FR2508708A1 - Procede electrolytique d'elimination des courts-circuits et des shunts dans les cellules solaires - Google Patents

Procede electrolytique d'elimination des courts-circuits et des shunts dans les cellules solaires Download PDF

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Abstract

PROCEDE D'AMELIORATION DES PERFORMANCES D'UNE CELLULE SOLAIRE QUI COMPORTE UNE ELECTRODE FORTEMENT CONDUCTRICE AU CONTACT DE L'UNE DES COUCHES DE LA CELLULE, CE PROCEDE ETANT CARACTERISE EN CE QU'IL CONSISTE A APPLIQUER UNE TENSION DE POLARISATION INVERSE A LADITE ELECTRODE FORTEMENT POSITIVE 20 PENDANT QUE LA CELLULE SOLAIRE 14 EST IMMERGEE DANS UN ELECTROLYTE 12, LADITE TENSION DE POLARISATION ETANT APPLIQUEE PAR L'INTERMEDIAIRE DUDIT ELECTROLYTE DE MANIERE QUE LES COURTS-CIRCUITS OU LES SHUNTS SOIENT ELIMINES.

Description

La présente invention est relative à un procédé d'amélioration des
propriétés et des performances des cellules solaires Elle vise plus particu
Fièrement un procédé d'élimination des courts-circuits et des shunts élec-
triques créés lors du procédé de fabrication de telles cellules solaires, et plus particulièrement des cellules solaires de grande surface au silicium amorphe. La sortie de courant et de tension des cellules solaires à pellicule mince, par exemple des cellules solaires au silicium amorphe du type décri dans le brevet américain N O 4 064 521, peut être fortement réduite, ou total( ment éliminée, par la présence de courts- circuits ou de shunts électriques
qui se forment pendant le procédé de fabrication de telles cellules solaires.
Des courts-circuits électriques se produisent soit lorsqu'il existe un trou, tel qu'un "trou d'épingle", dans le corps semi-conducteur qui amène les élec trodes frontale et postérieure à se toucher, soit lorsqu'il existe un métal
conducteur qui s'étend au travers du corps semiconducteur.
Un shunt constitue une perte de charge,dans le corps semiconducteur, due soit à une formation de barrière imparfaite, soit à la formation d'un contact ohmique, par un métal à potentiel d'extraction élevé, à la place d'un<
barrière de Schottky Les problèmes créés par des défauts de cellules so-
laires,se traduisant par des courts-circuits ou des shunts électriques, sont fortement aggravés lorsque augmentent les dimensions des cellules solaires, Afin de pouvoir réaliser des cellules solaires de grandes dimensions de façon économique, on a dl mettre au point soit des procédés pour élimine de tels courts-circuits et shunts électriques lors de la fabrication, soit des méthodes pour éliminer ces défauts après la fabrication des cellules Le
brevet américain N O 4 166 918 décrit un procédé pour éliminer les effets de-
courts-circuits et shunts électriques dans des cellules solaires de grandes dimensions Selon ce procédé, on utilise une tension de polarisation inverse de valeur suffisamment importante pour éliminer par cuisson les défauts de
la cellule solaire, mais d'une valeur inférieure à celle de la tension de rup-
ture de la cellule L'expérience montre que le procédé décrit dans ce brevet
américain peut être amélioré dans de nombreux cas, C'est là le but de l'in-
vention.
Selon la présente invention, une cellule solaire présentant un court-
circuit ou un shunt est placée dans une solution électrolytique, et la cellule
est soumise à une polarisation inverse On a découvert que le courant cir-
cule uniquement au travers du court-circuit ou du shunt, et qu'il ne traverse pas les autres parties de la cellule Il en résulte que le courtcircuit ou le shunt électrique est éliminé, par un procédé qui, selon la présente titulaire, implique soit un électroplacage à partir de la cellule, soit une élimination
mécanique, réalisée par l'intermédiaire d'un procédé de soufflage de bulle.
Bien que le mécanisme précis demeure inconnu à l'heure actuelle, les résul-
tats ont montré que la présente invention élimine les courts-circuits et les shunts électriques sur des cellules, alors que les procédés selon la technique
antérieure ne permettaient pas cette élimination.
D'autres caractéristiques et avantages de cette invention ressortiront
de la description faite ci-après en référence au dessin annexé, qui en illustre
un exemple de réalisation dépourvu de tout caractère limitatif.
La Figure unique du dessin est une vue en coupe verticale illustrant
la mise en oeuvre du procédé selon cette invention.
Selon la présente invention, on utilise un conteneur 10 dans lequel est disposé un électrolyte 12, comme représenté sur la Figure Une cellule solaire 14, présentant des courts-circuits et/ou des shunts électriques, est
placée dans l'électrolyte 12, o est également plongée une électrode 16.
L'électrode 16 est reliée à l'une des bornes d'une source d'alimentation de
tension 18, dont l'autre borne est reliée à une borne de la cellule solaire 14.
