DE1063584B - Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums fuer elektrische Halbleitergeraete - Google Patents
Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums fuer elektrische HalbleitergeraeteInfo
- Publication number
- DE1063584B DE1063584B DEST13064A DEST013064A DE1063584B DE 1063584 B DE1063584 B DE 1063584B DE ST13064 A DEST13064 A DE ST13064A DE ST013064 A DEST013064 A DE ST013064A DE 1063584 B DE1063584 B DE 1063584B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- silicon
- reaction
- silicon halide
- hydrogen
- reaction chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/02—Silicon
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
Description
DEUTSCHES
33/02-
*- St 13064 IVa/12 i
ANMELDETAG: 19. OKTOBER 1957
BEKANNTMACHUNG
DER ANMELDUNG
UND AUSGABE DER
AUSLEGESCHRIFT: 2 0. AU G U S T 1 9 5 9
DER ANMELDUNG
UND AUSGABE DER
AUSLEGESCHRIFT: 2 0. AU G U S T 1 9 5 9
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung von hochreinem Silicium für elektrische
Halbleitergeräte, wie Siliciumdioden, Transistoren und ähnliche Vorrichtungen.
Es ist bereits bekannt, hochreines Silicium durch Reduktion von Siliciumhalogeniden mit Wasserstoff
herzustellen. Siliciumhalogenide, z. B. Siliciumtetrachlorid, lassen sich in sehr reinem Zustand herstellen,
so daß bei der Reaktion mit reinstem Wasserstoff ein Silicium erhalten wird, daß die nötige Reinheit für
die Verwendung in elektrischen Halbleitergeräten aufweist. Bei der Herstellung von Silicium nach diesem
Verfahren treten insofern Schwierigkeiten auf, als die Reaktion nur bei hohen Temperaturen mit genügender
Ausbeute durchgeführt werden kann. Bei den in Betracht kommenden Temperaturen gelangen jedoch
leicht Verunreinigungen, die von den Wänden des Reaktionsgefäßes stammen, in das so hergestellte
Silicium.
Es ist auch bekannt, zur Reduktion von schwer ao reduzierbaren Verbindungen, wie Siliciumtetrafluorid,
Siliciumtetrachlorid, Bohrtrifluorid usw., an Stelle von molekularem Wasserstoff atomaren Wasserstoff zu verwenden.
Hierbei wurden jedoch Temperaturen über 2000° C verwendet. Der apparative Aufwand und die
Gefahr einer Verunreinigung des Reaktionsproduktes durch die Gefäßwände ist dabei verhältnismäßig groß.
Auch wird bei den bekannten \Aerfahren kein Silicium
erhalten, sondern ein Gemisch von Siliciumwasserstoffen bzw. Siliciumhalogcnwasserstoffen.
Um diese Schwierigkeiten zu vermeiden, wird gemäß der Erfindung ein Verfahren zur Herstellung
hochreinen Siliciums für elektrische Halbleitergeräte durch Reduktion von Siliciumhalogeniden mit mindestens
teilweise atomaren Wasserstoff durchgeführt, das dadurch gekennzeichnet ist, daß die Reaktion
zwischen dem Wasserstoff und dem Siliciumhalogenid räumlich getrennt von der Erzeugung des atomaren
Wasserstoffes bei normaler oder nur wenig erhöhter Temperatur und bei einem Druck von etwa 1 mm Hg
durchgeführt und das Silicium kontinuierlich auf einem erwärmten Träger niedergeschlagen wird.
Man erreicht dadurch, daß die Reaktion schon bei normaler Temperatur oder wenig erhöhten Temperaturen
(200 bis 300° C) in genügender Ausbeute stattfindet.
Der atomare Wasserstoff kann in an sich bekannter Weise durch eine elektiische Entladung hergestellt
werden. Vorzugsweise findet die Entladung in Wasserstoff von etwa 1 Torr Druck statt, z. B. mit einer
Wechselspannung von 3000 bis 5000 Volt oder mit
Hochfrequenz. Gemäß der Erfindung wird die Erzeu-
gung des atomaren Wasserstoffes und die Reaktion'. ·
mit Siliciumhalogeniden räumlich getrennt angeordnet Verfahren
zur Herstellung hochreinen Siliciums
für elektrische Halbleitergeräte
für elektrische Halbleitergeräte
Anmelder:
Standard Elektrik Lorenz
Standard Elektrik Lorenz
Aktiengesellschaft,
Stuttgart-Zuffenhausen,
Hellmuth-Hirth-Str. 42
Dr. Ewald Wicke, Hamburg-Flottbek,
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
Das Siliciumhalogenid wird in geeigneter Konzentration in den vorzugsweise zylindrisch ausgebildeten
Reaktionsraum eingeführt, und zwar durch ein in diesem Raum konzentrisch angeordnetes Rohr.
