SI9620113A - Priprava za pregledovanje tiskanih vezij z nasprotnih strani - Google Patents

Priprava za pregledovanje tiskanih vezij z nasprotnih strani Download PDF

Info

Publication number
SI9620113A
SI9620113A SI9620113A SI9620113A SI9620113A SI 9620113 A SI9620113 A SI 9620113A SI 9620113 A SI9620113 A SI 9620113A SI 9620113 A SI9620113 A SI 9620113A SI 9620113 A SI9620113 A SI 9620113A
Authority
SI
Slovenia
Prior art keywords
needle
needles
circuit board
printed circuit
card
Prior art date
Application number
SI9620113A
Other languages
English (en)
Other versions
SI9620113B (en
Inventor
Jozef Vodopivec
Cesare Fumo
Original Assignee
New System S.R.L.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by New System S.R.L. filed Critical New System S.R.L.
Publication of SI9620113A publication Critical patent/SI9620113A/sl
Publication of SI9620113B publication Critical patent/SI9620113B/sl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
    • G01R1/07335Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)
  • Telephonic Communication Services (AREA)
  • Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
  • Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
  • Facsimiles In General (AREA)
  • Sewing Machines And Sewing (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Knitting Machines (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Video Image Reproduction Devices For Color Tv Systems (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Abstract

Naloga izuma je v tem, da zagotovi pripravo za pregledovanje tiskanih vezij takšne vrste, da obsega ploščo (1), ki nosi množico prevodnih igel, ki se z nasprotne strani lahko priključijo na sredstvo za analiziranje električnih parametrov med eno in drugo iglo, in ki je značilna po tem, da se uporabita dve plošči (1, 1') z iglami, ena nasproti druge in je med njima nameščena ustrezna kartica (2) s tiskanim vezjem zaradi analiziranja; in ena plošča je izvedena premično glede na drugo; igle so osno premične.ŕ

