DE10046051A1 - Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher und Schaltung zum Betreiben desselben - Google Patents
Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher und Schaltung zum Betreiben desselbenInfo
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Abstract
Es werden ein nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher und eine Schaltung zum Betreiben desselben angegeben, die zu minimaler Chipgröße und maximalem Treibervermögen führen. DOLLAR A Ein erfindungsgemäßer nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher ist mit Folgendem versehen: DOLLAR A - einem ersten und einem zweiten Zellenarray (93, 99), die aus einer Anzahl von Unterzellenarrays bestehen; DOLLAR A - einem lokalen X-Decodierer (100) zum Ausgeben eines Ansteuerungssignals zum Ansteuern des ersten und zweiten Zellenarrays; DOLLAR A - einem ersten lokalen Wortleitungstreiber (95) zum selektiven Anlegen des vom lokalen X-Decodierer ausgegebenen Ansteuerungssignals an das erste Zellenarray; DOLLAR A - einem zweiten lokalen Wortleitungstreiber (97) zum selektiven Anlegen des vom lokalen X-Decodierer ausgegebenen Ansteuerungssignals an das zweite Zellenarray; und DOLLAR A - einem Hauptwortleitungstreiber (91) zum Ausgeben eines ersten Steuersignals, das bestimmt, ob der erste lokale Wortleitungstreiber aktiviert wird oder nicht, und eines zweiten Steuersignals, das bestimmt, ob der zweite lokale Wortleitungstreiber aktiviert wird oder nicht.
Description
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterspeicher, spezieller
einen nichtflüchtigen ferroelektrischen Speicher sowie eine
Schaltung zum Betreiben desselben.
Im Allgemeinen verfügen nichtflüchtige ferroelektrische
Speicher, d. h. FRAMs (ferroelectric random access memory =
ferroelektrischer Direktzugriffsspeicher) über eine Daten
verarbeitungsgeschwindigkeit, die derjenigen von DRAMs (dy
namic random access memory = dynamischer Direktzugriffsspei
cher) entspricht, und sie halten Daten selbst bei abgeschal
teter Spannung aufrecht. Aus diesem Grund haben nichtflüch
tige ferroelektrische Speicher als Speicher der nächsten Ge
neration viel Aufmerksamkeit auf sich gezogen.
FRAMs und DRAMs sind Speicher mit beinahe gleicher Struktur,
und sie verfügen über einen ferroelektrischen Kondensator
mit hoher Restpolarisation. Derartige Restpolarisation er
laubt es, dass Daten auch dann nicht gelöscht werden, wenn
ein elektrisches Feld weggenommen wird.
Fig. 1 zeigt die Hystereseschleife eines üblichen Ferroelek
trikums. Wie es dort dargestellt ist, wird ein Datenwert
selbst dann, wenn die durch ein elektrisches Feld induzierte
Polarisation bei Wegnahme des elektrischen Felds verringert
wird, wegen des Vorliegens von Restpolarisation (oder spon
taner Polarisation) in gewissem Umfang (Zustände d und a)
ohne Löschung aufrecht erhalten.
Eine Zelle eines nichtflüchtigen ferroelektrischen Spei
chers wird dadurch als Speichereinrichtung verwendet, dass
dafür gesorgt wird, dass den Zuständen d und a logische Wer
te 1 bzw. 0 entsprechen.
Wenn nachfolgend der Kürze halber von einem Speicher die
Rede ist, ist hierunter immer ein nichtflüchtiger ferroelek
trischer Speicher zu verstehen, solange nichts anderes aus
drücklich angegeben ist.
Nun wird ein bekannter Speicher und eine Schaltung zum Be
treiben desselben unter Bezugnahme auf die Fig. 1 bis 6 be
schrieben.
Fig. 2 zeigt hierzu die Einheitszelle des bekannten Spei
chers. Wie es dort dargestellt ist, verfügt der bekannte
Speicher über Folgendes: eine in einer Richtung ausgebildete
Bitleitung B/L; eine die Bitleitung schneidende Wortleitung
W/L; eine Plattenleitung P/L, die von der Wortleitung beab
standet in derselben Richtung wie diese verläuft; einen
Transistor T1, dessen Gate mit der Wortleitung und dessen
Source mit der Bitleitung verbunden ist; und einen ferro
elektrischen Kondensator FC1, dessen einer Anschluss mit dem
Drain des Transistors T1 und dessen anderer Anschluss mit
der Plattenleitung P/L verbunden ist.
Nachfolgend wird ein Daten-Eingabe/Ausgabe-Vorgang beim be
kannten Speicher und eine Schaltung zum Betreiben desselben
anhand der Fig. 3a und 3b beschrieben, die zeitbezogene Dia
gramme zum Veranschaulichen des Betriebs des Speichers im
Schreib- bzw. Lesemodus sind.
Im Schreibmodus wird ein von außen zugeführtes Chipfreigabe
signal CSBpad vom hohen auf den niedrigen Zustand aktiviert.
Gleichzeitig startet der Schreibmodus, wenn ein Schreibfrei
gabesignal WEBpad vom hohen auf den niedrigen Zustand über
führt wird.
Anschließend wird, wenn ein Adressendecodiervorgang im
Schreibmodus startet, ein an eine entsprechende Wortleitung
angelegter Impuls vom niedrigen in den hohen Zustand über
führt, wodurch eine Zelle ausgewählt wird.
An eine entsprechende Plattenleitung werden ein hohes Signal
in einer bestimmten Periode und ein niedriges Signal in ei
ner bestimmten Periode sequenziell innerhalb einer Periode
angelegt, in der die Wortleitung auf dem hohen Zustand ge
halten wird.
Um den logischen Wert 1 oder 0 in die ausgewählte Zelle ein
zuschreiben, wird ein mit dem Schreibfreigabesignal WEBpad
synchronisiertes hohes oder niedriges Signal an eine ent
sprechende Bitleitung angelegt. Anders gesagt, wird ein ho
hes Signal an die Bitleitung angelegt, und in den ferroelek
trischen Kondensator wird der logische Wert eingeschrieben,
wenn das Signal, das an die Plattenleitung angelegt wird,
innerhalb einer Periode niedrig ist, in der das an die Wort
leitung angelegte Signal hoch ist. Dagegen wird der logische
Wert 0 in den ferroelektrischen Kondensator eingeschrieben,
wenn ein niedriges Signal an die Bitleitung angelegt wird
und das an die Plattenleitung angelegte Signal hoch ist.
Nun wird ein Lesevorgang für den durch den obigen Vorgang im
Schreibmodus in eine Zelle eingespeicherten Datenwert be
schrieben.
