfindung nicht auf die Innehaltung solcher Potentialgrenzen beschränkt ist.
Die Verzögerungsinverter 10, 12 und 14 sind einander schaltungsmäßig gleich und enthalten eine einzige transistorisierte Inverterstufe, wobei der Transistor in Emitterschaltung verwendet wird, dessen Emitter geerdet ist. Werden pnp-Transistoren verwendet, die einen negativen Eingang besitzen, so wird dieser negative Eingangsimpuls durch den Transistor in einen positiven Ausgangsimpuls am Kollektor umgewandelt. Wie bereits früher erwähnt, dienen diese Stromkreise zur Verzögerung, Verstärkung und Impulsformung. Ein positiver Impuls, der an die Klemme 20 angelegt wird, wird durch die erste Inverterstufe 10 invertiert und daraufhin durch die nachfolgende Inverterstufe 12 wieder umgebildet, so daß auf der Leitung 22 ein positives Ausgangssignal erscheint, wie es in der Fig. 2 A dargestellt ist. Der Transistor 66 im Steuerstromkreis 24 wird normalerweise im leitenden Zustand gehalten, so daß sein Kollektor etwa Erdpotential aufweist Der Basisstromkreis für den zu prüfenden Transistor, der in der Prüfeinrichtung 42 angeordnet ist, enthält die Widerstände 68 und 70, mit denen eine Diode in Reihe liegt. Über diese Diode ist die Basis des zu prüfenden Transistors an den Kollektor des Transistors 66 angeschaltet, und zwar erfolgt diese Verbindung des Kollektors des Transistors 66 mit der Basis des zu prüfenden Transistors über die Leitung 44. Die Polarität und die Größe des am Widerstand 68 liegenden Potentials sind derart, daß dadurch der zu prüfende Transistor im Ruhezustand, im Sperr-oder nichtleitenden Zustand gehalten wird. Der positive Impuls der Fig. 2 A, der an die Basis des Transistors 66 angeschaltet wird, veranlaßt diesen, in seinen Sperrzustand überzugehen, so daß ein nach negativ gehender Impuls am Kollektor des Transistors 66 erscheint. Dieser negative Impuls wird auf die Basis des zu prüfenden Transistors gegeben und veranlaßt diesen, in seinen leitenden Zustand überzugehen. Die Schaltweise des zu prüfenden Transistors wird in dem Kollektorstromkreis überwacht.
Die Leitung 46 ist mit dem Kollektor des zu prüfenden Transistors verbunden, und solange dieser Transistor sich in seinem ursprünglichen nichtleitenden Zustand befindet, liegt an der Leitung 46 ein negatives Potential an. Beginnt der zu prüfende Transistor infolge des Zeitsignals T0 leitend zu werden, so ändert sich das Potential an seinem Kollektor infolge der wachsenden Leitfähigkeit des zu prüfenden Transistors und ermöglicht damit ein Abfühlen des jeweiligen Sperrzustandes des Transistors. Das auf der Leitung 46 auftretende Potential wandert von der stark negativen Polarität, wenn sich der Transistor im nichtleitenden Zustand befindet, zu positiveren Werten, und zwar in dem Grad, in dem der betreffende Transistor immer mehr leitfähig wird.
Das Positiverwerden des Signals, das der Basis des Transistors 72 im Trigger 28 zugeführt wird, bewirkt, daß der pnp-Transistor in seiner Leitfähigkeit abnimmt infolge der Emittervorspannung dieses Transistors. Die Inversion, die durch den Transistor 72 hervorgerufen wird und die das positive Signal in ein negatives Signal am Kollektor umwandelt, wird zweimal wiederholt, und zwar durch die nachgeschalteten Transistoren 74 und 76, so daß am Ausgang ein negatives Signal auf der Leitung 48 erscheint, die mit dem Kollektor des Transistors 76 verbunden ist.
