DE1002472B - Verfahren zum Anloeten von Elektroden an einen Halbleiter - Google Patents
Verfahren zum Anloeten von Elektroden an einen HalbleiterInfo
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Description
DEUTSCHES
Die Erfindung bezieht sich auf halbleitende Kristallelemente, z. B. aus Germanium und insbesondere
auf ein Verfahren zum Anlöten von Elektroden an Halbleiter.
Elektrische Vorrichtungen mit Halbleiterkristallen, wie z. B. Kristalldioden, -trioden usw. enthalten im
allgemeinen mindestens eine Elektrode, die an den Kristall angelötet ist. Es sind nun schon Verfahren
zum Anlöten von Elektroden an Halbleiterkristalle zur Herstellung eines geeigneten Ohmschen Kontaktes
bekannt, bei denen ein Flußmittel verwendet wird, um den Metalloxydfilm vom Kristall zu entfernen.
Gewisse Kristalle sind jedoch, wie dies bei Germanium der Fall ist, sehr empfindlich gegen Verunreinigungen
und Störstoffe, und deshalb muß nach dem Lötvorgang der Kristall gut abgewaschen und
getrocknet werden, um die durch das Flußmittel etwa darauf gelangten Verunreinigungen zu entfernen. Dadurch
werden aber die Anzahl der für die Herstellung notwendigen Verfahrensschritte und die Kosten erhöht.
Ein anderes Verfahren zum Anlöten einer Elektrode an den Kristall bedient sich einer aufplattierten
Zwischenschicht zwischen Kristall und Elektrode. Nach diesem Verfahren wird eine Metallschicht, vorzugsweise
aus demselben Metall wie die Elektrode, auf die Kristalloberfläche aufgebracht und dann die
Elektrode in der üblichen Weise an diese Schicht angelötet. Jedoch kommt es bei dieser Methode leicht
vor, daß durch die Metallschicht die elektrischen Eigenschaften des Kristalls verändert werden. Auch
wird, wie bei dem ersten Verfahren, ein zusätzlicher Verfahrensschritt benötigt, um einen geeigneten Kontakt
herzustellen.
Ein anderer Nachteil, der diesen beiden Methoden gemeinsam anhaftet, ist der, daß die Leitfähigkeit
in Durchlaßrichtung nicht so hoch ist, wie dies oftmals wünschenswert ist. Der durchschnittliche Durchlaßstrom
der meisten Germaniumdioden, die nach den bekannten Verfahren hergestellt wurden, liegt beispielsweise
bei 5 bis 10 Milliampere bei 1 Volt.
Zweck der Erfindung ist ein einfaches Verfahren zum Anlöten einer Elektrode an einen Halbleiter, bei
dem die bekannten Nachteile vermieden werden. Insbesondere wird bei diesem Verfahren die Verwendung
eines Flußmittels oder einer Metallzwischenschicht vermieden.
Die nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellten Kristall vorrichtungen haben mehrfach größere
Leitfähigkeit in Durchlaßrichtung als die besten bisher bekannten Vorrichtungen, die nach den bekannten
Verfahren hergestellt wurden.
Die Erfindung besteht darin, daß die Elektrode an den Halbleiter in einer inerten Atmosphäre angelötet
wird, allein durch das Lötmaterial ohne Ver-Verfahren zum Anlöten von Elektroden
an einen Halbleiter
an einen Halbleiter
Anmelder:
International Standard Electric
Corporation, New York, N. Y. (V. St. A.)
Corporation, New York, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter: Dipl.-Ing. H. Ciaessen, Patentanwalt,
Stuttgart-Zuffenhausen, Hellmuth-Hirth-Str. 42
Stuttgart-Zuffenhausen, Hellmuth-Hirth-Str. 42
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 26. Juni 1953
V. St. v. Amerika vom 26. Juni 1953
Bernard Jacobs, Clifton, N. J. (V. St. Α.),
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
wendung eines Flußmittels oder einer Metallzwischenschicht.
Zur Verdeutlichung des Erfindungsgedankens soll die Erfindung im folgenden an Hand eines Ausführungsbeispieles
beschrieben werden.
