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Die
Erfindung betrifft eine elektronische Schaltung, umfassend mindestens
zwei, mittels Leiterbahnen miteinander verschaltete organische Bauelemente
mit einem gemeinsamen Trägersubstrat.
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Derartige
elektronische Schaltungen sind aus
DE 101 51 440 C1 bekannt. Hier werden verschiedene
elektronische Bauelemente zu einem Elektronikbauteil bzw. einer
Schaltung verbunden, wobei gleichartige Bauelemente auf einem Substrat bzw.
in einer Verkapselung zu einer Gruppierung gebündelt werden, welche dann untereinander
elektronisch verbunden werden. Um die Bauelemente vor Umwelteinflüssen zu
schützen,
werden diese zwischen einer Substratfolie und einer Verkapselungsfolie
geschützt
angeordnet.
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Eine
derartige Verkapselung ist insbesondere für organische Bauelemente erforderlich,
da diese besonders anfällig
im Hinblick auf Verunreinigungen, Lichteinstrahlung oder mechanische
Belastung sind.
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Aus
DE 10 2004 010 094
B3 ist es bekannt, Halbleiter-Bauelemente enthaltend eine organische Halbleiterschicht
mit einer Schutzschicht zu versehen, welche als Schutz vor Umwelteinflüssen vorgesehen
ist.
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Aus
WO 2007/041 116 A1 ist
ein Verfahren zur Herstellung einer OLED-Anzeigevorrichtung (OLED
= organic light emitting diode) bekannt. Die OLED-Anzeigevorrichtung
umfasst eine Vielzahl von OLED-Bauteilen, welche eine gemeinsame
lichtdurchlässige
Elektrode teilen. Um Lichtschächte
ausgerichtet mit den ausstrahlenden Bereichen der ein oder mehreren
OLED-Bauteilen zu definieren, wird bei dem Verfahren eine gemusterte
leitende Schichtstruktur über
der gemeinsamen lichtdurchlässigen
Elektrode ausgeformt. Ferner wird optisches Material in den ein
oder mehreren Lichtschächten
bereitgestellt.
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Aus
EP 1 717 862 A2 ist
ein nichtflüchtiges Speichergerät bekannt.
Das nichtflüchtige
Speichergerät
ermöglicht
Schreiben und Löschen
von Daten zu Zeiten außer
während
der Herstellung. Ferner ist ein Halbleiterbauteil bekannt, dass
das nichtflüchtige Speichergerät aufweist.
Das nichtflüchtige
Speichergerät
und das Halbleiterbauteil sind kompakt dimensioniert. Das nichtflüchtige Speichergerät weist
ein Paar leitfähiger
Schichten und einen organischen Verbundstoff auf. Der organischen
Verbundstoff hat Flüssigkristall
Eigenschaften. Der organische Verbundstoff ist zwischen dem Paar
leitfähiger
Schichten angeordnet. Daten werden in dem nichtflüchtigen Speichergerät aufgezeichnet,
indem eine erste Spannung an dem Paar leitfähiger Schichten angelegt wird
und der organische Verbundstoff erhitzt wird, sodass ein Phasenübergang
des organischen Verbundstoffs von einer ersten Phase zu einer zweiten
Phase erfolgt.
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Aus
US 2008/0 023 705
A1 ist ein Dünnfilmtransistorsubstrat
bekannt. Das Dünnfilmtransistorsubstrat
umfasst eine Gate-Elektrode,
eine Gate-Isolationsstruktur, eine Kanalstruktur, eine erste organische
Isolationsstruktur, eine Source-Elektrode
und eine Drain-Elektrode. Die Gate-Elektrode ist auf einem Basissubstrat
ausgeformt. Die Gate-Isolationsstruktur ist auf der Gate-Elektrode
ausgeformt und ist kleiner als die Gate-Elektrode. Die Kanalstruktur
ist auf der Gate-Isolationsstruktur
ausgeformt und ist kleiner als die Gate-Isolationsstruktur. Die erste organische
Isolationsstruktur ist auf dem Basissubstrat ausgeformt, um die
Kanalstruktur, die Gate-Isolationsstruktur und die Gate-Elektrode
zu überdecken.
