DE112021000640T5

DE112021000640T5 - Magnetisches aufzeichnungsmedium

Info

Publication number: DE112021000640T5
Application number: DE112021000640.1T
Authority: DE
Inventors: Takeshi Takahashi; Katsunori Maeshima; Minoru Yamaga; Masaru Terakawa; Natsuki ICHISE; Tomoe Sato; Takashi Kataguchi; Atsuya Towata; Kimihiro Ozaki; Akihiro Matsumoto
Original assignee: Sony Group Corp
Current assignee: Sony Group Corp
Priority date: 2020-01-21
Filing date: 2021-01-20
Publication date: 2022-11-17
Also published as: JPWO2021149716A1; US20230075546A1; WO2021149716A1

Abstract

Bereitgestellt wird ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, das in der Lage ist, sowohl die Verbesserung elektromagnetischer Umwandlungseigenschaften als auch die Sicherstellung einer hohen langfristigen Zuverlässigkeit zu erzielen. Das magnetische Aufzeichnungsmedium umfasst eine magnetische Schicht und eine Basis. Die magnetische Schicht enthält ε-Eisenoxid enthaltende magnetische Pulver. Ein Verhältnis (Hrp/Hc) der unter Verwendung eines Impuls-Magnetfeldes in einer senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums gemessenen Restkoerzitivkraft (Hrp) zu einer senkrechten Koerzitivkraft (Hc) des magnetischen Aufzeichnungsmediums beträgt 2,0 oder weniger. Eine Sättigungsmagnetisierung (Mst) pro Flächeneinheit des magnetischen Aufzeichnungsmediums beträgt 4,5 mA oder mehr.

Description

Technisches Gebiet
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf ein magnetisches Aufzeichnungsmedium.
Hintergrundtechnik
Ein bandförmiges magnetisches Aufzeichnungsmedium wurde weithin verwendet, um elektronische Daten zu speichern. Beispielsweise schlägt PTL 1 ein magnetisches Aufzeichnungsmedium mit ausgezeichneten elektromagnetischen Umwandlungseigenschaften in einer Hochtemperaturumgebung vor.
Zitatliste
Patentliteratur
PTL 1: Internationale Veröffentlichung Nr. WO 2018/203468
Zusammenfassung der Erfindung
Im Übrigen erwartet man, dass solch ein bandförmiges magnetisches Aufzeichnungsmedium eine hohe langfristige Zuverlässigkeit aufweist, während gleichzeitig elektromagnetische Umwandlungseigenschaften verbessert sind.
Daher ist es wünschenswert, ein magnetisches Aufzeichnungsmedium bereitzustellen, das in der Lage ist, sowohl eine Verbesserung elektromagnetischer Umwandlungseigenschaften als auch eine Sicherstellung einer hohen langfristigen Zuverlässigkeit zu erzielen.
Ein magnetisches Aufzeichnungsmedium gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung umfasst eine magnetische Schicht und eine Basis. Die magnetische Schicht enthält ε-Eisenoxid enthaltende magnetische Pulver. Ein Verhältnis (Hrp/Hc) einer unter Verwendung eines Impuls-Magnetfeldes in einer senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums gemessenen Restkoerzitivkraft (Hrp) zu einer senkrechten Koerzitivkraft (Hc) des magnetischen Aufzeichnungsmediums beträgt 2,0 oder weniger. Eine Sättigungsmagnetisierung (Mst) pro Flächeneinheit des magnetischen Aufzeichnungsmediums beträgt 4,5 mA oder mehr.
Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung weist die oben beschriebene Konfiguration auf, die ermöglicht, sowohl eine Verbesserung elektromagnetischer Umwandlungseigenschaften als auch eine Verbesserung der thermischen Stabilität zu erreichen.
Figurenliste

[1] 1 ist eine Querschnittsansicht eines magnetischen Aufzeichnungsmediums gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung.
[2] 2 veranschaulicht schematisch ein Beispiel eines mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) in einer in 1 veranschaulichten magnetischen Schicht gemessenen Beugungsmusters wird.
[3A] 3A veranschaulicht ein Beispiel einer Magnetisierungskurve (M-H-Schleife) in der in 1 veranschaulichten magnetischen Schicht.
[3B] 3B veranschaulicht ein Beispiel einer Magnetisierungskurve (M-H-Schleife) in einer magnetischen Schicht als Referenzbeispiel.
[4] 4 ist eine schematische Querschnittsansicht einer Querschnittskonfiguration eines in der in 1 veranschaulichten magnetischen Schicht enthaltenen ε-Eisenoxid-Teilchens.
[5] 5 ist ein Kennlinien- bzw. charakteristisches Diagramm, das ein Beispiel einer Restmagnetisierungskurve zum Messen einer Restkoerzitivkraft im in 1 veranschaulichten magnetischen Aufzeichnungsmedium veranschaulicht.
[6] 6 ist eine schematische Querschnittsansicht, die eine Querschnittskonfiguration eines ε-Eisenoxid-Teilchens als Modifikationsbeispiel veranschaulicht.
[7] 7 ist eine Querschnittsansicht eines magnetischen Aufzeichnungsmediums als weiteres Modifikationsbeispiel. Modi zum Ausführen der Erfindung

Im Folgenden werden hierin einige Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung mit Verweis auf die Zeichnungen im Detail beschrieben. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Beschreibung in der folgenden Reihenfolge gegeben wird.

1. Hintergrund
2. Ausführungsform
- 2-1. Konfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums
- 2-2. Verfahren zum Herstellen eines magnetischen Aufzeichnungsmediums
- 2-3. Effekte
3. Modifikationsbeispiele