Wenn ein von außen zugeführtes Chipfreigabesignal CSBpad vom
hohen in den niedrigen Zustand aktiviert wird, erhalten alle
Bitleitungen dasselbe niedrige, einem Ausgleichssignal ent
sprechende Potenzial, bevor eine entsprechende Wortleitung
ausgewählt wird.
Dann wird die entsprechende Bitleitung inaktiv, und eine
Adresse wird decodiert. In der entsprechenden Wortleitung
wird mittels der decodierten Adresse das niedrige Signal in
ein hohes überführt, wodurch die entsprechende Zelle ausge
wählt wird.
An die Plattenleitung der ausgewählten Zelle wird ein hohes
Signal angelegt, um den dem logischen Wert 1 entsprechenden
Datenwert zu zerstören, der im ferroelektrischen Speicher
gespeichert ist. Wenn dagegen der logische Wert 0 im ferro
elektrischen Speicher gespeichert ist, wird der entsprechen
de Datenwert nicht zerstört.
Der zerstörte Datenwert und der nicht zerstörte Datenwert
werden aufgrund des oben genannten Prinzips der Hysterese
schleife als verschiedene Werte ausgegeben, so dass ein Le
severstärker den logischen Wert 1 oder 0 erfasst.
Anders gesagt, wird, wenn der Datenwert zerstört wird, der
Zustand d in den Zustand f der in Fig. 1 dargestellten Hys
tereseschleife überführt. Wenn der Datenwert nicht zerstört
wird, wird der Zustand a in den Zustand f überführt. So
wird, wenn der Leseverstärker nach dem Verstreichen einer
bestimmten Zeit aktiviert wird, der logische Wert 1 ausgege
ben, wenn der Datenwert zerstört wird, während der logische
Wert 0 ausgegeben wird, wenn der Datenwert nicht zerstört
wird.
Wie oben angegeben, wird, nachdem der Leseverstärker den Da
tenwert ausgegeben hat, die Plattenleitung vom hohen in den
niedrigen Zustand deaktiviert, während ein hohes Signal an
die entsprechende Wortleitung angelegt wird, um den Daten
wert wieder auf den ursprünglichen Datenwert zu bringen.
Nun wird eine bekannte Schaltung zum Betreiben eines Spei
chers im Einzelnen unter Bezugnahme auf das Blockdiagramm
des Speichers in Fig. 4 beschrieben.
Wie es in Fig. 4 dargestellt, verfügt der bekannte Speicher
über einen Hauptwortleitungstreiber 41; ein erstes Zellen
array 43, das auf einer Seite des Hauptwortleitungstreibers
41 ausgebildet ist; einen ersten lokalen Wortleitungstrei
ber 45, der auf einer Seite des ersten Zellenarrays 43 aus
gebildet ist; einen zweiten lokalen Wortleitungstreiber 47,
der auf einer Seite des ersten lokalen Wortleitungstreibers
45 ausgebildet ist; ein zweites Zellenarray 49, das auf ei
ner Seite des zweiten lokalen Wortleitungstreibers 47 ausge
bildet ist; einen ersten lokalen X-Decodierer 51, der im
oberen Teil des ersten lokalen Wortleitungstreibers ausge
bildet ist; und einen zweiten lokalen X-Decodierer, der im
oberen Teil des zweiten lokalen Wortleitungstreibers 47 aus
gebildet ist.
Der erste lokale Wortleitungstreiber 45 erhält Ausgangssi
gnale des Hauptwortleitungstreibers 41 und des ersten loka
len X-Decodierers 51 als Eingangssignale, um eine Wortlei
tung im ersten Zellenarray 43 auszuwählen.
Der zweite lokale Wortleitungstreiber 47 erhält Ausgangssi
gnale des Hauptwortleitungstreibers 41 und des zweiten loka
len X-Decodierers 53 als Eingangssignale, um eine Wortlei
tung im zweiten Zellenarray 49 auszuwählen.
Es ist zu beachten, dass ein Ausgangssignal des Hauptwort
leitungstreibers 41 beim bekannten Speicher als gemeinsames
Eingangssignal für den ersten und zweiten lokalen Wortlei
tungstreiber 45 und 47 verwendet wird.
Demgemäß ist die Auswahl eines Zellenarrays durch Ausgangs
signale des ersten und zweiten lokalen X-Decodierers 51 und
53 bestimmt. D. h., dass das erste oder zweite Zellenarray 43
oder 49 durch Ausgangssignale des ersten und zweiten lokalen
X-Decodierers 51 und 53 ausgewählt wird, um dadurch eine
Wortleitung eines ausgewählten Zellenarrays anzusteuern.
Fig. 5 ist eine detaillierte Teilansicht zu Fig. 4, und sie
veranschaulicht die Auswahl eines Zellenarrays abhängig von
Ausgangssignalen des ersten und zweiten lokalen X-Decodie
rers.
Wie es in Fig. 5 dargestellt ist, ist eine mit dem Haupt
wortleitungstreiber 41 verbundene Hauptwortleitung so ausge
bildet, dass sie den ersten und zweiten lokalen Wortlei
tungstreiber 45 und 47 sowie das erste und zweite Zellen
array 43 und 49 überquert.
Der erste lokale Wortleitungstreiber 45 beinhaltet ein Lo
gikgatter 55 zum Ausführen einer logischen Operation eines
vom Hauptwortleitungstreiber 41 ausgegebenen Signals und ei
nes vom ersten lokalen X-Decodierer 51 ausgegebenen Signals,
die über die Hauptwortleitung übertragen werden.
Der zweite lokale Wortleitungstreiber 47 beinhaltet eben
falls ein Logikgatter 55, das eine logische Operation eines
über die Hauptwortleitung übertragenen und vom Hauptwortlei
tungstreiber 41 ausgegebenen Signals und eines vom zweiten
lokalen X-Decodierer 53 ausgegebenen Signals ausführt.
Das Logikgatter 55 ist ein NAND-Gatter, dessen Ausgangssi
gnal durch die Ausgangssignale des ersten und zweiten loka
len X-Decodierers 51 und 53 unabhängig von Signalen bestimmt
ist, die vom Hauptwortleitungstreiber 41 zugeführt werden.
Wenn z. B. vom Hauptwortleitungstreiber 41 ein hohes Signal
angelegt wird und das Ausgangssignal des ersten lokalen X-
Decodierers 51 niedrig ist und das Ausgangssignal des zwei
ten lokalen X-Decodierers 53 hoch ist, wird das erste Zel
lenarray 43 ausgewählt.
Wenn dagegen das Ausgangssignal des ersten lokalen X-Deco
dierers 51 hoch ist und das Ausgangssignal des zweiten loka
len X-Decodierers 53 niedrig ist, wird das zweite Zellenar
ray 49 ausgewählt.