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Aus
WO 03/085 448 A1 ist
eine Gate-Ader bekannt, welche Gate-Leitungen, Gate-Elektroden und Gate-Pads
umfasst. Die Gate-Ader
ist in einer sich schräg-erstreckenden
Richtung auf einem Substrat ausgeformt. Danach ist eine Gate-Isolationsschicht
ausgeformt und darauf sind eine Halbleiterschicht und eine ohmsche
Kontaktschicht sequentiell ausgeformt. Um eine Daten-Ader auszuformen
wird ein leitfähiges
Material aufgebracht und strukturiert. Die Daten-Ader umfasst Datenleitungen überschneidend
die Gate-Leitungen, Source-Elektroden, Drain-Elektroden und Daten-Pads. Eine Schutzschicht
aus Silizium-Nitrid
ist auf dem Substrat aufgebracht. Eine organische Isolationsschicht,
die aus einem lichtempfindlichen organischen isolierenden Material
hergestellt ist, überzieht
die Schutzschicht. Die Oberfläche
der organischen Isolationsschicht ist als unebene Struktur ausgeformt.
Erste Kontaktlöcher
legen die Schutzschicht gegenüber
den Drain-Elektroden
frei. Sodann wird die Oberfläche der
organischen Schutzschicht mit einem inaktiven Gas wie Ar behandelt.
Dann wird die Schutzschicht zusammen mit der Gate-Isolationsschicht
mittels Photoätzens
strukturiert. Bei dem Photoätzen
wird eine Photolackstruktur zur Freilegung der entsprechenden Kontaktlöcher, der
Gate-Pads und der Daten-Pads verwendet. Als nächstes wird Indium-Zinn-Oxid
oder Indium-Zink-Oxid zur Ausformung transparenter Elektroden, subsidiärer Gate-Pads
und subsidiärer
Daten-Pads entsprechend verbunden mit den Drain-Elektroden, den Gate-Pads und den Daten-Pads
aufgebracht und strukturiert. Abschließend wird ein reflektierendes
leitendes Material zur Ausformung reflektierender Filme aufgetragen
und strukturiert. Die reflektierenden Filme haben Öffnungen
in dem Pixelbereich auf den transparenten Elektroden.
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Aus
US 7 309 955 B2 ist
ein eletroluminezentes Anzeigegerät bekannt, welches erste und
zweite sich gegenüberliegende
Substrate mit einem Anzeigegebiet und einem das Anzeigegebiet umgebenden Nicht-Anzeigegebiet
aufweist. Ein Feldelement ist auf dem ersten Substrat ausgebildet.
Eine elektrolumineszente Diode ist auf dem zweiten Substrat ausgebildet.
Das elektrolumineszente Anzeigegerät weist weiter Gate- und Daten-Padelektroden in
dem Nicht-Anzeigegebiet auf. Die freiliegenden Teile der Gate- und
Daten-Padelektroden werden aus einem leitenden Material, welches
eine Korrosionstoleranz aufweist, ausgeformt.
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Es
ist nun Aufgabe der Erfindung, eine weitere elektronische Schaltung
der eingangs genannten Art bereitzustellen, deren empfindliche organische Bauelemente
ausreichend vor Umwelteinflüssen
geschützt
sind.
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Die
Aufgabe wird durch die elektronische Schaltung nach Anspruch 1 gelöst.
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Unter
einer „deckungsgleichen” Anordnung der
mindestens einen Schutzschicht zur musterförmigen obersten Schichtlage
wird hierbei verstanden, dass die mindestens eine Schutzschicht
in ihrer Flächenausdehnung
genauso so groß ist
wie die musterförmige
oberste Schichtlage und die gleiche Form besitzt. Somit weisen senkrecht
zur Ebene des Trägersubstrats
gesehen die musterförmige
Schichtlage und die mindestens eine Schutzschicht die gleiche Form
und Lage auf, wobei die Umrisse von oberster Schichtlage und Schutzschicht
in dieser Ansicht übereinstimmen
bzw. exakt übereinander
liegen.
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Eine
derartige Schaltung ermöglicht
eine besonders kostengünstige
und rationelle Herstellung. Die mindestens eine Schutzschicht bedeckt
die musterförmige
oberste Schichtlage der elektrischen Schaltung und schützt zuverlässig darunter
liegende Bauelemente sowie die Verbindungen zwischen einzelnen Bauelementen
in Form von Leiterbahnen. Nachdem die elektrisch leitende oberste
Schichtlage üblicherweise
eine große
Anzahl an Elektrodenflächen
ausbildet, z. B. Top-Gate-Elektroden von OFETs, befinden sich die
sensiblen Bereiche der Bauelemente üblicherweise unmittelbar darunter. Dabei
wird insbesondere ein mechanischer Schutz, vor allem vor Druckkräften, Scherkräften oder
Abrieb, bereitgestellt, jedoch ist je nach Zusammensetzung und/oder
Aufbau der mindestens einen Schutzschicht auch alternativ oder in
Kombination zu dem mechanischen Schutz ein Schutz im Hinblick auf
chemische Belastungen, insbesondere durch Wasserdampf, Sauerstoff,
Verunreinigungen usw., und/oder optische Belastungen, insbesondere
durch sichtbare Strahlung, UV-Strahlung usw., und/oder thermische Belastung,
insbesondere durch IR-Strahlung usw., möglich.