<1. Hintergrund>
Zunächst wird ein Hintergrund der Entwicklung der Technologie der vorliegenden Offenbarung beschrieben. Als in einer magnetischen Schicht eines magnetischen Aufzeichnungsmediums enthaltene magnetische Pulver wurde die Verwendung von ε-Eisenoxid untersucht. Ein Grund dafür besteht darin, dass eine Miniaturisierung magnetischer Pulver wünschenswert ist, um eine Aufzeichnung mit hoher Dichte auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium zu erzielen und das ε-Eisenoxid eine hohe Koerzitivkraft aufweist, selbst wenn das ε-Eisenoxid pulverisiert ist. Jedoch ist die Massenmagnetisierung des ε-Eisenoxids gering, und daher sind die Leistung und thermische Stabilität als das magnetische Aufzeichnungsmedium unzureichend. Es ist besonders zu erwähnen, dass es in einem Fall, in dem ein später zu beschreibendes Verhältnis Hrp/Hc 2,0 oder weniger beträgt, möglich ist, eine Abnahme der thermischen Stabilität zu vermeiden. Außerdem ist es in einem Fall, in dem das Verhältnis Hrp/Hc 2,0 oder weniger beträgt, möglich, eine Signalabschwächungsrate nach zehn Jahren, die später beschrieben werden soll, zu verbessern und eine langfristige Stabilität sicherzustellen. Die vorliegende Offenbarung schlägt daher beispielsweise ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vor, das sowohl eine Verbesserung der elektromagnetischen Umwandlungseigenschaften als auch eine Sicherstellung der langfristigen Stabilität erreicht, während eine das ε-Eisenoxid enthaltende magnetische Schicht übernommen wird.
<2. Ausführungsform>
[2-1. Konfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums 10]
1 veranschaulicht ein Beispiel einer Querschnittskonfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung. Wie in 1 veranschaulicht ist, umfasst das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 eine gestapelte Struktur, in der eine Vielzahl von Schichten gestapelt ist. Konkret umfasst das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 eine langgestreckte bandförmige Basis 11, eine Unterschicht 12, die auf einer Hauptoberfläche 11A der Basis 11 vorgesehen ist, eine magnetische Schicht 13, die auf der Unterschicht 12 vorgesehen ist, und eine rückseitige Schicht 14, die auf einer anderen Hauptoberfläche 11B der Basis 11 vorgesehen ist. Die magnetische Schicht 13 weist eine Oberfläche 13S auf, auf der sich ein Magnetkopf bewegen bzw. laufen soll, während er mit der Oberfläche 13S in Kontakt ist. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Unterschicht 12 und die rückseitige Schicht 14 je nach Bedarf vorgesehen sind oder weggelassen werden können. Es ist besonders zu erwähnen, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 vorzugsweise eine durchschnittliche Dicke von beispielsweise 5,6 µm oder weniger aufweist.
Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 hat eine langgestreckte bandförmige Form und lässt man in Aufzeichnungs- und Wiedergabevorgängen entlang seiner longitudinalen Richtung laufen. Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 wird vorzugsweise in einem Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät verwendet, das beispielsweise mit einem Kopf vom Ring-Typ als Aufzeichnungskopf versehen ist.
(Basis 11)
Die Basis 11 ist ein nichtmagnetisches Trägerelement bzw. -bauteil, das die Unterschicht 12 und die magnetische Schicht 13 trägt. Die Basis 11 hat die Form eines langgestreckten Films. Der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der Basis 11 beträgt vorzugsweise 4,2 µm oder weniger, bevorzugter 4,0 µm oder weniger. Falls der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der Basis 11 4,2 µm oder weniger beträgt, ist es möglich, die Speicherkapazität pro Datenkassette im Vergleich mit einem allgemeinen magnetischen Aufzeichnungsmedium zu erhöhen. Der untere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der Basis 11 beträgt vorzugsweise 3 µm oder mehr, bevorzugter 3,2 µm oder mehr. Falls der untere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der Basis 11 3 µm oder mehr beträgt, ist es möglich, eine Abnahme der Festigkeit der Basis 11 zu unterdrücken.
Die durchschnittliche Dicke der Basis 11 wird wie folgt bestimmt. Zunächst wird ein magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Zoll (Inch) präpariert und in eine Länge von 250 mm geschnitten, um eine Probe herzustellen. Danach werden die Schichten der Probe mit Ausnahme der Basis 11, d. h. die Unterschicht 12, die magnetische Schicht 13 und die rückseitige Schicht 14, mit einem Lösungsmittel wie etwa MEK (Methylethylketon) oder verdünnter Chlorwasserstoffsäure entfernt. Danach wird ein von Mitutoyo Corporation hergestelltes Messgerät, Laser Hologage (LGH-110C), verwendet, um die Dicke der Basis 11 als die Probe an fünf Punkten oder mehr zu messen. Danach werden die Messwerte einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Dicke der Basis 11 zu berechnen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Messpunkte auf der Probe zufällig ausgewählt werden.
Die Basis 11 enthält als primären Bestandteil zum Beispiel Polyester. Alternativ dazu kann die Basis 11 als den primären Bestandteil PEEK (Polyetheretherketon) enthalten. Die Basis 11 kann zusätzlich zu Polyester oder PEEK zumindest eines von Polyolefinen, Zellulose-Derivaten, Vinyl-basierten Harzen oder anderen Polymerharzen enthalten. In einem Fall, in dem die Basis 11 zwei oder mehr der oben beschriebenen Materialien enthält, können die zwei oder mehr Materialien gemischt, copolymerisiert oder gestapelt sein.
Die in der Basis 11 enthaltenen Polyester umfassen beispielsweise zumindest eines von PET (Polyethylenterephthalat), PEN (Polyethylennaphthalat), PBT (Polybutylenterephthalat), PBN (Polybutylennaphthalat), PCT (Polycyclohexylendimethylenterephthalat), PEB (Polyethylen-p-oxybenzoat) oder Polyethylenbisphenoxycarboxylat.
Die in der Basis 11 enthaltenen Polyolefine umfassen beispielsweise zumindest eines von PE (Polyethylen) oder PP (Polypropylen). Die Zellulose-Derivate umfassen beispielsweise zumindest eines von Zellulosediacetat, Zellulosetriacetat, CAB (Zelluloseacetatbutyrat) oder CAP (Zelluloseacetatpropionat). Die Vinyl-basierten Harze umfassen beispielsweise zumindest eines von PVC (Polyvinylchlorid) oder PVDC (Polyvinylidenchlorid) .
Die anderen Polymerharze, die in der Basis 11 enthalten sind, umfassen beispielsweise zumindest eines von PA (Polyamid, Nylon), aromatischem PA (aromatisches Polyamid, Aramid), PI (Polyimid), aromatischem PI (aromatisches Polyimid), PAI (Polyamidimid), aromatischem PAI (aromatisches Polyamidimid), PBO (Polybenzoxazol, beispielsweise Zylon (eingetragenes Warenzeichen)), Polyether, PEK (Polyetherketon), Polyetherester, PES (Polyethersulfon), PEI (Polyetherimid), PSF (Polysulfon), PPS (Polyphenylensulfid), PC (Polycarbonat), PAR (Polyarylat) oder PU (Polyurethan).
(Magnetische Schicht 13)
Die magnetische Schicht 13 ist eine Aufzeichnungsschicht, um Signale aufzuzeichnen, und enthält zum Beispiel Eisenoxid mit einer ε-Eisenoxid-Phase. Die magnetische Schicht 13 enthält beispielsweise magnetische Pulver, ein Bindemittel und ein Gleitmittel. Die magnetische Schicht 13 kann ferner je nach Bedarf einen Zusatzstoff bzw. ein Additiv wie etwa leitfähige Teilchen, ein abrasives Mittel und ein Rostschutzmittel enthalten.
Die magnetische Schicht 13 weist die ε-Eisenoxid-Phase auf, wodurch bewirkt wird, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 einen ersten Peak bzw. eine erste Spitze PK1 bei 32,9° und eine zweite Spitze PK2 bei 36,6° in einem Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) erzeugt, wie beispielsweise in 2 beispielhaft dargelegt ist. Es ist besonders zu erwähnen, dass 2 ein Beispiel eines Beugungsmusters des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 schematisch veranschaulicht, das mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) gemessen wird. Die Spitzenpositionen in dem in 2 veranschaulichten Beugungsmuster werden unter Verwendung einer beliebigen Analyse-Software analysiert, die einem Röntgenbeugungs-(XRD-)Gerät beigefügt ist. Zu dieser Zeit kann ein bestimmter, für die Analyse notwendiger Prozess, wie etwa eine Mittelwertbildung erhaltener Beugungsmuster, durchgeführt werden. Die erste Spitze PK1 bei 32,9° und die zweite Spitze PK2 bei 36,6° werden im Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) der magnetischen Schicht 13 detektiert, was angibt, dass die magnetische Schicht 13 die ε-Eisenoxid-Phase aufweist. Die magnetische Schicht 13 weist eine hohe senkrechte Koerzitivkraft Hc auf, da sie ε-Eisenoxid als magnetische Pulver enthält. Die XRD in der Ebene wird wie folgt gemessen. Eine Messprobe wird präpariert, indem ein beliebiger Datenbereich eines in einer Kassette aufgerollten Magnetbandes ausgeschnitten wird. Eine Größe der ausgeschnittenen Probe ist beispielsweise 12,65 mm × 60 mm. Die ausgeschnittene Probe wird an einem amorphen Glassubstrat angebracht, und das Glassubstrat wird unter Verwendung von Fett an einem XRD-Messtisch fixiert, und für die Messung notwendige Arbeiten wie etwa eine Ausrichtungs- bzw. Justierungseinstellung werden durchgeführt, um eine XRD-Messung in der Ebene durchzuführen. Die Messbedingungen lauten wie folgt.
Name des Geräts: Rigaku ATX-G
Röhre (Röntgenquelle): CuKα
Röhrenleistung: 50 kV, 200 mA
Schritt (2θ): 0,05 Grad
Schrittrate: 1,5 Grad/s
Darüber hinaus beträgt eine Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 4,5 mA oder mehr. Die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 beträgt 4,5 mA oder mehr, was ermöglicht, die Leistung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 weiter zu verbessern und folglich ein vorteilhaftes SNR (Signal-Rausch-Verhältnis) zu erzielen. Ein Grund dafür besteht darin, dass mit Zunahme der Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit der magnetischen Schicht 13 die Leistung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 verbessert wird und ein Einfluss von Systemrauschen eines Magnetkopfes relativ verringert wird. Außerdem ermöglicht ein Einstellen der Füllmenge, der Zusammensetzung und dergleichen von in der magnetischen Schicht 13 enthaltenen magnetischen Pulvern, die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit der magnetischen Schicht 13 einzustellen. Beispielsweise ermöglicht ein Reduzieren nichtmagnetischer Bestandteile wie etwa eines in der magnetischen Schicht 13 enthaltenen Bindemittels, die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit der magnetischen Schicht 13 zu erhöhen. Außerdem ermöglicht ein Einstellen der Zusammensetzung der magnetischen Pulver wie etwa ein Ersetzen eines Teils des Eisens (Fe) eines ε-Eisenoxid-Teilchens durch ein Zusatzstoff- bzw. additives Element wie etwa Kobalt (Co) oder ein Einstellen von Synthesebedingungen (wie etwa einer Brenntemperatur) der magnetischen Pulver, die Massenmagnetisierung der magnetischen Pulver zu erhöhen und die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit der magnetischen Schicht 13 zu erhöhen.
Die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit der magnetischen Schicht 13 wird wie folgt bestimmt. Zunächst werden drei Lagen bzw. Blätter der magnetischen Aufzeichnungsmedien 10 mit dazwischen angeordneten doppelseitigen Klebebändern übereinandergelegt und dann mittels eines Stempels mit einem Durchmesser von 6,39 mm ausgestanzt, um eine Messprobe zu präparieren. Zu diesem Zeitpunkt wird eine Markierung mit einer beliebigen Tinte bzw. Farbe ohne Magnetisierung vorgenommen, sodass die longitudinale Richtung (Laufrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums erkennbar gemacht wird. Danach wird ein Vibrations-Probenmagnetometer (VSM) genutzt, um eine M-H-Schleife der Messprobe (des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) entsprechend der senkrechten Richtung (Dickenrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu messen.
Als Nächstes wird Aceton, Ethanol oder dergleichen verwendet, um Beschichtungsfilme, das heißt die Unterschicht 12, die magnetische Schicht 13, die rückseitige Schicht 14 und dergleichen, abzustreifen, so dass nur die Basis 11 übrigbleibt. Die drei Blätter der erhaltenen Basen 11 werden danach mit dazwischen angeordneten doppelseitigen Klebebändern übereinandergelegt und dann mittels eines Stempels mit einem Durchmesser von 6,39 mm ausgestanzt, um eine Probe für eine Hintergrundkorrektur (worauf hier im Folgenden einfach als Korrekturprobe verwiesen wird) zu erhalten. Danach wird das VSM verwendet, um eine M-H-Schleife der Korrekturprobe (der Basis 11) entsprechend der senkrechten Richtung der Basis 11 (der senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) zu messen.
Beispielsweise wird ein von Toei Industry Co. Ltd. hergestelltes Vibrations-Probenmagnetometer mit hoher Empfindlichkeit „VSM-P7-15“ verwendet, um die M-H-Schleife der Messprobe (des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) und die M-H-Schleife der Korrekturprobe (der Basis 11) zu messen. Die Messbedingungen lauten wie folgt: Vollschleife, maximales Magnetfeld: 15 kOe, Magnetfeldschritt: 40 Bits, Zeitkonstante eines Lock-in-Verstärkers: 0,3 s, Wartezeit: 1 s und MH-Mittelungszahl: 20.
Nachdem man die zwei M-H-Schleifen erhalten hat, wird die M-H-Schleife der Korrekturprobe (der Basis 11) von der M-H-Schleife der Messprobe (des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) subtrahiert, um eine Hintergrundkorrektur durchzuführen, und dadurch wird eine M-H-Schleife nach der Hintergrundkorrektur erhalten. Dem „VSMP7-15“ beigefügte Mess- und Analyseprogramme werden zur Berechnung der Hintergrundkorrektur genutzt.
Die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit wird aus einer Sättigungsmagnetisierung Ms (emu) der erhaltenen M-H-Schleife nach der Hintergrundkorrektur und einer Fläche (cm²) der Messprobe unter Verwendung des folgenden Ausdrucks berechnet. $Mst (mA) = MS (emu) / Fl \ddot{a} che ({cm}^{2}) \times 10000.$
Die Fläche der Probe wird durch den folgenden Ausdruck berechnet. $Fl \ddot{a} che ({cm}^{2}) = 3,14 \times {(0,639 / 2)}^{2} \times 3$
Es ist besonders zu erwähnen, dass die oben beschriebenen M-H-Schleifen beide bei 25°C gemessen werden. Außerdem wird keine „Entmagnetisierungsfeldkorrektur“ durchgeführt, falls die M-H-Schleife in der senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen wird.
Die magnetische Schicht 13 weist beispielsweise die mit mehreren Vertiefungen versehene Oberfläche 13S auf. In diesen mehreren Vertiefungen ist ein Gleitmittel eingelagert. Es ist vorzuziehen, dass sich die mehreren Vertiefungen senkrecht zur Oberfläche der magnetischen Schicht 13 erstrecken, um eine Bereitstellung bzw. Zufuhr des Gleitmittels zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 zu erleichtern. Alternativ dazu können sich einige der mehreren Vertiefungen senkrecht erstrecken.
Der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 beträgt vorzugsweise 90 nm oder weniger, besonders bevorzugt 80 nm oder weniger, bevorzugter 70 nm oder weniger und noch bevorzugter 50 nm oder weniger. Falls der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 90 nm oder weniger beträgt und ein Kopf vom Ring-Typ als der Aufzeichnungskopf genutzt wird, ist es möglich, Magnetisierungen in der Dickenrichtung der magnetischen Schicht 13 gleichmäßig aufzuzeichnen und somit die elektromagnetischen Umwandlungseigenschaften zu verbessern.
Der untere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 beträgt vorzugsweise 35 nm oder mehr. Falls der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 35 nm oder mehr beträgt und ein Kopf vom MR-Typ als der Wiedergabekopf genutzt wird, ist es möglich, die Leistung sicherzustellen und somit die elektromagnetischen Umwandlungseigenschaften zu verbessern.
Die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 13 wird wie folgt bestimmt. Zunächst werden auf der Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 und einer Oberfläche 14S der rückseitigen Schicht 14 des magnetischen Aufzeichnungsmediums mittels eines Abscheidungsverfahrens Kohlenstofffilme ausgebildet. Danach wird mittels eines Abscheidungsverfahrens ferner ein dünner Wolframfilm auf dem die Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 bedeckenden Kohlenstofffilm ausgebildet. Diese Kohlenstofffilme und der Wolframfilm schützen die Probe während eines später zu beschreibenden Abdünnungsprozesses.
Als Nächstes wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mittels eines FIB-Verfahrens (mit fokussiertem Ionenstrahl) oder dergleichen in ein dünnes Stück prozessiert. Falls das FIB-Verfahren genutzt wird, wird die Ausbildung der Kohlenstofffilme und des dünnen Wolframfilms, die als Schutzfilme dienen, als Vorbehandlung zum Betrachten eines später zu beschreibenden TEM-Bildes im Querschnitt durchgeführt. Die Kohlenstofffilme werden mittels eines Abscheidungsverfahrens auf einer Oberfläche auf der Seite der magnetischen Schicht und einer Oberfläche auf der Seite der rückseitigen Schicht des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gebildet. Der dünne Wolframfilm wird dann ferner mittels eines Abscheidungsverfahrens oder eines Sputter-Verfahrens auf der Oberfläche auf der Seite der magnetischen Schicht gebildet. Das Abdünnen wird entlang der Längenrichtung (longitudinalen Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durchgeführt. Das heißt, das Abdünnen bildet einen Querschnitt parallel zu sowohl der longitudinalen Richtung als auch der Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10. Der Querschnitt des erhaltenen dünnen Probenstücks wird unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) unter den folgenden Bedingungen betrachtet, um ein TEM-Bild zu erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass Vergrößerung und Beschleunigungsspannung je nach dem Typ des Geräts geeignet eingestellt werden können. Gerät: TEM (H9000NAR, hergestellt von Hitachi Ltd.) Beschleunigungsspannung: 300 kV $Vergr \ddot{o} ßerung : 100.100 - fach$
Das erhaltene TEM-Bild wird dann genutzt, um die Dicke der magnetischen Schicht 13 an 10 Punkten oder mehr entlang der longitudinalen Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu messen. Die erhaltenen Messwerte werden einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 13 zu bestimmen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Messpunkte auf dem Probenstück zufällig ausgewählt werden.
