DE3223432C2 - Verfahren zum Beseitigen von Kurz- oder Nebenschlüssen des Halbleiterkörpers einer Solarzelle - Google Patents
Verfahren zum Beseitigen von Kurz- oder Nebenschlüssen des Halbleiterkörpers einer SolarzelleInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Beseitigen von
Kurz- oder Nebenschlüssen eines auf einer Schicht mit einer gut leitenden
Elektrode kontaktierten Halbleiterkörpers einer Solarzelle durch Eintauchen
des Halbleiterkörpers in einen Elektrolyten und Anlegen
einer den Halbleiterkörper belastenden Sperrspannung
über den Elektrolyten an die gut leitende Elektrode.
Die von einer Dünnschicht-Solarzelle, z. B. einer Solarzelle
aus amorphem Silizium gemäß US-PS 40 64 521 gelieferten
Spannungen und Ströme können durch beim Herstellen
der Zelle gebildete elektrische Kurz- oder Nebenschlüsse
wesentlich vermindert oder vollständig aufgehoben werden.
Elektrische Kurzschlüsse treten entweder auf, wenn im
Halbleiterkörper ein die Vorder- und Rückseiten-Elektroden
verbindendes Loch, z. B. ein Nadelloch, vorhanden ist
oder wenn sich ein leitendes Metall durch den Halbleiterkörper
erstreckt.
Unter dem Begriff Nebenschluß wird der Ladungsverlust in
dem Halbleiterkörper verstanden, der entweder durch eine
unvollkommene Sperrschichtbildung oder - anstelle einer
Schottkyschen Randschicht - das Entstehen eines ohmschen
Kontakts durch ein Metall mit hoher Austrittsarbeit begründet
wird. Die zu Kurz- und Nebenschlüssen in Solarzellen
führenden Schwierigkeiten nehmen mit zunehmender
Solarzellenfläche stark zu.
Wenn großflächige Solarzellen wirtschaftlich hergestellt
werden sollen, muß das Entstehen der Kurz- und Nebenschlüsse
entweder beim Herstellen unterdrückt werden,
oder diese Defekte müssen nach der Herstellung geheilt
werden. In der US-PS 41 66 918 wird ein Verfahren zum Beseitigen
der Wirkung elektrischer Kurz- und Nebenschlüsse
in großflächigen Solarzellen beschrieben. Bei diesem Verfahren
wird eine Sperrspannung ausreichender Größe zum
Aus- bzw. Durchbrennen der Defekte in der Solarzelle angewendet.
Die Sperrspannung soll dabei kleiner als die
Durchbruchspannung der jeweiligen Solarzelle sein. Das
Verfahren hat aber nicht in allen Fällen den gewünschten
Erfolg gebracht.
Die US-PS 41 97 141 betrifft ein gattungsgemäßes Verfahren zum Beseitigen
von Kurz- oder Nebenschlüssen in einem mindestens zwei
Schichten entgegengesetzten Leitungstyps aufweisenden
Halbleiterkörper einer Solarzelle durch Ätzen von dessen Material in einem
Elektrolyten. Hierbei können Korngrenzen oder Versetzungen
des Halbleitermaterials durch Abätzen von deren
Durchtrittslinie an der Halbleiteroberfläche passiviert
werden.
Ein Nachteil des bekannten elektrolytischen Verfahrens
besteht darin, daß der in Bezug auf die Reinhaltung äußerst
kritische Prozeß beim Herstellen einer Solarzelle
durch das Passivieren in einem für Halbleiterverhältnisse
äußerst verunreinigten Elektrolyten unterbrochen werden
muß. Ein entscheidender Nachteil ergibt sich zudem daraus,
daß die bei dem Anätzen der Korngrenzen bzw. Versetzungen
erzielte Passivierung durch das Metallisieren beim
Aufbringen der lichtdurchlässigen Elektrode wieder zunichte
gemacht werden kann. In der Praxis war man daher
gezwungen, nach dem oben beschriebenen, trockenen Verfahren
gemäß US-PS 41 66 918 zu arbeiten und dessen eventuell
auftretende Mängel in Kauf zu nehmen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein zum Beseitigen
von während der Herstellung von Solarzellen in deren
Halbleiterkörper entstandenen, elektrischen Kurz-
oder Nebenschlüssen geeignetes Verfahren zu schaffen, das
zuverlässig wie das elektrolytische Verfahren nach US-PS
41 97 141 arbeitet, sich aber besser als dieses in den
eine extreme Reinhaltung erfordernden Herstellungsgang
einer Solarzelle integrieren läßt und bei dem die Probleme
der Rückbildung von Kurz- oder Nebenschlüssen beim
Aufbringen einer Schottky-Sperrschicht oder ITO-(Indium-Tin-Oxide)-Schicht nicht auftreten können.
