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Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Belichtung zur Herstellung
von Raster- und Halbtonfilmen nach Halbtonnegativen bzw.
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Farbauszügen in der Reproduktions-Fotografie Die Erfindung betrifft
ein Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Belichtung zur Herstellung von Raster-
und Halbtonfilmen nach Halbtonnegativen bzw. Farbauszügen in der Reproduktions-Fotografie,
bei dem von einer Negativbühne durch ein Vergrößerungsgerät oder eine Kamera ein
Negativ auf eine Arbeitsplatte od. dgl. projiziert wird und mit einem beim Arbeiten
mit Vergrößerungsgeräten bekannten, mit einem Anzeigegerät verbundenen Fotoelement
punktförmig das Projektionsbild ausgemessen wird.
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Das Verfahren und die Vorrichtung ist speziell für das Arbeiten mit
Kontakt- oder Glasgravurraster entwickelt.
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Bei der Belichtung mit einer Kamera oder einem Vergrößerungsgerät
beim Arbeiten mit oder ohne Kontaktraster auf Filmmaterial besteht die wesentliche
Schwierigkeit in der genauen Berechnung und Bemessung der Belichtungen, also der
Haupt- und Vorbelichtung. Dabei muß berücksichtigt werden, daß das Filmmaterial,
was für derartige Zwecke Verwendung findet, keine Belichtungsdifferenzen zuläßt.
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Demzufolge muß jeweils mit Tabellen errechnet bzw. durch Versuche
festgestellt werden, wie lange belichtet werden muß. Es ist aber auch nicht möglich,
die Haupt- und Vorbelichtung einmal einzustellen und nun dasselbe Material für die
verschiedensten Negative immer gleich zu belichten, da einerseits Blendenunregelmäßigkeiten
und der Vergrößerungsfaktor berücksichtigt werden müssen und, was wesentlicher ist,
die Negativdichtwerte unterschiedlich sind, ebenso wie Schwankungen der Lichtquelle
durch Spannungsschwankungen im Netz berücksichtigt werden müssen. Alle diese Faktoren
werden bei den vorbekannten Verfahren zur Herstellung von Raster- und Halbtonfilmen
durch komplizierte Rechnungen berücksichtigt und danach die Belichtung eingestellt,
insbesondere die sogenannte Vorbelichtung in ihrer zeitlichen Dauer berechnet. Ist
bei den vorbekannten Verfahren ein Unter- oder Überwert ermittelt, so ist das gesamte
belichtete Material unbrauchbar, da, wie bereits erwähnt, das dabei verwendete Filmmaterial
keine Belichtungsspanne zuläßt. Demzufolge wird bei den bisher bekannten Verfahren
sehr viel Material verbraucht und fortgeworfen.
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Ein weiterer wesentlicher Nachteil besteht darin, daß die belichteten
Rasterfilme nicht in einer Entwicklungsmaschine oder nach einem festen Zeitprogramm
entwickelt werden können, da bei sehr geringen Belichtungsabweichungen versucht
werden muß, durch die visuelle Beobachtung des Entwicklungsvorganges geringe Belichtungsungenauigkeiten
auszugleichen,
dadurch, daß etwas länger oder kürzer im Entwicklungsbad mit dem Rasterfilm verweilt
wird bzw. durch Schaukelbewegungen od. dgl. die Intensität der Wirkung der Chemikalien
erhöht oder verändert wird.
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Es ist zwar bereits vorgeschlagen worden zur Bestimmung der Belichtungszeit
beim Arbeiten mit einem Vergrößerungsgerät und mit Vergrößerungspapieren mit einem,
mit einem Anzeigegerät verbundenen Fotoelement punktförmig das Proj ektionsbild
auszumessen, wobei mit diesem Gerät lediglich festgestellt wurde, ob nun im vorliegenden
Fall ein weiches oder hartes Papier genommen werden soll und wie lange es belichtet
wird. Bei diesem vorbekannten Verfahren erfolgt nur eine einmalige Belichtung entsprechend
den ermittelten Werten, wobei aber Papiermaterial belichtet wird, was keine Haupt-und
Zusatzbelichtung benötigt.
