DE102008035079A1 - Massenspektrometer mit MALDI-Ionenquelle sowie Probenplatte für eine MALDI-Ionenquelle - Google Patents

Massenspektrometer mit MALDI-Ionenquelle sowie Probenplatte für eine MALDI-Ionenquelle Download PDF

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Abstract

Es wird ein Massenspektrometer bereitgestellt, das mit einer MALDI-Ionenquelle ausgestattet ist und das sowohl eine individuelle Handhabung von Probenplatten, als auch eine auf Informationen über Verzerrungen der Probenplatten basierende Massenkalibration erleichtert. Weiterhin werden Probenplatten bereitgestellt, die zur Verwendung in einer MALDI-Ionenquelle angepasst sind. In die Oberfläche der Probenplatten sind Identifikationsinformationen über jede einzelne Probenplatte sowie Informationen über Verzerrungen, das heißt die Topographie der Oberfläche der Probenplatte eingraviert. Diese Informationssätze werden auch als elektronische Datei abgespeichert. Während Messungen werden diese Informationssätze von Beobachtungsmitteln ausgelesen und zur individuellen Handhabung von Probenplatten sowie zur Massenkalibration von Massenspektren verwendet.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • 1. Technisches Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle (MALDI = matrix-assisted laser desoprtion/ionization = Matrixunterstütze Laserdesorption/-Ionisation) zur Verwendung bei der qualitativen oder quantitativen Analyse von Biopolymeren oder sonstigen Proben.
  • 2. Beschreibung des Standes der Technik
  • Bei einem MALDI-Vorgang handelt es sich um ein Verfahren zur Verdampfung oder Ionisation einer Probe, indem die Probe in eine Matrix (eine Flüssigkeit, ein kristallines Gemisch oder ein Metallpulver), die bei der Wellenlänge des verwendeten Laserlichts ein Absorptionsband aufweist, untergemischt wird, die Matrix aufgelöst und Matrix verfestigt wird und die Matrix dann mit Laserlicht bestrahlt wird. Bei einem als MALDI-Vorgang klassifizierten Laserionsiationsverfahren sind die Anfangsenergien während der Ionenerzeugung über einen breiten Bereich verteilt. Demzufolge wird zur zeitlichen Fokussierung der Verteilung in den meisten Fällen ein verzögerter Abzug verwendet. Bei diesem Verfahren wird mit einer Verzögerung von einigen hundert Nanosekunden nach der Laserbestrahlung eine gepulste Spannung angelegt.
  • Das allgemeine Konzept der Anwendung eines verzögerten Abzugs auf eine MALDI-Ionenquelle ist in 4 dargestellt. Ein Analyt wird in eine Matrix (eine Flüssigkeit, ein kristallines Gemisch oder ein Metallpulver) untergemischt und die Mischung wird aufgelöst und verfestigt, wodurch eine Probe 12 erzeugt wird. Die Probe 12 wird auf eine Probenplatte 11 aufgebracht. Um den Zustand der Probe 12 beobachten zu können, sind eine Linse 16, ein Spiegel 15 sowie eine CCD-Kamera 17 vorhanden. Durch eine weitere Linse 13 und über einen weiteren Spiegel 14 wird Laserlicht auf die Probe gerichtet, wodurch die Probe verdampft oder ionisiert wird. Die erzeugten Ionen werden durch an eine Zwischenelektrode 18 bzw. eine Basiselektrode 19 angelegte Spannungen beschleunigt. Die beschleunigten Ionen werden in einen (nicht dargestellten) Flugzeitmassenanalysator (TOF mass analyzer, time-of-flight mass analyzer) eingebracht.
  • In 4 ist weiterhin eine Abfolge der Vorgänge zum Messen der Flugzeit bei dem verzögerten Abzug dargestellt. Zunächst werden die Zwischenelektrode 18 und die Probenplatte 11 auf dasselbe Potential Vs gelegt. Dann wird das Potential Vs an der Zwischenelektrode 18 mit hoher Geschwindigkeit und einer Verzögerung von einigen hundert Nanosekunden gegenüber einem Signal eines (nicht dargestellten) Lasers, das eine Laserschwingung anzeigt, auf ein Potential V1 verändert. Folglich wird zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 ein Potentialgradient erzeugt, um die erzeugten Ionen zu beschleunigen. Die Zeit, zu der die Flugzeitmessung beginnt, wird mit der Zeit des Starts der Änderung der an die Zwischenelektrode angelegten Spannung synchronisiert.
  • Da die Flugzeit der Ionen durch die Stärke des zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 erzeugten elektrischen Beschleunigungsfeldes bestimmt wird, muss der Abstand zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 unabhängig von der Position auf der Probenplatte 11 zu allen Zeiten exakt der gleiche sein.
  • In einem Massenspektrometer bei dem in der Ionenquelle ein MALDI-Prozess verwendet wird, besteht die Probenplatte 11 üblicherweise aus einem leitenden Material wie beispielsweise Edelstahl, um ein elektrisches Feld zu erzeugen, das die durch die Laserbestrahlung erzeugten Ionen abzieht. In der Oberfläche der leitenden Probenplatte 11 sind Markierungen eingraviert, um die Positionen anzugeben, in die die Probe eingetropft wird. Die Anzahl der eingravierten Markierungen beträgt üblicherweise 96 (12 Reihen × 8 Spalten), 384 (24 Reihen × 16 Spalten) oder 1536 (48 Reihen × 32 Spalten).