Für das gattungsgemäße Verfahren besteht eine erfindungsgemäße
Lösung darin, daß eine Solarzelle mit
einem Halbleiterkörper,
der der gut leitenden Elektrode gegenüber eine
Schottky-Sperrschicht aufweist, in den Elektrolyten getaucht wird und daß die
Sperrspannung so lange an die gut leitende Elektrode angelegt
wird, bis die im Halbleiterkörper vorhandenen Kurz-
oder Nebenschlüsse beseitigt sind.
Eine weitere Lösung besteht für das gattungsgemäße Verfahren
darin, daß eine Solarzelle mit einem
p-i-n-Halbleiterkörper, der der gutleitenden Elektrode gegenüber eine ITO-Schicht
aufweist, in den Elektrolyten getaucht wird und daß die
Sperrspannung so lange an die gut leitende Elektrode angelegt
wird, bis die im Halbleiterkörper vorhandenen Kurz-
oder Nebenschlüsse beseitigt sind.
Durch die Erfindung lassen sich die Leistungsfähigkeit
der genannten Solarzellen noch weiter verbessern und insbesondere
ein auch gegenüber dem aus der US-PS 41 66 918 bekannten
Verfahren zum Beseitigen von während der Herstellung der
Solarzellen entstandenen elektrischen Kurz- und Nebenschlüssen
überlegenes Verfahren schaffen. Bei dem Verfahren
mit an die Zelle angelegter Sperrspannung wird die
Solarzelle in einen Elektrolyten getaucht und die Sperrspannung
über den Elektrolyten an die eine der Schichten
der Solarzelle kontaktierende, gut leitende Elektrode angelegt.
Erfindungsgemäß wird die jeweilige einen Kurzschluß oder einen Nebenschluß
enthaltende Solarzelle in eine elektrolytische
Lösung gesetzt und mit einer Sperrvorspannung beaufschlagt.
Dabei hat sich gezeigt, daß der der Sperrspannung
entsprechende Sperrstrom nur durch den Kurz- oder
Nebenschluß und nicht durch den übrigen Teil der Zelle
fließt. Nach Auffassung des Erfinders wird der Kurzschluß
oder Nebenschluß dabei entweder durch Elektroplattieren
von der Zelle oder durch mechanisches Entfernen über ein
"Blasen-Spreng"-Verfahren (bubble blasting process) beseitigt.
Worin auch immer das Wesentliche des Wirkungsmechanismus
des erfindungsgemäßen Verfahrens liegen mag, im
Ergebnis konnten jedenfalls hierdurch Kurz- und Nebenschlüsse
von Solarzellen in solchen Fällen geheilt werden,
in denen das aus der US-PS 41 66 918 bekannte Verfahren
versagte. Verbesserungen und weitere Ausgestaltungen
des erfindungsgemäßen Verfahrens werden in den Unteransprüchen
beschrieben.
Anhand der schematischen Zeichung eines Querschnitts
einer Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens werden
Einzelheiten der Erfindung erläutert.
Die Zeichnung zeigt einen Behälter 10 mit darin befindlichem
Elektrolyten 12. In den Elektrolyten 12 wird eine
Kurzschlüsse und/oder Nebenschlüsse enthaltende Solarzelle
14 ebenso wie eine gesonderte Elektrode 16 eingesetzt.
