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Technisches Gebiet
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Taktübertragungsvorrichtung zum
Synchronisieren eines Mustersignals mit einem variablen Takt, der auf
der Grundlage einer Oszillationsquelle oszilliert, die verschieden
von der des Mustersignals ist, und auf eine Prüfvorrichtung mit einer derartigen
Taktübertragungsvorrichtung.
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Diese
Patentanmeldung nimmt den Inhalt der
japanischen Patentanmeldung Nr. 2005-093022 , die
am 28. März
2005 eingereicht wurde, durch Bezugnahme auf, soweit dies anwendbar
ist.
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Stand der Technik
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Als
eine Prüfvorrichtung
zum Prüfen
einer geprüften
Vorrichtung wie einer Halbleiterschaltung ist eine Prüfvorrichtung
bekannt, die Jitter in ein Prüfsignal
injiziert, das zu der geprüften
Vorrichtung zu liefern ist, und einen Wert des Jitters misst, das
verhindert, dass die geprüfte
Vorrichtung normal arbeitet. während
die Prüfvorrichtung
das Prüfsignal
auf der Grundlage eines Bezugstakts erzeugt, waren ein Verfahren
zum Injizieren von Jitter in den Bezugstakt und ein Verfahren zum
Injizieren in das erzeugte Prüfsignal
bei dem Injizieren von Jitter in das Prüfsignal bekannt.
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1 ist ein Diagramm zur Erläuterung
einer herkömmlichen
Prüfvorrichtung 200,
wobei 1A eine Konfiguration der Prüfvorrichtung 200 zeigt,
die Jitter in den Bezugstakt injiziert, und 1B eine Konfiguration
der Prüfvorrichtung 200 zeigt,
die Jitter in das Prüfsignal
injiziert. Die in 1A gezeigte Prüfvorrichtung 200 hat
eine Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 202,
eine Mustererzeugungsschaltung 204 und eine variable Verzögungsschaltung 206.
Die Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 202 erzeugt den Bezugstakt
mit nahezu derselben Periode wie der des Prüfsignals, das an die geprüfte Vorrichtung
DUT anzulegen ist, und liefert es zu jeder Komponente der Prüfvorrichtung 200.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 204 erzeugt das an die geprüfte Vorrichtung
DUT anzulegende Prüfsignal
entsprechend dem gegebenen Bezugstakt. Das heißt, sie erzeugt Impulse des
Prüfsignals
entsprechend Impulsen des gegebenen Bezugstakts. Daher ist es möglich, das
Prüfsignal
mit einer gewünschten
Periode durch Steu ern der Periode des Bezugstakts zu erzeugen. Die
Prüfvorrichtung 200 injiziert
Jitter in das Prüfsignal
durch Erzeugen des Bezugstakts, in den Jitter injiziert wurde, in
der Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 202. Die variable Verzögerungsschaltung 206 steuert
das Prüfsignal so,
dass es eine gewünschte
Phase hat, und legt es an die geprüfte Vorrichtung DUT an.
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Die
in 1B gezeigte Prüfvorrichtung 200 hat
eine Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 208, eine Mustererzeugungsschaltung 204,
eine Grobverzögerungsschaltung 210,
eine variable Verzögerungsschaltung 206 und
eine Additionsschaltung 212. Die Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 208 erzeugt
einen Bezugstakt mit einer voreingestellten Periode, und die Mustererzeugungsschaltung 204 erzeugt
das Prüfsignal
entsprechend dem gegebenen Bezugstakt. Die Grobverzögerungsschaltung 210 und
die variable Verzögerungsschaltung 206 verzögern jeweilige
Impulse des Prüfsignals,
um die Periode und die Phase des Prüfsignals zu steuern. Die Grobverzögerungsschaltung 210 verzögert ganzzahlige
Vielfache der Periode des Bezugstakts unter Verzögerungswerten der jeweiligen
Impulse des zu verzögernden
Prüfsignals,
und die variable Verzögerungsschaltung 206 verzögert um
einen Wert, der kleiner als die Periode des Bezugstakts ist, unter
den Verzögerungswerten.
Die Additionsschaltung 212 addiert akkumulierend Differenzen
der Periode des Prüfsignals
und der Periode des Bezugstakts, um den Verzögerungswert der variablen Verzögerungsschaltung 206 zu
steuern. Die Prüfvorrichtung 200 injiziert
Jitter in das Prüfsignal
durch Vorsehen einer Spannungsschwankungsschaltung an einem Ausgangsende oder
durch Steuern des Verzögerungswerts
der variablen Verzögerungsschaltung 206.
Der Anmelderin sind gegenwärtig
keine relevanten Pa tentdokumente bekannt, so dass ihre Beschreibung
hier weggelassen wird.
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Offenbarung der Erfindung
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Durch die Erfindung zu lösende Probleme
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Es
ist jedoch schwierig, das Zeitverhalten der in 1A gezeigten
Prüfvorrichtung 200 zu
bestimmen, da die Periode des zu jeder Komponente gelieferten Bezugstakts
variabel ist. Das heißt,
da die Periode des als ein Arbeitstakt gegebenen Bezugstakts schwankt,
ist es erforderlich, das Zeitverhalten jeder Komponente so zu bestimmen,
dass sie in jeder Periode des Bezugstakts arbeiten kann. Weiterhin
wird es schwierig, das Zeitverhalten zu bestimmen, da der Bezugstakt,
in den das Jitter injiziert wurde, zu jeder Komponente geliefert
wird.
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Weiterhin
ist es schwierig, während
die in 1B gezeigte Prüfvorrichtung 200 Jitter
in das Prüfsignal
durch die Spannungsschwankungsschaltung oder dergleichen injiziert,
ein genaues Jitter zu injizieren im Vergleich zu dem Fall des Injizierens
von Jitter in der Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 208.