Die Menge des zugeführten Siliciumhalogenides kann in einfacher Weise dadurch geregelt werden, daß
das Zuleitungsrohr mit einem entsprechenden Vorrat an Halogeniden in Verbindung steht, der sich in einem
Thermostaten befindet. Durch Einstellung der Temperatur kann so der Partialdruck des Siliciumhalogenides
geregelt weiden. Zur Regelung der Menge des Siliciumhalogenides kann dieses auch mit einem geeigneten
Trägergas gemischt werden, wozu sich Edelgase oder auch Wasserstoff eignet.
Im Rahmen der Erfindung liegt weiter eine geeignete Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens.
Diese besteht aus einem an sich bekannten U-förmigen Entladungsgefäß zur Herstellung des atomaren
Wasserstoffes, an das sich ein rohrförmiges Reaktionsgefäß anschließt. In dieses Reaktionsgefäß wird das
Siliciumhalogenid axial eingeführt. Am Ende des Reaktionsraumes befindet sich ein Nachreaktions- und
Abscheidungsraum. Am oberen Ende des Entladungsraumes wird das Reaktionsmittel (Wasserstoff) zugeführt
und durch einen Stutzen am Nachreaktionsraum die Apparatur evakuiert. Das Silicium scheidet sich
im Reaktionsraum und gegebenenfalls im Nachreaktionsraum in Form von Nadeln oder auch als Spiegel
an den Wänden dieser Räume ab. Vorteilhaft ist es, einen geeigneten Träger im . Reaktionsraum anzuordnen, auf dem sich das Silicium abscheidet. Dieser
- Ifäger-^wifd zweckmäßig erwärmt, so daß die Reak-.tjon
vorzugsweise in der Nähe der Trägeroberfläche sich geht.
· 909 608/385
:\£C1 ίο'
Die Erfindung soll an Hand der Figuren näher erläutert werden. Die in der Zeichnung dargestellte Vorrichtung
zur Ausführung des Verfahrens, gemäß der Erfindung, besteht aus einem U-förmigen Entladungsrohr
1, an das sich das Reaktionsrohr anschließt. Mit dem Entladungsrohr 1 sind die Elektrodenräume 3
verbunden, in denen sich die Elektroden 4 befinden. Bei Anwendung von Hochfrequenz können die
Elektroden 4 im Inneren der Elektrodenräume 3 weggelassen werden. Das Entladungsrohr 1 ist mit
einem Zuleitungsrohr 5 für den Wasserstoff verbunden, das durch das Ventil 6 abgeschlossen werden
kann. In das Reaktionsrohr 2 ragt das Zuleitungsrohr 7 in der Weise, daß sich die Öffnung in
der Mitte des Reaktionsrohres befindet und das SiIiciumhalogenid in derselben Richtung ausströmt wie
der vorbeiströmende Wasserstoff. Das Zuleitungsrohr 7 ist über ein Ventil 8 mit dem Vorratsgefäß 9
verbunden, in diesem Vorratsgefäß befindet sich das Siliciumhalogenid, z. B. Siliciumtetrachlorid, das durch
den bei 10 angedeuteten Thermostaten auf konstanter Temperatur gehalten wird. An das Reaktionsrohr 2
schließt sich der Nachreaktions- und Abscheidungsraum 11 an, der über die Ausfrierfalle 12 und über
den Hahn 13 mit der Vakuumpumpe verbunden ist.
Zur Aufnahme des entstehenden Siliciums kann in geeignetem Abstand unterhalb der Öffnung des
Rohres 7 ein geeigneter Träger 14 angebracht sein, der gegebenenfalls, z. B. durch eine Induktionsheizung 15,
auf eine Temperatur von 200 bis 300° C gebracht wird. Auf diesem Träger scheidet sich das gebildete
Silicium ab.
Die Apparatur wird zunächst mit Wasserstoff von etwa 1 Torr Druck gefüllt und dann bei demselben
Druck Wasserstoff durch die Apparatur geleitet. An die Elektrode 4 wird nun eine geeignete Spannung,
z. B. eine Wechselspannung von 3000 bis 5000 Volt, angelegt, so daß ζ. B. ein Strom von 0,2 Ampere fließt.