Description

NEW SYSTEM S.R.L.
Priprava za pregledovanje tiskanih vezij z nasprotnih strani
Cilj izuma je priprava za pregledovanje tiskanih vezij z nasprotnih strani.
Izum se uporablja ravno, če ne ekskluzivno, na področju pregledovanja kartic s tiskanim vezjem.
Poznane so priprave po stanju tehnike za pregledovanje tiskanih vezij.
Te priprave na splošno obstojijo iz plošče ali postelje, ki nosi množico električno prevodnih igel in na katero je treba položiti kartico s tiskanim vezjem, in s primernim aktiviranjem električne prevodnosti med različnimi iglami in z izvedbo ustreznih meritev je možno preveriti, ali ima tiskano vezje napake.
Za takšno pregledovanje je očitno potrebno, da se igle dovedejo v dotik s tiskanim vezjem na pravem mestu.
Ker so tiskana vezja zelo različna, izhaja kot potrebno, da se preko osnovne plošče z iglami uporabi prilagodilna plošča, ki obsega iste igle, vendar razporejene na drugačen način v skladu s tiskanim vezjem, ki gaje treba pregledati.
Pomanjkljivost te rešitve je omejenost priprave in možnost pregledovanja le tiskanih vezij, ki imajo na razpolago ustrezne prilagodilnike ali prilagodilne plošče.
Pri tem se potrebuje prav toliko prilagodilnih plošč, kot je kartic z različnimi tiskanimi vezji, ki jih je treba pregledati.
Nadalje je poznano, da plasti teh vezij niso vedno v isti ravnini, zaradi česar ni vedno zagotovljena primerna električna prevodnost pri vzpostavljenem stiku.
Spis EP A 0 164 722 (Black) z dne 18. decembra 1985 opisuje avtomatski preizkuševalni sistem za preizkušanje ploščic (kartic) s tiskanim vezjem. V tem dokumentu je kot stanje tehnike navedeno:
uporaba igelne postelje (postelje ali plošče z iglami), v kateri je vsaka igla nameščena pritrjeno v omenjeno posteljo ali ploščo. V tej rešitvi ima igelna postelja položaj igle povsem fiksiran in ustrezno posameznemu vzorcu tiskane kartice, ki jo je treba preizkusiti.
Pomanjkljivost te rešitve je v zahtevi po toliko igelnih posteljah, kolikor je treba preizkusiti različnih kartic s tiskanim vezjem.
uporaba univerzalne mrežne matrike, ki ima največjo možnost položajno pritrjenih igel in računalniški program za hkratno aktiviranje le zahtevanih igel. Programiranje je odvisno od vzorca tiskane kartice, ki jo je treba preizkusiti.
Ta rešitev ima pomanjkljivost v tem, da je potrebno neprestano reprogramiranje priprave. Nadalje je nemogoče pokriti vse vrste vzorcev, ker so kontaktne igle razsežne.
Temu problemu se izogne, s tem da se naredi omenjene kontaktne igle premične vzdolž koordinatnih osi.
Ne glede na to rešitev zahteva zelo zapleteno in drago konstrukcijo priprave za pregledovanje in v tem primeru igle ne morejo biti nameščene tesno druga ob drugo. Nadalje se zahteva neprestano reprogramiranje, da se premakne ena igla glede na drugo.
Končno je v spisu EP A 0 164 722 opisana rešitev, za katero se zahteva zaščita in v kateri je prisoten magazin za začasno shranjevanje množice sond (igel) in člen za sprejem osnove je nameščen ob preizkuševalno glavo (posteljo ali ploščo) na eni njeni strani in v položaju, da se dotika osnove vsake sonde. Preizkuševalna glava (postelja ali plošča) je prilagojena tako, da sprejme sonde in namesti sonde v vzorcu, ki je prilagojen testnim točkam na plošči s tiskanim vezjem. Zagotovljeno je sredstvo za podpiranje preizkuševalne glave blizu magazina in v položaju za sprejem sond (igel) iz magazina. Prav tako so predvidena sredstva za prenašanje izbranih sond iz magazina na preizkuševalno glavo.
Sonde (igle) imajo ta namen, da so osno premične od znotraj omenjene preizkuševalne glave proti navzven in obratno in nekatere izmed teh so nadalje osno premične, da dopuščajo stik s tiskanim vezjem kartice, ki jo je treba preizkusiti. Ta rešitev je izjemno zapletena zaradi mehanizma, ki mora premikati sonde (igle), in zaradi programa za delovanje na njih. Nadalje ta rešitev ne dopušča popolnega vsestranskega preizkušanja vseh vrst kartic s tiskanim vezjem zaradi omejitve vzorca preizkuševalne glave.
Spis EP A 0 468 153 (ATG ELECTRONIC) z dne 29. januarja 1992 opisuje sistem, v katerem ustrezne kontaktne igle niso fiksirane v položaju na ustrezni plošči, ki nosi igle, temveč so premične tako osno kot od svoje lege vzdolž koordinatne osi. Na ta način je možno narediti preizkuševalno pripravo univerzalno. Ne glede na to je ta rešitev zapletena in zahteva neprestano ponovno programiranje. Nadalje je ta rešitev zamudna, ker je treba premične igle premikati daleč, da se dosežejo natančne koordinate in to je treba delati neprestano med preizkušanjem vsake posamezne kartice za ustrezne pomembne točke, ki jih je treba na vezju preizkusiti.
Spis EP A 0 547 251 opisuje postopek za preizkušanje mikrovezja, kjer sta predvidena držalo ploščice in preizkuševalna glava...., ki vključuje matriko sond in kjer je omenjeno držalo ploščice premično po svoji Χ-Υ ravnini, medtem ko je preizkuševalna glava premična vzdolž pravokotne Z smeri.
Ta rešitev lahko preizkuša kartice s tiskanim vezjem, ker je zasnovana za preizkušanje le na eni strani.
Namen predloženega izuma je v tem, da se sooči z zgoraj omenjenimi pomanjkljivostmi in predvsem da omogoči izdelavo vsestranske priprave, ki bo primerna za pregledovanje tiskanih vezij, to se pravi, da bo imela sistem prevodnih detekcijskih igel, ki se lahko prilagodijo poljubni vrsti vezja.