Es ist augenscheinlich, daß die Vorspannung des Emitters des Transistors 72 variiert werden kann und daß auf diese Weise das Erscheinen eines Ausgangssignals auf der Leitung 48 von verschiedenen vor- einstellbaren Werten der Amplitude des auf der Leitung 46 erscheinenden Signals abhängig gemacht werden kann. Man kann auf diese Weise durch Einstellung des Emitterpotentials am Transistor 72 festlegen, bei welchem Grad der Leitfähigkeit des zu prüfenden Transistors ein Ausgangssignal erzeugt werden soll oder nicht. Das negative Ausgangssignal auf der Leitung 48 wird einem der Eingänge des bistabilen Flip-Flops 38 zugeführt. Im Ruhezustand ist die rechte Seite des Flip-Flops 38 gesperrt, während sich die linke Seite dieses Flip-Flops im leitenden Zustand befindet. Dadurch herrscht auf der Leitung 52 ein negatives Potential. Das negative Eingangssignal, das auf der rechten Seite des Flip Flops zugeführt wird, steuert die rechte Seite des Flip-Flops in den ]eitenden Zustand, während die linke Seite des Flip-Flops in den nichtleitenden Zustand umkippt. Das Potential auf der Leitung 52 wird dadurch positiv, und wenn es bei der Prüfung des Transistors nur darauf ankommt, die Schaltzeit des Transistors festzustellen, die er benötigt, um von seinem nichtleitenden in den leitenden Zustand überzugehen, kann die UND-Schaltung 56 weggelassen werden, so daß dann die Ausgangsleitung 52 unmittelbar zu der Treiberstufe 60 führt. Ist jedoch die UND-Schaltung, die aus zwei Dioden besteht, vorhanden, dann ist es zur Ansteuerung der Treiberstufe 60 notwendig, daß sowohl das Flip-Flop 38 als auch das Flip-Flop 40 umgesteuert sind, und zwar in Abhängigkeit von Ausgangssignalen der beiden Trigger 28 und 34. Liegen auf beiden Eingangsleitungen der UND-Schaltung 56 entsprechende Potentiale vor oder ist eine solche UND-Schaltung überhaupt nicht vorgesehen, so gelangt ein positives Signal über die Leitung 58 zur Treiberstufe 60, und zwar zur Basis des Transistors 78. Der Transistor 78 befindet sich normalerweise im leitenden Zustand, so daß das positive Potential, das seiner Basis zugeführt wird, eine Sperrung des Transistors mit sich bringt und damit ein negatives Ausgangssignal am Kollektor erzeugt. Dieses negative Signal wird der Basis des Transistors 80 zugeführt, um es in ein positives Signal umzuwandeln, das am Kollektor dieses Transistors erscheint. Das positive Signal auf der Leitung 82 steuert den Transistor 84 um, und zwar in der Weise, daß dieser den Stromkreis für die Anzeigevorrichtung 64 über seine Emitter-Kollektor-Strecke öffnet. Andererseits wird die Emitter-Kollektor-Strecke des Transistors 88 niederohmig und infolgedessen die Anzeigevorrichtung 62 eingeschaltet. Die Öffnung des Transistors 88 erfolgt dadurch, daß das auf der Leitung 82 herrschende Signal in der Transistorstufe 86 invertiert wird.
Im vorstehenden ist nunmehr beschrieben worden, wie man eine Anzeige erhält, wenn ein zu prüfender Transistor auf ein bestimmtes Zeitsignal anspricht, das diesen Transistor in einen anderen Schaltzustand bringt, wobei jeweils eine Anzeige erfolgt, ob der betreffende Transistor brauchbar ist oder nicht, soweit es seine Umschaltezeit vom nichtleitenden in den leitenden Zustand betrifft. Es sei nunmehr unter Rückkehr auf die Fig. 3 darauf hingewiesen, daß die Verzögerungsleitung 16 in der Zeitkette eine Mehrzahl von Verzögerungselementen enthält, die im einzelnen nicht dargestellt sind. Außerdem weist diese Verzögerungsleitung 16 zwei Gruppen von variablen Abgriffen auf, die mit diesen einzelnen Verzögerungselementen verbunden sind. Außerdem enthält die Verzögerungsleitung einen Emitterfolgestromkreis und ein weiteres Verzögerungselement, dessen Anwendung nachfolgend etwas näher beschrieben werden soll. Das in F i g. 2 B dargestellte Zeitsignal T1 erscheint an der Klemme A, die mit einem der variablen Abgriffe der Verzögerungsleitung 16 verbunden ist. Im Blockschaltbild der F i g. 1 ist die Verbindung zwischen der Verzögerungsleitung und dem Trigger 28 mit 26 bezeichnet, während in F i g. 3 diese Leitung aus Gründen der Klarheit weggelassen ist. Die Klemme A an der Verzögerungsleitung 16 ist mit der Klemme A des Triggers 28 direkt verbunden zu denken. Das negative Zeitsignals Tl, das an die Klemme A angelegt wird, hat ein negatives Signal am Emitter des Transistors 90 zur Folge, der in Emitterfolgeschaltung eingesetzt ist. Dadurch wird dieses negative Signal der Basis des Transistors 92 zugeführt und dieser dadurch leitfähig gemacht, wodurch sein Kollektorpotential etwa den Wert des Erdpotentials annimmt. Es sei dabei ins Gedächtnis zurückgerufen, daß das auf der Leitung 46 erscheinende positive Prüfpotential, das der Basis des Transistors 72 zugeführt wird, ein negatives Signal am Kollektor dieses Transistors zur Folge hat, das über die Leitung 48 weitergeleitet wird. Wenn jedoch das Zeitsignal T1 noch vor dem Erscheinen eines Ausgangssignals auf der Leitung 48 auftritt, wird der Kollektor des Transistors 72 auf Erdpotential gehalten und dadurch an der Erzeugung eines Ausgangssignals gehindert. Wenn infolgedessen der zu prüfende Transistor innerhalb der Zeitspanne, die zwischen dem Zeitpunkt To und dem Zeitpunkt T1 liegt, den gewünschten Zustand der Leitfähigkeit infolge des Eintreffens des Steuersignals To nicht eingenommen hat, tritt kein Ausgangs signal auf der Leitung-48 auf, und infolgedessen zeigt die Anzeigevorrichtung die Nichtbrauchbarkeit des zu prüfenden Transistors an.
