JPH0770302B2 - 高分子分子構造分析装置 - Google Patents

高分子分子構造分析装置

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JPH0770302B2
JPH0770302B2 JP63003849A JP384988A JPH0770302B2 JP H0770302 B2 JPH0770302 B2 JP H0770302B2 JP 63003849 A JP63003849 A JP 63003849A JP 384988 A JP384988 A JP 384988A JP H0770302 B2 JPH0770302 B2 JP H0770302B2
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polymer
molecular structure
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mass spectrometry
molecule
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和男 立石
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は高分子化合物の分子構造を分析する高分子分子
構造分析装置に関する。
[従来の技術] 高分子化合物の分子構造を解析するためのデータは、こ
れまで赤外吸収スペクトル法、ラマン散乱法、核磁気共
鳴法、熱分解ガスクロマトグラフ/質量分析法等により
得られていた。これらは、それぞれ以下のような特徴を
持っている。
すなわち、赤外吸収スペクトル法は、分子内の原子間の
各種振動において、分子の双極子モーメントが変化する
ような振動モードに活性であり、得られた赤外吸収スペ
クト上の各吸収ピークは、分子内の各原子間結合に特徴
的である。従っていかなる原子間結合が分子内に存在す
るかを知ることができ、多くのそのような原子間結合の
情報から、試料とした高分子化合物の分子構造を解析す
ることができる。また、本法においては、多くの物質の
スペクトルが集められ、データベース化されているた
め、コンピュータによる検索によって迅速に物質の同定
を行うことも可能となりつつある。
ラマン散乱法は、分子内の原子間の各種振動において、
分子の分極率が変化するような振動モードに活性であ
り、得られたラマン散乱スペクトル上の各ピークは分子
内の各原子間結合に特徴的である。従って赤外吸収スペ
クトル法とは相補的に、いかなる原子間結合が分子内に
存在するかを知ることができ、多くのそのような原子間
結合の情報から試料とした高分子化合物中に、いかなる
原子間結合が存在するかを、またいかなる分子構造を試
料高分子が有するかを解析することができる。
核磁気共鳴法では、分子中の核スピン量子数が0以外の
原子核のスピンの情報を得ることができる。この情報
は、原子核の周囲の電子密度や、結合原子の種類や数に
関するデータを含んでおり、試料とした高分子化合物の
分子構造を明確に解析することが可能である。
熱分解ガスクロマトグラフ/質量分析法は試料高分子の
微細片または微量粉末を不活性ガス中にて高温で熱分解
し、得られた熱分解ガスをガスクロマトグラフにより各
成分に分離した後、質量分析法により各成分の質量スペ
クトルを得る方法である。質量スペクトルは物質に対し
て特徴的であり、従って熱分解ガス中の各成分を同定す
ることができ、そして、この熱分解ガスの構成は試料と
した高分子化合物の分子構造を明確に反映しているた
め、試料とした高分子化合物の分子構造を解析すること
ができる。
また、比較的定分子の物質に対する分析方法としてFAB
(Fast atom bombardment)−質量分析法が知られてい
るが、これは生体内物質に代表されるような熱に対して
不安定な物質、極性の高い物質等、他の方法では容易に
イオン化し、質量分析できない物質のイオン化および質
量分析が可能であり、ビタミン類や酵素等、生体内物質
の分析に有効な方法である。
[発明が解決しようとする課題] ころで、上述の赤外吸収スペクトル法、ラマン散乱法、
核磁気共鳴法、熱分解ガスクロマトグラフ/質量分析法
の高分子化合物の分子構造を解析するためのデータの得
られる分析法やFAB−質量分析法には高分子化合物、特
に固体高分子化合物の分子構造解析上、以下のような種
々の問題点がある。
すなわち、赤外吸収スペクトル法では、固体高分子を、
干渉縞が生じない程度の薄膜にして透過で測定するか、
きれいな鏡面をつくってATRで測定するか、粉末にしてK
Br錠剤として透過で測定するか、または粉末にして拡散
反射で測定する等の方法があるが、いずれも赤外吸収ス
ペクトル装置による測定に先立って、上述のように何ら
かの前処理を必要とするので作業性の点で問題がある。
ラマン散乱法では、固体高分子をそのまま分析すること
は可能ではあるが、励起光の試料に対する照射位置や照
射角度を適当に合わせないと解析に有効な高強度のスペ
クトルが得られない。また、高強度のスペクトルを得る
ために励起光であるレーザ光の出力を高くしたり、また
はレンズ系により集光した場合、燃料が熱変性してしま
うことが往々にしてあり、その場合、元の試料のラマン
スペクトルは得られなくなってしまう。
核磁気共鳴法では、最近CP/MAS(クロスポラリゼーショ
ン/マジックアングルスピニング)法の開発により固体
試料も測定可能となりつつあるものの、溶液試料ほど分
解能の高いスペクトルは得られず、複雑な構造高分子で
は、やはり何らかの溶媒に溶解して溶液試料として測定
する必要がある。その場合、分子量の高い固体高分子は
や溶解し難く、特にエポキシ樹脂、加硫ゴム等の架橋構
造を有する物質は非常に溶解が困難で、もし溶液にでき
たとしても分子量の高いものほど溶液試料中の単位体積
当りの分子数が少なく、解析に有効なスペクトルを得る
のが困難な場合がある。
熱分解ガスクロマトグラフ/質量分析法では、不活性ガ
ス中で高温で熱分解するため、高分子はかなり細かな分
子にまで、ラジカル反応によって分解してしまい、元の
高分子の構造中の小さな各部の構造しか情報として得る
ことはできない。さらに、この方法では、ほとんどの場
合、分子中の結合の強弱に対して切断の選択性がないの
で元の高分子の構造を解析することが困難な場合が多
い。
以上のように高分子化合物の分子構造を分析することの
できる各種分析法には種々の問題点がある。
またFAB−質量分析法は、分子量が約3000程度までの比
