CN1813291A - 带有最佳功率校准区的多层可写光学记录载体、以及用于在这种记录载体上形成最佳功率校准区的方法和设备 - Google Patents

Abstract

本发明提出了一种可写光学记录载体(100)，一种方法和一种用于在这种可写光学记录载体上形成最佳功率校准区的设备，所述可写光学记录载体包括由间隔材料分开的多个记录层L0，......，Ln－1，每个记录层包括最佳功率校准区(101，111，121，131)，所述最佳功率校准区具有第一部分(102，112，122)，其具有代表已记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区具有第二部分(113，123，133)，其具有代表未记录层的平均反射值。所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对连续的记录层的最佳功率校准区形成一个台阶，并且所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。通过一对相继的记录层k、k+1形成的每个台阶具有优选的最小台阶尺寸。

Description

带有最佳功率校准区的多层可写光学记录载体、

以及用于在这种记录载体上形成最佳功率校准区的方法和设备

本发明涉及一种可写光学记录载体，更加具体地说，涉及一种可记录WORM或RW盘，其包括由一种间隔材料分隔开的多个记录层，每个记录层包括最佳功率校准(OPC)区。本发明还涉及一种用于在这种可写光学记录载体上形成最佳功率校准区的方法和设备。

对数据存储容量的日益增长的需求已经导致开发高密度光学记录介质，例如一次写入或可重写DVD盘和蓝光盘(BD)。在这些情况中，已经通过增大物镜的数值孔径(NA)和通过减小记录/读取激光的波长，使得数据容量得到了提高。

用于获得高存储容量的一种补充方案是增加记录层的数量。例如，通过引入n个信息存储层，可使数据容量提高n倍。对于DVD+R、DVD+RW、BD-R和BD-RW介质，当前正是沿用的后一方案。两倍增加(在双层盘中)是已知的，而四倍增加(在四层盘中)正处在研究阶段。

目前已知有两种主要不同的写入原理：在一次写入介质(例如，CD-R、DVD+R和DVD-R)的情况下是染料记录，在可重写介质(例如CD-RW、DVD-RAM、DVD-RW、DVD+RW和BD-RW)的情况下是相变记录。

相变记录层通常包括一种相变材料，其典型的为夹在两个介电ZnS-SiO2层之间的叠层中的具有持久多晶结构的合金。由记录信号调制的用其照射记录载体的写入激光束的能量将被相变材料最大程度的吸收，由此引起从晶相到非晶相的相变。而晶相(基态)具有较高的反射率，非晶相(写入状态)具有减小的反射率。因此，取决于读取光束是撞击在写入区(标记)还是未写入区(脊)上，记录层以不同的强度反射聚焦在所述记录叠层上的读取光束。

染料记录层典型的由包括染料材料(类似，例如青蓝、酞菁或金属化偶氮物)的有机染料层和反射金属层构成，所述反射金属层典型的由金、银或铝构成。写入激光束将被记录层部分地吸收，从而持久和不可逆地漂白和分解染料材料。照到以那样的方式写入的标记上的读取光束将被那个标记部分地散射。因此，在反射金属层上反射的光的强度取决于读取光束是照到一个标记上还是几乎不受干扰的通过记录层。

这样，层的记录状态包括该层平均反射的变化，并且还影响其透射。在多层盘的情况下，这意味着在一个指定(焦点对准(in-focus))层上进行的读取和写入一般受盘中存在另外的(焦点未对准(out-of-focus))层的影响。在物镜的NA范围内，接着根据标记(代表数据)在那个区域中的焦点未对准层中的存在情况，在焦点未对准层处产生的杂散光与它们的平均反射成比例。另外，焦点未对准层中存在数据会导致那些层的透射性质不同。因此，当激光束通过一个或多个层时，由焦点对准层接收的光学功率被改变，并且根据在物镜的NA范围内周围层是否包含数据可获得不同的最佳条件(即，写入功率，焦点偏移等)。

众所周知为了在光盘上获得最好质量的记录数据，驱动器在记录处理之前执行最佳功率校准过程(OPC)。通过该OPC过程，驱动器确定用于记录数据的最佳功率。通常，无论何时将盘(空的或部分记录的)插入到驱动器中都执行该OPC过程。对于多层光盘来说，对于一层进行OPC过程的结果可能取决于是否在另外的层中存在数据。

为了避免在多层光盘中获得差质量的记录数据，则必须要解决这些影响。在欧洲专利申请1244096中，提出了一种具有多个记录层每个记录层都具有OPC测试区的盘。这些OPC测试区包括具有最佳功率传递路径的部分和具有最低功率传递路径的部分。然而，在这种盘中，由这些OPC测试区占据的空间非常大。

本发明的目的是提供一种具有多个记录层的可写光盘，其中配备有最佳功率校准区，其对于用于最优写入策略的最佳写入功率的校准是有效的，因此要求最小的空间。另一个目的是提供一种用于在这种可写光学记录载体上形成最佳功率校准区的方法和设备。

