DE1124734B - Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse - Google Patents

Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse

Info

Publication number
DE1124734B
DE1124734B DEM29096A DEM0029096A DE1124734B DE 1124734 B DE1124734 B DE 1124734B DE M29096 A DEM29096 A DE M29096A DE M0029096 A DEM0029096 A DE M0029096A DE 1124734 B DE1124734 B DE 1124734B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
gas
emission
maximum
analysis
gases
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEM29096A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Walter Koch
Friedrich Stricker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Max Planck Institut fuer Eisenforschung
Original Assignee
Max Planck Institut fuer Eisenforschung
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Max Planck Institut fuer Eisenforschung filed Critical Max Planck Institut fuer Eisenforschung
Priority to DEM29096A priority Critical patent/DE1124734B/de
Publication of DE1124734B publication Critical patent/DE1124734B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/69Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence specially adapted for fluids, e.g. molten metal

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

  • Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gas analyse, bei dem das Analysengas in einem evakuierten Gasentladungsraum, dessen Druck zwischen 0,01 und 5 Torr liegt, durch eine konstante Hochfrequenzentladung ionisiert wird, bei dem dann die Leuchterscheinung spektral zerlegt wird und bei dem schließlich die Intensitäten der für die ionisierten Gase charakteristischen Spektrallinien lichtelektrisch gemessen werden.
  • Es sind Verfahren obiger Art bekannt, nach denen man Zweikomponenten-Gasgemische spektroskopisch analysiert und dabei die Konzentration der Gaskomponenten aus den von einem Mikrophotometer aufgenommenen Schwärzungskurven der betreffenden Spektrallinien durch Vergleich mit entsprechenden Lichtnormalen bestimmt. Weitere Angaben und Druckschriftennachweise zum Stand der Technik sind in der deutschen Auslegeschrift 1087378 beschrieben. Hierin ist auch bereits vorgeschlagen worden, das vorgenannte Gasanalysenverfahren zur Bestimmung des in üblicher Weise durch Vakuum-Heißextraktion erhaltenen Sauerstoffs, Wasserstoffs und Stickstoffs von Metallschmelzen anzuwenden, wobei der Druck im Gasentladungsraum konstant gehalten wird. Dadurch kann die Gasanalyse von Metall-, insbesondere Stahlschmelzen, gegenüber den herkömmlichen Analysenverfahren dieser Art sehr viel genauer und schneller durchgeführt werden.
  • Versuche haben nun ergeben. daß die Lichtemsission aller untersuchten Gase bei konstantem Anregungsfeld einheitlich bei Drücken um ungefähr 10-'' Torr ein Maximum durchläuft. Diese Erkenntnis kann nun für eine wesentliche Vereinfachung der emissionsspektrometrischen Gasanalyse ausgenutzt werden, indem - ausgehend von dem eingangs erwähnten Verfahren - der Gasdruck im Gasentladungsraum erfindungsgemäß von einem Wert oberhalb auf einen Wert unterhalb des Maximums der Emission der qualitativ bekannten Analysengase gesenkt wird. Dabei kann insbesondere so verfahren werden, daß die zu analysierenden Gase dem Reaktionsgas eines Prozesses, z. B. dem Gas einer vakuummetallurgischen Anlage oder anderer chemischer Umsetzungen, laufend periodisch so entnommen und dem Gasentladungsraum zugeführt werden, daß dort für eine bestimmte Zeit jeweils ein Gasdruck oberhalb des Maximums der Emission entsteht, der dann auf einen Wert unterhalb des Maximus der Emission abgesenkt wird, ehe eine neue Gaszufuhr erfolgt.
  • Das Verfahren nach der Erfindung sei an Hand der Zeichnung erläutert, in der eine Analysenanordnung schematisch dargestellt ist, wie sie bereits in der deutschen Auslegeschrift 1087 378 abgebildet und auch beansprucht ist. Diese Analysenanordnung besteht im wesentlichen aus dem Extraktionsofen A, der Diffusionspumpe B, dem Gasentladungsraum C mit den Ein- und Ausgangsventilen D und E, der Hochfrequenzelektrode F, dem Druckmeßgerät G und dem SpektralgerätH mit nachgeschalteter Anzeige- bzw.