Wie bereits eingangs herausgestellt wurde, bestehen die bekannten Verfahren zur Herstellung von
Ohmschen Kontakten zwischen Halbleiter und Elektroden im Anlöten unter Zuhilfenahme eines Flußmittels,
um den Metalloxydfilm zu entfernen. Erfindungsgemäß können Ohmsche Kontakte mit einem
Halbleiter direkt durch Anlöten in einer inerten Atmosphäre ohne Verwendung einer Plattierung oder
eines Flußmittels hergestellt werden. Sehr gute Kontakte werden erhalten, wenn das Löten in einer inerten
Atmosphäre ausgeführt wird, da sich kein Oxydfilm bilden kann, der als Sperrschicht zwischen den
gelöteten Teilen wirkt, und es findet eine gute Verbindung zwischen Halbleiter und Lötmetall statt.
Das Lötmetall kann beispielsweise auf den Halbleiter in der Weise aufgebracht werden, daß ein großer
Überschuß von Lötmetall in einer inerten Atmosphäre geschmolzen wird und der Halbleiter auf der
Oberfläche des geschmolzenen Lötmetalls schwimmt. Auf diese Weise bleibt genügend Lötmetall an dem
Halbleiter hängen, nachdem der Halbleiter aus dem Metallbad herausgenommen wunde, so>
daß die Basiselektrode daran befestigt werden kann, ohne daß sie vorher verzinnt zu werden braucht.
Man kann auch so vorgehen, daß eine Elektrode an einen Halbleiter in der Weise angelötet wird, daß ein
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Tropfen oder ein Plättchen Lötmetall an einem Ende der Elektrode angebracht wird, dann der Halbleiter
mit dem Lötmetall in Kontakt gebracht und das Lötmetall in einer inerten Atmosphäre zum Schmelzen
gebracht wird, um eine Verbindung zwischen dem Lötmetall und dem Halbleiter herzustellen.
Das Lötmetall kann verschiedene Zusammensetzung haben, beispielsweise kann es Donator- und/
oder Akzeptorverunreinigungen enthalten, wie z. B. Indium als Akzeptorverunreinigung und Antimon als
Donatorverunreinigung, und zwar in solchen Mengen, daß ein PN-Übergang erzeugt wird. Beispielsweise
dient ein geringer Zusatz von Antimon zum Lötmetall dazu, eine starke Konzentration von N-Germanium
(wenn N-Germaniutm als Halbleiter verwendet wird) im Bereich des Kontaktes, der aus gut
leitendem Metall besteht, herzustellen.
Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren werden große Verbesserungen der Leitfähigkeit in Durchlaßrichtung
erzielt, wenn Germanium für Kristallgleichrichter verwendet wird. Bei Spitzengleichrichtern,
die aus 5 Ohm-cm Germanium hergestellt werden, beträgt die Leitfähigkeit in Durchlaßrichtung 40 Milliampere
bei 1 Volt im Vergleich zu 5 bis 10 Milliampere bei 1 Volt, die bei den früheren Vorrichtungen
erreicht werden. Die gleiche Technik wird auch erfolgreich verwendet, um Flächengleichrichter und
Flächentransistoren herzustellen.
Beispielsweise wird ein Lötmetall verwendet, das
aus 35°/o Zinn, 63°/o Blei und 2% Antimon besteht
und bei 400° C in einer Atmosphäre von Stickstoff geschmolzen wird, um einen Germaniumkristall an
eine Elektrode anzulöten, die mit einem Standardlötmetall aus 65% Zinn und 35% Blei überzogen ist.
Bei dem erfmdungsgemäßen Verfahren kann praktisch jede Löttnetallziueammensetzung und jede beliebige
Elektrodenform und -art verwendet werden.
Claims (3)
1. Verfahren zum Anlöten von Elektroden an einen Halbleiter, insbesondere an einen Germaniumkristall,
dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode an den Halbleiter in einer inerten Atmosphäre allein durch das Lötmaterial ohne
Verwendung eines Flußmittels oder einer Metallzwischenschicht angelötet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Lötmetall in einer inerten
Atmosphäre geschmolzen und ein Teil des Halbleiters mit dem geschmolzenen Lot in Kontakt
gebracht wird, damit sich der Halbleiter mit dem Lot verbindet und daß die Elektrode dann mit
dem auf dem Halbleiter befindlichen Lot in Kontakt gebracht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Tropfen Lot an einem Ende der
Elektrode befestigt und dieser Lottropfen mit einem Teil der Oberfläche des Halbleiters in Kontakt
gebracht und schließlich das Lot in einer inerten Atmosphäre zum Schmelzen gebracht wird.