Die Elektrode wird mit einem Pol einer Spannungsquelle
18 verbunden, deren anderer Pol auf eine Klemme der Solarzelle
14 geschaltet wird. Wie sich aus dem folgenden ergibt,
wird die Spannungsquelle 18 dabei so geschaltet,
daß der gleichrichtende Übergang der Solarzelle 14 in
Sperr-Richtung belastet wird. Als Folge dieser Schaltung
fließt der Strom nur durch die Kurzschlüsse und/oder Nebenschlüsse
der Zelle und zwar nur solange, bis die Kurzschlüsse
und/oder Nebenschlüsse durch einen eine Art Ätzung
umfassenden Vorgang beseitigt sind. Der genaue Wirkungsmechanismus kann jedoch auch anderer Natur sein.
Das Ergebnis besteht insbesondere darin, daß rund um
einen Kurzschluß und/oder Nebenschluß ein Loch gebildet
und dadurch der Kurzschluß oder Nebenschluß elektrisch
aus der Solarzelle 14 entfernt wird.
In einem Ausführungsbeispiel wurden Solarzellen aus amorphem
Silizium drei Minuten lang in einen aus verdünnter
Schwefelsäure (H₂SO₄) bestehenden Elektrolyten gesetzt
und dabei mit einer Sperrspannung von zwei Volt belastet.
Es zeigte sich, daß Kurzschlüsse und/oder Nebenschlüsse,
die nach bisherigen Verfahren, namentlich nach dem Verfahren
nach der US-PS 41 66 918 nicht beseitigt werden
konnten, nach Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
entfernt waren.
Im allgemeinen kann gesagt werden, daß für das erfindungsgemäße
Verfahren als Elektrolyt eine Lösung anzuwenden
ist, die nur bei Anlegen eines Stroms geeigneter Polarität
ätzt. Dabei wird dann dort am stärksten bzw. schnellsten
geätzt, wo der Strom am stärksten ist, d. h. wo ein
Kurzschluß oder Nebenschluß liegt. Die durch die Polarität
der Spannungsquelle 18 bestimmte Polarität des Stroms
muß der speziellen Struktur der jeweiligen Solarzelle 14
angepaßt werden. Da die Solarzelle 14 typisch eine diodenartige
Struktur mit einer eigenleitenden Zone zwischen
einer p-leitenden Zone und einer n-leitenden Zone besitzt,
erfordert das erfindungsgemäße Verfahren es also,
die Spannungsquelle so gepolt anzulegen, daß die Solarzelle
in Sperr-Richtung belastet wird. Es wird also im
wesentlichen - außer am Ort eines Kurzschlusses oder
Nebenschlusses - kein Strom fließen. Im Bereich eines
Kurzschlusses oder Nebenschlusses wird der Stromfluß
durch einen in Sperr-Richtung vorgespannten Halbleiterübergang
nicht behindert. In den entsprechenden Bereichen
hoher Stromdichte ergibt sich demnach eine elektrolytische
Ätzung. Diese wird solange fortgesetzt, wie der hohe
Strom existiert, d. h. bis der Kurzschluß und/oder Nebenschluß
entfernt worden ist.
Das Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 stellt eine spezielle
Solarzelle 14 dar, die ein Substrat 20 aus rostfreiem
Stahl mit darauf gebildeter n-leitender Schicht 22, typisch
aus amorphem Silizium, besitzt. An die n-leitende
Zone 22 grenzt eine eigenleitende Zone 24, die von einer
aus Platin bestehenden Schottkyschen Sperrschicht 26 kontaktiert
wird. Es sei jedoch darauf hingewiesen, daß die
spezielle in der Zeichnung dargestellte und beschriebene
Solarzellenstruktur lediglich zur Illustration der Erfindung
dient.
Das aus rostfreiem Stahl bestehende Substrat 20 wird über
einen isolierten, leitenden Draht 28 mit der positiven
Klemme der Spannungsquelle 18 verbunden. Der Draht 28 muß
isoliert werden, um einen Stromfluß durch die in den
Elektrolyten 12 eingetauchten Teile des Drahts zu verhindern.