Wie oben angegeben, wird ein Zellenarray abhängig von Aus
gangssignalen des ersten und zweiten lokalen X-Decodierers
51 und 53 ausgewählt.
Es wird darauf hingewiesen, dass in den Fig. 4 und 5 nur
Teile einer Schaltung zum Betreiben eines Speichers darge
stellt sind und dass eine Anzahl erster und zweiter lokaler
Wortleitungstreiber 45 und 47, erster und zweiter Zellenar
rays 43 und 49 sowie erster und zweiter lokaler X-Decodie
rer 51 und 53 existiert.
Bei diesem bekannten Speicher bestehen verschiedene Proble
me. Da nämlich zwei lokale X-Decodierer benötigt werden, um
das linke oder rechte Zellenarray auszuwählen, ist die durch
die lokalen X-Decodierer belegte Fläche groß. Es ist jedoch
erwünscht, dass der lokale X-Decodierer einhergehend mit der
Tendenz zu höherer Integrationsdichte weniger Fläche belegt,
wobei eine größere Fläche auch zu Verzögerungen führt. Im
Ergebnis ist beim bekannten Speicher nicht nur die belegte
Fläche groß, sondern es ist auch die Zugriffsgeschwindigkeit
niedrig, wodurch die Betreibbarkeit des Bauteils verringert
ist. Wegen des genannten Layouts ist auch eine Erhöhung der
Integrationsdichte des Bauteils schwierig.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen nichtflüch
tigen ferroelektrischen Speicher und eine Schaltung zum Be
treiben desselben anzugeben, die zu verringerter Chipgröße
führen.
Diese Aufgabe ist durch den Speicher gemäß dem beigefügten
Anspruch 1 und durch die Schaltung gemäß dem beigefügten An
spruch 15 gelöst.
Zusätzliche Merkmale und Aufgaben der Erfindung werden in
der folgenden Beschreibung dargelegt und gehen teilweise aus
dieser hervor, ergeben sich aber andererseits auch beim Aus
üben der Erfindung. Die Aufgaben und andere Vorteile der Er
findung werden durch die Maßnahmen erzielt, wie sie speziell
in der Beschreibung, den Ansprüchen und den beigefügten
Zeichnungen dargelegt sind.
Es ist zu beachten, dass sowohl die vorstehende allgemeine
Beschreibung als auch die folgende detaillierte Beschreibung
beispielhaft und erläuternd für die beanspruchte Erfindung
sind.
Die Zeichnungen, die beigefügt sind, um das Verständnis der
Erfindung zu fördern, veranschaulichen Ausführungsbeispiele
der Erfindung und dienen zusammen mit der Beschreibung dazu,
deren Prinzipien zu erläutern.
Fig. 1 zeigt die Hystereseschleife eines üblichen Ferroelek
trikums;
Fig. 2 ist eine schematische Darstellung einer Einheitszelle
eines bekannten Speichers;
Fig. 3a und 3b sind zeitbezogene Diagramme zum Veranschauli
chen des Betriebs eines Speichers und einer Schaltung zum
Betreiben desselben im Schreib- bzw. Lesemodus;
Fig. 4 ist ein Blockdiagramm des bekannten Speichers und ei
ner Schaltung zum Betreiben desselben mit 1T/1C-Struktur;
Fig. 5 ist eine schematische Darstellung des Zellenarrays
eines bekannten Speichers und einer Schaltung zum Betreiben
desselben;
Fig. 6 ist eine schematische Darstellung der Einheitszelle
eines Speichers und einer Schaltung zum Betreiben desselben
gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 7 ist ein Schaltbild zum groben Veranschaulichen eines
Speichers gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 8 ist ein zeitbezogenes Diagramm zum Veranschaulichen
des Betriebs des Speichers gemäß dem Ausführungsbeispiel;
Fig. 9 ist ein Blockdiagramm der Struktur des Speichers ge
mäß dem Ausführungsbeispiel;
Fig. 10a und 10b zeigen eine jeweilige Schaltung zum Betrei
ben eines Speichers gemäß Ausführungsbeispielen; und
Fig. 11 ist eine schematische Darstellung der Struktur eines
Speichers gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Nun wird im Einzelnen auf die bevorzugten Ausführungsformen
der Erfindung Bezug genommen, zu denen Beispiele in den bei
gefügten Zeichnungen veranschaulicht sind.
Wie es in der schematischen Darstellung der Fig. 6 betref
fend die Einheitszelle eines Speichers gemäß dem Ausfüh
rungsbeispiel dargestellt ist, verfügt diese über eine erste
und eine zweite Teilwortleitung SWL1 und SWL2, die in Zei
lenrichtung mit einem bestimmten gegenseitigen Intervall an
geordnet sind; eine erste und eine zweite Bitleitung B/L1
und B/L2, die die erste und zweite Teilwortleitung SWL1 und
SWL2 schneidend ausgebildet sind; einen ersten Transistor
T1, dessen Gate mit der ersten Teilwortleitung SWL1 verbun
den ist und dessen Drain mit der ersten Bitleitung B/L1 ver
bunden ist; einen ersten ferroelektrischen Kondensator FC1,
der zwischen die Source des ersten Transistors T1 und die
zweite Teilwortleitung SWL2 geschaltet ist; einen zweiten
Transistor T2, dessen Gate mit der zweiten Teilwortleitung
SWL2 verbunden ist und dessen Drain mit der zweiten Bitlei
tung B/L2 verbunden ist; und einen zweiten ferroelektrischen
Kondensator FC2, der zwischen die Source des zweiten Tran
sistors T2 und die erste Teilwortleitung SWL1 geschaltet
ist.
Eine Anzahl von Einheitszellen bildet einen Speicher, wie es
in Fig. 7 dargestellt ist. Hinsichtlich der Datenstruktur
bilden zwei Transistoren (2C) und zwei ferroelektrische
Kondensatoren (2C) eine Einheitszelle (2T/2C). Hinsichtlich
der Datenspeicherung bilden ein Transistor (1T) und ein fer
roelektrischer Kondensator (1C) eine Einheitszelle (1T/1C).
Nun wird der Betrieb dieses Speichers gemäß Fig. 7 erläu
tert. Bei ihm ist eine Anzahl von Teilwortleitungspaaren mit
jeweils einer ersten und einer zweiten Teilwortleitung SWL1
und SWL2 in Zeilenrichtung ausgebildet. Eine Anzahl von Bit
leitungen B/Ln1 und B/Ln2 sind die Teilwortleitungspaare
schneidend ausgebildet, wobei jeweils zwei benachbarte Bit
leitungen ein Paar bilden. Zwischen den jeweiligen Bitlei
tungen auf den beiden Seiten sind Leseverstärker SA ausge
bildet, die über die Bitleitungen übertragene Daten erfassen
und diese an eine Datenleitung GL oder eine inverse Daten
leitung /DL übertragen.