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Auch
eine Stabilisierung des Schichtpakets der Schaltung und eine Reduzierung
von unerwünschten
Ablösungen
oder Abhebungen zwischen einzelnen Schichtlagen des Schichtpakets,
die aufgrund mangelnder oder schlechter Zwischenschichthaftung auftreten
können,
ist durch die erfindungsgemäße Anordnung
der Schutzschicht möglich.
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Unter
einem organischen Bauelement wird hierbei ein elektrisches Bauelement
verstanden, das überwiegend
aus organischem Material besteht, insbesondere zu mindestens 90
Gew.-% aus organischem Material besteht. Ein einzelnes organisches Bauelement
setzt sich dabei aus unterschiedlichen Schichtlagen mit elektrischer
Funktion, insbesondere in Form von nicht selbsttragenden, dünnen Schichten,
und weiterhin mindestens aus den, den Schichtlagen zuordenbaren
Bereichen eines Trägersubstrats
zusammen, auf welchem sich die Schichtlagen befinden. Die einzelnen
Schichtlagen können
dabei aus organischem oder anorganischem Material gebildet sein,
wobei nur organische, nur anorganische, oder organische und anorganische
Schichtlagen in Kombination zur Bildung eines organischen Bauelements
eingesetzt werden können.
So wird ein elektrisches Bauelement umfassend ein organisches Trägersubstrat
und ausschließlich
anorganische Schichtlagen mit elektrischer Funktion aufgrund der üblicherweise
großen
Masse des Trägersubstrats
im Vergleich zur Masse der Funktionsschichten insgesamt als organisches
Bauelement angesehen.
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Als
organisches Bauelement wird hier auch insbesondere ein solches bezeichnet,
das mindestens eine Schichtlage aus einem organischen, metallorganischen
und/oder organisch-anorganischen Material
aufweist. Darunter fallen organische, metallorganische und/oder
organisch-anorganische Polymere oder Kunststoffe (Hybride), insbesondere
solche, die im Englischen z. B. mit „plastics” bezeichnet werden. Es handelt
sich hierbei somit um alle Arten von Stoffen mit Ausnahme der Halbleiter,
die die klassischen Dioden bilden (Germanium, Silizium) und der typisch
metallischen Leiter. Eine Beschränkung
im dogmatischen Sinne auf organisches Material als Kohlenstoff enthaltendes
Material ist demnach nicht vorgesehen, vielmehr ist auch an den
breiten Einsatz von z. B. Silikonen gedacht. Weiterhin soll der
Begriff organisch bzw. organisches Material keinerlei Beschränkung im
Hinblick auf die Molekülgröße, insbesondere
auf polymere und/oder oligomere Materialien, unterliegen, sondern
es ist durchaus auch der Einsatz von „small molecules” möglich. Der
Begriff „Polymer” enthält insofern
keine Aussage über
das tatsächliche
Vorliegen einer polymeren Verbindung.
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Generell
erfolgt die Bildung von Schichtlagen bevorzugt durch Drucken, Aufdampfen,
Sputtern, Sprühen,
Spritzen, Gießen,
Aufrakeln, und dergleichen weitere Beschichtungsverfahren. Die Schichtlagen
mit elektrischer Funktion werden bevorzugt aus einer Lösung aufgebracht,
aufgedampft, aufgesputtert, auflaminiert oder mittels einer Transferfolie
auf das Trägersubstrat
geprägt.
Aus einer Lösung
aufgebrachte Schichtlagen mit elektrischer Funktion werden beispielsweise
durch Drucken, Gießen,
Sprühen oder
Aufrakeln auf das Trägersubstrat
aufgebracht.
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Bei
einer Schichtlage eines Bauelements kann es sich um eine elektrisch
leitende Schichtlage, eine halbleitende Schichtlage oder eine elektrisch isolierende
Schichtlage handeln.
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Es
hat sich bewährt,
wenn die mindestens zwei organischen Bauelemente der elektronischen Schaltung
jeweils mindestens eine mittels eines der oben genannten Beschichtungsverfahren
gebildete, insbesondere gedruckte, Schichtlage umfassen.
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Zur
Bildung organischer Schichtlagen, welche durch ein organisches Material,
das insbesondere in einem Lösemittel
gelöst
ist, gebildet werden, eignen sich insbesondere Druckverfahren wie
beispielsweise Tiefdruck, Siebdruck, Offsetdruck, Thermotransferdruck
oder Flexodruck.
