DE10121131C1 - Datenspeicher - Google Patents

Datenspeicher

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Abstract

Datenspeicher zum Speichern von Daten mit einem Speicherzellenfeld (2), das aus einer Vielzahl von Speicherzellen (3) besteht, die jeweils mittels eines an einer Wortleitung (9) und an einer Bitleitung (13) angeschlossenen Speicherzellen-Auswahltransistors (4) adressierbar sind und die eine Speicherkapazität zum Speichern eines Datenbits aufweisen, wobei das Speicherzellenfeld (2) redundante Speicherzellen (3') enthält, die zum Ersatz von fehlerhaft hergestellten Speicherzellen (3) durch Umadressierung vorgesehen sind, und mit Leseverstärkern (22), die jeweils zur Signalverstärkung eines aus einer adressierten Speicherzelle (3) über eine zugehörige Bitleitung (13) ausgelesenen Datenbits vorgesehen sind und mit einer gepufferten Versorgungsspannung versorgt werden, wobei die nicht umadressierten redundanten Speicherzellen (3') an die zugehörigen Bitleitungen (13') geschaltet sind und die Versorgungsspannung für die Leseverstärker (22) zusätzlich puffern.

Description

Die Erfindung betrifft einen Datenspeicher zum Speichern von Daten, bei dem die Versorgungsspannungsleitungen durch die Speicherkapazitäten von redundanten Speicherzellen zusätzlich gepuffert werden.
Die DE 36 88 388 T2 beschreibt ein Verfahren zur Formierung ei­ ner mesaförmigen Kondensatorstruktur mit hoher Kapazität und geringem Leckstrom in einer Halbleiterstruktur.
Die US 6144592 beschreibt einen internen Adressgenerator­ schaltkreis, der ein internes Adresssignal erzeugt. Das in­ terne Adresssignal wird für den Zugriff auf ein Speicherzel­ lenfeld benutzt. Ein Speicherschaltkreis für fehlerhafte Ad­ ressen speichert Adresssignale von fehlerhaften Speicherzel­ len. Ein Komparatorschaltkreis vergleicht interne Adresssig­ nale und das fehlerhafte Adresssignal. Ein Latch-Schaltkreis schaltet ein redundantes Test-Adresssignal, welches von außen zugeführt wird. Ein zweiter Vergleichsschaltkreis vergleicht das redundante Testadresssignal und das interne Adresssignal. Ein Selektionsschaltkreis selektiert ein Ausgangssignal des zweiten Vergleichsschaltkreises in einem redundanten Testbe­ triebsmodus. In Abhängigkeit von dem selektierten Ausgangs­ signal wird ein Teil des Speicherzellenfeldes durch ein re­ dundantes Speicherzellenfeld ersetzt.
Fig. 1 zeigt schematisch einen Datenspeicher zum Speichern nach dem Stand der Technik. Der Datenspeicher weist ein Spei­ cherzellenfeld mit einer Vielzahl von Speicherzellen auf. Da­ bei besteht jede Speicherzelle aus einem Auswahltransistor und einer Speicherkapazität zum Speichern eines Datenbits. Die Speicherzellen werden über die Auswahltransistoren adres­ siert, die über Wortleitungen und Bitleitungen an Adressende­ codern angeschlossen sind. Das Speicherzellenfeld enthält re­ dundante Speicherzellen SZRED, die zum Ersatz von Speicherzel­ len vorgesehen sind, die im Herstellungsprozess fehlerhaft hergestellt worden sind. Die redundanten Speicherzellen wer­ den über zugehörige Wortleitungen WLRED und Bitleitungen BLRED von den Adressendecodern angesteuert. Die Adressdecoder sind mit sog. Fuse-Blocks bzw. Umadressierungschaltungen verbun­ den, die die Adressen von fehlerhaft hergestellten Speicher­ zellen auf Adressen von redundanten Speicherzellen mappen bzw. umadressieren. Das hergestellte Speicherzellenfeld wird nach dem Herstellungsprozess einem Testvorgang unterzogen und die Fuse-Blocks werden derart programmiert, dass die Adressen der fehlerhaft hergestellten Speicherzellen auf die redundan­ ten Speicherzellen SZRED umgemappt werden. Die Fuse-Blocks bzw. Umadressierungsschaltungen beinhalten Fuses bzw. Siche­ rungen wie Laser-Fuses oder