© 609 770/326 2.
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Publication Number | Publication Date |
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GB (1) | GB755691A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1093911B (de) * | 1957-06-03 | 1960-12-01 | Sperry Rand Corp | Verfahren zur Befestigung einer metallischen Kontakt-Elektrode an dem Koerper aus halbleitendem Material einer Halbleiteranordnung |
DE1126997B (de) * | 1957-08-09 | 1962-04-05 | Rca Corp | Halbleiteranordnung, insbesondere fuer Schaltzwecke, und Verfahren zu deren Herstellung |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3065534A (en) * | 1955-03-30 | 1962-11-27 | Itt | Method of joining a semiconductor to a conductor |
NL199100A (de) * | 1955-07-21 | |||
GB851544A (en) * | 1957-10-28 | 1960-10-19 | English Electric Valve Co Ltd | Improvements in or relating to semi-conductor devices |
US2983987A (en) * | 1958-06-30 | 1961-05-16 | Western Electric Co | Method of forming articles |
US3005257A (en) * | 1958-08-28 | 1961-10-24 | Bell Telephone Labor Inc | Fabrication of semiconductor devices |
US3083291A (en) * | 1960-10-18 | 1963-03-26 | Kulicke & Soffa Mfg Co | Device for mounting and bonding semiconductor wafers |
US3165818A (en) * | 1960-10-18 | 1965-01-19 | Kulicke & Soffa Mfg Co | Method for mounting and bonding semiconductor wafers |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB592733A (en) * | 1945-05-30 | 1947-09-26 | Standard Telephones Cables Ltd | Improvements in or relating to methods of soldering metal details |
US2094287A (en) * | 1935-05-13 | 1937-09-28 | Owens Illinois Glass Co | Method of manufacturing multipart glass articles |
US2145168A (en) * | 1935-10-21 | 1939-01-24 | Flagg Ray | Method of making pipe joint connections |
US2381025A (en) * | 1940-06-15 | 1945-08-07 | Addink Nicolaas Willem Hendrik | Blocking-layer rectifier |
US2402661A (en) * | 1941-03-01 | 1946-06-25 | Bell Telephone Labor Inc | Alternating current rectifier |
US2321071A (en) * | 1941-06-18 | 1943-06-08 | Bell Telephone Labor Inc | Method of assembling dry rectifiers and the like with solder |
US2406310A (en) * | 1944-02-11 | 1946-08-27 | Machlett Lab Inc | Beryllium brazing |
US2555001A (en) * | 1947-02-04 | 1951-05-29 | Bell Telephone Labor Inc | Bonded article and method of bonding |
NL84061C (de) * | 1948-06-26 | |||
US2534643A (en) * | 1948-12-11 | 1950-12-19 | Machlett Lab Inc | Method for brazing beryllium |
US2629672A (en) * | 1949-07-07 | 1953-02-24 | Bell Telephone Labor Inc | Method of making semiconductive translating devices |
US2703296A (en) * | 1950-06-20 | 1955-03-01 | Bell Telephone Labor Inc | Method of producing a semiconductor element |
BE506280A (de) * | 1950-10-10 | |||
GB728244A (en) * | 1951-10-19 | 1955-04-13 | Gen Electric | Improvements in and relating to germanium photocells |
US2802995A (en) * | 1952-07-11 | 1957-08-13 | Admiral Corp | Printed circuit connection and method of making same |
-
0
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-
1953
- 1953-06-26 US US364496A patent/US2867899A/en not_active Expired - Lifetime
-
1954
- 1954-06-18 GB GB17938/54A patent/GB755691A/en not_active Expired
- 1954-06-19 DE DEI8808A patent/DE1002472B/de active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1093911B (de) * | 1957-06-03 | 1960-12-01 | Sperry Rand Corp | Verfahren zur Befestigung einer metallischen Kontakt-Elektrode an dem Koerper aus halbleitendem Material einer Halbleiteranordnung |
DE1126997B (de) * | 1957-08-09 | 1962-04-05 | Rca Corp | Halbleiteranordnung, insbesondere fuer Schaltzwecke, und Verfahren zu deren Herstellung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB755691A (en) | 1956-08-22 |
US2867899A (en) | 1959-01-13 |
BE529899A (de) |
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