CZ294961B6 - Zařízení pro testování plošných spojů na desce s plošnými spoji - Google Patents
Zařízení pro testování plošných spojů na desce s plošnými spoji Download PDFInfo
- Publication number
- CZ294961B6 CZ294961B6 CZ1998745A CZ74598A CZ294961B6 CZ 294961 B6 CZ294961 B6 CZ 294961B6 CZ 1998745 A CZ1998745 A CZ 1998745A CZ 74598 A CZ74598 A CZ 74598A CZ 294961 B6 CZ294961 B6 CZ 294961B6
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- printed circuit
- needles
- circuit board
- testing
- support plates
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000008672 reprogramming Effects 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- NMWSKOLWZZWHPL-UHFFFAOYSA-N 3-chlorobiphenyl Chemical compound ClC1=CC=CC(C=2C=CC=CC=2)=C1 NMWSKOLWZZWHPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101001082832 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) Pyruvate carboxylase 2 Proteins 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
- G01R1/07335—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
- Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Knitting Machines (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
- Sewing Machines And Sewing (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Telephonic Communication Services (AREA)
- Video Image Reproduction Devices For Color Tv Systems (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Control Of Electric Motors In General (AREA)
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)
Abstract
Zařízení sestává ze dvou paralelně uspořádaných nosných desek (1, 1'), z nichž každá je opatřena soustavou elektricky vodivých jehel (10), orientovaných do prostoru mezi obě nosné desky (1, 1') a připojených k prostředkům (12) pro analýzu elektrických parametrů mezi alespoň dvěma jehlami (10). V prostoru mezi oběma nosnými deskami (1, 1') a rovnoběžně s nimi je přestavitelně ve své rovině uspořádána deska (2) s testovanými plošnými spoji. Každá z jehel (10) je uspořádána přestavitelně ve své podélné ose, přičemž alespoň jedna z nosných desek (1, 1') je, pro zajištění umístění jehly (10) v kontaktním místě testovaného plošného spoje desky (2), uspořádána přestavitelně ve své rovině ve dvou ortogonálních osách.ŕ
Description
Vynález se týká zařízení pro testování plošných spojů na desce s plošnými spoji, a to jak z hlediska elektrického propojení dvou různých bodů každého plošného spoje, tak z hlediska vzájemné izolovanosti dvou různých plošných spojů, včetně kontroly průchodnosti pájecích otvorů.
Dosavadní stav techniky
Ze stavu techniky jsou známa zařízení pro testování plošných spojů. Tato zařízení se obecně skládají z desky či lože, nesoucího soustavu elektricky vodivých jehel, na kterou se uspořádá daná deska (karta) s testovanými plošnými spoji, přičemž přivedením elektrického proudu mezi různé jehly a prováděním příslušných měření je možno zkontrolovat, zda má určitý plošný spoj závady či nikoliv.
Pro takovou kontrolu je přitom nezbytné, aby dané jehly kontaktovaly plošný obvod v patřičné poloze.
Protože plošné spoje jsou velmi rozdílné, vede to k nutnosti používat adaptované desky, které obsahují stejné jehly, ale rozmístěné odlišným způsobem, a to v souladu s danými plošnými spoji, jež mají být testovány.
Nedostatkem tohoto řešení je to, že je omezeno pouze na kontrolu těch plošných spojů, pro které jsou k dispozici odpovídající adaptéry nebo adaptační desky. To znamená, že kolik je desek s různými plošnými spoji, tolik je zapotřebí různých adaptačních desek. Navíc je známo, že vrstvy těchto obvodů nejsou vždy koplanární, takže zde není vždy zajištěno vhodné elektrické vedení pro efektivní kontakt.
Spis EP č. 164 722 popisuje automatický testovací systém pro testování desek (karet) plošných spojů, používající v prvém případě propojovací desky (lože, podložky nebo panelu jehel), ve které je každý hrot či jehla fixně umístěn. Poloha hrotů či jehel odpovídá konkrétnímu vzoru plošných spojů desky, jež má být testována.