Dabei sind ferner ein Leseverstärker-Aktivierungsabschnitt
und ein Auswählschaltabschnitt CS vorhanden. Der Lesever
stärker-Aktivierungsabschnitt gibt ein Leseverstärker-Akti
vierungssignal SEN zum Aktivieren der Leseverstärker SA aus,
und der Auswählschaltabschnitt CS wählt auf selektive Weise
Bitleitungen und Datenleitungen aus.
Nun wird der Betrieb des Speichers des Ausführungsbeispiels
unter Bezugnahme auf das zeitbezogene Diagramm in Fig. 8 be
schrieben.
Eine Periode T0 in Fig. 8 ist eine solche vor dem Aktivieren
der ersten und zweiten Teilwortleitung SWL1 und SWL2 auf
hoch (H). In dieser Periode T0 werden alle Bitleitungen auf
einen bestimmten Pegel vorab aufgeladen.
T1 ist eine Periode, in der die ersten und zweiten Teilwort
leitungen SWL1 und SWL2 alle auf H sind. In dieser Periode
T1 wird der Datenwert im ferroelektrischen Kondensator einer
Hauptzelle auf die Hauptbitleitung übertragen, wodurch sich
der Bitleitungspegel ändert.
Dabei wird im Fall eines ferroelektrischen Kondensators mit
dem logischen Wert hoch die Polarität des Ferroelektrikums
zerstört, da elektrische Felder mit entgegengesetzten Pola
ritäten an die Bitleitung und die Teilwortleitung angelegt
werden, wodurch ein starker Strom fließt, der zu einer hohen
Spannung an der Bitleitung führt.
Dagegen wird im Fall eines ferroelektrischen Kondensators
mit dem logischen Wert niedrig die Polarität des Ferroelek
trikums nicht zerstört, da elektrische Felder derselben Po
larität an die Bitleitung und die Teilwortleitung angelegt
werden, wodurch ein schwacher Strom fließt, der zu einer
niedrigen Spannung an der Bitleitung führt.
Wenn der Zellendatenwert ausreichend auf die Bitleitung ge
laden ist, wird das Leseverstärker-Aktivierungssignal SEN
auf hoch überführt, um den Leseverstärker zu aktivieren. Im
Ergebnis wird der Bitleitungspegel verstärkt.
Indessen kann der logische Datenwert H in der Zelle mit zer
störter Polarität nicht wiederhergestellt werden, während
die erste und zweite Teilwortleitung SWL1 und SWL2 auf hoch
liegen; jedoch kann er in Perioden T2 und T3 wiederherge
stellt werden.
In der Periode T2 wird die erste Teilwortleitung SWL1 auf
niedrig überführt, die zweite Teilwortleitung SWL2 wird im
hohen Zustand gehalten und der zweite Transistor T2 wird
eingeschaltet. Dabei wird, wenn die entsprechende Bitleitung
hoch ist, ein hoher Datenwert an eine Elektrode des zweiten
ferroelektrischen Kondensators FC2 übertragen, wodurch der
logische Wert 1 zwischen dem niedrigen Pegel der ersten
Teilwortleitung SWL1 und dem hohen Pegel der Bitleitung wie
derhergestellt wird.
In der Periode T3 wird die erste Teilwortleitung SWL1 auf
hoch überführt, die zweite Teilwortleitung SWL2 wird auf
niedrig überführt und der erste Transistor T1 wird einge
schaltet. Dabei wird, wenn die entsprechende Bitleitung hoch
ist, ein hoher Datenwert an eine Elektrode des ersten ferro
elektrischen Kondensators FC1 übertragen, wodurch der logi
sche Wert zwischen dem niedrigen Pegel der zweiten Teilwort
leitung SWL2 und dem hohen Pegel der Bitleitung wiederherge
stellt wird.
Nun wird dieser Speicher anhand des Blockdiagramms der Fig.
4 zur Struktur desselben detaillierter erläutert.
Wie es in Fig. 9 dargestellt ist, verfügt dieser Speicher
über Folgendes: einen Hauptwortleitungstreiber 91; ein ers
tes Zellenarray 93, das auf einer Seite des Hauptwortlei
tungstreibers ausgebildet ist und aus einer Anzahl von Un
terzellenarrays besteht; einen ersten lokalen Wortleitungs
treiber 95, der auf einer Seite des ersten Zellenarrays 93
ausgebildet ist und aus einer Anzahl lokaler Wortleitungs
treiber besteht; einen zweiten lokalen Wortleitungstreiber
97, der auf einer Seite des ersten lokalen Wortleitungstrei
bers 95 ausgebildet ist und aus einer Anzahl lokaler Wort
leitungstreiber besteht; ein zweites Zellenarray 99, das auf
einer Seite des zweiten lokalen Wortleitungstreibers 97 aus
gebildet ist und aus einer Anzahl Unterzellenarrays besteht;
und einen lokalen X-Decodierer 100, der entweder über oder
unter dem ersten und zweiten lokalen Wortleitungstreiber 95
und 97 ausgebildet ist.
Der Hauptwortleitungstreiber 91 gibt ein erstes Steuersignal
C1 aus, das bestimmt, ob der erste lokale Wortleitungstrei
ber 95 aktiviert wird oder nicht, und er gibt ein zweites
Steuersignal C2 aus, das bestimmt, ob der zweite lokale
Wortleitungstreiber 97 aktiviert wird oder nicht.
Dabei weisen das erste Steuersignal C1 und das zweite Steu
ersignal C2 entgegengesetzte Phasen auf. Demgemäß ist das
zweite Steuersignal C2 nicht aktiv, wenn das erste Steuersi
gnal C1 aktiv ist, und umgekehrt.
Das erste und das zweite Zellenarray 93 und 99 bestehen aus
Unterzellenarrays, in denen eine Anzahl von Einheitszellen
mit 2T/2C-Einheit ausgebildet sind.
Der lokale X-Decodierer 100 gibt eine Anzahl von Ansteue
rungssignalen aus, die der Anzahl der jedes Zellenarray bil
denden Teilwortleitungspaare entspricht, und dieses Ansteue
rungssignal wird gemeinsam in den ersten und zweiten lokalen
Wortleitungstreiber 95 und 97 eingegeben.
Der Hauptwortleitungstreiber 91 aktiviert entweder den ers
ten oder den zweiten lokalen Wortleitungstreiber 95 oder 97.
Der durch den Wortleitungstreiber 91 ausgewählte lokale
Wortleitungstreiber wird aktiviert, um das vom lokalen X-
Decodierer ausgegebene Ansteuerungssignal an die Teilwort
leitungspaare eines gewünschten Zellenarrays zu übertragen.