Wenn auch der nächste zeitlich zu verarbeitende Impuls T2 ist, der in der F i g. 2 C dargestellt wird, so erscheint es im gegenwärtigen Zeitpunkt doch besser, zunächst die Prüfvorgänge zu schildern, die sich ereignen, wenn die Rückstellzeit des Transistors, d. h. die Zeit, die notwendig ist, um vom leitenden Zustand in den nichtleitenden Zustand überzugehen, festgestellt und geprüft werden soll. Die im Rahmen der Prüfvorgänge sich abspielenden, durch das Zeitsignal T2 hervorgerufenen Schaltvorgänge werden später beschrieben werden.
Das Zeitsignal-T2, das in Fig. 2A dargestellt ist, folgt anschließend an das Zeitsignal TUL, -da es sich hierbei um die abfallende Flanke des gleichen Impulses handelt, der auch das Zeitsignal To erzeugt hat. Dieses Zeitsignal gelangt infolgedessen ebenfalls über die Leitung 22, die an den Ausgang der Inverterstufe 14 angeschaltet ist, zu dem Steuerstromkreis 24.
Das Potential dieses Zeitsignals ist jedoch dem Potential des Zeitsignals T0 entgegengesetzt und veranlaßt, daß der zu prüfende Transistor in dem Prüfstromkreis 42 zu einem umgekehrten Verhalten angeregt wird, als es demjenigen entspricht, das durch die Anschaltung des Zeitimpulses T0 hervorgerufen wurde. Das an den Steuerstromkreis 24 angelegte Zeitsignal T8 gelangt auf die Basis des zu prüfenden Transistors und bewirkt, daß dieser Transistor von seinem leitenden Zustand in seinen nichtleitenden Zustand zurückgeführt wird. Dadurch wird am Kollektor dieses Transistors ein negatives Ausgangs- signal erzeugt, das über die Leitung 46 dem Eingang des Triggers 34 zugeführt wird. In diesem Trigger 34 gelangt das Signal zur Basis des Transistors 94, der in Emitterfolgeschaltung geschaltet ist, so daß an die Basis des Transistors 96 ebenfalls ein negatives Signal gelangt, das am Kollektor dieses Transistors als positives Potential erscheint. Damit wird auch der Basis des Transistors 98 ein positives Signal zugeführt, das sich als negatives Potential auf der Leitung 50 bemerkbar macht. Die Leitung 50 ist mit dem Kollektor des Transistors 98 verbunden. Wenn infolgedessen der zu prüfende Transistor einen bestimmten Zustand hinsichtlich seiner Leitfähigkeit einnimmt, und zwar in diesem Fall den jeweiligen Trennzustand, wird durch den Trigger 34 ein Signal erzeugt, das dem Flip-Flop 40 zugeführt wird. In der vorbeschriebenen Weise wird nun auch dieses Flip-Flop 40, ähnlich wie das Flip-Flop 38, von seinem Ausgangszustand in den anderen Schaltzustand übergeführt. Es tritt wiederum ein Ausgangssignal auf der Leitung 54 auf, dessen Erscheinen anzeigt, daß der zu prüfende Transistor hinsichtlich seiner Rückstellzeit den jeweils gewünschten Bedingungen entspricht, wobei die Auswertung dieses Signals in der ebenfalls vorbeschriebenen Weise mit oder ohne die UND-Schaltung 56 in der Treiberstufe 6û erfolgt, über die eine entsprechende Steuerung der Anzeigeorgane 64 und 62 stattfindet. Wird lediglich gewünscht, daß die Rückstellzeit des Transistors einer Prüfung unterzogen werden soll, so kann wieder die UND-Schaltung 56 weggelassen werden, indem nämlich die Leitung 54 unmittelbar mit dem Eingang der Treiberstufe 60 verbunden ist. Die Leitung 32, die von der Verzögerungsleitung 16 ausgeht und zum Trigger 34 führt, ist in der F i g. 3 nicht eingezeichnet. Es sei jedoch darauf hingewiesen, daß diese Leitung an der Klemme B der Verzögerungsleitung 16 beginnt und daß die Klemme, die an einen Abgriff der Verzögerungsleitung angeschaltet ist, mit der Klemme B, die mit der Basis des Transistors 100 in Verbindung steht, verbunden werden muß. Das in Fig. 2D enthaltene Zeitsignal T4 gelangt über die Basis dieses Transistors 100 zu dem Emitter des Transistors 100, der wiederum in Emitterfolgeschaltung eingebaut ist und damit über die Diode 102 zum Kollektor des zu prüfenden Transistors.
Wenn das Steuersignal auf der Steuerleitung 46 nicht ausreicht, um den Trigger 34 derart umzusteuern, daß auf seiner Ausgangsleitung 50 ein Signal erscheint, bevor noch das Zeitsignal T4 eintrifft, verhindert das Zeitsignal T4 den Trigger 34 überhaupt, noch ein Ausgangssignal zu erzeugen. Auf diese Weise wird angezeigt, daß der zu prüfende Transistor hinsichtlich seiner Rückfallzeit den gestellten Bedingungen nicht entspricht.
