PL190321B1 - Sposób badania kart z obwodami drukowanymi - Google Patents
Sposób badania kart z obwodami drukowanymiInfo
- Publication number
- PL190321B1 PL190321B1 PL96325827A PL32582796A PL190321B1 PL 190321 B1 PL190321 B1 PL 190321B1 PL 96325827 A PL96325827 A PL 96325827A PL 32582796 A PL32582796 A PL 32582796A PL 190321 B1 PL190321 B1 PL 190321B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- needles
- printed circuit
- conductive
- plates
- point
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000008672 reprogramming Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
- G01R1/07335—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
- Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
- Video Image Reproduction Devices For Color Tv Systems (AREA)
- Knitting Machines (AREA)
- Control Of Electric Motors In General (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Sewing Machines And Sewing (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Telephonic Communication Services (AREA)
Abstract
Sposób badania kart z obwodami drukowanymi, oparty na wykorzystaniu urzadzenia obejmujacego dwie plyty stano- wiace oparcie dla igiel, z wieloma przewodzacymi iglami przesuwnymi osiowo, podlaczonymi na przeciwleglych po- wierzchniach tych plyt do srodków pozwalajacych na analize parametrów elektrycznych miedzy dwoma przewodzacymi iglami tworzacymi pare, znam ienny tym, ze sprawdzana karte (2) z obwodem drukowanym umieszcza sie miedzy dwoma plytami (1, 1') stanowiacymi oparcie dla przewodzacych igiel (10), ustawionymi jed n a naprzeciw drugiej, przy czym jedna z tych dwóch plyt (1) jest przesuwna w odpowiedniej plaszczyznie wzgledem przeciwleglej plyty (1') i wykorzystujac liste siatki ze wzglednymi polozeniami poszczególnych punktów karty (2) z obwodem drukowanym prowadzi sie badanie tej karty (2) od punktu do punktu tak, ze dla zbadania polaczen siatki utworzo- nej z n punktów wykonuje sie n-1 prób miedzy parami punk- tów, wybranymi tak aby objac wszystkie polaczenia, a próbe na zwarcia miedzy róznymi siatkami wykonuje sie przez wybranie punktu z kazdej siatki tworzacej pare tak, ze maksymalna liczbe prób do sprawdzenia w ten sposób n sieci oblicza sie wedlug nastepujacego wzoru nm aks = n*(n-1)/2, przy czym liczbe te zmniejsza sie wybierajac jedynie sieci sasiadujace, lezace jedna obok drugiej w uprzednio okre- slonej odleglosci od siebie, a takze tym, ze kazda plyte (1, 1'), w której sa osadzone przewodzace igly (10) przesuwne osiowo, kontroluje sie niezaleznie i ustawia ta k ,....................................... PL PL PL
Description
Ponieważ obwody drukowane są bardzo różne, konieczne jest umieszczanie na podstawowej płycie z igłami płyty adaptacyjnej, która ma te same igły, lecz rozmieszczone w inny sposób, dostosowany do obwodu drukowanego, który ma być skontrolowany. Użycie płyty adaptacyjnej zapewnia kontakt elektryczny z kartą poddawaną sprawdzeniu.
Niekorzystną cechą tego rozwiązania jest ograniczenie przyrządu oraz możliwości kontroli jedynie do tych obwodów drukowanych, dla których dysponuje się odpowiednimi płyta190 321 mi adaptacyjnymi. Potrzebnych jest przy tym tyle płyt adaptacyjnych, ile jest kart z różnymi obwodami drukowanymi, które mają być poddane kontroli.
Ponadto wiadomym jest, że warstwy obwodów nie zawsze leżą w jednej płaszczyźnie, a zatem nie zawsze jest zapewniony kontakt odpowiednio skuteczny dla przepływ prądu elektrycznego, stąd dość częste są błędne wyniki kontroli.
Inny system kontroli kart z obwodami drukowanymi ujawniono w opisie EP-A-0164722. W rozwiązaniu tym układ igieł na płycie jest ściśle dostosowany do określonego wzoru obwodu drukowanego na karcie poddawanej sprawdzeniu. Aktywacja poszczególnych igieł dokonywana jest przy użyciu programu komputerowego. Jedną z wad tego urządzenia jest konieczność posiadania tylu różnych płyt ile obwodów drukowanych jest do sprawdzania, a program komputerowy współpracujący z tym urządzeniem wymaga ustawicznego przeprogramowywania celem dostosowania do każdego kontrolowanego układu drukowanego.
Znane są również, przykładowo z opisu nr EP-A-0468153, systemy z ruchomymi igłami przewodzącymi, których stosowanie wiąże się z koniecznością przemieszczania igieł na stosunkowo duże odległości.
Sposób testowania mikroobwodów znany jest z opisu nr EP-A-0547251, gdzie ujawniono system z uchwytem testowanego obiektu przesuwnym w wybranej płaszczyźnie oraz z głowicą badającą przesuwną w kierunku prostopadłym do tej płaszczyzny.
Sposób badania kart z obwodami drukowanymi, oparty na wykorzystaniu urządzenia obejmującego dwie płyty stanowiące oparcie dla igieł, z wieloma przewodzącymi igłami przesuwnymi osiowo, podłączonymi na przeciwległych powierzchniach tych płyt do środków pozwalających na analizę parametrów elektrycznych między dwoma przewodzącymi igłami tworzącymi parę, według wynalazku polega na tym, że sprawdzaną kartę z obwodem drukowanym umieszcza się między dwoma płytami stanowiącymi oparcie dla przewodzących igieł, ustawionymi jedna naprzeciw drugiej, przy czym jedna z tych dwóch płyt jest przesuwna w odpowiedniej płaszczyźnie względem przeciwległej płyty i wykorzystując listę siatki ze względnymi położeniami poszczególnych punktów karty z obwodem drukowanym prowadzi się badanie tej karty od punktu do punktu tak, że dla zbadania połączeń siatki utworzonej z n punktów wykonuje się n-1 prób między parami punktów, wybranymi tak aby objąć wszystkie połączenia, a próbę na zwarcia między różnymi siatkami wykonuje się przez wybranie punktu z każdej siatki tworzącej parę tak, że maksymalną liczbę prób do sprawdzenia w ten sposób n sieci oblicza się według następującego wzoru:
nmaks =n*(n-l)/2, przy czym liczbę tę zmniejsza się wybierając jedynie sieci sąsiadujące, leżące jedna obok drugiej w uprzednio określonej odległości od siebie, a także tym, że każdą płytę, w której są osadzone przewodzące igły przesuwne osiowo, kontroluje się niezależnie i ustawia tak, że maksymalny konieczny skok określony jest przez odległość między jedną z pary przewodzących igieł i najbliższą przewodzącą igłą usytuowaną na tej samej płycie z przewodzącymi igłami, przy czym na kontrolowanej płycie z obwodem drukowanym położenia, które poddaje się testowaniu dzieli się na sektory odpowiadające liczbie przewodzących igieł odpowiedniej płyty stanowiącej oparcie dla igieł tak, że punkt podlegający sprawdzeniu jest osiągalny w danym pożądanym położeniu przy użyciu odpowiedniej jednej przewodzącej igły i jednocześnie operuje się wskazaną parą przewodzących igieł ustawionych w czasie próby po przeciwległych stronach sprawdzanej karty z obwodem drukowanym i prowadzi się sprawdzanie kolejno punkt po punkcie.
W ten sposób uzyskuje się bezpośrednią korzyść w postaci uproszczenia całego układu i możliwość uniwersalnego wykorzystania tego układu do kontroli różnych obwodów drukowanych, bez potrzeby stosowania płyt adaptacyjnych, co oznacza, że układ może być przystosowany do obwodu dowolnego typu.
W istocie możliwe jest aktywowanie igły płyty w dowolnej pozycji końcowej obwodu drukowanego i aktywowanie przeciwległej igły przeciwległej płyty, która dzięki ruchomemu charakterowi tej płyty będzie w stanie osiągnąć dowolny określony punkt końcowy obwodu poddawanego testowaniu niezależnie od jego pozycji, miejsca i kształtu.
190 321
Ponadto, dzięki osiowej przesuwalności igieł przewodzących możliwe jest spowodowanie oddziaływania jedynie niektórych z nich oraz ułatwienie centrowania badanego obwodu drukowanego. Ponieważ igły są przesuwne osiowo za pomocą środków elektromagnetycznych, żądaną igłą operuje się w sposób prosty i bezpieczny.
Dalsza korzyść wynika z faktu, że wobec osiowej przesuwalności igieł jest możliwy lepszy kontakt z odpowiednimi żądanymi punktami obwodu nawet wówczas, gdy karta lub warstwa obwodu nie znajduje się we wszystkich swoich punktach dokładnie na tej samej płaszczyźnie.
Te oraz inne korzyści będą przedstawione w poniższym opisie korzystnych przykładów wykonania w oparciu o rysunek. Szczegóły rysunku nie powinny być traktowane w sposób ograniczający, lecz jedynie przykładowy.
Figura 1 przedstawia schematyczny widok perspektywiczny płyty (łoża) detekcyjnej urządzenia stosowanego do realizacji sposobu według wynalazku.
Figura 2 przedstawia w przekroju schematyczny widok pojedynczej przesuwalnej osiowo igły detekcyjnej.
Figura 3 przedstawia w przekroju korzystny przykład urządzenia stosowanego do realizacji sposobu według wynalazku, z dwoma przeciwległymi płytami detekcyjnymi przesuwnymi względem siebie, z umieszczoną między nimi kartą z obwodem drukowanym, sprawdzanym sposobem według wynalazku.
Sposób według wynalazku można zrealizować w szczególności stosując urządzenie przedstawione na rysunku, na którym dwie detekcyjne płyty testujące są oznaczone jako 1 oraz 1'. Każda płyta ma wiele igieł 10 przesuwnych osiowo za pomocą elektromagnesu 11. Każda igła jest połączona elektrycznie ze znanym układem 12 kontroli parametrów elektrycznych. Przeciwległe płyty, jak wspomniano, są przesuwne względem siebie w celu dogodnego osiągnięcia położenia roboczego. Karta umieszczona między płytami jest oznaczona oznacznikiem 2. W korzystnym wykonaniu urządzenie składa się z ramy, na której dwie przeciwległe płyty są zamocowane i niezależnie przesuwne względem dwóch osi prostopadłych. Na płytach 1 oraz 1' są zamocowane przewodzące igły testujące 10, których ruch osiowy jest sterowany bezpośrednio przez elektromagnes 11.
Układ zapewnia kontrolę za pomocą „listy siatki” z względnymi pozycjami poszczególnych punktów.
Zgodnie z wynalazkiem próbę połączenia przeprowadza się od punktu do punktu tak, że do zbadania połączeń siatki utworzonej z n punktów jest niezbędne n-1 prób między parami punktów wybranych w taki sposób, by pokryć wszystkie połączenia.
Próbę na zwarcia między różnymi sieciami wykonuje się przez wybranie jednego punktu z każdej sieci tworzącej parę.
Maksymalną liczbę prób do sprawdzenia w ten sposób n-sieci oblicza się według następującego wzoru:
nmaks = n*(n-1)/2
Liczbę tę można zmniejszyć przez wybranie jedynie sieci sąsiadujących, leżących jedna obok drugiej, to znaczy sieci odległych od siebie o wstępnie zadaną odległość.
Położenia, które mają być poddane próbie są podzielone na sektory odpowiadające liczbie igieł w płycie (łożu) przesuwnej tak, że punkt podlegający próbie jest osiągalny z danym położeniu przy użyciu jednej z igieł testujących.
Po dotarciu do punktów podlegających próbie, niezbędne jest sprawdzenie połączenia lub izolacji. .
Aby skrócić czas zużyty na przesuwanie, możliwe jest zoptymalizowanie dróg osi przez zmodyfikowanie częstotliwości pojedynczych prób.
Na początku, obwód drukowany umieszcza się na ramie nośnej i przenosi się go między dwie płyty. W tej pozycji położenie karty zostaje ustalone.
Płyty doprowadza się blisko do karty i rozpoczyna się sprawdzanie obwodu drukowanego. Każdą płytą steruje się i operuje niezależnie tak, że maksymalny konieczny skok określa odległość między igłami.
190 321
We właściwym położeniu, stosując elektromagnes przesuwa się igłę ku powierzchni obwodu drukowanego, która ma być poddana kontaktowi i poprzez parę igieł uruchomionych jednocześnie sprawdza się funkcjonalność obwodu między dwoma żądanymi punktami, to znaczy odpowiednio ciągłość połączenia oraz ewentualne zwarcia.
Proces sprawdzania prowadzi powtarzalnie przez kolejne punkty, stosownie do ptrzeb.
Korzystnie również, można przesuwać kartę z obwodem drukowanym poddawaną sprawdzeniu odpowiednio względem jednej lub drugiej płyty..
W ten sposób zapewniono uniwersalizację kontroli i badania obwodów drukowanych o różnych układach połączeń elektrycznych.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patentoweSposób badania kart z obwodami drukowanymi, oparty na wykorzystaniu urządzenia obejmującego dwie płyty stanowiące oparcie dla igieł, z wieloma przewodzącymi igłami przesuwnymi osiowo, podłączonymi na przeciwległych powierzchniach tych płyt do środków pozwalających na analizę parametrów elektrycznych między dwoma przewodzącymi igłami tworzącymi parę, znamienny tym, że sprawdzaną kartę (2) z obwodem drukowanym umieszcza się między dwoma płytami (1, 1') stanowiącymi oparcie dla przewodzących igieł (10), ustawionymi jedna naprzeciw drugiej, przy czym jedna z tych dwóch płyt (1) jest przesuwna w odpowiedniej płaszczyźnie względem przeciwległej płyty (1') i wykorzystując listę siatki ze względnymi położeniami poszczególnych punktów karty (2) z obwodem drukowanym prowadzi się badanie tej karty (2) od punktu do punktu tak, że dla zbadania połączeń siatki utworzonej z n punktów wykonuje się n-1 prób między parami punktów, wybranymi tak aby objąć wszystkie połączenia, a próbę na zwarcia między różnymi siatkami wykonuje się przez wybranie punktu z każdej siatki tworzącej parę tak, że maksymalną liczbę prób do sprawdzenia w ten sposób n sieci oblicza się według następującego wzoru:nmaks = n*(n-l)/2, przy czym liczbę tę zmniejsza się wybierając jedynie sieci sąsiadujące, leżące jedna obok drugiej w uprzednio określonej odległości od siebie, a także tym, że każdą płytę (1, 1'), w której są osadzone przewodzące igły (10) przesuwne osiowo, kontroluje się niezależnie i ustawia tak, że maksymalny konieczny skok określony jest przez odległość między jedną z pary przewodzących igieł (10) i najbliższą przewodzącą igłą (10) usytuowaną na tej samej płycie (1, 1') z przewodzącymi igłami, przy czym na kontrolowanej płycie (2) z obwodem drukowanym, położenia, które poddaje się testowaniu dzieli się na sektory odpowiadające liczbie przewodzących igieł (10) odpowiedniej płyty (1, 1') stanowiącej oparcie dla igieł tak, że punkt podlegający sprawdzeniu jest osiągalny w danym pożądanym położeniu przy użyciu odpowiedniej jednej przewodzącej igły (10) i jednocześnie operuje się wskazaną parą przewodzących igieł (10) ustawionych w czasie próby po przeciwległych stronach karty (2) i prowadzi się sprawdzanie kolejno punkt po punkcie.Przedmiotem niniejszego wynalazku jest sposób badania kart z obwodami drukowanymi.W stanie techniki znane są przyrządy do badania obwodów drukowanych.Te znane urządzenia składają się generalnie z płyt lub łoży z wieloma igłami elektrycznie przewodzącymi, pomiędzy którymi należy umieścić kartę z obwodem drukowanym przewidzianą do badania i przez odpowiednie aktywowanie przewodnictwa elektrycznego między różnymi igłami oraz przez wykonanie odpowiednich pomiarów jest możliwe sprawdzenie, czy obwód drukowany ma defekty. Urządzenie tego typu ujawniono w opisie nr US 4,820,975 A.Oczywiście, jest niezbędne do takiej kontroli aby igły miały kontakt z obwodem drukowanym we właściwej pozycji.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT95UD000181A IT1282827B1 (it) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | Macchina per il controllo contrapposto dei circuiti stampati |
PCT/IT1996/000090 WO1997011377A1 (en) | 1995-09-22 | 1996-05-03 | Machine for the opposite control of printed circuits |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL325827A1 PL325827A1 (en) | 1998-08-03 |
PL190321B1 true PL190321B1 (pl) | 2005-11-30 |
Family
ID=11421917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL96325827A PL190321B1 (pl) | 1995-09-22 | 1996-05-03 | Sposób badania kart z obwodami drukowanymi |
Country Status (25)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6218851B1 (pl) |
EP (1) | EP0852014B1 (pl) |
JP (1) | JPH11512530A (pl) |
KR (1) | KR100407068B1 (pl) |
CN (1) | CN1100268C (pl) |
AT (1) | ATE233900T1 (pl) |
AU (1) | AU710084B2 (pl) |
BR (1) | BR9610589A (pl) |
CA (1) | CA2231865A1 (pl) |
CZ (1) | CZ294961B6 (pl) |
DE (1) | DE69626527T2 (pl) |
DK (1) | DK0852014T3 (pl) |
ES (1) | ES2194098T3 (pl) |
HU (1) | HUP9900003A3 (pl) |
IT (1) | IT1282827B1 (pl) |
MX (1) | MX9802287A (pl) |
NO (1) | NO316412B1 (pl) |
NZ (1) | NZ306552A (pl) |
PL (1) | PL190321B1 (pl) |
PT (1) | PT852014E (pl) |
RO (1) | RO119658B1 (pl) |
RU (1) | RU2182748C2 (pl) |
SI (1) | SI9620113B (pl) |
TR (1) | TR199800516T1 (pl) |
WO (1) | WO1997011377A1 (pl) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10219618A1 (de) * | 2002-05-02 | 2003-11-27 | Scorpion Technologies Ag | Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten |
KR100835182B1 (ko) * | 2007-02-12 | 2008-06-04 | 주식회사 백승 | 인쇄회로기판 검사용 지그 |
DE102007025458A1 (de) * | 2007-05-30 | 2008-12-04 | Siemens Ag | Codierung, insbesondere für eine Einschubanordnung eines elektrischen Schaltfeldes |
DE102009004555A1 (de) * | 2009-01-14 | 2010-09-30 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten |
US8269505B2 (en) * | 2009-12-15 | 2012-09-18 | International Business Machines Corporation | Locating short circuits in printed circuit boards |
DE102016114144A1 (de) * | 2016-08-01 | 2018-02-01 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Testsystem zur Prüfung von elektrischen Verbindungen von Bauteilen mit einer Leiterplatte |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4774462A (en) * | 1984-06-11 | 1988-09-27 | Black Thomas J | Automatic test system |
DE3781979D1 (de) * | 1986-08-07 | 1992-11-05 | Siemens Ag | Pruefeinrichtung fuer beidseitige, zweistufige kontaktierung bestueckter leiterplatten. |
US4841241A (en) * | 1986-08-07 | 1989-06-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Testing device for both-sided contacting of component-equipped printed circuit boards |