Ta in drugi zaščiteni nameni se dosežejo s pomočjo priprave za pregledovanje tiskanih vezij, ki vsebuje ploščo, ki nosi množico prevodnih igel, ki se lahko na svoji drugi strani priključijo na sredstvo za analiziranje električnih parametrov med eno in drugo iglo, pri čemer:
se uporabljata dve plošči, ki nosita igle, nameščeni druga nasproti druge in med njima je za analizo nameščena ustrezna kartica s tiskanim vezjem, ki jo je treba pregledati, pri čemer je omenjena kartica s tiskanim vezjem premično podprta v svoji ravnini, in je označena s tem:
da vsaka plošča, ki nosi igle, podpira množico prevodnih igel, pri čemer so omenjene igle osno premične le v ustrezni plošči, ki nosi igle, da je vsaj ena izmed omenjenih plošč, ki nosita igle, premična v svoji ravnini, da se doseže namestitev ustrezne igle, ki mora vzpostaviti stik z ustrezno točko tiskanega vezja na kartici, ki jo je treba preizkusiti.
Na ta način se doseže neposredna prednost pri poenostavitvi vsega sistema, s tem da se posploši uporaba priprave na različna tiskana vezja brez potrebe po prilagodilnikih. Dejansko je s tem možno aktivirati iglo ploščice v kateremkoli položaju prevodnega konca vezja in aktivirati nasprotno iglo nasprotne plošče, ki bo zahvaljujoč premičnosti te plošče lahko dosegla katerokoli določeno končno točko vezja, ki jo je treba preizkusiti neodvisno od položaja, mesta in oblike.
Na ta način je zagotovljena posplošitev preizkuševalnega sistema za poljubno kartico.
Na prednosten način ima priprava tudi značilnost, da so detekcijske igle osno premične. Na ta način se lahko med množico igel doseže, da interagirajo le nekatere izmed njih, in se laže naravnajo željeni položaji tiskanega vezja.
Nadaljnja prednost izhaja iz tega, da je z osno premičnostjo igel možno bolje vzpostaviti stik z ustreznimi željenimi točkami vezja, celo kadar kartica ali plast vezja ni popolnoma v isti ravnini v vseh njenih točkah.
Prednostno se igle osno premikajo s pomočjo elektromagnetnega sredstva. Na ta način se na željeno iglo deluje na preprost in varen način.
Te in druge prednosti bodo prikazane z nadaljnjim opisom izvedbenega primera prednostnih rešitev ob pomoči vključenih slik, katerih podrobnosti ni treba razumeti kot omejujoče temveč le kot primer.
Slika 1 je shematičen pogled v perspektivi na detekcijsko ploščo (posteljo).
Slika 2 je shematičen pogled v prerezu na osno premično detekcijsko iglo.
Slika 3 je pogled v prerezu na prednostni izvedbeni primer z dvema nasprotnima detekcijskima ploščama, ki sta premični druga glede na drugo, in s kartico, ki jo je treba pregledati in ki je nameščena mednje.
Predvsem na slikah sta obe detekcijski preizkuševalni plošči označeni z 1 in Γ.
Vsaka plošča ima množico igel 10, ki so osno premične z elektromagnetom 11. Vsaka igla je električno priključena na sistem 12 znane vrste za pregledovanje električnih parametrov.
Nasprotni plošči sta, kot je bilo omenjeno, premični druga glede na drugo, da se doseže delovna namestitev.
Kartica, ki je nameščena med njima, je označena z 2.
Sistem zagotavlja pregledovanje po spisku vezja; spisek vezja podaja medsebojne položaje posameznih točk.
Priključitveni preizkus se izvede od točke do točke, tako daje za preizkušanje povezav vezja, ki je izvedeno iz n točk, potrebno n-1 preizkusov med pari točk, ki so izbrani tako, da pokrijejo vse povezave.
Preizkus na kratek stik med različnimi vezji se izvede, s tem da se izbere točka iz vsakega para vezij.
Največje število preizkusov za preizkušanje n vezij na ta način se izračuna po naslednji formuli:
nx(n-l)/2.
To število se izračuna tako, da se izberejo le vzdolžna vezja, to so tista, ki so blizu drugo drugemu v vnaprej določeni razdalji.
Položaji, ki jih je treba preizkusiti, so razdeljeni v področja, ki ustrezajo številu igel v premični plošči (postelji), tako da se točka, ki jo je treba preizkusiti lahko doseže z namestitvijo in z eno od preizkuševalnih igel.
Potem ko se dosežejo točke, ki jih je treba preizkusiti, je potrebno preveriti stik ali izolacijo.
Da se skrajša čas, ki je potreben za premike, je možno optimirati poti vzdolž osi, s tem da se prilagodi frekvenca posameznih preizkusov. Priprava je izvedena z okvirom, na katerem sta pritrjeni obe nasprotni plošči in sta neodvisno premični glede na dve pravokotni osi.
Na ploščah so pritrjene preizkuševalne sonde (igle), na katere neposredno deluje elektromagnet v njihovem osnem premikanju.
Ί
Ob začetku se tiskano vezje namesti na nosilni okvir, ki ga transprotira med dvema ploščama.
V tem položaju kartica ostane fiksirana.
Plošči sta nameščeni blizu kartice in preizkušanje se začne.
Vsaka plošča se neodvisno pregleduje in se deluje nanjo, tako da je največji potreben gib opredeljen z razdaljo med sondama.
V pravem položaju elektromagnet deluje na sondo na površini, s katero je treba vzpostaviti stik in na ta način je s parom sond, na katere se deluje hkrati, pregledovana funkcionalnost vezja med dvema izbranima točkama, ustrezna povezava in morebitni kratki stiki. Postopek se nadaljuje od točke na točke na ponavljajoč se način, kot se želi.
Na prednosten način se lahko premakne tudi držalo kartice glede na eno ali drugo ploščo.
Na ta način se doseže širša posplošitev uporabe.
Za
NEW SYSTEM S.R.L.:
ί® ε.ο,σ