Nedostatkem tohoto řešení je nutnost mít tolik propojovacích desek, kolik odlišných desek s plošnými spoji má být testováno.
Ve druhém případě je použita univerzální mřížková matrice polohově fixovaných jehel (hrotů) a počítačový program, k aktivování pouze požadovaných jehel (hrotů) v určitém okamžiku. Programování závisí na vzoru plošných spojů testované desky (karty).
Toto řešení má zásadní nedostatek v nutnosti nepřetržitého přeprogramovávání zařízení. Navíc, protože kontaktní hroty či jehly jsou objemné, není možné pokrýt všechny druhy vzorů plošných spojů.
K vyhnutí se tomuto nedostatku dojde například přemístitelným vytvořením kontaktních jehel či hrotů, a to podél souřadnicové osy.
Toto řešení nicméně vyžaduje velice komplikovanou a drahou konstrukci testovacího zařízení, přičemž jehly či hroty nemohou být umístěny vzájemně blízko sebe. Navíc, k posunutí jedné jehly či hrotu, se zřetelem k druhému, je potřeba nepřetržitého přeprogramovávání.
- 1 CZ 294961 B6
Spis EP č. 164 722 též popisuje zásobník se soustavou sond (jehel či hrotů) a základní přijímací část, která je umístěna přilehle k testovací hlavě (lůžku či podložce) na její jedné straně a v poloze upravené ke kontaktování základny každé sondy. Tato testovací hlava je přizpůsobena k přijímání sond a jejich nastavení do vzoru, odpovídajícímu testovaným bodům na určité desce plošných spojů. Současně jsou u tohoto zařízení vytvořeny jednak prostředky pro nesení testovací hlavy přilehle k danému zásobníku a v poloze pro přijímání sond (jehel či hrotů), a jednak prostředky pro přenášení vybraných sond ze zásobníku do testovací hlavy.
Sondy (jehly či hroty) jsou pro tento účel osově přemístitelné z vnitřku testovací hlavy směrem ven, přičemž některé z nich jsou dále osově posuvné, za účelem umožnění kontaktu s plošným spojem testované desky.
Toto řešení je extrémně složité, a to jak z hlediska mechanizmu pro pohybování sondami (jehlami či hroty), tak z hlediska daného provozního programu. Navíc toto řešení neumožňuje úplné, univerzální testování všech druhů desek plošných spojů, kvůli omezení vzoru testovací hlavy.
Ze spisu EP č. 468 153 je dále znám systém, v němž příslušné kontaktní jehly nejsou fixovány na nosné desce, ale jsou pohybovatelné jak osově, tak ze svého umístění podél příslušné souřadnicové osy.
Tímto způsobem je možné učinit testovací zařízení univerzálním, nicméně však i toto řešení je značně složité a vyžaduje též nepřetržité přeprogramovávání. Navíc je toto zařízení pomalé, protože pohyblivé jehly jsou nuceny se pohybovat pro dlouhé dráze, než dosáhnou přesných souřadnic, což musí být prováděno nepřetržitě během testování každé jednotlivé desky s plošnými spoji.
Ve spise EP č. 547 25 1 je pak popsán způsob testování mikroobvodu, využívající nosiče mikroobvodu a testovací hlavy se zabudovanou matricí sond, přičemž nosič mikroobvodu je přestavitelně uspořádán ve své rovině (X - Y), zatímco testovací hlava je přestavitelná podél ortogonálního (Z) směru.
Toto řešení dokáže testovat desky s plošnými spoji, protože je upraveno pro testování pouze na jedné straně.
Podstata vynálezu
Cílem tohoto vynálezu je vyhnout se výše uvedeným nedostatkům a zejména umožnit výrobu univerzálního zařízení, schopného testování plošných spojů, jenž má systém elektricky vodivých detekčních jehel a který může být přizpůsoben jakémukoliv typu plošného obvodu.