Comme on peut le voir, le mode de liaison de la cellule solaire 14 et de l'électrode 16 à la source de tension 18 est déterminé de manière que la jonction redresseuse de la cellule solaire 14 soit soumise à une polarisation inverse Il en résulte que le courant circule uniquement au travers des courts-circuits et/ou des shunts électriques présents dans la cellule solaire
14, et qu'un tel courant ne circule que pendant un temps suffisant pour élimi-
ner les courts-circuits et/ou les shunts électriques, par l'intermédiaire d'un
procédé qui implique un certain type d'attaque chimique Bien que le méca-
nisme précis de ce procédé ne soit pas encore bien connu ou compris,' il en résulte la formation d'un trou autour du court-circuit et/ou du shunt, qui est
ainsi totalement éliminé de la cellule solaire 14.
A titre d'exemple, des cellules au silicium amorphe ont été placées dans un électrolyte d'acide sulfurique dilué (H 2 SO 4), pendant trois minutes,
chaque cellule solaire 14 étant soumise à une polarisation inverse de Z volts.
Les courts-circuits et/ou les shunts qui étaient antérieurement présents dans
les cellules et qui n'étaient pas éliminés en mettant en oeuvre le procédé se-
lon la technique antérieure, c'est-à-dire notamment le procédé selon le brevet
américain N O 4 166 918, ont été éliminés par le procédé selon cette invention.
En général, le procédé selon la présente invention nécessite l'utilisation, comme électrolyte, d'une solution qui n'effectue l'attaque chimique que lorsqu'on applique un courant de polarité appropriée A ce moment, la vitesse d'attaque sera la plus élevée lorsque le courant est le plus élevé, c'est-à-dire
lorsqu'il existe un court-circuit ou un shunt La polarité du courant, détermi-
née par la polarité de la source d'alimentation de tension 18, doit être appro-
priée à la structure de cellule particulière de la cellule solaire 14 Par consé-
quent, le procédé nécessite que la cellule solaire 14, qui, de façon typique,
présente une structure analogue à celle d'une diode, avec une région intrin-
sèque entre une région de type P et une région de type N, soit reliée à une source d'alimentation d'énergie 18 qui est telle que la cellule solaire soit soumise à une polarisation inverse Il en résulte que le courant a tendance à
ne pas s'écouler, sauf aux endroits o existe un court-circuit ou un shunt.
Dans la zone o est situé un court-circuit et/ou un shunt, la circulation du courant n'est pas empêchée par la présence d'une barrière semiconductrice polarisée en sens inverse Par conséquent, dans de telles zones de densité de courant élevée, il se produit une attaque électrolytique Cette attaque se
poursuit aussi longtemps qu'il subsiste une zone de courant élevé, c'està-
dire jusqu'à l'élimination cl court-circuit et/ou du shunt électrique.
Dans l'exemple de mise en oeuvre particulier illustré par la Figure,
la cellule solaire 14 comprend un substrat 20 en acier inoxydable, compor-
tant une couche 22 de type N, typiquement de silicium amorphe, formée sur le substrat Une région intrinsèque 24 est adjacente à la région de type N 22,
et une barrière de Schottky au platine 26 est au contact de la région intrin-
sèque 24 Bien entendu, la structure particulière de la cellule solaire au sili-
cium amorphe 14 n'est pas la seule utilisée pour de telles cellules, et elle ne
constitue qu'un exemple.
Le substrat en acier inoxydable 20 est fixé à la borne positive de la
source d'alimentation 18, par l'intermédiaire d'un câble conducteur isolé 28.
Ce conducteur 28 doit être isolé, afin d'éviter que du courant ne circule vers
des portions du câble immergé dans l'électrolyte 12 Pour des raisons simi-
laires, une couche isolante 30, par exemple une couche de peinture, est ap-
pliquée sur les parties exposées du substrat d'acier inoxydable 20 Une élec-
trode 16, qui, dans l'exemple de réalisation préféré, est constitué d'or ou de platine, est reliée à la borne négative de la source d'alimentation 18, par l'intermédiaire d'un câble conducteur 32, qui doit être également isolé afin
qu'il ne soit pas affecté par la présence de l'électrolyte 12.
Le courant peut uniquement s'écouler vers l'électrode 16, au travers de l'électrolyte 12, à partir des portions de la cellule solaire 14 qui comportent
des courts-circuits et/ou des shunts Un électrolyte typique pouvant être uti-
lisé dans une structure de cellule dans laquelle la borne de type N est reliée à la borne positive de la source de tension est constitué soit par de l'acide sulfurique dilué (H 2 SO 4), soit par du sulfate de cuivre dilué (Cu SO 4) En variante, lorsque la structure de la cellule comprend une région de type P adjacente à un substrat conducteur, c'est-à-dire lorsqu'il s'agit d'une structure acier inoxydable /P-I-N/ITO, le substrat d'acier inoxydable
est relié à la borne négative de la source de tension 18, et on utilise un élec-
trolyte constitué d'une solution à 20 % d'hydroxyde d'ammonium (NH 4 OH).
Il demeure bien entendu que cette invention n'est pas limitée aux
divers exemples de réalisation décrits et représentés, mais qu'elle en en-
globe toutes les variantes.

