DE102007018342A1 - Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren - Google Patents

Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren Download PDF

Info

Publication number
DE102007018342A1
DE102007018342A1 DE102007018342A DE102007018342A DE102007018342A1 DE 102007018342 A1 DE102007018342 A1 DE 102007018342A1 DE 102007018342 A DE102007018342 A DE 102007018342A DE 102007018342 A DE102007018342 A DE 102007018342A DE 102007018342 A1 DE102007018342 A1 DE 102007018342A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
address
memory
memory input
bits
logical operation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102007018342A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Fujiwara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of DE102007018342A1 publication Critical patent/DE102007018342A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C29/56004Pattern generation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
    • G11C2029/1806Address conversion or mapping, i.e. logical to physical address

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

Eine Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung erfasst wirksam auf die physikalische Anordnung von Speicherzellen bezogene Fehler. Die Prüfvorrichtung, die den geprüften Speicher prüft, enthält eine Adressenerzeugungsschaltung, die eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernde physikalische Adresse erzeugt, mehrere Maskenregister (410), die entsprechend jedem von mehreren Eingangsbits, die eine zu dem geprüften Speicher zu liefernde Eingangsadresse bilden, vorgesehen sind, zum Einstellen, ob mehrere physikalische Bits, die die physikalische Adresse bilden, für jedes der physikalischen Bits maskiert sind, mehrere arithmetische Maskierschaltungen (420), die entsprechend jedem Eingangsbit vorgesehen sind, zum jeweiligen Maskieren der physikalischen Adresse in Übereinstimmung mit einem Wert des Maskenregisters entsprechend diesem Eingangsbit, mehrere logische Operationsschaltungen (440), die entsprechend jedem Eingangsbit vorgesehen sind, zum jeweiligen Ausgeben von Bitdaten, die erhalten wurden durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskierergebnis von der arithmetischen Maskierschaltung als das Eingangsbit, und eine Adressenzuführungsschaltung, die die Eingangsadresse enthaltend die mehreren Eingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, zu dem geprüften Speicher liefert.

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Prüfvorrichtung, ein Programm und ein Prüfverfahren. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf eine Prüfvorrichtung, ein Programm und ein Prüfverfahren zum Steuern einer zu einem geprüften Speicher zu liefernden Adresse.
  • Bei der gegenwärtigen Speichervorrichtung sind eine Speichereingangsadresse, die zum Bezeichnen einer Speicherzelle von außerhalb eingegeben wird, und eine physikalische Adresse, die die Anordnung von Speicherzellen innerhalb der Speichervorrichtung zeigt, verschieden voneinander. Das heißt, die Speichervorrichtung übersetzt eine Speichereingangsadresse, die von außerhalb bezeichnet wird, in einer Datenleseanforderung und gibt dann den Inhalt einer durch die physikalische Adresse bezeichneten Speicherzelle aus. Auf diese Weise ist es möglich, obgleich ein kontinu ierlicher Speicherbereich von außerhalb bezeichnet ist, eine Zugriffsgeschwindigkeit durch abwechselndes Zugreifen zu mehreren Speicherbänken zu verbessern und zu einer vorläufigen Speicherzelle anstelle einer Speicherzelle, die sich nach der Herstellung als fehlerhaft erwiesen hat, zuzugreifen.
  • Eine physikalische Position jeder Speicherzelle kann sich auf Fehler der Speichervorrichtung beziehen. Wenn beispielsweise eine Speichervorrichtung einen Verdrahtungsfehler hat, können in eine bestimmte Speicherzelle geschriebene Daten in eine andere Speicherzelle benachbart der Speicherzelle geschrieben werden. Um einen derartigen Fehler zu erfassen, ist es erforderlich, dass eine Prüfvorrichtung Daten in eine bestimmte Speicherzelle schreibt und Daten aus einer anderen Speicherzelle benachbart der Speicherzelle liest. Aus diesem Grund ist es wünschenswert, dass die Prüfvorrichtung zu jeder Speicherzelle mittels einer physikalischen Adresse zugreifen kann.
  • Um dies zu realisieren, hat eine herkömmliche Prüfvorrichtung einen Übersetzungsspeicher, der eine Übersetzungstabelle zum Übersetzen einer physikalischen Adresse in eine Speichereingangsadresse speichert. Dieser Übersetzungsspeicher speichert eine Speichereingangsadresse an einer durch eine physikalische Adresse bezeichneten Adresse. Eine herkömmliche Prüfvorrichtung übersetzt eine erzeugte physikalische Adresse in eine Speichereingangsadresse mittels dieses Übersetzungsspeichers und liefert die übersetzte Adresse zu einer geprüften Vorrichtung. Wenn jedoch die Busbreite einer Adresse einer Speichervorrichtung mit hohem Leistungsvermögen der Speichervorrichtung zunimmt, vergrößert sich die erforderliche Kapazität des Übersetzungsspeichers und so mit steigen die Wartungs- und Verwaltungskosten für die Prüfvorrichtung.
  • Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Prüfvorrichtung, ein Programm und ein Prüfverfahren vorzusehen, die die vorgenannten Probleme lösen können. Die vorstehenden und andere Aufgaben können gelöst werden durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebene Kombinationen. Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.
  • Um dieses Problem zu lösen, ist gemäß dem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung eine Prüfvorrichtung vorgesehen, die einen geprüften Speicher prüft. Die Prüfvorrichtung enthält: Eine Adressenerzeugungsschaltung, die eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernde physikalische Adresse erzeugt; mehrere Maskenregister, die entsprechend jedem von mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil einer zu dem geprüften Speicher zu liefernden Speichereingangsadresse bilden, vorgesehen sind, wobei die mehreren Maskenregister einstellen, ob mehrere physikalische Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, für jedes physikalische Bit maskiert sind; mehrere arithmetische Maskenschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen jeweils in Übereinstimmung mit einem Wert des Maskenregisters entsprechend diesem Speichereingangsbit maskieren; mehrere logische Operationsschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehrere logischen Operationsschaltungen jeweils Bitdaten ausgeben, die erhalten wurden durch Durchführung einer vorbestimmten logi schen Operation bei einem Maskierergebnis durch die arithmetische Maskenschaltung als das Speichereingangsbit; und eine Adressenzuführungsschaltung, die die Speichereingangsadresse enthaltend die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegebenen mehreren Speichereingangsbits zu dem geprüften Speicher liefert.