Indessen zeigt Fig. 10a eine Treiberschaltung eines Spei
chers gemäß einem Ausführungsbeispiel, wobei einer von meh
reren lokalen Wortleitungstreibern dargestellt ist, die den
ersten lokalen Wortleitungstreiber aufbauen.
Wie es in Fig. 10a dargestellt ist, weist ein lokaler Wort
leitungstreiber Folgendes auf: einen ersten Schaltabschnitt
95a, der aus einer Anzahl von NMOS-Transistoren besteht, die
in Zeilenrichtung miteinander verbunden sind und deren
Drains das vom Hauptwortleitungstreiber ausgegebene erste
Steuersignale C1 empfangen; einen zweiten Schaltabschnitt
95b, der aus einer Anzahl von NMOS-Transistoren besteht,
deren Gates mit den Sources der mehreren den ersten Schalt
abschnitt 95a bildenden NMOS-Transistoren verbunden sind und
an deren Drains das von einem lokalen X-Decodierer ausgege
bene Ansteuerungssignal angelegt wird; und einen Pull-down-
Abschnitt 95c, der aus einer Anzahl von NMOS-Transistoren
besteht, an deren Drains das vom Hauptwortleitungstreiber
ausgegebene erste Steuersignal C1 angelegt wird und deren
Sources mit den Sources der mehreren den zweiten Schaltab
schnitt 95b bildenden NMOS-Transistoren verbunden sind.
Dabei sind die Sources der mehreren den zweiten Schaltab
schnitt bildenden NMOS-Transistoren sequenziell mit den ers
ten und zweiten Teilwortleitungspaaren verbunden.
Nun wird die Funktion des auf die eben beschriebene Weise
aufgebauten lokalen Wortleitungstreibers beschrieben.
Wenn das vom Hauptwortleitungstreiber ausgegebene erste
Steuersignal C1 ein niedriges Signal ist, wird dieses über
die den ersten Schaltabschnitt 95a bildenden NMOS-Transisto
ren an die Gates der den zweiten Schaltabschnitt 95b bilden
den NMOS-Transistoren übertragen. Dadurch wird die Anzahl
der den zweiten Schaltabschnitt 95b bildenden NMOS-Transis
toren ausgeschaltet und die Teilwortleitungspaare befinden
sich in einem potentialungebundenen Zustand, da das vom lo
kalen X-Decodierer ausgegebene Ansteuerungssignal nicht an
die Teilwortleitungspaare übertragen werden kann.
Dabei wird, da die Drains der den Pull-down-Abschnitt 95b
bildenden NMOS-Transistoren das vom Hauptwortleitungstreiber
ausgegebene niedrige Signal empfangen, die ungebundene Span
nung der Teilwortleitungspaare zu den Drains der NMOS-Tran
sistoren im Pull-down-Abschnitt 95c umgeleitet.
Dagegen wird, wenn das vom Hauptwortleitungstreiber ausgege
bene erste Steuersignal C1 ein hohes Signal ist, dieses über
die NMOS-Transistoren des ersten Schaltabschnitts 95a an die
Gates der NMOS-Transistoren des zweiten Schaltabschnitts 95b
übertragen. Demgemäß wird die Anzahl der den zweiten Schalt
abschnitt 95b bildenden NMOS-Transistoren eingeschaltet, um
dadurch das vom lokalen X-Decodierer 100 ausgegebene An
steuerungssignal an die Teilwortleitungspaare zu übertragen.
Dabei legt der lokale X-Decodierer 100 ein Aktivsignal an
irgendein Paar von Teilwortleitungen an, während er an die
restlichen Paare ein Inaktivsignal anlegt. D. h., dass der
ein Ansteuerungssignal an die Gates der NMOS-Transistoren
des zweiten Schaltabschnitts 95b an ausgebende lokale X-De
codierer 100 ein Aktivsignal (ein hohes Signal) nur an die
Gates eines Paars von NMOS-Transistoren anlegt, während er
an die restlichen Paare ein Inaktivsignal (niedriges Signal)
anlegt.
Indessen wird ein über den Pull-down-Abschnitt übertragenes
hohes Signal an die Sources der den zweiten Schaltabschnitt
95b bildenden NMOS-Transistoren übertragen und am Hauptwort
leitungstreiber ausgegeben.
Demgemäß wird an jede Source der den zweiten Schaltabschnitt
95b bildenden NMOS-Transistoren ein hohes Signal angelegt,
wobei alle Signale auf hohem Pegel an die Teilwortleitungs
paare angelegt werden können.
Jedoch kann, da das vom lokalen X-Decodierer 100 ausgegebene
hohe Signal an die Drains nur eines Paar von NMOS-Transisto
ren unter der Anzahl von den zweiten Schaltabschnitt 95b
bildenden NMOS-Transistoren angelegt wird, während an die
restlichen Transistoren ein niedriges Signal angelegt wird,
das über den Pull-down-Abschnitt 95c an die Sources der
NMOS-Transistoren des zweiten Schaltabschnitts 95b angelegte
hohe Signal nicht an die Teilwortleitungspaare angelegt wer
den, sondern es wird über die NMOS-Transistoren des zweiten
Schaltabschnitts 95b, deren Drains ein niedriges Signal emp
fangen, zum lokalen X-Decodierer 100 umgeleitet.
Fig. 10b entspricht Fig. 10a, veranschaulicht jedoch einen
lokalen Wortleitungstreiber, der den zweiten lokalen Wort
leitungstreiber, statt den ersten, aufbaut.
Während gemäß Fig. 10a das vom Hauptwortleitungstreiber aus
gegebene erste Steuersignal C1 an die Drains der den ersten
Schaltabschnitt 95a und den Pull-down-Abschnitt 95c bilden
den NMOS-Transistoren angelegt wird, wird gemäß Fig. 10b das
zweite Steuersignal C2 an diese Drains angelegt.
Außerdem wird, im ersten und zweiten Zellenarray, ein Paar
Teilwortleitungen innerhalb irgendeines Unterzellenarrays
mehrerer das erste Zellenarray bildenden Unterzellenarrays
ausgewählt, wie in Fig. 10a dargestellt, und ein Paar Teil
wortleitungen wird innerhalb irgendeines Unterzellenarrays
einer Anzahl von das zweite Zellenarray bildenden Unterzel
lenarrays ausgewählt, wie in Fig. 10b dargestellt.
Das Verfahren zum Betreiben des zweiten lokalen Wortlei
tungstreiber ist dasselbe wie das zum Betreiben des ersten
lokalen Wortleitungstreibers, das anhand der Fig. 10a veran
schaulicht wurde, weswegen hier eine erneute Beschreibung
weggelassen wird.