  • Im Betrieb wird die Probenplatte 11 mit den eingravierten Markierungen, in die die Probe 12 eingetropft wurde, in den Massenanalysator eingebracht. Die Tröpfchen der Probe 12 werden mit Laserlicht bestrahlt, während die Oberfläche der Probenplatte 11 mit der CCD-Kamera 17 beobachtet wird. Auf diese Weise wird die Probe ionisiert. Daraufhin wird eine Massenanalyse durchgeführt.
    • Patentreferenz 1 = JP-A-2003-43014
    • Patentreferenz 2 = JP-T-2003-534634
    • Patentreferenz 3 = JP-A-2004-347524
    • Patentreferenz 4 = JP-T-2005-513490
  • Falls jedoch eine Messung unter Verwendung mehrerer Probenplatten durchgeführt wird, von denen jede viele eingravierte runde Markierungen für Proben aufweist, können einige Probleme auftreten. Insbesondere ist nicht bekannt, welche der Proben gemessen wird. Es ist nicht bekannt, welche Probe auf welche Probenplatte aufgetropft wurde. Es ist unmöglich, die Beziehung zwischen der verwendeten Probenplatte und der durch die Messung erhaltenen Daten aufzufinden.
  • Weiterhin ist es, falls Probenplatten im Zustand mit aufgetropfter Probe gelagert werden, notwendig, die Probenplatten einzeln handzuhaben, um zu verhindern, dass die Messperson eine fehlerhafte Probenplatte verwendet.
  • Darüber hinaus ist die Oberfläche jeder Probenplatte uneben und erzeugt Verzerrungen. Die Verzerrung liegt in der Größenordnung von ±0,1 mm, kann jedoch die Massenauflösung und die Massenachse beinträchtigen, was es unmöglich macht, korrekte Massenspektren zu erhalten. Folglich ist es notwendig, auf Basis von Informationen über die Verzerrung eine Massenkalibrierung durchzuführen.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine MALDI-Ionenquelle zu schaffen, die sowohl die individuelle Handhabung von Probenplatten als auch eine Massenkalibration, die auf Informationen über eine Verzerrung der Probenplatten basiert, zu vereinfachen. Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Probenplatte zur Verwendung in der MALDI-Ionenquelle bereitzustellen.
  • Ein Massenspektrometer, das mit einer MALDI-Ionenquelle ausgestattet ist und das gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist, führt eine Massenanalyse durch, indem Punkte einer Probe zum Anhaften an verschiedenen Stellen auf einer Oberfläche einer Probenplatte veranlasst, die Probenpunkte der Reihe nach mit Laserlicht bestrahlt, um die Probenpunkte zu ionisieren, die erhaltenen Probenionen in einen Massenanalysator zur Aufnahme von Massenspektren eingebracht und die aus den Massenspektren abgeleiteten Daten mittels eines Datenverarbeitungsbereichs ausgewertet werden. Auf der Oberfläche der Probenplatte ist ein Code oder eine Markierung ausgebildet, die Identifikationsinformationen über die Probenplatte angibt, wobei der Code oder die Markierung durch Auslesemittel ausgelesen werden können. Die durch die Auslesemittel ausgelesenen Identifikationsinformationen über die Probenplatte werden mit den Massenspektren kombiniert und in einem Speicher abgespeichert.
  • Gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung wirken die Auslesemittel auch als Beobachtungsmittel zum Beobachten der Probenpunkte, die an verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaften.
  • Gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung werden die Massenspektren, die man von den an verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkten erhält, bezüglich der Masse kalibriert, indem zuvor die Identifikationsinformationen über die Probenplatte und Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte in eine Speichereinrichtung des Massenspektrometers geschrieben werden, während die Identifikationsinformationen und die Informationen über die Topographie in Korrespondenz zueinander gebracht werden, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte basierend auf den Identifikationsinformationen über die Probenplatte, die von den Auslesemitteln ausgelesen wurden, aus der Speichereinrichtung ausgelesen werden, um Informationen über die Höhe der Stellen, an denen die Probenpunkte anhaften, zu erhalten, und die Massenspektren hinsichtlich der Masse auf Basis der über die Höhen erhaltenen Informationen kalibriert werden.
  • Gemäß noch einem weiteren Merkmal der Erfindung werden auf der Oberfläche der Probenplatte Codes oder Markierungen ausgebildet, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte angeben, wobei die Codes oder Markierungen durch die Auslesemittel ausgelesen werden können. Basierend auf den von den Auslesemitteln ausgelesenen Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte werden Informationen über die Höhen der Stellen, an denen die Probenpunkte anhaften, ermittelt. Auf Basis der ermittelten Informationen über die Höhen werden die Massenspektren, die man von den an den verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkte erhält, bezüglich der Masse kalibriert.
  • Weiterhin bietet die vorliegende Erfindung ein mit einer MALDI-Ionenquelle ausgerüstetes Massenspektrometer, das dazu ausgelegt ist, Massenanalysen durchzuführen, indem Probenpunkte dazu veranlasst werden, an verschiedenen Stellen auf einer Oberfläche einer Probenplatte anzuhaften, die Probenpunkte der Reihe nach mit Laserlicht bestrahlt werden, um die Probenpunkte zu ionisieren, die erhaltenen Probenionen in einen Massenanalysator eingebracht werden, um Massenspektren der Probenpunkte zu erhalten, und die aus den Massenspektren abgeleiteten Daten mittels eines Datenverarbeitungsbereichs verarbeitet werden. Auf der Oberfläche der Probenplatte sind Codes oder Markierungen ausgebildet, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte angeben. Es sind Auslesemittel zum Auslesen der Codes oder Markierungen vorhanden. Der Datenverarbeitungsbereich kalibriert die Massenspektren, die man von den an den verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkte erhält, bzgl. der Masse, wobei dies auf den Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte basiert, die von den Auslesemitteln ausgelesen werden.
  • Gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung ermittelt der Datenverarbeitungsbereich basierend auf den Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenoberfläche, die von den Auslesemitteln ausgelesen wurden, die Informationen über die Höhe an den Stellen, an denen die Probenpunkte anhaften, und kalibriert die Massenspektren auf Basis der korrespondierenden Datensätze der ermittelten Informationen über die Höhe.
  • Gemäß noch einem weiteren Merkmal der Erfindung ist auf der Oberfläche der Probenplatte ein Code oder eine Markierung ausgebildet, die Identifikationsinformationen über die Probenplatte angeben, wobei der Code oder die Markierung durch die Auslesemittel ausgelesen werden können. Die Massenspektren werden mit den von den Auslesemitteln ausgelesenen Identifikationsinformationen über die Probenplatte kombiniert und in einem Speicher abgespeichert.
  • Weiterhin schafft die vorliegende Erfindung eine Probenplatte zur Verwendung in einem Massenspektrometer, das mit einer MALDI-Ionenquelle ausgerüstet ist. Die Probenplatte weist Markierungen auf, die die Stellen angeben, an denen die Probenpunkte zum Anhaften veranlasst werden, sowie einen Code oder eine Markierung, die Identifikationsinformationen über die Probenplatte angeben.
  • Weiterhin werden Codes oder Markierungen ausgebildet, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte angeben.
  • Als Code zur Angabe der Identifikationsinformationen über die Probenplatte sowie als Codes zur Angabe der Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte kann ein Barcode oder ein QR-Code (quick response code, ein zweidimensionaler Barcode) verwendet werden.
  • Eine MALDI-Ionenquelle gemäß der vorliegenden Erfindung dient zur Verwendung in einem Massenspektrometer, das Massenanalysen durchführt, indem Probenpunkte dazu veranlasst werden, an verschiedenen Stellen auf einer Oberfläche einer Probenplatte anzuhaften, die Probenpunkte der Reihe nach mit Laserlicht bestrahlt werden, um die Probenpunkte zu ionisieren, die erhaltenen Probenionen in einen Massenanalysator eingebracht werden, um Massenspektren zu erhalten, und die aus den Massenspektren abgeleiteten Daten mittels eines Datenverarbeitungsbereichs verarbeitet werden. Auf der Oberfläche der Probenplatte ist ein Code oder eine Markierung ausgebildet, die Identifikationsinformationen über die Probenplatte angeben, wobei der Code oder die Markierung von Auslesemitteln ausgelesen werden können. Die von den Auslesemitteln ausgelesenen Identifikationsinformationen über die Probenplatte werden mit den Massenspektren kombiniert und in einem Speicher abgelegt. Folglich können eine MALDI-Ionenquelle sowie Probenplatten bereitgestellt werden, die sowohl eine individuelle Handhabung der Probenplatten, als auch eine Massenkalibrierung auf Basis von Informationen über die Verzerrung der Probenplatten erleichtert werden.
  • Das oben beschriebene erfindungsgemäße Massenspektrometer ist mit einer MALDI-Ionenquelle ausgerüstet und dazu ausgelegt, Massenanalysen durchzuführen, indem Probenpunkte dazu veranlasst werden, an verschiedenen Stellen auf einer Oberfläche einer Probenplatte anzuhaften, die Probenpunkte der Reihe nach mit Laserlicht bestrahlt werden, um die Probenpunkte zu ionisieren, die erhaltenen Probenionen in einen Massenanalysator eingebracht werden, um Massenspektren der Probenpunkte zu erhalten, und die aus den Massenspektren abgeleiteten Daten durch einen Datenverarbeitungsbereich verarbeitet werden. Auf der Oberfläche der Probenplatte sind Codes oder Markierungen ausgebildet, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte angeben. Zum Auslesen der Codes oder Markierungen sind Auslesemittel vorhanden. Der Datenverarbeitungsbereich kalibriert die Massenspektren, die man von den an den verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkte erhält, auf Basis der von den Auslesemitteln ausgelesenen Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte bzgl. der Masse. Folglich können eine MALDI-Ionenquelle und Probenplatten bereitgestellt werden, die sowohl eine individuelle Handhabung der Probenplatten, als auch eine auf Informationen über Verzerrungen der Probenplatten basierende Massenkalibration erleichtern.
  • Die erfindungsgemäße Probenplatte ist zur Verwendung in einer MALDI-Ionenquelle ausgelegt und weist Markierungen auf, die Stellen angeben, an denen die Probenpunkte zum Anhaften veranlasst werden, sowie einen Code oder eine Markierung, die Identifikationsinformationen über die Probenplatte angeben. Folglich können eine MALDI-Ionenquelle und Probenplatten bereitgestellt werden, die sowohl eine individuelle Handhabung der Probenplatten, als auch eine auf Informationen über Verzerrungen der Probenplatten basierende Massenkalibration erleichtern.
  • Diese und weitere Aufgaben sowie Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung deutlicher ersichtlich.
