DE915156C - Mikroskop zur Untersuchung von Koerperoberflaechen nach dem Lichtschnittverfahren - Google Patents

Mikroskop zur Untersuchung von Koerperoberflaechen nach dem Lichtschnittverfahren

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Publication number
DE915156C
DE915156C DEZ624D DEZ0000624D DE915156C DE 915156 C DE915156 C DE 915156C DE Z624 D DEZ624 D DE Z624D DE Z0000624 D DEZ0000624 D DE Z0000624D DE 915156 C DE915156 C DE 915156C
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DE
Germany
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microscope
plane
eyepiece
exit pupil
objective
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Expired
Application number
DEZ624D
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Otto Eppenstein
Dr Clemens Muenster
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
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Publication date
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Mikroskop zur Untersudiung von Körperoberflädien nach dem Lichtschnittverfahren Um das bekannte Lichtschnittverfahren zur Untersuchung von Kbrperoberflächen durchzuführen, hat man sich bisher eines Mikroskops bedient, das ein optisches System der gebräuchlichen Art, also ein Okular und ein die Objektebene in der Okularbrennebene abbil dendes Mikroskopobjektiv, enthielt und mit einem abbilden den System verbunden war, das eine durch einen Spalt oder eine Schneide verkörperte Schattengrenze in der Objektebene abbildete. Dlas der Beobachtung dienende Mikroskopsystem und das die Schattengrenze abbildende optische System waren in getrennten Tuben gefaßt, die unter einem Winkel zueinander geneigt waren, der in der Regel größer als 600 und meist sogar 900 ,groß war. Als optisches System für die Abbildung der Schattengrenze wurde ebenfalls ein Mikroskopobjektiv benutzt. Da die Schnittpunkte der optischen Achse mit der Objektebene beider Objektive zusammenfallen müssen, müssen Objektive benutzt werden, die für einen verhältnismäßig großen freien Objektabstand bestimmt sind. Die Apertur eines derartigen Objektivs ist jedoch verhältnismaßig klein, und demgemäß ist die mit dem Mikroskop zu erzielende BildvergröBerung nur beschränkt. Überdies schließt der Raumbedarf der beiden zueinander geneigten Objektive dx Untersuchung von Oberflächen innerhalb enger Bohrungen von vornherein aus.
  • Die Erfindung dient dazu, diese Mängel zu vermeiden. Die Lösung der Aufgabe gelingt, wenn nach der Erfindung das der Beobachtung dienende Mikroskopobjlektiv zugleich als abbildendes System für die Abbildung des Objekts in der Okularbrennebene und der Schattengrenze in der Objektebene dient und ungefähr in der Ebene seiner Austrittspupilie ein Strahlenteilungssystem angebracht ist, welches die Austrittspupille halbiert und die Abbildungsstrahlen der Schattengrenze durch die eine Hälfte des Objektivs der Objektebene und die Abbiidungsstrahlen der Objektebene durch die andere Hälfte des Objektivs der Okularbrennebene zuführt. Bei dieser Benutzung nur eines gemein,-samen Objektivs für beide Strahlengänge steht nichts entgegen, ein Objektiv beliebig großer Apertur zu verwentden, so daß man, obwohl in jeder Richtung nur die halbe Apertur das Objektivs wirksam wird, bezüglich der Bildvergrößerung der genannten Beschränkung nicht mehr unterworfen ist.
  • Außerdem werden wegen des naturgemäß verhältnismäßig geringen Raumbedarfs eines einzigen Objektivs auch solche Objekte der Untersuchung zugänglich, die mit dem bekannten Gerät nicht untersucht werden konnten. Die Ausbildung des Strahlenteilungssystems kann verschieden sein. Beispielsweise kann man dieses System in Anlehnung an die bekannten Vertikalilluminatoren so ausbilden, daß es wenigstens eine Spiegelfläche enthält, welche die eine Hälfte der Austrittspupffle des Mikroskopobjektivs bedeckt. An Stelle dier Ausbildung als Spiegelsystem kann man jedoch aiuch ein System benutzen, das auf der ablenkenden Wirkung wenigstens eines brechenden Prismas beruht.
  • Es steht selbstverständlich nichts entgegen, das Strahlenteilungssystem statt in der Ebene der Austrittspupiile des Mikroskopobjektivs selbst in einer dazu konjugierten Ebene anzubringen, d. h. in einer Ebene, in weicher die Austrittspupille von einem Teil des optischen Beobachtungssystems abgebildet wird. Diese Auisführungsform eignet sich besonders für die Untersuchung von langen, engen Bohrungen und ist beispielsweise ohne weiteres möglich, wenn man als Mikroskopokular ein terrestrisches Okular benutzt, also ein Okular, in welchem ein zweites Bild des beobachteten Objekts mit Hilfe eines Umkehrsystems erzeugt wird. Ordnet man ein Kaollektivsystem ungefähr am Ort des vom Mikroskopobjektiv erzeugten umgekehrten Bildes an, welches vom Umloehrsystem als zweites Bild wiederum umgekehrt abgebildet wind, dann bildet das Kollektivsystem die Austrittspupille in der Nähe des Umkehrsystems ab. Die Anordnung des Strahlenteilungssystems an dieser Steile ändert nichts an der Teilung des Gerätes.