Außerdem ist, wie in 3A veranschaulicht ist, eine Magnetisierungskurve (M-H-Schleife), die eine Beziehung zwischen einer Magnetisierung M und einem Magnetfeld H innerhalb der magnetischen Schicht 13 repräsentiert, vorzugsweise in einem Bereich des Magnetfeldes H von größer als -15 kOe und geringer als +15 kOe geschlossen, wodurch vorteilhaftere elektromagnetische Umwandlungseigenschaften erhalten werden. Dass die M-H-Schleife „geschlossen“ ist, bedeutet hier, dass ein Bereich, der die M-H-Schleife überlappt, im Magnetfeld H innerhalb eines Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, vorhanden ist, wie in 3A veranschaulicht ist. In einem Beispiel in 3A sind Überlappungsbereiche in sowohl einem Endgebiet MH- in der Nähe des Magnetfeldes H von -15 kOe als auch einem Endgebiet MH+ in der Nähe des Magnetfeldes H von +15 kOe in der M-H-Schleife vorhanden. Dass die M-H-Schleife „nicht geschlossen“ ist, bedeutet im Gegensatz dazu, dass, wie in 3B veranschaulicht ist, innerhalb des Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, kein die M-H-Schleife überlappender Bereich im Magnetfeld H vorhanden ist. In einem Beispiel in 3B ist in weder dem Endgebiet MH- in der Nähe des Magnetfeldes von -15 kOe noch dem Endgebiet MH+ in der Nähe des Magnetfeldes von +15 kOe in der M-H-Schleife ein Überlappungsbereich vorhanden. Es ist besonders zu erwähnen, dass 3B ein Beispiel einer Magnetisierungskurve (M-H-Schleife), die eine Beziehung zwischen einer Magnetisierung M und einem Magnetfeld H in einer magnetischen Schicht repräsentiert, als Referenzbeispiel veranschaulicht ist. Dass die M-H-Schleife „nicht geschlossen“ ist, bedeutet, dass eine senkrechte Koerzitivkraft Hc übermäßig hoch ist oder sich eine Verteilung der senkrechten Koerzitivkraft Hc über einen weiten Bereich des Magnetfeldes H erstreckt. Dies führt zu Schwierigkeiten bei der Sättigungsaufzeichnung durch den Aufzeichnungskopf. Infolgedessen ist es denkbar, dass es schwierig ist, vorteilhafte elektromagnetische Umwandlungseigenschaften zu erzielen.
(Magnetisches Pulver)
Die in der magnetischen Schicht 13 enthaltenen magnetischen Pulver weisen vorzugsweise zum Beispiel eine Massenmagnetisierung σs von 30 emu/g oder mehr und 60 emu/g oder weniger auf. Falls die Massenmagnetisierung σs der magnetischen Pulver 30 emu/g oder mehr beträgt, kann man eine Verbesserung der Leistung als das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 erwarten.
Die magnetischen Pulver enthalten zum Beispiel eine Vielzahl magnetischer Teilchen mit einem durchschnittlichen Teilchendurchmesser von 20 nm oder weniger. Konkret enthalten die magnetischen Pulver beispielsweise Pulver aus Nanoteilchen, die ε-Eisenoxid enthalten (worauf hier im Folgenden als „ε-Eisenoxid-Teilchen“ verwiesen wird). Selbst wenn die ε-Eisenoxid-Teilchen feine Teilchen sind, ist es möglich, eine hohe Koerzitivkraft zu erzielen. Es ist vorzuziehen, dass das in der magnetischen Schicht 13 enthaltene ε-Eisenoxid vorzugsweise in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 kristallografisch orientiert ist.
4 ist eine schematische Querschnittsansicht eines Beispiels einer Querschnittskonfiguration eines in der magnetischen Schicht 13 enthaltenen ε-Eisenoxid-Teilchens 20. Wie in 4 veranschaulicht ist, hat das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 eine sphärische oder im Wesentlichen sphärische Form oder eine kubische oder im Wesentlichen kubische Form. Da das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 eine Form wie oben beschrieben aufweist, ist es in einem Fall, in dem die ε-Eisenoxid-Teilchen 20 als magnetische Teilchen genutzt werden, möglich, eine Kontaktfläche pro Volumeneinheit zwischen den Teilchen in der Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu reduzieren und somit im Vergleich mit einem Fall, in dem hexagonale plattenförmige magnetische Teilchen wie etwa hexagonales Ferrit als die magnetischen Teilchen genutzt werden, eine Aggregation der Teilchen zu unterdrücken. Daher ist es möglich, eine verbesserte Dispergierbarkeit der magnetischen Pulver und ein vorteilhafteres SNR zu erzielen.
Das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 kann beispielsweise eine Kern-Schale-Struktur aufweisen. Konkret umfasst, wie in 4 veranschaulicht ist, das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 einen Kernbereich 21 und einen um den Kernbereich 21 vorgesehenen Schalenbereich 22 mit einer Zweischichtstruktur. Die Zweischichtstruktur des Schalenbereichs 22 umfasst einen ersten Schalenbereich 22a, der auf dem Kernbereich 21 vorgesehen ist, und einen auf dem ersten Schalenbereich 22a vorgesehenen zweiten Schalenbereich 22b. Das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 enthält als zusätzliche Elemente wünschenswerterweise sowohl Kobalt (Co) als auch Zirkonium (Zr).
Die ε-Eisenoxid-Teilchen 20 werden beispielsweise wie folgt gebildet. Zunächst wird eine Siliziumverbindung einer Lösung zugesetzt, die eine ein Eisenelement enthaltende erste Verbindung und eine zweite Verbindung enthält, die die oben beschriebenen zusätzlichen Elemente enthält, um ein Silica-Xerogel zu erzeugen, das das Eisenelement und die oben beschriebenen zusätzlichen Elemente in Silica enthält. Als Nächstes wird das erzeugte Silica-Xerogel vier bis sechs Stunden lang bei einer Temperatur von 850°C bis 1300°C einer Wärmebehandlung unterzogen. Dadurch werden die ε-Eisenoxid-Teilchen 20 gebildet, die ε-Eisenoxid und die oben beschriebenen zusätzlichen Elemente enthalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass sich die Menge der oben beschriebenen zusätzlichen Elemente in dem ε-Eisenoxid-Teilchen 20 in der vorliegenden Offenbarung auf einen Bestandsanteil bzw. ein Bestandsverhältnis (Atom-%, At-%) der oben beschriebenen zusätzlichen Elemente relativ zu einem als 100 genommenen Atom-% einer Kombination von Fe und den zusätzlichen Elementen bezieht.
Der Gehalt der oben beschriebenen zusätzlichen Elemente im ε-Eisenoxid-Teilchen 20 wird beispielsweise wie folgt gemessen. Zunächst werden mittels eines Abscheidungsverfahrens Kohlenstofffilme auf der Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 und der Oberfläche 14S der rückseitigen Schicht 14 des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gebildet, und danach wird mittels eines Abscheidungsverfahrens ferner ein dünner Wolframfilm auf dem die Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 bildenden Kohlenstofffilm ausgebildet. Diese Kohlenstofffilme und der Wolframfilm schützen die Probe während eines später zu beschreibenden Abdünnungsprozesses. Als Nächstes wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mittels eines FIB-Verfahrens (mit fokussiertem Ionenstrahl) oder dergleichen in ein dünnes Stück prozessiert. Falls das FIB-Verfahren verwendet wird, wird die Ausbildung der Kohlenstofffilme und des dünnen Wolframfilms, die als der Schutzfilm dienen, als Vorbehandlung zum Betrachten eines später zu beschreibenden TEM-Bildes im Querschnitt durchgeführt. Die Kohlenstofffilme werden mittels eines Abscheidungsverfahrens auf einer Oberfläche auf der Seite der magnetischen Schicht und einer Oberfläche auf der Seite der rückseitigen Schicht des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gebildet. Der dünne Wolframfilm wird dann ferner mittels eines Abscheidungsverfahrens oder eines Sputter-Verfahrens auf der Oberfläche auf der Seite der magnetischen Schicht ausgebildet. Das Abdünnen wird entlang der Längenrichtung (longitudinalen Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durchgeführt. Das heißt, das Abdünnen bildet einen Querschnitt parallel zu sowohl der longitudinalen Richtung als auch der Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10. Der Querschnitt des erhaltenen dünnen Probenstücks wird unter Verwendung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) unter den folgenden Bedingungen betrachtet, um ein SEM-Bild zu erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass Vergrößerung und Beschleunigungsspannung je nach dem Typ des Geräts geeignet eingestellt werden können. Nachdem das SEM-Bild erhalten ist, wird unter den folgenden Bedingungen eine Elementanalyse einer Aufzeichnungsschicht durchgeführt.
<Elementanalyse (Oberflächenanalyse)>
Analyseverfahren: energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) Rasterelektronenmikroskop: JEM-ARM200F, hergestellt von JEOL Ltd.
Beschleunigungsspannung: 200 kV
Strahldurchmesser: etwa 0,2 nm im Durchmesser
Elementanalysator: JED-2300T
Röntgendetektor: Si-Driftdetektor
Energieauflösung: etwa 140 eV
Röntgen-Abtastwinkel: 21,9°
Raumwinkel: 0,98 sr
Anzahl aufnehmender Pixel: 256 × 256
Anschließend wird aus einem erhaltenen Elementanalyseergebnis das Atom-% der zusätzlichen Elemente relativ zum Atom-% von Fe berechnet. Es ist besonders zu erwähnen, dass Punkte, an denen der Gehalt der oben beschriebenen zusätzlichen Elemente im ε-Eisenoxid-Teilchen 20 gemessen werden soll, auf dem Probenstück zufällig ausgewählt werden.
Der Kernbereich 21 des ε-Eisenoxid-Teilchens 20 enthält ε-Eisenoxid. Das im Kernbereich 21 enthaltene ε-Eisenoxid enthält vorzugsweise ε-Fe₂O₃-Kristalle als Hauptphase, bevorzugter eine einzige Phase von ε-Fe₂O₃. Um eine Aufzeichnung mit hoher Dichte im magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 zu erzielen, ist es im Übrigen wünschenswert, dass das im Kernbereich 21 enthaltene ε-Eisenoxid pulverisiert ist. Pulverisiertes ε-Eisenoxid zeigt jedoch eine hohe Koerzitivkraft, hat aber eine Tendenz, dass sich dessen Massenmagnetisierung σs verringert. Eine Abnahme Massenmagnetisierung σs in magnetischen Pulvern kann eine Abnahme der Leistung und eine Abnahme der thermischen Stabilität als das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 zur Folge haben und ist daher nicht vorzuziehen. Dementsprechend wird dem Kernbereich 21 Co (Kobalt) zugesetzt. Eine Verbesserung der Massenmagnetisierung σs des ε-Eisenoxid-Teilchens 20 kann man durch Einbeziehung von Co im ε-Eisenoxid erwarten.
Die Zugabe von allein Co (Kobalt) zur alleinigen Phase von ε-Fe₂O₃ bewirkt jedoch eine Verzerrung in einem Bereich der M-H-Schleife. Um solch ein Phänomen zu eliminieren, enthält in der vorliegenden Offenbarung der Kernbereich 21 zusammen mit Co ferner Zr (Zirkonium). Als Bestandteilmaterial des Kernbereichs 21 wird ε-Fe₂O₃, das sowohl Co als auch Zr als zusätzliche Elemente enthält, verwendet, um eine Verzerrung der M-H-Schleife zu reduzieren und die Erzeugung einer Nebenspitze in einer SFD-Kurve (Switching Field Distribution bzw. Wechselfeldverteilung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu verhindern. Es wird davon ausgegangen, dass eine Zugabe von Zr, das ein vierwertiges Element ist, zusammen mit Co, das ein zweiwertiges Element ist, ermöglicht, eine durchschnittliche dreiwertige Wertigkeit herbeizuführen; daher kann ein Effekt, dass ein Co-Element einfach eingebracht wird, vorliegen. Dementsprechend ist es denkbar, dass es möglich ist, Co, das ein zweiwertiges Element ist, im ε-Eisenoxid, das Fe enthält, das das dreiwertige Element ist, gleichmäßiger zu verteilen, was dadurch ermöglicht, eine Verzerrung der M-H-Schleife zu eliminieren oder zu reduzieren. Infolgedessen ist es möglich, die Erzeugung der Nebenspitze in der SFD-Kurve des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu unterdrücken und einen breiteren Bereich sicherzustellen, der zur magnetischen Aufzeichnung in der magnetischen Schicht 13 beiträgt. Folglich ist das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 für eine Aufzeichnung mit hoher Dichte vorteilhaft. Es ist besonders zu erwähnen, dass der Gehalt an Co im Kernbereich 21 vorzugsweise 3 Atom-% oder mehr und 20 Atom-% oder weniger in Bezug auf den Atom-% einer Kombination von Fe und Co, der als 100 genommen wird, beträgt. In diesem Fall beträgt darüber hinaus die Zugabemenge von Zr im Kernbereich 21 vorzugsweise 1 Atom-% oder mehr und 8 Atom-% oder weniger in Bezug auf das als 100 genommene Atom-% einer Kombination von Fe, Co und Zr. Die Zugabemenge von Co und die Zugabemenge von Zr im Kernbereich 21 liegen innerhalb der oben beschriebenen Bereiche, was ermöglicht, eine Verzerrung der M-H-Schleife zu reduzieren, während die senkrechte Koerzitivkraft Hc weiter erhöht wird, wodurch man das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 erhält, das für eine Aufzeichnung mit hoher Dichte vorteilhaft ist.
Es ist besonders zu erwähnen, dass der Kernbereich 21 als weiteres zusätzliches Element ein Metallelement wie etwa Hf (Hafnium) enthalten kann.
Der erste Schalenbereich 22a bedeckt zumindest einen Teil der Peripherie bzw. des Umfangs des Kernbereichs 21. Konkret kann der erste Schalenbereich 22a den Umfang des Kernbereichs 21 teilweise bedecken oder kann den gesamten Umfang des Kernbereichs 21 bedecken. Unter dem Gesichtspunkt, eine ausreichende Austauschkopplung zwischen dem Kernbereich 21 und dem ersten Schalenbereich 22a sicherzustellen und magnetische Eigenschaften zu verbessern, ist es vorzuziehen, die gesamte Oberfläche des Kernbereichs 21 zu bedecken.
Der erste Schalenbereich 22a ist eine sogenannte weichmagnetische Schicht und enthält beispielsweise ein weichmagnetisches Material wie etwa α-Fe, eine Ni-Fe-Legierung, CoOFe₂O₃ oder eine Fe-Si-Al-Legierung. Das α-Fe kann erhalten werden, indem das im Kernbereich 21 enthaltene ε-Eisenoxid reduziert wird.
Der zweite Schalenbereich 22b ist ein Oxidfilm, der als Antioxidansschicht dient. Der zweite Schalenbereich 22b enthält α-Eisenoxid, Aluminiumoxid oder Siliziumoxid. Das α-Eisenoxid enthält beispielsweise zumindest ein Eisenoxid von Fe₃O₄, Fe₂O₃ oder FeO. Falls der erste Schalenbereich 22a α-Fe (weichmagnetisches Material) enthält, kann das α-Eisenoxid durch Oxidieren des im ersten Schalenbereich 22a enthaltenen α-Fe erhalten werden.
Da die ε-Eisenoxid-Teilchen 20 wie oben beschrieben den ersten Schalenbereich 22a aufweisen, ist es möglich, die Koerzitivkraft Hc des gesamten ε-Eisenoxid-Teilchens (Kern-Schale-Teilchen) 20 auf eine Koerzitivkraft Hc einzustellen, die zum Aufzeichnen geeignet ist, während die Koerzitivkraft Hc des Kernbereichs 21 allein bei einem großen Wert gehalten wird, um thermische Stabilität zu gewährleisten. Da das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 wie oben beschrieben den zweiten Schalenbereich 22b aufweist, ist es außerdem möglich, eine Verschlechterung der Eigenschaften des ε-Eisenoxid-Teilchens 20 aufgrund von Rost und dergleichen zu unterdrücken, der auf der Teilchenoberfläche erzeugt wird, wenn die ε-Eisenoxid-Teilchen 20 während des Herstellungsprozesses des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 oder davor Luft ausgesetzt sind. Daher ist es möglich, die Verschlechterung von Eigenschaften des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu unterdrücken, indem der erste Schalenbereich 22a mit dem zweiten Schalenbereich 22b bedeckt wird.
Die durchschnittliche Teilchengröße (durchschnittliche maximale Teilchengröße) der magnetischen Pulver beträgt vorzugsweise 20 nm oder weniger, bevorzugter 8 nm oder mehr und 16 nm oder weniger, noch bevorzugter 8 nm oder mehr und 13 nm oder weniger. Im magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 entspricht ein Bereich mit einer Größe der halben Aufzeichnungswellenlänge einem tatsächlichen Magnetisierungsbereich. Daher ist es möglich, ein vorteilhaftes SNR zu erhalten, indem die durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver auf die Hälfte oder weniger der kürzesten Aufzeichnungswellenlänge eingestellt wird. Falls die durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver 20 nm oder weniger beträgt, ist es dementsprechend möglich, vorteilhafte elektromagnetische Umwandlungseigenschaften (z. B. SNR) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 mit einer hohen Aufzeichnungsdichte (z. B. des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, das dafür konfiguriert ist, Aufzeichnungssignale mit der kürzesten Aufzeichnungswellenlänge von 50 nm oder weniger aufzuzeichnen) zu erhalten. Falls indes die durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver 8 nm oder mehr beträgt, ist es möglich, die Dispergierbarkeit der magnetischen Pulver weiter zu verbessern und somit hervorragendere elektromagnetische Umwandlungseigenschaften zu erhalten.
Das durchschnittliche Aspektverhältnis der magnetischen Pulver beträgt vorzugsweise 1 oder mehr und 3,0 oder mehr, bevorzugter 1 oder mehr und 2,8 oder weniger, noch bevorzugter 1 oder mehr und 1,8 oder weniger. Falls das durchschnittliche Aspektverhältnis der magnetischen Pulver innerhalb eines Bereichs von 1 bis 3,0, beide inklusive, liegt, ist es möglich, eine Agglomeration der magnetischen Pulver zu unterdrücken und den Widerstand zu verringern, der beim senkrechten Ausrichten bzw. Orientieren der magnetischen Pulver im Prozess zum Ausbilden der magnetischen Schicht 13 auf die magnetischen Pulver ausgeübt wird. Daher ist es möglich, die senkrechte Orientierung der magnetischen Pulver zu verbessern.
Die durchschnittliche Teilchengröße und das durchschnittliche Aspektverhältnis der magnetischen Pulver, die oben beschrieben wurden, werden wie folgt bestimmt. Zunächst wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, das vermessen werden soll, durch das FIB-Verfahren (mit fokussiertem Ionenstrahl) oder dergleichen in ein dünnes Stück prozessiert. Das Abdünnen wird entlang der Längenrichtung (longitudinalen Richtung) des Magnetbandes durchgeführt. Das heißt, das Abdünnen bildet einen Querschnitt parallel zu sowohl der longitudinalen Richtung als auch der Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10. Der Querschnitt des erhaltenen dünnen Probenstücks wird unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops (H-9500, hergestellt von Hitachi High-Technologies) bei einer Beschleunigungsspannung von 200 kV und einer 500.000-fachen Gesamtvergrößerung auf solch eine Weise betrachtet, dass die magnetische Schicht 13 in der Dickenrichtung der magnetischen Schicht 13 ganz enthalten ist. Danach wird eine TEM-Aufnahme aufgenommen. Als Nächstes werden 50 Teilchen aus der aufgenommenen TEM-Aufnahme zufällig ausgewählt, und die Hauptachsenlänge DL und die Nebenachsenlänge DS jedes Teilchens werden gemessen. Die Hauptachsenlänge Dl bezieht sich hier auf den maximalen Abstand zwischen beliebigen zwei parallelen Linien, die aus beliebigen Winkeln so gezogen werden, dass sie die Kontur jedes Teilchens berühren (sogenannter maximaler Ferrit-Durchmesser) . Indes bezieht sich die Nebenachsenlänge DS auf die maximale Länge des Teilchens in der zur Hauptachsenlänge DL des Teilchens senkrechten Richtung.
Anschließend werden die Hauptachsenlängen DL der 50 gemessenen Teilchen einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Hauptachsenlänge DLave zu bestimmen. Die auf diese Weise bestimmte durchschnittliche Hauptachsenlänge DLave wird als durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver definiert. Außerdem werden die Nebenachsenlängen DS der 50 gemessenen Teilchen einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Nebenachsenlänge DSave zu bestimmen. Danach wird aus der durchschnittlichen Hauptachsenlänge DLave und der durchschnittlichen Nebenachsenlänge DSave ein durchschnittliche Aspektverhältnis (DLave/DSave) bestimmt.
Das durchschnittliche Teilchenvolumen der magnetischen Pulver beträgt vorzugsweise 5500 nm³ oder weniger, bevorzugter 270 nm³ oder mehr und 5500 nm³ oder weniger, noch bevorzugter 900 nm³ oder mehr und 5500 nm³ oder weniger. Falls das durchschnittliche Teilchenvolumen der magnetischen Pulver 5500 nm³ oder weniger beträgt, ist es möglich, Effekte ähnlich jenen in einem Fall, in dem die durchschnittliche Teilchengröße 22 nm oder weniger ist, zu erzielen. In einem Fall, in dem das durchschnittliche Teilchenvolumen der magnetischen Pulver 270 nm³ oder mehr beträgt, ist es indes möglich, Effekte zu erzielen, die jenen in einem Fall ähnlich sind, in dem die durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver 8 nm oder mehr beträgt.