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Beim Arbeiten in der Rasterfotografie besteht aber keine Auswahl
zwischen verschiedenen Materialien, sondern der verwendete Raster bewältigt nur
einen ganz bestimmten Kontrastumfang, und die Haupt-und Zusatzbelichtung muß genau
diesem Kontrastumfang angepaßt werden, d. h., die Hauptbelichtung richtet sich nach
der hellsten Stelle des projizierten Negativs und legt somit die obere Grenze fest,
während die Zusatzbelichtung der dunkelsten oder bedecktesten Stelle des Negativs
angepaßt wird und damit die untere Grenze exakt zieht. Damit wird das verwendete
Negativ durch Veränderung der Belichtungen absolut exakt in der oberen und unteren
Grenze dem Kontrastumfang des Rasters angepaßt.
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Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ohne sonst notwendige
genaue Berechnung und ohne Zuhilfenahme von Tabellen u. dgl. diese Grenzen
bei
der Einstellung der Haupt- und Zusatzbelichtung zu ziehen.
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Das erfindungsgemäße Verfahren besteht darin, daß zunächst die hellste
Stelle des projizierten Negativs mit dem mit einem Anzeigegerät verbundenen Fotoelement
gemessen und durch Veränderung der gegebenene Lichtmenge und Beobachtung des Anzeigegerätes
das Projektionslicht auf die gewünschte Lichtmenge, beispielsweise 100 O/o Raster-
oder Halbton eingestellt wird und weiterhin die Messung der dunkelsten oder bedecktesten
Stelle des Negativs durch Verschiebung des Fotoelementes erfolgt, wobei bei Fehlen
eines Minimalausschlages des Anzeigegerätes für beispielsweise 104/o Raster- oder
Halbton die fehlende Lichtmenge durch die Einschaltung einer zusätzlichen, stufenlos
veränderbaren, vorzugsweise Streulicht gebenden Lichtquelle erfolgt derart, daß
das Anzeigegerät den gewünschten Mindestausschlag exakt anzeigt, wonach mit der
derart einjustierten Vorrichtung die Belichtung des Filmmaterials in an sich bekannter
Weise eventuell durch einen Kontakt- oder Glasgravurraster hindurch erfolgt.
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Somit ist der wesentliche Vorteil erzielt, daß ohne komplizierte
Rechenarbeit lediglich durch Messen und Einstellen eines Gerätes die absolut exakte
Belichtung des jeweils herzustellenden Rasterfilmes bei einem ganz bestimmten Negativ
ermittelt werden kann, derart exakt sogar, daß keinerlei Verluste von Filmmaterial
mehr auftreten können.
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Ein weiterer wesentlicher Gedanke der Erfindung besteht darin, daß
die Belichtung des Filmmaterials, und zwar die Hauptbelichtung und die sogenannte
Vorbelichtung zu gleicher Zeit erfolgt, da die an sich bekannte übliche sogenannte
Vorbelichtung, die allerdings meistens als Nachbelichtung angewendet wurde, durch
die Zusatzbelichtung bei dem erfindungsgemaßen Verfahren ersetzt ist, wobei der
Vorteil erzielt ist, daß keine besondere Zeit für diese Belichtung notwendig ist.
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Die Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens
besteht darin, daß die Zusatzbelichtung die gleiche Farbtemperatur besitzt wie die
Lichtquelle für die Hauptbelichtung.
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Ferner besteht ein Gedanke der Erfindung darin, daß zwischen dem
mit beweglichen Kabel versehenen Siliciumfotoelement und dem die Lichtstärke anzeigenden
Mikroamperemeter ein die durch die Belichtung des Fotoelementes entstehende Fotogleichspannung
m Wechselspannung umformender elektronischer Meßumformer mit einer Rechteckspannung
von etwa 5 kHz und diesem nachgeschaltet ein stark gegengekoppelter Transistorverstärker
angeordnet ist, wobei am Verstärkerausgang ein Impedanzwandler mit Brückengleichrichtung
zur Betreibung des Mikroamperemeters vorgesehen ist.
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Die Ausbildung der Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen
Verfahrens ist verhältnismäßig preiswert, wobei die aufzuwendenden Kosten für dieses
Gerät innerhalb kürzester Zeit durch die Einsparung von sonst verschwendetem Filmmaterial
ausgeglichen wird.
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In den Zeichnungen ist ein Ausführungsbeispiel der Vorrichtung zur
Durchführung des Verfahrens dargestellt. Es zeigt F i g. 1 die Vorrichtung in Gebrauchsstellung,
F i g. 2 ein Ausführungsbeispiel der zusätzlichen Lichtquelle,
F i g. 3 ein Ausführungsbeispiel
des Meßgerätes, Fig. 4 die schematische Darstellung des Gerätes in Symbolen, F i
g. 5 ein Ausführungsbeispiel der Skalenmarkierung für die Herstellung einer Skala
des Mikroamperemeters vor Arbeitsbeginn.