GB8700754D0 (en) * | 1987-01-14 | 1987-02-18 | Int Computers Ltd | Test apparatus for printed circuit boards |
EP0468153B1 (de) * | 1990-07-25 | 1995-10-11 | atg test systems GmbH | Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke |
IT1282829B1 (it) | 1995-12-22 | 1998-03-31 | New System Srl | Macchina di test elettrico per circuiti stampati con posizione registrabile degli aghi di sonda |
US5818246A (en) * | 1996-05-07 | 1998-10-06 | Zhong; George Guozhen | Automatic multi-probe PWB tester |
-
1995
- 1995-09-22 IT IT95UD000181A patent/IT1282827B1/it active IP Right Grant
-
1996
- 1996-05-03 CZ CZ1998745A patent/CZ294961B6/cs not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 NZ NZ306552A patent/NZ306552A/xx unknown
- 1996-05-03 RU RU98107136/09A patent/RU2182748C2/ru not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 EP EP96912210A patent/EP0852014B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-03 TR TR1998/00516T patent/TR199800516T1/xx unknown
- 1996-05-03 AT AT96912210T patent/ATE233900T1/de not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 DE DE69626527T patent/DE69626527T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 CA CA002231865A patent/CA2231865A1/en not_active Abandoned
- 1996-05-03 ES ES96912210T patent/ES2194098T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-03 PT PT96912210T patent/PT852014E/pt unknown
- 1996-05-03 CN CN96197097A patent/CN1100268C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 RO RO98-00758A patent/RO119658B1/ro unknown
- 1996-05-03 JP JP9512551A patent/JPH11512530A/ja not_active Ceased
- 1996-05-03 BR BR9610589A patent/BR9610589A/pt not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 AU AU55134/96A patent/AU710084B2/en not_active Ceased
- 1996-05-03 WO PCT/IT1996/000090 patent/WO1997011377A1/en active IP Right Grant
- 1996-05-03 US US09/043,565 patent/US6218851B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-03 KR KR10-1998-0702060A patent/KR100407068B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 PL PL96325827A patent/PL190321B1/pl not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 SI SI9620113A patent/SI9620113B/sl not_active IP Right Cessation
- 1996-05-03 HU HU9900003A patent/HUP9900003A3/hu unknown
- 1996-05-03 DK DK96912210T patent/DK0852014T3/da active
-
1998
- 1998-03-17 NO NO19981179A patent/NO316412B1/no unknown
- 1998-03-23 MX MX9802287A patent/MX9802287A/es not_active IP Right Cessation
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6727712B2 (en) | Apparatus and methods for testing circuit boards | |
PL190321B1 (pl) | Sposób badania kart z obwodami drukowanymi | |
US5781021A (en) | Universal fixtureless test equipment | |
CN212749137U (zh) | 具有可配置探头固定装置的测试设备 | |
KR100526744B1 (ko) | 인쇄회로판의 전기적 검사장치 | |
KR100638330B1 (ko) | 도체장치 검사용 어댑터 | |
US6788078B2 (en) | Apparatus for scan testing printed circuit boards | |
EP1022573A2 (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
GB2061630A (en) | Apparatus for testing printed circuit boards | |
KR100345024B1 (ko) | 베어 인쇄 회로 기판의 연속성 테스트를 위한 스캔 테스트 장치 | |
EP0989409A1 (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
GB2310551A (en) | Translator fixture with force applying blind pins | |
JPH0210384B2 (pl) | ||
WO1997011378A1 (en) | Machine for the control of printed circuits | |
WO1999023496A1 (en) | A contacting device | |
KR20210080279A (ko) | 하나 이상의 피시험 장치를 테스트하기 위한 자동식 테스트 장비 및 자동식 테스트 장비의 작동 방법 | |
CN107367681A (zh) | 探针卡模块 | |
JPH0567188B2 (pl) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20080503 |