Výše uvedeného cíle se dosáhne zařízením pro testování plošných spojů na desce s plošnými spoji, sestávajícím ze dvou paralelně a rovnoběžně uspořádaných nosných desek, z nichž každá je opatřena soustavou elektricky vodivých jehel, orientovaných do prostoru mezi obě nosné desky a připojených k prostředkům pro analýzu elektrických parametrů mezi alespoň dvěma jehlami, přičemž v prostoru mezi oběma nosnými deskami a rovnoběžně s nimi je přestavitelně ve své rovině uspořádána deska s testovanými plošnými spoj i, podle tohoto vynálezu, jehož podstatou je to, že každá z jehel je uspořádána přestavitelně ve své podélné ose, přičemž alespoň jedna z nosných desek je, pro zajištění umístění jehly v kontaktním místě testovaného plošného spoje desky, uspořádána přestavitelně ve své rovině ve dvou ortogonálních osách.
Ve výhodném provedení má pak zařízení obě nosné desky uspořádány přestavitelně v jejich rovinách ve dvou ortogonálních osách, přičemž každá z jehel je přestavitelná ve své podélné ose prostřednictvím elektromagnetu.
-2CZ 294961 B6
Tím řešením se dosáhne možnosti aktivovat jehlu nosné desky v jakémkoliv počátečním bodě polohy plošného obvodu a aktivovat protilehlou jehlu z protilehlé nosné desky, která bude díky pohyblivosti nosné desky schopna dosáhnout jakéhokoliv koncového bodu určitého obvodu.
Další předností tohoto řešení je možnost provádět interakci pouze u některých jehel, a tím snadněji vystředit umístění daného plošného obvodu v zařízení. Pomocí osové přestavitelnosti jehel je možno též lépe kontaktovat příslušné body plošného obvodu, a to i v případech, kdy deska nebo vrstva daného plošného obvodu nemá všechny své body uspořádány v jedné rovině.
Přehled obrázků na výkresech
Na obr. 1 je znázorněn axonometrický pohled na jednu nosnou desku, obr. 2 znázorňuje ve zvětšeném měřítku boční schematický pohled na uložení detekční jehly na nosné desce a obr. 3 znázorňuje boční pohled na přednostní ztvárnění zařízení podle tohoto vynálezu se dvěma paralelně uspořádanými a vzájemně vůči sobě přestavitelnými nosnými deskami s detekčními jehlami, mezi nimiž je umístěna deska s testovanými plošnými spoji.
Příklady provedení vynálezu
Jak je patrné z obr. 3, sestává zařízení pro testování plošných spojů na desce 2 s plošnými spoji ze dvou paralelně a rovnoběžně uspořádaných nosných desek 1, Γ. Každá nosná deska Γ je opatřena soustavou elektricky vodivých jehel JO, orientovaných do prostoru mezi obě nosné desky 1, £ a připojených k v technice známým prostředkům 12 pro analýzu elektrických parametrů mezi alespoň dvěma jehlami 10.
Obě nosné desky 1, V jsou uspořádány jednak přestavitelné vůči sobě navzájem, a jednak jsou uspořádány přestavitelné každá ve své rovině ve dvou ortogonálních osách.
Zařízení zajišťuje testování plošných spojů na desce 2 s plošnými spoji prostřednictvím procházení síťového uspořádání plošných spojů ve zvolených bodech.
Test spojení je prováděn od bodu k bodu, takže pro testování sítě, vytvořené z n bodů, je nezbytné uskutečnit η - 1 testů mezi zvolenými body, a to takovým způsobem, aby pokrývaly všechna spojení.
Test na krátká spojení mezi různými plošnými spoj i se provádí prostřednictvím volby bodu na každém z plošných spojů.
Maximální počet pro testování n plošných spojů tímto způsobem je vypočítán pomocí vzorce:
n x (n - l)/2
Toto vypočítané množství může být zmenšeno, a to zvolením testování pouze podélně vedených plošných spojů, to jest takových, které jsou vzájemně blízko vedle sebe v předem stanovené vzdálenosti.