  • Registriereinrichtung.
  • Die Gase werden, aus dem Extraktionsofen A oder der Diffusionspumpe B kommend, zunächst bei einem Druck von >0,01 Torr in das Entladungsgefäß C eingelassen und der Druck dann durch Evakuieren über das VentilE auf <O,OlTorr gesenkt. Dabei durchlaufen die Intensitäten der Spektrallinien ihre Maxima. Die Maximal-Intensitäten entsprechen in den Gasgemengen der Konzentration der Gase. Sie werden getrennt lichtelektrisch gemessen und registriert.
  • Beim erfindungsgemäßen Verfahren ist es nicht mehr erforderlich, den Druck im Gefäß C konstant zu halten, was das unmittelbare Analysenverfahren wesentlich vereinfacht. Eine Messung der Gesamtgasmenge kann wie im Falle der deutschen Auslegeschrift 1 087 378 hinter dem Ventil E im Raum G auf bekannte Weise erfolgen.
  • Beim unmittelbaren Anschluß des Gerätes an eine vakuummetallurgische Anlage kann man die entweichenden Gase dadurch laufend analysieren, daß man durch das Ventil, das dann automatisch gesteuert wird, in rhythmischer Folge Gas einläßt, so daß der Druck im Raum C den Maximaldruck von etwa 0,01 Torr übersteigt. Danach wird durch das Ventil E das Gas bis auf Drucke unterhalb des Maximaldrucks laufend wieder abgezogen. Dadurch wird das Maximum der Emission in kurzen Zeitabständen immer wieder durchlaufen und so die Gaszusammensetzung laufend registriert und ihre Änderung verfolgt.
  • Diese kontinuierliche Gas analyse ist nicht nur bei Sauerstoff, Wasserstoff und Stickstoff, sondern auch bei einer Reihe weiterer Gase, z. B. Kohlensäure, Halogenen sowie einer großen Zahl von Verbindungen des Wasserstoffs mit Kohlenstoff, Stickstoff, Phosphor, Silizium und anderen sowie auch bei flüchtigen Verbindungen der Halogene in gleicher Weise anwendbar. Das Verfahren kann deshalb nicht nur zur Überwachung metallurgischer Reaktionen, sondern auch zur Überwachung chemischer Prozesse eingesetzt werden. Die Spektralbedingungen, insbesondere das Auflösungsvermögen der benutzten Spektralgeräte, müssen dabei den besonderen Bedingungen jeweils angepaßt sein.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse, bei dem das Analysengas in einem evakuierten Gasentladungsraum - dessen Druck zwischen 0,01 und 5 Torr liegt - durch eine konstante Hochfrequenzentladung ionisiert wird, bei dem dann die Leuchterscheinung spektral zerlegt wird und bei dem schließlich die Intensitäten der für die ionisierten Gase charakteristischen Spektrallinien lichtelektrisch gemessen werden, dadurch gekennzeichnet, daß der Gasdruck im Gasentladungsraum von einem Wert unterhalb des Maximums der Emission der qualitativ bekannten Analysengase gesenkt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zu analysierenden Gase dem Reaktionsgas eines Prozesses, z. B. dem Gas einer vakuummetallurgischen Anlage oder anderer chemischer Umsetzungen, laufend periodisch so entnommen und dem Gasentladungsraum zugeführt werden, daß dort für eine bestimmte Zeit jeweils ein Gasdruck oberhalb des Maximums der Emission entsteht, der dann auf einen Wert unterhalb des Maximums der Emission abgesenkt wird, ehe eine neue Gaszufuhr erfolgt.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Britische Patentschrift Nr. 628 824; USA.-Patentschrift Nr. 2577814; Kohlrausch, Praktische Physik, 19. Auflage, 1951, Bd. II, S. 354; Physikalische Zeitschrift, 33 (1932), S. 72.
DEM29096A 1955-12-19 1955-12-19 Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse Pending DE1124734B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEM29096A DE1124734B (de) 1955-12-19 1955-12-19 Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEM29096A DE1124734B (de) 1955-12-19 1955-12-19 Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1124734B true DE1124734B (de) 1962-03-01