Durch die im U-förmigen Entladungsraum 1 stattfindende Entladung wird der durchströmende Wasserstoff
zu einem hohen Prozentsatz in Atome gespalten. Der Thermostat 10 wird auf eine entsprechende Temperatur
gebracht, so daß das im \^orratsraum 9 befindliche
Siliciumhalogenid verdampft. Bei geöffnetem Ventil 8 strömt der Siliciumhalogeniddampf durch das
Rohr 7 in den Reaktionsraum 2 und reagiert mit dem vorbeiströmenden atomaren Wasserstoff, wobei sich
reines Silicium bildet. Je nach der Geschwindigkeit, Konzentration und Temperatur scheidet sich das
Silicium als feines Pulver, in Form von Nadeln oder als Spiegel im unteren Teil des Reaktionsraumes bzw.
im Nachreaktionsraum 11 ab. Zur Dosierung kann es vorteilhaft sein, dem Dampf ein Trägergas, ζ. Β.
Wasserstoff, zuzusetzen. Dieser Wasserstoff kann z. B. von dem in das Entladungsgefäß einströmenden
Wasserstoff vor dem Ventil 6 abgezweigt werden.
Die Reaktion findet bei normaler Temperatur oder bei wenig erhöhter Temperatur, z. B. 200 bis 300° C,
statt. Durch Einstellung des Druckes, der Strömungsgeschwindigkeit und des Verhältnisses zwischen
Wasserstoff und Siliciumhalogenid sowie durch Wahl der Reaktionstemperatur kann die Reaktion weitgehend
gesteuert werden.
Vorzugsweise wird das Silicium auf einem geeigneten Träger 14 niedergeschlagen. Dieser Träger ist
beispielsweise an der Achse 16 befestigt, mit der er der Apparatur entnommen und während des Niederschlagens
gedreht werden kann. Wenn die Erhitzung des Trägers durch Focussierung von Wärmestrahlen
auf seine oberes Ende bewirkt wird, dann kann man während des Niederschlageiis von Silicium den Träger
langsam nach unten bewegen, in dem Maße, wie sich Silicium auf der Oberseite niederschlägt. Man kann
auf diese Weise das Silicium in Form eines langgestreckten Körpers erhalten.
Das erhaltene SiyjJFtim ist sehr rein, da die Reak-
tionstemperatur veÄältniMiiäßig niedrig ist und die
Gefahr einet Verunreinigung mit dem Material des Reaktionsgefäßes sdltk vermindert ist. Das so hergestellte
Silicium kann anschließend noch dem sogenannten Zonenschmelzverfahren unterworfen werden
und eignet sich vorzüglich für elektrische Halbleitergeräte, wie Dioden, Transistoren od. dgl.
Claims (7)
- Patentansprüche.so 1. Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums für elektrische Halbleitergeräte durch Reduktion von Siliciumhalogeniden mit mindestens teilweise atomarem Wasserstoff, dadurch gekennzeichnet, daß die Reaktion zwischen dem Wasserstoff und dem Siliciumhalogenid räumlich getrennt von der Erzeugung des atomaren Wasserstoffes bei normaler oder nur wenig erhöhter Temperatur und bei einem Druck von etwa 1 mm Hg durchgeführt und das Silicium kontinuierlich auf einem erwärmten Träger niedergeschlagen wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Partialdruck des zugeführten Siliciumhalogeniddampfes durch Einstellung der Temperatur eines Vorrats an flüssigem Siliciumhalogenid geregelt wird.
- 3. \rerfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Siliciumhalogeniddampf mit einem Trägergas, vorzugsweise Wasserstoff, in den Reaktionsraum eingeführt und durch Änderung der Strömungsgeschwindigkeit des Trägergases die Menge des in den Reaktionsraum gelangenden Siliciumhalogenides geregelt wird.
- 4. Vei fahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger während des Niederschlagens gedreht und/oder aus dem Zersetzungsraum fortbewegt wird.
- 5. Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Entladungsrohr zur Erzeugung des atomaren Wasserstoffs U-förmig ausgebildet ist und mit zusätzlichen Kammern in Verbindung steht, in denen sich die Elektroden befinden, und daß der Reaktionsraum zur Reduktion des SiIiciumhalcgenides diesem Entladungsrohr nachgeschaltet ist.
- 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß hinter dem rohrförmigen Reaktionsraum ein abnehmbarer Nachreaktionsraum angeordnet ist.