Místa plošných spojů, jež mají být testována, jsou podrozdělena do sektorů, odpovídajících množství jehel 10 v určité nosné desce 1, Γ, takže určitý testovací bod je dosažitelný pomocí polohy nosné desky 1, Γ a jedné z jehel 10.
-3 CZ 294961 B6
Poté, co jsou dosaženy zvolené body k testování, zkontroluje se jejich elektrické spojení či izolace.
Aby se zkrátila doba pro příslušné pohyby, je možné optimalizovat dráhy os prostřednictvím modifikace frekvence jednotlivých testů. Zařízení je sestaveno z rámu, na kterém jsou upevněny protilehle dvě nosné desky 1, Γ, nezávisle přestavitelné se zřetelem ke dvěma ortogonálním osám.
Na těchto nosných deskách 1, Γ jsou upevněny testovací jehly 10, přímo ovládané elektromagnetem 11 v jejich podélné ose.
Na počátku je deska 2 s testovanými plošnými spoj i umístěna na nosný rám, jenž ji přenáší mezi dvě nosné desky 1, Γ. V této poloze zůstává deska 2 s plošnými spoji fixována. Následně jsou nosné desky 1, V přiblíženy těsně k desce 2, takže může být zahájen samotný test.
Každá nosná deska 1, Γ je řízena a ovládána nezávisle, takže jejich maximální nezbytný posuv je definován vzdáleností mezi jehlami JO. Ve správné poloze vysune elektromagnet 11 danou jehlu 10 tak, aby se tato dotkla povrchu, jenž má být kontaktován. Poté je prostřednictvím páru simultánně ovládaných jehel 10 testována funkčnost daného obvodu mezi dvěma zvolenými body, tj. jeho elektrická vodivost nebo izolace. Tento postup se opakuje ve zvolených bodech podle potřeby.
Přednostně může být i nosný rám desky 2 přestavitelný, a to vůči alespoň jedné z nosných desek 1, Γ. Takovou konstrukcí se pak dosahuje větší všestrannosti zařízení.
Claims (3)
1. Zařízení pro testování plošných spojů na desce (2) s plošnými spoji, sestávající ze dvou paralelně a rovnoběžně uspořádaných nosných desek (1, Γ), z nichž každá je opatřena soustavou elektricky vodivých jehel (10), orientovaných do prostoru mezi obě nosné desky (1, Γ) a připojených k prostředkům (12) pro analýzu elektrických parametrů mezi alespoň dvěma jehlami (10), přičemž v prostoru mezi oběma nosnými deskami (1, Γ) a rovnoběžně s nimi je přestavitelně ve své rovině uspořádána deska (2) s testovanými plošnými spoji, vyznačující se tí m , že každá z jehel (10) je uspořádána přestavitelné ve své podélné ose, přičemž alespoň jedna z nosných desek (1, 1') je, pro zajištění umístění jehly (10) v kontaktním místě testovaného plošného spoje desky (2), uspořádána přestavitelné ve své rovině ve dvou ortogonálních osách.
2. Zařízení podle nároku 1, vyznačující se tím, že obě nosné desky (1, Γ) jsou uspořádány přestavitelné ve své rovině ve dvou ortogonálních osách.
3. Zařízení podle nároku 1,vyznačující se tím, že každá z jehel (10) je přestavitelná ve své podélné ose prostřednictvím elektromagnetu (11).
