DE102009003682B4

DE102009003682B4 - Phasenkontrastmikroskop

Info

Publication number: DE102009003682B4
Application number: DE102009003682.2A
Authority: DE
Inventors: gleich Patentinhaber Erfinder
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2009-03-26
Filing date: 2009-03-26
Publication date: 2022-11-03
Anticipated expiration: 2029-03-27
Also published as: DE102009003682A1

Abstract

Phasenkontrastmikroskop mit einer optischen Achse, bei dem aus einem von einer Lichtquelle ausgehenden Strahlengang mittels einer in einem Kondensor mit oder ohne Aperturblende vorgesehenen oder diesem nachgeschalteten Kondensorblende mindestens ein auf dem Mantel eines Hohlkegels liegendes, das Objekt schräg beleuchtendes Strahlenbündel zur Beleuchtung des Objekts ausgeblendet ist, bei dem das vom Objekt ausgehende Licht mittels eines Objektivs mit einer Phasenplatte in einem Zwischenbild, das mit einem Okular als Lupe betrachtet werden kann, abgebildet ist, wobei der Lichtdurchlass der Kondensorblende mindestens einen konzentrisch zur optischen Achse angeordneten segmentartigen Lichtdurchlass zum Ausblenden aufweist, und wobei die Phasenplatte mindestens einen konzentrisch zur optischen Achse angeordneten Bereich mit für die Objektdarstellung im Phasenkontrast notwendige Phasenverschiebungen eines bilderzeugenden Strahlenanteils bewirkender erhöhten optischen Dichte aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass der/die auf der Phasenplatte (12) vorgesehene/-nen Bereich/-e (12a...12n) erhöhter optischer Dichte einen Zentriwinkel höchstens 180° aufweist/-sen, so dass die Interferenz des bilderzeugenden Lichts (6.1), das aus einer oder aus mehreren diskreten Richtungen schräg zur optischen Achse kommt, mit dem Hintergrundlicht (6.2) die Darstellung auch nur schwach kontrastierender Einzelheiten des Objekts ermöglicht, wobei die Phasenplatte (12) im Objektiv (5) mehrere derartige Bereiche (12a ...12n) erhöhter optischer Dichte umfasst, die kreissektorförmig ausgebildet in ihrer optischen Dichte bzw. hiervon abhängigen Phasenverzögerungen differieren und der/die Zentriwinkel der Lichtdurchtrittsöffnung/-gen (11a ... 11n) der Kondensorblende (11) und/oder der Bereiche erhöhter optischer Dichte (12a ... 12n) der Phasenplatte (12) einstellbar ist/sind und optional zusätzlich der Zentriwinkel der Lichtdurchtrittsöffnung/-gen (11a ...11n) der Kondensorblende (11) höchstens 180° beträgt.

Description

Die Erfindung betrifft ein Phasenkontrastmikroskop mit einer optischen Achse, bei dem aus einem von einer Lichtquelle ausgehenden Strahlengang mittels einer in einem Kondensor mit oder ohne Aperturblende vorgesehenen oder diesem nachgeschalteten Kondensorblende mindestens ein auf dem Mantel eines Hohlkegels liegender, das Objekt „schräg“ beleuchtendes Strahlenbündel zur Beleuchtung des Objekts ausgeblendet ist, bei dem das vom Objekt ausgehende Licht mittels eines Objektivs mit Phasenplatte in einem Zwischenbild, das mit einem Okular als Lupe betrachtet werden kann, abgebildet ist, wobei der Lichtdurchlass des Kondensorblende mindestens einen konzentrisch zur optischen Achse angeordneten segmentartigen Lichtdurchlass zum Ausblenden aufweist, und wobei die Phasenplatte mindestens ein konzentrisch zur optischen Achse angeordnetes Segment mit für die Objektdarstellung im Phasenkontrast notwendige Phasenverschiebungen eines bilderzeugenden Strahlenanteils bewirkender erhöhten optischen Dichte aufweist.
Typische biologische Objekte bewirken eine natürliche Phasenverschiebung von nur etwa einer Viertelwellenlänge (λ/4); diese Phasenverschiebung ist ohne optische Hilfsmittel, z.B. bei Hellfeldbeleuchtung nicht adäquat sichtbar. Bei den konventionellen Phasenkontrastverfahren (positiver und negativer Phasenkontrast) ist der Phasenplatte optisch so ausgelegt, dass die Strahlen der Hintergrundbeleuchtung gegenüber den bildgebenden Strahlen, welche vom Objekt ihren Ausgang nehmen, so phasenverzögert werden, dass der resultierende Gangunterschied zwischen beiden Strahlenkomponenten eine halbe oder eine ganze Wellenlänge λ beträgt. Soll ein Gangunterschied von λ/2 erreicht werden, muss der Phasenplatte im Objektiv die Hintergrundstrahlen um eine dreiviertel Wellenlänge verzögern, wenn ein natürlicher Gangunterschied von λ/4 zu Grunde gelegt wird (¾ λ - ¼ λ = ½ λ, positiver Phasenkontrast). Dies wird dadurch erreicht, dass im Lichtdurchlass der Phasenplatte entsprechend optische Dichten vorgesehen sind. Damit in der gleichen Anordnung ein Gangunterschied von einer ganzen Wellenlänge erreicht wird, muss die Phasenverzögerung der Hintergrundstrahlen 1¼ λ betragen (1¼ λ - ¼ λ = λ, negativer Phasenkontrast). Folgerichtig sind die etablierten konventionellen Phasenkontrastverfahren technisch so ausgelegt, dass ein natürlicher Gangunterschied von einer Viertelwellenlänge in maximalem Kontrast dargestellt wird. Wenn der natürliche Gangunterschied, d.h., wenn die optische Dichtedifferenz zwischen Objekt und umgebendem Medium von diesem Leitwert abweicht und niedriger oder höher als λ/4 liegt, entsteht eine Abschwächung des Phasenkontrastes, da die im Phasenplatte zustande kommende Phasenverschiebung der Hintergrundstrahlen bei konventioneller technischer Auslegung nicht veränderbar ist und somit variablen natürlichen Gangunterschieden nicht angepasst werden kann.
Die konventionellen Phasenkontrastmethoden weisen aus technisch-physikalischen Gründen insgesamt mehrere Limitierungen auf:

- Begrenzter Kontrast bei sehr dünnen Objektanteilen mit minimalen Gangunterschieden: Bei sehr dünnen Objektanteilen mit minimalen Gangunterschieden zum umgebenden Medium ist der konventionelle Phasenkontrast hinsichtlich der Kontrastierung des Objektes begrenzt, so dass sich solche Strukturen bei ungenügender Phasenkontrast-Darstellbarkeit ggf. nicht mit befriedigendem Kontrast von der Umgebung abgrenzen.
- Halo-Phänomene: Typische Artefakte in Form heller oder dunkler, an Randkonturen von Zellen oder Organellen angrenzender Säume, welche die Qualität der Beobachtung einschränken können.
- Geringe Tiefenschärfe, ggf. auch geringe Konturschärfe: Im konventionellen Phasenkontrast kann keine Erhöhung der Tiefenschärfe oder sichtbare Verbesserung der Konturbetonung durch Verringerung der Beleuchtungsapertur erreicht werden; die Aperturblende des Kondensors muss
- - soweit vorhanden - im Unterschied zur Hellfeldbeleuchtung geöffnet bleiben.
- Ausgeprägte Abhängigkeit der Bildqualität vom Korrektionsaufwand der verwendeten Objektive:
- Unterschiede im Korrektionsaufwand der zur Verfügung stehenden Phasenkontrast-Objektive wirken sich nachhaltiger auf die Bildqualität aus als im Falle von Hellfeld- oder DunkelfeldBeleuchtung. Dies gilt sowohl für das Ausmaß der chromatischen Korrektur (Achromate versus Apochromate), als auch hinsichtlich des Ausgleichs sphärischer Abbildungsfehler (nicht plankorrigierte Objektive versus Planobjektive). Bei Hellfeldbeleuchtung können ggf. vorhandene optische Schwächen des Objektivs in begrenztem Maße durch moderate Verringerung der Beleuchtungsapertur (Schließen der Aperturblende) ausgeglichen werden.