Falls das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 eine sphärische oder im Wesentlichen sphärische Form hat, wird das durchschnittliche Teilchenvolumen der magnetischen Pulver wie folgt bestimmt. Zunächst wird die durchschnittliche Hauptachsenlänge DLave in einer Weise ähnlich den oben beschriebenen Berechnungsverfahren der durchschnittlichen Teilchengrößen der magnetischen Pulver bestimmt. Als Nächstes wird ein durchschnittliches Volumen V der magnetischen Pulver unter Verwendung des folgenden Ausdrucks bestimmt. $V = (π / 6) \times {(DLave)}^{3}$
(Bindemittel)
Es ist vorzuziehen, als das Bindemittel ein Harz mit einer Struktur zu verwenden, bei der einem Harz auf Polyurethan-Basis, einem Harz auf Vinylchlorid-Basis oder dergleichen eine Vernetzungsreaktion vermittelt wird. Das Bindemittel ist jedoch nicht darauf beschränkt, und andere Harze können je nach gewünschten physikalischen Eigenschaften oder dergleichen des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 geeignet gemischt werden. Das zu mischende Harz ist nicht sonderlich beschränkt, solange es ein Harz ist, das im magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 eines Beschichtungstyps allgemein verwendet wird.
Beispiele des Bindemittels umfassen Polyvinylchlorid, Polyvinylacetat, Vinylchlorid-Vinylacetate-Copolymer, Vinylchlorid-Vinylidenchlorid-Copolymer, Vinylchlorid-Acrylnitril-Copolymer, Acrysäureester-Acrylnitril-Copolymer, Acrylsäureester-Vinylchlorid-Vinylidenchlorid-Copolymer, Vinylchlorid-Acrylnitril-Copolymer, Acrylsäureester-Acrylnitril-Copolymer, Acrylsäureester-Vinylidenchlorid-Copolymer, Methacrylsäureester-Vinylidenchlorid-Copolymer, Methacrylsäureester-Vinylchlorid-Copolymer, Methacrylsäureester-Ethylen-Copolymer, Polyvinylfluorid, Vinylidenchlorid-Acrylnitril-Copolymer, Acrylnitril-Butadien-Copolymer, Polyamidharz, Polyvinylbutyral, Zellulosederivate (Zelluloseacetatbutyrate, Zellulosediacetat, Zellulosetriacetat, Zellulosepropionat und Nitrozellulose), Styrolbutadien-Copolymer, Polyesterharz, Aminoharz, synthetischer Kautschuk und dergleichen.
Beispiele für ein wärmehärtendes Harz oder ein reaktives Harz umfassen außerdem Phenolharz, Epoxidharz, Harnstoffharz, Melaminharz, Alkydharz, Silikonharz, Polyaminharz, Harnstoff-Formaldehydharz und dergleichen.
Darüber hinaus kann eine polare funktionale Gruppe wie etwa -SO₃M, -OSO₃M, -COOM, P=O(OM)₂ oder dergleichen in jedes der oben beschriebenen Bindemittel zu dem Zweck, die Dispergierbarkeit der magnetischen Pulver zu verbessern, eingebracht werden. Hier ist M in den obigen chemischen Formeln ein Wasserstoffatom oder ein Alkalimetall wie etwa Lithium, Kalium oder Natrium.
Ferner umfassen Beispiele für die polare funktionale Gruppe jene des Seitenkettentyps mit einer Endgruppe -NR1R2 oder -NR1R2R3⁺X^- und jene des Hauptkettentyps >NR1R2⁺X^-. R1, R2 und R3 in den obigen Formeln sind Wasserstoffatome oder Kohlenwasserstoffgruppen, und X^- ist ein Ion eines Halogenelements wie etwa Fluor, Chlor, Brom oder Iod oder ein anorganisches oder organisches Ion. Weitere Beispiele für die polare funktionale Gruppe schließen -OH, -SH, -CN, Epoxygruppen und dergleichen ein.
(Gleitmittel)
Das in der magnetischen Schicht 13 enthaltene Gleitmittel enthält beispielsweise eine Fettsäure und einen Fettsäureester. Es ist vorzuziehen, dass die im Gleitmittel enthaltene Fettsäure beispielsweise zumindest eine einer durch die folgende allgemeine Formel <1> repräsentierten Verbindung oder einer durch die folgende allgemeine Formel <2> repräsentierten Verbindung enthält. Ferner ist es vorzuziehen, dass der im Gleitmittel enthaltene Fettsäureester zumindest eine einer durch die folgende allgemeine Formel <3> repräsentierten Verbindung oder einer durch die folgende allgemeine Formel <4> repräsentierten Verbindung enthält. Es ist möglich, eine Zunahme des dynamischen Reibungskoeffizienten aufgrund einer wiederholten Aufzeichnung oder Wiedergabe auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 durch das Gleitmittel zu unterdrücken, das zwei Verbindungen enthält, die die durch die allgemeine Formel <1> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <3> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das zwei Verbindungen enthält, die die durch die allgemeine Formel <2> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <3> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das zwei Verbindungen enthält, die eine durch die allgemeine Formel <1> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <4> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das zwei Verbindungen enthält, die eine durch die allgemeine Formel <2> repräsentierte Verbindung und eine durch die allgemeine Formel <4> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das drei Verbindungen enthält, die durch die allgemeine Formel <1> repräsentierte Verbindung, die durch die allgemeine Formel <2> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <3> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das drei Verbindungen enthält, die die durch die allgemeine Formel <1> repräsentierte Verbindung, die durch die allgemeine Formel <2> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <4> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das drei Verbindungen enthält, die die durch die allgemeine Formel <1> repräsentierte Verbindung, die durch die allgemeine Formel <3> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <4> repräsentierte Verbindung einschließen; das Gleitmittel, das drei Verbindungen enthält, die die durch die allgemeine Formel <2> repräsentierte Verbindung, die durch die allgemeine Formel <3> repräsentierte Verbindung und die durch die allgemeine Formel <4> repräsentierte Verbindung einschließen; oder das Gleitmittel, das vier Verbindungen enthält, die die durch die allgemeine Formel <1> repräsentierte Verbindung, die durch die allgemeine Formel <2> repräsentierte Verbindung, die durch die allgemeine Formel <3> repräsentierte Verbindung einschließen und die durch die allgemeine Formel <4> repräsentierte Verbindung einschließen. Infolgedessen ist es möglich, die Laufleistung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu verbessern. CH₃(CH₂)kCOOH <1> (Man beachte, dass in der allgemeinen Formel <1> k eine ganze Zahl ist, die aus einem Bereich von 14 bis 22, beide inklusive, bevorzugter aus einem Bereich von 14 bis 18, beide inklusive, ausgewählt wird.) CH₃ (CH₂) _nCH = CH (CH₂) _mCOOH <2> (Man beachte, dass in der allgemeinen Formel <2> die Summe von n und m eine ganze Zahl ist, die aus einem Bereich von 12 bis 20, beide inklusive, bevorzugter einem Bereich von 14 bis 18, beide inklusive, ausgewählt wird.) CH₃(CH₂)_pCOO(CH₂)_qCH₃ <3> (Man beachte, dass in der allgemeinen Formel <3> p eine ganze Zahl ist, die aus einem Bereich von 14 bis 22, beide inklusive, bevorzugter einem Bereich von 14 bis 18, beide inklusive, ausgewählt wird, und q eine ganze Zahl ist, die aus einem Bereich von 2 bis 5, beide inklusive, bevorzugter einem Bereich von 2 bis 4, beide inklusive, ausgewählt wird.) CH₃ (CH₂) _pCOO- (CH₂) _qCH (CH₃) ₂ <4> (Man beachte, dass in der allgemeinen Formel <4> p eine ganze Zahl ist, die aus einem Bereich von 14 bis 22, beide inklusive ausgewählt wird, q eine ganze Zahl ist, die aus einem Bereich von 1 bis 3, beide inklusive, ausgewählt wird.)
(Addi ti v)
Ferner kann die magnetische Schicht 13 Aluminiumoxid (α-, β- oder γ-Aluminiumoxid), Chromoxid, Siliziumoxid, Diamant, Granat, Schmiergel, Bornitrid, Titancarbid, Siliziumcarbid, Titancarbid, Titanoxid (Titanoxid vom Rutil- oder Anatase-Typ) oder dergleichen als nichtmagnetische Verstärkungsteilchen enthalten.
(Unterschicht 12)
Die Unterschicht 12 ist eine nichtmagnetische Schicht, die nichtmagnetische Pulver und ein Bindemittel enthält. Die Unterschicht 12 kann ferner je nach Bedarf zumindest ein Additiv beispielsweise eines Gleitmittels, leitfähiger Teilchen, eines Härtemittels oder eines Rostschutzmittels enthalten. Ferner kann die Unterschicht 12 eine Mehrschichtstruktur aufweisen, in der eine Vielzahl von Schichten gestapelt ist. Die durchschnittliche Dicke der Unterschicht 12 beträgt vorzugsweise 0,5 µm oder mehr und 0,9 µm oder weniger, bevorzugter 0,6 µm oder mehr und 0,7 µm oder weniger. Die durchschnittliche Dicke der Unterschicht 12 ist bis zu 0,9 µm oder weniger dick, was den Elastizitätsmodul des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 im Vergleich mit einem Fall verringert, in dem die Dicke der Basis 11 reduziert ist. Dies erleichtert eine Steuerung der Zugspannung über das magnetische Aufzeichnungsmedium 10. Außerdem beträgt die durchschnittliche Dicke der Unterschicht 12 0,5 µm oder mehr, wodurch eine Haftstärke zwischen der Basis 11 und der Unterschicht 12 sichergestellt wird. Darüber hinaus ist es möglich, Variationen bzw. Schwankungen in der Dicke der Unterschicht 12 zu unterdrücken und eine Zunahme der Rauigkeit der Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 zu verhindern.
Es ist besonders zu erwähnen, dass die durchschnittliche Dicke der Unterschicht 12 beispielsweise wie folgt bestimmt wird. Zunächst wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Zoll (Inch) präpariert und in eine Länge von 250 mm geschnitten, um eine Probe herzustellen. Danach werden die Unterschicht 12 und die magnetische Schicht 13 von der Basis 11 der Probe des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 entfernt. Danach wird ein von Mitsutoyo Corporation hergestelltes Messgerät, Laser Hologage (LGH-110C), genutzt, um die Dicke eines Laminats aus der Unterschicht 12 und der magnetischen Schicht 13, die von der Basis 11 entfernt wurden, an fünf Punkten oder mehr zu messen. Danach werden diese Messwerte einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Dicke des Laminats aus der Unterschicht 12 und der magnetischen Schicht 13 zu berechnen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Messpunkte auf der Probe zufällig ausgewählt werden. Schließlich wird die durchschnittliche Dicke der Unterschicht 12 bestimmt, indem die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 13, die wie oben beschrieben unter Verwendung des TEM gemessen wurde, von der durchschnittlichen Dicke des Laminats subtrahiert wird.
Die Unterschicht 12 kann Poren aufweisen, das heißt, die Unterschicht 12 kann mit mehreren Poren versehen sein. Die Poren der Unterschicht 12 werden vorzugsweise bei beispielsweise der Ausbildung von Poren (Vertiefungen) in der magnetischen Schicht 13 gebildet. Insbesondere können die Poren gebildet werden, indem mehrere, auf der Oberfläche 14S der rückseitigen Schicht 14 des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 vorgesehene Erhebungen gegen eine Oberfläche auf der Seite der magnetischen Schicht gedrückt werden. Das heißt, die Poren können in sowohl der magnetischen Schicht 13 als auch der Unterschicht 12 gebildet werden, indem den Formen von Erhebungen entsprechende Vertiefungen auf der Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 gebildet werden. Alternativ dazu können die Poren mittels Verflüchtigung eines Lösungsmittels in einem Prozess gebildet werden, bei dem ein Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht getrocknet wird. Darüber hinaus kann beim Beschichten der Oberfläche der Unterschicht 12 mit dem Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht, um die magnetische Schicht 13 zu bilden, ein Lösungsmittel im Beschichtungsmaterial zum Ausbilden der magnetischen Schicht durch die Poren der Unterschicht 12, die beim Beschichten und Trocknen einer Unterschicht gebildet werden, gelangen, so dass sie in die Unterschicht 12 eindringen. Wenn sich das Lösungsmittel verflüchtigt, das in einem Prozess zum Trocknen der magnetischen Schicht 13 in die Unterschicht 12 eingedrungen ist, kann sich danach das Lösungsmittel, das in die Unterschicht 12 eingedrungen ist, von der Unterschicht 12 zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 bewegen, so dass Poren gebildet werden. Die so ausgebildeten Poren können beispielsweise mit der magnetischen Schicht 13 und der Unterschicht 12 in Verbindung gebracht werden. Es ist möglich, den durchschnittlichen Durchmesser der Poren einzustellen, indem man die Art eines Feststoffgehalts oder eines Lösungsmittels im Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht oder Trocknungsbedingungen für das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht ändert. Die Poren werden in sowohl der magnetischen Schicht 13 als auch der Unterschicht 12 ausgebildet, was bewirkt, dass eine spezifisch geeignete Menge des Gleitmittels für eine vorteilhafte Laufstabilität zur Oberfläche auf der Seite der magnetischen Schicht gelangt. Dies macht es möglich, eine Zunahme des dynamischen Reibungskoeffizienten aufgrund einer wiederholten Aufzeichnung oder Wiedergabe weiter zu unterdrücken.
Unter dem Gesichtspunkt der Unterdrückung einer Abnahme des dynamischen Reibungskoeffizienten nach einer wiederholten Aufzeichnung oder Wiedergabe ist es vorzuziehen, dass die Poren der Unterschicht 12 mit den Vertiefungen der magnetischen Schicht 13 verbunden sind. Hier schließt der Zustand, in dem die Poren der Unterschicht 12 mit den Vertiefungen der magnetischen Schicht 13 verbunden sind, einen Zustand ein, in dem einige der mehreren Poren der Unterschicht 12 mit einigen der mehreren Vertiefungen der magnetischen Schicht 13 verbunden sind.
Unter dem Gesichtspunkt der Erleichterung der Zufuhr des Gleitmittels zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 ist es vorzuziehen, dass die mehreren Vertiefungen jene einschließen, die sich senkrecht zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 erstrecken. Außerdem ist es unter dem Gesichtspunkt der Erleichterung der Zufuhr des Gleitmittels zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 vorzuziehen, dass die Poren der Unterschicht 12, die sich senkrecht zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 erstrecken, mit den Vertiefungen der sich senkrecht zur Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 erstreckenden Vertiefungen der magnetischen Schicht 13 verbunden sind.
(Nichtmagnetisches Pulver der Unterschicht 12)
Die nichtmagnetischen Pulver umfassen beispielsweise zumindest welche von Pulvern aus anorganischen Teilchen oder Pulvern aus organischen Teilchen. Ferner können die nichtmagnetischen Pulver Kohlenstoffpulver wie etwa Ruß enthalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass eine Art nichtmagnetischer Pulver allein verwendet werden kann oder zwei oder mehr Arten nichtmagnetischer Pulver in Kombination verwendet werden können. Beispiele der anorganischen Teilchen umfassen Metalle, Metalloxide, Metallcarbonate, Metallsulfate, Metallnitride, Metallcarbide oder Metallsulfide oder dergleichen. Die nichtmagnetischen Pulver haben verschiedene Formen einschließlich, nicht aber darauf beschränkt, nadelförmiger, sphärischer, kubischer oder plattenförmiger Formen.
(Bindemittel für die Unterschicht 12)
Das Bindemittel für die Unterschicht 12 ist ähnlich jenem in der oben beschriebenen magnetischen Schicht 13.
(Rückseitige Schicht 14)
Die rückseitige Schicht 14 enthält beispielsweise ein Bindemittel und nichtmagnetische Pulver. Die rückseitige Schicht 14 kann ferner je nach Bedarf zumindest ein Additiv eines Gleitmittels, eines Härtemittels, eines antistatischen Mittels oder dergleichen enthalten. Das Bindemittel und die nichtmagnetischen Pulver in der rückseitigen Schicht 14 sind ähnlich dem Bindemittel und den nichtmagnetischen Pulvern in der oben beschriebenen Unterschicht 12.
Die durchschnittliche Teilchengröße der nichtmagnetischen Pulver in der rückseitigen Schicht 14 beträgt vorzugsweise 10 nm oder mehr und 150 nm oder weniger, bevorzugter 15 nm oder mehr und 110 nm oder weniger. Die durchschnittliche Teilchengröße der nichtmagnetischen Pulver in der rückseitigen Schicht 14 wird in der gleichen Art und Weise wie für die durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver in der oben beschriebenen magnetischen Schicht 13 bestimmt. Die nichtmagnetischen Pulver können eines mit einer Teilchengrößenverteilung von 2 oder mehr enthalten.
Der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der rückseitigen Schicht 14 beträgt vorzugsweise 0,6 µm oder weniger, besonders bevorzugt 0,5 µm oder weniger. Falls der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der rückseitigen Schicht 14 0,6 µm oder weniger beträgt, ist es möglich, die Dicken der Unterschicht 12 und der Basis 11 dick beizubehalten, selbst wenn die durchschnittliche Dicke des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 5,6 µm oder weniger beträgt, und somit die Laufstabilität des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 im Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät aufrechtzuerhalten. Der untere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke der rückseitigen Schicht 14 beträgt beispielsweise, ist aber nicht darauf beschränkt, 0,2 µm oder mehr, besonders bevorzugt 0,3 µm oder mehr.
Die durchschnittliche Dicke der rückseitigen Schicht 14 wird wie folgt bestimmt. Zunächst wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Zoll (Inch) präpariert und in eine Länge von 250 nm geschnitten, um eine Probe herzustellen. Danach wird das von Mitsutoyo Corporation hergestellte Messgerät, Laser Hologage (LGH-110C), verwendet, um die Dicke der Probe des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 an fünften Punkten oder mehr zu messen. Danach werden diese Messwerte einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Dicke t_T [µm] des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu berechnen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Messpunkte auf der Probe zufällig ausgewählt werden. Anschließend wird die rückseitige Schicht 14 mit einem Lösungsmittel wie etwa MEK (Methylethylketon) oder verdünnter Chlorwasserstoffsäure von der Probe des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 entfernt. Danach wird das oben beschriebene Laser Hologage wieder verwendet, um die Dicke der Probe des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, von dem die rückseitige Schicht 14 entfernt wurde, an fünf Punkten oder mehr zu messen. Diese Messwerte werden einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Dicke t_B [µm] des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, von dem die rückseitige Schicht 14 entfernt wurde, zu berechnen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Messpunkte auf der Probe zufällig ausgewählt werden. Schließlich wird eine durchschnittliche Dicke t_b [µm] der rückseitigen Schicht 14 durch den folgenden Ausdruck bestimmt. $t_{b} (μ m) = t_{T} (μ m) - t_{B} (μ m)$
(Durchschnittliche Dicke eines magnetischen Aufzeichnungsmediums 10)
Der obere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke (durchschnittlichen Gesamtdicke) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 beträgt vorzugsweise 5, 6 µm oder weniger, bevorzugter 5,0 µm oder weniger, besonders bevorzugt 4,6 µm oder weniger, noch bevorzugter 4,4 µm oder weniger. Falls die durchschnittliche Dicke des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 5,6 µm oder weniger beträgt, ist es möglich, die Speicherkapazität pro Datenkassette im Vergleich mit einem allgemeinen magnetischen Aufzeichnungsmedium zu erhöhen. Der untere Grenzwert der durchschnittlichen Dicke des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 beträgt beispielsweise 3,5 µm oder mehr, ist aber nicht darauf beschränkt.