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Demgemäß ist es
eine Aufgabe einiger Aspekte der Erfindung, eine Taktübertragungsvorrichtung
und eine Prüfvorrichtung
vorzusehen, die in der Lage sind, die vorbeschriebenen Probleme
zu lösen. Diese
Aufgabe kann gelöst
werden durch die Kombination von in den unabhängigen Ansprüchen der
Erfindung beschriebenen Merkmalen. Von diesen abhängige Ansprüche spezifizieren
bevorzugte Ausführungsbeispiele
der Erfindung.
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Mittel zum Lösen der
Probleme
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Das
heißt,
gemäß einem
ersten Aspekt der Erfindung ist eine Taktübertragungsvorrichtung vorgesehen
zum Synchronisieren eines mit einem Bezugstakt synchronisierten
Mustersignals mit einem variablen Takt auf der Grundlage einer Oszillationsquelle,
die verschieden von der des Bezugstakts ist, mit einer Ratentakt-Erzeugungsschaltung
zum Erzeugen eines Ratentakts, dessen Impulsanzahl innerhalb einer
vorbestimmten Periode nahezu gleich einer Anzahl von Impulsen des
variablen Takts innerhalb der vorbestimmten Periode ist, durch Ausdünnen der
Impulse des Bezugstakts, einer Mustererzeugungsschaltung zum Erzeugen
des Mustersignals entsprechend den Impulsen des Ratentakts und einen
FIFO-Speicher, der Daten des Mustersignals entsprechend den Impulsen
des Ratentakts speichert und die gespeicherten Daten entsprechend
den Impulsen des variablen Takts ausgibt.
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Die
Taktübertragungsvorrichtung
kann weiterhin eine Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung enthalten,
um zu bewirken, dass der FIFO-Speicher die gespeicherten Daten so
lange nicht ausgibt, bis das Mustersignal zu dem FIFO-Speicher geliefert
wird, und zu bewirken, dass der FIFO-Speicher die gespeicherten
Daten ausgibt, nachdem das Mustersignal zu dem FIFO-Speicher geliefert
wurde.
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Die
Taktübertragungsvorrichtung
kann weiterhin eine Erzeugungsschaltung für einen variablen Takt zum
Erzeugen des variablen Takts und eine Startzeit-Steuerschaltung zum Liefern eines Startsignals
enthalten, um zu bewirken, dass die Ratentakt-Erzeugungsschaltung und die Erzeugungsschaltung
für den
variablen Takt mit der Ausgabe des Ratentakts und des variablen
Takts beginnen, und die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung kann den Zeitpunkt
steuern, zu welchem der FIFO-Speicher mit der Ausgabe der Daten
beginnt, auf der Grundlage einer Differenzzeit zwischen einer ersten
Zeitperiode von dem Empfang des Startsignals durch die Ratentakt-Erzeugungsschaltung
bis zur Zuführung
des Ratentakts zu dem FIFO-Speicher und einer zweiten Zeitperiode
von dem Empfang des Startsignals durch die Erzeugungsschaltung für den variablen
Takt bis zur Zuführung
des variablen Takts zu dem FIFO-Speicher.
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Die
Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung kann eine Teilungsschaltung haben,
die Informationen über
die Zeitdifferenz zwischen der ersten Zeitperiode und der zweiten
Zeitperiode empfängt
und die Differenzzeitinformationen durch eine Periode des variablen
Takts teilt, sowie eine FIFO-Steuerschaltung, die eine Anzahl von
Impulsen des gegebenen variablen Takts zählt und, wenn ein Zählwert mit
einem Wert übereinstimmt,
der durch Berechnen eines Dezimalpunkts oder weniger eines Ergebnisses
der Teilung in der Teilungsschaltung als eine Einheit erhalten wurde, übereinstimmt,
mit der Ausgabe der in dem FIFO-Speicher gespeicherten Daten beginnt. Die
Taktübertragungsvorrichtung
kann weiterhin eine Jitterinjektionsschaltung zum Injizieren von
Jitter in den von der Erzeugungsschaltung für variablen Takt erzeugten
variablen Takt enthalten.
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Die
Erzeugungsschaltung für
variablen Takt kann enthalten: einen spannungsgesteuerten Oszillator
zum Erzeugen des variablen Takts, einen Frequenzteiler zum Teilen
des variablen Takts, einen Phasenkomparator zum Erfassen einer Phasendifferenz
zwischen dem durch den Teiler geteilten variablen Takt und einem
gegebenen Vergleichstakt, und eine Ladungspumpe zum Erzeugen einer
Steuerspannung entsprechend der von dem Phasenkomparator erfassten
Phasendifferenz, um die Frequenz des von dem spannungsgesteuerten
Oszillator erzeugten variablen Takts zu steuern, wobei die Jitterinjektionsschaltung
Jitter in den variablen Takt durch Überlagern des Jitters über die
von dem Phasenkomparator erfasste Phasendifferenz oder die von der
Ladungspumpe erzeugte Steuerspannung injiziert.
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Die
Taktübertragungsvorrichtung
kann weiterhin eine Phasensteuerschaltung zum Überlagern eines Phasensteuersignals
zum Steuern der Phase des von dem FIFO-Speicher ausgegebenen Mustersignals über die
von dem Phasenkomparator erfasste Phasendifferenz oder die von der
Ladungspumpe erzeugte Steuerspannung enthalten. Die Erzeugungsschaltung
für den
variablen Takt kann weiterhin einen Addieren zum Addieren des Jittersignals
und des Phasensteuersignals und eine Überlagerungsvorrichtung zum Überlagern
eines von dem Addierer ausgegebenen Signals über die Phasendifferenz oder
die Steuerspannung enthalten.