Das in Fig. 11 veranschaulichte Ausführungsbeispiels eines
erfindungsgemäßen Speichers weist Folgendes auf: einen
Hauptwortleitungstreiber 91 zum Ausgeben eines ersten Steu
ersignals C1, das bestimmt, ob der erste lokale Wortlei
tungstreiber 95 aktiviert wird oder nicht, und eines zweiten
Steuersignals C2, das bestimmt, ob der zweite lokale Wort
leitungstreiber 97 aktiviert wird oder nicht; ein erstes und
ein zweites Zellenarray 93 und 99, die aus einer Anzahl von
Unterzellenarrays bestehen; einen ersten Schaltabschnitt
95a, der aus einer Anzahl lokaler Wortleitungstreiber 95_1,
95_2, . . ., 95_n auf einer Seite des ersten Zellenarrays 93
besteht, um das erste Steuersignal C1 zu schalten; einen
zweiten Schaltabschnitt 95b zum Übertragen eines Ansteue
rungssignals an irgendein Zellenarray innerhalb des ersten
Zellenarrays 93 entsprechend dem Ausgangssignal des ersten
Schaltabschnitts 95a; einen ersten lokalen Wortleitungstrei
ber 95 mit einem Pull-down-Abschnitt 95c zum Ableiten einer
potenzialungebundenen Spannung von Teilwortleitungspaaren
eines entsprechenden Zellenarrays; einen ersten Schaltab
schnitt 97a aus einer Anzahl lokaler Wortleitungstreiber
97_1, 97_2, . . ., 97_N auf einer Seite des ersten lokalen
Wortleitungstreibers 95 zum Schalten des zweiten Steuersi
gnals C2; einen zweiten Schaltabschnitt 97b zum Übertragen
eines Ansteuerungssignals an irgendein Zellenarray innerhalb
des zweiten Zellenarrays 99 entsprechend dem Ausgangssignal
des ersten Schaltabschnitts 97a, einen zweiten lokalen Wort
leitungstreiber 97 mit einem Pull-down-Abschnitt 97c zum
Ableiten einer potentialungebundenen Spannung von Teilwort
leitungspaaren des entsprechenden Zellenarrays; und einen
lokalen X-Decodierer 100 zum gemeinsamen Anlegen eines An
steuerungssignals an den ersten und zweiten lokalen Wortlei
tungstreiber 95 und 97.
Jeder lokale Wortleitungstreiber, wie er den ersten und
zweiten lokalen Wortleitungstreiber 95 und 97 aufbaut, weist
dieselbe Struktur auf, wobei jedoch durch das erste Steuer
signal C1 bestimmt wird, ob der erste lokale Wortleitungs
treiber 95 aktiviert wird oder nicht und durch das zweite
Steuersignal C2 bestimmt wird, ob der zweite lokale Wortlei
tungstreiber 97 aktiviert wird oder nicht.
Das erste Zellenarray 93 verfügt über soviele Zellenarrays
wie lokale Wortleitungstreiber vorhanden sind, die den ers
ten lokalen Wortleitungstreiber 95 aufbauen.
In entsprechender Weise, besteht das zweite Zellenarray 99
aus sovielen Zellenarrays wie lokale Wortleitungstreiber
vorhanden sind, die den zweiten lokalen Wortleitungstreiber
97 aufbauen.
Jedes Zellenarray besteht aus einer Anzahl von Teilwortlei
tungspaaren und Bitleitungen, die die Teilwortleitungspaare
schneidend ausgebildet sind. Jedes Teilwortleitungspaar und
jede Bitleitung bildet eine Zelle.
Das erste Zellenarray 93 besteht aus einer Anzahl von Unter
zellenarrays 93_1, 93_2, . . ., 93_N, und auch das zweite Zel
lenarray 99 besteht aus einer Anzahl von Unterzellenarrays
99_1, 99_2, . . ., 99_N.
Jedoch verfügen die die zweiten Schaltabschnitte 95b und 97b
bildenden NMOS-Transistoren über größeres Ansteuerungsvermö
gen als die die ersten Schaltabschnitt 95a und 97a sowie die
Pull-down-Abschnitte 95c und 97c bildenden NMOS-Transisto
ren.
Dabei ist die Anzahl der die ersten Schaltabschnitte 95a und
97a, die zweiten Schaltabschnitte 95b und 97b sowie die
Pull-down-Abschnitte 95c und 97c bildenden NMOS-Transistoren
durch die Anzahl der Teilwortleitungspaare bestimmt.
D. h., dass dann, wenn n Teilwortleitungspaare vorhanden
sind, 2n NMOS-Transistoren vorliegen, die die genannten Ab
schnitte 95a, 97a, 95b, 97b, 95c und 97c aufbauen.
Nun wird der Betrieb des Speichers mit dieser Struktur im
Einzelnen erläutert.
Wenn sich eine auszuwählende Zelle im ersten Zellenarray 93
befindet, gibt der Hauptwortleitungstreiber 91 das erste
Steuersignal C1 auf auf hohem Pegel aus, und er gibt das
zweite Steuersignal C2 auf niedrigem Pegel aus.
Dadurch wird der erste lokale Wortleitungstreiber 95 akti
viert, und er überträgt ein vom lokalen X-Decodierer 100
ausgegebenes Ansteuerungssignal an ein entsprechendes Teil
wortleitungspaar des entsprechenden Zellenarrays im ersten
Zellenarray 93.
Wenn sich dagegen die auszuwählende Zelle im zweiten Zellen
array 99 befindet, gibt der Hauptwortleitungstreiber 91 das
zweite Steuersignal C2 auf hohem Pegel aus, und er gibt das
erste Steuersignal C1 auf niedrigem Pegel aus.
Demgemäß wird der zweite lokale Wortleitungstreiber 97 akti
viert, und er überträgt ein vom lokalen X-Decodierer 100
ausgegebenes Ansteuerungssignal an ein entsprechendes Teil
wortleitungspaar im entsprechenden Zellenarray im zweiten
Zellenarray 99.
Wenn z. B. das vom Hauptwortleitungstreiber 91 ausgegebene
erste Steuersignal C1 ein hohes Signal ist, wird der ent
sprechende lokale Wortleitungstreiber im ersten lokalen
Wortleitungstreiber 95 aktiviert.
D. h., dass das erste Steuersignal C1 an die Drains der den
ersten Schaltabschnitt 95a im entsprechenden lokalen Wort
leitungstreiber im ersten lokalen Wortleitungstreiber 95
bildenden NMOS-Transistoren übertragen wird.
Dabei wird, da die den ersten Schaltabschnitt 95a bildenden
NMOS-Transistoren durch eine Versorgungsspannung VCC immer
eingeschaltet gehalten werden, über diesen ersten Schaltab
schnitt 95a ein hohes Steuersignal an jedes Gate der den
zweiten Schaltabschnitt 95b bildenden NMOS-Transistoren
übertragen.