  • Überdies ist es auch möglich, das Objektbild mit dem Mikroskop auf einen Schirm oder eine lichtempfindliche Schicht zw projizieren, statt es mit Hilfe des Okulars subjektiv zu beobachten. Die Strahlenvereinigung bei der Abbildung des Objekts durch das Mikroskopobjektiv darf jedoch dabei bekanntlich nicht in der Brennebene des Projektionsokulars stattfinden, sondern muß in einer vor dieser Brennebene gelegenen Ebene geschehen, Idamit ein in endlicher Entfernung aufzufangendes Objektbild entsbeht.
  • In der Zeichnung sind vier Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt.
  • Abb. I zeigt das erste Beispiel in einem Mittelschnitt im Aufriß; Abb. 2, 3 und 4 geben die optischen Einrichtungen des zweiten, dritten und vierten Ausführungsbeispiels in schematischen Mittelschnitten wieder.
  • Das erste Ausführungsbeispiel (Abb. I) ist ein Mikroskop mit einem dreigliedrigen Mikroskopobjektiv a und zwei unter einem spitzen Winkel zueinander geneigt angeordneten Tuben und c. Ungefahr am Ort der Austrittspupille des Mikroskopobjektivs a befinden sich zwei gleiche Glaskeile d und e, die sich mit ihren brechenden Kanten be. rühren. Diese Berührungslinie teilt die Austrittspupille in zwei gleiche Teile. Der Tubus ist der Beobachtungstubus und ist mit einem zweilinsigen Okular 1 ausgestattet, in dessen Brennebene sich eine mit einer Marke zur Ausführung von Messungen am Objektbiid versehene Glasplatte g befindet. Der Tubus c dient der Beleuchtung und enthält eine mattiert Glasplatte h, deren untere Oberfläche im gleichen Abstand vom Mikroskopobjektiv a liegt wie die Markenebene der Glasplatte g und mit einer eine Hälfte bedeckenden, lichtundurchlässigen Schicht versehen ist. Vor der Mattscheitbeh befindet sich eine Glühlampen im Tubus c.
  • Die Glaskeile d und e lenken die beiden Hälften des aus dem Mikroskopobjektiv a austretenden Strahlenbündels in die Achsenrichtungen der Tuben b und c ab. Es entsteht auf der Markenebene der Glasplatte g ein vom Objektivs erzeugtes Bild eines in der Objektebene t liegenden Gegenstandes.
  • Die von der Glühlampen erleuchtete Mattscheibe k dient als sekundäre Lichtquelle, und die mit der Schicht i versehene Oberfläche wird vom Mikroskopobjektiv a auf der Objektebene I abgebildet. Die das Objektfeld durchquerende Kante des Bildes der Schicht wirkt als Schattergrenze und stellt den optischen Schnitt der in dieser Ebene liegenden Oberfläche des Objekts dar, durch dessen Beobachtung mit dem Tubus in bekannter Weise die Beurteilung der Beschaffenheit dieser Objektfläche möglich ist.
  • Dlas Mikroskop des zweiten Ausführungsbeispiels (Abb. 2) enthält wiederum ein Mikroskopobjektiv a und ein mit einer Glasplatteg ausgestattetes Okular f. Ungefähr in der Austrittspupille des Objektivs a befindet sich ein Dreiecksprisma m mit spiegelnder Hypotenusenfläche, welche die Hälfte der Austrittspupille bedeckt. Seitlich des Mikroskops ist ein beleuchteter Spalt n gegenüber dem Prisma m so vorgesehen, daß der Strahlenweg vom Spalt über das Prisma m zum Mikroskopobjektiv a dem Strahlenweg von diesem Objektiv zur Markenebene der Glasplatte g gleicht. Das dritte Ausführungsbeispiel (Abb. 3) unterscheidet sich von dem weben beschriebenen Beispiel lediglich dadurch, daß auch der Abbildungsstrahlengang im Mikroskop nicht geradlinig, sondern geknickt verläuft. Neben dem Prisma m befindet sich ein zweites, gleiches Prisma 0, dessen Spiegelfläche die andere Hälfte der Austrittspupille des Objektivs a bedeckt. Wie beim ersten Beispiel wird auch beim zweiten und dritten Beispiel eine Schattengrenze auf der Objektebene 1 erzeugt, die hierbei durch das vom Prisma m und der einen Hälfte des Objektivs a entwerfene Bild einer Kante des Leuchtspaltes n verkörpert wird. Die Beobachtung erfolgt durch das Okular f, auf dessen Glasplatte g die andere Hälfte des Objektivs e ein Bild der Objektebene entwirft.
  • Das Mikroskop des vierten Beispiels (Abb. 4) besteht gleichfalls aus einem Objektiv a und einem Okular f mit einer Glasplatte g. Dler Strahlengang des Mikroskops wird durch ein die gesamte Austrittspupille des Objektivs a bedeckendes Dreieckspnsmap mit spiegelnder Hypotenusenfläche abgelenkt. Auf die Lichteintrittsfläche dieses Prismas ist ein Glaskeil q so aufgekittet, daß seine brechenide Kante die Austrittspupille halbiert und der Keilq demnach die Hälfte dieser Pupille bedeckt.
  • Neben der Glasplatte g ist ein beleuchteter Spalten in der Weise angeordnet, daß die von ihm ausgehenden Lichtstrahlen durch das Prisma und den Glaskeil q hindurch einen Weg zum Objektive zurückzulegen haben, der dem Weg von diesem Objektiv durch das Prisma p zur Markenebene der Platte gleicht. Wie bei den beiden vorhergehenden Beispielen wird in der Objektebene 1 eine Schattergrenze erzeugt, die aus dem Bild einer Kante des Spaltes besteht, wobei die Abbiidungsstrahlen durch das Prisma p und den Keil q der einen Hälfte des Objektivs a zugeleitet werden, während die andere Oektivhälfte die Abbildung der Objektebene l in der Markenebene der Glasplatte g bewirkt.