elektrische Fuses. Die Fuses be­ stehen beispielsweise aus Metallstreifen, die zur Umadressie­ rung durchtrennt werden. Hierzu werden die Fuse-Blocks über Programmierleitungen P programmiert. Die Fuse-Blocks bzw. Um­ adressierungsschaltungen liegen an dem internen Adressbus des Datenspeichers an. Das Speicherzellenfeld enthält Lesever­ stärker zum Auslesen der in den Speicherzellen abgespeicher­ ten Datenbits. Die Leseverstärker bestehen dabei aus Operati­ onsverstärkern, die die Spannungsdifferenz zwischen einer Bitleitung und einem Bezugspotential verstärken und an einen Datenausgang abgeben. Die ausgelesenen Daten D werden über einen Datenbus zur weiteren Verarbeitung abgegeben. Die Lese­ verstärker innerhalb des Speicherzellenfeldes sind über in­ terne Versorgungsspannungsleitungen innerhalb des Speicher­ zellenfeldes an einen Versorgungsspannungsanschluss ange­ schlossen, der über eine externe Versorgungsspannungsleitung mit dem Ausgang einer Versorgungsspannungsquelle VQ verbunden ist. Die extern angelegte Versorgungsspannung wird über einen Pufferkondensator mit einer hohen Kapazität zum Ausgleich der Spannungsschwankungen gepuffert.
Ein Nachteil des in Fig. 1 dargestellten Datenspeichers nach dem Stand der Technik besteht darin, dass die externe Versor­ gungsspannungsleitung zwischen dem Ausgang der externen Ver­ sorgungsspannungsquelle VQ und dem Versorgungsspannungsan­ schluss VSS des Speicherzellenfeldes relativ lang ist. Auf­ grund der relativ großen Leitungslänge ist der Widerstand R der externen Versorgungsspannungsleitung relativ hoch. Wegen der hohen Speicherkapazität des Versorgungsspannungspuffer­ kondensators CP ist die Zeitkonstante τ, die sich aus dem Produkt des Leitungswiderstandes R der externen Versorgungs­ spannungsleitung und der Kapazität des Pufferkondensators CP ergibt, groß. Die Pufferung der Versorgungsspannung für diese Verstärker innerhalb des Speicherzellenfeldes ist somit rela­ tiv träge, so dass die benötigte elektrische Ladung für die in dem Speicherzellenfeld enthaltenen Verbraucher durch die gepufferte Versorgungsspannung nicht schnell genug geliefert werden kann. Aufgrund der Trägheit der gepufferten Versor­ gungsspannung können Spannungsspitzen bzw. lokale kurzzeitige Spannungseinbrüche auf den Versorgungsspannungsleitungen für die Leseverstärker nicht schnell genug ausgeglichen werden, so dass es zu Lesefehlern beim Auslesen der abgespeicherten Datenbits kommen kann.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Datenspeicher zum Speichern von Daten zu schaffen, dessen Versorgungsspannung mit einer geringen Trägheit gepuffert wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den Datenspeicher mit den im Patentanspruch 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Die Erfindung schafft einen Datenspeicher zum Speichern von Daten mit
einem Speicherzellenfeld, das aus einer Vielzahl von Spei­ cherzellen besteht, die jeweils mittels eines an einer Wort­ leitung und an einer Bitleitung angeschlossenen Speicherzel­ len-Auswahltransistors adressierbar sind und die jeweils eine Speicherkapazität zum Speichern eines Datenbits aufweisen,
wobei das Speicherzellenfeld redundante Speicherzellen ent­ hält, die zum Ersatz von fehlerhaft hergestellten Speicher­ zellen durch Umadressierung vorgesehen sind, und
mit Leseverstärkern, die jeweils zur Signalverstärkung eines aus einer adressierten Speicherzelle über eine zugehörige Bitleitung ausgelesenen Datenbits vorgesehen sind und mit ei­ ner gepufferten Versorgungsspannung versorgt werden,
wobei die nicht umadressierten überschüssigen redundanten Speicherzellen an die zugehörigen Bitleitungen geschaltet sind und die Versorgungsspannung für die Leseverstärker zu­ sätzlich puffern.