Diese Möglichkeit besteht bei üblicher Phasenkontrastbeleuchtung nicht.
Die Objektdarstellung im Phasenkontrast erlaubt eine gesteigerte Erkennbarkeit sich lediglich durch geringe Unterschiede im Brechungsindex voneinander abhebender Strukturen eines Präparats. Dazu werden Gangunterschiede in den Lichtwegen des Phasenkontrastmikroskop erzeugt, die zur Interferenz gebracht werden, um diese Strukturen sichtbar werden zu lassen. Zur Durchführung werden Phasenkontrastmikroskope eingesetzt, deren Strahlengang im Kondensor mit einer Ringblende hohlkegelförmig ausgeblendet ist. Aus DE 10 2006 027 961 A1 ist ein Phasenkontrastmikroskop bekannt, bei dem zur Kontraststeigerung der Abbildung ein Strahlengang von der Lichtquelle über einen Kondensor mit einer den Strahlengang hohlkegelförmig begrenzenden Ringblende zum Objekt geführt ist, sowie von diesem über ein abbildendes Objektiv mit einer Phasenplatte zu einem Zwischenbild, das mittels eines Okulars als Lupe betrachtbar ist. Dabei wird zum Erreichen einer verbesserten Strukturdarstellung unter Vermeidung der Nachteile konventionellen Phasenkontrasts die LichtDurchtrittsöffnung der Ringblende der Blendenanordnung kreissektorförmig ausgebildet, so dass das objektbeleuchtende Licht zu einem auf dem Mantel eines Hohlkegels liegenden, sektorförmig begrenzten Lichtbündel ausgeblendet ist. Weiter ist aus DE 10 2007 029 814 A1 ein Durchlichtmikroskop mit Beleuchtungsapparat und Aperturblende, Tubus mit Objektiv und Okular sowie dem Objekt zwischen Beleuchtungsapparat und Objektiv bekannt. Um transparente Objekte bei variabler Kontrastierung in verbesserter Helligkeit und Auflösungsvermögen darstellen zu können, wird zur Beleuchtung des Objekts in der Beleuchtungseinrichtung mit einer Blende mit zentraler Blendenöffnung und peripherer Ringspaltöffnung ein Zentrallicht-Strahlenbündel und ein Peripherlicht-Strahlenbündel erzeugt und nach Durchgang der das Objekt beleuchtenden Strahlenbündel wird im Objektiv oder unmittelbar hinter diesem zumindest ein Teil eines der Strahlenbündel mit einem lichtabsorbierenden Element in seiner Phasenlage geändert.
So sind aus dem Stand der Technik gemäß der DE 19 63 604 A und der US 2,637,243 A mikroskopische Einrichtungen zur kontrastreichen Darstellung von Phasenobjekten bekannt. Diese weisen insbesondere Nachteile dahingehend auf, dass die Möglichkeit der Modulation hinsichtlich der Beleuchtungsart durch eine Justierbarkeit nicht gegeben ist, sodass insbesondere Objekte mit schwach abzeichnenden Konturen nicht sichtbar sind.
Ferner ist es aus der die JP S59- 90 813 A Beobachtung einer feinen, ungleichmäßigen Struktur eines reflektierenden Objekts durch ein Phasendifferenzverfahren bekannt. Hierbei wird eine Phasenplatte mit einem vorgeschriebenen Phasenfilm und einem absorbierenden Film in einem Bereich auf der Pupillenfläche einer Objektivlinse angeordnet, der komplementär zu einem Bereich ist, der mit einem Aperturteil einer Aperturblende auf einer Pupillenfläche konjugiert.
Hier setzt die Erfindung an, mit der die Nachteile des Standes der Technik überwunden und eine Möglichkeit geschaffen werden soll, die Beleuchtungsart zu modulieren. Die Lösung soll dabei einfach und wirtschaftlich herstellbar sein und sie soll dem Anwender eine einfach zu bedienende Möglichkeit an die Hand geben, Objekte in ihren auch sich nur schwach abzeichnenden Konturen bei optimiert angepasster Kontrastierung sichtbar zu machen.
Die Lösung dieser Aufgabenstellung ist für eine gattungsgemäße Anordnung eines Mikroskops durch die kennzeichnenden Merkmale des unabhängigen Hauptanspruchs definiert; vorteilhafte Weiterbildungen und bevorzugte Ausführungsformen beschreiben die abhängigen Unteransprüche.
Die Phasenplatte des Objektivs weist zumindest zwei Segmente mit einem Zentriwinkel kleiner 180° auf. Ein solches konzentrisch zur optischen Achse angeordnetes Segment bewirkt die für die Objekt-Darstellung im Phasenkontrast notwendigen Phasenverschiebungen, wobei das Segment der Ringblende und das Segment der Phasenplatte zueinander korrespondierend angeordnet sind, so dass das objektbeleuchtende Lichtbündel auf dem Mantel eines Hohlkegels liegend einem hinsichtlich Zentriwinkel und Geometrie korrespondierenden Phasenplattensegment angepasst ist. Bei einer vorteilhaften Ausführungsform beträgt der Zentriwinkel der Kondensorblende sowie des Phasenplatten-Segments der Phasenplatte höchstens 90°. Vorteilhaft wird ein Zentriwinkel mit einem Wert von über 15° vorgesehen, um die Lichtstärke der Abbildung und somit die verbleibende Beleuchtungsapertur in einem für die Beobachtung günstigen Bereich zu halten. Bei zweisegmentiger Phasenplatte bzw. zweisegmentiger Kondensorblende beträgt der Zentriwinkel nahezu 180°, bei viersegmentigen nahezu 90°, bei sechssegmentigen nahezu 60°, bei achtsegmentigen nahezu 45°, bei zwölfsegmentigen nahezu 30°. usw. Dabei berücksichtigt die Angabe „nahezu“ die mechanisch notwendigen Stege zwischen den Sektoren. Der jeweils maximal mögliche Zentriwinkel berechnet sich nach der Formel: 360°/Anzahl der Phasenplattensegmente. Durch diese Anordnung wird erreicht, dass sehr variable Modifikationen der Phasenkontrastbeleuchtung mit wechselnder Abbildungscharakteristik und Lichtstärke erzeugt werden können. Je kleiner der Zentriwinkel der einzelnen Segmente der Phasenplatte und der korrespondierenden Lichtringblende ausfällt, desto mehr unterschiedlich designte Phasenplattensegmente und/oder Beleuchtungsrichtungen können realisiert werden.
Hinsichtlich des Charakters des Phasenkontrastbildes gilt, dass, je größer das optisch relevante beleuchtende Kreissegment gehalten bzw. aus je mehr Richtungen das Objekt segmental beleuchtet wird, desto mehr das resultierende Bild dem konventionellen Phasenkontrast ähnelt, wohingegen, je schmaler der beleuchtende Lichtsektor ausfällt bzw. je mehr und folgerichtig kürzere segmentale Lichtsektoren zur Verfügung stehen, desto „schräger“ die resultierende Phasenkontrast-Beleuchtung sein wird. Wenn das beleuchtende Licht aus nur einer definierten Richtung zum Objekt geleitet wird, hat dies den Vorteil einer erhöhten Reliefdarstellung, allerdings den Nachteil einer gewissen Inhomogenität des Bilduntergrundes. Diese Inhomogenität kann vermieden werden, wenn die Objektbeleuchtung aus zwei oder mehr gegenüberliegenden bzw. symmetrisch angeordneten punktuellen Lichtdurchlässen erfolgt. Hierdurch wird allerdings der Reliefcharakter des resultierenden Bildes verringert zugunsten einer homogeneren Ausleuchtung.
Die Lichtstärke (= Beleuchtungsapertur) wird selbstredend durch die optisch wirksame Gesamtfläche der beleuchtungsrelevanten Lichtsektoren determiniert. Je geringer die Lichtstärke, desto höher liegen die nutzbare Tiefenschärfe bzw. Fokustiefe und die erforderliche Beleuchtungsintensität / Helligkeit der Lichtquelle. Dabei ist es vorteilhaft, wenn der/die Zentriwinkel von Kondensorblende und/oder des Phasenplatten-Segments der Phasenplatte einstellbar ist/sind. Dabei versteht es sich von selbst, dass eine solche Anpassung auch mit einem Satz Objektiven mit unterschiedlichen Phasenplatten und einem Satz korrespondierender Kondensorblenden erreicht werden kann. Um für laufende Untersuchungen ein Anpassen an die vorliegenden Bedingungen leicht zu ermöglichen, ist es dabei vorteilhaft, wenn Kondensorblenden mit gleichen oder unterschiedliche weiten Lichtdurchtrittsöffnungen und/oder objektivseitige Phasenplatten mit hinsichtlich Größe und/ oder optischer Dichte gleichen oder unterschiedlichen Segmenten um die optische Achse drehbar ausgebildet sind. Zur sicheren Bedienung ist es vorteilhaft, wenn die verdrehbare Kondensorblende bzw. Phasenplatte arretierbar ist. Dazu wird diese vorteilhaft als Revolverscheibeausgebildet.
Eine Weiterbildung wird darin gesehen, dass die Phasenplatte im Objektiv mehrere derartige Segmente umfasst, welche in geeigneter Symmetrie angeordnet, Phasenverschiebungen in unterschiedlichem Ausmaß bewirken. So kann die Kondensorblende so ausgebildet sein, dass das objektbeleuchtende Licht innerhalb des Lichtdurchlasses aus einem, zwei oder mehr einzelnen Strahlenbündeln gebildet ist. Dazu weisen die Kondensorblende und/oder die objektivseitige Phasenplatte vorzugsweise jeweils zwei oder mehr Segmente auf, so dass das objektbeleuchtende Licht innerhalb des sektoralen Lichtdurchlasses aus einem, zwei oder mehr einzelnen Strahlengängen gebildet ist.
Die bisher beschriebenen Ausführungsvarianten beziehen sich auf sektorförmige Unterteilungen der Phasenplatte, welche so gestaltet sind, dass innerhalb des jeweiligen Segments ein konstanter Gangunterschied besteht, wobei das Segment einen Zentriwinkel von höchstens 180° aufweist.. Alternativ lässt sich ein bis zu weitgehend stufenlos durchstimmbarer Phasenkontrast realisieren, wenn der Phasenplatte anstelle eines Profils mit treppenförmigen, aufeinander folgenden Stufen mit einem rampenförmig ansteigenden Profil versehen wird, so dass der Gangunterschied mit zunehmender Rampenhöhe kontinuierlich steigt. Wenn der korrespondierende kondensorseitige Lichtdurchlass entsprechend schmal und kleinflächig gestaltet wird, kann auch bei einer solchen technischen Auslegung ein hinreichend homogenes Bild entstehen. Die Homogenität der Ausleuchtung ist auch bei dieser Ausführungsvariante steigerbar, wenn die Phasenplatte mehrere, z. B. vier einander gegenüberliegende Rampen zu je 90° Bogenlänge enthält und der zugehörige kondensorseitige Lichtdurchlass mit vier über Kreuz angeordneten, einander gegenüberliegenden quasi-punktuellen Lichtdurchlässen versehen wird.
Sofern ein konventioneller Phasenkontrast mit einer 360°-Objektbeleuchtung beibehalten werden soll, d. h. vorgesehen ist, den kondensorseitigen Lichtring, wie in 1 dargestellt, insgesamt für die Objektbeleuchtung zu nutzen, kann mit überschaubarem Aufwand auch eine grundlegend andere mechanische Lösung in Betracht kommen, wenn mehrere Phasenplatten unterschiedlicher optischer Dichte auf einem kleindimensionierten Blendenschieber angeordnet werden, wie er in etwas größerer Ausführung beispielsweise als einführbarer Schieber in der Polarisations- und Interferenzkontrast-Mikroskopie etabliert ist. Selbstredend kann stattdessen auch eine drehbare Revolverscheibe in ein hierfür designtes Phasenkontrastobjektiv integriert werden, welche mehrere solcher Phasenplatten als Set beinhaltet, vergleichbar einer miniaturisierten Ausführung einer Lichtblendenscheibe in einem Phasenkontrast-Universalkondensor. Je nach Anzahl der wechselbaren Phasenplatten lassen sich unterschiedlich viele Kontrastierungsvarianten bei jeweils erhaltener allseitiger 360°-Beleuchtung erreichen.

Aus den vorausgehenden Darstellungen folgt, dass zu jedem real vorhandenen natürlichen Gangunterschied zwischen Objekt und umgebendem Medium eine korrespondierende Phasenplatte konzipiert werden kann, welcher dergestalt als Phasenbremse wirkt, dass der resultierende Gangunterschied zwischen den bildgebenden Strahlen und Hintergrund-Strahlen eine halbe bzw. eine ganze Wellenlänge beträgt, je nachdem, ob positiver oder negativer Phasenkontrast realisiert werden soll. Tabelle 1 zeigt hierauf basierende Berechnungsbeispiele für reale Gangunterschiede zwischen Objekt und Medium in einem Bereich von 0,10 bis 0,40 λ. Tabelle 1: Optimale Phasenverzögerungen von Phasenplatten für positiven und negativen Phasenkontrast in Abhängigkeit von dem vorherrschenden natürlichen Gangunterschied zwischen Objekt und umgebendem Medium.

Gangunterschied Objekt-Medium	Phasenverzögerung im Phasenring - positiver Phasenkontrast	Phasenverzögerung im Phasenring - negativer Phasenkontrast
0,10 λ	0,60 λ	1,10 λ
0,15 λ	0,65 λ	1,15 λ
0,20 λ	0,70 λ	1,20 λ
0,25 λ	0,75 λ	1,25 λ
0,30 λ	0,80 λ	1,30 λ
0,35 λ	0,85 λ	1,35 λ
0,40 λ	0,90 λ	1,40 λ

Selbstredend können die in dieser Tabelle beispielhaft dargestellten optischen Auslegungen optimierter Phasenplatten in letztlich beliebiger Weise modifiziert werden, je nachdem, wie hoch der jeweils vorherrschende natürliche Gangunterschied ausgeprägt ist. Vorteilhafte Werte für die Phasenverzögerung zeigt Tabelle 1: Da die Wege der zur Interferenz gebrachten Strahlenbündel unterschiedlich sind, lassen sich so Strukturen erkennen und voneinander abgrenzen, die sich voneinander lediglich geringfügig im Brechungsindex unterscheiden.
Dazu ist die Kondensorblende, die ein oder mehrere konzentrisch zur optischen Achse ausgerichtete, in ihrer Geometrie kongruent zu den Phasenplattesegmenten angeordnete sektorale oder punktuelle Segmente enthält, um die optische Achse drehbar vorgesehen. So lässt sich das Einstellen vereinfachen. Vorteilhaft ist dabei auch die objektivseitige Phasenplatte mit Segmenten erhöhter optischer Dichte um die optische Achse drehbar vorgesehen. Um die Einstellung fixieren zu können, ist die verdrehbare Kondensorblende bzw. Phasenplatte in ausgewählter Stellung arretierbar. Bevorzugt ist dabei die Kondensorblende bzw. Phasenplatte als Revolverscheibe ausgebildet. So können nach Wahl des Anwenders unterschiedliche Segmente der Phasenplatte von den beleuchtenden Strahlenbündeln angesteuert werden. Zweckmäßigerweise sind Arretierungen der drehbar im Kondensor angeordneten Kondensorblende, entsprechend den verschiedenen möglichen Einstellungspositionen, vorzusehen
Zum optischen Einrichten von Beleuchtungsapparatur und Objektiv dient - wie bei Phasenkontrastmikroskopen üblich - ein Einstellfernrohr. Dabei versteht es sich von selbst, dass unter Beibehaltung eines kreisförmigen Lichtdurchlasses und optisch homogener kreisförmiger Phasenplatte spezielle Phasenkontrastobjektive für variablen Phasenkontrast erstellt werden können, bei denen ein Set mehrerer Phasenplatten unterschiedlicher optischer Dichte auf einem Schieber oder einer geeignet gelagerten drehbaren Revolverscheibe im Objektiv integriert werden, so dass unterschiedliche optische Kontrastierungen durch Wechseln der Phasenplatte erreicht werden, indem jeweils ein anderer Phasenplatte in geeigneter Justierung in den Strahlengang eingebracht wird. Weiter versteht es sich von selbst, dass mit diesen Anordnungen auch Untersuchungen bei invertiertem Strahlengang (umgekehrtes Mikroskop) bzw. bei invertierter Objektbeleuchtung durchführbar sind. Zusätzlich kann die Anordnung der Beleuchtungseinrichtung mit Kondensor am Mikroskopstativ zum Variieren der Richtung und/oder des Einstrahlwinkels des das Objekt beleuchtenden Strahlenbündels kippbar ausgebildet sein. Dadurch kann Richtung und/oder Einstrahlwinkel des beleuchtenden Strahlenbündels variiert werden.
Mit vorstehend beschriebener Einrichtung des Phasenkontrastmikroskops lässt sich der Kontrast der damit erzeugten Bilder erheblich steigern. Die sektoral begrenzten Strahlenbündel werden zusammengeführt und erzeugen letztendlich das Bild, das mit dem Okular als Lupe betrachtet werden kann. Dabei liegen die von der Kondensorblende sektorierten Lichtbündel auf dem Mantel eines Hohlkegels und sie sind hinsichtlich Zentriwinkel und Geometrie den korrespondierenden Phasenplatten-Segmenten angepasst, so dass die für optisch basierte Phasenkontrastdarstellungen erforderliche Kongruenz von kondensorseitigen Lichtdurchlässen und objektivseitigen Phasenplatten stets gewährleistet ist.
Mittels spezieller Ausführungen des Mikroskopstatives im Hinblick auf die Beleuchtungsapparatur kann durch kontrolliertes Kippen der beleuchtenden Komponenten bei sicherzustellender bleibender optischer Kongruenz von Kondensorblende und Phasenplatte neben der Einstrahlrichtung zusätzlich auch der Einstrahlwinkel des beleuchtenden Strahlenbündels in Relation zur Position des Objektes verändert werden, wodurch weitere Variationen der erhältlichen dreidimensionalen Darstellung des Objektes realisiert werden können, wie auch bereits in DE 10 2006 027 961 A1 näher beschrieben.
Ist das Phasenkontrast-Objektiv für lange Arbeitsabstände und Glasdicken von Objektträgerstärke speziell gerechnet und korrigiert, kann durch eine Invertierung des Strahlenganges in Abhängigkeit von der Objektbeschaffenheit eine inverse Beleuchtung zur weiteren Intensivierung oder Modifizierung der dreidimensionalen Darstellung angewandt werden. Dabei passiert das beleuchtende Strahlenbündel zunächst das Deckglas, beleuchtet hernach schräg einfallend das Objekt und gelangt zuletzt durch den Objektträger zum Objektiv. Bei dieser inversen Beleuchtungsvariante können je nach Objekt Schattenwürfe auf der Oberfläche des Objektträgers entstehen, deren Ausdehnung der regionären Schichtdicke des Objektes proportional ist, was auch schon in DE 10 2006 027 961 A1 näher beschrieben ist.
Das Wesen der Erfindung wird beispielhaft an Hand der 1 bis 9 näher erläutert; dabei zeigen:

1: Konventioneller Phasenkontrast mit Kondensorblende und Phasenplatte nach Stand der Technik: Strahlengang eines Lichtmikroskops (schematisch) ;
2: Eine Abbildung des Standes der Technik: Konventioneller Phasenkontrast nach 1 Korrekte Justierung von Kondensorblende und Phasenplatte;
3: Modifizierter Phasenkontrast mit Kondensor-Lichtblende und Phasenplatte: Strahlengang eines Lichtmikroskops mit modifizierter Phasenplatte mit 2 Paar Segmenten(schematisch) ;
4: Modifizierter Phasenkontrast nach 3: Korrekte Justierung von sektoraler Lichtblende und Phasenplatte;
5: Einzelheit: Phasenplatte mit 2 Paar Sektoren mit angedeutetem Strahlengang bei zweiseitiger Objektbeleuchtung;
6: Modifizierter Phasenkontrast mit Kondensor-Lichtblende und Phasenplatte: Strahlengang eines Lichtmikroskops mit modifizierter Lichtblende mit 4 Einzel-Segmenten(schematisch) ;
7 Modifizierter Phasenkontrast nach 6: Korrekte Justierung von sektoraler Lichtblende und Phasenplatte;
8 Einzelheit: Phasenplatte mit 4 Einzel-Segmenten mit angedeutetem Strahlengang bei einseitiger Objekt-Beleuchtung;
9: Lichtdurchtrittsöffnungen von modifizierten Lichtblenden (unten) und segmentierten Phasenplatten (oben), jeweils unterschiedlich sektioniert (paarweise untereinander).

Der in den 1 und 2 dargestellte Stand der Technik zeigt den Strahlengang eines Lichtmikroskops mit konventionellem Phasenkontrast sowie die korrekte Justierung. Der Strahlengang verläuft (schematisch dargestellt) von der Lichtquelle 1 der Beleuchtungseinrichtung über eine Kondensorblende 2 mit vollringförmier Lichtdurchlassöffnung 2a, welche auf einer auswechselbar Kondensorblende 2 im Kondensor 3 angeordnet ist. Das austretende Licht 6 durchsetzt das Objekt 4. Vom Objektiv 5 werden die den Hintergrund bildenden Strahlen 6.1 und die das Bild erzeugenden Strahlen 6.2 zum Zwischenbild 8 gebündelt. Durch Interferenz mit dem Hintergrundlicht 6.1 erzeugt dabei der in seiner Phasenlage veränderte bilderzeugende Stahlenanteil 6.2 den erhöhten Kontrast. Dabei wirkt die in der hinteren Brennebene des Objektivs 5 angeordnete Phasenplatte 7 als „Phasenschieber“. Das so erzeugte Zwischenbild 8 kann durch das als Lupe wirkende Okular 9 vom menschlichen Auge 10 betrachtet werden. Daher tritt die Bilderzeugung nur dann vollkommen ein, wenn die Kondensor blende 2 im Kondensor 3 und die Phasenplatte 7 hinsichtlich des Strahlenganges und der optischen Achse des Systems mit großer Genauigkeit justiert sind (2). Dabei durchdringt das durch den ringförmigen Lichtdurchlass in Hohlkegelform aus dem Kondensor 3 (360°-Beleuchtung) austretende, das Objekt 4 allseitig, d.h. über dessen gesamte Zirkumferenz, also aus 360°, beleuchtende Licht auch die Phasenplatte 7 allseitig. Diese Einstellung wird in einer aus der Phasenkontrastmikroskopie bekannten Weise überprüft und justiert (2).
Bei den in den 3 - 9 für den modifizierten Phasenkontrast dargestellten erfindungsgemäßen Veränderungen des vorbeschriebenen Strahlengangs ist die auswechselbare Kondensorblende 2 mit vollringförmiger Lichtdurchlassöffnung 2a im Kondensor 3 durch eine konzentrisch zur optischen Achse angeordnete Kondesorblende 11 ersetzt, die eine oder mehrere einander symmetrisch gegenüberliegend angeordnete punktuelle oder sichelförmige bzw. kreissektorförmige Licht-Durchtrittsöffnungen 11a ... 11n aufweist. Daher wird bei dieser Anordnung folgerichtig das Objekt 4 nur noch über ein singuläres oder einige relativ schmale Lichtbündel beleuchtet, welche(s) durch die betreffende(n) schmale(n), sektorale(n), sichelförmige(n) oder eiförmige(n) Austrittsöffnung(en) 11a gelangt. Zusätzlich ist die dem Objektiv 5 nachgeschaltete konventionelle Phasenplatte 7 durch eine modifizierte Phasenplatte 12 ersetzt, deren Lichtdurchtrittsbereiche mehrsegmentig umgestaltet sind. Dabei muss auch hier die Ausrichtung so erfolgen, dass die optischen Achsen von Kondensorblende 11 und Phasenplatte 12 zusammenfallen und das Bild der Lichtblende 11 konzentrisch im Ring der Phasenplatte 12 erscheint (4 und 7). Die Lichtdurchtrittsbereiche der Phasenplatte 12 besteht bei dieser Modifikation im Unterschied zu Phasenplatten 7 mit herkömmlichem Phasenkontrast aus mehreren Segmenten 12a ...12n, welche in geeigneter Reihenfolge und Gruppierung so aufeinander folgen, dass sich unterschiedliche Phasenverzögerungen ergeben. Je nachdem, welche der Segmente 12a ...12n der Phasenplatte 12 von den ein, zwei oder mehr korrespondierenden beleuchtenden Strahlenbündeln (5, 8) angesteuert werden, ergeben sich unterschiedliche Phasenverzögerungen des bildgebenden Strahlenanteils 6.2 zum Hintergrundlicht 6.1 und folglich auch unterschiedliche optisch wirksame Gangunterschiede zwischen Objektlicht und Bildhintergrund. Die Bildentstehung erfolgt ansonsten in gleicher Weise, wie bei einem Mikroskop mit konventionellem Phasenkontrast.
Bei der erfindungsgemäßen technischen Umgestaltung werden somit nicht mehr die gesamten Zirkumferenzen von Phasenplatte 12 und Kondensorblende 11 zur Bildentstehung genutzt, sondern nur begrenzte Kreissektoren variabler Bogenlänge. Jeder Kreissektor der Kondensor-Lichtblende 11 ist kongruent mit einem Kreissektor der Phasenplatte 12. Allerdings wird dabei nur ein begrenztes Segment der Phasenplatte zur Entstehung des Phasenkontrastbildes benutzt. Daher kann die Phasenplatte 12 in mehrere Kreisbogen-Segmente 12a...12n (9) untergliedert werden, die unterschiedliche Gangunterschiede bewirken, die je nach Stellung der Phasenplatte 12 gewählt werden können. Die Länge dieser jeweiligen Kreisbögen 12a... 12n der Phasenplatte 12 muss kongruent sein zu der Bogenlänge des kondensorseitigen sektorförmigen Lichtdurchlasses 11a ... 11n der Kondensorblende 11. Zweckmäßigerweise kann eine solche sektoral variabel strukturierte Phasenplatte 12 dadurch realisiert werden, dass nach Art eines treppenförmigen Schichtdicken-Zuwachses sukzessive Beschichtungen auf dem Phasenplatte 12 aufgetragen werden. Je dicker die jeweilige Beschichtung mit erhöhter optischer Dichte ist, desto größer wird die Phasenverzögerung sein. Selbstredend können auch unterschiedliche Materialien mit divergierender optischer Dichte verwendet werden. Wird nun der Lichtdurchlass 11a ... 11n der Kondensorblende 11 durch Rotation der Lichtblende 11 um die optische Achse jeweils so eingestellt, dass er ein definiertes Segment der untergliederten Phasenplatte 12 ausleuchtet, ergibt sich auf diese Weise ein mehrstufig variabler Gangunterschied.
Wenn eine solche Phasenplatte 12 z.B. in vier kreissektorförmigen Segmenten 12a, 12b, 12c, 12d (6, 7, 8) zu je nahezu 90° Bogenlänge untergliedert wird, können diese vier Sektoren mit unterschiedlich dimensionierten Segmenten ausgelegt werden, z.B. für konventionellen positiven und negativen Phasenkontrast und zwei von der Standardeinstellung abweichende Varianten (wie in den 6 bis 8 dargestellt.). Sofern der kreissektorförmige Lichtdurchlass singulär ist und einen Zentriwinkel von 90° nicht überschreitet, können bei dieser Ausführungsvariante insgesamt vier unterschiedliche Kontrastierungen erreicht werden. Das Objekt 4 wird jeweils aus einer Richtung von einem, maximal 90° umfassenden Lichtkonussektor schräg beleuchtet. Alternativ können mehrere Segmente mit übereinstimmendem Gangunterschied einander gegenüberliegend angeordnet werden. So können beispielsweise zweimal zwei 90°-Segmente gleicher Phasenverschiebung paarweise diametral gegenüberliegend auf einer Phasenplatte 12 angeordnet werden (3, 4, 5). Sofern die Kondensorblende 11 in passender Weise mit zwei ebenfalls einander gegenüberliegenden sektorförmigen Lichtdurchlässen bestückt wird, welche einen Kreisbogen von höchstens 90 ° umfassen, kann zwischen zwei Kontrastierungsvarianten gewechselt werden, wenn die Kondensorblende 3 jeweils so verdreht wird, dass beide Lichtdurchlässe 11a...11n mit einem passenden Paar zweier Phasenplattesegmente 11a...12n kongruent sind. In diesem Fall wird das Objekt aus zwei einander gegenüberliegenden Richtungen beleuchtet, wie in 3 dargestellt.