Claims (9)

Patentni zahtevki
1. Postopek za pregledovanje tiskanih vezij, ki uporablja pripravo, ki obsega ploščo (1) , ki nosi množico prevodnih igel (10), ki se lahko na svoji drugi strani povežejo s sredstvom (12) za analizo električnih parametrov med eno in drugo iglo, pri kateri se uporabljata dve plošči (1, Γ), ki nosita igle, pri čemer ena leži nasproti druge, in je med njima zaradi analize nameščena zadevna kartica s tiskanim vezjem (2) , ki jo je treba pregledati, pri čemer je kartica s tiskanim vezjem podprta premično, označen s tem, da vsaka plošča, ki nosi igle, podpira množico prevodnih igel (10, 11), pri čemer so omenjene igle (10) osno premične v ustrezni plošči (1), ki nosi igle, da se med množico igel lahko doseže, da le nekatere izmed njih interagirajo, da se dosežejo željeni položaji tiskanega vezja, celo kadar kartica ali plast tiskanega vezja ni popolnoma v isti ravnini v vseh svojih točkah, je vsaj ena izmed omenjenih plošč (1, Γ), ki nositao igle, premična v svoji ravnini vzdolž obeh svojih pravokotnih osi, da se doseže namestitev ustrezne igle, da vzpostavi stik z ustrezno točko tiskanega vezja kartice (2), ki jo je treba pregledati, in kjer sta obe plošči (1, Γ), ki nosita igle, premični vzdolž obeh svojih pravokotnih osi, pri čemer se omenjena premičnost omenjenih igel (10) doseže z elektromagnetnimi sredstvi (11), in kjer se pregledovanje omenjenih tiskanih vezij izvaja na naslednji način:
uporabljata se dve plošči (1, 1'), ki nosita igle, druga nasproti druge in med njima je zaradi analize nameščena ustrezna kartica (2) s tiskanim vezjem, ki jo je treba pregledati, preizkušanje se izvaja med dvema točkama vezja, delujoče na eno stran z iglo ene plošče in na drugo stran z iglo nasprotne plošče, potem ko se je izvedel ustrezen premik centriranja druge glede na drugo in/ali obeh glede na kartico z vezjem.
2. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da se uporabi pregledovanje po spisku vezja z medsebojnimi položaji posameznih točk.
3. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da se preizkus na kartici s tiskanim vezjem izvaja od točke do točke, tako da se za preizkušanje povezav vezja omenjene kartice s tiskanim vezjem uporablja n točk z n-1 preizkusi med pari točk.
4. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da se preizkus na kratek stik med različnimi vezji izvaja z izborom točke iz vsakega para vezij.
5. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da se največje število pri preizkušanju določenega števila n vezij računa po naslednji formuli:
nx(n-l)/2, pri čemer se število lahko zmanjša, s tem da se izberejo le vzdolžna vezja, to se pravi tista, ki so blizu drugo drugemu v vnaprej določeni razdalji.
6. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da so položaji, ki jih je treba preizkusiti razdeljeni v odseke, ki ustrezajo številu igel v ustrezni premični plošči (1, Γ), tako da se točka, ki jo je treba preizkusiti, lahko doseže z nameščanjem in z eno izmed preizkuševalnih igel in se, potem ko so bile dosežene točke, ki jih je treba preizkusiti, preveri stik ali izolacija.
7. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da se zato, da se skrajša čas, kije potreben za premikanja, in da se optimizirajo poti vzdolž osi, spremeni frekvenca posameznih preizkusov, priprava pa je izvedena iz okvira, na katerem sta pritrjeni dve nasprotni plošči in neodvisno premični glede na dve pravokotni osi.
8. Postopek po zahtevku 1, označen s tem, da se na začetku tiskano vezje namesti na nosilni okvir, ki ga transportira med dvema ploščama, v tem položaju kartica ostane fiksirana, plošči sta nameščeni blizu kartice in preizkus se začne, vsaka kartica se neodvisno pregleduje in se deluje nanjo, tako da je največji potreben gib opredeljen z razdaljo med parom igel (10), v pravem položaju elektromagnet (11) deluje na igle, da se spustijo, da dosežejo površino tiskanega vezja, s katero je treba vzpostaviti stik, in tako se pri hkratnem delovanju preverjajo funkcionalnost vezja med dvema izbranima točkama, ustrezna povezava in morebitni kratki stiki, postopek se nadaljuje od točke do točke na ponavljajoč se način, kot se želi.
9. Priprava za pregledovanje tiskanih vezij, obsegajoča ploščo (1), ki nosi množico prevodnih igel (10), ki se na svojem zadnjem koncu lahko povežejo s sredstvom (12) za analiziranje električnih parametrov med eno in drugo iglo, kjer se uporabljata dve plošči (1, Γ), ki nosita igle, druga nasproti drugi in med njima je nameščena ustrezna kartica (2) s tiskanim vezjem za analizo, ki jo je treba pregledati, pri čemer je omenjena kartica s tiskanim vezjem premično podprta in se uporablja postopek po predhodnih zahtevkih, označena s tem, da vsaka plošča, ki nosi igle, podpira množico prevodnih igel (10, 11), pri čemer so igle (10) osno premične v ustrezni plošči (1), ki nosi igle, da se med množico igel lahko vzpostavi interakcija med nekaterimi izmed njih, da se dosežejo željeni položaji tiskanega vezja celo, kadar kartica ali plast vezja ni popolnoma v isti ravnini v vseh svojih točkah;
je vsaj ena izmed omenjenih plošč (1, Γ), ki nosita igle, premična v svoji ravnini vzdolž svojih pravokotnih osi, da se doseže nameščanje željene igle, da vzpostavi stik z željeno točko tiskanega vezja kartice (2), ki jo je treba pregledati, in kjer se uporablja računalniški sistem, da se izvaja nadzor ob uporabi nekaj nasprotnih igel (10-11) hkrati, ene z zgornje plošče (V) z iglami in druge s spodnje plošče (1) z iglami.
SI9620113A 1995-09-22 1996-05-03 Machine for the opposite control of printed circuits SI9620113B (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT95UD000181A IT1282827B1 (it) 1995-09-22 1995-09-22 Macchina per il controllo contrapposto dei circuiti stampati
PCT/IT1996/000090 WO1997011377A1 (en) 1995-09-22 1996-05-03 Machine for the opposite control of printed circuits