Bei dem erfindungsgemäßen Datenspeicher werden die Kapazitä­ ten der überschüssigen redundanten Speicherzellen, die zur Reparatur der fehlerhaft hergestellten Speicherzellen nicht benötigt werden, zur zusätzlichen Pufferung der Versorgungs­ spannungsleitungen für die Leseverstärker genutzt. Die Wort­ leitungen des erfindungsgemäßen Datenspeichers sind vorzugs­ weise an einen Wortleitungsdecoder und die Bitleitungen sind vorzugsweise an einen zugehörigen Bitleitungsdecoder ange­ schlossen.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Datenspeichers ist der Wortleitungsdecoder und der Bitlei­ tungsdecoder jeweils an eine Umadressierungsschaltung ange­ schlossen, die die Adressen von fehlerhaft hergestellten Speicherzellen auf die Adressen von redundanten Speicherzel­ len innerhalb des Speicherzellenfeldes ummappen.
Die Wortleitungen der nicht umadressierten, überschüssigen redundanten Speicherzellen werden an ein Spannungspotential zum Durchschalten der zugehörigen Auswahltransistoren der Speicherzellen angelegt.
Die Bitleitungen der nicht umadressierten, überschüssigen re­ dundanten Speicherzellen werden vorzugsweise an die gepuffer­ te Versorgungsspannung geschaltet.
Jede Speicherzelle des Speicherzellenfeldes weist vorzugswei­ se einen Speicherkondensator mit einer Speicherkapazität zum Speichern eines Datenbits auf.
Die Versorgungsspannung für die Leseverstärker werden vor­ zugsweise durch eine externe Versorgungsspannungsquelle er­ zeugt und an einen Ausgang der Versorgungsspannungsquelle ausgegeben, wobei zwischen dem Ausgang der Versorgungsspan­ nungsquelle und einem Bezugspotenzial ein Pufferkondensator mit einer hohen Kapazität zur Pufferung der Versorgungsspan­ nung geschaltet ist.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform des erfin­ dungsgemäßen Datenspeichers sind die Bitleitungen der redun­ danten Speicherzellen an Gateanschlüsse von Feldeffekttran­ sistoren angeschlossen, die mit internen Versorgungsspan­ nungsleitungen für die Leseverstärker der nicht redundanten Speicherzellen verbunden sind.
Die durch den Pufferkondensator gepufferte Versorgungsspan­ nung ist vorzugsweise über eine externe Versorgungsspannungs­ leitung an die Leseverstärker zu deren Spannungsversorgung angeschlossen.
Dabei sind die Leitungslängen der Bitleitungen zwischen den Speicherzellen und den Leseverstärkern vorzugsweise wesent­ lich kleiner als die Leitungslänge der externen Versorgungs­ spannungsleitung.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform des erfin­ dungsgemäßen Datenspeichers sind die redundanten Speicherzel­ len innerhalb des Speicherzellenfeldes nahe an den Lesever­ stärkern angeordnet.
Bei dem Datenspeicher handelt es sich vorzugsweise um einen DRAM-Speicher.
Im Weiteren wird eine bevorzugte Ausführungsform des erfin­ dungsgemäßen Datenspeichers zur Erläuterung erfindungswesent­ licher Merkmale beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1 einen Datenspeicher nach dem Stand der Technik
Fig. 2 eine bevorzugte Ausführungsform eines erfindungsge­ mäßen Datenspeichers.