Die durchschnittliche tT des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 wird wie folgt bestimmt. Zunächst wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Zoll (Inch) präpariert und in eine Länge von 250 mm geschnitten, um eine Probe herzustellen. Danach wird das von Mitsutoyo Corporation hergestellte Messgerät, Laser Hologage (LGH-110C), verwendet, um die Dicke der Probe an fünf Punkten oder mehr zu messen. Danach werden diese Messwerte einfach gemittelt (arithmetisch gemittelt), um eine durchschnittliche Dicke tT [µm] zu berechnen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Messpunkte auf der Probe zufällig ausgewählt werden.
(Verhältnis Hrp/Hc)
Darüber hinaus beträgt ein Verhältnis Hrp/Hc einer in einer Richtung senkrecht zu einer Filmoberfläche des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 unter Verwendung eines Impuls-Magnetfeldes gemessenen Restkoerzitivkraft Hrp (siehe 3A) zur senkrechten Koerzitivkraft Hc (siehe 3A) in der Richtung senkrecht zur Filmoberfläche des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 vorzugsweise 2,0 oder weniger. Indem man das Verhältnis Hrp/Hc innerhalb eines vorbestimmten Bereichs hält, ermöglicht dies, einen Signalabschwächungsbetrag zu verbessern. Das heißt, das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, das eine geringe Differenz zwischen der Restkoerzitivkraft Hrp und der senkrechten Koerzitivkraft Hc und das Verhältnis Hrp/Hc mit einem Wert nahe 1 aufweist, weist eine hohe thermische Stabilität auf. Indes weist das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, das eine große Differenz zwischen der Restkoerzitivkraft Hrp und der senkrechten Koerzitivkraft Hc und das Verhältnis Hrp/Hc mit einem Wert deutlich größer als 1 (zum Beispiel einem 2 übersteigenden Wert) aufweist, eine geringe thermische Stabilität auf. Wenn man veranlasst, dass das Verhältnis Hrp/Hc einen Wert von 2,0 oder weniger aufweist, ermöglicht dies, eine Abnahme der thermischen Stabilität zu vermeiden und auch die Leichtigkeit eines Schreibens bzw. Aufzeichnens magnetischer Signale sicherzustellen. Die Vermeidung einer Abnahme der thermischen Stabilität ermöglicht, einen instabilen Zustand zu unterdrücken, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 durch Einwirkung der Umgebungstemperatur leicht beeinflusst wird, und somit die Haltbarkeit bzw. Bewahrbarkeit von Daten (langfristige Stabilität des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) zu verbessern. Es ist besonders zu erwähnen, dass, um ein Verhältnis Hrp/Hc von 2,0 oder weniger aufzuweisen, die magnetische Schicht 13 vorzugsweise unter Verwendung magnetischer Pulver mit einer Massenmagnetisierung σs beispielsweise von 30 emu/g oder mehr und 60 emu/g oder weniger gebildet wird. Das ε-Eisenoxid der vorliegenden Offenbarung weist eine hohe Massenmagnetisierung σs wie oben beschrieben auf und weist eine hohe senkrechte Koerzitivkraft Hc auf, die eine intrinsische Eigenschaft des ε-Eisenoxids ist, was ermöglicht, dass das ε-Eisenoxid selbst in Form feiner Teilchen eine hohe thermische Stabilität aufweist. Indes weist das ε-Eisenoxid eine hohe Massenmagnetisierung σs auf, was ermöglicht, eine hohe Mst (Sättigungsmagnetisierung pro Flächeneinheit) zu gewährleisten und eine Aufzeichnungs- und Wiedergabeleistung aufrechtzuerhalten. Das heißt, wie oben beschrieben ist es möglich, sowohl eine hohe thermische Stabilität, das heißt eine langfristige Zuverlässigkeit, als auch hohe elektromagnetische Umwandlungseigenschaften zu erzielen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die senkrechte Koerzitivkraft Hc wünschenswerterweise 2000 Oe oder mehr und 6000 Oe oder weniger, noch wünschenswerter 2500 Oe oder mehr und 4500 Oe oder weniger beträgt.
Bei einer Messung der senkrechten Koerzitivkraft Hc wird eine Messung durchgeführt, während man ein Magnetfeld mit geringer Geschwindigkeit durchlaufen lässt; daher wird während der Messung die Massenmagnetisierung σ der magnetischen Schicht 13 durch Einwirkung von Umgebungswärme verändert. Indes wird bei einer Messung der Restkoerzitivkraft Hrp eine Messung instantan durchgeführt, indem ein gepulstes Magnetfeld angelegt wird. Dementsprechend ist es begreiflich, dass der Einfluss der Umgebungswärme reduziert ist und die Restkoerzitivkraft Hrp erhöht ist. Es ist begreiflich, dass in einem magnetischen Aufzeichnungsmedium mit hoher thermischer Stabilität eine Abnahme der senkrechten Koerzitivkraft Hc aufgrund von Wärme gering ist, wodurch das Verhältnis Hrp/Hc abnimmt. Im Gegensatz dazu ist es im Fall eines magnetischen Aufzeichnungsmediums mit einer geringen thermischen Stabilität begreiflich, dass ein umgekehrtes Phänomen auftritt, das eine Abnahme der senkrechten Koerzitivkraft Hc aufgrund von Wärme vergrößert und das Verhältnis Hrp/Hc erhöht.
Die senkrechte Koerzitivkraft Hc wird wie folgt bestimmt. Zunächst werden drei Blätter der magnetischen Aufzeichnungsmedien 10 mit dazwischen angeordneten doppelseitigen Klebebändern überlagert und dann mittels eines Stempels mit einem Durchmesser von 6,39 mm gestanzt, um eine Messprobe zu präparieren. Zu dieser Zeit wird eine Markierung mit einer beliebigen Farbe ohne Magnetismus vorgenommen, so dass die longitudinale Richtung (Laufrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 erkennbar gemacht wird. Danach wird ein VSM verwendet, um eine M-H-Schleife der Messprobe (des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) entsprechend der senkrechten Richtung (Dickenrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu messen.
Anschließend wird Aceton, Ethanol oder dergleichen verwendet, um Beschichtungsfilme, das heißt die Unterschicht 12, die magnetische Schicht 13, die rückseitige Schicht 14 und dergleichen, abzustreifen, so dass nur die Basis 11 übrigbleibt. Die drei Blätter der erhaltenen Basen 11 werden dann mit dazwischen angeordneten doppelseitigen Klebebändern überlagert und danach mittels eines Stempels mit einem Durchmesser von 6,39 mm ausgestanzt, um eine Probe für eine Hintergrundkorrektur herzustellen (worauf hier im Folgenden einfach als Korrekturprobe verwiesen wird). Danach wird das VSM verwendet, um eine M-H-Schleife der Korrekturprobe (der Basis 11) entsprechend der senkrechten Richtung der Basis 11 (der senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) zu messen.
Beispielsweise wird ein von Toei Industry Co. Ltd. hergestelltes Vibrations-Probenmagnetometer mit hoher Empfindlichkeit „VSM-P7-15“ verwendet, um die M-H-Schleife der Messprobe (des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) und die M-H-Schleife der Korrekturprobe (der Basis 11) zu messen. Die Messbedingungen lauten wie folgt: Messmodus: Vollschleife, maximales Magnetfeld: 15 kOe, Magnetfeldschritt: 40 Bits, Zeitkonstante eines Lock-in-Verstärkers: 0,3 s, Wartezeit: 1 s und MH-Mittelungszahl: 20.
Nachdem die beiden M-H-Schleifen erhalten wurden, wird die M-H-Schleife der Korrekturprobe (der Basis 11) von der M-H-Schleife der Messprobe (des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) subtrahiert, um eine Hintergrundkorrektur durchzuführen, und dadurch wird eine M-H-Schleife nach der Hintergrundkorrektur erhalten. Dem „VSMP7-15“ beigefügte Mess- und Analyseprogramme werden zur Berechnung bei der Hintergrundkorrektur verwendet.
Die senkrechte Koerzitivkraft Hc wird aus der erhaltenen M-H-Schleife nach der Hintergrundkorrektur bestimmt. Es ist besonders zu erwähnen, dass die oben beschriebenen M-H-Schleifen beide bei 25°C gemessen werden. Außerdem wird keine „Entmagnetisierungsfeldkorrektur“ durchgeführt, falls die M-H-Schleife in der senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen wird. Es ist besonders zu erwähnen, dass die dem „VSM-P7-15“ beigefügten Mess- und Analyseprogramme für die Berechnung verwendet werden.
Die Restkoerzitivkraft Hrp wird wie folgt bestimmt. Ein von HAYAMA Inc. hergestelltes Gerät HR-PVSM20 zur Auswertung der Ansprechcharakteristik mit hoher Geschwindigkeit wird genutzt, um eine Restmagnetisierungskurve in einer Richtung senkrecht zu einer Filmoberfläche für eine Messprobe zu messen, die einer Probe ähnlich ist, die zur Berechnung der senkrechten Koerzitivkraft Hc verwendet wurde, die oben beschrieben wurde.
Zunächst wird ein Magnetfeld von -3980 kA/m (etwa -15 kOe) in der senkrechten Richtung an die gesamte Probe angelegt und wird das Magnetfeld auf Null zurückgeführt, so dass ein Restmagnetisierungszustand vorliegt. Danach wird ein Magnetfeld von etwa 40,2 kA/m (etwa 505 Oe) in der entgegengesetzten Richtung angelegt und wird das Magnetfeld wieder auf Null zurückgeführt, um einen Restmagnetisierungsbetrag zu messen. Das angelegte Magnetfeld zu diesem Zeitpunkt ist ein Impuls-Magnetfeld mit einer Impulsbreite von 10^-8 s. Danach wird ähnlich die Messung, bei der ein Magnetfeld, das um etwa 40,2 kA/m größer als das vorher angelegte Magnetfeld ist, angelegt und auf Null zurückgeführt wird, wiederholt durchgeführt und wird der Restmagnetisierungsbetrag in Bezug auf das angelegte Magnetfeld aufgetragen, um eine DCD-Kurve zu messen. Das Messmagnetfeld beträgt bis zu etwa 20 kOe. Es ist besonders zu erwähnen, dass eine Hintergrundkorrektur und eine Entmagnetisierungsfeldkorrektur nicht speziell durchgeführt werden. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Größe des Magnetfelds, das an die Probe angelegt werden soll, durch Ändern einer anzulegenden Spannung geändert wird. Die Schrittspannung beträgt 17,5 V (äquivalent zu etwa 505 Oe eines Magnetfeldes).
Die Messbedingungen lauten wie folgt.
Anfängliche Magnetisierungsspannung: 220 V (äquivalent zu -3980 kA/m)
Startspannung der Messung: 0 V (äquivalent zu 0 Oe) Schrittspannung: 17,5 V (äquivalent zu etwa 505 Oe)
maximale Spannung: 350 V (äquivalent zu 20 kOe)
Wartezeit des Lock-in-Verstärkers: 10 s
Eine Phasenkorrektur wird anhand der nach einer Messung gespeicherten Daten durchgeführt, um eine Restmagnetisierungskurve (5) zu erhalten. Eine gerade Linie verbindet zwei Punkte (einen Punkt P1 und einen Punkt P2), zwischen denen eine X-Achse in 5 liegt, und ein Punkt, an dem sich die gerade Linie mit der X-Achse schneidet, wird als die Restkoerzitivkraft Hrp berechnet.
Die Einheit des Magnetisierungsbetrags ist ursprünglich emu; im oben beschriebenen Gerät zur Auswertung der Ansprechcharakteristik mit hoher Geschwindigkeit wird jedoch der Magnetisierungsbetrag bei jedem angelegten Magnetfeld als Spannung V ausgegeben, und entweder ein positiver Wert oder ein negativer Wert des Magnetisierungsbetrags (Spannung V) bei jedem angelegten Magnetfeld wird als positiver Wert ausgegeben. Dementsprechend ist eine Korrektur entsprechend einer Phase bei jedem angelegten Magnetfeld notwendig. Für diese Korrektur werden Phaseninformationsdaten verwendet, die in einem Ausgabeergebnis vom Gerät zur Auswertung einer Ansprechcharakteristik mit hoher Geschwindigkeit enthalten sind. Die Phaseninformationsdaten bei jedem angelegten Magnetfeld werden zusammen mit dem Magnetisierungsbetrag (Spannung V) bei jedem angelegten Magnetfeld ausgegeben. Falls Phaseninformationsdaten über den bei einem bestimmten Magnetfeld gemessenen Magnetisierungsbetrag (Spannung V) ein negativer Wert sind, ist es notwendig, den gemessenen Magnetisierungsbetrag (Spannung V) mit „-1“ zu multiplizieren, und ein Wert, der durch Multiplizieren des gemessenen Magnetisierungsbetrags (Spannung V) mit „-1“ erhalten wird, wird verwendet, um eine Restmagnetisierungskurve zu erhalten. Ein Prozess, bei dem mit „-1“ multipliziert wird, ist die oben beschriebene Phasenkorrektur.
Im Gegensatz dazu ist es in einem Fall, in dem Phaseninformationsdaten über den bei einem bestimmten Magnetfeld gemessenen Magnetisierungsbetrag (Spannung V) ein positiver Wert sind, nicht notwendig, den gemessenen Magnetisierungsbetrag (Spannung V) mit „-1“ zu multiplizieren, und der gemessene Magnetisierungsbetrag (Spannung V) wird verwendet wie er ist, um eine Restmagnetisierungskurve zu erhalten. Der Magnetisierungsbetrag nach einer Phasenkorrektur (ein Betrag, der erhalten wird, indem mit „-1“ multipliziert wird) und der Magnetisierungsbetrag (ein Betrag, der nicht mit „-1“ multipliziert ist), die wie oben beschrieben erhalten werden, werden in Bezug auf das Magnetfeld aufgetragen, um eine Restmagnetisierungskurve zu erhalten, wie sie in der Zeichnung veranschaulicht ist.
[2-2 Verfahren zum Herstellen eines magnetischen Aufzeichnungsmediums 10]
Als Nächstes wird ein Verfahren zum Herstellen des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 mit der oben beschriebenen Konfiguration beschrieben. Zunächst wird ein Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht durch Kneten und Dispergieren nichtmagnetischer Pulver, eines Bindemittels, eines Gleitmittels und dergleichen in einem Lösungsmittel präpariert. Als Nächstes wird ein Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht durch Kneten und Dispergieren magnetischer Pulver, eines Bindemittels, eines Gleitmittels und dergleichen in einem Lösungsmittel präpariert. Danach wird ein Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht durch Kneten und Dispergieren eines Bindemittels, nichtmagnetischer Pulver und dergleichen in einem Lösungsmittel präpariert. Um das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht, das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht und das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht zu präparieren, können beispielsweise die folgenden Lösungsmittel, ein Dispergiergerät und ein Knetgerät verwendet werden.
Beispiele für das Lösungsmittel, das zum Präparieren der oben erwähnten Beschichtungsmaterialien verwendet wird, umfassen: ein Keton-basiertes Lösungsmittel wie etwa Aceton, Methylethylketon, Methylisobutylketon oder Cyclohexanon; ein Alkohol-basiertes Lösungsmittel wie etwa Methanol, Ethanol oder Propanol; ein Ester-basiertes Lösungsmittel wie etwa Methylacetat, Ethylacetat, Butylacetat, Propylacetat, Ethyllactat oder Ethylenglycolacetat; ein Ether-basiertes Lösungsmittel wie etwa Diethylenglycoldimethylether, 2-Ethoxyethanol, Tetrahydrofuran oder Dioxan; ein Lösungsmittel auf Basis aromatischer Kohlenwasserstoffe wie etwa Benzol, Toluol oder Xylol; und ein Lösungsmittel auf Basis halogenisierter Kohlenwasserstoffe wie etwa Methylenchlorid, Ethylenchlorid, Kohlenstofftetrachlorid, Chloroform oder Chlorbenzol. Diese können allein verwendet werden oder können gegebenenfalls in Kombination verwendet werden.
Beispiele des Knetgeräts, das für die Präparation der oben beschriebenen Beschichtungsmaterialien verwendet wird, können beispielsweise eine kontinuierliche Doppelschnecken-Knetmaschine, eine kontinuierliche Doppelschnecken-Knetmaschine, die eine Verdünnung in mehreren Stufen ermöglicht, eine Knetmaschine, eine Druckknetmaschine, eine Walzenknetmaschine und andere Knetgeräte umfassen, sind darauf aber nicht besonders beschränkt. Darüber hinaus können Beispiele des Dispergiergeräts, das für die Präparation der oben beschriebenen Beschichtungsmaterialien verwendet wird, beispielsweise eine Walzenmühle, eine Kugelmühle, eine transversale Sandmühle, eine longitudinale Sandmühle, eine Spike- bzw. Nadelmühle, eine Stiftmühle, eine Turmmühle, eine Perlmühle (z. B. eine „DCP-Mühle“, hergestellt von Eirich Co. Ltd., etc.), einen Homogenisator, eine Ultraschall-Dispermaschine und andere Dispergiervorrichtungen umfassen, sind darauf aber nicht sonderlich beschränkt.
Als Nächstes wird das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht auf eine Hauptoberfläche 11A der Basis 11 aufgebracht und getrocknet, um die Unterschicht 12 auszubilden. Anschließend wird das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht auf die Unterschicht 12 untergebracht und getrocknet, um die magnetische Schicht 13 auf der Unterschied 12 auszubilden. Es ist besonders zu erwähnen, dass es während des Trocknens vorzuziehen ist, zu veranlassen, dass das Magnetfeld der magnetischen Pulver in der Dickenrichtung der Basis 11 mittels beispielsweise einer Magnet- bzw. Solenoidspule ausgerichtet bzw. orientiert wird. Alternativ dazu kann während der Trocknung das Magnetfeld der magnetischen Pulver in der Laufrichtung (longitudinalen Richtung) der Basis 11 orientiert werdenund danach in der Dickenrichtung der Basis 11 durch eine Solenoidspule beispielsweise orientiert werden. Solch ein Prozess zur Magnetfeldorientierung ermöglicht, den Grad einer senkrechten Ausrichtung bzw. Orientierung (d. h. das Rechteckigkeitsverhältnis S1) der magnetischen Pulver zu verbessern. Nachdem die magnetische Schicht 13 ausgebildet ist, wird das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht auf eine andere Hauptoberfläche 11B der Basis 11 aufgebracht und getrocknet, um die rückseitige Schicht 11 zu bilden. Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 wird dadurch erhalten.
Danach wird das erhaltene magnetische Aufzeichnungsmedium 10 einem Kalandrierprozess unterzogen, um die Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 zu glätten. Als Nächstes wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 nach dem Kalandrierprozess aufgerollt und dann einer Wärmebehandlung unterzogen, während das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 in diesem Zustand ist, um eine Vielzahl von Erhebungen der Oberfläche 14S der rückseitigen Schicht 14 auf die Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 zu übertragen. Als Ergebnis werden mehrere Vertiefungen in der Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 ausgebildet.
Die Temperatur der Wärmebehandlung ist vorzugsweise 50°C oder höher und 80°C oder niedriger. Falls die Temperatur der Wärmebehandlung 50°C oder höher ist, ist es möglich, vorteilhafte Übertragungseigenschaften zu erzielen. Im Gegensatz wird, falls die Temperatur der Wärmebehandlung 80°C oder höher ist, die Anzahl der Poren zu groß, was bewirken kann, dass zu viel Gleitmittel auf die Oberfläche 13S der magnetischen Schicht 13 aufgebracht wird. Die Temperatur der Wärmebehandlung ist hier die Temperatur der Atmosphäre, in der das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 gehalten wird.
Die Dauer der Wärmebehandlung ist vorzugsweise 15 Stunden oder länger und 40 Stunden oder kürzer. Falls die Zeit der Wärmebehandlung 15 Stunden oder länger ist, ist es möglich, vorteilhafte Übertragungseigenschaften zu erhalten. Falls indes die Zeit der Wärmebehandlung 40 Stunden oder kürzer ist, ist es möglich, eine Abnahme der Produktivität zu unterdrücken.
Ferner liegt der während der Wärmebehandlung auf das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 ausgeübte Druck vorzugsweise in einem Bereich von 150 kg/cm bis 400 kg/cm, beide inklusive.
Schließlich wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 in eine vorbestimmte Breite (z. B. 1/2 Zoll (Inch) breit) geschnitten. Dadurch wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 wie gewünscht erhalten.
[2-3. Effekte]
Wie oben beschrieben wurde, ist das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 gemäß der vorliegenden Ausführungsform ein bandförmiges Bauteil, in dem die Basis 11, die Unterschicht 12 und die magnetische Schicht 13 der Reihe nach gestapelt sind. Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 erfüllt jede der unten beschriebenen Konfigurationsanforderungen <1> bis <3>.