  • Darüber hinaus kann jeder der logischen Operationsschaltungen eine Exklusiv-Oder-Verknüpfung der maskierten mehreren physikalischen Bits, die von den mehreren arithmetischen Maskierschaltungen ausgegeben wurden, berechnen und die Bitdaten auf der Grundlage der berechneten Exklusiv-Oder-Verknüpfung als das Speichereingangsbit ausgeben. Weiterhin kann die Prüfvorrichtung ein Umkehrungssteuerregister enthalten, das entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen ist, wobei das Umkehrsteuerregister einstellt, ob ein logischer Wert des von der logischen Operationsschaltung berechnet Exklusiv-Oder-Verknüpfung umgekehrt und als das Speichereingangsbit ausgegeben wird. Weiterhin kann die Prüfvorrichtung enthalten: Einen Übersetzungsspeicher, der eine übersetzte Adresse, die aus Bits von zumindest einem Teil der physikalischen Adresse besteht, aufnimmt und mit dieser übersetzten Adresse assoziierte Daten als eine Bestimmungsadresse ausgibt; und eine Auswahlschaltung, die auswählt, welche von einer Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon und einer Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltung ausgegeben wurde, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, und die Adressenzuführungsschaltung kann die von der Auswahlschaltung ausgegebene Speichereingangsadresse zu den geprüften Speicher liefern.
  • Darüber hinaus kann die Prüfvorrichtung weiterhin enthalten: Eine Erwerbsschaltung, die eine Entsprechung zwischen der physikalischen Adresse und der Speichereingangsadresse erwirbt; eine Entscheidungsschaltung, die entscheidet, ob eine durch die von der Erwerbsschaltung erworbene Entsprechung bezeichnete Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels einer logischen Operation durch die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen und die mehreren logischen Operationsschaltungen durchgeführt zu werden; eine Einstellschaltung, die die mehreren Maskenregister einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und den Inhalt des Übersetzungsspeichers einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden; und eine Steuerschaltung, die die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden.
  • Gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist für eine Steuervorrichtung zum Steuern einer Prüfvorrichtung, die einen geprüften Speicher prüft, vorgesehen. Die Prüfvorrichtung enthält: Eine Adressenerzeugungsschaltung, die eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernde physikalische Adresse erzeugte; mehrere Maskenregister, die entsprechend jedem von mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil einer zu dem geprüften Speicher zu liefernden Speichereingangsadresse bilden, vorgesehen sind, wobei mehreren Maskenregister einstellen, ob mehrere physikalische Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, für jedes der physikalischen Bits maskiert sind; mehrere arithmetische Maskenschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen jeweils die physikalische Adresse in Übereinstimmung mit einem Wert des Maskenregisters entsprechende diesem Speichereingangsbit maskieren; mehrere logische Operationsschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren logischen Operationsschaltungen jeweils Bitdaten ausgeben, die erhalten wurden durch Durchführung einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskenergebnis durch die arithmetische Maskenschaltung, als das Speichereingangsbit; einen Übersetzungsspeicher, der eine übersetzte Adresse, die aus Bits von zumindest einem Teil der physikalischen Adresse bestehen, aufnimmt und mit dieser übersetzten Adresse assoziierte Daten als eine Bestimmungsadresse ausgibt; eine Auswahlschaltung, die auswählt, welche von einer Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon und eine Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird; und eine Adressenzuführungsschaltung, die die von der Auswahl schaltung ausgegebene Speichereingangsadresse zu dem geprüften Speicher liefert, und das Programm bewirkt, dass die Steuervorrichtung wirksam ist als: Eine Erwerbsschaltung, die eine Entsprechung zwischen der physikalischen Adresse und der Speichereingangsadresse erwirbt; eine Bestimmungsschaltung, die bestimmt, ob die durch die von der Erwerbsschaltung erworbene Entsprechung in der Lage ist, mittels einer logischen Operation durch die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen und die mehreren logischen Operationsschaltungen durchgeführt zu werden; eine Einstellschaltung, die die mehreren Maskenregister einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und den Inhalt des Übersetzungsspeichers einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden; und eine Steuerschaltung, die die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden.
  • Gemäß dem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Prüfverfahren zum Prüfen eines geprüften Speichers mittels einer Prüfvorrichtung vorgesehen.
  • Das Prüfverfahren enthält: Erzeugen einer zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernden physikalischen Adresse; Maskieren entsprechend jedem von mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil einer zu dem geprüften Speicher zu liefernden Speichereingangsadresse bilden, von jedem von mehreren physikalischen Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, in Übereinstimmung mit einem Wert des Maskenregisters entsprechend diesem Speichereingangsbit; jeweiliges Ausgeben von Bitdaten, die durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskierergebnis durch die Maskierung als das Speichereingangsbit erhalten wurden, entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits; und Liefern der Speichereingangsadresse enthaltend die mehreren bei dem Ausgeben ausgegebenen Speichereingangsbits zu dem geprüften Speicher.
  • Die Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendiger Weise alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen Merkmale sein.
  • Durch die vorliegende Erfindung ist es möglich, auf die physikalische Anordnung von Speicherzellen in einer Speichervorrichtung bezogene Fehler wirksamer als vorher zu erfassen.
  • Die Erfindung wird im Folgenden anhand von in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 die Gesamtkonfiguration einer Prüfvorrichtung 10,
  • 2 eine funktionelle Konfiguration eines Mustergenerators 120,
  • 3 eine funktionelle Konfiguration eines Adressenübersetzungsmoduls 220,
  • 4 eine funktionelle Konfiguration eines Operationsmoduls 310,
  • 5 ein spezifisches Beispiel für die Übersetzung einer physikalischen Adresse in eine Speichereingangsadresse mittels eines Adressenübersetzungsmoduls 220,
  • 6 eine funktionelle Konfiguration einer Steuervorrichtung 150,
  • 7 ein Flussdiagramm eines Vorgangs zum Einstellen einer Adressenübersetzungsregel von einer physikalischen Adresse in eine Speichereingangsadresse, und
  • 8 ein Flussdiagramm eines Vorgangs zum Prüfen eines geprüften Speichers 100.
  • 1 zeigt die Gesamtkonfiguration einer Prüfvorrichtung 10. Die Prüfvorrichtung 10 enthält einen Taktgenerator 110, einen Mustergenerator 120, eine Wellenform-Formungsvorrichtung 130. einen logischen Komparator 140 und eine Steuervorrichtung 150 und prüft einen geprüften Speicher 100, der eine Halbleiterspeichervorrichtung oder dergleichen ist. Der Taktgenerator 110 erzeugt einen Bezugstakt wie einen Zyklustakt, um den Bezugstakt zu dem Mustergenerator 120 zu liefern. Der Mustergenerator 120 erzeugt Prüf musterdaten, die in den geprüften Speicher 100 einzugeben sind, eine Speichereingangsadresse, die in den geprüften Speicher 100 einzugeben ist, und einen Steuerbefehl, der in den geprüften Speicher 100 einzugeben ist, auf der Grundlage des Zyklustakts. Dann gibt der Mustergenerator 120 diese Daten, eine Speichereingangsadresse und einen Steuerbefehl zu der Wellenform-Formungsvorrichtung 130 aus. Darüber hinaus gibt der Mustergenerator 120 Prüfmusterdaten zu dem logischen Komparator 140 als Erwartungsdaten aus.