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Gemäß einem
zweiten Aspekt der Erfindung ist eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer
geprüften Vorrichtung
vorgesehen, mit einer Bezugstakt-Erzeugungsschaltung zum Erzeugen
eines Bezugstakts, einem ersten Prüfmodul zum Erzeugen eines ersten Prüfsignals
mit einer Periode, die unterschiedlich gegenüber der des Bezugstakts ist,
zur Zuführung
zu der geprüften
Vorrichtung, und ein zweites Prüfmodul zum
Erzeugen eines zweiten Prüfsignals,
das mit dem Bezugstakt synchronisiert ist, zur Zuführung zu der
geprüften
Vorrichtung, wobei das erste Prüfmodul
aufweist: eine Erzeugungsschaltung für variablen Takt zum Erzeugen eines
variablen Takts mit einer von der des Bezugstakts verschiedenen
Periode, eine Ratentakt-Erzeugungsschaltung
zum Erzeugen eines Ratentakts, dessen Impulsanzahl innerhalb einer
vorbestimmten Zeitperiode gleich einer Anzahl von Impulsen des variablen
Takts innerhalb der vorbestimmten Zeitperiode ist, eine Mustererzeugungsschaltung
zum Erzeugen eines Mustersignals entsprechend den Impulsen des Ratentakts
und einen FIFO-Speicher zum Speichern von Daten des Mustersignals
entsprechend den Impulsen des Ratentakts und zum Ausgeben der gespeicherten
Daten als das erste Prüfsignal
entsprechend den Impulsen des variablen Takts.
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Es
ist festzustellen, dass die vorstehend beschriebene Zusammenfassung
der Erfindung nicht notwendigerweise alle erforderlichen Merkmale
der Erfindung beschreibt. Die Erfindung kann auch eine Unterkombination
der vorbeschriebenen Merkmale sein.
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Wirkung der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung ermöglicht
die Erzeugung des Prüfsignals
mit gewünschter
Periode durch die Schaltung, deren Zeitverhalten einfach bestimmbar
ist. Weiterhin ermöglicht
sie, dass sehr genaues Jitter in das Prüfsignal injiziert wird durch
die Schaltung, deren Zeitverhalten leicht bestimmbar ist.
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Kurzbeschreibung der Zeichnungen
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1 ist ein Diagramm zur Erläuterung
einer herkömmlichen
Prüfvorrichtung 200,
worin 1A eine Konfiguration einer
Prüfvorrichtung 200 zeigt, die
Jitter in einen Bezugstakt injiziert, und 1B eine
Konfiguration der Prüfvorrichtung 200 zeigt,
die Jitter in ein Prüfsignal
injiziert.
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2 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der Erfindung zeigt.
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3 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration einer Taktübertragungsvorrichtung 22 zeigt.
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4 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration einer Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 zeigt.
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5 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Arbeitsweise der Taktübertragungsvorrichtung 22 zeigt.
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6 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration einer Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt zeigt.
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7 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration der Taktübertragungsvorrichtung 22 zeigt.
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- 10
- Körperabschnitt;
- 12
- Oktavtakt-Erzeugungsschaltung;
- 14
- Bezugstakt-Erzeugungsschaltung;
- 16
- Startzeit-Steuerschaltung;
- 20
- erstes
Prüfmodul;
- 22
- Taktübertragungsvorrichtung;
- 28
- Treiber;
- 30
- Prüfmodul;
- 32
- Periodenerzeugungsschaltung;
- 34
- Mustererzeugungsschaltung;
- 36
- Verzögerungsschaltung;
- 38
- logische
Vergleichsschaltung;
- 40
- Treiber;
- 42
- Komparator;
- 44
- Erzeugungsschaltung
für variablen
Takt;
- 46
- Ratentakt-Erzeugungsschaltung;
- 48
- Mustererzeugungsschaltung;
- 50
- setzseitige
Schaltung;
- 52
- Pipeline;
- 54
- FIFO-Speicher;
- 56
- Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung;
- 58
- Verzögerungssteuerschaltung;
- 60
- Grobverzögerungsschaltung;
- 62
- UND-Schaltung;
- 64
- variable
Verzögerungsschaltung;
- 66
- rücksetzseitige
Schaltung;
- 68
- Setz-/Rücksetz-Verriegelungsvorrichtung;
- 70
- Teilungsschaltung;
- 71
- FIFO-Steuerschaltung;
- 72
- Zähler;
- 74
- Flipflop;
- 76
- Auswahlschaltung;
- 78
- ODER-Schaltung;
- 80
- Frequenzteiler;
- 82
- Jitterinjektionsschaltung;
- 84
- Phasensteuerschaltung;
- 86
- Addierer;
- 88
- Phasenkomparator;
- 90
- Überlagerungsvorrichtung;
- 92
- Ladungspumpenschaltung;
- 94
- spannungsgesteuerter
Oszillator;
- 96
- UND-Schaltung;
- 98
- Frequenzteiler;
- 100
- Prüfvorrichtung;
- 102
- Flipflop;
- 104
- Flipflop;
- 200
- herkömmliche
Prüfvorrichtung;
- 202
- Bezugstakt-Erzeugungsschaltung;
- 204
- Mustererzeugungsschaltung;
- 206
- variable
Verzögerungsschaltung;
- 208
- Bezugstakt-Erzeugungsschaltung;
- 210
- Grobverzögerungsschaltung;
- 212
- Additionsschaltung.
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Beste Art der Ausführung der
Erfindung
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Die
Erfindung wird nun auf der Grundlage bevorzugter Ausführungsbeispiele
beschrieben, die den Bereich der Erfindung nicht beschränken, sondern
die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und deren Kombinationen,
die in den Ausführungsbeispielen
beschrieben sind, sind nicht notwendigerweise wesentlich für die Erfindung.
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2 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der Erfindung zeigt. Die Prüfvorrichtung 100 ist
eine Vorrichtung zum Prüfen einer geprüften Vorrichtung
DUT wie einer Halbleiterschaltung und hat einen Körperabschnitt 10,
ein erstes Prüfmodul 20 und
ein zweites Prüfmodul 30.
Obgleich die Prüfvorrichtung 100 in
diesem Beispiel die beiden Prüfmodule
hat, kann die Prüfvorrichtung 100 bei
einem anderen Beispiel eine große
Anzahl von Prüfmodulen
entsprechend einer Anzahl von Eingangs-/Ausgangsstiften der geprüften Vorrichtung DUT
haben.