Der erfindungsgemäße Datenspeicher 1 weist ein Speicherzel­ lenfeld 2 mit einer Vielzahl von darin enthaltenen Speicher­ zellen 3 auf. Dabei enthält das Speicherzellenfeld 2 sowohl herkömmliche Speicherzellen 3 als auch zusätzlich redundante Speicherzellen 3', die zum Ersatz von fehlerhaft hergestell­ ten Speicherzellen 3 durch Umadressierung vorgesehen sind. Jede Speicherzelle enthält einen Auswahltransistor 4 und ei­ nen Speicherkondensator 5. Bei der in Fig. 2 dargestellten Ausführungsform besteht der Auswahltransistor 4 aus einem NNOS-Feldeffekttransistor, dessen Gateanschluss 6 über eine Anschlussleitung 7 an einem Knoten 8 mit einer Wortleitung 9 verbunden ist. Ein Anschluss 10 des Auswahltransistors 4 ist über eine Anschlussleitung 11 an einem Anschlussknoten 12 mit einer zugehörigen Bitleitung 13 verbunden. Die Wortleitun­ gen 9 und die Bitleitungen 13 verlaufen in dem Speicherzel­ lenfeld matrixförmig. Dabei sind die Wortleitungen 9 mit ei­ nem Adressdecoder 14 und die Bitleitungen 13 mit einem Ad­ ressdecoder 15 verbunden.
Der Wortleitungsadressdecoder 14 ist an eine programmierbare Umadressierungsschaltung 16 und der Bitleitungsdecoder 15 ist an eine Umadressierungsschaltung 17 angeschlossen. Die beiden Umadressierungsschaltungen 16, 17 sind über Programmierlei­ tungen 18, 19 programmierbar. Die Umadressierungsschaltungen 16, 17 liegen ferner an einem Adressbus 20 des Datenspeichers 1 an. Die Umadressierungsschaltungen 16, 17 mappen die Adres­ sen von fehlerhaft hergestellten Speicherzellen 3 auf Adres­ sen von redundanten Speicherzellen 3' um. Dazu wird das Spei­ cherzellenfeld 2 einem Testvorgang unterzogen und die Adres­ sen der fehlerhaft hergestellten Speicherzellen werden fest­ gestellt. Anschließend werden die Umadressierungsschaltungen 16, 17 über die Programmierungsleitungen 18, 19 derart pro­ grammiert, dass die Adressen der fehlerhaft hergestellten Speicherzellen auf die Adressen von redundanten Speicherzel­ len 3' umgemappt werden. Die Anzahl der im Speicherzellenfeld 2 vorhandenen redundanten Speicherzellen 3' übertrifft dabei die Anzahl der notwendigen redundanten Speicherzellen, die zum Ersatz von fehlerhaft hergestellten Speicherzellen 3 tat­ sächlich benötigt werden, bei einem durchschnittlichen Her­ stellungsprozess bei weitem. Daher enthält das Speicherzel­ lenfeld 2 nach dem Ummappen noch eine erhebliche Anzahl von überschüssigen, redundanten Speicherzellen 3', die zur Repa­ ratur von defekten Speicherzellen nicht benötigt wurden.