  • Die Wellenform-Formungsvorrichtung 130 formt das Eingangsprüfmuster, die Speichereingangsadresse und den Steuerbefehl in eine Signalwellenform, die in der Lage ist, in den geprüften Speicher 100 eingegeben zu werden, und liefert die Signalwellenform zu den geprüften Speicher 100. Der logische Komparator 140 liest in dem geprüften Speicher 100 gespeicherte Daten und vergleicht die gelesenen Daten mit den von dem Mustergenerator 120 eingegebenen Erwartungsdaten. Wenn die gelesenen Daten gleich den Erwartungsdaten sind, gibt der logische Komparator 140 ein Prüfergebnis aus, das zeigt, dass der geprüfte Speicher 100 eine fehlerfreie Einheit ist. Die Steuervorrichtung 150 führt verschiedene Typen von Einstellungen bei dem Mustergenerator 120 durch. Insbesondere führt die Steuervorrichtung 150 eine Einstellung zum Übersetzen einer physikalischen Adresse, die die physikalische Anordnung von in dem geprüften Speicher 100 enthaltenen Speicherzellen zeigt, in eine Speichereingangsadresse, die von außerhalb des geprüften Speichers 100 eingegeben werden sollte, um zu dem geprüften Speicher 100 zuzugreifen, durch.
  • 2 zeigt eine funktionelle Konfiguration des Mustergenerators 120. Der Mustergenerator 120 hat einen Befehlsspeicher 200, eine Folgesteuerschaltung 210, ein Adressenübersetzungsmodul 220, ein Steuersignal-Erzeugungsmodul 230 und ein Datenerzeugungsmodul 240. Der Befehlsspeicher 200 speichert ein Programm auf der Grundlage eines Algorithmus zum Steuern einer Prüfung. Dieses Programm enthält Informationen zum Erzeugen von Prüfdaten, physikalischen Adressen und in jedem Prozessschritt für eine Prüfung zu dem geprüften Speicher 100 zu liefernde Steuerbefehle zusätzlich zu befehlen, die von der Folgesteuerschaltung 210 ausgeführt werden, um einen Steuerfluss zu ändern.
  • Die Folgesteuerschaltung 210 spielt eine Rolle als eine Adressenerzeugungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung. Insbesondere führt die Folgesteuerschaltung 210 die indem in dem Befehlsspeicher 200 gespeicherten Programm enthaltenen Befehle zum Erzeugen von Prüfdaten, physikalischen Adressen und Steuerbefehlen aus. Hier ist eine physikalische Adresse keine Adresse, die von außerhalb des geprüften Speichers 100 zugeführt werden sollte, sondern sie ist eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers 100 zu liefernde physikalische Adresse. Das heißt, eine physikalische Adresse zeigt die Anordnung von Speicherzellen innerhalb eines Speicherblocks. Ein Ausführungsergebnis jedes Befehls wird in den Befehlsspeicher 200 eingegeben, und dann wird ein als nächster auszuführender Befehl aus dem Befehlsspeicher 200 gelesen und in die Folgesteuerschaltung 210 eingegeben.
  • Das Adressenübersetzungsmodul 220 übersetzt die von dem Befehlsspeicher 200 ausgegebene physikalische Adresse in eine Speichereingangsadresse gemäß einem von der Folgesteuerschaltung 210 durchgeführten Prozess und gibt die Speichereingangsadresse zu der Wellenform-Formungsschaltung 130 und dem logischen Komparator 140 aus. Das Adressenübersetzungsmodul 220 kann eine Einstellung für eine Übersetzungsregel einer Adresse von der Steuervorrichtung 150 empfangen. Das Steuersignal-Erzeugungsmodul 230 gibt einen von dem Befehlsspeicher 200 ausgegebenen Steuerbefehl gemäß einem durch die Folgesteuerschaltung 210 durchgeführten Prozess zu der Wellenform-Formungsvorrichtung 130 aus. Das Datenerzeugungsmodul 240 gibt von dem Befehlsspeicher 200 ausgegebene Prüfdaten zu der Wellenform-Formungsvorrichtung 130 und dem logischen Komparator 140 gemäß einem von der Folgesteuerschaltung 210 durchgeführten Prozess aus.
  • 3 zeigt eine funktionelle Konfiguration des Adressenübersetzungsmoduls 220. Das Adressenübersetzungsmodul 220 hat eine Auswahlschaltung 300, zwei Operationsmodule 310, zwei Übersetzungsspeicher 320, eine Auswahlschaltung 340, eine Auswahlschaltung 350 und eine Adressenzuführungsschaltung 360. Das Adressenübersetzungsmodul 220 empfängt die physikalische Adresse von dem Befehlsspeicher 200. Es wird angenommen, dass eine Adressenbreite dieser physikalischen Adresse 48 Bits beträgt. Die Auswahlschaltung 300 wählt 16 Bits aus mehreren physikalischen Bits, die die physikalische Adresse bilden, aus und gibt die ausgewählten Bits zu einem der Übersetzungsspeicher 320 aus. Darüber hinaus wählt der Auswahlabschnitt 300 andere 16 Bits aus den mehreren physikalischen Bits, die die physikalische Adresse bilden, aus und gibt die ausgewählten anderen Bits zu dem anderen der Übersetzungsspeicher 320 aus. Die Auswahlschaltung 300 kann auswählen, welche Gruppe der physikalischen Bits zu einem der Übersetzungsspeicher 320 ausgegeben wird, auf der Grundlage der von der Steuervorrichtung 150 empfangenen Einstellung.