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Der
Körperabschnitt 10 steuert
das erste und das zweite Prüfmodul 20 und 30.
Der Körperabschnitt 10 hat
eine Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 14, eine Oktavtakt-Erzeugungsschaltung 12 und
eine Startzeit-Steuerschaltung 16.
Die Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 14 erzeugt einen Bezugstakt
mit einer vorbestimmten Frequenz, die die Arbeitsfrequenz des ersten
und des zweiten Prüfmoduls 20 und 30 spezifiziert.
Die Oktavtakt-Erzeugungsschaltung 12 hat eine Taktoszillationsquelle,
die verschieden von der der Bezugstakt-Erzeugungsschaltung 14 ist,
und erzeugt einen Oktavtakt, dessen Frequenz variabel ist. Die Startzeit-Steuerschaltung 16 erzeugt
ein Startsignal, das die Zeit zum Starten der Prüfung der geprüften Vorrichtung
DUT spezifiziert. Das Startsignal ist ein Signal, das während der
Prüfung
von der Startzeit bis zum Ende der Prüfung den logischen Wert H darstellt.
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Das
erste Prüfmodul 20 ist
ein Modul beispielsweise zum Prüfen
des Jitters der geprüften
Vorrichtung DUT und ist mit einem Stift der geprüften Vorrichtung DUT verbunden,
um ein erstes Prüfsignal,
in das Jitter injiziert wurde, zu dem Stift zu liefern. Beispielsweise
ist es möglich,
einen Wert des Jitters zu erfassen, bei dem die geprüfte Vorrichtung
DUT nicht mehr normal arbeiten kann, indem der Betrag des dem ersten
Prüfsignal
zugeführten
Jitters allmählich
er höht
wird. Es ist dann möglich
zu beurteilen, ob die geprüfte
Vorrichtung DUT normal arbeitet oder nicht, indem das von einem
anderen Prüfmodul erfasste
Ausgangssignal der geprüften
Vorrichtung DUT mit einem vorher gesetzten erwarteten Wert verglichen
wird.
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Das
erste Prüfmodul 20 hat
eine Taktübertragungsvorrichtung 22 und
einen Treiber 28. Die Taktübertragungsvorrichtung 22 erzeugt
das erste Prüfsignal,
das mit einem variablen Takt synchronisiert ist, auf der Grundlage
einer Oszillationsquelle, die verschieden von der des Bezugstakts
ist, und liefert es über
den Treiber 28 zu der geprüften Vorrichtung DUT.
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Das
zweite Prüfmodul 30 ist
ein beispielsweise zum Implementieren von Funktionsprüfungen für die geprüfte DUT
und ist mit einem anderen Stift der geprüften Vorrichtung DUT verbunden,
um ein zweites Prüfsignal
mit einem gewünschten
Muster zu dem Stift zu liefern. Beispielsweise implementiert es
die Funktionsprüfung
für die
geprüfte
Vorrichtung DUT, indem es das zweite Prüfsignal so zu der geprüften Vorrichtung
DUT liefert, dass sie in einer vorbestimmten Weise arbeitet und
ein Ausgangssignal der geprüften
Vorrichtung DUT und einen vorher gesetzten erwarteten Wert vergleicht.
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Das
zweite Prüfmodul 30 hat
eine Periodenerzeugungsschaltung 32, eine Mustererzeugungsschaltung 34,
eine Verzögerungsschaltung 36,
eine logische Vergleichsschaltung 38, einen Treiber 40 und
einen Komparator 42. Diese Komponenten empfangen den Bezugstakt
und arbeiten entsprechend den jeweiligen Impulsen des Bezugstakts.
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Die
Periodenerzeugungsschaltung 32 erzeugt ein periodisches
Signal, das eine Periode des zweiten Prüfsignals spezifiziert. Die
Mustererzeugungsschaltung 34 erzeugt ein Mustersignal,
das ein Muster des zweiten Prüfsignals
darstellt, entsprechend dem gegebenen periodischen Signal. Die Verzögerungsschaltung 36 erzeugt
das zweite Prüfsignal
durch Empfangen des Mustersignals und durch Verzögern jeweiliger Impulse des
Mustersignals. Der Treiber 40 liefert das zweite Prüfsignal
zu der geprüften
Vorrichtung DUT. Der Komparator 42 empfängt ein Ausgangssignal der
geprüften
Vorrichtung DUT und liefert es zu der logischen Vergleichsschaltung 38.
Die logische Vergleichsschaltung 38 vergleicht das Ausgangssignal
der geprüften
Vorrichtung DUT mit dem erwarteten Wert, um zu beurteilen, ob die
geprüfte
Vorrichtung DUT fehlerfrei ist oder nicht. Die Mustererzeugungsschaltung 34 kann
den erwarteten Wert erzeugen. Der Körperabschnitt 10 speichert
Ergebnisse der Beurteilung der logischen Vergleichsschaltung 38.
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Eine
derartige Konfiguration ermöglicht
die gleichzeitige Durchführung
der Jitterprüfung
und der Funktionsprüfung
der geprüften
Vorrichtung DUT. Das erste Prüfmodul 20 und
das zweite Prüfmodul 30 können dieselbe
und eine geprüfte
Vorrichtung DUT oder verschiedene geprüfte Vorrichtungen DUT prüfen.
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3 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Taktübertragungsvorrichtung 22 zeigt.
Die Taktübertragungsvorrichtung 22 hat eine
Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt, eine Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46,
eine Mustererzeugungsschaltung 48, eine setzseitige Schaltung 50,
eine rücksetzseitige
Schaltung 66 und eine Setz/Rücksetz-Verriegelungsschaltung 68.