  • KURZBESCHREIBUNG DER FIGUREN
  • Es zeigen:
  • 1: eine Aufsicht einer erfindungsgemäßen Probenplatte, wobei auch ein Teil der Platte in einem vergrößerten Maßstab dargestellt ist;
  • 2: ein vertikales Blockdiagramm einer erfindungsgemäßen MALDI-Ionenquelle;
  • 3: ein Blockdiagramm eines erfindungsgemäßen Massenspektrometers; und
  • 4: ein schematisches Diagramm einer herkömmlichen MALDI-Ionenquelle.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
  • Im Folgenden werden die bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Figuren beschrieben. 1 zeigt eine erfindungsgemäße Probenplatte, die zur Verwendung in einer MALDI-Ionenquelle vorgesehen ist.
  • Die Probenplatte besteht aus Edelstahl. Mittels eines von einem YVO4-Lasers emittierten Lichts wurden 384 runde Markierungen (16 Spalten (A–P) und 24 Reihen (1–24)) zur Aufnahme von Probentröpfchen eingraviert. Jede Markierung hat einen Durchmesser von 2,5 mm. Weiterhin wurden durch den YVO4-Laser 96 runde Markierungen mit jeweils einem Durchmesser von 2,5 mm zwischen die 384 runden Markierungen eingraviert.
  • Entlang des rechten Randbereichs der Probenplatte wurden durch den YVO4-Laser sechs Ziffern, die das Herstellungsdatum angeben, sowie drei Ziffern, die die Losnummer angeben, eingraviert. In dem in 1 dargestellten Beispiel sind die neuen Ziffern 060727001 eingraviert, die angeben, dass es sich bei der Platte um die erste Platte handelt, die am 27. Juli 2006 hergestellt wurde. Benachbart der neun Ziffern ist ein QR-Code (quick response code) eingraviert, bei dem es sich um einen so genannten zweidimensionalen Code handelt, der das Herstellungsdatum und die Seriennummer des Herstellers symbolisiert. Die Ziffern können durch eine Ausleseeinrichtung ausgelesen werden. In diesem Beispiel wird ein QR-Code verwendet. Anstelle dessen können auch ein Barcode oder eine Markierung verwendet werden. Der Barcode oder die Markierung wird als Identifikationscode zur Identifikation der Probenplatte verwendet.
  • Informationen über eine Verzerrung der Probenplatte, das heißt Informationen über die Topographie der Probenplatte an den Stellen der einzelnen Probenpunkte, sind in dem QR-Code, der das Herstellungsdatum und die Seriennummer des Herstellers symbolisiert, aufgezeichnet. Wenn mittels Laserlicht erzeugte Ionen beschleunigt und abgezogen werden, werden die Informationen über die Verzerrung verwendet, um den Abstand zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 zu korrigieren.
  • Da der Abstand zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 ungefähr 3 mm beträgt, wird bei einer Unebenheit von ±0,1 mm auf der Probenplatte 11 ein Fehler von ungefähr ±3% in der Stärke des elektrischen Beschleunigungsfeldes erzeugt, das zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 anliegt. Demzufolge werden vorab Informationen über die Topographie (Verzerrung) der Probenplatte 11 in dem QR-Code abgelegt. Vor der Ionisierung der Probe durch Laserbestrahlung werden die topographischen Informationen über die Höhen der Stellen der Probenpunkte durch die Ausleseeinrichtung aus dem QR-Code ausgelesen. Der mechanische Fehler im Abstand zwischen der Probenplatte und der Zwischenelektrode wird in eine Berechnungsformel eingesetzt, die zur Berechnung des Massen-Ladungs-Verhältnisses aus den Flugzeiten der beschleunigten Ionen verwendet wird. Folglich wird eine Massenkalibration durchgeführt.
  • Eine theoretische Kalibration, die tatsächlich auf einer Analyse einzelner Parameter einschließlich der Abmessungen des Geräts und der Beschleunigungsspannungen beruht, zeigt, dass eine Tendenz dahingehend besteht, dass eine Verringerung des Abstands zwischen der Probenplatte 11 und der Zwischenelektrode 18 zu einer Verkürzung der Flugzeit der Ionen führt und umgekehrt. Diese Tendenz tritt unabhängig von der Art der Ionen, der Art der Matrix und der Laserart auf. Folglich wird, falls die vorliegende Ausführungsform implementiert wird und auf konvexen Bereichen der Probenplatte angeordnete Probenpunkte ionisiert werden, eine Massenkalibration dahingehend durchgeführt, dass die Massen-Ladungs-Verhältnisse zunehmen, das heißt es wird eine Korrektur zu höheren Flugzeiten durchgeführt. Falls andererseits Probenpunkte auf konkaven Bereichen der Probenplatte ionisiert werden, wird eine Massenkalibration in Richtung einer Verringerung des Massen-Ladungs-Verhältnisses durchgeführt, das heißt es wird eine Korrektur zu kürzeren Flugzeiten durchgeführt.
  • Mit dieser Anordnung kann eine auf einem korrekten Elektrodenabstand basierende korrekte Flugzeit erhalten werden, da Verzerrungen der Probenplatte 11 korrigiert wurden. Folglich erhält man massenkalibrierte, genaue Massen-Ladungs-Verhältnisse von Ionen, die frei von mechanischen Fehlern sind.