  • Jeder der Übersetzungsspeicher 320 nimmt eine übersetzte Adresse, die aus Bits von zumindest einem Teil der physikalischen Adresse besteht, auf und gibt mit der übersetzten Adresse assoziierte Daten als eine Bestimmungsadresse aus. Beispielsweise übersetzt jeder der Übersetzungsspeicher 320 16 Bits aus den die physikalische Adresse bildenden physikalischen Bits in 16 Bits aus den die Speichereingangsadresse bildenden Speichereingangsbits und gibt die übersetzten Bits zu der Auswahlschaltung 340 aus. Die verbleibenden physikalischen Bits, die von den zwei Übersetzungsspeichern 320 nicht umgewandelt wurden, werden ohne Modifikation als das Speichereingangsbit zu der Auswahlschaltung 340 ausgegeben. Die Auswahlschaltung 340 ordnet die Speichereingangsbits neu anhand der von jedem der Übersetzungsspeicher 320 ausgegebenen 16 Bits und der von der Auswahlschaltung 300 ausgegebenen verbliebenen physikalischen Bits und gibt die neu angeordneten Bits zu der Auswahlschaltung 350 aus. Das heißt, eine zu der Auswahlschaltung 350 ausgegebene Adresse enthält eine durch den Übersetzungsspeicher 320 in zumindest einem Teil hiervon übersetzte Bestimmungsadresse.
  • Jedes der Operationsmodule 310 empfängt 24 Bits aus die physikalische Adresse bildenden physikalischen Bits. Jedes der Operationsmodule 310 erzeugt Bitdaten, die durch Durchführen einer logischen Operation bei 24 physikalischen Bits erhalten wurden, als 24 Bit-Speichereingangsbits, die die Speichereingangsdaten bilden, und gibt die Bitdaten zu der Auswahlschaltung 350 aus. Die Auswahlschaltung 350 wählt aus, ob die von der Auswahlschaltung 340 ausgegebene Speichereingangsadresse oder die die mehreren Spei chereingangsbits enthaltende Adresse, die von den mehreren Operationsmodulen 310 ausgegeben wurde, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird. Diese Auswahl kann durchgeführt werden auf der Grundlage der Einstellung durch die Steuervorrichtung 150. die Adressenzuführungsschaltung 360 liefert die von der Auswahlschaltung 350 ausgegebene Speichereingangsadresse über die Wellenform-Formungsvorrichtung 130 zu dem geprüften Speicher 100.
  • Wie vorstehend beschrieben ist, ist gemäß einer in 3 gezeigten Konfiguration ein Übersetzungsspeicher für die Adressenübersetzung nicht erforderlich und somit kann Zunahme der Größe der Prüfvorrichtung 10 selbst dann verhindert werden, wenn eine Speichervorrichtung ein hohes Leistungsvermögen hat. Weiterhin kann die Prüfvorrichtung 10 eine Austauschbarkeit mit einer herkömmlichen Prüfvorrichtung aufrechterhalten durch Verwendung eines Übersetzungsspeichers zusammen mit einer engen Adressenbusbreite. Beispielsweise kann, obgleich ein Benutzer eine herkömmliche Software zum Erzeugen von Daten des Übersetzungsspeichers hat, die Prüfvorrichtung 10 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ohne Modifikation verwendet werden.
  • 4 zeigt eine funktionelle Konfiguration des Operationsmoduls 310. In 4 ist eines der beiden Operationsmodule 310 als repräsentativ beschrieben. Da das andere Operationsmodul 310 im wesentlichen dieselbe Konfiguration wie die dieses Operationsmoduls 310 hat, wird deren Beschreibung weggelassen. Das Operationsmodul 310 hat mehrere arithmetische Bitschaltungen 400 und mehrere Register 410. Jede der mehreren arithmetischen Bitschaltungen 400 ist entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil der Speichereingangsadresse bilden, vorgesehen, um zu dem geprüften Speicher 100 geliefert zu werden. Jede der mehreren arithmetischen Bitschaltungen 400 in einem Beispiel nach 4 ist entsprechend allen Speichereingangsbits, die die Speichereingangsadresse bilden, vorgesehen. Darüber hinaus ist jedes der mehreren Register 410 entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen.
  • Jedes der Register 410 wirkt als jeweils ein Maskenregister und ein Umkehrsteuerregister gemäß der vorliegenden Erfindung. Das Register 410 speichert 25 Bit-Maskendaten in einem Beispiel nach 4. In dem Fall einer logischen Operation zu Erzeugen einer Speichereingangsadresse aus einer physikalischen Adresse mittels Maskendaten von 24 Bits niedrigerer Ordnung stellt das Register 410 ein, ob mehrere physikalische Bits, die zumindest einen Teil einer physikalischen Adresse bilden, für jedes physikalische Bit maskiert sind. Darüber hinaus stellt das Register 410 ein, ob ein logischer Wert einer Exklusiv-ODER-Verknüpfung, der durch die logische Operationsschaltung 440 berechnet ist, umgekehrt ist mittels Ein-Bit-Maskendaten höherer Ordnung, um als ein Speichereingangsbit ausgegeben zu werden.
  • Jede der arithmetischen Bit-Schaltungen 400 hat eine arithmetische Maskenschaltung 420 und eine logische Operationsschaltung 440. Jede der arithmetischen Maskenschaltungen 420 nimmt eine physikalische Adresse auf. Dann maskiert die arithmetische Maskenschaltung 420 entsprechend jedem Speichereingangsbit die physikalische Adresse in Übereinstimmung mit einem Wert des Registers 410 entsprechend diesem Speichereingangsbit. Als ein spezifisches Beispiel für eine Kon figuration hat die arithmetische Maskenschaltung 420 ein UND-Glied 430 entsprechend jedem physikalischen Bit. Das UND-Glied 430 erhält ein logisches Produkt des entsprechenden physikalischen Bits und des entsprechenden Bits in den Maskendaten, die in dem Register 410 gespeichert sind, um das logische Produkt zu der logischen Operationsschaltung 440 auszugeben.
  • Die logische Operationsschaltung 440 entsprechend jedem Speichereingangsbit gibt Bitdaten aus, die erhalten wurden durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskierergebnis durch die arithmetische Maskierschaltung 420, als dieses Speichereingangsbit. Insbesondere hat die logische Operationsschaltung 440 ein Exklusiv-ODER-Glied 450, das eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung der maskierten mehreren physikalischen Bits, die von der entsprechenden arithmetischen Maskierschaltung 420 ausgegeben wurden, berechnet. Dann gibt die logische Operationsschaltung 440 Bitdaten auf der Grundlage der berechneten Exklusiv-ODER-Verknüpfung als das Speichereingangsbit aus. Die logische Operationsschaltung 440 kann weiterhin ein Exklusiv-ODER-Glied 460 haben, das einen logischen Wert der berechneten Exklusiv-ODER-Verknüpfung umkehrt auf der Grundlage der Einbit-Maskendaten höherer Ordnung des Registers 410 und den umgekehrten Wert als das Speichereingangsbit ausgibt. Auf diese Weise wird die Speichereingangsadresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen 440 ausgegeben wurden, über die Auswahlschaltung 350 zu der Adressenzuführungsschaltung 360 ausgegeben und wird von der Adressenzuführungsschaltung 360 zu dem geprüften Speicher 100 geliefert.