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SI9620113A true SI9620113A (sl) 1998-08-31
SI9620113B SI9620113B (en) 2005-08-31

Family

ID=11421917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SI9620113A SI9620113B (en) 1995-09-22 1996-05-03 Machine for the opposite control of printed circuits

Country Status (25)

Country Link
US (1) US6218851B1 (sl)
EP (1) EP0852014B1 (sl)
JP (1) JPH11512530A (sl)
KR (1) KR100407068B1 (sl)
CN (1) CN1100268C (sl)
AT (1) ATE233900T1 (sl)
AU (1) AU710084B2 (sl)
BR (1) BR9610589A (sl)
CA (1) CA2231865A1 (sl)
CZ (1) CZ294961B6 (sl)
DE (1) DE69626527T2 (sl)
DK (1) DK0852014T3 (sl)
ES (1) ES2194098T3 (sl)
HU (1) HUP9900003A3 (sl)
IT (1) IT1282827B1 (sl)
MX (1) MX9802287A (sl)
NO (1) NO316412B1 (sl)
NZ (1) NZ306552A (sl)
PL (1) PL190321B1 (sl)
PT (1) PT852014E (sl)
RO (1) RO119658B1 (sl)
RU (1) RU2182748C2 (sl)
SI (1) SI9620113B (sl)
TR (1) TR199800516T1 (sl)
WO (1) WO1997011377A1 (sl)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10219618A1 (de) * 2002-05-02 2003-11-27 Scorpion Technologies Ag Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten
KR100835182B1 (ko) * 2007-02-12 2008-06-04 주식회사 백승 인쇄회로기판 검사용 지그
DE102007025458A1 (de) * 2007-05-30 2008-12-04 Siemens Ag Codierung, insbesondere für eine Einschubanordnung eines elektrischen Schaltfeldes
DE102009004555A1 (de) * 2009-01-14 2010-09-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
US8269505B2 (en) * 2009-12-15 2012-09-18 International Business Machines Corporation Locating short circuits in printed circuit boards
DE102016114144A1 (de) * 2016-08-01 2018-02-01 Endress+Hauser Flowtec Ag Testsystem zur Prüfung von elektrischen Verbindungen von Bauteilen mit einer Leiterplatte