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In Fig. 1 ist die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Durchführung des
Verfahrens schematisch dargestellt.
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Im oberen Teil der Vorrichtung befindet sich in an sich bekannter
Weise ein Vergrößerungsgerät 1 oder eine Kamera, je nachdem, womit nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren gearbeitet werden soll.
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Dieses Vergrößerungsgerät oder die Kamera 1 hat in an sich bekannter
Weise eine Negativbühne 2. Die in diesem Vergrößerungsgerät oder in der Kamera 1
vorhandene Lichtquelle ist in an sich bekannter Weise durch die Objektivblende regelbar
und in den Figuren nicht dargestellt. Auch die Blende bzw. die Reguliereinrichtung
für die Blende ist nicht näher dargestellt, da diese handelsüblich sind und für
die Erfindung keine wesentliche Rolle spielen. Durch die Blende 3 wird somit mit
gebündeltem Licht 4 ein beliebiges Negativ auf die Arbeitsplatte 5 projiziert.
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Auf der Arbeitsplatte 5 bzw. ihr irgendwie handlich zugeordnet, ist
ein mit einem an sich bekannten Mikroamperemeter oder Voltmeter 6 ausgestattetes
Gerät 7. Ein in Symbolen gezeichnetes Schaltbild des Gerätes 7 ist in Fig. 4 dargestellt
und wird nachfolgend noch beschrieben.
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Mit dem Gerät 7 mit dem Mikroamperemeter 6 od. dgl. über ein flexibles
Kabel 8 elektrisch verbunden, ist ein Siliciumfotoelement 9, das selbstverständlich
auch durch andere ähnlich wirkende Vorrichtungen ersetzt werden kann. Das Fotoelement
9 ist mit Handgriff 10 versehen und einer Fassung 11 und hat eine Lichtauffangfläche
von beispielsweise 1,5 1,5 mm. Die Leitung 8 ist vorzugsweise durch den Handgriff
10 geführt und somit hinsichtlich ihres Induktionsfeldes dem Fotoelement gegenüber
abgeschirmt. Der Mikroamperemeter 6 hat selbstverständlich eine Skalenbeleuchtung,
die nicht näher dargestellt ist.
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Zur punktförmigen Messung der hellsten bis zur dunkelsten Stelle
des projizierten Negativs dient, wie bereits erwähnt, das Siliciumfotoelement 9
od. dgl.
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Dabei wird die durch die Belichtung entstehende Leerlaufspannung zur
Messung benutzt. Diese Leerlaufspannung ist linear proportional der Beleuchtungsstärke
bzw. Belichtungsstärke bei der Messung.
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Die gewonnene, durch den Lichteinfall in das Fotoelement9 entstehende
Fotogleichspannung wird mit Hilfe eines elektronischen Meßumformes 12, der mit einem
Rechteckgenerator 18 elektrisch verbunden ist, mit einer Rechteckspannung von 5
kHz in eine Wechselspannung umgeformt. Diese wird im nachgeschalteten Transistorverstärker
13, der stark gegengekoppelt ist, auf die zur Messung erforderliche Spannung verstärkt.
Am Verstärkerausgang befindet sich ein Impedanzwandler 14 mit Brückengleichrichtung
zur Betreibung des Mikroamperemeters 6. Der normale, vom Netz abgenommene Strom
wird, wenn keine Batterie benutzt wird, in an sich bekannter Weise durch ein elektronisch
stabilisiertes Netzteil 15 stabilisiert, es kann auch dafür eine Batterie Verwendung
finden. Selbstverständlich kann das Gerät in seinem Inneren anders ausgebildet sein,
wesentlich
ist lediglich, daß das Fotoelement 9 oder eine ähnliche
Vorrichtung vorhanden ist, durch die die Lichtstärke gemessen wird und die Messung
auf einem Mikroamperemeter od. dgl. angezeigt wird.