  • 5 zeigt ein spezifisches Beispiel für die Über setzung einer physikalischen Adresse in eine Speichereingangsadresse mittels des Adressenübersetzungsmoduls 220. In der vorliegenden Zeichnung zeigt die linke Seite eine Übersetzung durch die Prüfvorrichtung 10 und die rechte Seite zeigt eine Übersetzung durch den geprüften Speicher 100. Gemäß der rechten Seite übersetzt der geprüfte Speicher 100 Speichereingangsbits B1' und B0', die die Speichereingangsadresse bilden, in physikalische Bits B1 und B0. Dieses Übersetzung des Bits B1' erzeugt eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung des Bits B1' und des Bits B0' als das Bit B0 ohne Übersetzung des Bits B1' in B1 wie es ist. Daher ist es erforderlich, beispielsweise die 0te, 1te, 3te und 2te Adresse in dieser Reihenfolge als die Speichereingangsadresse zu spezifizieren, um kontinuierlich zu physikalischen Adressen der 0ten bis 3ten Adresse zuzugreifen.
  • Um zweckmäßig zu jeder Speicherzelle entlang der erzeugten physikalischen Adresse zuzugreifen, übersetzt die Prüfvorrichtung 10 die physikalische Adresse in eine Speichereingangsadresse und liefert die übersetzte Adresse zu dem geprüften Speicher 100. Auf der linken Seite der vorliegenden Zeichnung erzeugt die Prüfvorrichtung 10 physikalische Adressen von der 0ten bis 3ten Adresse in dieser Reihenfolge. Das Adressenübersetzungsmodul 220 übersetzt physikalische Bits A1 und A0, die die physikalische Adresse bilden, in Speichereingangsbits A1' und A0', die die Speichereingangsadresse bilden. Gemäß dieser Übersetzung wird das Bit A1 das Bit A1' wie es ist, und eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung des Bits A1 und des Bits A0 wird das Bit A0'. Indem eine derartige Übersetzung durchgeführt wird, ist es möglich, auf Speicherzellen in den geprüften Speicher 100 entlang der erzeugten physikalischen Adresse zuzugreifen.
  • 6 zeigt eine funktionelle Konfiguration der Steuervorrichtung 150. Die Steuervorrichtung 150 hat eine Erwerbsschaltung 600, eine Entscheidungsschaltung 610, eine Einstellschaltung 620 und eine Steuerschaltung 630. Die Erwerbsschaltung 600 erwirbt entsprechende Informationen, die eine Entsprechung zwischen einer physikalischen Adresse und einer Speichereingangsadresse zeigen. Beispielsweise können entsprechende Informationen tabellenförmige Daten sein, die eine Entsprechend zwischen einer physikalischen Adresse und einer Speichereingangsadresse schreiben, oder sie können ein Programm sein, das eine Berechnung zum Erhalten einer Speichereingangsadresse aus der physikalischen Adresse zeigt. D.h., die Erwerbsschaltung 600 erwirbt die Daten oder das Programm über Kommunikationsleitungen und speichert die erworbenen Daten oder das erworbene Programm auf einer Speichervorrichtung wie einem Speicher und einer Platte.
  • Die Entscheidungsschaltung 610 entscheidet, ob eine durch entsprechende Informationen bezeichnete Adressenübersetzung mittels logischer Operationen durch die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen 420 und die mehreren logischen Operationsschaltungen 440 durchgeführt werden kann. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird insbesondere entschieden, ob jedes Speichereingangsbit mittels einer Exklusiv-ODER-Verknüpfung aus einem einzelnen oder mehreren physikalischen Bits und eine Umkehroperation eines logischen Werts erzeugt werden kann. Ein konkreter Entscheidungsprozess ist illustriert, wenn ein Programm als entsprechende Informationen erworben wird. Zuerst verkürzt die Entscheidungsschaltung 610 eine durch entsprechende Informationen gezeigte logische Operation mittels der Ausführung eines Programms (herkömmlich bekannt), wodurch die Vereinfachung eines logischen Ausdrucks realisiert wird. Dann beurteilt die Entscheidungsschaltung 610, dass die Speichereingangsbits durch die logische Operation erzeugt werden können, wenn die abgekürzte logische Operation nur eine einstufige Exklusiv-ODER-Verknüpfung und eine einstufige Umkehroperation enthält. Wenn andererseits die verkürzte logische Operation andere Operationen als die einstufige Exklusiv-ODER-Verknüpfung und die einstufige Umkehroperation enthält, entscheidet die Entscheidungsschaltung 610, dass Speichereingangsbits durch die logische Operation nicht erzeugt werden können.
  • Die Einstellschaltung 620 stellt die mehreren Register 410 ein, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung mittels dieser logischen Operationen durchgeführt werden kann. Insbesondere stellt die Einstellschaltung 620 ein Bit ein entsprechend einem physikalischen Bit, das für eine logische Operation verwendet wird, die das Speichereingangsbit als einen logischen Wert von eins in dem Register 410 entsprechend jedem Speichereingangsbit erhält. Die Einstellschaltung 620 stellt die anderen Bits als einen logischen Wert null ein. Andererseits stellt die Einstellschaltung 620 den Inhalt des Übersetzungsspeichers 320 ein, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht mittels dieser logischen Operationen durchgeführt werden kann. Insbesondere gibt die Einstellschaltung 620 alle Wert, die in der Lage sind, als eine physikalische Adresse erhalten zu werden, in ein Programm einer logischen Operation ein, die durch entsprechende Informationen gezeigt ist, und erhält das Operationsergebnis. Dann bewirkt die Einstellschaltung 620, dass ein Bereich, dessen Ad resse jede physikalische Adresse in dem Übersetzungsspeicher 320 ist, das vorgenannte Operationsergebnis, das durch Durchführen der physikalischen Adresse als ein Eingang erhalten wurde, speichert.
  • Die Steuerschaltung 630 stellt die Auswahlschaltung 350 so ein, dass eine Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen 440 ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben werden, wenn beurteilt wurde, dass eine Adressenübersetzung mittels der logischen Operation durch das Operationsmodul 310 durchgeführt werden kann. Andererseits stellt die Steuerschaltung 630 die Auswahlschaltung 350 so ein, dass eine Adresse enthaltend eine Bestimmungsadresse durch den Übersetzungsspeicher 320 in Bits von zumindest einem Teil hiervon als die Speichereingangsadresse ausgewählt ist, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht mittels der logischen Operation durch das Operationsmodul 310 durchgeführt werden kann. In diesem Fall kann die Steuerschaltung 630 weiterhin eine Einstellung durchführen, die zeigt, welches der physikalischen Bits in den Übersetzungsspeicher 320 auf der Auswahlschaltung 300 und der Auswahlschaltung 340 eingegeben ist.
