DE1963604A1 - Mikroskopische Einrichtung zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten im Auflicht - Google Patents

Mikroskopische Einrichtung zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten im Auflicht

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DE1963604A1
DE1963604A1 DE19691963604 DE1963604A DE1963604A1 DE 1963604 A1 DE1963604 A1 DE 1963604A1 DE 19691963604 DE19691963604 DE 19691963604 DE 1963604 A DE1963604 A DE 1963604A DE 1963604 A1 DE1963604 A1 DE 1963604A1
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

Description

  • Mikroskopische Einrichtung zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten im Auflicht Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskop zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten im Auflicht.
  • Die bekannten Phasenkontrastverfahren haben für Auflichtuntersuchungen den Nachteil, daß das Objektiv gleichseStig auch als Kondensor wirkt und somit die Beleuchtungastrahlen durch das ObJektiv hindurchgehen.
  • Da die Beleuchtungsringbl@nde nicht körperlich in der Obektivbrennebene angeordnet sein kann> müßte diese mit Hilfe einer oder mehrerer Beleuchtungslinsen dorthin abgebildet werden, In derselben Ebene entsteht dann ein zweites Bild der Kingblende nach Reflexion der abbildenden Strahlen an der Objektoberfläche. Hier müßte also auch der Ihasenbelag angebracht werden, und es müßte das gesamte zur Beleuchtung der Objektoberfläche dienende Licht durch den Phasenbelag hindurchgehen. Da aber letzterer wegen der beabsichtigten Verstärkung der Phasenkontrastwirkung nur etwa 25 bis 30% des Lichtes hindurchläßt und - ohne A@@endung besonderer Hilfsmittel - den Rest überwiegend reflektiert, würde das verhältnismäßig lichtaohwache Phasenkontraßtbild durch daß am Phasenbelag beleuchtungsseitig reflektierte Licht vollkommen verschleiert werden. Um das zu vermeiden, ist es bekannt, entweder mit polarisationsoptischen Hilfsmitteln oder durch Spezialschichten hoher Absorption bei geringer Reflexion das Reflexlicht herabzudrücken oder das Phasenplättchen aus dem Beleuchtungsstrahlengang zu entfernen, bzw. bei geeigneten Objektivtypen dieses Phasenplättchen auf einer zur Zwischenbildebene hin genügend gewölbten Fläche einer in der Brennebene oder deren Nähe gelegenen Fläche einer Linse oder zusätzlichen Platte anzuordnen. Die praktische Durchführung der erstgenannten Möglichkeiten ist mit Lichtverlusten verbunden. Die sweite Möglichkeit läßt sich auf zweierlei Weise realisieren. Entweder mit Hilfe eines Zwiechenabbildungasystema, das ein Bild der Austrittspupille erzeugt, wo das Phasenplättchen angeordnet werden kann, oder dadurch, daß in dem 3eleichtungsstrahlengang das erste Bild der Ringblende von der Austrittspupille aus so weit in Richtung zum Objekt verschoben wird, daß ihr zweites Bild außerhalb des BeleuchtungsstrahlenganOes zu liegen kommt und dort das Phasenplättchen angeordnet wird, wobei der Abbildung strahlengang unverändert bleibt.
  • Die Möglichkeit mit der Zwischenahbildung ist zwar theoretisch einwandfr6i, aber sehr aufwendig, diese ein gut korrigiertes Zwiachenabbildungsßystem erfordert. Die Verschiebung des ersten Bildes der Ringblenden in Richtung zum Objekt bedeutet ein Abweichen vom KUhNerschen Beleuchtungsprinzip mit der Gefahr der nioht korrekten Ausleuohtung des Sehfeldes, insbesondere bei stärkeren ObJekttwen, was au einer ernsten Minderung der Bildqualität führt0 Bei Anordnung des Phasenplättchens auf einer stark gewölbten Fläche wird das Licht so am Phasenbelag reflektiert, daß kein Reflexlicht in die Zwischenbildebene gelangen kann. Im letzten Fall sindaber hinsichtlich ihres optischen auSbaues Spezialobjektive erforderlich.
  • Der Zweck der Erfindung ist es, diese den bekannten Einrichtungen anhaftenden Mangel zu beaeitisen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Phasenkontrasteinrichtung für Auflichtmikroskope zu schaffen> die unter Wahrung des Köhlerschen Beleuchtungsprinzips es mit einfachen Mitteln ermöglicht, Phasenkontrastbilder von guter Bildqualität und ausreichender Helligkeit ohne Reflexerscheinungen zu liefern.
  • Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß in oder in der -Nähe der hinteren Brennebene eines Phasenkontrastobjektivs ein Phasenplättchen mit einem Phasenbelag der Form angeordnet ist, daß das nach Reflexion an der Objektoberfläche in der Objektivbrennebene entstehende Bild der dem Phasenplättchen entsprechend gestalteten Aperturblende von Phasenbelag überdeckt wird, ährend das direkt durch die Beleuchtungsoptik erzeugte Bild der Aperturblende in einem vom Phasenbelag freien Bereich der Objektivbrennebene liegt.
  • Eine vorteilhafte Ausführung eraibt sich, wenn die Aperturblende und der Phasenbelag aus einem oder mehreren unterbrochenen Kreisrinben mit ungeradzahliger Symmetrie bestehen.
  • Wenn die Aperturblende und der Phasenbelag aus Sektoren mit ungeradzahliger Symmetrie bestehen, kann zur Veränderung der Beleuchtungsapertur eine in ihrer Größe veränderbare Kreisflächenblende vorgesehen werden.
  • Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, und zwar zeigt Fig. 1 einen, sich auf die Beleuchtungseinrichtung'und die Abbildung der Aperturblende beschränkenden Strahlengang eines Auflichtmikroskopes, Fig. 2 bis 4 Formen für die Phasenbeläge bzw. für die Äperturblenden und Fig. 5 die sich zu einem Ring ergänzenden zwei Bilder der Aperturblende gemäß Fig. 2 in der Objektivpupille.
  • Unter Beibehaltung des Köhlerschen Beleuchtungsprinzips wird die bisher übliche in Fig. 1 dargestellte Aperturblende 1 durch Blenden ersetzt, deren Gestalt den Shasenbelägen nach Fig. 2; 3 oder 4 entsprechen. Wie diese letztgenannten drei Figuren erkennen lassen, besitzen diese Blenden mehrere Öffnungen in ungerader Zahl, was auch für die in Fig. 3 dargestellte aus zwei konzentrischen Ringen bestehende Blende zutrifft, wo jeder Ring eine ungerade Zahl von Öffnungen enthält.
  • Gemäß Fig. 1 wird die im Beleuchtungsstrahlengang befindliche Aperturblende 1, die einer der Figuren 2 bis 4 entsprechen kann, durch eine Linse 2 in die Brennebene 3 eines Objektivs 4 abgebildet. Ein zweites Bild der Aperturblende 1 wird vom Objektiv 4 nach Reflexion an der Objektoberfläche 5 gleichfalls in die Ebene 3 abgebildet.
  • Dieses Bild ist aber infolge der ungeradzahligen Blendenöffnungen nicht mit der erstgenannten Abbildung deckungsgleich, sondern in seiner Symmetrie um 1800 gedreht.
  • In der Ebene 3 befindet sich ein PhasenplUttchen, dessen Phasenbelag 3' dem zweiten Bild der nach dort abgebildeten Aperturblende 4 entspricht. Durch diese Anordnung gehen die vom Objekt reflektierten Beleuchtungsatrahlen nicht durch den Phasenbelag 3> hindurch, so daß dadurch störendes Streulicht weitgehend vermieden wird, Dies ist in der Figur 5 dargestellt, in der die in der ersten Abbildung erscheinenden Öffnungen der Aperturblende 1 (entsprechend Fig. 2) als Pupillenbild des Beleuchtungsstrahlenganges mit a; b; c; d; e und diejenigen des zweiten Bildes nach der Reflexion am Objekt mit a; b'; c' d8; e' bezeichnet sind In der Pigur 2 ist eine Blendenform dargestellt, die aus einer Ringblende entstanden und bei der der Ring fünfmal, also ungeradzahlig durch Stege mit einer Breite im Winkelmaß von je 360 unterbrochen ist. Bei einer solchen Blende wird die Intensität des Lichtes gegenüber einer Ringblende auf die Hälfte herabgesetzt. Eine Ausführung der Blende nach Fig, 3 liefert hingegen die gleiche Lichtintensität wie eine Ringbl@nd@.
  • Die in Fig. 4 dargestel,lte Blendenform besteht aus einer ebenfalls ungeraden Zahl von Sektoren, deren Anordnung den Vorteil bietet, daß zur Regulierung der Beleuchtung" apertur eine Irisblende oder eine andere auswechselbare Kreisflächenblende benutzt werden kann, ohne dadurch die Phasenkontraatwirkung wesentlich zu beeinflussen.
  • Mit Hilfe des vorliegenden Erfindungagegenstandes errecht man in sehr einfacher Weise unter Einhaltung des Köhlerschen Beleuchtungsprinzips ein -kontrastreiches> reflexfreies und gleichmäßig ausgeleuchtetes Bildfeld.

Claims (4)

  1. PatentansDrUche
    Mikroskop zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten im Auflicht mit einem Phasenkontrastobjektiv, bei dem in oder in der Nähe der hinteren Brennebene ein Phasenplättchen angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Phasenbelag auf dem Phasenplättchen (3) so angeordnet ist, daß das nach Reflexion an der Objektfläche (5) in der Objektivbrennebene (3) entstehende Bild der dem Phasenplättchen entsprechend gestalteten Aperturblende (1) vom T'hasenbelag überdeckt wird, während das direkte durch die Beleuchtungsoptik (2) erzeugte Bild der Aperturblende (1) in einem vom Phasenbelag freien Bereich (Fig. 5) der Objektivbrennebene liegt.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeehnet, daß die Aperturblende und der Phasenbelag aus einem oder mehreren unterbrochenen Kreisringen (Fig. 2 und 3) mit ungeradzahliger Symmetrie bestehen.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Aperturblende und der Phasenbelag aus Sektoren (Fig. 4) mit ungeradzahliger Symmetrie bestehen,
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Veränderung der Beleuchtungsapertur in ihrer Größe veränderbare Kreisflächenblenden vorgesehen sind.
    L e e r s e i t e
DE19691963604 1969-06-20 1969-12-19 Mikroskop zur kontrastreichen Darstellung .von Phasenobjekten im Auflicht Expired DE1963604C3 (de)

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DD14063169 1969-06-20

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE1963604A1 true DE1963604A1 (de) 1971-02-04
DE1963604B2 DE1963604B2 (de) 1975-04-03
DE1963604C3 DE1963604C3 (de) 1975-12-11

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ID=5481354

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5990813A (ja) * 1982-11-15 1984-05-25 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 落射型顕微鏡
WO1994010597A1 (de) * 1992-10-30 1994-05-11 Leica Mikroskopie Und Systeme Gmbh Verfahren und vorrichtung zur kontrastierung mikroskopisch zu untersuchender objekte
DE4418872A1 (de) * 1994-05-30 1995-12-07 Venus Max Sen Schachtbauelement, insbesondere für Kamine
US6179016B1 (en) 1998-12-04 2001-01-30 Crown Simplimatic Incorporated Filling machine assembly having a magnetic adjustment mechanism
DE102009003682B4 (de) 2009-03-26 2022-11-03 Jörg Piper Phasenkontrastmikroskop

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5990813A (ja) * 1982-11-15 1984-05-25 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 落射型顕微鏡
WO1994010597A1 (de) * 1992-10-30 1994-05-11 Leica Mikroskopie Und Systeme Gmbh Verfahren und vorrichtung zur kontrastierung mikroskopisch zu untersuchender objekte
US5708526A (en) * 1992-10-30 1998-01-13 Leica Mikroskopie Und Systeme Gmbh Process and device for contrasting objects to be microscopically examined
DE4418872A1 (de) * 1994-05-30 1995-12-07 Venus Max Sen Schachtbauelement, insbesondere für Kamine
DE4418872C2 (de) * 1994-05-30 1999-02-04 Venus Max Sen Schachtbauelement und daraus hergestellte Schächte oder Kaminkonstruktionen
US6179016B1 (en) 1998-12-04 2001-01-30 Crown Simplimatic Incorporated Filling machine assembly having a magnetic adjustment mechanism
DE102009003682B4 (de) 2009-03-26 2022-11-03 Jörg Piper Phasenkontrastmikroskop

Also Published As

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DE1963604C3 (de) 1975-12-11
DE1963604B2 (de) 1975-04-03
SU404040A1 (ru) 1973-10-26

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