Die Bitleitungen 13 sind mit einem Eingang 21 eines Diffe­ renzverstärkers 22 verbunden. Der Differenzverstärker bzw. Leseverstärker 22 weist einen weiteren Eingang 23 auf, der über eine Leitung 24 an ein Bezugspotenzial bzw. Masse ange­ schlossen ist. Die Leseverstärker 22 besitzen jeweils einen Ausgang 25, der über eine interne Auslese-Datenleitung 26 mit einem Datenausgang 27 des Speicherzellenfeldes 2 verbunden ist. Die Leseverstärker 22 sind zur Signalverstärkung der an den Bitleitungen 13 anliegenden Datensignale vorgesehen. Da­ bei werden die Leseverstärker 22 über interne Versorgungs­ spannungsleitungen 28, 29 mit einer Versorgungsspannung (Vss, VDD) mit Spannung versorgt. Die verschiedenen Versorgungs­ spannungsleitungen 28 der Leseverstärker sind mit einem Ver­ sorgungsspannungsanschluss 30 des Speicherzellenfeldes 2 ver­ bunden. Der Versorgungsspannungsanschluss 30 des Speicherzel­ lenfeldes 2 ist über eine externe Versorgungsspannungsleitung 31 an einem Ausgang 32 einer Versorgungsspannungsquelle 33 angeschlossen. Die von der Versorgungsspannungsquelle 33 ge­ nerierte Versorgungsspannung wird durch einen Pufferkondensa­ tor 34 gepuffert, der über eine Leitung 35 an den Ausgang 32 der Versorgungsspannungsquelle 33 angeschlossen ist und der über eine Leitung 36 an einem Bezugspotenzial, beispielsweise Masse, anliegt. Der Pufferkondensator 34 weist eine relativ hohe Kapazität zur Pufferung der Versorgungsspannung auf. Die Pufferkapazität liegt im beispielsweise im Bereich von eini­ gen nF.
Bei dem erfindungsgemäßen Datenspeicher 1 werden die zur Um­ adressierung nicht benötigten überschüssigen redundanten Speicherzellen 3' an die zugehörige Bitleitung 13' geschal­ tet, so dass die in den redundanten Speicherzellen 3' enthal­ tenen Speicherkondensatoren 5' die Versorgungsspannung für die Leseverstärker 22 zusätzlich puffern. Hierzu werden die Wortleitungen 9' der redundanten Speicherzellen 3' an ein Spannungspotential zum Aktivieren bzw. Durchschalten des zu­ gehörigen Auswahltransistors 6' der redundanten Speicherzelle 3' mittels einer Schalteinrichtung geschaltet bzw. verdrah­ tet. Bei der in Fig. 2 dargestellten Ausführungsform ist der Auswahltransistor 4' der redundanten Speicherzelle 3' ein NMOS-Feldeffektransistor, dessen Gateanschluss 6' an ein ho­ hes Spannungspotential von beispielsweise 3 V angelegt wird, damit der in der redundanten Speicherzelle 3' enthaltene Speicherkondensator 5' an die zugehörige Bitleitung 13' durchgeschaltet wird. Die Bitleitungen 13' der redundanten Speicherzellen 3' werden ferner durch Programmierung der Um­ adressierungsschaltung 17 mit einer Leitung 37 verbunden, so dass das von der Spannungsquelle 33, abgegebene hohe Span­ nungspotential an der Bitleitung 13' anliegt. Durch das hohe Spannungspotential auf der Bitleitung 13' wird der Ga­ teanschluss 38 eines NMOS-Feldeffekttransistors 39 auf ein hohes Spannungspotential gezogen, so dass der NMOS- Feldeffekttransistor 39 durchschaltet und die Bitleitung 13' der redundanten Speicherzelle 3' über eine Leitung 40 mit der Versorgungsspannungsleitung 28 für den Leseverstärker 22 der nicht redundanten Speicherzellen 3 verbindet. Die redundanten Speicherzellen 3' sind über zugehörige Bitleitungen 13' und die durchgeschalteten NMOS-Feldeffekttransistoren 39 sowie über interne Leitungen 40 und interne Versorgungsspannungs­ leitungen 28 an den Versorgungsspannungsanschluss der Lese­ verstärker 22 angeschlossen. Der in der Speicherzelle 3' ent­ haltene Kondensator 5' puffert somit die Versorgungsspannung des Leseverstärkers 22 zusätzlich.