Aus ähnlichen Gründen wird eine Isolierschicht 30,
z. B. eine Farbe, auf die freigelegten Teile des aus rostfreiem
Stahl bestehenden Substrats 20 aufgebracht. Eine
vorzugsweise entweder aus Gold oder Platin bestehende
Elektrode 16 wird über einen leitenden Draht 32 mit der
negativen Klemme der Spannungsquelle 18 verbunden. Auch
der Draht ist vorzugsweise isoliert, um zu verhindern,
daß er durch den Elektrolyten 12 angegriffen wird.
Im beschriebenen Ausführungsbeispiel kann der Strom nur
von den Kurzschlüsse und/oder Nebenschlüsse aufweisenden
Teilen der Solarzelle 14 durch den Elektrolyten 12 zu der
Elektrode 16 fließen. Ein typischer Elektrolyt zur Anwendung
bei einer Zelle mit auf den positiven Pol der
Spannungsquelle 18 geschaltetem n-Anschluß ist entweder
verdünnte Schwefelsäure (H₂SO₄) oder verdünntes Kupfersulfat
(CuSO₄).
Wenn dagegen eine Zelle mit an das leitende Substrat angrenzender
p-leitender Zone, d. h. eine Struktur mit der
Schichtenfolge rostfreier Stahl/p-i-n/ITO, zu behandeln
ist, wird das Substrat mit dem negativen Pol der Spannungsquelle
18 verbunden und als Elektrolyt eine etwa
20%ige Ammoniumhydroxid-Lösung (NH₄OH) verwendet.
Claims (5)
1. Verfahren zum Beseitigen von Kurz- oder Nebenschlüssen eines auf einer
Schicht mit einer gut leitenden Elektrode (20) kontaktierten
Halbleiterkörpers einer Solarzelle durch Eintauchen des
Halbleiterkörpers in einen Elektrolyten (12) und Anlegen
einer den Halbleiterkörper belastenden Sperrspannung
(18) über den Elektrolyten an die gut leitende
Elektrode (20), dadurch gekennzeichnet, daß eine
Solarzelle (14) mit einem
Halbleiterkörper, der der gut leitenden Elektrode (20) gegenüber
eine Schottky-Sperrschicht (26) aufweist, in
den Elektrolyten (12) getaucht wird und daß die
Sperrspannung so lange an die gut leitende Elektrode
(20) angelegt wird, bis die im Halbleiterkörper vorhandenen
Kurz- oder Nebenschlüsse beseitigt
sind.
2. Verfahren zum Beseitigen von Kurz- oder Nebenschlüssen eines auf einer
Schicht mit einer gut leitenden Elektrode (20) kontaktierten
Halbleiterkörpers einer Solarzelle durch Eintauchen des
Halbleiterkörpers in einen Elektrolyten (12) und Anlegen
einer den Halbleiterkörper belastenden Sperrspannung
(18) über den Elektrolyten an die gut leitende
Elektrode (20), dadurch gekennzeichnet, daß eine
Solarzelle (14) mit einem
p-i-n-Halbleiterkörper, der der gut leitenden Elektrode (20)
gegenüber eine ITO-Schicht aufweist, in
den Elektrolyten (12) getaucht wird und daß die
Sperrspannung so lange an die gut leitende Elektrode
(20) angelegt wird, bis die im Halbleiterkörper vorhandenen
Kurz- oder Nebenschlüsse beseitigt
sind.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Solarzelle (14) aus halbleitenden Schichten
aus amorphem Silizium gebildet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die gut leitende Elektrode (20) der Solarzelle
(14) mit einer p-leitenden Halbleiterzone
(22) in Kontakt gebracht und ein aus einer schwachen
Ammoniumhydroxidlösung (NH₄OH) bestehender Elektrolyt
(12) verwendet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die gut leitende Elektrode (20) der Solarzelle
(14) mit einer n-leitenden Halbleiterzone in
Kontakt gebracht und ein aus verdünnter Schwefelsäure
(H₂SO₄) oder verdünntem Kupfersulfat (CuSO₄) bestehender
Elektrolyt (12) verwendet wird.
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