Claims (4)

REVENDICATIONS
1 Procédé d'amélioration des performances d'une cellule solaire qui comporte une électrode fortement conductrice au contact de l'une des couches de la cellule, ce procédé étant caractérisé en ce qu'il consiste à appliquer une tension de polarisation inverse à ladite électrode fortement
positive ( 20) pendant que la cellule solaire ( 14) est immergée dans un élec-
trolyte ( 12), ladite tension de polarisation étant appliquée par l'intermédiaire
dudit électrolyte de manière que les courts-circuits ou les shunts soient éli-
minés. 2 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on isole
dudit électrolyte l'électrode fortement conductrice de la photocellule ( 14).
3 Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'élec-
trode fortement conductrice de ladite cellule solaire est adja-
cente à une région semiconductrice de type P, avec laquelle elle est en con-
tact, et en ce que ledit électrolyte est constitué d'une solution faible d'hydro-
xyde d'ammonium (NH 4 OH).
4 Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'élec-
trode fortement conductrice de ladite cellule solaire est adjacente à une ré-
gion semiconductrice de type N, et en ce que ledit électrolyte est choisi dans le groupe qui comprend l'acide sulfurique dilué (H 2 SO) et le sulfate de
cuivre dilué (Cu SO).
Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'élimi- nation des courts-circuits ou des shunts électriques s'effectue sous l'influenc
dudit électrolyte, en présence d'une circulation du courant électrique.
6 Procédé selon la revendication 5, caractérisé en ce que l'élimi-
nation des courts-circuits et des shunts résulte d'une attaque électrolytique.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0134364A2 (fr) * 1983-08-03 1985-03-20 Energy Conversion Devices, Inc. Système et méthode pour éliminer les trajets de courant de court-circuit apparents et latents
EP0500071A3 (en) * 1991-02-20 1992-10-21 Canon Kabushiki Kaisha Process for producing a defect-free photoelectric conversion device