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Zur Regelung der zusätzlichen Lichtgabe, vorzugsweise durch Streulicht,
ist, wie in F i g. 1 dargestellt, an der Kamera oder dem Vergrößerungsgerät 1 eine
Spezialleuchte 19 angeordnet. Diese Spezialleuchte hat handelsübliche, vorzugsweise
7-Volt-Glühbirnen für Streulicht und ist ausgestattet mit einem Blendenmechanismus,
wie in Fig. 2 dargestellt, zum Einstellen der Zusatzbelichtung (sogenannte Vorbelichtung).
Dieser Blendenmechanismus besteht aus einer einfachen konzentrisch zu der Anordnung
der Glühbirnen und deren Gehäuse 20 angeordneten Scheibe 21, die Ausschnitte 22
aufweist, die es ermöglichen, einerseits das von den Glühbirnen 23 gegebene Licht
voll durchstrahlen zu lassen oder die Glühbirnen allmählich durch Drehung in Pfeilrichtung
A mittels des Handgriffes 24 den Durchtrittsquerschnitt für das Licht zu verengen,
bis zum vollständigen Schließen. Es kann statt Blendenausschnitten je ein Graukeilfilter
Verwendung finden. Diese Spezialleuchte ist durch einen Widerstand stufenlos regelbar
anpaßbar an die Farbtemperatur der Hauptbelichtung.
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Vor dem eigentlichen Arbeiten mit dem bisher beschriebenen Gerät
ist ein Einjustieren des Gerätes auf den jeweils verwendeten Kontaktraster oder
den Glasgravurraster bzw. das verwendete Filmmaterial und die Art der Entwicklung
notwendig. Nachfolgend wird ein Beispiel gegeben: Als erstes muß der Kontrastumfang
des Kontaktrasters ermittelt werden. Zu diesem Zweck wird ein beliebiger abgestufter
oder stufenloser Halbtongraukeil in die Negativbühne 2 des Vergrößerungsgerätes
1 eingelegt und auf die Arbeitsplatte projiziert.
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Diese Arbeitsplatte kann selbstverständlich ein Kopierbrett, eine
Saugplatte, eine Mattscheibe einer Kamera od. dgl. sein. Nach dem Ausschalten der
gesamten Dunkelkammerbeleuchtung wird das Fotoelement derart auf die Arbeitsplatte
gelegt, daß die hellste Stelle des Graukeiles auf das Foto element trifft. Durch
Regulierung der Objektivblende 3 wird die Lichtblende so eingestellt, daß eine bestimmte
Belichtungszeit ohne Zusatzbelichtung genügt, um einen 1000/eigen Rasterton bei
einer bestimmten Entwicklungsart und einer bestimmten Entwicklungsart und einer
bestimmten Entwicklungstemperatur zu erhalten. Dieser Ausschlag des Instrumentes
wird festgehalten und mit der Zahl 100 versehen. In gleicher Weise muß die für diese
Lichtmenge, also für den Wert 100 erforderliche Belichtungszeit, wenn sie nicht
exakt berechnet ist, durch Proben ermittelt werden, und zwar derart, daß nach der
Entwicklung der Graukeilwert der gemessenen Stelle einen 100°/oigen Rasterton ergibt,
der in der Beschreibung mit 100°/o bezeichnet wird. Die so ermittelte Belichtungszeit
bleibt dann bestehen. Der entwickelte Rastergraukeil wird nun für die Ermittlung
der Einstellwerte auf der Skala des Instrumentes zugrunde gelegt.
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In Fig. 5 ist ein Ausführungsbeispiel der Einjustierung eines Gerätes
für verschiedene Entwicklungsarten gezeigt. Mit der Ziffer 25 ist der der Messung
zugrunde liegende normale projizierte Halbtongraukeil bezeichnet. Das Foto element
wird an der hellsten Stelle des projizierten Halbtongraukeiles 25 angesetzt, und
es werden Proben gemacht, bis zur
Erzielung eines fast vollständigen Schwarz, wie
die darunter angeordneten Rastergraukeile im Positiv 26, 27 und 28 zeigen. Dabei
sind die gleichbelichteten Positive 26, 27, 28 verschieden entwickelt, und zwar
z. B. : das Positiv 26 durch 3 Minuten Schaukeln und eine Entwicklertemperatur von
200 C; das Positiv 27 bei gleicher Belichtung wie 26 mit einer Entwicklung von 2
Minuten Schaukeln, 2 Minuten Stand, Entwicklertemperatur wie vor; und das Positiv
28 mit gleicher Belichtung wie die beiden vorhergehenden. Entwicklung 1 Minute Schaukeln.
