CN1196794A - 用于控制相对放置的印刷电路的机器 - Google Patents

用于控制相对放置的印刷电路的机器 Download PDF

Info

Publication number
CN1196794A
CN1196794A CN96197097A CN96197097A CN1196794A CN 1196794 A CN1196794 A CN 1196794A CN 96197097 A CN96197097 A CN 96197097A CN 96197097 A CN96197097 A CN 96197097A CN 1196794 A CN1196794 A CN 1196794A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pin
machine
respect
plate
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN96197097A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1100268C (zh
Inventor
约瑟夫·沃多皮维克
西泽·富目
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
New System SRL
Original Assignee
New System SRL
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by New System SRL filed Critical New System SRL
Publication of CN1196794A publication Critical patent/CN1196794A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1100268C publication Critical patent/CN1100268C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
    • G01R1/07335Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)

Abstract

本发明的目的在于提供一种控制印刷电路的机器,它包含一块装有许多导电针的板,针的相反一端与两个针之间的电气参数分析装置连接,其特征在于:使用两块相对着的针板(1,1′),在两块板之间放置着相应的印刷电路卡(2),供分析用;一块板可相对于另一块板运动。

Description

用于控制相对放置的印刷电路的机器
技术领域
本发明的目的是要提供一种用于控制相对放置的印刷电路的机器。
更具体地说,本发明是用在印刷电路卡控制方面的,但不仅限于此用途。
背景技术
在现有技术中,已知一些用于印刷电路控制的机器。一般,这些机器由一块装有许多导电的针的板或床构成,在该板上放置着带有印刷电路的卡,通过适当地使不同的针导电,并进行相应的测量,可以检查该印刷电路是否有毛病。很明显,这种控制要求针必需在适当的位置与印刷电路接触。由于印刷电路是各种各样的,因此,必需在该针座板上加一块适配板,该适配板包括与要控制的印刷电路一致,但以不同方式移动的,相同的针。
这种方式的缺点是机器受限制,它只能控制具有相应的适配器或适配板供使用的印刷电路。需要控制的带有不同印刷电路的卡就需要同样多的适配板。另外,各个电路层并不总是在同一个平面上,因此,为了有效接触的适当的导电性,不是总能得到保证。
发明的说明
本发明的目的是要避免上述缺点,具体地说,是使具有许多导电检测针,能适用于任何形式电路的万能机器可以控制印刷电路。
所述的这个和另一些目的可通过一台用于控制印刷电路的机器来达到。该机器包括一块装有许多导电针的板,针的相反一端与两个针之间的电气参数分析装置连接。其特征在于:
—使用了二块针板,它们彼此相对,在二块板之间放置着相应的印刷电路卡,供分折之用;
—一块板可相对于另一块板运动。
这样,立即可得到本发明的优点,即:不需要适配器,就可以使该机器万能地在不同的印刷电路上使用,从而使整个系统变得简单。另外,可以使任何前端电路位置上的一个装针板上的针运动,并使相对的装针板上的相对的一个针运动。由于该装针板可以移动,因此,不管其位置、地点和形状如何,都可以达到要测试的任何一个确定的电路端点。这样,可以保证任何卡的测试系统的通用性。
另一个优点是,该机器具有检测针可以轴向移动的特点。这样,在许多针中,可以只使一些针相互作用,因此,更容易对准印刷电路的所希望的位置。还有一个优点是,由于针可以轴向移动,因此,即使当印刷电路卡或层的所有点不是完全在同一平面上,也可以更好地与印刷电路的相应的所希望的点接触。
针可以方便地利用电磁装置使之作轴向运动。这样,可以简单而安全地操纵所希望的针。
本发明的这些和另外一些优点,通过下面结合附图进行的优选实施例的详细说明可以清楚,这个说明不是限制性的,仅仅是一个例子。
图1为检测板(床)的透视示意图;
图2为可以轴向运动的检测针的横截面示意图;
图3为优实施例的横截面图,它有两个相对的检测板,可以彼此相对运动,而要控制的卡则放在两块检测板之间。
具体地,在图中,该两个检测板用1和1′表示。每一块板都有许多由电磁铁11驱动作轴向运动的针10。每一根针均与一个已知技术的电气参数控制系统12进行电气连接。为了操作定位,上述的相对的检测板可以彼此相对运动。放置在这些检测板之间的卡用2表示。
该系统提供了利用带单一点的相对位置的一种网络表“net-list”进行的控制。
连接试验是逐点进行的,为了测试由n个点组成的一个网络的连接,需要在按包括所有连接的方式选择出的各对点之间,进行n-1次测试。
通过从每一对网络中选出一个点,来进行不同网络中的短路试验。
可以利用下列公式来计算用这种方法进行的n个网络测试所需的最大测试次数,即:最大测试次数为n*(n-1)/2。
通过只选择并排的网络(即在预先决定的距离内,彼此靠近的网络),可以减小这个测试次数。
需要测试的位置再细分为与在可动装针板(床)上的针数相适应的部分,使得所要测试的点能到达规定的位置,并与一个测试针接触。
在达到要测试的点之后,必须检查连接或绝缘情况。
为了缩短运动所用的时间,可以通过改变单个测试的频率,优化轴的路线。
该机器由一个机架构成,机架上固定着两个相对的装针板,它们可以独立地相对于二个垂直轴运动。在装针板上固定着测试探针(针),它们直接由电磁铁操纵,沿其轴向运动。
开始时,将印刷电路放在一个支承框架上,支承框架可在两块装针板之间输送印刷电路。印刷电路卡保持固定在这个位置。然后,将装针板接近该卡,开始测试。
每一块装针板是独立控制和操纵的,因此,所需的最大行程由探针之间的距离决定。
当位置正确时,电磁铁操纵在要接触的表面上的探针,这样,利用一对同时动作的探针,可以控制二个所希望的点之间的电路的功能,其相应的连续性和可能发生的短路情况。
该过程可按所希望的方式重复逐点进行。该印刷电路卡可以相对于一个或另一个装针板运动。这样,其用途可以更通用。