Family

ID=7300594

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEM29096A Pending DE1124734B (de) 1955-12-19 1955-12-19 Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1124734B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19651208A1 (de) * 1996-12-10 1998-06-18 Boehringer Ingelheim Kg Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von Spuren flüchtiger Stoffe

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB628824A (en) * 1946-09-03 1949-09-06 Edward Owen Powell Improvements in or relating to the detection and measurement of organic vapours
US2577814A (en) * 1946-02-27 1951-12-11 Dow Chemical Co Photoelectric instrument for direct spectrochemical analysis by the internal standard method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2577814A (en) * 1946-02-27 1951-12-11 Dow Chemical Co Photoelectric instrument for direct spectrochemical analysis by the internal standard method
GB628824A (en) * 1946-09-03 1949-09-06 Edward Owen Powell Improvements in or relating to the detection and measurement of organic vapours

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19651208A1 (de) * 1996-12-10 1998-06-18 Boehringer Ingelheim Kg Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von Spuren flüchtiger Stoffe
DE19651208C2 (de) * 1996-12-10 1999-05-27 Boehringer Ingelheim Kg Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Dichtigkeitsprüfung von mit Flüssigkeit gefüllten Behältnissen

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3918948C2 (de)
DE60223961T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Stickstoff in einem Gas
DE2520444B2 (de) Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung der Wasserstoffkonzentration in Argon gas
DE2647088A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum reinigen von oberflaechen
DE1589389B2 (de) Glimmentladungsroehre
DE2839315C2 (de) Verfahren zur Steuerung der Stahlherstellung
DE2237487C3 (de) Vorrichtung zur Bestimmung der Menge eines in einer metallischen Probe enthaltenen Gases sowie Verfahren zum Betrieb der Vorrichtung
DE2841224A1 (de) Gas-leckmessgeraet
DE2326596A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von gasgehalten
DE102009004398A1 (de) Gasanalyse-Verfahren sowie Gasanalyse-Vorrichtung
DE1124734B (de) Verfahren zur emissionsspektrometrischen Gasanalyse
DE1498975A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur quantitativen Gasanalyse
DE2120976B2 (de) Verfahren zur Analyse von organische Verbindungen enthaltenden Proben und Vorrichtung zu dessen Durchführung
DE1673308A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Kohlenstoffpotentials von Ofenatmosphaeren bei Gluehoefen
DE1087378B (de) Verfahren und Anordnung zur spektrometrischen Gasanalyse
DE2213238A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum unterscheiden und aussondern von brennelementen von kernreaktoren
DE1255352B (de) Verfahren und Vorrichtung zur Sauerstoffschnellbestimmung in Metallen, insbesondere Staehlen
DE10050786A1 (de) Verfahren zur Partialdruck-Kalibrierung und Kalibriereinrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1124266B (de) Verfahren zur Pruefung von Vakuumanlagen auf Dichtigkeit
AT523258B1 (de) Verfahren zur Bestimmung von Isotopenverhältnissen
DE19811764A1 (de) Gewinnung von NH¶4¶+-Ionen
EP0281504B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Entgasungsbehandlung einer Stahlschmelze in einer Vakuumanlage
DE2313600C3 (de) Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung des Kohlenstoff- und Schwefelgehaltes von Metallen und Legierungen
DE704096C (de) Verfahren zur Gasanalyse
DE1124732B (de) Verfahren zur UEberwachung der Zusammensetzung der Atmosphaere in grosstechnischen Vakuumanlagen der chemischen und metallurgischen Industrie