Um die Wirkung des Zeitimpulses T2 zu beschreiben, erscheint es am zweckmäßigsten, zunächst das Basispotential zu betrachten, das dem zu prüfenden Transistor über die Steuerleitung zugeführt wird, ohne daß zunächst der Zeitimpuls T2 in Betracht ge zogen wird. Im Steuerstromkreis ist der Transistor 104 normalerweise leitend, so daß der Basisstrom, der dem zu prüfenden Transistor aus der Potentialquelle V über den Steuerstromkreis zugeführt wird, über den Widerstand 106 und von- hier zu der Basis des zu prüfenden Transistors über die Leitung 44 gelangt. Hierzu besteht ein paralleler Stromkreis von der Spannungsquelle V über die Diode 108 und den normalerweise leitenden Transistor 104. Durch diesen Parallelpfad wird der Basisstrom in einer bestimmten Grenze gehalten, die von dem Spannungsabfall in dem beschriebenen Stromkreis abhängig ist.
Das negative Zeitsignal T2, das von der Ausgangsklemme E der Verzögerungsschaltung 16 abgenommen wird, gelangt über die Leitung 30 zum Steuerstromkreis und wird der Basis des Transistors 110 zugeführt. Nach erfolgter Inversion dieses negativen Signals gelangt es an die Basis des Transistors 104, der geöffnet wird und damit den oben beschriebenen Parallelpfad von der Spannungsquelle V öffnet, so daß ein größerer Basisstrom aus der genannten Spannungsquelle V zur Basis des zu prüfenden Transistors gebracht wird. Dadurch wird der zu prüfende Transistor in seinen leitenden Zustand gebracht, bzw. seine Leitfähigkeit wird erhöht. Da dies noch vor der durchgeführten Prüfung hinsichtlich der Rückfallzeit des Transistors stattfindet, wird dadurch eine Möglichkeit gegeben, die Rückfallzeit des Transistors unter einer -ganz besonders ungünstigen Bedingung vorzunehmen, nämlich dann, wenn sich der Transistor in einem ganz besonders großen Zustand seiner Leitfähigkeit befindet.
Es sollen nun einige kleinere Unterschiede erläutert werden, die zwischen den schematischen Darstellungen der F i g. 3 und 3 A gegenüber dem Blockschaltbild der F i g. 1 bestehen. Das in F i g. 2E dargestellte Zeitsignal T5, das anläßlich der Beschreibung der Fig. 1 bereits erwähnt wurde, bringt die beiden FlipFlops 38 und 40 noch vor Beginn einer Transistorprüfung in ihren Ausgangszustand zurück.
In Fig. 3 A ist der Rückstelleingang dieser Flip-Flops mit C bezeichnet, und über diesen Eingang wird ein negatives Signal zur Basis des Transistors 112 geführt, der in Emitterfolgeschaltung aufgebaut ist und dadurch ein negatives Steuersignal auf die jeweils linken Eingänge der beiden Flip-Flops 38 und 40 anlegt, um diese in ihren Ausgangszustand zurückzuführen. Im Blockschaltbild der Fig. 1 wird dieses Rückstellsignal vom Ausgang der Verzögerungs- und Inverterstufe 10 abgenommen und über die Leitung 36 den beiden Flip-Flops 38 und 40 zugeführt. In der Anordnung nach F i g. 3 wird dieses Rückstellsignal von dem Verzögerungselement der Verzögerungsleitung 16 abgenommen, das einen Ausgang C besitzt. Die Verbindung von der Klemme C der Verzögerungsleitung 16 in Fig.3 zu der Klemme C in F i g. 3 A ist nicht dargestellt. Da lediglich die Zeitbedingung erfüllt werden muß, daß die Flip-Flops noch vor Beginn einer Transistorprüfung in ihren Ausgangszustand zurückgeführt werden müssen, ist der Umstand, daß in den F i g. 3 und 3 A die Rückstelleitung an die Verzögerungsleitung 16 angeschlossen ist, während in dem Blockschaltbild der Fig. 1 die Rückstelleitung hinter der Inverterstufe 10 liegt, für die schaltungsmäßige Durchbildung der Vorrichtung völlig ohne Bedeutung und kann je nach Bedarf wahlweise angewendet werden.
Die Klemme D der Verzögerungsleitung 16 ist über eine nicht dargestellte Leitung mit der Klemme D verbunden, die zur Basis des Transistors 114 führt.
Die Vorsehung des Transistors 114 und der mit ihm verbundenen Stromkreise hat den Zweck, eine störende Wirkung der zur Prüfung der Rückfallzeit eines Transistors vorgesehenen Stromkreise auf die Stromkreise, die die Umschlagszeit des Transistors zu prüfen haben, zu verhindern, wenn die letztge- nannten Stromkreise in Tätigkeit sind. Dies wird durch ein der Klemme D zugeführtes Signal bewirkt, durch das die Diode 102 so vorgespannt ist, daß sie sich während der Prüfung der Umschlagszeit des zu prüfenden Transistors im geöffneten Zustand befindet.
Die in dem Triggerstromkreis 28 der F i g. 3 eingezeichnete Klemme E ist mit der Klemme E der Verzögerungsleitung 16 verbunden, obgleich die entsprechende Verbindung in der F i g. 3 nicht eingezeichnet ist. Über diese Verbindung wird durch die Zeitkette der Triggerschaltung 28 ein Impuls zugeführt, durch den diese Triggerschaltung gesperrt wird, und zwar während der Prüfung der Rückfallzeit eines Transistors. Das der Klemme E zugeführte negative Signal, das mit der Basis des Transistors 90 gekoppelt ist, hat auf den entsprechenden Tnggerstromkreis eine ähnliche Wirkung, wie sie bereits früher hinsichtlich des Zeitsignals T1 beschrieben wurde, das dem Trigger über die Klemme 8 zugeführt wird.
Zweck dieser Maßnahme ist, den Trigger 28, der die Umschlagszeit des Transistors zu messen hat, daran zu hindern, daß er ein Ausgangssignal während der Prüfung der Rückfallzeit des Transistors erzeugt. Die Verwendung von Signalen an den Klemmen D und E hat den Zweck, die Ausführung der Erfindung mehr zu vereinfachen. Es ist selbstverständlich, daß noch andere Schaltmöglichkeiten und Abänderungen der Ausführungsbeispiele möglich sind, ohne daß dadurch der Rahmen der vorliegenden Erfindung verlassen wird.
Obgleich die vorstehende Beschreibung sich darauf beschränkt, die Ausführungsform der Erfindung zu schildern, bei der die Grenzen hinsichtlich der Umschlagszeiten der zu prüfenden Transistoren eingestellt werden können, und zwar durch entsprechende verschiebbare Abgriffe an der Zeitkette, ist es zweckmäßig, noch einen anderen typischen Verwendungszweck der dargestellten Schaltungsanordnung zu erwähnen. Wenn das Bedürfnis besteht, zu wissen, um welchen Betrag die Rückfallzeit bzw. Umschlagszeit eines gegebenen Transistors geändert werden muß, damit er noch in die vorgegebenen Grenzen fällt, so kann diese Kenntnis durch Verschiebung der Abgriffe an der Verzögerungsleitung erworben werden. Man kann beispielsweise die verschiebbaren Abgriffe, die mit der Klemme A der Verzögerungsleitung verbunden sind, so verschieben, daß von Stufe zu Stufe immer ein Unterschied von 5 Nanosekunden eingestellt wird. Wenn ein zu prüfender Transistor zunächst bei der jeweils eingestellten Umschlagszeit als nicht brauchbar erscheint, kann man den Abgriff der Klemme A an der Verzögerungsleitung so weit verschieben, daß der Transistor schließlich als brauchbar gekennzeichnet wird. Die Zahl der dabei überfahrenen Abgriffe gibt ein Zeitmaß für die jeweilige Umschlags- bzw. Rückfallzeit des Transistors an, wobei diese Zeiten in der Genauigkeit von 5 Nanosekunden ablesbar sind. Diese Feststellung der Umschlagszeit bzw. der Abweichung der Umschlagszeiten von einer vorgegebenen zeitlichen Grenze kann selbstverständlich sowohl für die Umschlagszeit des Transistors in der einen oder anderen Richtung vorgenommen werden.
Es ist selbstverständlich, daß die vorgeschlagene Ausführungsform der Erfindung in den verschiedensten Richtungen noch variiert und ausgestaltet werden kann, ohne daß dadurch die Grenzen der Erfindung, wie sie insbesondere durch die nachfolgenden Ansprüche gegeben sind, verlassen werden.

Claims

Patentansprüche: 1. Anordnung zum Feststellen, ob die für eine elektronische Schalteinrichtung auf Halbleiterbasis zum Umschalten von einem zu einem anderen Arbeitszustand erforderliche Zeitspanne innerhalb einer vorbestimmten Zeitspanne liegt, in welcher die elektronische Einrichtung periodisch durch einen Impuls zur Umschaltung ihres Arbeitszustandes gesteuert wird, d a d u r c h g e -kennzeichnet, daß mehrere Verzögerungselemente (10, 12, 14, 16) hintereinandergeschaltet sind, welche unter dem Einfluß eines Anreizimpulses aufeinanderfolgende Taktimpulse erzeugen, von denen einer (T,) die zu prüfende elektronische Einrichtung (42) zur Umschaltung ihres Arbeitszustandes steuert, ein weiterer (T,) einen Prüfkreis (28, 34) am Ende der vorbestimmten Zeitspanne sperrt und ein anderer durch einen -Rückkopplungskreis (18) auf den Eingang des ersten Verzögerungselementes (10) rückgekoppelt ist, so daß die unter dem Einfluß eines Anreizimpulses erzeugte Folge von Takts impulsen und damit die Prüfung der elektronischen Einrichtung ständig wiederholt wird.