  • Die Informationen über die Verzerrung (topographische Informationen) der Probenplatte können auch nicht direkt auf der Oberfläche der Probenplatte mittels Lasergravur eingebracht sein. Vielmehr können die Informationen als elektronische Datei in einer Speichervorrichtung, wie beispielsweise einer Festplatte, innerhalb des Massenspektrometers aufgezeichnet sein, wobei die Datei mit den Identifikationsinformationen über die Probenplatte korrespondiert. Wenn die Identifikationsinformationen auf der Oberfläche auf der Probenplatte durch die Ausleseeinrichtung ausgelesen werden, kann die elektronische Datei auf Basis der Identifikationsinformationen direkt aus der Speichervorrichtung gelesen werden.
  • 2 zeigt eine Ausführungsform einer MALDI-Ionenquelle gemäß der vorliegenden Erfindung. Die Ionenquelle hat eine Vakuumkammer 1, in der ein Kreuztisch 6 angeordnet ist. Die Probenplatte 4 ist auf dem Kreuztisch 6 angeordnet. Ein Gerät 2 (beispielsweise eine CCD-Kamera) zur Beobachtung der Oberfläche der Probenplatte und zum Auslesen der ID-Informationen ist gegenüber des Kreuztisches 6 angeordnet. Wird der Kreuztisch 6 in den X-Y-Richtungen verfahren, so liest das Beobachtungs- und Auslesegerät 2 die ID-Informationen über die Probenplatte 4.
  • Das Beobachtungs- und Auslesegerät 2 liest den QR-Code, in dem die Verzerrungsinformationen über diese spezielle Probenplatte aufgezeichnet sind, nach dem Auslesen der ID-Informationen über die Probenplatte 4 aus. Zur selben Zeit werden Probenpunkte 5, die in die runden Markierungen auf der Oberfläche der Probenplatte 4 eingetropft sind, beobachtet.
  • Wie zuvor bzgl. der Informationen über die Verzerrung (topographischen Informationen) der Probenplatte 4, kann auch der QR-Code nicht direkt auf der Oberfläche der Probenplatte 4 mittels Lasergravur abgelegt sein, sondern kann als elektronische Datei in einer (nicht dargestellten) Speichervorrichtung, wie beispielsweise einer Festplatte, innerhalb des Massenspektrometers abgelegt sein, wobei er mit den ID-Informationen über die Probenplatte 4 korrespondiert. Wenn die ID-Informationen auf der Oberfläche der Probenplatte 4 durch das Beobachtungs- und Auslesegerät 2 ausgelesen werden, kann die elektronische Datei auf Basis der ausgelesenen ID-Informationen direkt aus der Speichervorrichtung gelesen werden.
  • An der Wandoberfläche der Vakuumkammer 1, auf der das Beobachtungs- und Auslesegerät 2 angeordnet ist, ist in einer Position, die geringfügig aus der das Beobachtungs- und Auslesegerät 2 und den Kreuztisch 6 verbindenden Achse verschoben ist, ein Laser 3 zum Ionisieren der Probenpunkte 5 angeordnet. Die Oberfläche jedes Probenpunkts 5 wird mit dem Licht des Lasers 3 bestrahlt. Als Ergebnis wird der Probenpunkt 5 ionisiert oder verdampft.
  • Zur Vereinfachung der Darstellung der wesentlichen Bereiche sind in 2 die Zwischenelektrode und die Basiselektrode, die zum Erzeugen eines elektrischen Beschleunigungsfelds zum Abzug der erzeugten Probenionen von der Oberfläche der Probenplatte 4 in Richtung des Analysators des Massenspektrometers notwendig sind, nicht dargestellt.
  • Es wird angemerkt, dass 2, lediglich eine schematische Darstellung ist.
  • Es ist klar, dass die räumlichen Beziehungen zwischen dem Beobachtungs- und Auslesegerät 2, dem Laser 3, der Probenplatte 4 und dem Kreuztisch 6 unter Verwendung von Linsen, Spiegeln sowie weiterer Bauteile in geeigneten Kombinationen vielfältig modifiziert werden können.
  • In dem in 3 dargestellten erfindungsgemäßen Massenspektrometer ist hinter einer MALDI-Ionenquelle 20 ein Massenanalysator 21, wie beispielsweise ein Flugzeit-Massenanalysator zum Erfassen von Ionen-Massenspektren angeordnet. Hinter dem Massenanalysator 21 ist ein Datenverarbeitungsbereich 22, wie beispielsweise ein Computer, zur Kalibration der durch den Massenanalysator 21 erhaltenen Massenspektren bzgl. der Masse angeordnet. Hinter dem Datenverarbeitungsbereich 22 ist zur Abspeicherung der sich ergebenen Daten gemeinsam mit Probenbildern und der bildlich erfassten Probenplatten-ID ein Speicherbereich 23, wie beispielsweise eine Festplatte, angeordnet.
  • In dem Speicherbereich 23 sind die Verzerrungsinformationen (topographische Informationen) über die Probenplatte derart abgespeichert, dass die Verzerrungsinformationen zu den ID-Informationen über die Probenplatte korrespondieren. Wenn die ID-Informationen über die Probenplatte von der Ausleseeinrichtung ausgelesen werden, werden die Verzerrungsinformationen auf Basis der ausgelesenen ID-Informationen aus dem Speicherbereich 23 in den Datenverarbeitungsbereich 22 eingelesen und zur Massenkalibration der durch den Massenanalysator 21 erhaltenen Massenspektren verwendet.