Außerdem wird das hohe erste Steuersignal auch an die Drains
der den Pull-down-Abschnitt 95a bildenden NMOS-Transistoren
übertragen.
Anschließend wird, wenn den zweiten Schaltabschnitt 95b bil
dende NMOS-Transistoren durch ein an ihre Gates übertragenes
hohes Signal eingeschaltet werden, ein vom lokalen X-Deco
dierer 100 ausgegebenes Ansteuerungssignal an die Sources
der den zweiten Schaltabschnitt 95b bildenden NMOS-Transis
toren übertragen.
Dabei gibt der lokale X-Decodierer 100 ein hohes Signal nur
an ein Paar Teilwortleitungen aus, und an die restlichen
Paare gibt er ein niedriges Signal aus.
Demgemäß wird das über die Pull-down-NMOS-Transistoren über
tragene erste Steuersignal zum lokalen X-Decodierer 100 um
geleitet, der ein niedriges Signal ausgibt.
D. h., dass ein beliebiges Paar der Anzahl der den zweiten
Schaltabschnitt 95b bildenden NMOS-Transistoren das hohe
Signal an die entsprechende Teilwortleitung überträgt, wäh
rend die restlichen NMOS-Transistoren das über den Pull-
down-Abschnitt 95c übertragene hohe Signal an den lokalen X-
Decodierer 100 umleiten.
Indessen wird der zweite lokale Wortleitungstreiber 97 akti
viert, wenn das erste Steuersignal ein niedriges Signal ist,
und eine gewünschte Zelle wird auf dieselbe Weise wie dann
ausgewählt, wenn der erste lokale Wortleitungstreiber 95 ak
tiviert wird.
Wenn das erste Steuersignal C1 ein niedriges Signal ist, ge
langt das mit dem inaktiven ersten lokalen Wortleitungstrei
ber 95 verbundene Teilwortleitungspaar in den potenzialunge
bundenen Zustand.
D. h., dass das erste Steuersignal C1 auf niedrigem Pegel an
die Gates der den zweiten Schaltabschnitt 95b bildenden
NMOS-Transistoren über die NMOS-Transistoren des ersten
Schaltabschnitts 95a übertragen wird.
Demgemäß werden die den zweiten Schaltabschnitt 95b bilden
den NMOS-Transistoren ausgeschaltet gehalten, und da das
niedrige erste Steuersignal an die Drains der den Pull-
down-Abschnitt 95c bildenden NMOS-Transistoren übertragen
wird, wird die potentialungebundene Spannung des Teilwort
leitungspaars über jeden NMOS-Transistor des Pull-down-Ab
schnitts 95c abgeleitet.
Auf diese Weise kann die potentialungebundene Spannung unter
Verwendung des Pull-down-Abschnitts 95c abgeleitet werden,
wenn sich Teilwortleitungspaare eines nicht ausgewählten
Zellenarrays im potentialungebundenen Zustand befinden.
Wie erläutert, verfügt der erfindungsgemäße Speicher über
die folgenden Vorteile:
- - Erstens kann die Chipgröße minimiert werden, da der lokale Wortleitungstreiber nur aus NMOS-Transistoren besteht.
- - Zweitens kann, da die potentialungebundene Spannung von Teilwortleitungspaaren eines nicht ausgewählten Zellenarrays abgeleitet wird, die Datenlesegenauigkeit entsprechend der potenzialungebundenen Spannung verbessert werden, wenn in einem späteren Prozess ein Zellenarray ausgewählt wird.
- - Drittens kann die Zugriffsgeschwindigkeit durch eine Über tragungscharakteristik ohne Spannungsabfall Vtn verbessert werden, und es wird ein hohes Treibervermögen erzielt.
Claims (20)
1. Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher mit:
- - einem ersten und einem zweiten Zellenarray (93, 99), die aus einer Anzahl von Unterzellenarrays bestehen;
- - einem lokalen X-Decodierer (100) zum Ausgeben eines An steuerungssignals zum Ansteuern des ersten und zweiten Zel lenarrays;
- - einem ersten lokalen Wortleitungstreiber (95) zum selekti ven Anlegen des vom lokalen X-Decodierer ausgegebenen An steuerungssignals an das erste Zellenarray;
- - einem zweiten lokalen Wortleitungstreiber (97) zum selek tiven Anlegen des vom lokalen X-Decodierer ausgegebenen An steuerungssignals an das zweite Zellenarray; und
- - einem Hauptwortleitungstreiber (91) zum Ausgeben eines ersten Steuersignals, das bestimmt, ob der erste lokale Wortleitungstreiber aktiviert wird oder nicht, und eines zweiten Steuersignals, das bestimmt, ob der zweite lokale Wortleitungstreiber aktiviert wird oder nicht.
2. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
das erste und das zweite Steuersignal (C1, C2) einander ent
gegengesetzte Phasen aufweisen.
3. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
der erste und der zweite lokale Wortleitungstreiber (95, 97)
aus so vielen lokalen Wortleitungstreibern bestehen, wie Un
terzellenarrays vorhanden sind, die das erste und zweite
Zellenarray (93, 99) aufbauen.
4. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
der Hauptwortleitungstreiber (91) mindestens einen der An
zahl lokaler Wortleitungstreiber aktiviert, die den ersten
oder zweiten lokalen Wortleitungstreiber (95, 97) aufbauen.
5. Speicher nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass
jede ein Unterzellenarray aufbauende Zelle Folgendes auf
weist:
- - eine erste und eine zweite Teilwortleitung (SWL1, SWL2), die in Zeilenrichtung mit einem bestimmten gegenseitigen In tervall angeordnet sind;
- - eine erste und eine zweite Bitleitung (B/L1, B/L2), die die erste und zweite Teilwortleitung schneidend mit einem bestimmten gegenseitigen Intervall angeordnet sind;
- - einen ersten Transistor (T1), dessen Drain mit der ersten Bitleitung und dessen Gate mit der ersten Teilwortleitung verbunden ist;
- - einen ersten ferroelektrischen Kondensator (FC1), der zwi schen der Source des ersten Transistors und der zweiten Teilwortleitung ausgebildet ist;
- - einen zweiten Transistor (T2), dessen Drain mit der zwei ten Bitleitung und dessen Gate mit der zweiten Teilwortlei tung verbunden ist; und
- - einen zweiten ferroelektrischen Kondensator (FC2), der zwischen der Source des zweiten Transistors und der ersten Teilwortleitung ausgebildet ist.
6. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
der lokale X-Decodierer (100) an mindestens ein Unterzellen
array einer Anzahl von Unterzellenarrays, die das erste und
zweite Zellenarray (93, 99), bilden, ein Ansteuerungssignal
anlegt.