Claims (5)

1.一种用于控制印刷电路的机器,它包括一个装针板(1),可以装许多导电的针(10),针的相反一端与二个针之间的电气参数分析装置(12)连接,其特征在于:
—使用两个彼此相对的装针板(1,1′),在二个装针板之间放置着要控制的相应的印刷电路卡(2),供分析用;
—一块板可相对于至少相应的平面上另一块板运动。
2.如权利要求1所述的机器,其特征在于,相对应的卡(2)可相对于一块或另一块板移动。
3.如前面任何一项权利要求所述的机器,其特征在于,所述针(10)作成可轴向运动。
4.如前面任何一项权利要求所述的机器,其特征在于,所述针的运动通过电磁装置(11)实现。
5.如前面任何一项权利要求所述的机器,其特征在于,测试是在电路的二点之间进行的,在使一个点相对于另一个点和/或两个点相对于卡的电路作了相应的对准运动之后,一个侧面的点与一个装针板的针接触,而在另一个侧面上的点则与相对的装针板上的针接触。
CN96197097A 1995-09-22 1996-05-03 测试印刷电路卡的方法 Expired - Fee Related CN1100268C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT95UD000181A IT1282827B1 (it) 1995-09-22 1995-09-22 Macchina per il controllo contrapposto dei circuiti stampati
ITUD95A000181 1995-09-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1196794A true CN1196794A (zh) 1998-10-21
CN1100268C CN1100268C (zh) 2003-01-29

Family

ID=11421917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN96197097A Expired - Fee Related CN1100268C (zh) 1995-09-22 1996-05-03 测试印刷电路卡的方法

Country Status (25)

Country Link
US (1) US6218851B1 (zh)
EP (1) EP0852014B1 (zh)
JP (1) JPH11512530A (zh)
KR (1) KR100407068B1 (zh)
CN (1) CN1100268C (zh)
AT (1) ATE233900T1 (zh)
AU (1) AU710084B2 (zh)
BR (1) BR9610589A (zh)
CA (1) CA2231865A1 (zh)
CZ (1) CZ294961B6 (zh)
DE (1) DE69626527T2 (zh)
DK (1) DK0852014T3 (zh)
ES (1) ES2194098T3 (zh)
HU (1) HUP9900003A3 (zh)
IT (1) IT1282827B1 (zh)
MX (1) MX9802287A (zh)
NO (1) NO316412B1 (zh)
NZ (1) NZ306552A (zh)
PL (1) PL190321B1 (zh)
PT (1) PT852014E (zh)
RO (1) RO119658B1 (zh)
RU (1) RU2182748C2 (zh)
SI (1) SI9620113B (zh)
TR (1) TR199800516T1 (zh)
WO (1) WO1997011377A1 (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10219618A1 (de) * 2002-05-02 2003-11-27 Scorpion Technologies Ag Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten
KR100835182B1 (ko) * 2007-02-12 2008-06-04 주식회사 백승 인쇄회로기판 검사용 지그
DE102007025458A1 (de) * 2007-05-30 2008-12-04 Siemens Ag Codierung, insbesondere für eine Einschubanordnung eines elektrischen Schaltfeldes
DE102009004555A1 (de) * 2009-01-14 2010-09-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
US8269505B2 (en) * 2009-12-15 2012-09-18 International Business Machines Corporation Locating short circuits in printed circuit boards
DE102016114144A1 (de) * 2016-08-01 2018-02-01 Endress+Hauser Flowtec Ag Testsystem zur Prüfung von elektrischen Verbindungen von Bauteilen mit einer Leiterplatte