Grundsätzlich können auch kürzere Kreissegmente 12a ...12n eingesetzt werden, so dass je nach technischer Zielsetzung auch beispielsweise drei-, vier oder sechs-segmentige Phasenplatten 12 (in 9 angedeutet) erstellt werden können, welche eine entsprechend höhere Bandbreite unterschiedlicher Gangunterschiede realisieren lassen. In entsprechender Weise können auch drei oder mehr optisch identische Phasenplattesegmente 12a... 12n in geeigneter Symmetrie als Paar, Triplett oder Quartett auf der Phasenplatte angeordnet werden, wobei die lichtdurchlassenden Segmente 11a...11n der Kondensorblende 11 in analoger Symmetrie kongruent zu den korrespondierenden Phasenplattesegmenten 12a ...12n der Phasenplatte 12 zu gestalten und anzuordnen wären (9a-e: Phasenplatte oben, Kondensorblende unten). Im Einzelnen zeigen 9a eine Phasenplatte mit 2x2 Segmenten, 9b eine Phasenplatte mit 2x3 Segmenten, 9c eine Phasenplatte mit 2x6 Segmenten, 9d eine Phasenplatte mit 3x4 Segmenten und 9e eine Phasenplatte mit 4x3 Segmenten, wobei jeweils Segmentpaare gleichen Gangunterschiedes einander diametral gegenüberliegen. Der korrespondierende Lichtdurchlass der Kondensorblende 11 besteht aus zwei oder mehr Kreissektoren 11a, 11b etc. mit jeweils adäquater Bogenlänge (je nach Auslegung zu etwa 90°, 60° oder 30°). Diese Kondensorblende 11 ist vorteilhaft drehbar ausgebildet und mit Arretierungen versehen. Bei insgesamt drei Arretierungsmöglichkeiten können so beispielsweise drei Kontrastierungsvarianten gewählt werden, wobei das Objekt jeweils aus zwei Raumrichtungen beleuchtet wird (siehe 9b). 9 a bis 9e zeigen verschiedene Ausführungsbeispiele für mehrgliedrige Phasenplatten 12, deren einzelne Segmente 12a ... 12n mit entsprechenden Bogenlängen zwischen etwa 90° bei 2x2 Segmenten bis etwa 30° bei 4x3 Segmenten. Zugeordnet sind jeweils eine Kondensorblende mit 2 (91-c), 3 (9d) oder 4 (9e) lichtdurchlassenden Segmenten, so dass die entsprechenden Strahlengänge ausgeblendet werden können. Je nachdem, ob die zugeordnete Kondensorblende 11 mit zwei, drei oder vier sektoralen Lichtdurchlässen 11a ... 11n zu je 30° Bogenlänge ausgestattet sind, ergeben sich sechs, vier oder drei Kontrastierungsvarianten, wobei das Objekt 4 aus zwei, drei oder vier Richtungen beleuchtet wird (9 c-e).
Hinsichtlich des Charakters des Phasenkontrastbildes gilt, dass, je größer das optisch relevante beleuchtende Kreissegment 11a ... 11n gehalten bzw. aus je mehr Richtungen das Objekt 4 segmental beleuchtet wird, desto mehr das resultierende Bild dem konventionellen Phasenkontrast ähnelt, wohingegen, je schmaler der beleuchtende Lichtsektor sein wird bzw. je weniger Lichtsektoren 11a ... 11n zur Verfügung stehen, desto „schräger“ die resultierende Phasenkontrast-Beleuchtung ausfällt. Wird das beleuchtende Licht nach DE 10 2006 027 961 A1 aus nur einer definierten Richtung zum Objekt 4 geleitet, hat dies zwar den Vorteil einer erhöhten Reliefdarstellung, allerdings den Nachteil einer gewissen Inhomogenität des Bilduntergrundes. Diese Inhomogenität kann vermieden werden, wenn die Objektbeleuchtung aus zwei oder mehr gegenüberliegenden bzw. symmetrisch angeordneten punktuellen Lichtdurchlässen 11a ...11n erfolgt.
Sollte bei diesen Ausführungsvarianten die Kondensorblende 11 mit den jeweiligen Lichtdurchlässen 11a ... 11n nicht drehbar, sondern fest im Kondensor 3 montiert werden, kann alternativ dazu der variabel gestaltete Phasenplatte 12 im Objektiv 5 drehbar gelagert sein. Die hierfür erforderliche Drehfassung wäre analog zur Drehfassung einer objektivseitigen Irisblende oder entsprechend einer Drehvorrichtung zur Deckglaskorrektur vorzusehen.
Bei den beschriebenen Modifikationen des Strahlenganges wird das Objekt 4 nicht mehr aus 360° konzentrisch und allseitig von dem aus dem Kondensor 3 austretenden hohlkegeligen Lichtkonus 6 beleuchtet, sondern nur noch von den beleuchtenden Strahlen aus von der Lage des Lichtdurchlasses 11a .. 11n bestimmten Richtung, wobei das oder die beleuchtende(n) Strahlenbündel schrägwinklig auf das Objekt 4 treffen. Die Hintergrund-Strahlen 6.1 und die bilderzeugenden Strahlenanteile 6.2, die durch Beugung der Beleuchtungsstrahlen am Objekt 4 entstehen, werden wie üblich zum Objektiv 5 geleitet. Da allerdings die Beleuchtung aus einer oder nur einigen wenigen Richtungen erfolgt, gehen auch die bilderzeugenden Strahlen 6.2 vergleichsweise gebündelt zum Objektiv 5, so dass nicht mehr alle Flächenanteile der Linsen des Objektivs in gleichem Maße an der Bildgebung beteiligt sind.
Um die erfindungsgemäße Beleuchtung des Objekts 4 zu erreichen, wird die im oder am Kondensors 3 eingesetzte Kondensorblende 2 durch eine Kondensorblende 11 ersetzt, die auf einem Kreis um deren optische Achse mindestens eine Lichtdurchtrittsöffnung 11a aufweist, die einen Zentriwinkel von höchstens 90°, oder auch z.B. 60° oder weniger umfasst. Dabei versteht es sich von selbst, dass im Falle von zwei oder mehr Einzelöffnungen diese auf dem entsprechenden Umkreis angeordnet sind und ggf. einen entsprechend kleineren Zentriwinkel umfassen. Die Aperturblende (nicht näher dargestellt) des Kondensors 3 bleibt wie bei konventioneller Phasenkontrastbeleuchtung, sofern vorhanden, in geöffneter Position.
Sofern im Unterschied zum konventionellen Phasenkontrast das Objekt durch einen schräg auftreffenden Lichtstrahl nur aus definierter Richtung beleuchtet wird, resultiert eine an interferenzkontrastmikroskopische Bilder erinnernde höhere Dreidimensionalität der Darstellung. Diese räumlichen Effekte sind abhängig vom konkreten Relief des jeweiligen Objektes, d.h. den Schichtdicken-Unterschieden, wobei sich auch Faltungen von Zellmembranen entsprechend plastisch darstellen. Wenn ein Drehtisch verwendet wird, kann zudem die Beleuchtungsrichtung im Interesse einer optimierten Plastizität der dreidimensionalen Ausrichtung des Objektes - wie in DE 10 2006 027 961 A1 ausführlich dargelegt - angepasst werden. Indem dieser Beleuchtungsstrahl durch Drehen der Lichtringfassung kreisförmig verschoben wird, trifft er auf unterschiedliche Segmente der modifizierten Phasenplatte, wodurch, entsprechend der Anzahl unterschiedlicher Phasenplattesegmente, sodass zwischen verschiedenen Kontrastierungsvarianten gewechselt werden kann. Je höher die Anzahl der unterschiedlich phasenverzögernden Segmente auf dem Phasenplatte ist, desto mehr Einstellungsvarianten können durch konzentrisches Verdrehen der kondensorseitigen Lichtaustrittsöffnung realisiert werden.
Da bei einer aus einer oder wenigen Richtungen kommenden punktuellen Anleuchtung eines Objektes 4 die bildgebenden Strahlen 6.2 ebenfalls relativ punktuell durch die abbildenden Linsen des Objektivs 5 verlaufen, minimieren sich vorhandene Abbildungsrestfehler der verwendeten Objektive. Sofern Objektive nicht plankorrigiert sind, ergibt sich daher eine verbesserte Planität des mikroskopischen Bildes bei gleichzeitig erhöhtem Kontrast. Mit einem einfachen und preiswerten achromatischen Phasenkontrast-Objektiv lassen sich daher Bildqualitäten erreichen, die durchaus der Qualität höher korrigierter Planoptiken vergleichbar sind oder zumindest nahe kommen. Zusätzlich ergeben sich aus der im modifizierten Phasenkontrast stattfindenden Verringerung der Beleuchtungsapertur eine Steigerung der Tiefenschärfe bzw. vertikalen Auflösung und eine verbesserte Darstellung feiner Konturverläufe.
Bezugszeichenliste