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Die
Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt erzeugt den
variablen Takt auf der Grundlage des von der Oktavtakt-Erzeugungsschaltung 12 gegebenen
Oktavtakts. Die Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt gibt den variablen Takt nach dem Empfang des Startsignals von
der Startzeit-Steuerschaltung 16 aus. Die Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt gibt auch den variablen Takt durch Injizieren von Jitter mit
einer vorher eingestellten Amplitude aus. Die Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt
ist beispielsweise eine PLL-Schaltung, die einen variablen Takt
mit einer gewünschten
Frequenz erzeugt. Die Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt
erzeugt den variablen Takt mit nahezu derselben Periode wie der
Periode des ersten Prüfsignals,
das in diesem Beispiel zu der geprüften Vorrichtung DUT zu liefern
ist.
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Die
Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 erzeugt einen Ratentakt,
dessen Anzahl von Impulsen innerhalb einer vorbestimmten Periode
nahezu gleich einer Anzahl von Impulsen des variablen Takts innerhalb
der vorbestimmten Periode ist, durch Ausdünnen der Impulse des gegebenen
Bezugstakts. Die Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 gibt
auch den Ratentakt nach Empfang des Startsignals von der Startzeit-Steuerschaltung 16 aus.
In diesem Beispiel erzeugt die Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 den
Ratentakt, dessen Durchschnittsfrequenz nahezu gleich einer vorher
eingestellten Prüffrequenz wird,
und die Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt erzeugt den
Ratentakt mit nahezu der gleichen Frequenz wie der Prüffrequenz.
Die Prüffrequenz kann
vorher in der Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 und der
Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt eingestellt
sein.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 48 erzeugt das das Muster des
ersten Prüfsignals
darstellende. Mustersignal entsprechend den Impulsen des von der
Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 ausgegebenen
Ratentakts. Das Mustersignal ist ein Signal, in welchem beispielsweise
Datenwerte von 1 und 0 angeordnet sind. Die Mustererzeugungsschaltung 48 kann
vorher das Muster des ersten Prüfsignals
speichern. Bei diesem Beispiel empfängt die Mustererzeugungsschaltung 48 den
Bezugstakt als einen Arbeitstakt und den Ratentakt als ein Freigabesignal. Die
Mustererzeugungsschaltung 48 gibt das Mustersignal entsprechend
den Impulsen des Ratentakts bei einer derartigen Konfiguration aus.
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Die
setzseitige Schaltung 50 synchronisiert das synchron mit
dem Ratentakt gegebene Mustersignal mit dem variablen Takt und liefert
es zu einem Setzanschluss der Setz/Rücksetz-Verriegelungsvorrichtung 68.
Die rücksetzseitige
Schaltung 66 hat dieselbe Konfiguration wie die setzseitige
Schaltung 50. Sie synchronisiert das Mustersignal mit dem
variablen Takt und liefert es zu einem Rücksetzanschluss der Setz/Rücksetz-Verriegelungsschaltung 68.
Die Mustererzeugungsschaltung 48 kann dasselbe Mustersignal
zu der setzseitigen Schaltung 50 und der rücksetzseitigen
Schaltung 66 liefern oder kann unterschiedliche Mustersignale
für die
Zuführung
zu der setzseitigen Schaltung 50 und der rücksetzseitigen Schaltung 66 erzeugen.
Die Setz/Rücksetz-Verriegelungsschaltung 68 erzeugt
das erste Prüfsignal
auf der Grundlage der von der setzseitigen Schaltung 50 und
der rücksetzseitigen
Schaltung 66 gegebenen Signale.
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Die
setzseitige Schaltung 50 und die rücksetzseitige Schaltung 66 haben
jeweils eine Pipeline 52, einen FIFO-Speicher 54,
eine Zeitdifferenz-Absorptions schaltung 56, eine Verzögerungssteuerschaltung 58,
eine Grobverzögerungsschaltung 60, eine
UND-Schaltung 62 und eine variable Verzögerungsschaltung 64.
Die Pipeline 52 empfängt
das Mustersignal und den Ratentakt und liefert sie entsprechend
dem Bezugstakt zu dem FIFO-Speicher 54. Sie betätigt dann
die setzseitige Schaltung 50 und die rücksetzseitige Schaltung 66 synchron.
Die Pipeline 52 ist beispielsweise ein in Reihe geschaltetes
Flipflop.
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Der
FIFO-Speicher (Silospeicher) 54 speichert Daten des gegebenen
Mustersignals entsprechend Impulsen des Ratentakts und gibt die
gespeicherten Daten entsprechend Impulsen des variablen Takts aus.
Der FIFO-Speicher 54 ist
ein Speicher, der die zuerst gespeicherten Daten zuerst ausgibt.
Bei diesem Beispiel empfängt
der FIFO-Speicher 54 den Bezugstakt als Arbeitstakt zum
Speichern von Daten und empfängt
den Ratentakt an einem Schreibfreigabeanschluss WE. Der FIFO-Speicher 54 speichert die
gegebenen Daten entsprechend dem Bezugstakt, wenn er ein Signal
mit dem logischen Wert H an dem Schreibfreigabeanschluss WE empfängt. Durch
eine derartige Konfiguration speichert der FIFO-Speicher 54 die
Daten des Mustersignals entsprechend den Impulsen des Ratentakts.
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Der
FIFO-Speicher 54 empfängt
auch den variablen Takt als Arbeitstakt für die Ausgabe von Daten und
empfängt
ein von der Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 gegebenes
Signal an einem Lesefreigabeanschluss RE. Wenn der FIFO-Speicher 54 ein
Signal mit dem logischen Wert H an dem Lesefreigabeanschluss RE
empfängt,
gibt er die zuerst gespeicherten Daten entsprechend dem variablen
Takt aus. Der FIFO-Speicher 54 gibt die gespeicherten Daten
entsprechend den Im pulsen des variablen Takts mittels einer derartigen
Konfiguration aus.