<1> Die magnetische Schicht 13 enthält ε-Eisenoxid enthaltende magnetische Pulver.
<2> Das Verhältnis (Hrp/Hc) der in der senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 unter Verwendung eines Impuls-Magnetfeldes gemessenen Restkoerzitivkraft (Hrp) zur senkrechten Koerzitivkraft (Hc) in einer Richtung senkrecht zur Filmoberfläche beträgt 2,0 oder weniger.
<3> Eine magnetische Schicht mit einer Sättigungsmagnetisierung (Mst) pro Flächeneinheit von 4,5 mA oder größer ist enthalten.

Mit dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 gemäß der vorliegenden Ausführungsform mit solch einer Konfiguration ist es möglich, ausgezeichnete elektromagnetische Umwandlungseigenschaften und eine hohe langfristige Stabilität selbst in einem Fall zu erzielen, in dem die Aufzeichnungsdichte erhöht ist. Beispielsweise enthält die magnetische Schicht 13 magnetische Pulver, die mit Co und Zr dotiertes ε-Eisenoxid enthalten; daher erfüllt das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 die oben beschriebenen Konfigurationsanforderungen. Die magnetischen Pulver, die mit Co und Zr dotiertes ε-Eisenoxid enthalten, weisen eine hohe senkrechte Koerzitivkraft Hc und Massenmagnetisierung σs auf. Folglich ermöglicht das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, das solche magnetische Pulver nutzt, sowohl ausgezeichnete elektromagnetische Umwandlungseigenschaften als auch eine hohe langfristige Zuverlässigkeit zu erzielen.
<3. Modifikationsbeispiele>
(Modifikationsbeispiel 1)
In der oben beschriebenen Ausführungsform wurde das den Schalenbereich 22 mit einer Zweischichtstruktur (4) enthaltende ε-Eisenoxid-Teilchen 20 beispielhaft dargestellt und beschrieben. Jedoch kann das magnetische Aufzeichnungsmedium der vorliegenden Technologie ein ε-Eisenoxid-Teilchen 20A enthalten, das einen Schalenbereich 23 mit einer Einschichtstruktur wie zum Beispiel in 6 veranschaulicht enthält. Der Schalenbereich 23 des ε-Eisenoxid-Teilchens 20A hat beispielsweise eine Konfiguration ähnlich jener des ersten Schalenbereichs 22a. Unter dem Gesichtspunkt der Unterdrückung der Verschlechterung von Eigenschaften ist jedoch das ε-Eisenoxid-Teilchen 20 mit dem Schalenbereich 22 mit der Zweischichtstruktur, die in der obigen Ausführungsform beschrieben wurde, gegenüber dem ε-Eisenoxid-Teilchen 20A des Modifikationsbeispiels 1 eher vorzuziehen.
(Modifikationsbeispiel 2)
Wie in 7 veranschaulicht ist, kann beispielsweise das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 ferner eine auf zumindest einer Oberfläche der Basis 11 vorgesehene Barrierenschicht 15 enthalten. Die Barrierenschicht 15 ist eine Schicht, um eine Abmessungsänderung der Basis 11 je nach der Umgebung zu unterdrücken. Beispielsweise ist ein möglicher Grund für die Abmessungsänderung eine hygroskopische Eigenschaft der Basis 11. Es ist möglich, durch die Abscheidung der Barrierenschicht 15 die Rate des Eindringens von Wasser in die Basis 11 zu reduzieren. Die Barrierenschicht 15 enthält beispielsweise ein Metall oder ein Metalloxid. Als das Metall kann hier beispielsweise eines von Al, Cu, Co, Mg, Si, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Zn, Ga, Ge, Y, Zr, Mo, Ru, Pd, Ag, Ba, Pt, Au oder Ta verwendet werden. Als das Metalloxid kann beispielsweise ein Metalloxid verwendet werden, das ein oder mehrere der oben beschriebenen Metalle enthält. Konkreter kann beispielsweise zumindest eines von Al₂O₃, CuO, CoO, SiO₂, Cr₂O₃, TiO₂, Ta₂O₅ oder ZrO₂ verwendet werden. Darüber hinaus kann die Barrierenschicht 15 diamantartigen Kohlenstoff (DLC) oder Diamant enthalten.
Die durchschnittliche Dicke der Barrierenschicht 15 beträgt vorzugsweise 20 nm oder mehr und 1000 nm oder weniger, bevorzugter 50 nm oder mehr und 1000 nm oder weniger. Die durchschnittliche Dicke der Barrierenschicht 15 wird in der gleichen Art und Weise wie die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 13 bestimmt. Man beachte, dass die Vergrößerung des TEM-Bildes je nach der Dicke der Barrierenschicht 15 geeignet eingestellt wird.
Beispiele
Im Folgenden wird hierin die vorliegende Offenbarung mit Verweis auf die Beispiele konkret beschrieben. Die vorliegende Offenbarung ist jedoch nicht auf diese Beispiele beschränkt.
In den folgenden Beispielen und Vergleichsbeispielen sind die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit der magnetischen Schicht 13, die M-H-Schleife, die senkrechte Koerzitivkraft Hc, die Massenmagnetisierung σs der magnetischen Schicht 13, die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 13, die durchschnittliche Teilchengröße der magnetischen Pulver, die Restkoerzitivkraft Hrp und die Positionen einer ersten Spitze und einer zweiten Spitze in einem Beugungsmuster, das mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) in der magnetischen Schicht 13 gemessen wird, durch die in der obigen Ausführungsform beschriebenen Messverfahren bestimmte Werte.
[Beispiel 1]
Ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 1 wurde wie folgt erhalten.
<Präparationsprozess eines Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht>
Das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht wurde wie folgt präpariert. Zunächst wurde eine erste Zusammensetzung der folgenden Formulierung mittels eines Extruders geknetet. Als Nächstes wurden die geknetete erste Zusammensetzung und eine zweite Zusammensetzung der folgenden Formulierung einem Rührtank zugegeben, der mit einer Dispergiereinrichtung ausgestattet war, um eine vorläufige Vermischung vorzunehmen. Anschließend wurde ferner ein Mischen mittels einer Sandmühle durchgeführt, und eine Filterbehandlung wurde vorgenommen, um das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht zu präparieren.
(Erste Zusammensetzung)
Die Bestandteile und das Gewicht der ersten Zusammensetzung lauten wie folgt.