較的分子量の低い物質、特にビタミン類や酵素等の生体
内分子の分析には最適な方法であるが、固体高分子の分
析は困難である。
本発明の目的は以上述べたような従来の問題点を解消
し、高分子化合物を何らの前処理を要せず測定すること
ができ、かつその分子構造に関する有効な情報を得るこ
とのできる新規な高分子分子構造分析装置を提供するこ
とにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は、FAB(Fast atom bombardment)ガンを備えた
イオン化室および質量分析室よりなる高分子分子構造分
析装置において、イオン化室に紫外線照射装置が配設さ
れていることを特徴とする高分子分子構造分析装置であ
る。
本発明による分析装置を用いれば、試料の形状に特に制
約はなく、かつ何ら前処理を必要とせずに高分子化合物
の分析が可能である。また、照射する紫外線のエネルギ
ー、すなわち波長や光量をコントロールすることによ
り、切断する結合の種類や量をコントロールすることが
できるので、分子構造解析上、非常に有効な情報を与え
る。また、本装置は、全ての高分子物質に適用すること
ができ、例えば固体高分子であっても液体高分子であっ
ても適用可能である。
[作用] イオン化室において、高分子に紫外線を照射すると高分
子内の原子間結合は、その結合解離エネルギーおよび解
離の活性化エネルギーに応じて切断される。結合解離エ
ネルギーは、C−C結合に比較してC−OやC−S等の
ヘテロ結合の方が低く、より切断されやすい。よって紫
外線照射によりその固体高分子に特徴的なフラグメント
が多数生成することになる。これらのフラグメントは、
その大きさがFABイオン化にとって小さすぎず、かつ大
きすぎない範囲となったとき、FABガンから同時に照射
されるAr等の中性原子によってスパッタされ、一部がイ
オン化される。これらのイオンは、試料とした高分子に
特徴的であり、かつ、熱分解法におけるほどには細かく
切断されていないので、試料とした高分子の構造単位を
明らかにするのに有効である。
[実施例] 以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第1図は本発明の一実施例を示す固体高分子分子構造分
析装置の概略構成図である。本装置はイオン化室1およ
び質量分析室2よりなり、このイオン化室1にはFABガ
ン3および紫外線照射装置4が配設されている。この装
置を用いて分子構造の分析を行うには、まずイオン化室
1内に置かれた固体高分子試料5に紫外線照射装置4か
ら紫外線を照射すると共に、FABガン3よりAr中性原子
を照射する。この紫外線照射により試料の高分子は、分
子内の多数の所定位置で切断され、FABイオン化の可能
な大きさのフラグメントとなる。これらのフラグメント
はFABガン3より照射されるAr中性原子によってスパッ
タされ、一部はイオン化されて、質量分析室2に入る。
以上のようにして試料とした固体高分子化合物の構造単
位の質量分析を行うことができ、試料の分子構造を明ら
かにすることができる。上記の方法において、紫外線の
波長や高量を変化させることにより分子中の種類の異な
る結合を選択的に切断したり、切断の量をコントロール
することなどが可能であり、これら分子構造解析上、重
要な情報を与える。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明による高分子分子構造物分
析装置を用いれば、試料に対して何らの前処理も必要と
せず、迅速にあらゆる種類の高分子化合物の分子構造を
解析することができる。また、照射する外線の波長や光
量をコントロールすることにより、分子中の切断する結
合位置や切断の量をコントロールすることができ、これ
は分子構造解析上、非常に有効な情報を与える。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略構成図である。 1……イオン化室、2……質量分析室 3……FABガン、4……紫外線照射装置 5……高分子試料

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】FAB(Fast atom bombardment)ガンを備え
    たイオン化室および質量分析室よりなる高分子分子構造
    分析装置において、イオン化室に紫外線照射装置が配設
    されていることを特徴とする高分子分子構造分析装置。
JP63003849A 1988-01-13 1988-01-13 高分子分子構造分析装置 Expired - Lifetime JPH0770302B2 (ja)

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JP63003849A JPH0770302B2 (ja) 1988-01-13 1988-01-13 高分子分子構造分析装置

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JPH01186543A JPH01186543A (ja) 1989-07-26
JPH0770302B2 true JPH0770302B2 (ja) 1995-07-31

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100339413B1 (ko) * 1999-08-16 2002-05-31 박종섭 불휘발성 강유전체 메모리 소자의 구동회로
KR100344819B1 (ko) * 1999-09-20 2002-07-19 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 강유전체 메모리 장치 및 그 구동회로

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JPS5838445A (ja) * 1981-08-31 1983-03-05 Hitachi Ltd スパ−ク・ソ−ス質量分析装置
JPS5986655U (ja) * 1982-12-03 1984-06-12 日本電子株式会社 質量分析装置等用イオン源

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JPH01186543A (ja) 1989-07-26

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