01: Lichtquelle
02: Kondensorblende 2
02a: Lichtdurchtrittsöffnung 2a vollringförmig)
03: Kondensor 3
04: Objekt 4
05: Objektiv 5
06: beleuchtendes hohlkegeliges Licht 6
06.1: Hintergrundlicht 6.1
06.2: bilderzeugender Strahlenanteil 6.2
07: Phasenplatte 7
07a: Lichtdurchtrittsbereich7a (ringförmig)
08: Zwischenbild 8
09: Okular 9
10: menschlichen Auge 10
11: Kondensorblende (modifiziert)
11a.. 11n: sichelförmige bzw. kreissektorförmige Lichtdurchtrittsöffnung
12: Phasenplatte 12 (modifiziert)
12a.. 12n: sichelförmiger bzw. kreissektorförmiger Lichtdurchtrittsbereich

Claims

Phasenkontrastmikroskop mit einer optischen Achse, bei dem aus einem von einer Lichtquelle ausgehenden Strahlengang mittels einer in einem Kondensor mit oder ohne Aperturblende vorgesehenen oder diesem nachgeschalteten Kondensorblende mindestens ein auf dem Mantel eines Hohlkegels liegendes, das Objekt schräg beleuchtendes Strahlenbündel zur Beleuchtung des Objekts ausgeblendet ist, bei dem das vom Objekt ausgehende Licht mittels eines Objektivs mit einer Phasenplatte in einem Zwischenbild, das mit einem Okular als Lupe betrachtet werden kann, abgebildet ist, wobei der Lichtdurchlass der Kondensorblende mindestens einen konzentrisch zur optischen Achse angeordneten segmentartigen Lichtdurchlass zum Ausblenden aufweist, und wobei die Phasenplatte mindestens einen konzentrisch zur optischen Achse angeordneten Bereich mit für die Objektdarstellung im Phasenkontrast notwendige Phasenverschiebungen eines bilderzeugenden Strahlenanteils bewirkender erhöhten optischen Dichte aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass der/die auf der Phasenplatte (12) vorgesehene/-nen Bereich/-e (12a...12n) erhöhter optischer Dichte einen Zentriwinkel höchstens 180° aufweist/-sen, so dass die Interferenz des bilderzeugenden Lichts (6.1), das aus einer oder aus mehreren diskreten Richtungen schräg zur optischen Achse kommt, mit dem Hintergrundlicht (6.2) die Darstellung auch nur schwach kontrastierender Einzelheiten des Objekts ermöglicht, wobei die Phasenplatte (12) im Objektiv (5) mehrere derartige Bereiche (12a ...12n) erhöhter optischer Dichte umfasst, die kreissektorförmig ausgebildet in ihrer optischen Dichte bzw. hiervon abhängigen Phasenverzögerungen differieren und der/die Zentriwinkel der Lichtdurchtrittsöffnung/-gen (11a ... 11n) der Kondensorblende (11) und/oder der Bereiche erhöhter optischer Dichte (12a ... 12n) der Phasenplatte (12) einstellbar ist/sind und optional zusätzlich der Zentriwinkel der Lichtdurchtrittsöffnung/-gen (11a ...11n) der Kondensorblende (11) höchstens 180° beträgt.
Phasenkontrastmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Zentriwinkel der Lichtdurchtrittsöffnung/-gen (11a ... 11n) der Kondensorblende (11) und/oder des/der Bereichs/-che erhöhter optischer Dichte (12a ... 12n) der Phasenplatte (12) mindestens 15° beträgt.
Phasenkontrastmikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass Kondensorblende (11) und objektivseitige Phasenplatte (12) jeweils zwei oder mehr Lichtdurchtrittsöffnungen (11a... 11n) bzw. Bereiche erhöhter optischer Dichte (12a... 12n) aufweisen, so dass das Objektbeleuchtende Lichtbündel (6) innerhalb des sektoralen Lichtdurchlasses aus einem, zwei oder mehr einzelnen Strahlengängen gebildet ist.
Phasenkontrastmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Kondensorblende (11) um die optische Achse drehbar vorgesehen ist.
Phasenkontrastmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die objektivseitige Phasenplatte (12) um die optische Achse drehbar ausgebildet ist.
Phasenkontrastmikroskop nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die verdrehbare Kondensorblende (11) bzw. Phasenplatte (12) in ausgewählter Stellung arretierbar und als Revolverscheibe ausgebildet ist.
Phasenkontrastmikroskop nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Phasenplatte (12) einen oder mehrere Bereiche (12a... 12n) erhöhter optischer Dichte mit einem Zentriwinkel von höchstens 180° umfasst, deren optische Dichte mit Verdrehung stufenförmig oder quasi-kontinuierlich verlaufend ansteigt.
Phasenkontrastmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch eine kippbare Anordnung der Beleuchtungseinrichtung mit Kondensor (3) am Mikroskopstativ zum Variieren der Richtung und/ oder des Einstrahlwinkels des das Objekt beleuchtenden Strahlenbündels (6).