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT95UD000181A IT1282827B1 (it) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | Macchina per il controllo contrapposto dei circuiti stampati |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CZ74598A3 CZ74598A3 (cs) | 1998-07-15 |
| CZ294961B6 true CZ294961B6 (cs) | 2005-04-13 |
Family
ID=11421917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CZ1998745A CZ294961B6 (cs) | 1995-09-22 | 1996-05-03 | Zařízení pro testování plošných spojů na desce s plošnými spoji |
Country Status (25)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6218851B1 (cs) |
| EP (1) | EP0852014B1 (cs) |
| JP (1) | JPH11512530A (cs) |
| KR (1) | KR100407068B1 (cs) |
| CN (1) | CN1100268C (cs) |
| AT (1) | ATE233900T1 (cs) |
| AU (1) | AU710084B2 (cs) |
| BR (1) | BR9610589A (cs) |
| CA (1) | CA2231865A1 (cs) |
| CZ (1) | CZ294961B6 (cs) |
| DE (1) | DE69626527T2 (cs) |
| DK (1) | DK0852014T3 (cs) |
| ES (1) | ES2194098T3 (cs) |
| HU (1) | HUP9900003A3 (cs) |
| IT (1) | IT1282827B1 (cs) |
| MX (1) | MX9802287A (cs) |
| NO (1) | NO316412B1 (cs) |
| NZ (1) | NZ306552A (cs) |
| PL (1) | PL190321B1 (cs) |
| PT (1) | PT852014E (cs) |
| RO (1) | RO119658B1 (cs) |
| RU (1) | RU2182748C2 (cs) |
| SI (1) | SI9620113B (cs) |
| TR (1) | TR199800516T1 (cs) |
| WO (1) | WO1997011377A1 (cs) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10219618A1 (de) * | 2002-05-02 | 2003-11-27 | Scorpion Technologies Ag | Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten |
| KR100835182B1 (ko) * | 2007-02-12 | 2008-06-04 | 주식회사 백승 | 인쇄회로기판 검사용 지그 |
| DE102007025458A1 (de) * | 2007-05-30 | 2008-12-04 | Siemens Ag | Codierung, insbesondere für eine Einschubanordnung eines elektrischen Schaltfeldes |
| DE102009004555A1 (de) * | 2009-01-14 | 2010-09-30 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten |
| US8269505B2 (en) * | 2009-12-15 | 2012-09-18 | International Business Machines Corporation | Locating short circuits in printed circuit boards |
| DE102016114144A1 (de) * | 2016-08-01 | 2018-02-01 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Testsystem zur Prüfung von elektrischen Verbindungen von Bauteilen mit einer Leiterplatte |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4774462A (en) * | 1984-06-11 | 1988-09-27 | Black Thomas J | Automatic test system |
| US4841241A (en) * | 1986-08-07 | 1989-06-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Testing device for both-sided contacting of component-equipped printed circuit boards |
| EP0256368B1 (de) * | 1986-08-07 | 1992-09-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Prüfeinrichtung für beidseitige, zweistufige Kontaktierung bestückter Leiterplatten |
| GB8700754D0 (en) * | 1987-01-14 | 1987-02-18 | Int Computers Ltd | Test apparatus for printed circuit boards |
| SU1531234A1 (ru) * | 1987-07-10 | 1989-12-23 | Научно-производственное объединение "Ротор" | Устройство дл контрол печатных блоков |
| FR2653422B1 (fr) * | 1989-10-19 | 1992-01-03 | Elf Aquitaine | Procede pour ameliorer le rendement en soufre d'un ensemble de production de soufre a partir d'un gaz acide renfermant h2s, ledit ensemble comportant une usine a soufre, puis une unite d'oxydation et d'hydrolyse suivie d'une unite d'epuration. |
| EP0468153B1 (de) * | 1990-07-25 | 1995-10-11 | atg test systems GmbH | Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke |
| RU2019923C1 (ru) * | 1991-05-15 | 1994-09-15 | Научно-исследовательский центр электронной вычислительной техники | Устройство для контроля печатных плат |
| EP0547251A1 (en) * | 1991-12-14 | 1993-06-23 | International Business Machines Corporation | A method for testing a micro circuit |
| IT1282829B1 (it) | 1995-12-22 | 1998-03-31 | New System Srl | Macchina di test elettrico per circuiti stampati con posizione registrabile degli aghi di sonda |