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Eine
Schichtlage kann dabei musterförmig oder
vollflächig
auf das Trägersubstrat
oder bereits mit Schichtlagen versehene Trägersubstrat aufgebracht werden.
Vollflächig
aufgebrachte Schichtlagen können
in Folge bereichsweise wieder entfernt werden, beispielsweise durch Ätzen, Laserbehandlung, Abwaschen
mit Wasser, Auslösen
in Lösungsmittel, usw.,
um eine musterförmige
Gestalt auszubilden. Dabei werden Schichtlagen aus einem organischen Halbleitermaterial
vorzugsweise vollflächig
vorgesehen. Schichtlagen aus elektrisch leitenden Materialien werden
meist musterförmig
ausgebildet, um Elektrodenflächen
und/oder Leiterbahnen auszubilden. Schichtlagen aus elektrisch isolierendem
Material werden je nach Bedarf musterförmig oder vollflächig ausgebildet.
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Die
einzelnen Schichtlagen eines Bauelement auf dem Trägersubstrat
weisen üblicherweise eine
Gesamtschichtdicke im Bereich von 500 nm bis zu 2000 nm auf. Generell
sind alle Schichtlagen bevorzugt dünne Schichten mit einer Schichtdicke
von kleiner als 10 μm.
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Dabei
weist eine elektrisch leitende Schichtlage vorzugsweise eine Schichtdicke
im Bereich von 5 nm bis etwa 100 nm auf, eine Schichtlage aus einem
halbleitenden Material vorzugsweise eine Schichtdicke im Bereich
von 10 nm bis 300 nm auf und eine elektrisch isolierende Schichtlage
vorzugsweise eine Schichtdicke im Bereich von 50 nm bis 2000 nm
auf. Ein Bauelement kann weiterhin noch Schutz- und/oder Hilfsschichten
aufweisen. Deren Schichtdicke beträgt vorzugsweise 100 nm bis
mehrere μm.
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Dabei
hat es sich zudem bewährt,
wenn die mindestens zwei organischen Bauelemente mindestens zwei
Bauelemente vom gleichen Bauelementtyp umfassen.
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Die
elektronische Schaltung weist eine erste Teilmenge an organischen
Bauelementen eines ersten Bauelementtyps, beispielsweise OFETs,
und mindestens eine weitere Teilmenge an organischen Bauelementen
eines zum ersten Bauelementtyp unterschiedlichen weiteren Bauelementtyps,
beispielsweise organische Dioden, auf.
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Ein
organisches Bauelement ist insbesondere eines vom folgenden Bauelementtyp:
Feldeffekttransistor
(OFET), organische Diode, Kondensator, Widerstand, IC-Chip, vertikale
elektrisch leitende Verbindung (Via), usw., sowie zusätzlich horizontale
elektrisch leitende Verbindungen.
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Die
elektronische Schaltung kann nicht nur die mindestens zwei organischen
Bauelemente umfassen, sondern weiterhin anorganische Bauelemente
aufweisen, die keine organische Schichtlage aufweisen. Als anorganische
Bauelemente kommen beispielsweise Feldeffekttransistoren, Dioden,
Kondensatoren, Widerstände,
IC-Chips, horizontale elektrisch leitende Verbindungen, vertikale
elektrisch leitende Verbindungen (Vias), usw. in Frage.
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Die
mindestens eine Schutzschicht weist im Bereich der elektronischen
Schaltung überall
eine gleiche Zusammensetzung und/oder einen gleichen Aufbau auf.
Eine derartige Ausgestaltung ist rationell und kostengünstig herstellbar.
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Weiterhin
kann es vorteilhaft sein, wenn die mindestens eine Schutzschicht
in unterschiedlichen Bereichen der elektronischen Schaltung eine
unterschiedliche Zusammensetzung und/oder einen unterschiedlichen
Aufbau aufweist. Dadurch lässt
sich die Schutzschicht in ihrer Wirkung genau auf das zu schützende Bauelement
und dessen Anforderungen abstimmen und gleichzeitig eine rationelle
Ausbildung von möglichst
vielen gleichen Schutzschichtbereichen erreichen.
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Bauelemente
vom gleichen Bauelementtyp sind jeweils durch eine Schutzschicht
gleicher Zusammensetzung und/oder gleichen Aufbaus geschützt.
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Weiterhin
hat es sich bewährt,
wenn Bauelemente von unterschiedlichem Bauelementtyp jeweils durch
mindestens eine Schutzschicht geschützt sind, deren Zusammensetzung
und/oder Aufbau sich unterscheidet.