  • In dem Datenverarbeitungsbereich 22 werden ein erstes Softwareprogramm 24 sowie ein zweites Softwareprogramm 25 geladen. Das erste Softwareprogramm 24 wird dazu verwendet, den ID-Code auf der Oberfläche der Probenplatte 4, der aufgenommen und bildlich erkannt wird, zu dekodieren und um den dekodierten ID-Code gemeinsam mit den durch eine Messung oder eine Analyse erhaltenen Daten in den Speicherbereich 23 abzuspeichern. Das zweite Softwareprogramm 25 wird dazu verwendet, die Massenspektren anhand des Barcodes, des QR-Codes, der Markierungen oder der in dem Speicherbereich 23 abgespeicherten Informationen über die Verzerrung der Oberfläche der Probenplatte 4 bzgl. der Masse zu kalibrieren. Die vorliegende Ausführungsform wird in der folgenden Abfolge verwendet:
    • 1. Eine aus der Probe und der Matrix bestehende Mischungslösung 5 wird gemäß der Markierungen auf die Probenplatte 4 aufgetropft.
    • 2. Die Probenplatte 4 wird in die Vakuumkammer 1 des Massenspektrometers eingebracht und auf dem Kreuztisch 6 gehalten.
    • 3. Der Barcode oder QR-Code auf der eingebrachten Probenplatte 4 wird von dem Probenplatten-ID-Code-Beobachungsgerät 2 erfasst und der ID-Code der Platte wird ausgelesen. Zu dieser Zeit können gleichzeitig auch Informationen über Verzerrungen der Platte 4 gelesen werden.
    • 4. Die Probenplatte 4 wird unter Verwendung des Kreuztisches 6 in X-Richtung und Y-Richtung verschoben, während die Oberfläche der Platte 4 durch das Beobachtungsgerät 2 beobachtet wird. Auf diese Weise wird nach einem erwünschten aufgetropften Probenpunkt 5 gesucht.
    • 5. Der Probenpunkt 5 wird mit dem von dem Laser 3 abgegeben Licht bestrahlt, um den Probenpunkt 5 zu ionisieren. In dem Massenanalysator des Massenspektrometers wird eine Messung für eine Massenanalyse gestartet.
    • 6. Basierend auf dem Ergebnis des Auslesens des Barcodes oder QR-Codes, in dem Informationen über die Verzerrung der Probenplatte 4 aufgezeichnet sind, werden die durch den Massenanalysator erhaltenen Massenspektren bzgl. der Masse kalibriert, wobei das zusätzliche Softwareprogramm des Datenverarbeitungsbereichs des Massenspektrometers verwendet wird. Weiterhin werden Probenbilder und bildlich erfasste Probenplatten-ID-Codes abgespeichert und mit den durch die Messung oder die Analyse erhaltenen Daten kombiniert. Die sich ergebenen Daten werden in der Speichervorrichtung, wie beispielsweise einer Festplatte, abgespeichert.
    • 6'. Gemäß einem unterschiedlichen Verfahren werden vorab die Informationen über die Verzerrung der Probenplatte 4 in eine Beziehung mit den Informationen über die Platten-ID gebracht und als elektronische Datei in dem Speichergerät, wie z. B. einer Festplatte, abgespeichert. Abhängig von den ausgelesen Platten-ID-Informationen werden die entsprechenden Verzerrungsinformationen als elektronische Datei ausgelesen. Die durch den Massenanalysator erhaltenen Massenspektren werden unter Verwendung des zusätzlichen Softwareprogramms des Datenverarbeitungsbereichs des Massenspektrometers bzgl. der Masse kalibriert. Probenbilder und bildlich erfasste Probenplatten-ID-Informationen werden mit den durch eine Messung oder eine Analyse erhaltenen Daten kombiniert und in der Speichervorrichtung, wie beispielsweise einer Festplatte, abgespeichert.
    • 7. Der Kreuztisch wird bewegt. Ähnliche Vorgänge werden an einem anderen Probenpunkt 5 durchgeführt. Die Messungen für eine Massenanalyse werden fortgesetzt.
    • 8. Nach Beendigung aller Messungen für eine Massenanalyse wird die Probenplatte 4 aus der Probenkammer 1 des Massenspektrometers entfernt. Der Probenplatten-ID-Code auf der Platte 4 wird an einer Lagerstelle ausgelesen, abgespeichert und dort gelagert.
  • Somit wird ein Barcode, QR-Code oder eine Markierung, in denen ein Probenplatten-ID-Code oder Informationen über Verzerrungen der Probenplatte abgespeichert sind, unter Verwendung eines MALDI-Vorgangs direkt in die leitende Probenplatte eingraviert. Dies ermöglicht eine individuelle Handhabung der Probenplatten. Im Ergebnis kann bei der Lagerung von Proben eine Verwechslung oder ein Verlust derselben vermieden werden.
  • Weiterhin werden automatisch Informationen über die sich in Messung befindenden Probenplatten erfasst. Die erfassten Informationen werden zusammen mit den durch die Messungen erhaltenen Daten abgespeichert. Dies erleichtert es, die für die Messungen verwendeten Probenplatten zu beurteilen.
  • Weiterhin können Massenspektren auf Basis von Informationen über Verzerrungen der Probenplatten bzgl. der Masse kalibriert werden.
  • Die vorliegende Erfindung kann in einem großen Anwendungsbereich in Massenspektrometern, die mit MALDI-Ionenquellen ausgestattet sind, verwendet werden.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - JP 2003-43014 A [0007]
    • - JP 2003-534634 T [0007]
    • - JP 2004-347524 A [0007]
    • - JP 2005-513490 T [0007]

Claims (10)

  1. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle, das dazu ausgelegt ist, Massenanalysen durchzuführen, indem Probenpunkte dazu veranlasst werden, an verschiedenen Stellen auf einer Oberfläche einer Probenplatte anzuhaften, die Probenpunkte der Reihe nach mit Laserlicht bestrahlt werden, um die Probenpunkte zu ionisieren, die erhaltenen Probenionen in einen Massenanalysator eingebracht werden, um Massenspektren der Probenpunkte zu erhalten, und die aus den Massenspektren abgeleiteten Daten mittels eines Datenverarbeitungsbereichs verarbeitet werden, wobei auf der Oberfläche der Probenplatte ein Code oder eine Markierung ausgebildet sind, die Identifikationsinformationen über die Probenplatte angeben, wobei der Code oder die Markierung durch Auslesemittel ausgelesen werden können und wobei die von den Auslesemitteln ausgelesenen Identifikationsinformationen über die Probenplatte mit den Massenspektren kombiniert und in einem Speicher abgespeichert werden.
  2. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach Anspruch 1, wobei Beobachtungsmittel zur Beobachtung der an den verschiedenen Stellen der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkte auch als Auslesemittel wirken.
  3. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach Anspruch 1 oder 2, wobei die von den an den verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkten erhaltenen Massenspektren bezüglich der Masse kalibriert werden, indem vorab die Identifikationsinformationen über die Probenplatte und Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte in eine Speichereinrichtung des Massenspektrometers abgelegt werden, wobei die Identifikationsinformationen und die Informationen über die Topographie miteinander in Beziehung gesetzt werden, die Topographieinformationen der Oberfläche der Probenplatte in Abhängigkeit der von den Auslesemitteln ausgelesenen Identifikationsinformationen über die Probenplatte, aus der Speichereinrichtung ausgelesen werden, um Informationen über die Höhen der Stellen, an denen die Probenpunkte anhaften zu ermitteln, und die Massenspektren bzgl. der Masse auf Basis auf den ermittelten Informationen über die Höhen kalibriert werden.
  4. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach Anspruch 1 oder 2, wobei auf der Oberfläche der Probenplatte Codes oder Markierungen ausgebildet sind, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte angeben, wobei die Codes oder Markierungen durch die Auslesemittel ausgelesen werden können und wobei basierend auf den von den Auslesemitteln ausgelesenen Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte Informationen über die Höhen der Stellen, an denen die Probenpunkte anhaften, ermittelt wird und wobei Masenspektren, die man von den an den verschiedenen Stellen auf der Oberfläche der Probenplatte anhaftenden Probenpunkte erhält, in Abhängigkeit der ermittelten Informationen über die Höhen bzgl. der Masse kalibriert werden.
  5. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle, das zum Durchführen von Massenanalysen ausgelegt ist, indem Probenpunkte dazu veranlasst werden, an verschiedenen Stellen einer Oberfläche einer Probenplatte anzuhaften, die Probenpunkte der Reihe nach mit Laserlicht bestrahlt werden, um die Probenpunkte zu ionisieren, die erhaltenen Probenionen in einen Massenanalysator eingebracht werden, um Massenspektren der Probenpunkte zu erhalten, und die aus den Massenspektren abgeleiteten Daten mittels eines Datenverarbeitungsbereichs verarbeitet werden, wobei das Massenspektrometer umfasst: – auf der Oberfläche der Probenplatte ausgebildete Codes oder Markierungen, um Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte anzugeben; und – Auslesemittel zum Auslesen der Codes oder Markierungen, wobei der Datenverarbeitungsbereich die von den Probenpunkten erhaltenen Massenspektren basierend auf den von den Auslesemitteln ausgelesenen Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte bzgl. der Masse kalibriert.
  6. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach Anspruch 5, wobei der Datenverarbeitungsbereich basierend auf den von den Auslesemitteln ausgelesenen Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte Informationen über die Höhen der einzelnen Stellen ermittelt und auf Basis entsprechender Sätze der ermittelten Informationen über die Höhen eine Massenkalibration der Massenspektren durchführt.
  7. Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach einem der Ansprüche 5 oder 6, wobei auf der Oberfläche der Probenplatte ein Code oder eine Markierung ausgebildet sind, die Informationen zur Identifikation der Probenplatte angeben, wobei der Code oder die Markierung von den Auslesemitteln ausgelesen werden können und wobei die von den Auslesemitteln ausgelesenen Informationen über die Identifikation der Probenplatte mit den Massenspektren kombiniert und in einem Speicher abgelegt werden.
  8. Probenplatte zur Verwendung in einem Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle, wobei die Probenplatte umfasst: – Markierungen, die die Positionen bezeichnen, an denen Probenpunkte zum Anhaften veranlasst werden, und – einen Code oder eine Markierung, die Informationen zur Identifikation der Probenplatte angeben.
  9. Probenplatte zur Verwendung in einem Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach Anspruch 8, weiterhin umfassend Codes oder Markierungen, die Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte angeben.
