DE3902348C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen plattenförmigen Objektträger
für die Rasterelektronenmikroskopie und ein Verfahren
zur Herstellung eines solchen Objektträgers.
Ein gattungsgemäßer Objektträger ist aus der US 41 83 614
bekannt. Der dort beschriebene Objektträger ist für
die übliche Lichtmikroskopie geeignet und weist auf einer
Glasplatte ein Muster aus zwei matrixartigen Teilmustern
auf, nämlich einmal ein Matrixmuster aus qudratischen Linien und zum
anderen ein Matrixmuster aus jeweils zwei Großbuchstaben.
Mit zwei derart ineinander verschachtelten Teilmustern
können zu mikroskopierende Gegenstände relativ einfach
aufgefunden werden. Die Linien des ersten Teilmusters dienen
im wesentlichen zum Vermessen von zu mikroskopierenden
Objekten, wohingegen die Buchstaben zur Identifizierung
einzelner Bereiche auf dem Objektträger dienen. Die einzelnen
Bereiche des Linienmusters, aber auch die einzelnen
Buchstaben sind bei diesem bekannten Objektträger derart
klein, daß sie mit bloßem Auge praktisch nicht zu sehen
sind, so daß auch eine grobe Abschätzung der Lage von Objekten
kaum möglich ist. Für die Rasterelektronenmikroskopie sind
derartige Objektträger zudem auch nicht geeignet, da die
beiden Teilmuster im Elektronenmikroskop nur ganz schwache
Kontraste liefern, so daß das Auffinden von Objekten auf
dem Objektträger sehr erschwert ist. Ebenso können bei
diesem bekannten Objektträger beim Einsatz in einem Rasterelektronenmikroskop
nur schwer gut zu vermessende Stereoaufnahmen
angefertigt werden, da das Muster keinen Hinweis
auf den Betrachtungswinkel und die aktuelle Vergrößerung
gibt.
Aus der GB 21 25 183 A ist ein Objektträger für herkömmliche
Lichtmikroskopie bekannt, bei dem vorhandene Markierungen,
nämlich Striche, Kreise, Buchstaben und Zahlen,
aufgedruckt bzw. eingebrannt werden können. Mit derartigen
direkten Drucktechniken und auch mit Umdrucktechniken ist
jedoch eine hochgenaue Positionierung der einzelnen Markierungen
nicht möglich, insbesondere dann nicht, wenn
der Objektträger nur relativ kleine Dimensionen im Bereich
von wenigen Zentimetern aufweist.
Aus der DE 33 33 674 A1 ist schließlich ein Objektträger
für ein sogenanntes Hämozytometer bekannt, mit der die
Verteilung von feinteiligen Stoffen in einer Flüssigkeit
quantitativ analysiert werden kann. Vorzugsweise dient
ein derartiger Objektträger zur quantitativen Analyse von
Blut. Der Objektträger ist hierbei aus zwei Platten geformt,
deren Oberflächen räumlich so gestaltet sind, daß sich
eine Vielzahl von kleinen Bereichen bilden, in denen die
zu untersuchende Flüssigkeitsprobe im dünnen Raum zwischen
der Oberfläche der beiden Platten durch Kapillarwirkung
zurückgehalten wird. Eine derartige Formung einer Objektträgeroberfläche
bringt für die Rasterelektronenmikroskopie
keinerlei Verbesserungen hinsichtlich der Erkennung von
Objekten oder der Identifizierung von deren Lage.
Eine solche eindeutige Lagebestimmung ist für die Rasterelektronennmikroskopie
wünschenswert und für ein rasches
Arbeiten notwendig.
In den letzten Jahren hat sich das
Auflösungsvermögen von Rasterelektronenmikroskopen
ständig erhöht. Das Anwendungsgebiet für die
Rasterelektronenmikroskopie wächst ebenso beständig. So
ist es möglich, auch kleine und kleinste
Zellbestandteile, wie Chromosomen und sogar Antikörper
bei hoher Auflösung im Bereich von einem Nanometer
abzubilden. Objekte dieser Größenordnung, die auf einem
Objektträger abgelegt sind, sind jedoch im
Rasterelektronenmikroskop nur äußerst schwierig zu
finden. Sie sind nämlich sehr konstrastarm, und es
müssen zu ihrer Erkennung aufgrund der geringen Größe
bereits hohe Anfangsvergrößerungen, 1000- bis
20 000fach, gewählt werden. Außerdem liegen sie in für
die Untersuchung geeigneter Form häufig nur in sehr
geringer Anzahl vor.