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So
können
Bauelemente von unterschiedlichem Bauelementtyp, wie beispielsweise
OFETs und organische Dioden, ganz unterschiedliche Anforderungen
an die benötigte
Schutzschicht stellen. So ist vorteilhafter Weise ein gezieltes
Aufbringen einer ersten Schutzschicht auf lediglich Bauelemente
eines ersten Bauelementtyps und einer zweiten, dazu unterschiedlichen
Schutzschicht auf lediglich Bauelemente eines zweiten Bauelementtyps
möglich,
usw.
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Dabei
kann die mindestens eine Schutzschicht zumindest bereichsweise einen
Aufbau aus mindestens zwei Einzelschichten aufweisen, die übereinander
gestapelt angeordnet sind. So lassen sich die Schutzwirkungen verschiedener
Schutzschichten kombinieren.
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Es
ist vorteilhafter Weise auch ohne weiteres möglich, dass unterschiedliche
Schutzschichten, d. h. mit unterschiedlicher Zusammensetzung und/oder unterschiedlichem
Aufbau, zum Schutz unterschiedlicher Bereiche innerhalb eines einzelnen
Bauelements eingesetzt werden.
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Als
Materialien zur Bildung einer Schutzschicht eignen sich dabei generell
insbesondere leitfähige
oder nicht-leitfähige
Polymere, „small
molecules”,
eine Mischung aus Molekülen
und Polymeren, konjugierte Polymere, fotosensitive Lacke, Wachse, Harze,
Polymergemische, usw. Den organischen Materialien sind dabei insbesondere
Zusatzstoffe beigefügt,
wie Weichmacher, welche für
eine ausreichend hohe Flexibilität
der Schutzschicht sorgen, oder chemisch aktive Redox-Systeme, oder
Partikel als Strahlungs-Absorber, wie beispielsweise ZnO- oder TiO2-Nanopartikel als UV-Absorber, oder Farbmittel, oder
leitfähige
Partikel wie Graphit oder Ruß,
oder nicht-leitfähige Partikel,
die beispielsweise als Reflektoren wirken, usw.
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Es
hat sich als besonders vorteilhaft erwiesen, wenn die mindestens
eine Schutzschicht eine gedruckte Schutzschicht ist. Dafür eignet
sich insbesondere eine Schutzschicht aus einem organischen Material,
insbesondere einem vernetzten organischen Material. Vorzugsweise
wird mindestens eine Lackschicht zur Bildung der mindestens einen Schutzschicht
eingesetzt.
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Zur
Bildung mindestens einer gedruckten Schutzschicht wird das Schutzschichtmaterial
vorzugsweise musterförmig
im Tiefdruck, Siebdruck, Offsetdruck, Thermotransferdruck oder Flexodruck aufgebracht.
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Alternativ
dazu kann die mindestens eine Schutzschicht erst großflächig aufgebracht
und anschließend
selektiv wieder entfernt werden.
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Eine
Schichtdicke der mindestens einen Schutzschicht liegt vorzugsweise
im Bereich von 50 nm bis 10 μm,
insbesondere im Bereich 100 nm bis 2 μm. Ist eine Schutzschicht aus
mehreren Einzelschichten aufgebaut, handelt es sich hierbei um die Gesamtschichtdicke,
d. h. die Summe der Schichtdicken aller Einzelschichten.
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Besonders
vorteilhaft ist eine Ausführungsform,
bei der die mindestens eine Schutzschicht gleichzeitig mit der unmittelbar
daran angrenzenden obersten Schichtlage, die insbesondere in Form
einer Elektrodenebene ausgeformt ist, musterförmig strukturiert wird. Dadurch
sind meist automatisch die kritischen aktiven bzw. sensiblen Bereiche
der verschiedenen Bauelemente geschützt, wie z. B. der Stromkanal-Bereich
in einem OFET mit Top-Gate-Aufbau, da hier die Strukturierung der
elektrisch leitenden obersten Schichtlage zur Bildung der Gate-Elektrode
gleichzeitig mit der Strukturierung der Schutzschicht erfolgen kann.
Auch der vertikale Stromkanal einer Diode wird so optimal geschützt, da hier
die Strukturierung der elektrisch leitenden obersten Schichtlage
zur Bildung der Anode oder Kathode der Diode gleichzeitig mit der
Strukturierung der Schutzschicht erfolgen kann.