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Da
eine Anzahl von Impulsen des variablen Takts und die des Ratentakts
innerhalb einer vorbestimmten Periode in der Taktsübertragungsvorrichtung 22 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel nahezu
gleich sind, ist eine Anzahl von durch den FIFO-Speicher 54 innerhalb
der vorbestimmten Periode gespeicherten Daten nahezu gleich einer
Anzahl von von dem FIFO-Speicher 54 innerhalb der vorbestimmten
Periode ausgegebenen Daten. Daher kann der FIFO-Speicher 54 das
mit dem variablen Takt synchronisierte Mustersignal ausgeben ohne Überlauf
der in dem FIFO-Speicher 54 zu speichernden Daten und ohne
einen Mangel von in dem FIFO-Speicher 54 zu
speichernden Daten.
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Der
Ratentakt und das Mustersignal werden über die Pipeline 52 und
andere zu dem FIFO-Speicher 54 übertragen, so dass eine erste
Zeitperiode vom Empfang des Startsignals durch die Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 bis
zur Lieferung des Ratentakts zu dem FIFO-Speicher 54 unterschiedlich gegenüber einer
zweiten Zeitperiode von dem Empfang des Startsignals durch die Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt bis zur Lieferung des variablen Takts zu dem FIFO-Speicher 54 ist.
Die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 steuert den FIFO-Speicher 54 oder
die Pipeline 52 derart, dass eine Zeitdifferenz zwischen
dem Zeitpunkt, zu welchem die Daten in den FIFO-Speicher 54 eingegeben werden,
und dem Zeitpunkt, zu welchem der FIFO-Speicher 54 die Daten ausgibt,
eliminiert wird.
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Wenn
beispielsweise die erste Zeitperiode länger als die zweite Zeitperiode
ist, steuert die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 den
FIFO-Speicher 54 derart, dass die Daten nicht ausgegeben werden,
bis das Mustersignal zu dem FIFO-Speicher 54 geliefert
wird, und dass die Daten ausgegeben werden, nachdem das Mustersignal
zu dem FIFO-Speicher 54 geliefert wurde. Bei dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
steuert die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 den Zeitpunkt,
zu welchem der FIFO-Speicher 54 mit der Ausgabe der Daten
beginnt, indem ein Lesefreigabesignal zum Steuern, ob Daten gelesen
werden sollen oder nicht, zum FIFO-Speicher 54 geliefert
wird. Wenn die erste Zeitperiode kürzer als die zweite Zeitperiode
ist, absorbiert die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 die Zeitdifferenz
durch Steuern der Verzögerungszeit
in der Pipeline 52.
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Die
Grobverzögerungsschaltung 60 und
die variable Verzögerungsschaltung 64 empfangen
die von dem FIFO-Speicher 54 ausgegebenen
Daten und verzögern
die Daten derart, dass eine gewünschte
Phase erhalten wird. Die Grobverzögerungsschaltung 60 verzögert die
Daten um einen Verzögerungswert,
der ein ganzzahliges Vielfaches der Periode des variablen Takts
ist. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
zählt die
Grobverzögerungsschaltung 60 die
Impulse des variablen Takts und gibt die von dem FIFO-Speicher 54 empfangenen
Daten aus, wenn der gezählte
Wert mit einem von der Verzögerungsssteuerschaltung 58 gegebenen
voreingestellten Wert übereinstimmt.
Die variable Verzögerungsschaltung 64 verzögert die
Daten um einen Verzögerungswert,
der kleiner als die Periode des variablen Takts ist. Die Verzögerungssteuerschaltung 58 steuert
die Verzögerungswerte
in der Grobverzögerungsschaltung 60 und
der variablen Verzögerungsschaltung 64.
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Die
Taktübertragungsvorrichtung 22 nach dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel
erleichtert die Bestimmung des Zeitverhaltens, da die Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46,
die Mustererzeugungsschaltung 48 und andere auf der Grundlage
des Bezugstakts arbeiten, der eine konstante Periode ungeachtet
der Periode des zu erzeugenden Prüfsignals und des Betrags des
in das Prüfsignal
zu injizierenden Jitters hat. Sie ermöglicht auch die einfache Injektion von
hochgenauem Jitter, da sie das Jitter durch Steuern der Phase des
variablen Takts injizieren kann.
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4 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 zeigt.
Die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 hat eine Teilungsschaltung 70 und
eine FIFO-Steuerschaltung 71. Die FIFO-Steuerschaltung 71 enthält weiterhin
einen Zähler 72,
ein Flipflop 74, eine ODER-Schaltung 78, eine Auswahlschaltung 76 und
einen Frequenzteiler 80.
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Differenzzeitinformationen
t1, die die Differenz zwischen der ersten Zeitperiode von dem Empfang
des Startsignals durch die Ratentakt-Erzeugungsschaltung 46 bis
zur Zuführung
des Ratentakts zu dem FIFO-Speicher 54 und
der zweiten Zeitperiode von dem Empfang des Startsignals durch die
Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt bis zu der Zuführung des
variablen Takts zu dem FIFO-Speicher 54 darstellen, und
periodische Informationen t2, die die Periode des variablen Takts
darstellen, werden zu der Teilungsschaltung 70 gegeben.
Der Fall, in welchem die erste Zeitperiode länger als die zweite Zeitperiode
ist, wird hier erläutert.
Die Teilungsschaltung 70 teilt die Differenzzeitinformationen
t1 durch die periodischen Informationen t2 und gibt den erhaltenen
Quo tienten bzw. den Rest aus. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
werden der Quotient und der Rest als digitale binäre Signale
ausgegeben. Es ist festzustellen, dass, obgleich die Differenzzeitinformationen
t1 und die periodischen Informationen t2, die in 4 gezeigt
sind, nicht in 3 gezeigt sind, sie Informationen
sein können,
die zu der Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 gegeben
werden. Ein Benutzer kann diese Informationen vorher setzen, oder
die Prüfvorrichtung 100 kann
sie aufgrund eines durch den Benutzer gesetzten Programms oder dergleichen
erzeugen.