In dem Speicherzellenfeld 2 befinden sich eine sehr hohe An­ zahl von Speicherzellen, beispielsweise 227, wobei ein gewis­ ser Prozentsatz der Speicherzellen durch redundante Speicher­ zellen gebildet wird. Ein Speicherzellenfeld enthält dabei einige Millionen redundante Speicherzellen. Die Kapazität des Speicherkondensators 5' innerhalb einer redundanten Speicher­ zelle 3' beträgt beispielsweise 30 × 10-15 F. Werden von den ursprünglich 5 Millionen redundanten Speicherzellen bei­ spielsweise für die Reparatur von defekten Speicherzellen le­ diglich 4 Millionen Speicherzellen benötigt, bleiben 1 Milli­ on redundante Speicherzellen übrig, die zur Verbesserung der Pufferung der Versorgungsspannung für die Leseverstärker be­ reitstehen. Durch diese überschüssigen redundanten Speicher­ zellen kann eine zusätzliche Pufferkapazität von etwa 30 nF zur Pufferung der Spannungsversorgung der Leseverstärker zur Verfügung gestellt werden.
Die Leitungslängen der in Fig. 2 dargestellten Leitungen sind nicht maßstabsgetreu. Die Leitungslängen der Bitleitung 13' innerhalb des Speicherzellenfeldes 2 zwischen den redundanten Speicherzellen 3' und den Eingängen 21 der Leseverstärker sind wesentlich kleiner als die Leitungslängen der externen Versorgungsspannungsleitung 31. Aufgrund der kurzen Leitungs­ längen ist der Widerstand der Leitung zwischen der redundan­ ten Speicherzelle 3' und dem zu puffernden Versorgungsspan­ nungsanschluss 28 des Leseverstärkers 22 niedrig, so dass auch die Zeitkonstante zum Auf- und Entladen des Speicherkon­ densators 5' innerhalb der redundanten Speicherzelle 3' ge­ ring ist. Durch die angeschlossenen Speicherkondensatoren 5' können daher Spannungsspitzen bzw. kurze lokale Spannungsein­ brüche der Versorgungsleitungen 28 für die Leseverstärker 22 sehr schnell ausgeglichen werden. Daher arbeiten die Lesever­ stärker 22 besonders betriebssicher, so dass Fehler beim Aus­ lesen von Daten aus dem Speicherzellenfeld 2 aufgrund von kurzzeitigen Versorgungsspannungsschwankungen nicht auftre­ ten. Die Versorgungsspannungen der Leseverstärker werden so­ mit durch die Kondensatoren 5' der überschüssigen redundanten Speicherzellen 3' lokal und schnell gepuffert.
Das Datenspeicherfeld 2 wird vorzugsweise derart ausgelegt, dass sich die redundanten Speicherzellen 3' in räumlicher Nä­ he zu den Signaleingängen der Leseverstärker 22 befinden. Dies hat zur Folge, dass die Zeitkonstante zum Auf- und Ent­ laden der Speicherkondensatoren 5' zum Ausgleich von Ladungs­ schwankungen auf den Versorgungsspannungsleitungen 28 für die Leseverstärker 22 besonders gering sind.
Bezugszeichenliste
1
Datenspeicher
2
Speicherzellenfeld
3
Speicherzelle
4
Auswahltransistor
5
Speicherkondensator
6
Gateanschluss
7
Leitung
8
Knoten
9
Wortleitung
10
Anschluss
11
Leitung
12
Knoten
13
Bitleitung
14
Decoder
15
Decoder
16
Umadressierungsschaltung
17
Umadressierungsschaltung
18
Programmierungsleitungen
19
Programmierungsleitungen
20
Adressbus
21
Signaleingang
22
Leseverstärker
23
Signaleingang
24
Leitung
25
Ausgang
26
Leitung
27
Datenausgang
28
Versorgungsspannungsleitung
29
Versorgungsspannungsleitung
30
Versorgungsspannungsanschluss
31
Externe Versorgungsspannungsleitung
32
Stromspannungsausgang
33
Versorgungsspannungsquelle
34
Pufferkondensator
35
Leitung
36
Leitung
37
Leitung
38
Gateanschluss
39
Feldeffekttransistor
40
Leitung

Claims (12)

1. Datenspeicher zum Speichern von Daten mit:
  • a) einem Speicherzellenfeld (2), das aus einer Vielzahl von Speicherzellen (3) besteht, die jeweils mittels eines an ei­ ner Wortleitung (9) und an einer Bitleitung (13) angeschlos­ senen Speicherzellen-Auswahltransistors (4) adressierbar sind und die eine Speicherkapazität zum Speichern eines Datenbits aufweisen,
  • b) wobei das Speicherzellenfeld (2) redundante Speicherzel­ len (3') enthält, die zum Ersatz von fehlerhaft hergestellten Speicherzellen (3) durch Umadressierung vorgesehen sind, und mit
  • c) Leseverstärkern (22), die jeweils zur Signalverstärkung eines aus einer adressierten Speicherzelle (3) über eine zu­ gehörige Bitleitung (13) ausgelesenen Datenbits vorgesehen sind und mit einer gepufferten Versorgungsspannung versorgt werden,
  • d) wobei die nicht umadressierten redundanten Speicherzel­ len (3') an die zugehörigen Bitleitungen (13') geschaltet sind und die Versorgungsspannung für die Leseverstärker (22) zusätzlich puffern.
2. Datenspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Wortleitungen (9) an einen Wortleitungsdecoder (14) und die Bitleitung (13) an einen Bitleitungsdecoder (15) ange­ schlossen sind.
3. Datenspeicher nach Anspruch 2 dadurch gekennzeichnet, dass der Wortleitungsdecoder (14) und der Bitleitungsdecoder (15) an Umadressierungsschaltungen (16, 17) angeschlossen sind, die die Adressen von fehlerhaft hergestellten Speicherzellen (3) auf Adressen von redundanten Speicherzellen (3') ummap­ pen.
4. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Wortleitungen der nicht umadressierten redundanten Spei­ cherzellen (3') an ein Spannungspotential zum Durchschalten der zugehörigen Auswahltransistoren (4) geschaltet sind.
5. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Bitleitungen (13') der nicht umadressierten redundanten Speicherzellen (3') an die gepufferte Versorgungsspannung ge­ schaltet sind.
6. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass jede Speicherzelle (3) des Speicherzellenfeldes (2) einen Kondensator (5) mit einer Speicherkapazität zum Speichern ei­ nes Datenbits aufweist.
7. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Versorgungsspannung für die Leseverstärker (22) durch ei­ ne Versorgungsspannungsquelle (33) erzeugt und an einem Aus­ gang (32) der Versorgungsspannungsquelle abgegeben wird, wo­ bei zwischen dem Ausgang (32) der Versorgungsspannungsquelle (33) und einem Bezugspotenzial ein Pufferkondensator (34) mit einer hohen Kapazität geschaltet ist.
8. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Bitleitungen (13') der redundanten Speicherzellen (3') an Gateanschlüssen (38) von Feldeffekttransistoren (39) ange­ schlossen sind, die die Bitleitungen (13') der redundanten Speicherzellen (3') an die Versorgungsspannungsleitungen (28) für die Leseverstärker (22) der nicht redundanten Speicher­ zellen (3) schalten.
9. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die durch den Pufferkondensator (34) gepufferte Versorgungs­ spannung über mindestens eine externe Versorgungsspannungs­ leitung (31) an die Leseverstärker (22) zu deren Spannungs­ versorgung angelegt wird.
10. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Leitungslängen der Bitleitungen zwischen den Speicherzel­ len (3) und den Leseverstärkern (22) wesentlich kleiner sind als die Leitungslängen der externen Versorgungsspannungslei­ tung (31).
11. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die redundanten Speicherzellen (3') in dem Speicherzellenfeld (2) nahe an den Leseverstärkern (22) angeordnet sind.
12. Datenspeicher nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Datenspeicher ein DRAM-Speicher ist.
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