Bisher wurden die enormen Suchzeiten für
untersuchungsgeeignete Objekte dadurch verkürzt, daß die
Objekte auf den Objektträgern in Form von Deckgläschen
präpariert wurden, so daß eine lichtmikroskopische
Voruntersuchung ermöglicht wurde. Die geeigneten
Objektstellen auf dem Objektträger wurden dann z. B.
durch Ritzmarkierungen mit Hilfe eines Diamanten oder
durch Ritzmarkierungen mit Hilfe einer Nadel nach einer
Goldbesputterung oder durch Aufbringen von
Markierungsobjekten, z. B. Kupferpfeilen etc., markiert.
Diese Markierungstechniken haben jedoch Nachteile. Die
Auffindung einer Einzelmarkierung im
Rasterelektronenmikroskop ist oft schwierig und setzt
eine Dokumentation der Markierungsstelle voraus.
Außerdem sollten die Markierungen sehr nahe am zu
mikroskopierenden Objekt liegen, ohne dieses jedoch zu
beschädigen. Ferner sind Manipulationen unter dem
Lichtmikroskop routinemäßig nur schwierig durchzuführen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen gattungsgemäßen
Objektträger auch für die Rasterelektronenmikroskopie
verwendbar zu gestalten und dort ein rasches Auffinden
gewünschter Bereiche zu gewährleisten. Außerdem soll ein
Herstellungsverfahren angegeben werden, mit dem die Markierungselemente
auf dem Objektträger präzise gesetzt werden
können.
Diese Aufgaben sind für einen Objektträger bzw. für ein
Herstellungsverfahren für einen Objektträger durch die
kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 bzw. des
Patentanspruchs 7 gelöst.
Demgemäß werden die Markierungselemente beider matrixförmigen
und ineinander verschachtelten Teilmuster als separate
Erhebungen ausgebildet, wobei die Markierungselemente des
ersten Teilmusters gleich hoch sind und dabei über sämtliche
Markierungselemente des zweiten Teilmusters hinausragen.
Zudem bestehen die Markierungselemente beider Teilmuster
aus einem Elektronen rückstreuenden und/oder Sekundärelektronen
emittierenden Material.
Der für das Auffinden eines Objekts auf dem Objektträger
unter dem Mikroskop wiederzufindende Bereich ist auf diese
Weise immer durch Markierungselemente beider Teilmuster
eindeutig gekennzeichnet.
Der einfachste Aufbau eines solchen Musters ist ein
in einem bestimmten Rasterabstand aufgebautes Punktmuster
als erstes Teilmuster, wobei jeweils in einem rechtwinkligen
bzw. vorzugsweise quadratischen, durch die Eckpunkte des
Rasters definierten Bereich, ein alphanumerisches Zeichen
als Markierungselement des zweiten Teilmusters gesetzt
ist, so daß die beiden matrixförmigenn Teilmuster jeweils
um einem halben Rasterabstand in zwei zueinander senkrechten
Richtungen gegeneinander verschoben sind. Innerhalb dieser
Einzelmatrixbereiche kann das Punktmuster noch durch weitere
Zusatzpunkte unterteilt sein.
Die einzelnen Markierungselemente, z. B. die Punkte oder
die alphanumerischen Zeichen, sind als Erhebungen ausgebildet
und vorzugsweise mit Hilfe eines Siebdruckverfahrens auf
den vorzugsweise transparenten Objektträger aufgebracht.
Die verwendeten Materialien für die Markierungen sind Farbstoffe,
die inert gegen organische Lösungsmittel, Säuren
und Laugen und auch gegen Chromschwefelsäure sind. Bei
einer Verwendung des Objektträgers in Rasterelektronenmikroskopen
werden diesen Farbstoffen Elektronen rückstreuende
und oder Sekundärelektronen emittierende Materialien,
insbesondere Bleiverbindungen beigemischt. Die
Farbstoffe bilden auf dem Objektträger Erhebungen, wobei
durch das Siebdruckverfahren die Höhe der aufgedruckten
Markierungselemente eines Teilmusters entweder insgesamt
gleich ist oder zumindest wesentliche Punkte, etwa der
Punktmatrix, auf gleicher Höhe gehalten werden. Diese Höhe
beträgt etwa 50 µm. Diese Höhe kann je nach Bedarf variiert
werden. Dies hat den Vorteil, daß die erhabenen Markierungselemente
deutlich erkannt werden und zum Vermessen der
Lage des Objektträgers und zum Bestimmen des Vergrößerungsmaßstabes
herangezogen werden können. Ein weiterer Vorteil
ist, daß beim Auflegen eines Deckglases auf den Objektträger
dieses von dem Deckglas durch einen geringen Abstand getrennt
ist, so daß druckempfindliche zu mikroskopierende Objekte,
z. B. Zellen, wie
Protoplasten oder Gewebszellen bzw. Zellstrukturen,
durch das Auflegen des Deckglases nicht zerstört werden.
Ebenso können dadurch zwischen dem Objektträger und dem
Deckglas Lösungen, die zu mikroskopierende Objekte
enthalten, "durchgesaugt" werden.
Zur Mikroskopierung werden Präparate auf einem
Objektträger in herkömmlicher Weise angefertigt und
geeignete Objektstellen im Lichtmikroskop ausgesucht.
Diese Objektstellen, die durch die beiden Teilmuster
hinsichtlich ihrer Lage eindeutig identifiziert werden
können, werden z. B. auf einer vergrößerten Fotokopie
des gesamten Markierungsmusters des Objektträgers
eingetragen. Die Objekte können dann nach dieser
Lageidentifizierung auch bei höheren
Vergrößerungsfaktoren eindeutig wiedergefunden und
untersucht werden. Für die Rasterelektronenmikroskopie
werden die Objektträger anschließend auf die
handelsüblichen Präparathalter mit Leitsilber oder
Leitkohlenstoff aufgeklebt. Nach einer Besputterung, z. B.
mit Gold, können die Objektstellen im
Rasterelektronenmikroskop sehr schnell aufgefunden
werden, da die Markierungen als Erhebungen deutlich
erkennbar sind. Insbesondere die der Druckfarbe bei dem
Siebdruckverfahren zugemischten Bleiverbindungen liefern
im Gegensatz zum transparenten Untergrund des
Objektträgers, allgemein Glas, eine hohe Elektronenrücksteuerung bzw.
Sekundärelektronenemission, so daß selbst nach der
Aufbringung dünnster Sputter-Schichten oder nach
Bedampfung mit Kohlenstoff die Markierungen des
Matrixmusters mit hohem Kontrast abgebildet werden.
Objektträger gemäß der Erfindung sind insbesondere
vorteilhaft bei vergleichenden Untersuchungen einer
größeren Anzahl unterschiedlicher Präparate. Die Größe
des Objektträgers erlaubt es, gleichzeitig bis zu ca. 50
Proben, z. B. Samen, Pollen, ganze Versuchsserien mit
Mikroorganismen oder verschiedenste Zellfraktionen auf
den Objektträger aufzubringen und unter identischen
Bedingungen zu behandeln und zu untersuchen. Die zu
mikroskopierenden Objekte werden schnell aufgefunden und
identifiziert, so daß sich Objektträger gemäß der
Erfindung für die definierte Auffindung und Abbildung
von Objekten und/oder Strukturdetails sowohl in der
Lichtmikroskopie wie in der Rasterelektronenmikroskopie,
insbesondere aber in der Kombination beider Methoden
eignen. Durch die erwähnte Kombination von
Lichtmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie wird
eine routinemäßige Auffindung verschiedenster Objekte
bis in den Mikrometerbereich ermöglicht.
Üblicherweise wird als Objektträger ein für sichtbares
Licht transparenter Träger verwendet. Hiermit ist es
möglich, dasselbe Objekt vergleichend mit verschiedenen
Abbildungsverfahren zu untersuchen. Im Lichtmikroskop
sind Durchlichtverfahren, Verfahren im Hinblick auf den
Phasenkontrast, den Interferenzkontrast, die Auflicht
fluoreszenz, ein Laser-Scanning- und Polarisations
verfahren möglich. Für das Rasterelektronenmikroskop
seien beispielhaft die Sekundärelektronenabbildung, die
Rückstreuelektronenabbildung, die Kathodenlumineszenz
und die Elementanalyse genannt.
Die Erfindung ist in einem Ausführungsbeispiel anhand
der Zeichnung näher erläutert. In dieser stellen dar:
Fig. 1 eine Aufsicht auf einen Objektträger gemäß der
Erfindung;
Fig. 2 einen Schnitt längs II-II in Fig. 1;
Fig. 3 einen Schnitt durch ein Detail eines
Objektträgers gemäß der Erfindung mit einem
aufgebrachten Deckglas;
Fig. 4 und 5 Aufsichten auf jeweils einen Teil eines
Objektträgers gemäß der Erfindung mit darauf
präparierten Objekten.
Ein Objektträger 1 besteht aus einer dünnen Glasplatte 2
mit Kantenlängen von z. B. 30×25 mm, auf der ein
Rahmen 3 und ein regelmäßiges 5-zeiliges und 6-spaltiges
Matrixmuster aus Punkten 4 mit einem horizontalen und
vertikalen Rasterabstand D und alphanumerische Zeichen 5
(0, 1, . . ., 5, A, D, . . ., W, X) aufgebracht sind, wobei
die einzelnen Bereiche des Punktrasters noch durch
kleinere Punkte 6 regelmäßig unterteilt sind. Die
alphanumerischen Zeichen 5 sind jeweils in der Mitte
eines durch vier Punkte bestimmten Rasterbereichs
angeordnet, so daß auch diese Zeichen ein regelmäßiges
Muster aus einer Matrix mit dem Rasterabstand D bilden,
das gegenüber dem Matrixmuster aus den Punkten 4 um den
halben Rasterabstand horizontal und vertikal verschoben
ist. Der Rahmen 3, die Rasterpunkte 4 und 6 sowie die
alphanumerischen Zeichen 5 werden mit Hilfe einer
Glas-Email-Farbe mit Zuschlägen von Bleiverbindungen in
einem Siebdruckverfahren auf den Objektträger in
regelmäßigen Abständen aufgebracht. Solche Farben sind
im Handel etwa unter der Bezeichnung Carmina gelb/rot
erhältlich. Vorzugsweise wird zunächst eine transparente
dünne Kunststoffolie mit der Farbe im Siebdruckverfahren
bedruckt, wonach die Folie auf die Glasplatte
aufgebracht wird. In einem Trockenofen wird die Farbe
bei Temperaturen von etwa 600°C eingebrannt, wobei der
Kunststoff rückstandsfrei verdampft. Die eingebrannte
Farbe ist inert gegen organische Lösungsmittel, Säuren
und Laugen und auch gegen Chromschwefelsäure. Eine
beliebige Reinigung bzw. Vorbehandlung der Objektträger
vor einer Präparation ist daher möglich; ebenso eine
Wiederverwendung nach entsprechender Reinigung. Die
derart erzeugten Musterzeichen ragen über die Oberfläche
der Glasplatte 2 geringfügig heraus. Die Höhe der
Rasterpunkte 4 beträgt etwa 50 µm. Die Rasterpunkte 6
sowie die alphanumerischen Zeichen 5 sind vorzugsweise
weniger hoch. Hiermit ergibt sich die Möglichkeit, wie
aus Fig. 3 hervorgeht, auf den Objektträger 1 ein
Deckglas 7 aufzulegen, so daß dann zwischen der
Oberfläche der Glasplatte 2 und der Unterseite des
Deckglases 7 ein Zwischenraum 8 verbleibt.
Auf den solcher Art hergestellten und gereinigten
Objektträger werden, wie in Fig. 4 gezeigt, in
herkömmlicher Weise Objekte, in diesem Falle z. B. Samen
9, aufgebracht. Der derart präparierte Objektträger wird
dann in ein Lichtmikroskop eingeführt und hinsichtlich
interessanter Objekte abgesucht. Die interessierenden
Objekte können dann auf einer vergrößerten Fotokopie des
Objektträgers markiert werden, so z. B. die beiden in
Fig. 4 mit 9 bezeichneten Samen rechts oben von dem
alphanumerischen Zeichen X bzw. rechts unten von dem
alphanumerischen Zeichen Q, wobei das Punktemuster zu
einer genaueren Lokalisierung dient. Der durchmusterte
Objektträger kann dann in herkömmlicher Weise mit einer
dünnen Goldschicht 10 besputtert werden, was in Fig. 5
angedeutet ist. Dieser Objektträger wird dann in ein
Rasterelektronenmikroskop eingeführt, in dem der
Objektträger zunächst bei geringer Vergrößerung
gemustert wird, um die auf der Fotokopie des
Objektträgers eingetragenen zu mikroskopierenden Objekte
9 wiederzufinden. Die Punkte 4 und 6 des Punktmusters
sowie die alphanumerischen Zeichen erscheinen dabei
deutlich auf dem Bild des Rasterelektronenmikroskopes,
da der Farbstoff, wie erwähnt, eine hohe
Sekundärelektronenemission aufweist. Ist das Objekt
wiedergefunden, so wird die Vergrößerung gesteigert und
das Objekt in herkömmlicher Weise untersucht.
Durch das regelmaßige Punktmuster können somit
unterschiedliche Präparate oder verschiedene Stellen
eines Präparates auf dem Objektträger eindeutig
lokalisiert werden. Es können quantitative Aussagen über
die Verteilung einzelner Objekte auf der
Objektträgerfläche gewonnen werden. Aus fotographischen
Aufnahmen, auch bei verschiedenen Kippwinkeln um eine
Achse des Objektträgers kann sowohl die Vergrößerung als
auch der Kippwinkel aus Abstandsmessungen errechnet
werden. Für Stereoaufnahmen sind die Betrachtungswinkel
durch Ausmessen der präzise gesetzten Punkte leicht zu
überprüfen.
Claims (9)
1. Plattenförmiger Objektträger für die Rasterelektronenmikroskopie,
mit einem Rastermuster von Markierungselementen
zum Kennzeichnen einzelner Bereiche auf der Tragseite
des Objektträgers, welches aus zwei regelmäßigen,
matrixförmigen und ineinander verschachtelten Teilmustern
besteht, wobei das eine, erste Teilmuster aus jeweils
gleichen und das andere, zweite Teilmuster aus jeweils
unterschiedlichen Markierungselementen aufgebaut ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Markierungselemente (4, 5, 6) beider Teilmuster
als separate Erhebungen ausgebildet sind, daß alle Markierungselemente
(4) des ersten Teilmusters gleich hoch
sind und dabei über sämtliche Markierungselemente (5,
6) des zweiten Teilmusters hinausragen, und daß die
Markierungselemente (4, 5, 6) beider Teilmuster aus
einem Elektronen rückstreuenden und/oder Sekundärelektronen
emittierenden Material bestehen.
2. Objektträger nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das zweite Teilmuster aus alphanumerischen Zeichen
gebildet ist.
3. Objektträger nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Höhe der Markierungselemente (4) des ersten
Teilmusters einheitlich bei fünfzig Mikrometer liegt.
4. Objektträger nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das Material der Markierungselemente
(4, 5, 6) Bleiverbindungen aufweist.
5. Objektträger nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß das erste Teilmuster durch weitere
Markierungselemente weiter unterteilt ist, die ebenfalls
als separate Erhebungen ausgebildet und regelmäßig in
Form einer Matrix angeordnet sind und bezüglich des
ersten und zweiten Teilmusters ein drittes Teilmuster
definieren, wobei die Höhen der Markierungselemente
des dritten Teilmusters geringer sind als die einheitliche
Höhe der Markierungselemente des ersten Teilmusters.
6. Objektträger nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Objektträger als transparente
Glasplatte ausgebildet ist und sämtliche Markierungselemente
auf dieser Glasplatte angeordnet sind.
7. Verfahren zum Herstellen eines Objektträgers nach einem
der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der
Reihe nach eine Farbe im Siebdruck auf eine Kunstoffolie
gedruckt und anschließend die bedruckte Kunststoffolie
auf eine transparente Glasplatte aufgebracht wird und
schließlich die Farbe auf die Glasplatte eingebrannt
wird, wobei die Markierungselemente aufgebaut werden
und der Kunststoff der Kunststoffolie verdampft.
8. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
als Farbe eine Glas/Email-Farbe mit metallischen Zuschlägen,
insbesondere mit Bleiverbindungen, verwendet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die Einbrenntemperatur bei etwa 870 Kelvin liegt.
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Families Citing this family (5)
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DE102009020663A1 (de) | 2009-05-11 | 2010-11-25 | Carl Zeiss Ag | Mikroskopie eines Objektes mit einer Abfolge von optischer Mikroskopie und Teilchenstrahlmikroskopie |
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US11274996B2 (en) * | 2017-02-07 | 2022-03-15 | Essenlix Corporation | Compressed open flow assay and use |
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GB2125183B (en) * | 1982-08-10 | 1985-08-29 | Pa Consulting Services | Improvements in or relating to sample slides |
GB2127577B (en) * | 1982-09-20 | 1985-12-11 | V Tech Inc | Wet-mount microscopic examination slide |
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