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4774462A (en) * 1984-06-11 1988-09-27 Black Thomas J Automatic test system
US4841241A (en) * 1986-08-07 1989-06-20 Siemens Aktiengesellschaft Testing device for both-sided contacting of component-equipped printed circuit boards
DE3781979D1 (de) * 1986-08-07 1992-11-05 Siemens Ag Pruefeinrichtung fuer beidseitige, zweistufige kontaktierung bestueckter leiterplatten.
GB8700754D0 (en) * 1987-01-14 1987-02-18 Int Computers Ltd Test apparatus for printed circuit boards
EP0468153B1 (de) * 1990-07-25 1995-10-11 atg test systems GmbH Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke
IT1282829B1 (it) 1995-12-22 1998-03-31 New System Srl Macchina di test elettrico per circuiti stampati con posizione registrabile degli aghi di sonda
US5818246A (en) * 1996-05-07 1998-10-06 Zhong; George Guozhen Automatic multi-probe PWB tester

Also Published As

Publication number Publication date
SI9620113B (en) 2005-08-31
HUP9900003A3 (en) 1999-11-29
CA2231865A1 (en) 1997-03-27
RO119658B1 (ro) 2005-01-28
BR9610589A (pt) 1999-07-06
CZ74598A3 (cs) 1998-07-15
NZ306552A (en) 2000-01-28
TR199800516T1 (xx) 1998-05-21
PT852014E (pt) 2003-07-31
WO1997011377A1 (en) 1997-03-27
CZ294961B6 (cs) 2005-04-13
NO981179D0 (no) 1998-03-17
AU710084B2 (en) 1999-09-16
IT1282827B1 (it) 1998-03-31
DK0852014T3 (da) 2003-06-23
EP0852014A1 (en) 1998-07-08
PL190321B1 (pl) 2005-11-30
US6218851B1 (en) 2001-04-17
HUP9900003A2 (hu) 1999-04-28
EP0852014B1 (en) 2003-03-05
RU2182748C2 (ru) 2002-05-20
AU5513496A (en) 1997-04-09
DE69626527D1 (de) 2003-04-10
ES2194098T3 (es) 2003-11-16
JPH11512530A (ja) 1999-10-26
KR19990063615A (ko) 1999-07-26
DE69626527T2 (de) 2003-12-24
ITUD950181A1 (it) 1997-03-22
SI9620113A (sl) 1998-08-31
NO316412B1 (no) 2004-01-19
NO981179L (no) 1998-04-23
ITUD950181A0 (zh) 1995-09-22
ATE233900T1 (de) 2003-03-15
PL325827A1 (en) 1998-08-03
MX9802287A (es) 1998-08-30
CN1100268C (zh) 2003-01-29
KR100407068B1 (ko) 2004-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1451594B1 (de) Prüfsonde für einen fingertester und fingertester
DE102016120345B4 (de) Batteriegreifer
CN1196794A (zh) 用于控制相对放置的印刷电路的机器
EP0838688A3 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
EP0853242A1 (de) Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
CN215575530U (zh) 一种用于pcb板的飞针测试机
US20010013783A1 (en) Circuit board testing apparatus and method
CN1175270C (zh) 探针位置可以调节的对印刷电路进行电气测试的机器
DE102005028191B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Testen von unbestückten, großflächigen Leiterplatten mit einem Fingertester
DE60217619T2 (de) Vorrichtung zur Abtastprüfung von Leiterplatten
DE10260238B4 (de) Adapter zum Testen einer oder mehrerer Leiteranordnungen und Verfahren
DE4109684C2 (de) Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke
CN208937298U (zh) 一种疲劳测试装置
CN102866320A (zh) 线缆检测方法
CN211940932U (zh) 变压器电压自动检测设备
RU98107136A (ru) Устройство для регулирования расположенных на противоположных сторонах печатных плат
CN210376634U (zh) 用于电池模组的测试工装
JP4124337B2 (ja) プリント基板の検査装置
CN219959571U (zh) 一种控制器自动化测试台架及装置
CN211318669U (zh) 一种应用于pcb的耐电流测试治具
JPH0645905Y2 (ja) X―yユニットを有する回路基板検査装置
DE19512947C1 (de) Kontaktierungsgerät für HF- und NF-Messungen an mehrpaarigen, symmetrischen Datenkabeln
CN220232438U (zh) 一种用于cpu板的fct测试装置
DE102007024601B3 (de) Tisch für die Montage und/oder Prüfung eines Prüflings
JPH04125478A (ja) ノイズ印加誘導装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: GR

Ref document number: 1046155

Country of ref document: HK

C19 Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee