DE1266510B - Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkoerper mit mindestens einem Kontakt und Verfahren zum Herstellen - Google Patents
Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkoerper mit mindestens einem Kontakt und Verfahren zum HerstellenInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
C 22c
Deutsche Kl.: 40 b-31/00
Nummer: 1266 510
Aktenzeichen: N 22910 VI a/40 b
Anmeldetag: 19. März 1963
Auslegetag: 18. April 1968
Die Erfindung betrifft eine Halbleitervorrichtung, ζ. B. einen Transistor, eine Diode, eine Photozelle
oder einen Hallgenerator, mit einem Halbleiterkörper aus einer AinBv-Verbindung und mindestens
einem Legierungskontakt. Sie betrifft weiter ein Verfahren zum Herstellen einer solchen Vorrichtung.
Unter einer Am Bv-Verbindung wird eine Verbindung
eines der Elemente Bor, Aluminium, Gallium oder Indium aus der III. Hauptgruppe des Periodischen
Systems der Elemente mit einem der Elemente Stickstoff, Phosphor, Arsen oder Antimon aus der
V. Hauptgruppe des Periodischen Systems oder ein Mischkristall aus zwei oder mehreren dieser Verbindungen
verstanden.
Es ist bereits bekannt, bei Halbleiterkörpern aus solchen Verbindungshalbleitern als Elektrodenmaterial
einen Stoff zu verwenden, der überwiegend aus einer Komponente der jeweiligen rialbleitenden Verbindung
besteht (deutsche Patentanmeldung S 35242 VIII c/21g).
In der Praxis hat man bisher Zinn-Blei-Legierungen als Elektrodenmaterial verwendet. Dieses Material
ergibt jedoch auf Halbleiterkörpern aus AmBv-Verbindungen
keine guten Legierungskontakte, da sie auf den Halbleiterkörpern nicht genügend haften, ihr
Ausdehnungskoeffizient nicht mit dem des Halbleiterkörpers übereinstimmt oder sie nicht genügend
nachgiebig sind, so daß im Betriebstemperaturbereich die Gefahr besteht, daß der Halbleiterkörper und/
oder der Kontakt Sprünge oder Risse bekommen oder der Kontakt sich vom Halbleiterkörper löst.
Dies gilt insbesondere für Halbleitervorrichtungen, die wie z. B. infrarötempfindliche Photowiderstände
zur Erhöhung der Photoempfindlichkeit bei sehr tiefen Temperaturen betrieben werden. Bei tiefen Temperaturen
werden im allgemeinen sowohl der Halbleiterkörper als auch das Kontaktmaterial spröder.
Die Gefahr einer Zerstörung des Halbleiterkörpers oder des Kontaktes oder eines Ablösens des Kontaktes
wird dadurch noch vergrößert, daß Halbleiterkörper des AmBv-Typs im allgemeinen einen niedrigen
Temperaturkoeffizienten der Ausdehnung im Vergleich zu Metallen haben; soll daher ein gut
leitendes Anschlußelement, ζ. B. ein Metalldraht, an dem Halbleiterkörper angebracht werden, so muß
trotz der verschiedenen Ausdehnungskoeffizienten die Haftung zwischen dem Metall und dem Kontaktmaterial
im ganzen Betriebstemperaturbereich gut sein.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die bekannten Legierungskontakte auf AniBv-Material so
zu verbessern, daß sie für den Betrieb über einen Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkörper
mit mindestens einem Kontakt und Verfahren zum Herstellen
Anmelder:
N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (Niederlande)
Vertreter:
Dipl.-Ing. E. E. Walther, Patentanwalt,
2000 Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Als Erfinder benannt:
Lawrence Reginald David Jenkins, Bassett Green, Southampton, Hants (Großbritannien)
Lawrence Reginald David Jenkins, Bassett Green, Southampton, Hants (Großbritannien)
Beanspruchte Priorität:
Großbritannien vom 21. März 1962 (10 914) - -
großen Temperaturbereich, insbesondere bei sehr tiefen Temperaturen, geeignet sind.
Diese Aufgabe wird bei einer Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkörper aus einer A111 Bv-Verbindung
und mindestens einem Indium enthaltenden Legierungskontakt dadurch gelöst, daß das Kontaktmaterial
aus
2 bis 25 Gewichtsprozent Blei, 0 bis 4 Gewichtsprozent Zinn, 0 bis 2 Gewichtsprozent Cadmium,
Rest Indium
besteht.
Der Vollständigkeit halber sei noch erwähnt, daß
es an sich bekannt war, bei Germanium- und Silizium-Halbleiterkörpern
eine Indium-Blei-Legierung mit bis zu 20% Blei als Kontaktmaterial zu verwenden (»Metall«, 14 [1960], 7, S. 726 bis 729).
Zwei Beispiele für bevorzugte Zusammensetzungen des Kontaktmaterials nach der Erfindung sind:
1. 20 Gewichtsprozent Blei, 78 Gewichtsprozent Indium,
2 Gewichtsprozent Zinn.
2. 8 Gewichtsprozent Blei, 90 Gewichtsprozent Indium,
1 Gewichtsprozent Zinn,
1 Gewichtsprozent Cadmium.
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Kontaktmaterialien mit den oben beschriebenen Zusammensetzungen eignen sich besonders für Legierungskontakte
an Halbleiterkörpern des erwähnten Typs, wenn die mit ihnen hergestellten Vorrichtungen
bei niedrigen oder sehr niedrigen Temperaturen verwendet werden sollen. Da, wie bereits erwähnt, der
Halbleiterkörper und das Kontaktmaterial bei niedrigeren Temperaturen spröder werden, werden die Zusammensetzung
und damit der Temperaturkoeffizient der Ausdehnung sowie die Nachgiebigkeit des Kontaktmaterials
vorzugsweise im Hinblick auf die im Betrieb auftretende niedrigste Temperatur gewählt.
Es wurde gefunden, daß zur Verwendung bei und unter der Temperatur des flüssigen Wasserstoffs
zweckmäßig der Cadmiumanteil etwa 1 Gewichtsprozent, der Zinnanteil etwa 1 Gewichtsprozent und
der Bleianteil weniger als 10 Gewichtsprozent beträgt.
Der Halbleiterkörper besteht vorzugsweise aus einer Indiumverbindung des AmBv-Typs, z.B. aus
Indiumantimonid. Der Legierungskontakt bildet mit einem solchen p-leitenden Halbleiterkörper eine
ohmsche Verbindung. Mit dem Legierungskontakt kann weiter ein elektrisch gut leitendes, z. B. aus
Platin oder verzinntem Kupfer bestehendes Anschlußelement
verbunden werden.
Um die Benetzung zu fördern, kann vor dem Anlegieren
des Kontaktmaterials der Halbleiterkörper an dem Teil semer Oberfläche, an dem der Kontakt
angebracht wird, mit einer Metallschicht aus z. B. Kupfer, Gold oder Platin versehen werden. Die verbesserte
Benetzung wird damit auf das durch die Metallschicht abgedeckte Gebiet begrenzt.
Es kann bei dem Legieren ein Flußmittel benutzt werden; es wurde gefunden, daß Flußmittel auf der
Basis von Salzsäure, z. B. eine Mischung aus konzentrierter Salzsäure, Glycerol und destilliertem Wasser
in einem Volumenverhältnis von 1:2:1, zu bevorzugen sind.
Folgende allgemeine Bemerkungen beziehen sich auf eine bevorzugte Wahl der Zusammensetzung eines
Kontaktmaterials für Indiumantimomd-Vorrichtungen für verschiedene Zwecke:
Weitere Merkmale und Einzelheiten der vorliegenden Erfindung werden in den folgenden Ausführungsbeispielen beschrieben.
0,25 g Blei und 0,88 g Indium mit analytischem Reinheitsgrad werden in einem Siliciumoxydtiegel bei
einer Temperatur von 450° C legiert. Die Legierung kann, z. B. in Form eines Drahtes gezogen oder gewalzt,
zur Herstellung von Legierungskontakten auf Halbleiterkörpern des AniBv-Typs benutzt werden.
ίο In einem Ausführungsbeispiel für das Verfahren
nach der Erfindung werden auf einen Indiumantimonid-Körper von 8 · 1 mm · 150 μΐη des p-Leitfahigkeitstyps
mit einem spezifischen Widerstand von 9 Ohm · cm zwei Anschlüsse angebracht, indem die
Anschlußelemente mit einer Blei-Indium-Zinn-Cadmium-Legierung
der erfindungsgemäßen Zusammensetzung auf den Körper auflegiert werden. Als Anschlußelemente
werden zwei parallel verlaufende Platindrähte verwendet, die mit je einem Kontakt
verbunden werden. Zuerst wird vor dem Auflegieren des Kontaktmaterials der Halbleiterkörper an den
Teilen seiner Oberfläche, an denen die Kontakte angebracht werden sollen, in einer an sich bekannten
Weise, z. B. durch Aufdampfen, mit einer Kupferschicht überzogen. Die Platindrähte werden dann
durch Eintauchen in eine Schmelze der obenerwähnten Legierung mit dem Kontaktmaterial überzogen;
darauf werden die so überzogenen Drähte an den mit Kupfer bedeckten Stellen auf dem Körper angeordnet
und das Ganze unter Verwendung des obenerwähnten Flußmittels auf einer Heizplatte auf die Temperatur
erhitzt, bei der das Kontaktmaterial mit dem Material des Halbleiterkörpers legiert. Die Kontakte bilden
ohmsche Verbindungen mit dem Indiumantimonid-Körper. Der so mit Anschlüssen versehene Indiumantimonid-Körper
ist, in eine Hülle montiert und mit einem flüssigen Kühlmittel gekühlt, als hochempfindlicher
Photowiderstand für Infrarot geeignet. Infolge der oben beschriebenen guten Eigenschaften der Kontakte
ist er bei Temperaturen verwendbar, die niedriger als die des flüssigen Stickstoffs oder Wasserstoffs
sind.
a) In dem Maße, in dem der Zinnanteil größer ist, ist zwar die Benetzungsfähigkeit des Kontaktmaterials
größer, es ist aber auch das Kontaktmaterial und damit der mittels dieses Materials
hergestellte Kontakt spröder.
b) In dem Maße, in dem der Bleianteil größer ist,
dringt die rekristallisierte Legierungszone tiefer in das Indiumantimonid ein, aber die Nachgiebigkeit
des Kontaktmaterials wird gleichzeitig geringer und die rekristallisierte Zone weniger
p-leitfähig. Es sei hier bemerkt, daß die Benetzung geringer ist, wenn reines Indium als
Kontaktmaterial verwendet wird; wegen des Phasendiagramms von Indium—Antimon besteht
die Neigung, daß das Indium beim Legieren aus dem Material des Halbleiterkörpers in
das Kontaktmaterial wandert, so daß die Bildung einer Legierung mit dem Halbleitermaterial auf
eine dünne Schicht nahe der Oberfläche des Indiumantimonid-Körpers begrenzt bleibt.
c) Ein Anteil an Cadmium im Kontaktmaterial erhöht die Verwendungsmöglichkeit der damit
hergestellten Halbleitervorrichtung für sehr niedrige Temperaturen.
Claims (15)
1. Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkörper aus einer A^-BV-Verbindung und mindestens
einem Indium enthaltenden Legierungskontakt, geeignet für den Betrieb über einen großen
Temperaturbereich, insbesondere bei sehr tiefen Temperaturen, dadurchgekennzeichnet,
daß das Kontaktmaterial aus
2 bis 25 Gewichtsprozent Blei,
0 bis 4 Gewichtsprozent Zinn,
0 bis 2 Gewichtsprozent Cadmium,
Rest Indium
0 bis 4 Gewichtsprozent Zinn,
0 bis 2 Gewichtsprozent Cadmium,
Rest Indium
besteht.
2. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Kontaktmaterial
die Zusammensetzung
2 bis 10 Gewichtsprozent Blei,
86 bis 95 Gewichtsprozent Indium,
0 bis 2 Gewichtsprozent Zinn und
0 bis 2 Gewichtsprozent Cadmium
86 bis 95 Gewichtsprozent Indium,
0 bis 2 Gewichtsprozent Zinn und
0 bis 2 Gewichtsprozent Cadmium
hat.
3. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Kontaktmaterial
die Zusammensetzung
20 Gewichtsprozent Blei,
78 Gewichtsprozent Indium,
2 Gewichtsprozent Zinn
hat.
78 Gewichtsprozent Indium,
2 Gewichtsprozent Zinn
hat.
4. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Kontaktmaterial
die Zusammensetzung
8 Gewichtsprozent Blei,
90 Gewichtsprozent Indium,
1 Gewichtsprozent Zinn,
1 Gewichtsprozent Cadmium
hat.
90 Gewichtsprozent Indium,
1 Gewichtsprozent Zinn,
1 Gewichtsprozent Cadmium
hat.
5. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 2 für eine Verwendung bei oder unter der Temperatur
des flüssigen Wasserstoffs, dadurch gekennzeichnet, daß der Cadmiumanteil 1 Gewichtsprozent,
der Zinnanteil 1 Gewichtsprozent und der Bleianteil weniger als 10 Gewichtsprozent beträgt.
6. Halbleitervorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper
aus einer Indiumverbindung des Ani-Bv-Typs
besteht.
7. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper
aus Indiumantimonid besteht.
8. Halbleitervorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontakt
auf p-leitendem Halbleitermaterial eine ohmsche Verbindung bildet.
9. Halbleitervorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein elektrisch
gut leitendes Anschlußelement aus Platin mit dem Kontakt verbunden ist.
10. Halbleitervorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein
elektrisch gut leitendes Anschlußelement aus verzinntem Kupfer mit dem Kontakt verbunden ist.
11. Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung
nach den Ansprüchen 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Anlegieren des Kontaktmaterials der Halbleiterkörper an dem
Teil seiner Oberfläche, an dem der Kontakt angebracht wird, mit einer Metallschicht versehen
wird.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß für die Metallschicht Kupfer
verwendet wird.
13. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß für die Metallschicht Gold verwendet
wird.
14. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß für die Metallschicht Platin
verwendet wird.
15. Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, daß als Flußmittel beim Anlegieren des Kontaktes eine Mischung aus
1 Volumeinheit konzentrierter Salzsäure, 2 Volumeinheiten Glycerol und 1 Volumeinheit destilliertem
Wasser verwendet wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift S 35242 VTIIc /21g (bekanntgemacht am 23. 8.1956);
»Metall«, Bd. 14 (1960), S. 726 bis 729.
Deutsche Auslegeschrift S 35242 VTIIc /21g (bekanntgemacht am 23. 8.1956);
»Metall«, Bd. 14 (1960), S. 726 bis 729.
809 539/340 4.68 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB10914/62A GB927380A (en) | 1962-03-21 | 1962-03-21 | Improvements in or relating to solders |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1266510B true DE1266510B (de) | 1968-04-18 |
Family
ID=9976618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEN22910A Pending DE1266510B (de) | 1962-03-21 | 1963-03-19 | Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkoerper mit mindestens einem Kontakt und Verfahren zum Herstellen |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3261725A (de) |
DE (1) | DE1266510B (de) |
GB (1) | GB927380A (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
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BE549320A (de) * | 1955-09-02 | |||
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- 1962-03-21 GB GB10914/62A patent/GB927380A/en not_active Expired
-
1963
- 1963-03-19 DE DEN22910A patent/DE1266510B/de active Pending
- 1963-03-20 US US266507A patent/US3261725A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB927380A (en) | 1963-05-29 |
US3261725A (en) | 1966-07-19 |
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