DE1210584B - Einrichtung fuer ein Mikroskop zur Abbildung beider Objektseiten in einem einzigen Sehfeld - Google Patents

Einrichtung fuer ein Mikroskop zur Abbildung beider Objektseiten in einem einzigen Sehfeld

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DE1210584B
DE1210584B DEJ26262A DEJ0026262A DE1210584B DE 1210584 B DE1210584 B DE 1210584B DE J26262 A DEJ26262 A DE J26262A DE J0026262 A DEJ0026262 A DE J0026262A DE 1210584 B DE1210584 B DE 1210584B
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DE
Germany
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sides
microscope
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imaging
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DEJ26262A
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English (en)
Inventor
Dr Med Gerhard Mueller-Mellage
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Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

  • Einrichtung für ein Mikroskop zur Abbildung beider Objektseiten in einem einzigen Sehfeld Die Erfindung betrifft eine Einrichtung für ein normales Mikroskop, durch die es möglich ist, zwei Seiten eines Objektes gleichzeitig zu betrachten und fotografisch aufzunehmen.
  • Es sind Vergleichsmikroskope als Vereinigung zweier Mikroskope mit je einem Objektiv und einem gemeinsamen Okular bekannt. Sie finden ihre Anwendung beim Vergleich verfälschter und einwandfreier Objekte bzw. bei der Oberflächenprüfung durchlaufender symmetrischer Objekte, wie Drähte, Rohre od. dgl. Diese Vergleichsmikroskope sind als Spezialmikroskope für den jeweiligen Verwendungszweck ausgebildet und gestatten es nicht, beliebige, anders geartete Objekte gleichzeitig von zwei Seiten her zu beobachten und fotografisch aufzunehmen. Ein weiterer Nachteil dieser Spezialmikroskope ist der verhältnismäßig hohe Aufwand an mechanischen Teilen, optischen Umlenkmitteln sowie deren Präzision, da für ein einwandfreies Arbeiten gleiche Verhältnisse in beiden vereinigten Mikroskopen Bedingung sind. Hinzu kommt noch, daß jedes Objektiv zweimal vorhanden sein muß, was die ganze Einrichtung nicht unwesentlich verteuert.
  • Zur weiteren Durchsetzung der Standardisierung bei der Herstellung von Mikroskopen und zur gleichzeitigen Behebung der geschilderten Mängel liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zu schaffen, die als Zubehör zu jedem Mikroskop auch die gleichzeitige Beobachtung und fotografische Aufnahme von zwei Objektseiten ermöglicht.
  • Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß eine Einrichtung verwendet wird, die aus einem Hohlspiegel und aus einer Beleuchtungseinrichtung besteht, wobei der Hohlspiegel an Stelle des Durchlichtkondensors einsetzbar und so angeordnet ist, daß es die dem Objektiv abgewandte Seite des Objektes neben dem direkt sichtbaren Objektbild im Sehfeld des Mikroskops abbildet, und die Beleuchtungseinrichtung Mittel zur Beleuchtung beider Seiten des Objektes enthält.
  • Der abbildende Strahlengang kann auch als stereoskopischer Strahlengang ausgebildet sein.
  • Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung ist im Schema in der Zeichnung dargestellt, und zwar zeigt F i g. 1 den Strahlenverlauf in Verbindung mit einem Stereoobjektiv und F i g. 2 die beidseitige Ansicht eines Objektes. Ein außerhalb der Mitte der Objektebene 1 befindliches Objekt 2 wird von einer Lichtquelle 3 in der Weise beleuchtet, daß zu einem Teil die Beleuchtungsstrahlen das ganze Objekt auf der oberen Fläche direkt treffen; während zu einem anderen Teil die Beleuchtungsstrahlen die vom Objekt unbedeckte Fläche der Objektebene durchdringen und von einem Planspiegel 4 derart zurückgeworfen werden, daß sie die untere Fläche des ganzen Objektes 2 beleuchten. Über einen Hohlspiegel 5 wird die untere Fläche des Objektes 2 wieder zurück in die vom Objekt unbedeckte Objektebene 1 abgebildet, so daß dort mittels eines Beobachtungssystems 6, das auch monokular sein kann, die obere Fläche 2' des Objektes direkt und das Bild der unteren Fläche 2" des Objektes zu betrachten ist. Die beiden Bilder erscheinen hierbei entsprechend der F i g. 2 nebeneinander und um 180° zueinander gedreht.

Claims (1)

  1. Patentanspruch: Einrichtung für ein Mikroskop zur Abbildung beider Objektseiten in einem einzigen Sehfeld, dadurch gekennzeichnet, daß sie aus einem Hohlspiegel und aus einer Beleuchtungseinrichtung besteht, wobei der Hohlspiegel an Stelle des Durchlichtkondensors einsetzbar und so angeordnet ist, daß er die dem Objektiv abgewandte Seite des .Objektes neben dem direkt sichtbaren Objektbild im Sehfeld des Mikroskops abbildet, und die Beleuchtungseinrichtung Mittel zur Beleuchtung beider Seiten des Objektes enthält.
DEJ26262A 1964-07-24 1964-07-24 Einrichtung fuer ein Mikroskop zur Abbildung beider Objektseiten in einem einzigen Sehfeld Pending DE1210584B (de)

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DE (1) DE1210584B (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3778131A (en) * 1970-04-21 1973-12-11 Western Electric Co Apparatus for microscopically inspecting opposite sides of objects
US3794404A (en) * 1970-04-21 1974-02-26 Western Electric Co Methods of microscopically inspecting opposite sides of objects

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3778131A (en) * 1970-04-21 1973-12-11 Western Electric Co Apparatus for microscopically inspecting opposite sides of objects
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