  • Wie vorstehend beschrieben ist, kann beispielsweise die mit Bezug auf 6 beschriebene Steuervorrichtung 150 eine Informationsverarbeitungsvorrichtung wie ein Personalcomputer oder eine Arbeitsstation sein. Jede Funktion der Steuervorrichtung 150 kann durch ein Programm realisiert sein, das auf einem Aufzeichnungsmedium wie einem CD-ROM oder einem DVD-ROM aufgezeichnet ist. D.h., ein Programm wird von dem Aufzeichnungsmedium gelesen und wird in der Steuervorrichtung 150 installiert und ausgeführt. Dann wirkt eine in der Steuervorrichtung 150 vorgesehene zentrale Verarbeitungseinheit als die Erwerbsschaltung 600, die Entscheidungsschaltung 610, die Einstellschaltung 620 und die Steuerschaltung 630 mittels des installierten Programms. Da jede Funktion, die durch das Zusammenwirken des Programms und der Steuervorrichtung 150 realisiert ist, gleich eine Funktion jedes mit Bezug auf 6 beschriebenen Teils ist, wird deren Beschreibung weggelassen.
  • 7 zeigt ein Flussdiagramm eines Vorgangs zum Einstellen einer Adressenübersetzungsregel von einer physikalischen Adresse in eine Speichereingangsadresse. Die Erwerbsschaltung 600 erwirbt entsprechende Informationen, die eine Entsprechung zwischen einer physikalischen Adresse und einer Speichereingangsadresse zeigen (S700). Die Entscheidungsschaltung 610 entscheidet, ob eine durch entsprechende Informationen bezeichnete Adressenübersetzung mittels logischer Operationen durch die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen 420 und die mehreren logischen Operationsschaltungen 440 durchgeführt werden kann (S710). In einem Beispiel nach 4 wird spezifisch entschieden, ob jedes Speichereingangsbit durch eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung von einem einzelnen oder mehreren physikalischen Bits und eine Umkehrungsoperation eines logischen Werts erzeugt werden kann.
  • Wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung mittels dieser logischen Operationen durchgeführt werden kann (S710. JA), stellt die Einstellschaltung 620 einen Wert in den mehreren Registern 410 ein (S720). Dann stellt die Steuerschaltung 630 die Auswahlschaltung 350 so ein, dass eine Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen 440 ausgege ben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird (S730). Dann führt die Prüfvorrichtung 10 eine Prüfung des geprüften Speichers 100 auf der Grundlage dieser Einstellungen durch (S740).
  • Wenn andererseits beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht mittels dieser logischen Operationen durchgeführt werden kann (S710: NEIN), stellt die Einstellschaltung 620 den Inhalt des Übersetzungsspeichers 320 ein (S750). Dann stellt die Steuerschaltung 630 die Auswahlschaltung 350 so ein, dass eine Adresse enthaltend eine Bestimmungsadresse durch den Übersetzungsspeicher 320 in Bits von zumindest einem Teil hiervon als die Speichereingangsadresse ausgewählt wird (S760). Dann führt die Prüfvorrichtung 10 eine Prüfung des geprüften Speichers 100 auf der Grundlage dieser Einstellungen durch (S740).
  • 8 zeigt ein Flussdiagramm eines Vorgangs zum Prüfen des geprüften Speichers 100. Die Folgesteuerschaltung 210 erzeugt eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers 100 zu liefernde physikalische Adresse (S800). Als Nächstes maskiert jede der arithmetischen Maskierschaltungen 420 entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits jedes der mehreren physikalischen Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, in Übereinstimmung mit einem Wert des Registers 410 entsprechend diesem Speichereingangsbit (S810). Dann gibt die logische Operationsschaltung 440 jeweils Bitdaten aus, die erhalten wurden durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskierergebnis durch die arithmetische Maskierschaltung 420 als das Speichereingangsbit entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits (S820). Die ausgegebenen mehreren Speichereingangsbits werden als die Speichereingangsadresse ausgewählt gemäß der von der Einstellschaltung 350 empfangenen Einstellung und zu dem geprüften Speicher 100 geliefert (S830).
  • Wie vorstehend beschrieben ist, braucht bei der Prüfvorrichtung 10 nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel die erforderliche Kapazität des Übersetzungsspeichers nicht vergrößert zu werden, selbst wenn eine Speichervorrichtung ein hohes Leistungsvermögen hat, und somit können die Wartungs- und Verwaltungskosten der Prüfvorrichtung 10 herabgesetzt werden. Darüber hinaus kann, da eine geringe Menge des Übersetzungsspeichers montiert werden kann, die Prüfvorrichtung 10 gegen eine herkömmliche Prüfvorrichtung ausgetauscht werden. Darüber hinaus wird eine Adressenübersetzung automatisch in dem Übersetzungsspeicher oder der logischen Schaltung mittels eines Programms eingestellt, das beurteilt, ob der Übersetzungsspeicher oder die logische Schaltung verwendet werden soll. Hierdurch wird, obgleich ein Benutzer die Speicherkapazität oder dergleichen des in der Prüfvorrichtung 10 installierten Übersetzungsspeichers nicht kennt, eine gewünschte Adressenübersetzung realisiert durch Verwendung eines angemessenen Teils entweder des Übersetzungsspeichers oder des Operationsmoduls.

Claims (7)

  1. Prüfvorrichtung, die einen geprüften Speicher prüft, welche aufweist: eine Adressenerzeugungsschaltung, die eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernde physikalische Adresse erzeugt; mehrere Maskenregister, die entsprechend jedem von mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil einer Speichereingangsadresse, die zu dem geprüften Speicher zu liefern ist, bilden, vorgesehen sind, wobei die mehreren Maskenregister einstellen, ob mehrere physikalische Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, für jedes der physikalischen Bits maskiert sind; mehrere arithmetische Maskenschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen jeweils die physikalische Adresse in Übereinstimmung mit einem Wert des Maskenregisters entsprechend diesem Speichereingangsbit maskieren; mehrere logische Operationsschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren logischen Operationsschaltungen jeweils Bitdaten ausgeben, die erhalten wurden durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskierergebnis durch die arithmetische Maskierschaltung als das Speichereingangsbit; und eine Adressenzuführungsschaltung, die die Speichereingangsadresse enthaltend die mehreren von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegebenen Speichereingangsbits zu dem geprüften Speicher liefert.
  2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, bei der jede der logischen Operationsschaltungen eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung der maskierten mehreren physikalischen Bits, die von den mehreren arithmetischen Maskierschaltungen ausgegeben wurden, berechnet und die Bitdaten auf der Grundlage der berechneten Exklusiv-ODER-Verknüpfung als das Speichereingangsbit ausgibt.
  3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 2, weiterhin aufweisend ein Umkehrsteuerregister, das entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen ist, welches Umkehrsteuerregister einstellt, ob ein logischer Wert der Exklusiv-ODER-Verknüpfung, die von der logischen Operationsschaltung berechnet wurde, umgekehrt und als das Speichereingangsbit ausgegeben wird.
  4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, weiterhin aufweisend: einen Übersetzungsspeicher, der eine übersetzte Adresse, die aus Bits von zumindest einem Teil der physikalischen Adresse besteht, aufnimmt und mit dieser übersetzten Adresse assoziierte Daten als eine Bestimmungsadresse ausgibt; eine Auswahlschaltung, die auswählt, welche von einer Adresse enthalten die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon und einer Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wobei die Adressenzuführungsschaltung, die von der Auswahlschaltung ausgegebene Speichereingangsadresse zu dem geprüften Speicher liefert.
  5. Prüfvorrichtung nach Anspruch 4, weiterhin aufweisend: eine Erwerbsschaltung, die eine Entsprechung zwischen der physikalischen Adresse und der Speichereingangsadresse erwirbt; eine Entscheidungsschaltung, die entscheidet, ob die durch die von der Erwerbsschaltung erworbene Entsprechung bezeichnete Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels einer logischen Operation durch die mehreren arithmetischen Maskierschaltungen und die mehreren logischen Operationsschaltungen durchgeführt zu werden; eine Einstellschaltung, die die mehreren Maskenregister einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und die den Inhalt des Übersetzungsspeichers einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden; und eine Steuerschaltung, die die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und die die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden.
  6. Programm für eine Steuervorrichtung zum Steuern einer Prüfvorrichtung, die einen geprüften Speicher prüft, welche Prüfvorrichtung aufweist: eine Adressenerzeugungsschaltung, die eine zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernde physikalische Adresse erzeugt; mehrere Maskenregister, die entsprechend jedem von mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil einer Speichereingangsadresse, die zu dem geprüften Speicher zu liefern ist, bilden, vorgesehen sind, wobei die mehreren Maskenregister einstellen, ob mehrere physikalische Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, für jedes der physikalischen Bits maskiert sind; mehrere arithmetische Maskierschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren arithmetischen Maskenschaltungen jeweils die physikalische Adresse in Übereinstimmung mit einem Wert des Maskenregisters entsprechend diesem Speichereingangsbit maskieren; mehrere logische Operationsschaltungen, die entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits vorgesehen sind, wobei die mehreren logischen Operationsschaltungen jeweils Bitdaten ausgeben, die erhalten wurden durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei ei nem Maskierergebnis durch die arithmetische Maskierschaltung als das Speichereingangsbit; einen Übersetzungsspeicher, der eine übersetzte Adresse, bestehend aus Bits von zumindest einem Teil der physikalischen Adresse aufnimmt und mit dieser übersetzten Adresse assoziierte Daten als eine Bestimmungsadresse ausgibt; eine Auswahlschaltung, die auswählt, welche von einer Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon und einer Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird; und eine Adressenzuführungsschaltung, die die von der Auswahlschaltung ausgegebene Speichereingangsadresse zu dem geprüften Speicher liefert, und das Programm bewirkt, dass die Steuervorrichtung arbeitet als: eine Erwerbsschaltung, die eine Entsprechung zwischen der physikalischen Adresse und der Speichereingangsadresse erwirbt; eine Entscheidungsschaltung, die entscheidet, ob die durch die von der Erwerbsschaltung erworbene Entsprechung bezeichnete Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels einer logischen Operation durch die mehreren arithmetischen Maskierschaltungen und die mehreren logischen Operationsschaltungen durchgeführt zu werden; eine Einstellschaltung, die die mehreren Maskenregister einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und die den Inhalt des Übersetzungsspeichers einstellt, wenn beurteilt wurde, dass die Adres senübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden; und eine Steuerschaltung, die die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die mehreren Speichereingangsbits, die von den mehreren logischen Operationsschaltungen ausgegeben wurden, als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden, und die Auswahlschaltung so einstellt, dass die Adresse enthaltend die Bestimmungsadresse in Bits von zumindest einem Teil hiervon als die Speichereingangsadresse ausgegeben wird, wenn beurteilt wurde, dass die Adressenübersetzung nicht in der Lage ist, mittels der logischen Operation durchgeführt zu werden.
  7. Prüfverfahren zum Prüfen eines geprüften Speichers mittels einer Prüfvorrichtung, welches aufweist: Erzeugen einer zu einem Speicherblock innerhalb des geprüften Speichers zu liefernden physikalischen Adresse; Maskieren, entsprechend jedem von mehreren Speichereingangsbits, die zumindest einen Teil einer zu dem geprüften Speicher zu liefernden Speichereingangsadresse bilden, jedes von mehreren physikalischen Bits, die zumindest einen Teil der physikalischen Adresse bilden, in Übereinstimmung mit einem Wert eines Maskenregisters entsprechend diesem Speichereingangsbit; jeweils Ausgeben von Bitdaten, die erhalten wurden durch Durchführen einer vorbestimmten logischen Operation bei einem Maskierergebnis durch das Maskieren als das Speichereingangsbit entsprechend jedem der mehreren Speichereingangsbits; und Liefern der Speichereingangsadresse enthaltend die mehreren beim Ausgeben ausgegebenen Speichereingangsbits zu dem geprüften Speicher.