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Generell
kann der Umriss bzw. die Form der oberste Schichtlage senkrecht
zur Trägersubstratebene
gesehen, sofern die oberste Schichtlage Elektrodenflächen und/oder
Leiterbahnen ausbildet, weitgehend unabhängig von einer weiter unten,
d. h. in Richtung des Trägersubstrats,
im Schichtstapel angeordneten elektrisch leitenden Schichtlage ausgebildet
sein, die Gegenelektroden zu den Elektroden der obersten Schichtlage
und/oder weitere Leiterbahnen ausbildet. So können auf unterschiedlichen
Ebenen im Bauelement vorliegende Elektroden und Gegenelektroden
sowohl deckungsgleich übereinander oder
lediglich in Teilbereichen überlappend
zueinander angeordnet sein.
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Insbesondere
hat es sich bewährt,
wenn die mindestens eine Schutzschicht für sichtbare Strahlung und/oder
für ultraviolette
Strahlung und/oder für IR-Strahlung
undurchlässig
oder zumindest weitgehend undurchlässig ausgebildet ist. Unter
weitgehend undurchlässig
wird eine Schutzschicht bezeichnet, die für mindestens 30%, vorzugsweise
mindestens 90%, der einfallenden Strahlung, insbesondere der das
Bauelement schädigenden
Strahlung oder Strahlungsanteile, undurchlässig ist, da diese von der
Schutzschicht reflektiert und/oder absorbiert werden. Dadurch ist
das jeweils damit geschützte
Bauelement vor optischer und/oder thermischer Belastung optimal
geschützt.
Insbesondere ist ein Schutzschichtmaterial enthaltend UV-Absorber
und/oder opake Farbmittel bevorzugt.
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Weiterhin
hat es sich bewährt,
wenn die mindestens eine Schutzschicht einen E-Modul im Bereich
von 0,5 bis 5000 N/mm2 aufweist und somit
eine ausreichend hohe Flexibilität
bzw. Biegsamkeit zum Schutz der damit bedeckten Bauelemente oder
Bauelementbereiche aufweist.
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Es
ist von Vorteil, wenn die mindestens eine Schutzschicht gegenüber mindestens
einem organischen Lösemittel
beständig
ist. Weiterhin hat es sich bewährt,
wenn die mindestens eine Schutzschicht in Wasser unlöslich ist.
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Besonders
bevorzugt ist mindestens eine Schutzschicht, die für Wasserdampf
und/oder Sauerstoff undurchlässig
ist oder zumindest als Diffusionsbarriere wirkt, die den Zutritt
von Wasserdampf und/oder Sauerstoff in Richtung der Schichtlagen
des Bauelements mit elektrischer Funktion deutlich herabsetzt. Damit
lässt sich
eine chemische Beeinflussung von organischen Schichtlagen wirkungsvoll
verhindern.
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Es
hat sich bewährt,
wenn das Trägersubstrat
durch eine flexible Folie gebildet ist. Insbesondere ist die Folie
durch mindestens eine Folienlage aus Kunststoff, Glas, Papier, Metall
oder ein Laminat aus mindestens zwei unterschiedlichen Folienlagen
aus derartigem Material gebildet. Aber auch starre Trägersubstrate,
aus beispielsweise Keramik, Glas, usw., sind verwendbar.
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Das
Trägersubstrat
weist vorzugsweise eine Dicke im Bereich von 12 μm bis 1 mm auf.
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Bandförmige flexible
Trägersubstrate
werden hierbei bevorzugt in einem kostengünstigen kontinuierlichen Verfahren
von Rolle zu Rolle verarbeitet.
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Die 1a bis 5 sollen
die Erfindung beispielhaft erläutern.
So zeigen
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1a bis 1d die
Herstellung einer ersten elektronischen Schaltung im Querschnitt;
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2 eine
zweite elektronische Schaltung im Querschnitt;
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3 eine
dritte elektronische Schaltung im Querschnitt;
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4 eine
vierte elektronische Schaltung im Querschnitt;
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5 eine
fünfte
elektronische Schaltung im Querschnitt;
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Für gleiche
Schichtlagen oder Bauelemente werden nachfolgend durchgehend gleiche
Bezugszeichen verwendet. Die erfindungsgemäßen Schaltungen und vorhandenen
Bauelemente werden lediglich im Querschnitt dargestellt, so dass
eine vorhandene Verschaltung der Bauelemente mittels Leiterbahnen
zu der elektronischen Schaltung nicht im Detail gezeigt ist.
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1a bis 1d zeigen
die Herstellung einer elektronischen Schaltung 1 im Querschnitt.