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31t2 Minuten Stand. Verwendeter Raster ist dabei ein Grauraster.
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Wie aus der Gradationskurve 26 a bis 28 a jeweils ersichtlich, ergeben
die drei Entwicklungsarten auch verschiedene Gradationskurven. Durch diese Teste
wird ermittelt, wenn beispielsweise eine Belichtungszeit von 22 Sekunden ohne Vorbelichtung
gewünscht wird, dies also als Normalbelichtung angenommen wird, wie der Zeigerausschlag
des Instrumentes sein soll, um einen 10 IOOo/oigen Rasterton zu belichten. Um das
Gerät richtig einzustellen, werden für die verschiedenen Entwicklungsarten die einzelnen
Ausschläge des projizierten Halbtongraukeiles an den Stellen gemessen, die in den
drei Entwicklungsarten gleiche Rastertonergebnisse erbracht haben.
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Beim Durchmessen des projizierten Graukeiles unter dem Vergrößerungsgerät,
bei dem zunächst wieder der gleiche Lichtwert einzustellen ist wie bei der Belichtung
der Rastergraukeile, werden die Punktwerte oder Prozentwerte des jeweiligen Rastergraukeiles
0, 10, 50 und 100°/o an den entsprechenden Stellen des projizierten Graukeiles gemessen
und der Zeigerausschlag jeweils auf dem Instrument gekennzeichnet. Damit wird auch
festgelegt, wo 50t'io Raster liegt, 10e/o und 0. Bei dieser Messung wird der Halbtongraukeil
in gleicher Weise projiziert wie bei der Aufnahme der Rastergraukeile und die verschieden
entwickelten Rastergraukeile, deren Prozentwerte bereits festgelegt und gekennzeichnet
sind, derart auf die Arbeitsplatte gelegt, daß der Techniker das Fotoelement genau
an den Stellen des projizierten Halbtongraukeiles ansetzen kann, die ihm von den
entwickelten Rastergraukeilen als 0, 10, 50, 100% Rasterton angezeigt werden, und
zwar durch ihre Kennzeichnung. Durch diesen einmaligen Test können für alle weiteren
Rasterarbeiten die Einstellwerte für die jeweils erforderliche Belichtung vom Instrument
abgelesen werden bzw. derart reguliert werden, daß sie auf dem Instrument exakt
angezeigt werden. Für eine rationelle Arbeitsweise werden vorzugsweise nur vier
Einstellarten auf der Skala festgelegt, und zwar z. B. 100, 50, 10 und 0°/a, d.
h., daß eine Lichtmenge, die einen 1000/obigen Zeigerausschlag bewirkt auch einen
damit übereinstimmenden Rasterton belichtet, also ein Schwarz erzeugt, während eine
Lichtmenge. die einen 500/obigen Zeigerausschlag bewirkt, auch einen eigen Rasterton
bewirkt, entsprechend der dazugehörigen Entwicklungsart.
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Auf dem neuen Gerät sind lediglich die IN- und GN-Markierungen angegeben,
weil das feststehende Werte sind. Alle anderen im Beispiel angegebenen Markierungen
für die Rastertonwerte sind unabhängig vom Raster.
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Unter IN ist der Instrumenten-Nullwert zu verstehen, d. h., daß bei
ausgeschaltetem Instrument die Zeigernadel auf Null stehen muß.
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Unter GN ist der Geräte-Nullwert zu verstehen, d. h., daß bei eingeschaltetem
Gerät der Zeiger bei völlig abgedunkelter Zelle und nach 5 Minuten Anlaufzeit auf
dieser Markierung stehen soll.
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Ferner kann noch RN angegeben werden, und zwar nach den ermittelten
Proben, d. h. Raster-Nullwert, und ergibt einen nicht mehr brauchbaren spitzen Punkt.
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Die in F i g. 5 gezeigten Markierungen sind derart zu verstehen,
daß die strichpunktierten Linien zum Graukeil 26 gehören, die gestrichelten Linien
zum Graukeil 27 und die ausgezogenen Linien zum Graukeil28. Aus diesem Bild ist
auch ersichtlich, wie stark sich die einzelnen Werte im Verhältnis zur jeweils gewählten
Entwicklungsart verschieben.