  10. Probenplatte zur Verwendung in einem Massenspektrometer mit einer MALDI-Ionenquelle nach Anspruch 9, wobei es sich bei dem Code zur Angabe von Informationen zur Identifikation der Probenplatte und den Codes zur Angabe von Informationen über die Topographie der Oberfläche der Probenplatte um einen Barcode oder einen QR-Code handelt.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10290484B2 (en) 2015-11-20 2019-05-14 Shimadzu Corporation Mass spectrometer

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100980214B1 (ko) * 2010-01-18 2010-09-06 주식회사 아스타 말디 이미징용 슬라이드
JP5359924B2 (ja) * 2010-02-18 2013-12-04 株式会社島津製作所 質量分析装置
US9048075B1 (en) 2014-01-14 2015-06-02 Shimadzu Corporation Time-of-flight type mass spectrometer
JP6172003B2 (ja) * 2014-03-19 2017-08-02 株式会社島津製作所 飛行時間型質量分析装置
JP6291972B2 (ja) * 2014-03-31 2018-03-14 三菱マテリアル株式会社 サンプリング位置表示装置、サンプリング方法
JP6363527B2 (ja) * 2015-02-06 2018-07-25 シチズンファインデバイス株式会社 試料積載プレート
JP6812944B2 (ja) * 2017-10-18 2021-01-13 株式会社島津製作所 質量分析装置用情報管理装置
JP2020094927A (ja) * 2018-12-13 2020-06-18 株式会社島津製作所 Maldiを利用した質量分析装置
EP3942291A4 (de) * 2019-03-21 2022-12-14 C2Sense, Inc. Systeme zur detektion von flüchtigen ionen und zugehörige verfahren
WO2021011797A1 (en) * 2019-07-16 2021-01-21 Restek Corporation Molecular cryptographic sampling devices and methods of making and using
GB2595227B (en) * 2020-05-18 2023-11-29 Ascend Diagnostics Ltd Mass spectrometer

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003043014A (ja) 2001-07-02 2003-02-13 Millipore Corp Maldi−tofターゲットとして適した導電カード
JP2003534634A (ja) 2000-05-23 2003-11-18 エピゲノミクス アーゲー 質量分析計の試料支持台
JP2004347524A (ja) 2003-05-23 2004-12-09 Shimadzu Corp Tofms用サンプルプレート及びその処理方法、並びにtofmsによる分析方法
JP2005513490A (ja) 2001-12-11 2005-05-12 アストラゼネカ アクティエボラーグ 質量分析計のための標的プレート及び該標的プレートの使用

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE39353E1 (en) * 1994-07-21 2006-10-17 Applera Corporation Mass spectrometer system and method for matrix-assisted laser desorption measurements
US5498545A (en) 1994-07-21 1996-03-12 Vestal; Marvin L. Mass spectrometer system and method for matrix-assisted laser desorption measurements
US20020009394A1 (en) * 1999-04-02 2002-01-24 Hubert Koster Automated process line
JP2001133464A (ja) * 1999-11-02 2001-05-18 Fuji Photo Film Co Ltd マイクロアレイチップ、マイクロアレイチップの読取方法および読取装置
AUPR892101A0 (en) 2001-11-16 2001-12-13 Proteome Systems Ltd High resolution automated maldi data analysis
US6734424B2 (en) * 2002-05-16 2004-05-11 Large Scale Proteomics Corporation Method for microdispensing of fluids from a pipette
US20030213906A1 (en) * 2002-05-20 2003-11-20 Large Scale Proteomics Corporation Method and apparatus for minimizing evaporation of a volatile substance
EP1530721B1 (de) * 2002-08-22 2008-12-24 Applera Corporation Verfahren zur charakterisierung von biomolekülen mittels resultat-gesteuerter strategie
JP3915677B2 (ja) * 2002-11-29 2007-05-16 日本電気株式会社 質量分析用チップおよびこれを用いたレーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置、質量分析システム
DE10258674A1 (de) * 2002-12-13 2004-06-24 Sunyx Surface Nanotechnologies Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Probenträgers für die MALDI-Massenspektrometrie
US7064318B2 (en) * 2003-08-26 2006-06-20 Thermo Finnigan Llc Methods and apparatus for aligning ion optics in a mass spectrometer
US7735146B2 (en) * 2005-01-27 2010-06-08 The George Washington University Protein microscope
US7109481B1 (en) 2005-04-28 2006-09-19 Thermo Finnigan Llc Matrix-assisted laser desorption and ionization (MALDI) sample plate releasably coupled to a sample plate adapter
US7495231B2 (en) * 2005-09-08 2009-02-24 Agilent Technologies, Inc. MALDI sample plate imaging workstation
JP4900245B2 (ja) * 2005-11-14 2012-03-21 日本電気株式会社 マイクロチップおよびその使用方法、ならびに質量分析システム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003534634A (ja) 2000-05-23 2003-11-18 エピゲノミクス アーゲー 質量分析計の試料支持台
JP2003043014A (ja) 2001-07-02 2003-02-13 Millipore Corp Maldi−tofターゲットとして適した導電カード
JP2005513490A (ja) 2001-12-11 2005-05-12 アストラゼネカ アクティエボラーグ 質量分析計のための標的プレート及び該標的プレートの使用
JP2004347524A (ja) 2003-05-23 2004-12-09 Shimadzu Corp Tofms用サンプルプレート及びその処理方法、並びにtofmsによる分析方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10290484B2 (en) 2015-11-20 2019-05-14 Shimadzu Corporation Mass spectrometer

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009052994A (ja) 2009-03-12
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