- Pulver aus ε-Eisenoxid-Teilchen (Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,14, Zr [At-%]/Fe [At-%] = 0,05, sphärisch, durchschnittliches Aspektverhältnis: 1,1, durchschnittliche Teilchengröße: 16 nm, Teilchenvolumen: 2150 nm³, Massenmagnetisierung σs: 39 emu/g): 100 Masseteile
- Harz auf Vinylchlorid-Basis: 40 Masseteile (ein Lösungsmittel ist enthalten) (Harzlösungsmittel: 30 Masse-%, Cyclohexanon: 70 Masse-%) (Polymerisationsgrad: 300, Mn = 10000 und 0,07 mmol/g OSO₃K und 0,03 mmol/g sekundäres OH als polare Gruppe sind enthalten)
- Pulver aus Aluminiumoxid: 5 Masseteile (α-Al₂O₃, durchschnittliche Teilchengröße: 0,1 µm)
- Ruß (hergestellt von Tokai Carbon Co. Ltd., Handelsname: SE-AST TA): 2 Masseteile

(Zweite Zusammensetzung)
Die Bestandteile und das Gewicht der zweiten Zusammensetzung lauten wie folgt:

- Harz auf Vinylchlorid-Basis: 3 Masseteile (eine Lösung ist enthalten) (Harzlösung: Harz: 30 Masse-%, Cyclohexanon: 70 Masse-%)
- N-Butylstearat als Fettsäureester: 2 Masseteile
- Methylethylketon: 121,3 Masseteile
- Toluol: 121,3 Masseteile
- Cyclohexanon: 60,7 Masseteile

Dem Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht, das wie oben beschrieben präpariert wurde, wurden 4 Masseteile Polyisocyanat (Handelsname: Coronate L, hergestellt von Tosoh Corporation) als Härtemittel und 2 Masseteile Stearinsäure als Fettsäure zugegeben.
<Präparationsprozess eines Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer Unterschicht>
Das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht wurde wie folgt präpariert. Zunächst wurde eine dritte Zusammensetzung der folgenden Formulierung mittels eines Extruders geknetet. Als Nächstes wurden die geknetete dritte Zusammensetzung und eine vierte Zusammensetzung der folgenden Formulierung einem Rührtank, der mit einer Dispergiereinrichtung ausgestattet ist, zugegeben, um eine vorläufige Mischung durchzuführen. Anschließend wurde ferner eine Mischung mittels einer Sandmühle durchgeführt, und eine Filterbehandlung wurde vorgenommen, um das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht zu präparieren.
(Dritte Zusammensetzung)
Die Bestandteile und das Gewicht der dritten Zusammensetzung lauten wie folgt.

- Nadelförmige Eisenoxid-Pulver (α-Fe₂O₃, durchschnittliche Hauptachsenlänge: 0,15 µm): 100 Masseteile
- Harz auf Vinylchlorid-Basis (Harzlösung: Harz: 30 Masse-%, Cyclohexanon: 70 Masse-%): 60,6 Masseteile
- Ruß (durchschnittliche Teilchengröße: 20 nm): 10 Masseteile

(Vierte Zusammensetzung)
Die Bestandteile und das Gewicht der vierten Zusammensetzung lauten wie folgt.

- Harz auf Polyurethan-Basis UR8200 (hergestellt von Toyo Boseki: 18,5 Masseteile)
- N-Butylstearin als Fettsäureester: 2 Masseteile
- Methylethylketon: 108,2 Masseteile
- Toluol: 108,2 Masseteile
- Cyclohexanon: 18,5 Masseteile

Dem Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht, das wie oben beschrieben präpariert wurde, wurden 4 Masseteile Polyisocyanat (Handelsname: Coronate L, hergestellt von Tosoh Corporation) als Härtemittel und 2 Masseteile Stearinsäure als Fettsäure zugegeben.
<Präparationsprozess eines Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht>
Das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht wurde wie folgt präpariert. Das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht wurde präpariert, indem unten beschriebene Rohmaterialien in einem mit einer Dispergiereinrichtung ausgestatteten Rührtank gemischt wurden und ein Filterprozess durchgeführt wurde.

- Pulver aus Ruß mit kleinem Teilchendurchmesser (durchschnittlicher Teilchendurchmesser (D50) 20 nm): 90 Masseteile
- Pulver aus Ruß mit großem Teilchendurchmesser (durchschnittlicher Teilchendurchmesser (D50) 270 nm): 10 Masseteile
- Polyesterpolyurethan (hergestellt von Tosoh Corporation, Handelsname N-2304): 100 Masseteile
- Methylethylketon: 500 Masseteile
- Toluol: 400 Masseteile
- Cyclohexanon: 100 Masseteile

<Aufbringungsprozess>
Unter Verwendung des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht und des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer Unterschicht, die wie oben beschrieben präpariert wurden, wurden eine Unterschicht und eine magnetische Schicht auf einer Hauptoberfläche eines langgestreckten Polyesterfilms, der eine durchschnittliche Dicke von 4,0 µm aufwies und als nichtmagnetisches Trägerbauteil diente, wie folgt so gebildet, dass sie nach einem Kalandrieren eine durchschnittliche Dicke von 0,6 µm bzw. eine durchschnittliche Dicke von 80 nm aufwiesen. Zunächst wurde eine Unterschicht gebildet, indem das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer Unterschicht auf der einen Hauptoberfläche des Polyesterfilms aufgebracht und das Beschichtungsmaterial getrocknet wurde. Als Nächstes wurde eine magnetische Schicht gebildet, indem das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht auf der Unterschicht aufgebracht und das Beschichtungsmaterial getrocknet wurde. Es ist besonders zu erwähnen, dass während des Trocknens des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht das Magnetfeld der magnetischen Pulver durch eine Solenoidspule in der Dickenrichtung orientiert bzw. ausgerichtet wurde. Außerdem wurden die Trocknungsbedingungen (Trocknungstemperaturen und Trocknungszeiten) für das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer magnetischen Schicht eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums wurde auf die in Tabelle 1 unten dargestellten Werte eingestellt. Anschließend wurde eine rückseitige Schicht mit einer durchschnittlichen Dicke von 0,3 µm gebildet, indem das Beschichtungsmaterial zum Ausbilden einer rückseitigen Schicht auf eine andere Hauptoberfläche des Polyesterfilms aufgebracht und das Beschichtungsmaterial getrocknet wurde.
<Kalandrier- und Übertragungsprozesse>
Anschließend wurde ein Kalandrierprozess durchgeführt, um die Oberflächen der magnetischen Schicht zu glätten. Als Nächstes wurde das magnetische Aufzeichnungsmedium, das die magnetische Schicht mit der geglätteten Oberfläche aufwies, aufgerollt, und danach wurde eine Wärmebehandlung am magnetischen Aufzeichnungsmedium im aufgerollten Zustand 10 Stunden lang bei 60°C durchgeführt. Das magnetische Aufzeichnungsmedium wurde dann in eine Rollenform so zurückgespult bzw. -gewickelt, dass sich das Ende, das auf einer inneren Umfangsseite gelegen war, auf einer äußeren Umfangsseite befand, und danach wurde die Wärmebehandlung im aufgerollten Zustand wieder 10 Stunden lang bei 60°C am magnetischen Aufzeichnungsmedium durchgeführt. Dies ermöglicht, dass mehrere Erhebungen auf der Oberfläche der rückseitigen Schicht auf die Oberfläche der magnetischen Schicht übertragen werden, was mehrere Vertiefungen auf der Oberfläche der magnetischen Schicht ausbildet.
<Schneidprozess>
Das wie oben beschrieben erhaltene magnetische Aufzeichnungsmedium wurde in eine Breite von 1/2 Zoll (Inch) (12,65 mm) geschnitten, um ein gewünschtes langgestrecktes magnetisches Aufzeichnungsmedium (eine durchschnittliche Dicke von 5,6 µm) zu erhalten.
Im magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 1, das wie oben beschrieben erhalten wurde, betrug die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 6,1 mA und betrug das Verhältnis Hrp/Hc 1,67.
[Beispiel 2]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 13 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,15 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 40 emu/g. Außerdem wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde das magnetische Aufzeichnungsmedium des Beispiels 2 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten.
[Beispiel 3]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 19 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,15 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 40 emu/g. Darüber hinaus wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 3 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten.
[Beispiel 4]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Außerdem wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Darüber hinaus betrug im Aufbringungsprozess die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 60 nm. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 4 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 4 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 4,5 mA betrug.
[Beispiel 5]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,08 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 25 emu/g. Darüber hinaus wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 5 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass in dem so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 5 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 4,7 mA betrug.
[Beispiel 6]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,20 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 50 emu/g. Außerdem wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wird, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 6 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im oben erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 6 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 7,8 mA betrug.
[Beispiel 7]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,20 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 25 emu/g. Darüber hinaus wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 7 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 7 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 7,8 mA betrug.
[Beispiel 8]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,2 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,16 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 41 emu/g. Darüber hinaus wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 8 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 8 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 6,4 mA betrug.
[Beispiel 9]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,20 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 50 emu/g. Darüber hinaus wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 9 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 9 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 7,8 mA betrug.
[Beispiel 10]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Das Bestandsverhältnis von Co zu Fe in den ε-Eisenoxid-Teilchen betrug Co [At-%]/Fe [At-%] = 0,20 im Molverhältnis. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 50 emu/g. Darüber hinaus wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 10 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 10 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 5,8 mA betrug.
[Beispiel 11]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 16,2 nm. Außerdem wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium des Beispiels 11 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass in dem so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Beispiels 11 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 6,1 mA betrug.
[Vergleichsbeispiel 1]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht wurde den ε-Eisenoxid-Teilchen Zr nicht zugegeben. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 15 emu/g. Außerdem wurden im Prozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium eines Vergleichsbeispiels 1 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Vergleichsbeispiels 1 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 2,3 mA betrug.
[Vergleichsbeispiel 2]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Darüber hinaus wurde den ε-Eisenoxid-Teilchen Zr nicht zugegeben. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 16 emu/g. Zusätzlich wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium eines Vergleichsbeispiels 2 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Vergleichsbeispiels 2 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 2,3 mA betrug.
[Vergleichsbeispiel 3]
Im Präparationsprozess des Beschichtungsmaterials zum Ausbilden einer magnetischen Schicht betrug die durchschnittliche Teilchengröße der ε-Eisenoxid-Teilchen 15,5 nm. Darüber hinaus wurde den ε-Eisenoxid-Teilchen Zr nicht zugegeben. Dementsprechend betrug die Massenmagnetisierung σs der ε-Eisenoxid-Teilchen 16 emu/g. Außerdem wurden im Aufbringungsprozess die Trocknungsbedingungen eingestellt, und die Koerzitivkraft Hc in der Dickenrichtung (senkrechten Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums und die Restkoerzitivkraft Hrp, die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessen wurde, wurden auf die in Tabelle 1 dargestellten Werte eingestellt. Mit Ausnahme der obigen Punkte wurde ein magnetisches Aufzeichnungsmedium eines Vergleichsbeispiels 3 in der gleichen Art und Weise wie im obigen Beispiel 1 erhalten. Es ist besonders zu erwähnen, dass im so erhaltenen magnetischen Aufzeichnungsmedium des Vergleichsbeispiels 3 die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit in der magnetischen Schicht 4,7 mA betrug.
[Bewertung]
Die magnetischen Aufzeichnungsmedien der Beispiele 1 bis 11 und Vergleichsbeispiele 1 bis 3 wurden der folgenden Bewertung unterzogen.
(Schließung der Schleife)
Ob die M-H-Schleife innerhalb eines Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, geschlossen war oder nicht, wurde bestimmt. In Tabelle 1 ist „OK“ in einem Fall dargestellt, in dem die M-H-Schleife innerhalb des Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, geschlossen war, und ist „NG“ in einem Fall dargestellt, in dem die M-H-Schleife innerhalb des Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, nicht geschlossen war.
(Detektion einer XRD-Spitze in der Ebene)
Ob die erste Spitze an einer Position von 32,9° im Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) erzeugt wurde oder nicht und ob die zweite Spitze an einer Position von 36,6° im Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) erzeugt wurde oder nicht, wurden bestätigt. In Tabelle 1 ist OK in sowohl einem Fall, in dem die erste Spitze an der Position von 32,9° erzeugt wurde, als auch in einem Fall, in dem die zweite Spitze an der Position von 36,6° erzeugt wurde, dargestellt.
(SNR)
Das SNR (elektromagnetische Umwandlungseigenschaften) von jedem der magnetischen Aufzeichnungsmedien in einer Umgebung von 25°C wurde unter Verwendung einer 1/2-Zoll-Bandlaufvorrichtung (MTS Transport, hergestellt von Mountain Engineering II, Inc.) gemessen, die mit einem Aufzeichnungs-/Wiedergabekopf und einem Aufzeichnungs-/Wiedergabeverstärker ausgestattet war. Ein Ringkopf mit einer Spaltlänge von 0,2 µm wurde als Aufzeichnungskopf verwendet, und ein GMR-Kopf mit einem Abstand zwischen Abschirmungen von 0,1 µm wurde als Wiedergabekopf genutzt. Die Relativgeschwindigkeit betrug 6 m/s. Die Aufzeichnungstaktfrequenz betrug 160 MHz. Die Aufzeichnungsspurbreite betrug 2,0 µm. Außerdem wurde das SNR auf der Basis eines in der folgenden Literatur beschriebenen Verfahrens berechnet. Ergebnisse solch einer Berechnung sind in Tabelle 1 in der Form von Werten relativ zum SNR des Vergleichsbeispiels 3, das als 0 dB angesetzt wurde, dargestellt.
Y. Okazaki: „An Error Rate Emulation System.“, IEEE Trans. Man., 31, S. 3093-3095 (1995)
(Signalabschwächungsbetrag nach Ablauf von 10 Jahren)
Signaldämpfungs- bzw. -abschwächungsbeträge nach Ablauf von zehn Jahren von Proben der jeweiligen Beispiele und jeweiligen Vergleichsbeispiele wurden wie folgt bestimmt. Konkret wurde ein von Micro Physics, Inc. hergestellter „Tape Head Tester (worauf hier im Folgenden als THT verwiesen wird)“ verwendet. Als Aufzeichnungs-/Wiedergabekopf wurde ein auf einem von IBM Corporation hergestellten Bandlaufwerk „TS1140“ montierter Kopf verwendet wie er ist. Für eine Messung wurde ein Magnetband als magnetisches Aufzeichnungsmedium in eine Länge von 90 cm geschnitten und so in eine Ringform gebracht, dass eine Aufzeichnungsschicht des Magnetbandes auf der Rückseite lag, und danach wurden beide Enden des Magnetbandes auf einer rückseitigen Oberfläche des Magnetbandes durch ein Klebeband miteinander verbunden. Außerdem wurde ein Silberband zur Detektion einer Bandumfangsposition einem Verbindungsbereich des Magnetbandes benachbart aufgeklebt. Das ringförmige Magnetband wurde auf dem THT montiert und ließ man danach mit einer Geschwindigkeit von 2 m/s rotieren.
Als Nächstes wurden Signale mit 10 MHz, die unter Verwendung eines von Tektronix Inc. hergestellten Signalgenerators „ARBITRARY WAVEFORM GENERATOR AWG2021“ erzeugt wurden, auf dem Magnetband in einem Durchlauf der gesamten Bandlänge unter Verwendung eines optimalen Aufzeichnungsstroms aufgezeichnet. Im Anschluss an die Aufzeichnung wurden vom nächsten Durchlauf die auf dem Band aufgezeichneten Signale kontinuierlich wiedergegeben, und die wiedergegebene Abgabe wurde mittels eines von Hewlett Packard Company hergestellten Spektrum-Analysators „8591E“ gemessen. Es ist besonders zu erwähnen, dass die Einstellung des Spektrum-Analysators zu dieser Zeit wie folgt lautete RBW: 1 MHz, VBW: 1 MHz, SWP: 500 ms, Punkte: 400 und Null-Spanne-Modus. Die Messung wurde 0,4 s lang durchgeführt, was nur einem „Aufzeichnungsabschnitt“ mit Ausnahme eines „Abschnitts in der Nähe des Bonding-Bereichs des Bands“, wo keine ausreichende Aufzeichnung vorgenommen wurde, äquivalent ist, und ein Durchschnittswert T der wiedergegebenen Ausgabe während dieser Zeit wurde berechnet. Die Messung wurde für jeden Durchlauf des Bandes durchgeführt, und der Durchschnittswert Y einer wiedergegebenen Ausgabe in jedem Durchlauf wurde als Durchschnittswert Y (t) der wiedergegebenen Ausgabe in einer verstrichenen Zeit ab dem Ende der Signalaufzeichnung (t = 0) betrachtet. Die Messung wurde bis t = 100 s durchgeführt, und die Ergebnisse wurden zeitnah zu einem angeschlossenen Personalcomputer übertragen und auf ihm aufgezeichnet.
Der oben beschriebene Messablauf wurde unter Verwendung desselben Magnetbandes viermal durchgeführt, und die durch die Messungen erhaltenen Werte Y (t) wurden für jede gleiche verstrichene Zeit t gemittelt, um eine Sequenz Yave(t) zu erhalten. Die erhaltenen Yave(t) wurden auf einer Y-Achse einer grafischen Darstellung aufgetragen, und die verstrichene Zeit t wurde auf einer X-Achse der grafischen Darstellung aufgetragen, und aus dieser grafischen Darstellung wurde unter Verwendung einer logarithmischen Approximation eine Näherungskurve erzeugt. Die erhaltene Näherungskurve wurde genutzt, um einen Signalabschwächungsbetrag nach zehn Jahren zu berechnen.