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4774462A (en) * 1984-06-11 1988-09-27 Black Thomas J Automatic test system
US4841241A (en) * 1986-08-07 1989-06-20 Siemens Aktiengesellschaft Testing device for both-sided contacting of component-equipped printed circuit boards
DE3781979D1 (de) * 1986-08-07 1992-11-05 Siemens Ag Pruefeinrichtung fuer beidseitige, zweistufige kontaktierung bestueckter leiterplatten.
GB8700754D0 (en) * 1987-01-14 1987-02-18 Int Computers Ltd Test apparatus for printed circuit boards
EP0468153B1 (de) * 1990-07-25 1995-10-11 atg test systems GmbH Kontaktierungsvorrichtung für Prüfzwecke
NZ315085A (en) 1995-12-22 2007-12-21 New System Srl Testing printed circuit boards, two coplanar boards containing test needles movable with respect to each other
US5818246A (en) * 1996-05-07 1998-10-06 Zhong; George Guozhen Automatic multi-probe PWB tester

Also Published As

Publication number Publication date
RU2182748C2 (ru) 2002-05-20
CN1196794A (zh) 1998-10-21
KR100407068B1 (ko) 2004-01-24
CA2231865A1 (en) 1997-03-27
HUP9900003A2 (hu) 1999-04-28
ATE233900T1 (de) 2003-03-15
TR199800516T1 (xx) 1998-05-21
JPH11512530A (ja) 1999-10-26
BR9610589A (pt) 1999-07-06
KR19990063615A (ko) 1999-07-26
ES2194098T3 (es) 2003-11-16
CZ74598A3 (cs) 1998-07-15
CZ294961B6 (cs) 2005-04-13
US6218851B1 (en) 2001-04-17
EP0852014A1 (en) 1998-07-08
MX9802287A (es) 1998-08-30
PT852014E (pt) 2003-07-31
AU710084B2 (en) 1999-09-16
SI9620113B (en) 2005-08-31
NZ306552A (en) 2000-01-28
NO981179D0 (no) 1998-03-17
WO1997011377A1 (en) 1997-03-27
HUP9900003A3 (en) 1999-11-29
PL325827A1 (en) 1998-08-03
ITUD950181A0 (sl) 1995-09-22
IT1282827B1 (it) 1998-03-31
NO981179L (no) 1998-04-23
PL190321B1 (pl) 2005-11-30
AU5513496A (en) 1997-04-09
RO119658B1 (ro) 2005-01-28
ITUD950181A1 (it) 1997-03-22
DE69626527T2 (de) 2003-12-24
CN1100268C (zh) 2003-01-29
NO316412B1 (no) 2004-01-19
DK0852014T3 (da) 2003-06-23
DE69626527D1 (de) 2003-04-10
EP0852014B1 (en) 2003-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SI9620113A (sl) Priprava za pregledovanje tiskanih vezij z nasprotnih strani
AU718507B2 (en) Machine for the electric test of printed circuits with adjustable position of the sound needles
EP1312930B1 (en) Apparatus for scan testing printed circuit boards
EP0989409A1 (en) Scan test machine for densely spaced test sites
EP1022572B1 (en) Scan test apparatus for continuity testing of bare printed circuit boards
JP2965174B2 (ja) 半導体素子検査装置
JPH10503585A (ja) 実装または未実装のプリント回路板の試験システム
WO1999023496A1 (en) A contacting device
JPH01143982A (ja) プローブ装置
WO1997011378A1 (en) Machine for the control of printed circuits
JPH03270041A (ja) 検査装置
JPH02136759A (ja) プリント基板布線検査装置
JPH0567188B2 (sl)

Legal Events

Date Code Title Description
IF Valid on the event date
OU02 Decision according to article 73(2) ipa 1992, publication of decision on partial fulfilment of the invention and change of patent claims

Effective date: 20050608

KO00 Lapse of patent

Effective date: 20060328