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Wenn
die FIFO-Steuerschaltung 71 das Startsignal von der Startzeit-Steuerschaltung 16 empfängt, zählt sie
eine Anzahl von Impulsen des gegebenen variablen Takts. Wenn dann
ein gezählter Wert
mit einem Wert übereinstimmt,
der durch Berechnen einer Zahl unter einem Dezimalpunkt des Teilungsergebnisses
in der Teilungsschaltung 70 erhalten wurde, beginnt der
FIFO-Speicher 54 mit der Ausgabe der gespeicherten Daten.
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Der
Zähler 72 beginnt
mit der Zählung
der Anzahl von Impulsen des variablen Takts, wenn er das Startsignal
von der Startzeit-Steuerschaltung 16 empfängt, und
gibt die Impulse aus, wenn der gezählte Wert mit einem Quotienten übereinstimmt,
der von der Teilungsschaltung 70 empfangen wurde. Das Flipflop 74 gibt
auch die von dem Zähler 72 ausgegebenen
Impulse aus durch Verzögern
um eine Periode des variablen Takts. Die ODER-Schaltung 78 gibt
die ODER-Verknüpfung
jedes Bits des von der Teilungsschaltung 70 ausgegebenen
Restes aus. Das heißt, die
ODER-Schaltung 78 gibt 1 aus mit Ausnahme des Falles, in
welchem der von der Teilungsschaltung 70 ausgegebene Rest
gleich null ist.
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Wenn
die ODER-Schaltung 78 0 ausgibt, lässt die Auswahlschaltung 76 die
von dem Zähler 72 ausgegebenen
Impulse durch, und wenn die ODER-Schaltung 78 1 ausgibt,
lässt sie
die von dem Flipflop 74 ausgegebenen Impulse durch. Der
Frequenzteiler 80 teilt den über die Auswahlschaltung 76 empfangenen
Impuls und gibt ihn zu dem FIFO-Speicher 54 als ein Lesefreigabesignal
aus. Der Frequenzteiler 80 teilt den Impuls gemäß einem
Teilungsverhältnis
entsprechend einer Anzahl von Zyklen des von der Taktübertragungsvorrichtung 22 auszugebenden
Prüfsignals.
Das heißt,
der Frequenzteiler 80 gibt das Lesefreigabesignal mit dem logischen
Wert H während
einer Periode aus, in der Daten von dem FIFO-Speicher 54 ausgegeben
werden sollten, um das Prüfsignal
zu erzeugen.
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5 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Funktionsweise der Taktübertragungsvorrichtung 22 zeigt. 5 zeigt
den Ratentakt und den variablen Takt als in den FIFO-Speicher 54 eingegebene
Wellenformen.
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Es
besteht eine Nacheilung um die Differenzzeit t1 zwischen den Zeitpunkt,
zu welchem der Ratentakt in den FIFO-Speicher 54 eingegeben
wird, und dem Zeitpunkt, zu welchem der variable Takt in den FIFO-Speicher 54 eingegeben
wird, wie vorstehend beschrieben ist. Die Zeitdifferenz-Absorptionsschaltung 56 steuert
den Zeitpunkt des von dem Frequenzteiler 80 ausgegebenen
Lesefreigabesignals, wie vorstehend beschrieben ist, um die Differenzzeit zu
absorbieren.
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Eine
Schreibfreigabeadresse (WE-Adresse) wird synchron mit dem Ratentakt
zu dem FIFO-Speicher 54 gegeben. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
hat der FIFO-Speicher 54 vier Adressenbereiche, und die
Mustererzeugungsschaltung 48 kann Daten #0 bis Daten #3
entsprechend jeder Adresse des FIFO-Speichers 54 parallel
als das Mustersignal ausgeben. Der FIFO-Speicher 54 speichert aufeinanderfolgend
die Daten entsprechend der durch die Schreibfreigabeadresse spezifizierten Adresse.
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Der
FIFO-Speicher 54 empfängt
auch eine Lesefreigabeadresse (RE-Adresse) synchronisiert mit dem
variablen Takt und gibt die gespeicherten Daten zu einer durch die
Lesefreigabeadresse spezifizierten Adresse aus. Wenn beispielsweise
ein Datenwert 1 an der Adresse gespeichert wird, gibt der FIFO-Speicher 54 einen
Impuls mit einer vorbestimmten Impulsbreite entsprechend dem Impuls
des variablen Takts aus, und wenn ein Datenwert 0 an der Adresse
gespeichert wird, gibt der FIFO-Speicher 54 ein Signal
mit dem logischen Wert L aus.
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6 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt zeigt. Die Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt ist eine PLL-Schaltung und hat eine Jitterinjektionsschaltung 82,
einen Addierer 86, einen Phasenkomparator 88,
eine Überlagerungsvorrichtung 90,
eine Ladungspumpenschaltung 92, einen spannungsgesteuerten
Oszillator 94, eine UND-Schaltung 96, einen Frequenzteiler 98,
ein Flipflop 102 und ein Flipflop 104.
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Der
spannungsgesteuerte Oszillator 94 erzeugt den variablen
Takt. Der Frequenzteiler 98 teilt den von dem spannungsgesteuerten
Oszillator 94 ausgegebenen vari ablen Takt und liefert ihn
zu dem Phasenkomparator 88. Der Phasenkomparator 88 empfängt den
Oktavtakt als Vergleichstakt und erfasst eine Phasendifferenz zwischen
dem durch den Frequenzteiler 98 geteilten variablen Takt
und dem Vergleichstakt.
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Die
Ladungspumpenschaltung 92 erzeugt eine Steuerspannung entsprechend
der von dem Phasenkomparator erfassten Phasendifferenz und steuert
die Frequenz des von dem spannungsgesteuerten Oszillator 94 erzeugten
variablen Takts. Die UND-Schaltung 96 empfängt das
Startsignal über
die Flipflops 102 und 104, die in Reihe geschaltet
sind, und gibt die UND-Verknüpfung des
Startsignals und des variablen Takts aus. Das heißt, die
Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt gibt den variablen
Takt von dem durch das Startsignal spezifizierten Startzeitpunkt
aus. Das Flipflop 102 empfängt das von dem Frequenzteiler 98 ausgegebene
Signal als Arbeitstakt, und das Flipflop 104 empfängt den Oktavtakt
als Arbeitstakt.