2. Anordnung. nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rückkopplungskreis Sperrvorrichtungen enthält, welche bei Sperrung eines Fühlkreises unter dem Einfluß eines Taktimpulses den Rückkopplungskreis sperren können, so daß die Anordnung für den Fall geschützt wird, daß die zu prüfende elektronische Einrichtung einen Kurzschluß entwickelt.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß den jeweiligen Schaltzustand der zu prüfenden Einrichtungen feststellende Schaltmittel bei der Feststellung eines vom jeweiligen Ausgangszustand abweichenden Zustandes ein entsprechendes Kennzeichnungssignal abgeben und daß auf den weiteren nachfolgenden Zeitimpuls ansprechende Schaltmittel die den jeweiligen Schaltzustand der zu prüfenden Einrichtungen feststellenden Schaltmittel an der Bildung eines Kennzeichnungssignals hindern, wenn die zu prüfenden Einrichtungen den sich von ihrem Ausgangszustand abweichenden Schaltzustand nicht bis zum Eintreffen dieses weiteren nachfolgenden Impulses eingenommen haben.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste der Taktimpulsfolge entnommene Impuls an die Steuerelektrode der elektronischen Einrichtung geschaltet wird, um diese in einen anderen Schaltzustand überzuführen, und daß durch einen mit den den jeweiligen Schaltzustand der Einrichtung überwachenden Schaltmitteln gekoppelten Trigger beim Erreichen eines vom Ausgangszustand sich -unterscheidenden Schaltzustarides ein entsprechendes Kennzeichnungssignal. abgegeben wird, falls nicht in der bis zur Bildung dieses Signals verstreichenden Zeitspanne den Uberwachungsschaltmitteln ein die Bildung eines solchen Signals verhindernder zweiter Taktimpuls der Taktimpulsfolge zugeführt wird.
5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen eine die Taktimpuls; folge bildende Kettenschaltung und die Steuerelektrode der elektronischen Einrichtung eine Steueranordnung zwischengeschaltet ist, durch die die Anstiegsflanke des ersten Zeitimpulses der Zeitimpulsfolge zur Überführung der Einrichtung von einem ersten Schaltzustand in einen zweiten Schaltzustand ausgewertet wird, während andere, zwischen der Kettenschaltung und dem Trigger angeordnete Schalteinrichtungen auf die Anstiegflanke eines zweiten Taktimpulses in der Weise ansprechen, daß durch sie die Entstehung eines Trigger-Ausgangssignals verhindert wird, falls bis zu diesem Zeitpunkt die Einrichtung ihren zweiten Schaltzustand noch nicht erreicht hat.
6. Anordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß ein zeitlich zwischen dem ersten und zweiten Zeitsignal liegendes drittes Zeitsignal-die Bildung eines durch das erste Zeitsignal ausgelösten ersten Ausgangssignals verhindert, wenn dieses Ausgangssignal bis zu diesem Zeitpunkt noch nicht abgegeben wurde, und daß ein sich an das zweite Zeitsignal anschließendes viertes Zeitsignal die Bildung eines zweiten, durch das zweite Zeitsignal ausgelösten Ausgangssignals unter denselben Umständen ebenfalls verhindert.
7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das erste und zweite Ausgangssignal durch wenigstens zwei stabile, mit den den Schaltzustand der zu prüfenden Einrichtungen überwachenden Schaltmitteln gekoppelte bistabile Schalteinrichtungen festgehalten werden.
8 Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß durch eine elektronische Zeitglieder enthaltende Kettenschaltung wenigstens vier Zeitsignale (T0, Tj, T2, T4) in zeitlicher Aufeinanderfolge gebildet werden, daß auf das erste Zeitsignal (To) ansprechende Schaltmittel die zu prüfende elektronische Einrichtung von einem ersten in einen zweiten Schaltzustand überführen, während auf das dritte Zeitsignal (Ts) ansprechende Schaltmittel die Rückführung der zu prüfenden elektronischen Einrichtung von dem zweiten in den ersten Schaltzustand bewirken, und daß beim Erreichen des zweiten Schaltzustandes ein erstes und bei der Rückkehr in den ersten Schaltzustand ein zweites Ausgangs signal erzeugt wird; falls in den Schalteinrichtungen, die mit der den Schaltzustand der zu prüfenden Einrichtung überwachenden Schalteinrichtung gekoppelt sind, zwischenzeitlich nicht das die Bildung des ersten Ausgangssignals verhindernde zweite Zeitsignal (Tl) bzw. das die Bildung des zweiten Ausgangssignals verhindernde vierte Zeitsignal (T4) eingelaufen ist.
9. Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß durch ein fünftes Zeitsignal die Leitfähigkeit der zu prüfenden elektronischen Einrichtung zwischen dem ersten und zweiten Zeitsignal vergrößert wird.
10. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß mit der den Schaltzustand der zu prüfenden elektronischen Einrichtung überwachenden Schalteinrichtung ein bistabiles Schaltorgan gekoppelt ist.
11. Anordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das bistabile Schaltorgan zwei Flip-Flops enthält.
12. Anordnung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß durch ein erstes Flip-Flop das einen ersten Schaltzustand anzeigende und durch ein zweites Flip-Flop das einen zweiten Schaltzustand der zu prüfenden elektronischen Einrichtung anzeigende Signal registriert wird.
13. Anordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Anstiegsflanke des zweiten Impulses zeitlich zwischen der Anstiegs- und Rückflanke des ersten Impulses liegt, während die Anstiegsflanke des dritten Impuls es auf die Rückflanke des ersten Impulses folgt, daß der Übergang der zu prüfenden Einrichtung vom nichtleitenden Zustand in einen Zustand bestimmter Leitfähigkeit durch die Anstiegsflanke und der umgekehrte Vorgang durch die Rückflanke des ersten Impulses bewirkt wird und daß auf die Anstiegsflanke des zweiten Impulses ansprechende Schaltmittel die Bildung eines ersten Ausgangssignals und auf die Anstiegsflanke des dritten Impulses ansprechende Schaltmittel die Bildung eines zweiten Ausgangssignals verhindern, wenn die Bildung dieser Ausgangssignale nicht vor der Erzeugung des zweiten bzw. dritten Impulses stattgefunden hat.
14. Anordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß durch auf ein drittes Zeitsignal ansprechende Schaltmittel die zu prüfende Schalteinrichtung zwischen dem ersten und zweiten Zeitsignal in einen dritten Schaltzustand übergeführt wird.
15. Anordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein mehrstufiger Impulsverteiler in allen Stufen unter sich gleiche, jedoch zeitlich verschieden einsetzende Impulse liefert, daß ein Ausgangsimpuls der ersten Stufe des Impulsverteilers einer mit der zu prüfenden Einrichtung derart gekoppelten Steuervorrichtung zugeführt wird, daß durch die Anstiegsflanke dieses Impulses die zu prüfende Schalteinrichtung vom nichtleitenden Zustand in einen ersten Zustand bestimmter Leitfähigkeit übergeht, daß die Rückführung der Schalteinrichtung von einem zweiten Zustand bestimmter Leitfähigkeit in den nichtleitenden Zustand durch die Rückflanke des der ersten Stufe entnommenen Impulses bewirkt wird, daß der erwähnten Steuervorrichtung ferner ein der zweiten Stufe des Impulsverteilers entnommener Impuls zugeführt wird, dessen Anstiegsflanke zwischen der Anstiegs- und Rückflanke des der ersten Stufe entnommenen Impulses liegt und durch den die Leitfähigkeit der zu prüfenden Einrichtung von dem ersten Zustand in einen zweiten Zustand übergeführt wird, daß mit Elektroden der zu prüfenden Einrichtung gekoppelte Tastanordnungen dem jeweiligen Schaltzustand der Einrichtungen entsprechende Signale erzeugen, daß über die Tastanordnung ein Trigger derart beeinflußt wird, daß er ein erstes Ausgangssignal beim Erreichen des ersten Leitfähigkeitszustandes und ein zweites Ausgangs signal beim Übergang in den nichtleitenden Zustand auf Grund des der ersten Stufe des Impulsverteilers entnommenen Impulses liefert, daß die die Bildung des Ausgangssignals verhindernden Schaltmittel auf den der dritten Stufe des Verteilers entnommenen Impuls ansprechen, daß die Anstiegsflanke dieses Impulses zwischen den Anstiegsflanken der der ersten und zweiten Stufe entnommenen Impulse liegt, daß diese Schaltmittel mit dem Trigger gekoppelt sind, um die Bildung eines ersten Ausgangssignals zu einem mit der Anstiegsflanke des Impulses der dritten Stufe entsprechenden Zeitpunkt zu verhindern, und daß einer vierten Stufe des Impulsverteilers ein weiterer Impuls, dessen Anstiegsflanke auf die Rückflanke des der ersten Stufe entnommenen Impulses folgt, entnommen und über die vorstehend erwähnten Schaltmittel zu einer derartigen Beeinflussung des Triggers ausgewertet wird, daß die Bildung eines zweiten Ausgangssignals nach Bildung der Anstiegsflanke des der vierten Stufe entnommenen Impulses unterbleibt.
16. Anordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die elektronische Impulskette mindestens fünf aufeinanderfolgende Zeitsignale (To bis T4) erzeugt, daß auf das erste Zeitsignal(TO) ansprechende Schaltmittel eine elektronische Schalteinrichtung von einem ersten in einen zweiten Leitfähigkeitszustand und auf das dritte Zeitsignal (T2) ansprechende Schaltmittel dieselbe Schalteinrichtung vom zweiten in einen dritten Leitfähigkeitszustand überführen, während durch ein viertes Zeitsigiial (T2) die Rückführung der elektronischen Einrichtung vom dritten in den ersten Leitfähigkeitszustand bewirkt wird, daß den jeweiligen Schaltzustand der elektronischen Schalteinrichtung feststellende Schaltmittel bei der Einnahme des zweiten Leitfähigkeitszustandes durch die betreffende Einrichtung infolge des ersten Zeitsignals ein erstes Ausgangssignal und bei der Einnahme des ersten Leitfähigkeitszustandes infolge des vierten Zeitsignals (T3) ein zweites Ausgangssignal abgeben, während mit den den jeweiligen Schaltzustand der elektronischen Einrichtung feststellenden Schaltmitteln gekoppelte Schaltmittel, die auf das zweite Zeitsignal (TL) ansprechen, die Bildung des ersten Ausgangssignals verhindern, falls es bis zum Eintreffen dieses zweiten Zeitsignals noch nicht gebildet wurde, daß auf ein fünftes Zeitsignal (T4) ansprechende Schaltmittel in gleicher Weise die Bildung des zweiten Ausgangssignals verhindern, daß zur Entgegennahme der Ausgangssignale ein Paar bistabiler Flip-Flops vorgesehen ist, von denen das eine durch das erste Ausgangssignal und das andere durch das zweite Ausgangssignal jeweils aus ihrem Ruhezustand in ihren Arbeitszustand übergeführt werden, und daß mit den Flip-Flops gekoppelte Anzeigemittel den Üb ergang der Flip-Flops von dem einen in den anderen Schaltzustand zur Anzeige bringen.
17. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang der mindestens sechs aufeinanderfolgende Zeitsignale erzeugenden elektronischen Impulskette über eine Torschaltung mit dem Eingang dieser Kette verbunden ist und infolgedessen sich stets wiederholende Folgen elektrischer Impulse liefert, daß auf das erste Zeitsignal(TO) ansprechende Schaltmittel eine elektronische Schalteinrichtung von einem ersten in einen zweiten Leitfähigkeitszustand und auf das dritte Zeitsignal (T2) ansprechende Schaltmittel vom zweiten in einen dritten Leitfähigkeitszustand überführen, während durch ein viertes Zeitsignal (T3) die Rückführung der elektronischen Einrichtung vom dritten in den ersten Leitfähigkeitszustand bewirkt wird, daß die Feststellung des jeweiligen Schaltzustandes der elektronischen Einrichtung durch einen Trigger erfolgt, der beim Erreichen des zweiten Leitfähigkeitszustandes ein erstes Ausgangssignal und beim Wiedererreichen des ersten Leitfähigkeitszustandes ein zweites Ausgangssignal erzeugt, daß mit dem Trigger gekoppelte, auf das zweite bzw. fünfte Zeitsignal (Tl bzw. T4) ansprechende Schaltmittel nach der Bildung des zweiten Zeitsignals (T1) die Bildung des ersten Ausgangssignals bzw. nach der Bildung des fünften Zeitsignals (T4) die Bildung des zweiten Ausgangssignals durch den Trigger verhindern, daß der Trigger-Ausgang mit zwei bistabilen Flip-Flops gekoppelt ist, von denen das eine beim Eintreffen des ersten Ausgangssignals und das andere beim Eintreffen des zweiten Ausgangssignals vom Ruhezustand in den Arbeitszustand übergeführt wird, daß mit Hilfe einer Koinzidenzschaltung der Schaltzustand des Flip-Flops überwacht wird, daß nur bei der Feststellung eines jeweils gleichen Schaltzustandes zur Durchführund eines neuen Prüfvorganges die zwischen dem Ausgang und dem Eingang der Impulskettenschaltung liegende Torschaltung geöffnet wird und daß durch auf das sechste Zeitsignal (T5) ansprechende Schaltmittel die Rückstellung der Flip-Flops in ihre Ausgangslage erfolgt.
18. Anordnung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Steuerelektrode eines Transistors eine durch das erste, dritte und vierte Zeitsignal (T0, T2, T3) beeinflußbare Steuervorrichtung gekuppelt ist, durch die bei der Aufnahme des ersten Zeitsignals der Transistor vom nichtleitenden Zustand in einen ersten und beim Eintreffen des dritten Zeitsignals in einen zweiten, verbesserten Leitfähigkeitszustand übergeführt wird, während beim Eintreffen des vierten Zeitsignals (T3) die Rückführung des Transistors aus dem zweiten, verbesserten Leitfähigkeitszustand in den nichtleitenden Ausgangszustand erfolgt, wobei die zur Erreichung des ersten Leitfähigkeitszustandes erforderliche Zeitspanne der Einstellzeit und die zur Erreichung des nichtleitenden Zustandes erforderliche Zeitspanne der Rückstellzeit des betreffenden Transistors entsprechen, daß ein erster Trigger ein erstes Trigger-Ausgangssignal anzeigt, daß die Einstellzeit des Transistors innerhalb der zwischen dem ersten und zweiten Zeitsignal (T0, Tl) liegenden Zeitspanne liegt, daß ein zweites Trigger-Ausgangssignal anzeigt, daß die Rückstellzeit des Transistors innerhalb der zwischen dem vierten und fünften Zeitsignal (T3, T4) liegenden Zeitspanne liegt, daß durch auf die erwähnten Trigger-Ausgangssignale ansprechende Schaltmittel beim Auftreten des ersten Trigger-Ausgangssignals ein Flip-Flop und beim Auftreten des zweiten Trigger-Ausgangssignals ein anderes Flip-Flop eines Flip-Flop-Paares vom jeweiligen Ausgangszustand in einen bestimmten Schaltzustand übergeführt wird, daß durch eine Koinzidenzschaltung festgestellt wird, ob sich beide Flip-Flops in dem betreffenden Schaltzustand befinden und damit sowohl die Einstellzeit als auch die Rückstellzeit des Transistors innerhalb der vorgeschriebenen Grenzen liegen, daß über die Koinzidenzschaltung entsprechende Anzeigemittel gesteuert werden und daß die wiederholte Bildung der Zeitsignale durch die Zeitimpulskette so lange erfolgt, wie die Schaltzeiten der zu prüfenden Transistoren den jeweiligen Soll-Werten entsprechen.

In Betracht gezogene Druckschriften: USA.-Patentschrift Nr. 2601492.