| US5818246A (en) * | 1996-05-07 | 1998-10-06 | Zhong; George Guozhen | Automatic multi-probe PWB tester |
-
1995
- 1995-09-22 IT IT95UD000181A patent/IT1282827B1/it active IP Right Grant
-
1996
- 1996-05-03 TR TR1998/00516T patent/TR199800516T1/xx unknown
- 1996-05-03 DK DK96912210T patent/DK0852014T3/da active
- 1996-05-03 CZ CZ1998745A patent/CZ294961B6/cs not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 PT PT96912210T patent/PT852014E/pt unknown
- 1996-05-03 DE DE69626527T patent/DE69626527T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 ES ES96912210T patent/ES2194098T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-03 CN CN96197097A patent/CN1100268C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 AU AU55134/96A patent/AU710084B2/en not_active Ceased
- 1996-05-03 HU HU9900003A patent/HUP9900003A3/hu unknown
- 1996-05-03 NZ NZ306552A patent/NZ306552A/xx unknown
- 1996-05-03 RO RO98-00758A patent/RO119658B1/ro unknown
- 1996-05-03 WO PCT/IT1996/000090 patent/WO1997011377A1/en not_active Ceased
- 1996-05-03 RU RU98107136/09A patent/RU2182748C2/ru not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 PL PL96325827A patent/PL190321B1/pl not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 US US09/043,565 patent/US6218851B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 AT AT96912210T patent/ATE233900T1/de not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 EP EP96912210A patent/EP0852014B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-03 SI SI9620113A patent/SI9620113B/sl not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 CA CA002231865A patent/CA2231865A1/en not_active Abandoned
- 1996-05-03 KR KR10-1998-0702060A patent/KR100407068B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 JP JP9512551A patent/JPH11512530A/ja not_active Ceased
- 1996-05-03 BR BR9610589A patent/BR9610589A/pt not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-03-17 NO NO19981179A patent/NO316412B1/no unknown
- 1998-03-23 MX MX9802287A patent/MX9802287A/es not_active IP Right Cessation
Also Published As
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5506510A (en) | Adaptive alignment probe fixture for circuit board tester | |
| JP3293995B2 (ja) | プロ−ビング装置およびプロ−ビング方法 | |
| US5469064A (en) | Electrical assembly testing using robotic positioning of probes | |
| KR20090086471A (ko) | 반도체 디바이스를 테스트하기 위한 시스템의 자원 공유 | |
| US20010013783A1 (en) | Circuit board testing apparatus and method | |
| US5781021A (en) | Universal fixtureless test equipment | |
| CZ294961B6 (cs) | Zařízení pro testování plošných spojů na desce s plošnými spoji | |
| CZ298035B6 (cs) | Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách | |
| EP1022573A2 (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| JPH10153644A (ja) | Ｂｇａデバイス・テスト用アダプタ・モジュール | |
| TW381180B (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| CN118425734A (zh) | 一种集成电路熔丝修调阵列测试装置及测试方法 | |
| US6191600B1 (en) | Scan test apparatus for continuity testing of bare printed circuit boards | |
| JP2767291B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPS61259597A (ja) | プリント基板の配線方法 | |
| JP2000074990A (ja) | 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置 | |
| JP2021179364A (ja) | 検査データ作成装置および検査データ作成方法 | |
| DE3724144A1 (de) | Anordnung zum pruefen von auf einem baustein integrierten schaltungen | |
| WO1999023496A1 (en) | A contacting device | |
| JPH08285888A (ja) | Ｘ−ｙ方式インサーキットテスタのｚ軸ユニットに備えるラインプローブ | |
| KR19980061378A (ko) | 기판자동검사기(ict)의 픽스쳐(fixture)제작용 데이타(data)자동작성장치 | |
| WO1997011378A1 (en) | Machine for the control of printed circuits | |
| JPH0815361A (ja) | プリント配線板の検査方法 | |
| JPS5880891A (ja) | プリント配線板の検査方法 | |
| JPH02136759A (ja) | プリント基板布線検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PD00 | Pending as of 2000-06-30 in czech republic | ||
| MM4A | Patent lapsed due to non-payment of fee |
Effective date: 20060503 |