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Die
Jitterinjektionsschaltung 82 injiziert Jitter in den von
der Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt erzeugten
variablen Takt. Beispielsweise injiziert die Jitterinjektionsschaltung 82 das
Jitter durch Frequenzschwankungen des von dem spannungsgesteuerten
Oszillator 94 erzeugten variablen Takts durch Überlagerung
eines Jittersignals über
die von dem Phasenkomparator 88 erfasste Phasendifferenz oder
die von der Ladungspumpenschaltung 92 erzeugte Steuerspannung.
Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel überlagert
die Jitterinjektionsschaltung 82 ein Jittersignal über das
von dem Phasenkomparator 88 ausgegebene Phasendifferenzsignal über den
Addierer 86 und die Überlagerungsvorrichtung 90.
Es wird mittels ei ner derartigen Konfiguration möglich, ein hochgenaues Jitter
einfach in den variablen Takt zu injizieren.
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Darüber hinaus
kann die Erzeugungsschaltung 44 für variablen Takt weiterhin
eine Phasensteuerschaltung 84 enthalten, wie in 6 gezeigt
ist. Die Phasensteuerschaltung 84 steuert die Phase des von
dem FIFO-Speicher 54 ausgegebenen Mustersignals durch weitere Überlagerung
des Phasensteuersignals über
die von dem Phasenkomparator 88 erfasste Phasendifferenz
oder die von der Ladungspumpenschaltung 92 erzeugte Steuerspannung.
In diesem Fall addiert der Addierer 86 das Jittersignal und
das Phasensteuersignal. Die Überlagerungsvorrichtung 90 überlagert
auch das von dem Addierer 86 ausgegebene Signal über die
von dem Komparator 88 ausgegebene Phasendifferenz oder
die von der Ladungspumpenschaltung 92 ausgegebene Steuerspannung.
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Eine
derartige Konfiguration ermöglicht, dass
die Phase des von dem FIFO-Speicher 54 ausgegebenen Mustersignals
leicht auf die gewünschte Phase
eingestellt wird. Es ist möglich,
die Phase des Prüfsignals
zu steuern, wenn die Erzeugungsschaltung 44 für variablen
Takt die Phasensteuerschaltung 84 hat, so dass die setzseitige
Schaltung 50 und die rücksetzseitige
Schaltung 66 nicht die Grobverzögerungsschaltung 60,
die UND-Schaltung 62, die variable Verzögerungsschaltung 64 und
die Verzögerungssteuerschaltung 58 aufzuweisen
brauchen. Hierdurch kann die Phase des Prüfsignals durch eine einfache
Konfiguration gesteuert werden.
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7 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration der Taktübertragungsvorrichtung 22 zeigt.
Die Taktübertragungsvorrichtung 22 bei
diesem Beispiel unterscheidet sich von der in Verbindung mit 3 erläuterten
Taktübertragungsvorrichtung 22 dadurch,
dass sie zwei Erzeugungsschaltungen 44 für variablen
Takt hat.
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Die
zwei Erzeugungsschaltungen 44 für variablen Takt sind entsprechend
der setzseitigen Schaltung 50 und der rücksetzseitigen Schaltung 66 vorgesehen.
Jede der Erzeugungsschaltungen 44 für variablen Takt liefert den
variablen Takt zu der entsprechenden Schaltung von der setzseitigen
Schaltung 50 und der rücksetzseitigen
Schaltung 66. Die Perioden der von den jeweiligen Erzeugungsschaltungen 44 für variablen
Takt erzeugten variablen Takte sind nahezu gleich.
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Die
Taktübertragungsvorrichtung 22 nach dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel
kann die beiden variablen Takte unabhängig entsprechend der setzseitigen
Schaltung 50 und der rücksetzseitigen Schaltung 66 erzeugen,
so dass sie unterschiedliches Jitter an der ansteigenden und der
abfallenden Flanke des Prüfsignals
injizieren kann.
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Obgleich
die Erfindung im Wege der Ausführungsbeispiele
beschrieben wurde, ist darauf hinzuweisen, dass der Fachmann viele Änderungen
und Substitutionen durchführen
kann, ohne den Geist und den Bereich der Erfindung zu verlassen.
Es ist augenscheinlich anhand der Definition der angefügten Ansprüche, dass
die Ausführungsbeispiele
mit derartigen Modifikationen ebenfalls zu dem Bereich der Erfindung
gehören.
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Gewerbliche Anwendbarkeit
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Wie
aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, ermöglicht die
vorliegende Erfindung die Erzeugung eines Prüfsignals mit gewünschter
Periode durch die Schaltung, deren Zeitverhalten leicht bestimmt
werden kann. Weiterhin ermöglicht
sie die Injektion von hochgenauem Jitter in das Prüfsignal durch
die Schaltung, deren Zeitverhalten leicht bestimmt werden kann.
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ZUSAMMENFASSUNG
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Es
ist eine Taktübertragungsvorrichtung
(22) zum Synchronisieren eines mit einem Bezugstakt synchronisierten
Mustersignals mit einem variablen Takt auf der Grundlage einer Oszillationsquelle,
die verschieden von der des Bezugstakts ist, vorgesehen, mit einer
Ratentakt-Erzeugungsschaltung (46) zum Erzeugen eines Ratentakts,
bei dem die Anzahl von Impulsen innerhalb einer vorbestimmten Periode nahezu
gleich einer Anzahl von Impulsen des variablen Takts innerhalb der
vorbestimmten Periode ist, durch Ausdünnen der Impulse innerhalb
des Bezugstakts, einer Mustererzeugungsschaltung (48) zum Erzeugen
eines Mustersignals entsprechend den Impulsen des Ratentakts, und
einem FIFO-Speicher (54), der das Mustersignal entsprechend
den Impulsen des Ratentakts speichert und die gespeicherten Daten
entsprechend den Impulsen des variablen Takts ausgibt.