Auf einem Trägersubstrat 2 aus
Polyesterfolie mit einer Dicke von 36 μm oder alternativ von 50 μm werden zwei
miteinander verschaltete organische Bauelemente I, II (siehe 1d)
gebildet, wobei das Bauelement I ein erster OFET und das
Bauelement II ein identischer zweiter OFET ist.
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Dazu
wird gemäß 1a auf
dem Trägersubstrat 2 musterförmig eine
elektrisch leitende erste Schichtlage 3a ausgebildet, welche
aus einem elektrisch leitfähigen
Polymer oder aus Metall gebildet wird. Die erste Schichtlage 3a weist
eine Schichtdicke im Bereich von 20 nm bis 50 nm auf und ist hier insbesondere
aus Polyanilin, PEDOT/PSS, Gold, Aluminium, Kupfer oder Silber gebildet.
Die erste Schichtlage 3a bildet die Source- und Drain-Elektroden
der beiden Bauelemente I, II bzw. der OFETs aus.
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Auf
die musterförmige
erste Schichtlage 3a wird anschließend vollflächig eine zweite Schichtlage 3b aus
einem organischen Halbleitermaterial, hier aus Zinkoxid oder Polyalkylthiophen,
in einer Schichtdicke im Bereich von 20 nm bis 80 nm aufgebracht.
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Gemäß 1b wird
auf die zweite Schichtlage 3b eine dritte Schichtlage 3c aus
einem elektrisch isolierenden Material, hier aus Polymethylmethacrylat,
PHS oder Polyhydroxystyrol, in einer Schichtdicke im Bereich von
400 nm bis 600 nm vollflächig
aufgebracht.
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Gemäß 1c wird
nun auf der dritten Schichtlage 3c eine vierte Schichtlage 3d,
welche hier in Folge eine oberste Schichtlage 3d' (siehe 1d)
der elektrischen Schaltung 1 bildet, aus einem elektrisch
leitfähigen
Material, insbesondere einem elektrisch leitfähigen Polymer oder aus Metall, vollflächig ausgebildet.
Die vierte Schichtlage 3d weist eine Schichtdicke von 50
nm oder alternativ 100 nm auf und ist hier insbesondere aus Polyanilin, PEDOT/PSS,
Gold, Aluminium, Kupfer, Silber oder Titan gebildet.
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Nun
wird auf die vierte Schichtlage 3d eine Schutzschicht 4a musterförmig aufgebracht.
Die Schutzschicht 4a wird hier mittels eines Lacks gebildet,
welcher mindestens einen der folgenden Bestandteile in einem organischen
Lösungsmittel,
insbesondere einem Alkohol, gelöst
aufweist:
- a) Ruß/Graphit-gefüllte Polymerlösung(en)
der Fa. Acheson oder
- b) Drucklack enthaltend Ruß und/oder
Graphit auf Basis von Polyvinylbutyral und Nitrocellulose
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Die
nach einem Aushärten
des Lacks vorliegende Schutzschicht 4a ist derart ausgebildet,
dass diese gegen ein Löse-
oder Ätzmittel,
mit welchen sich die vierte Schichtlage 3d entfernen lässt, resistent
ist.
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Nun
werden die nicht von der Schutzschicht 4a bedeckten Bereiche
der vierten Schichtlage 3d entfernt. Die Schutzschicht 4a ist
nun deckungsgleich zu einer musterförmig aus der vierten Schichtlage 3d gebildeten
obersten Schichtlage 3d' ausgebildet.
Die oberste Schichtlage 3d' bildet
die Top-Gate-Elektrode
der OFETS und nicht im Detail dargestellt Leiterbahnen zu deren
Verschaltung. Die sensiblen Bereiche der beiden Bauelemente I, II bzw. der
beiden OFETs sowie die von der obersten Schichtlage 3d' gebildeten
Leiterbahnen der elektronischen Schaltung 1 sind durch
die Schutzschicht 4a gegen schädliche Umwelteinflüsse, insbesondere gegen
mechanische Beschädigung,
optimal geschützt.
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2 zeigt
im Querschnitt eine zweite elektronische Schaltung 10,
bei welcher ebenfalls zwei miteinander verschaltete Bauelemente I, II,
in Form von OFETs vorhanden sind. Im Unterschied zu der elektronischen
Schaltung 1 gemäß 1d sind
hier die zweite Schichtlage 3b und die dritte Schichtlage 3c musterförmig ausgebildet.
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3 zeigt
im Querschnitt eine dritte elektronische Schaltung 100,
bei welcher zwei unterschiedliche Bauelemente I, III vorhanden
sind. Das Bauelement I, ein OFET, ist gemäß 1d mit
der Schutzschicht 4a geschützt. Das Bauelement III ist
ein Kondensator, der mit einer weiteren Schutzschicht 4b geschützt ist.