Claims (3)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Mikroskop zur Untersuchung von Körperoberflächen nach dem Lichtschnittverfahren, dessen optisches System ein Okular, ein Mikro skopobjektiv, welches die Objektebene in der Okularbrennebene ab bildet, und ein abbildendes System enthält, welches eine durch einen Spalt oder eine Schneide verkörperte Schattengrenze in der Objektebene abbildet, dadurch gekennzeichnet, daß das Mikroskopobjektiv zugleich als abbildendes System für die Abbildung des Objekts in der Okularbrennebene und der Scbattengrenze in der Objektebere dient und ungefähr in der Eb-ene seiner Austrittspupille ein Strahlenteilungssystem angebracht ist, weiches die Austrittspupille halbiert und die Abbildungsstrahlen der Schattengrenze durch die eine Hälfte des Objektivs der Objektebene und die Abbildungsstrahl'en der Objektebene durch die andere Hälfte des Objektivs der Okularbermebene zufuhrt.
  2. 2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekemeichnet, daß das Strahlenteiiungssystem wenigstens eine Spiegelfläche enthält, welche die eine Hälfte der Austrittspupille des Mikroskopobjekdivs bedeckt.
  3. 3. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlenteilungssystem wenigstens ein brechendes Prisma enthält, welches die eine Hälfte der Austrittspupille des Mikroskopobjektivs bedeckt.
DEZ624D 1938-06-05 1938-06-05 Mikroskop zur Untersuchung von Koerperoberflaechen nach dem Lichtschnittverfahren Expired DE915156C (de)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3637283A (en) * 1970-07-06 1972-01-25 Olympus Optical Co Stereomicroscope with illumination by specularly reflected light
US5011243A (en) * 1986-09-16 1991-04-30 Laser Precision Corporation Reflectance infrared microscope having high radiation throughput
DE102005032246B4 (de) * 2005-07-09 2009-07-30 Hema Elektronik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung des Durchfahrtsprofils eines 3D-Objektes

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DE102005032246B4 (de) * 2005-07-09 2009-07-30 Hema Elektronik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung des Durchfahrtsprofils eines 3D-Objektes

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