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Nachdem so das Gerät einjustiert ist und vor allem der Mikroamperemeter
od. dgl. entsprechend markiert ist, ist die Arbeitsweise des Gerätes wie folgt:
Ein beliebiges Nagativ, das aufgerastert werden soll, wird in die Negativbühne 2
des Gerätes eingelegt und auf die Arbeitsplatte 5, vorzugsweise eine Saugplatte,
projiziert. Die Größe des Negativs wird entsprechend in an sich bekannter Weise
eingestellt.
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Zuerst erfolgt das Messen der hellsten Stelle des projizierten Negativs.
Ist an dieser Stelle ein 100obiger Rasterton erwünscht, so wird die Lichtmenge durch
die Blende des Objektivs derart einreguliert, daß die Skala den Wert 100 anzeigt,
der für die nachfolgende Entwicklungsart paßt. Wird nur ein 90zeiger Rasterton gewünscht,
so muß das Instrument selbstverständlich 90 anzeigen.
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Danach wird die dunkelste oder bedeckteste Stelle des Negativs gemessen,
die einen guten gesunden, etwa 106/oigen Rasterton belichten soll. Zeigt das Instrument
100/o an, so ist keine Vorbelichtung erforderlich. In diesem Fall entspricht das
Negativ genau dem Umfang des Kontaktrasters und der Entwicklungsart. Zeigt das Instrument,
und das ist im allgemeinen der Fall, weniger an, dann bedeutet das, daß an dieser
Stelle zu wenig Licht ankommt, um einen 1OB/oigen Rasterton zu belichten. Mit Hilfe
der stufenlos regulierbaren Vorbelichtungsspezialleuchte 19 wird die fehlende Lichtmenge
hinzugegeben, und zwar derart, daß das Instrument 106/o anzeigt. Danach ist es zu
empfehlen, den 500/obigen Rasterton zu kontrollieren, um festzustellen, ob die Tonabstufung
wunschgemäß richtig -verläuft und um eventuell auch die Entwicklungsart darauf abzustellen.
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Die sich ergebenden Lichtwerte bei der Kombination beider Lichtquellen
sind nur dann richtig, wenn diese zuvor in ihrer spektralen Farbzusammensetzung
aufeinander abgestimmt waren. Diese Einstellung ist nur einmal erforderlich.
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Der wesentliche Vorteil dieses Verfahrens besteht darin, daß durch
die Punktmessung bildwichtiger Details die Lichtquantitäten der Haupt- und Zusatzbelichtung
(sogenannte Vorbelichtung) genau aufeinander eingestellt werden können, so daß bereits
bei der Messung die gewünschten Rastertonwerte unter Berücksichtigung der gewünschten
Art der Entwicklung genau festgelegt sind. Ferner ist die Kombination des Kondensorlichtes
für Hauptbelichtung und des Streulichtes für die Zusatzbelichtung besonders günstig
für die Punktqualität der spitzen Rasterpunkte.
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Haben die Negative größtenteil eine einheitliche Gradation, werden
diese nach den für einen Raster
abgestimmten Lichtwerten der entsprechenden Entwicklungsart
entwickelt. Dies ist der Normalfall.
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Weichen die Negative in der Gradation voneinander ab und ist die gewünschte
Gradation nicht im Normalfall erzielbar, so ist nach der beschriebenen Arbeitsweise
die richtige Belichtung und Entwicklung leicht herauszufinden. Man kann also auf
eine gewünschte Gradationskurve des Rasterfilmes in der richtigen Weise Einfluß
nehmen. Es ist besonders der Fall, wenn z. B. auf Grund bestimmter Druckpapiersorten,
kräftiger Farbführung in der Maschine oder wenn der Auflagedruck in einer Vierfarbmaschine
erfolgt, Rasterfilme ganz bestimmter Gradation benötigt werden. Auch hier können
im Rahmen des Möglichen, wobei die Grenzen die Entwicklungsart und der Raster setzt,
die gewünschten Rasterwerte ermittelt und auf der Skala des Instrumentes die Art
der Entwicklung und die dafür erforderlichen Lichtwerte eingestellt werden. Ebenso
verfährt man, wenn z. B. von einem Negativ mehrere Farben, wie Grau und Tiefe oder
Ton und Tiefe, hergestellt werden sollen. Tontrennungen durch Tiefenmasken, Einbelichten
von Rastertonflächen, Nachbelichten bestimmter Bildpartien usw. werden durch das
erfindungsgemäße Gerät jeweils richtig belichtet.