7. Speicher nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass
die Anzahl lokaler Wortleitungstreiber jeweils Folgendes
aufweist:
- - erste Schaltabschnitt (95a, 97a) zum Schalten eines Aus gangssignals des Hauptwortleitungstreibers;
- - zweite Schaltabschnitte (95b, 97b), die durch das Aus gangssignal des ersten Schaltabschnitts gesteuert werden, um ein vom lokalen X-Decodierer (100) ausgegebenes Ansteue rungssignal zu schalten; und
- - Pull-down-Abschnitte (95c, 97c), die zwischen einem Ein gangsanschluss eines ersten Schaltabschnitts und einem Aus gangsanschluss des zweiten Schaltabschnitts ausgebildet sind, um eine potentialungebundene Spannung der ersten und zweiten Teilwortleitungen abzuleiten, wenn das Ausgangssi gnals des Hauptwortleitungstreibers (91) ein niedriges Si gnal ist.
8. Speicher nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass
die ersten Schaltabschnitte (95a, 97a) aus einer Anzahl von
NMOS-Transistoren in einer Reihe bestehen, wobei die Drains
gemeinsam das Ausgangssignals des Hauptwortleitungstreibers
(91) empfangen.
9. Speicher nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass
die zweiten Schaltabschnitte (95b, 97b) aus einer Anzahl von
NMOS-Transistoren in einer Reihe bestehen, deren Drains ein
vom lokalen X-Decodierer (100) ausgegebenes Ansteuerungssi
gnal empfangen und deren Gates ein Ausgangssignal der mehre
ren den ersten Schaltabschnitt bildenden NMOS-Transistoren
empfangen.
10. Speicher nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass
der lokale X-Decodierer (100) nur ein Signal zum Anlegen an
diejenigen ersten und zweiten Teilwortleitungen, die auszu
wählen sind, in einem Aktivzustand ausgibt, während er die
restlichen Signale in einem Inaktivzustand ausgibt.
11. Speicher nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass
die Pull-down-Abschnitte (95c, 97c) aus einer Anzahl von
NMOS-Transistoren in einer Reihe bestehen, deren Drains ge
meinsam ein Ausgangssignal des Hauptwortleitungstreibers
(91) empfangen.
12. Speicher nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass
die Anzahl der die zweiten Schaltabschnitte (95b, 97b) bil
denden NMOS-Transistoren ein größeres Treibervermögen als
diejenigen NMOS-Transistoren aufweisen, die die ersten
Schaltabschnitte (95a, 97a) und die Pull-down-Abschnitte
(95c, 97c) bilden.
13. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
dann, wenn das erste vom Hauptwortleitungstreiber (91) aus
gegebene Steuersignal ein aktives Signal ist, der erste lo
kale Wortleitungstreiber (95) aktiviert wird und der zweite
lokale Wortleitungstreiber (97) deaktiviert wird.
14. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
dann, wenn das erste Steuersignal ein hohes Signal ist, der
erste und der zweite Schaltabschnitt (95a, 95b) und der
Pull-down-Abschnitt (95c) eingeschaltet werden und ein hohes
Signal, das über den Pull-down-Abschnitt an einen Ausgangs
anschluss des zweiten Schaltabschnitts übertragen wird, an
den lokalen X-Decodierer (100) abgeleitet wird, der ein
niedriges Signal an nichtausgewählte erste und zweite Teil
wortleitungen anlegt.
15. Schaltung zum Betreiben eines nichtflüchtigen ferro
elektrischen Speichers, der eine Anzahl lokaler Wortlei
tungstreiber aufweist und mit einem solchen lokalen Wortlei
tungstreiber versehen ist, der ein Ausgangssignal eines lo
kalen X-Decodierers und ein Ansteuerungssignal eines Haupt
wortleitungstreibers an ein Teilwortleitungspaar eines ent
sprechenden Zellenarrays anlegt, mit:
- - ersten Schaltabschnitten (95a, 97a), die aus einer Anzahl von NMOS-Transistoren in einer Reihe bestehen, deren Drains gemeinsam ein Ausgangssignal des Hauptwortleitungstreibers empfangen und deren Gates eine Versorgungsspannung empfan gen;
- - zweiten Schaltabschnitten (95b, 97b) aus einer Anzahl von NMOS-Transistoren in einer Reihe, deren Drains eine Anzahl von vom lokalen X-Decodierer ausgegebenen Ausgangssignalen empfangen und deren Gates mit den Sources der NMOS-Transis toren des ersten Schaltabschnitts verbunden sind; und
- - einen Pull-down-Abschnitt mit einer Anzahl von NMOS-Tran sistoren in einer Reihe, deren Drains gemeinsam ein Aus gangssignal des Hauptwortleitungstreibers empfangen und de ren Sources mit den Sources der NMOS-Transistoren der zwei ten Schaltabschnitte verbunden sind, um eine potentialunge bundene Spannung der ersten und zweiten Teilwortleitungen abzuleiten, wenn das Ausgangssignal des Hauptwortleitungs treibers ein niedriges Signal ist.
16. Schaltung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
dass die Anzahl der die zweiten Schaltabschnitte (95b, 97b)
bildenden NMOS-Transistoren aufeinanderfolgende Paare bil
den, wobei ein Paar Teilwortleitungen (erste und zweite
Wortleitungen) mit jedem Paar von NMOS-Transistoren verbun
den ist.
17. Schaltung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
dass die NMOS-Transistoren der zweiten Schaltabschnitte
(95b, 97b) ein größeres Treibervermögen als diejenigen der
ersten Schaltabschnitte (95a, 97a) und der Pull-down-Ab
schnitte (95c, 97c) aufweisen.
18. Schaltung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
dass der lokale X-Decodierer (100) ein an die erste und
zweite Teilwortleitung, die auszuwählen sind, ein Signal in
einem aktiven Zustand ausgibt, während er die restlichen Si
gnale in einem inaktiven Zustand ausgibt.
19. Schaltung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
dass die zweiten Schaltabschnitte (95b, 97b) ein hohes Si
gnal, das über die Pull-down-Abschnitte (95c, 97c) übertra
gen wird, wenn das Ausgangssignal des Hauptwortleitungstrei
bers (91) ein hohes Signal ist, an den lokalen X-Decodierer
(100) ableiten.
20. Schaltung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
dass dann, wenn n Paare erster und zweiter Teilwortleitungen
vorliegen, 2n NMOS-Transistoren vorhanden sind, die die ers
ten und zweiten Schaltabschnitte (95a, 97a; 95b; 97b) und
die Pull-down-Abschnitte (95c, 97c) bilden.
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