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4640002A (en) * 1982-02-25 1987-02-03 The University Of Delaware Method and apparatus for increasing the durability and yield of thin film photovoltaic devices
US4464823A (en) * 1982-10-21 1984-08-14 Energy Conversion Devices, Inc. Method for eliminating short and latent short circuit current paths in photovoltaic devices
US4451970A (en) * 1982-10-21 1984-06-05 Energy Conversion Devices, Inc. System and method for eliminating short circuit current paths in photovoltaic devices
US4510674A (en) * 1982-10-21 1985-04-16 Sovonics Solar Systems System for eliminating short circuit current paths in photovoltaic devices
US4510675A (en) * 1983-08-03 1985-04-16 Sovonics Solar Systems System for eliminating short and latent short circuit current paths in photovoltaic devices
JPS60124882A (ja) * 1983-12-09 1985-07-03 Agency Of Ind Science & Technol 太陽電池の製造方法
US4543171A (en) * 1984-03-22 1985-09-24 Rca Corporation Method for eliminating defects in a photodetector
US4590327A (en) * 1984-09-24 1986-05-20 Energy Conversion Devices, Inc. Photovoltaic device and method
KR900006772B1 (ko) * 1985-11-06 1990-09-21 세미콘닥터 에너지 라보라토리 컴파니 리미티드 반도체층을 통한 전기적 단락이 없는 반도체 장치와 그 제조방법
US4749454A (en) * 1986-11-17 1988-06-07 Solarex Corporation Method of removing electrical shorts and shunts from a thin-film semiconductor device
US5055416A (en) * 1988-12-07 1991-10-08 Minnesota Mining And Manufacturing Company Electrolytic etch for preventing electrical shorts in solar cells on polymer surfaces
EP0400387B1 (fr) * 1989-05-31 1996-02-21 Siemens Aktiengesellschaft Procédé pour former un contact électrolytique de grande surface sur un corps semi-conducteur
US5192400A (en) * 1989-07-31 1993-03-09 Texas Instruments Incorporated Method of isolating shorted silicon spheres
US6027632A (en) * 1996-03-05 2000-02-22 Candescent Technologies Corporation Multi-step removal of excess emitter material in fabricating electron-emitting device
US5893967A (en) * 1996-03-05 1999-04-13 Candescent Technologies Corporation Impedance-assisted electrochemical removal of material, particularly excess emitter material in electron-emitting device
EP0993513B1 (fr) * 1997-06-30 2009-01-07 Canon Kabushiki Kaisha Technique electrochimique assistee par impedance et procede electrochimique permettant d'eliminer un materiau, notamment un materiau generateur d'excedents, dans un dispositif emetteur d'electrons
US6120674A (en) * 1997-06-30 2000-09-19 Candescent Technologies Corporation Electrochemical removal of material in electron-emitting device
AU2003295880A1 (en) * 2002-11-27 2004-06-23 University Of Toledo, The Integrated photoelectrochemical cell and system having a liquid electrolyte
US7150820B2 (en) * 2003-09-22 2006-12-19 Semitool, Inc. Thiourea- and cyanide-free bath and process for electrolytic etching of gold
US7667133B2 (en) * 2003-10-29 2010-02-23 The University Of Toledo Hybrid window layer for photovoltaic cells
US7098058B1 (en) 2004-01-15 2006-08-29 University Of Toledo Photovoltaic healing of non-uniformities in semiconductor devices
WO2005101510A2 (fr) * 2004-04-16 2005-10-27 The University Of Toledo Passivation de shuntage electrochimique photo-assistee pour cellule photovoltaique
WO2006110613A2 (fr) * 2005-04-11 2006-10-19 The University Of Toledo Cellule d'electrolyse photovoltaique integree
US20100304512A1 (en) * 2007-11-30 2010-12-02 University Of Toledo System for Diagnosis and Treatment of Photovoltaic and Other Semiconductor Devices
WO2009120974A2 (fr) * 2008-03-28 2009-10-01 University Of Toledo Système destiné à remplir de manière sélective des trous d'aiguille, des shunts faibles et/ou des chemins de découpe dans des dispositifs photovoltaïques et cellules photovoltaïques réalisées ainsi
US20110253545A1 (en) * 2010-04-19 2011-10-20 International Business Machines Corporation Method of direct electrodeposition on semiconductors
BR112012027754A2 (pt) 2010-04-27 2017-06-06 Univ Florida aperfeiçoamento de comutação eletrônica de células solares de junção schottky

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4166918A (en) * 1978-07-19 1979-09-04 Rca Corporation Method of removing the effects of electrical shorts and shunts created during the fabrication process of a solar cell
US4180439A (en) * 1976-03-15 1979-12-25 International Business Machines Corporation Anodic etching method for the detection of electrically active defects in silicon
US4197141A (en) * 1978-01-31 1980-04-08 Massachusetts Institute Of Technology Method for passivating imperfections in semiconductor materials
JPS5683981A (en) * 1979-12-13 1981-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and manufacture

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4180439A (en) * 1976-03-15 1979-12-25 International Business Machines Corporation Anodic etching method for the detection of electrically active defects in silicon
US4197141A (en) * 1978-01-31 1980-04-08 Massachusetts Institute Of Technology Method for passivating imperfections in semiconductor materials
US4166918A (en) * 1978-07-19 1979-09-04 Rca Corporation Method of removing the effects of electrical shorts and shunts created during the fabrication process of a solar cell
JPS5683981A (en) * 1979-12-13 1981-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and manufacture

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENTS ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 5, no. 153(E-76)(825), 26 septembre 1981; & JP - A - 56 83 981 (MATSUSHITA DENKI SANGYO K.K.)(08-07-1981) *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0134364A2 (fr) * 1983-08-03 1985-03-20 Energy Conversion Devices, Inc. Système et méthode pour éliminer les trajets de courant de court-circuit apparents et latents
EP0134364A3 (fr) * 1983-08-03 1986-06-04 Energy Conversion Devices, Inc. Système et méthode pour éliminer les trajets de courant de court-circuit apparents et latents
EP0500071A3 (en) * 1991-02-20 1992-10-21 Canon Kabushiki Kaisha Process for producing a defect-free photoelectric conversion device

Also Published As

Publication number Publication date
DE3223432A1 (de) 1983-01-20
DE3223432C2 (de) 1995-08-17
US4385971A (en) 1983-05-31
FR2508708B1 (fr) 1986-10-17
JPH0473306B2 (fr) 1992-11-20
JPS584984A (ja) 1983-01-12

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