Im Bereich des Bauelements III ist auf dem Trägersubstrat 2 in
dieser Reihenfolge eine erste Kondensatorplatte, gebildet durch
die Schichtlage 3a, eine organische Halbleiterschicht gebildet
aus der zweiten Schichtlage 3b, eine elektrisch isolierende
Schicht gebildet durch die dritte Schichtlage 3c, eine
zweite Kondensatorplatte gebildet aus der obersten Schichtlage 3d' sowie die weitere
Schutzschicht 4b vorhanden.
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Dabei
sind die Schutzschichten 4a, 4b in ihrer Zusammensetzung
unterschiedlich und unmittelbar an das zu schützende Bauelement angepasst ausgebildet.
Die Schutzschicht 4a ist, wie oben zu 1c beschrieben,
aus einer mit Ruß pigmentierten
Lackschicht gebildet. Die weitere Schutzschicht 4b ist
durch einen Thermotransferlack auf Wachsbasis gebildet.
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4 zeigt
im Querschnitt eine vierte elektronische Schaltung 101,
bei welcher auf einem gemeinsamen Trägersubstrat 2 die
Bauelemente I, II, in Form von OFETs gemäß 1d,
ein Bauelement III' in
Form eines Kondensators ähnlich 3,
ein Bauelement IV in Form einer organischen Diode und ein Bauelement V in
Form einer vertikalen elektrisch leitenden Verbindung bzw. einer
Durchkontaktierung durch die zweite und dritte Schichtlage 3b, 3c,
ein so genanntes „Via”, angeordnet
sind.
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Im
Bereich des Bauelements IV sind auf dem Trägersubstrat 2 eine
erste Elektrode der organischen Diode aus der ersten Schichtlage 3a,
eine organische Halbleiterschicht aus der zweiten Schichtlage 3b,
eine zweite Elektrode der organischen Diode aus der obersten Schichtlage 3d' sowie die Schutzschicht 4a angeordnet.
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Im
Bereich V befindet sich auf dem Trägersubstrat 2 eine
Leiterbahn aus der ersten Schichtlage 3a, welche über eine Öffnung in
der zweiten und der dritten Schichtlage 3b, 3c mit
der musterförmigen obersten
Schichtlage 3d' elektrisch
leitend verbunden ist. Die Anordnung der elektrisch leitenden Schichtenlagen 3a, 3b bildet
das Via, welches ebenfalls durch die Schutzschicht 4a bedeckt
ist.
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Im
Bereich des Bauelements V wird eine elektrisch leitende
Verbindung zwischen der ersten Schichtlage 3a und der musterförmigen obersten Schichtlage 3d' ausgebildet,
wobei Leiterbahnen zur elektrischen Verschaltung zumindest eines
Teils der Bauelemente I, II, III, IV, V bereitgestellt
werden.
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So
befindet sich auf den Bauelementen I bis V, die
in Form von zwei OFETs, einem Kondensator, einer organischen Diode
und einem Via vorliegen, sowie den Leiterbahnen zu deren elektrischer
Verschaltung, die durch die oberste Schichtlage 3d' gebildet sind,
eine Schutzschicht 4a, welche die oberste Schichtlage 3d genau
bedeckt und die Bauelemente I bis V vor Umwelteinflüssen schützt.
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5 zeigt
eine fünfte
elektronische Schaltung 102 gemäß der Erfindung im Querschnitt.
Auf dem gemeinsamen Trägersubstrat 2 befinden
sich hierbei im Wesentlichen die gleichen Bauelemente wie in 4 gezeigt.
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Im
Unterschied zu 4 sind hierbei jedoch nur die
Bauelemente I und II bzw. die OFETs mit einer ersten
Schutzschicht 4a gemäß 1d bedeckt.
Das Bauelement III in Form des Kondensators ist mit einer
zweiten Schutzschicht 4b gemäß 3 bedeckt. Das
Bauteil IV in Form der organischen Diode ist mit einer
dritten Schutzschicht bedeckt, die aus zwei Einzelschutzschichten 4c und 4a (gemäß 1d)
zusammengesetzt ist. Das Bauteil V in Form des Via ist mit
einer vierten Schutzschicht 4d versehen. Dabei unterscheiden
sich die Schutzschichten 4a; 4b; 4c, 4a; 4d in
Zusammensetzung und Aufbau.
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Die
Bildung einer Vielzahl weiterer elektronischer Schaltungen mit organischen
Bauelementen, ggf. weiterhin mit anorganischen Bauelementen, ist für den Fachmann
in einfacher Weise möglich.