DE102007018342A 2006-04-14 2007-04-16 Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren Withdrawn DE102007018342A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006111576A JP4889357B2 (ja) 2006-04-14 2006-04-14 試験装置、プログラムおよび試験方法
JP2006-111576 2006-04-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007018342A1 true DE102007018342A1 (de) 2007-10-25

Family

ID=38537030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102007018342A Withdrawn DE102007018342A1 (de) 2006-04-14 2007-04-16 Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7657801B2 (de)
JP (1) JP4889357B2 (de)
KR (1) KR100901167B1 (de)
DE (1) DE102007018342A1 (de)
TW (1) TWI326881B (de)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9767098B2 (en) 2012-08-08 2017-09-19 Amazon Technologies, Inc. Archival data storage system
US9251097B1 (en) 2011-03-22 2016-02-02 Amazon Technologies, Inc. Redundant key management
US9563681B1 (en) 2012-08-08 2017-02-07 Amazon Technologies, Inc. Archival data flow management
JP5186587B1 (ja) 2011-09-29 2013-04-17 株式会社アドバンテスト 試験装置および試験方法
US10120579B1 (en) 2012-08-08 2018-11-06 Amazon Technologies, Inc. Data storage management for sequentially written media
US9225675B2 (en) 2012-08-08 2015-12-29 Amazon Technologies, Inc. Data storage application programming interface
US8805793B2 (en) 2012-08-08 2014-08-12 Amazon Technologies, Inc. Data storage integrity validation
US9652487B1 (en) * 2012-08-08 2017-05-16 Amazon Technologies, Inc. Programmable checksum calculations on data storage devices
US9830111B1 (en) 2012-08-08 2017-11-28 Amazon Technologies, Inc. Data storage space management
US9779035B1 (en) 2012-08-08 2017-10-03 Amazon Technologies, Inc. Log-based data storage on sequentially written media
US9354683B2 (en) 2012-08-08 2016-05-31 Amazon Technologies, Inc. Data storage power management
US9904788B2 (en) 2012-08-08 2018-02-27 Amazon Technologies, Inc. Redundant key management
US8959067B1 (en) 2012-08-08 2015-02-17 Amazon Technologies, Inc. Data storage inventory indexing
US10558581B1 (en) 2013-02-19 2020-02-11 Amazon Technologies, Inc. Systems and techniques for data recovery in a keymapless data storage system
US11386060B1 (en) 2015-09-23 2022-07-12 Amazon Technologies, Inc. Techniques for verifiably processing data in distributed computing systems

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2613411B2 (ja) * 1987-12-29 1997-05-28 株式会社アドバンテスト メモリ試験装置
JPH01184700A (ja) * 1988-01-11 1989-07-24 Advantest Corp メモリ試験装置
US5455909A (en) * 1991-07-05 1995-10-03 Chips And Technologies Inc. Microprocessor with operation capture facility
JP3186359B2 (ja) * 1993-07-28 2001-07-11 安藤電気株式会社 物理アドレス変換回路
JP3552175B2 (ja) * 1995-05-17 2004-08-11 株式会社アドバンテスト フェイルメモリ装置
US6032281A (en) * 1996-01-12 2000-02-29 Advantest Corp. Test pattern generator for memories having a block write function
JP3871384B2 (ja) * 1996-11-01 2007-01-24 株式会社アドバンテスト 半導体メモリ試験装置用不良解析メモリ
US6321356B1 (en) * 1999-05-18 2001-11-20 Micron Technology, Inc. Programmable pattern generator
JP4435915B2 (ja) * 1999-11-26 2010-03-24 株式会社アドバンテスト パターン発生方法・パターン発生器・メモリ試験装置
JP2001243793A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Kyushu Ando Denki Kk 試験パターン発生器
US6687861B1 (en) * 2000-10-31 2004-02-03 Agilent Technologies, Inc. Memory tester with enhanced post decode
JP2003022693A (ja) * 2001-07-09 2003-01-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ
JP2003249096A (ja) * 2002-02-27 2003-09-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
KR20050001554A (ko) * 2003-06-25 2005-01-07 주식회사 아도반테스토 시험장치 및 시험방법
JP4463173B2 (ja) 2005-09-14 2010-05-12 株式会社アドバンテスト 試験装置、試験方法、プログラム、及び記録媒体
JP4439009B2 (ja) 2005-09-15 2010-03-24 株式会社アドバンテスト 試験装置、試験方法、解析装置及びプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070102401A (ko) 2007-10-18
JP2007287213A (ja) 2007-11-01
KR100901167B1 (ko) 2009-06-04
JP4889357B2 (ja) 2012-03-07
TWI326881B (en) 2010-07-01
US7657801B2 (en) 2010-02-02
TW200739590A (en) 2007-10-16
US20080285366A1 (en) 2008-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102007018342A1 (de) Prüfvorrichtung, Programm und Prüfverfahren
DE3881824T2 (de) Speichersystem mit automatischer grössenbestimmung.
EP0527866B1 (de) Integrierter halbleiterspeicher mit paralleltestmöglichkeit und redundanzverfahren
DE69114881T2 (de) Analysevorrichtung zur Rettung von Halbleiterspeicherfehlern.
DE19851861A1 (de) Fehleranalysespeicher für Halbleiterspeicher-Testvorrichtungen und Speicherverfahren unter Verwendung des Fehleranalysespeichers
DE69230211T2 (de) Integrierter Speicher, Verwaltungsverfahren und resultierendes Informationssystem
DE69126057T2 (de) Ein Informationsverarbeitungsgerät mit einer Fehlerprüf- und Korrekturschaltung
DE19722414B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Testen eines Halbleiterspeichers
DE3685711T2 (de) Anordnung zur simulation von rechnerfunktionen von grossrechenanlagen.
DE3876459T2 (de) Speicher und deren pruefung.
DE112004000676T5 (de) Prüfvorrichtung
EP1113362A2 (de) Integrierter Halbleiterspeicher mit einer Speichereinheit zum Speichern von Adressen fehlerhafter Speicherzellen
DE102006045124A1 (de) Halbleiterspeicherchip
DE69715993T2 (de) Cache-Speicher mit Verwendung fehlerhaften Ettikettenspeichers
DE19680641C2 (de) Fehlerspeicher-Analysiervorrichtung in einem Halbleiterspeichertestsystem
DE112008001574T5 (de) Wellenform-Erzeugungsgerät, Wellenform-Erzeugungsverfahren und Programm
DE3587374T2 (de) Halbleiterspeichergeraet mit einer bit-fehlererkennungsfunktion.
DE102007032273A1 (de) Direktzugriffsspeicher mit Prüfschaltung
DE69028449T2 (de) System zur Prüfung der Vergleichsprüfungsfunktion einer Datenverarbeitungsanlage
DE69508034T2 (de) Fehlererkennungs-System und -Verfahren für gespiegelten Speicher zwischen doppelten Plattenspeichersteuerungen
DE19951205A1 (de) Testmustergenerator; Speichertestvorrichtung und Verfahren zur Erzeugung einer Mehrzahl von Testmustern
EP1055238A1 (de) Circuit and method for testing a digital semi-conductor circuit
DE102005058438B4 (de) Integrierter Halbleiterspeicher mit Ermittelung einer Chiptemperatur
DE69724737T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Speicherschaltungen
DE19921756A1 (de) Speichertestvorrichtung und Datenselektionsschaltkreis

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20111101