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß im Reaktionsraum hinter der Mündung des Zuführungsrohres für das Siliciumhalogenid ein heizbarer Träger zur Abscheidung des Siliciums angeordnet ist.In Betracht gezogene Druckschriften:
USA.-Patentschrift Nr. 2 768 061.Hierzu 1 Blatt Zeichnungen© 909 608/385 8.59
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEST13064A DE1063584B (de) | 1957-10-19 | 1957-10-19 | Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums fuer elektrische Halbleitergeraete |
GB3320958A GB851290A (en) | 1957-10-19 | 1958-10-17 | Method of producing high quality silicon for electric semiconductor devices |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEST13064A DE1063584B (de) | 1957-10-19 | 1957-10-19 | Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums fuer elektrische Halbleitergeraete |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1063584B true DE1063584B (de) | 1959-08-20 |
Family
ID=7455922
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEST13064A Pending DE1063584B (de) | 1957-10-19 | 1957-10-19 | Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums fuer elektrische Halbleitergeraete |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1063584B (de) |
GB (1) | GB851290A (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005024041A1 (de) | 2005-05-25 | 2006-11-30 | City Solar Ag | Verfahren zur Herstellung von Silicium aus Halogensilanen |
DE102019209898A1 (de) * | 2019-07-04 | 2021-01-07 | Schmid Silicon Technology Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bildung von flüssigem Silizium |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2768061A (en) * | 1953-02-26 | 1956-10-23 | Gen Electric | Hydrogen reduction method and apparatus |
-
1957
- 1957-10-19 DE DEST13064A patent/DE1063584B/de active Pending
-
1958
- 1958-10-17 GB GB3320958A patent/GB851290A/en not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2768061A (en) * | 1953-02-26 | 1956-10-23 | Gen Electric | Hydrogen reduction method and apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB851290A (en) | 1960-10-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0946459B1 (de) | Verfahren zur chemischen gasphaseninfiltration von refraktären stoffen, insbesondere kohlenstoff und siliciumcarbid | |
DE1235266B (de) | Verfahren zum Herstellen reinster kristalliner Stoffe, insbesondere fuer Halbleiterzwecke | |
DE69016809T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Verdampfung und Zuführung von organometallischen Verbindungen. | |
DE2810492A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur oxidation von silicium-plaettchen | |
DE1029941B (de) | Verfahren zur Herstellung von einkristallinen Halbleiterschichten | |
DE3881189T2 (de) | Anlage und verfahren zur zufuehrung einer organometallischen verbindung. | |
DE1187098B (de) | Verfahren zum Herstellen von Koerpern aus hochgereinigtem Halbleitermaterial | |
DE1901331B2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Verbindungskristalls | |
DE1521605A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Oxidfilmen auf Unterlagen | |
DE1063584B (de) | Verfahren zur Herstellung hochreinen Siliciums fuer elektrische Halbleitergeraete | |
DE1176102B (de) | Verfahren zum tiegelfreien Herstellen von Galliumarsenidstaeben aus Galliumalkylen und Arsenverbindungen bei niedrigen Temperaturen | |
DE2142851A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum gezielten einbringen von dotierungsstoffen in halbleiterkristalle beim tiegelfreien zonenschmelzen | |
DE1719498A1 (de) | Epitaxialwachstum von Galliumarsenid | |
DE2116746C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterstäben durch thermische Zersetzung einer Halbleiterverbindung | |
DE1519892A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von hochreinen kristallinen,insbesondere einkristallinen Materialien | |
DE1251283B (de) | Vorrichtung zum gleichzeitigen Herstellen einer Vielzahl von einkristallinen Halbleiterkörpern | |
DE1082883B (de) | Verfahren zur Herstellung von hochreinem Bor, Silicium oder Germanium bzw. Gemischendieser Substanzen | |
DE1281404B (de) | Verfahren zur Herstellung einer halbleitenden Verbindung mit zwei oder mehr Komponenten | |
DE1442793A1 (de) | Verfahren zur Herstellung gasfoermiger chemischer Verbindungen in regelbaren Mengen,Verfahren zur Anwendung dieser Verbindungen und Vorrichtungen zur Durchfuehrung dieser Verfahren | |
DE1544276C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines dotierten Halbleiterstabes durch tiegelloses Zonenschmelzen | |
AT212879B (de) | Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Körpern aus hochgereinigtem Halbleitermaterial | |
DE1592117A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von haarfeinen alpha-Aluminiumoxydkristallteilchen und Geraet zur Durchfuehrung dieser Verfahren | |
DE2060673C3 (de) | Vorrichtung zur Herstellung von Phosphiden | |
AT206477B (de) | Verfahren zur Herstellung von reinem Silizium | |
CH497201A (de) | Verfahren zum Eindiffundieren von Dotierungssubstanz in die Oberfläche von Halbleiterkörpern |