Tabelle 1 stellt eine Zusammenfassung von Konfigurationen und Bewertungsergebnissen der magnetischen Aufzeichnungsmedien in den jeweiligen Beispielen und den jeweiligen Vergleichsbeispielen bereit. Tabelle 1

	Elementverhältnis im ε-Eisenoxid		Mst	Senkrechte Koerzitivkraft Hc	Massenmagnetisierung σs	durchschnittl. Dicke der magnetischen Schicht	Größe der magnetischen Teilchen	Restkoerzitivkraft (Impuls-Magnetfeld) Hrp	Hrp /Hc	Schließung der Schleife	Detektion einer XRD-Spitze in der Ebene		elektromagnetische Umwandlungseigenschaften SNR	Signalabschwächungsbetrag nach Ablauf von 10 Jahren
	Co [at%] /Fe[at%]	Zr [at%] /Fe [at%]	[mA]	[Oe]	[emu/g]	[nm]	[nm]	[Oe]	[-]		32,9°	36,6°	[dB]	[dB]
Beispiel 1	0,14	0,05	6,1	3900	39	80	16,0	6500	1,67	OK	OK	OK	2,5	-0,12
Beispiel 2	0,15	0,05	6,1	4500	40	80	13,0	9000	2,00	OK	OK	OK	3,5	-0,95
Beispiel 3	0,15	0,05	6,1	3500	40	80	19,0	5100	1,46	OK	OK	OK	1,1	-0,02
Beispiel 4	0,14	0,05	4,5	3200	39	60	15,5	5400	1,69	OK	OK	OK	3,3	-0,20
Beispiel 5	0,08	0,05	4,7	4300	25	80	15,5	8000	1,86	OK	OK	OK	2,0	-0,95
Beispiel 6	0,20	0,05	7,8	2150	50	80	16,0	3750	1,74	OK	OK	OK	2,0	-0,95
Beispiel 7	0,20	0,05	7,8	3200	50	80	15,5	5300	1,66	OK	OK	OK	3,5	-0,10
Beispiel 8	0,16	0,05	6,4	3000	41	80	15,2	5300	1,77	OK	OK	OK	3,4	-0,20
Beispiel 9	0,20	0,05	7,8	3000	50	80	15,5	5000	1,67	OK	OK	OK	3,9	-0,12
Beispiel 10	0,20	0,05	5,8	3200	50	60	15,5	5000	1,56	OK	OK	OK	3,8	-0,10
Beispiel 11	0,14	0,05	6,1	6000	39	80	16,2	8500	1,42	OK	OK	OK	2,5	-0,05
Vergleichsbeispiel 1	0,01	0	2,3	20000	15	80	16,0	35000	1,75	NG	OK	OK	1,3	-0,03
Vergleichsbeispiel 2	0,01	0	2,5	3800	16	80	15,5	8100	2,13	OK	OK	OK	0,5	-2,00
Vergleichsbeispiel 3	0,01	0	4,7	3800	16	150	15,5	8100	2,13	OK	OK	OK	0 (Referenz)	-2,00

Wie in Tabelle 1 veranschaulicht ist, war in den Beispielen 1 bis 11 eine magnetische Schicht enthalten, in der die erste Spitze bei 32,9° und die zweite Spitze bei 36,6° im Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) erzeugt wurden, betrug das Verhältnis Hrp/Hc 2,0 oder weniger, war Eisenoxid enthalten und betrug die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit 4,5 mA oder mehr. Dementsprechend wurden in den Beispielen 1 bis 11 vorteilhafte Ergebnisse sowohl des SNR als auch des Signalabschwächungsbetrags erhalten.
Insbesondere im Beispiel 9 wurden äußerst vorteilhafte Ergebnisse in sowohl des SNR als auch des Signalabschwächungsbetrags erhalten. Im Beispiel 9 wurde zusätzlich zur hohen Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit die unter Verwendung des Impuls-Magnetfeldes gemessene Restkoerzitivkraft Hrp niedrig gehalten. Dies macht es möglich, ein Aufzeichnungsmagnetfeld auf der magnetischen Schicht 13 einfach zu schreiben und eine steile Magnetisierungsumkehr in der Magnetschicht 13 herbeizuführen; daher ist es begreiflich, dass ein vorteilhaftes SNR erhalten wurde.
Im Beispiel 2 waren die magnetischen Teilchen klein; daher wurde ein vorteilhafteres SNR erhalten. Außerdem wurden im Beispiel 3 verhältnismäßig große magnetische Teilchen erhalten; daher wurde ein vorteilhaftes Ergebnis beim Signalabschwächungsbetrag erhalten.
Im Vergleichsbeispiel 1 war die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit geringer als 4,5 mA; daher wurde eine Verschlechterung des SNR beobachtet.
Im Vergleichsbeispiel 2 war die Sättigungsmagnetisierung Mst pro Flächeneinheit geringer 4,5 mA und übertraf das Verhältnis Hrp/Hc 2,0; daher war das SNR unzureichend. Außerdem wurde auch eine Verschlechterung des Sättigungsabschwächungsbetrags nach Ablauf von zehn Jahren beobachtet.
Im Vergleichsbeispiel 3 übertraf das Verhältnis Hrp/Hc 2,0 und war die durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht verhältnismäßig dick; daher war das SNR unzureichend. Darüber hinaus wurde auch eine Verschlechterung des Signalabschwächungsbetrags nach Ablauf von zehn Jahren beobachtet.
Obgleich die vorliegende Offenbarung mit Verweis auf die Ausführungsformen und deren Modifikationsbeispiele konkret beschrieben wurde, ist die vorliegende Offenbarung nicht auf die Ausführungsformen und dergleichen, die oben beschrieben wurden, beschränkt und kann auf vielfältige Weisen modifiziert werden.
Beispielsweise sind die Konfigurationen, Verfahren, Prozesse, Formen, Materialien, numerischen Werte und dergleichen, die in den obigen Ausführungsformen und deren Modifikationsbeispielen beschrieben wurden, nur Beispiele und können nötigenfalls unterschiedliche Konfigurationen, Verfahren, Prozesse, Formen, Materialien, numerische Werte und dergleichen verwendet werden. Konkret kann das magnetische Aufzeichnungsmedium der vorliegenden Offenbarung andere Komponenten als die Basis, die Unterschicht, die magnetische Schicht, die rückseitige Schicht und die Barrierenschicht enthalten. Darüber hinaus sind die chemischen Formeln der Verbindungen oder dergleichen repräsentative Beispiele und nicht auf die Wertigkeiten bzw. Valenzen oder dergleichen beschränkt, die oben beschrieben wurden, solange die Verbindungen mit den gleichen allgemeinen Bezeichnungen verwendet werden.
Ferner können die Konfigurationen, Verfahren, Prozesse. Formen, Materialien, numerischen Werte und dergleichen der oben beschriebenen Ausführungsformen und deren Modifikationsbeispiele miteinander kombiniert werden, ohne vom Geist der vorliegenden Offenbarung abzuweichen.
Überdies können in den in den Abschnitten hierin beschriebenen numerischen Wertebereichen der obere Grenzwert oder der untere Grenzwert des numerischen Wertebereichs in jedem Abschnitt durch den oberen Grenzwert oder den unteren Grenzwert des numerischen Wertebereichs in einem anderen Abschnitt ersetzt werden. Sofern nicht anders konkret spezifiziert können die hierin beispielhaft dargelegten Materialien allein verwendet werden oder können zwei oder mehr davon in Kombination verwendet werden.
Wie oben beschrieben wurde, ist es gemäß dem magnetischen Aufzeichnungsmedium einer Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung möglich, sowohl die Verbesserung elektromagnetischer Umwandlungseigenschaften als auch die Sicherstellung einer hohen langfristigen Zuverlässigkeit zu erzielen.
Es ist besonders zu erwähnen, dass der Effekt der vorliegenden Offenbarung nicht darauf beschränkt ist und beliebige hierin beschriebene Effekte umfassen kann. Ferner kann die vorliegende Technologie die folgenden Konfigurationen aufweisen.

(1) Ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, umfassend eine magnetische Schicht; und eine Basis, worin die magnetische Schicht ε-Eisenoxid enthaltende magnetische Pulver enthält, ein Verhältnis (Hrp/Hc) einer unter Verwendung eines Impuls-Magnetfeldes in einer senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums gemessenen Restkoerzitivkraft (Hrp) zu einer senkrechten Koerzitivkraft (Hc) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 2,0 oder weniger beträgt und eine Sättigungsmagnetisierung (Mst) pro Flächeneinheit des magnetischen Aufzeichnungsmediums 4,5 mA oder mehr beträgt.
(2) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß (1), worin eine erste Spitze bei 32,9° und eine zweite Spitze bei 36,6° in einem Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) erzeugt werden.
(3) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß (1), worin eine durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 80 nm oder weniger beträgt.
(4) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß einem von (1) bis (3), worin die senkrechte Koerzitivkraft 2000 Oe oder mehr und 6000 Oe oder weniger beträgt.
(5) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß einem von (1) bis (3), worin die senkrechte Koerzitivkraft 2500 Oe oder mehr und 4500 Oe oder weniger beträgt.
(6) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß einem von (1) bis (5), worin eine Massenmagnetisierung der magnetischen Pulver 30 emu/g oder mehr und 60 emu/g oder weniger beträgt.
(7) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß einem von (1) bis (6), worin ein durchschnittlicher Teilchendurchmesser der magnetischen Pulver 20 nm oder weniger beträgt.
(8) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß einem von (1) bis (7), worin das ε-Eisenoxid Zirkonium (Zr) und Kobalt (Co) enthält.
(9) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß einem von (1) bis (8), worin eine Magnetisierungskurve (M-H-Schleife), die eine Beziehung zwischen einer Magnetisierung und einem Magnetfeld in der magnetischen Schicht repräsentiert, innerhalb eines Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, geschlossen ist.
(10) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß (8), worin ein Molverhältnis von Kobalt im ε-Eisenoxid 3 Atom-% oder mehr und 20 Atom-% oder weniger in Bezug auf das als 100 genommene Atom-% einer Kombination von Eisen (Fe) und Kobalt beträgt.
(11) Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß (8), worin ein Molverhältnis von Zirkonium im ε-Eisenoxid 1 Atom-% oder mehr und 8 Atom-% oder weniger in Bezug auf das als 100 genommene Atom-% einer Kombination von Eisen (Fe) und Zirkonium beträgt.

Diese Anmeldung beansprucht den Nutzen der am 21. Januar 2020 beim Japanischen Patentamt eingereichten japanischen Prioritäts-Patentanmeldung JP2020-007832 , deren gesamte Inhalte durch Verweis hierin einbezogen sind.
Es sollte sich verstehen, dass der Fachmann je nach Entwurfsanforderungen und anderen Faktoren verschiedene Modifikationen, Kombinationen, Teilkombinationen und Änderungen vornehmen kann und diese innerhalb des Umfangs der beigefügten Ansprüche oder deren Äquivalente liegen.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
Zitierte Patentliteratur

WO 2018/203468 [0003]
JP 2020007832 [0150]

Claims

Magnetisches Aufzeichnungsmedium, umfassend eine magnetische Schicht und eine Basis, wobei die magnetische Schicht ε-Eisenoxid enthaltende magnetische Pulver enthält, ein Verhältnis (Hrp/Hc) einer unter Verwendung eines Impuls-Magnetfeldes in einer senkrechten Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums gemessenen Restkoerzitivkraft (Hrp) zu einer senkrechten Koerzitivkraft (Hc) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 2,0 oder weniger beträgt und eine Sättigungsmagnetisierung (Mst) pro Flächeneinheit des magnetischen Aufzeichnungsmediums 4,5 mA oder mehr beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei eine erste Spitze bei 32,9° und eine zweite Spitze bei 36,6° in einem Beugungsmuster mittels Röntgenbeugung in der Ebene (mit einer Cu-Röhre) erzeugt werden.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei eine durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht 80 nm oder weniger beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die senkrechte Koerzitivkraft 2000 Oe oder mehr und 6000 Oe oder weniger beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die senkrechte Koerzitivkraft 2500 Oe oder mehr und 4500 Oe oder weniger beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei eine Massenmagnetisierung der magnetischen Pulver 30 emu/g oder mehr und 60 emu/g oder weniger beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei ein durchschnittlicher Teilchendurchmesser der magnetischen Pulver 20 nm oder weniger beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei das ε-Eisenoxid Zirkonium (Zr) und Kobalt (Co) enthält.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei eine Magnetisierungskurve (M-H-Schleife), die eine Beziehung zwischen einer Magnetisierung und einem Magnetfeld in der magnetischen Schicht repräsentiert, innerhalb eines Bereichs von -15 kOe bis +15 kOe, beide inklusive, geschlossen ist.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei ein Molverhältnis von Kobalt im ε-Eisenoxid 3 Atom-% oder mehr und 20 Atom-% oder weniger in Bezug auf das als 100 genommene Atom-% einer Kombination von Eisen (Fe) und Kobalt beträgt.
Magnetisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei ein Molverhältnis von Zirkonium im ε-Eisenoxid 1 Atom-% oder mehr und 8 Atom-% oder weniger in Bezug auf das als 100 genommene Atom-% einer Kombination von Eisen (Fe) und Zirkonium beträgt.