根据本发明的第一方面，该目的是通过在具有孔径为NA的物镜的记录装置中使用的可写光盘实现的，所述盘包括每次由间隔材料分开的多个记录层L0，......，Ln-1，每个记录层包括最佳功率校准区，其中至少层L0，......，Ln-2，或L1，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第一部分，其具有代表已记录层的平均反射值，每个记录层L0，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第二部分，其具有代表未记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对相继的记录层Lk、Lk+1的第一部分形成一个台阶，其最小台阶尺寸w_k，k+1为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1,}----\left(1\right)$

其中ε代表每个记录层的最大半径偏差(misalignment)，Δ_k，k+1代表相继层Lk和Lk+1之间的间隔材料的厚度，nm为间隔材料的折射系数，并且其中所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。

本发明考虑了：在一次写入多层介质中，优选地记录将是逐层进行的。该写入顺序也可应用于可重写多层盘中。对于逐层记录最合理的实现方式是从顶部到底部或从底部到顶部。通过定义阶梯形部分，可在OPC过程中模仿位于较高的层(higher-lying layer)中的数据影响和位于较低的层中的数据缺失，反之亦然。其优点是，每次(在OPC期间和在用户数据记录期间)在连续层的测试和记录期间都会遇到从位于较高和较低的层进行反射和/或透射的相同情形，因此在盘上占据最小的空间。

根据各层将要进行记录的优选顺序，选择阶梯中台阶的宽度以便确保在OPC过程中，关于入射光束来自位于较高的层的杂散光总是来自代表记录区域的部分，而来自位于较低的层的杂散光总是来自代表未记录区的部分，或者反之亦然。

根据本发明的第二方面，其构成第一方面的进一步发展，所述最佳功率校准区被设置成靠近所述盘的中心，所述第一部分形成同心圆。

根据本发明的第三方面，其构成第一方面的进一步发展，所述最佳功率校准区被设置成靠近所述盘的外周，所述第一部分形成同心圆。

根据本发明的第四方面，其构成第二或第三方面的进一步发展，在远离所述盘的光束入射侧的方向观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层减小。

根据本发明的第五方面，其构成第二或第三方面的进一步发展，在远离所述盘的光束入射侧的方向观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层增加。

另外，根据本发明的第六方面，本发明的上述目的是通过一种在可写光盘上形成最佳功率校准区的方法实现的，所述记录盘包括每次由间隔材料分开的多个记录层L0，......，Ln-1，其中借助具有孔径为NA的物镜的写入记录装置在所述记录层上写入标记，由此在每个记录层上形成最佳功率校准区，使得至少层L0，......，Ln-2，或L1，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第一部分，其具有代表已记录层的平均反射值，每个记录层L0，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第二部分，其具有代表未记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对相继的记录层Lk、Lk+1的第一部分形成一个台阶，其最小台阶尺寸为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1,}$

其中ε代表每个记录层的最大半径偏差，Δ_k，k+1代表相继层Lk和Lk+1之间的间隔材料的厚度，n_m为间隔材料的折射系数，并且其中所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。

根据本发明的第七方面，其构成第六方面的进一步发展，靠近所述盘的中心写入所述最佳功率校准区，所述第一部分形成同心圆。

根据本发明的第八方面，其构成第六方面的进一步发展，靠近所述盘的外周写入所述最佳功率校准区，所述第一部分形成同心圆。

根据本发明的第九方面，其构成第七或第八方面的进一步发展，写入所述最佳功率校准区使得在远离所述盘的光束入射侧的方向观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层减小。

根据本发明的第十方面，其构成第七或第八方面的进一步发展，以这样一种方式写入所述最佳功率校准区使得在远离所述盘的光束入射侧的方向观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层增加。

另外，根据本发明的第十一方面，上述目的是通过被设置成用于在可写光盘上记录数据的设备实现的，所述盘包括多个记录层L0，......，Ln-1，它们具有最大半径偏差ε，并且由位于每两个连续层Lk、Lk+1之间的具有厚度Δ_k，k+1并具有折射系数n_m的间隔材料分隔开，所述设备包括：具有孔径为NA的物镜的写入单元，所述写入单元被设置成用于在所述记录层上写入标记；控制单元，其被设置成用于控制所述写入单元，使得在所述记录层的预定位置处写入标记，由此在每个记录层上形成最佳功率校准区，其中至少层L0，......，Ln-2，或L1，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第一部分，其具有代表已记录层的平均反射值，每个记录层L0，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第二部分，其具有代表未记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对相继的记录层Lk、Lk+1的第一部分形成一个台阶，其最小台阶尺寸为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1,}$

并且其中所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。

可在记录载体本身上存储与每个记录层的最大半径偏差ε、两个连续层Lk、Lk+1之间的间隔材料的厚度Δ_k，k+1和间隔材料的折射系数nm相应的信息。例如，在标准WORM或可重写CD或DVD的情况下可将信息的一部分存储为盘的预制凹槽中的调制摆动信号。可选择地，可在盘上的导入轨迹或其它地方将信息存储为(预)记录的数据。

在本情况中，根据本发明的第十二方面，其构成第十一方面的进一步发展，所述设备还包括用于从所述可写光盘获得与每个记录层的最大半径偏差ε、两个连续层Lk、Lk+1之间的间隔材料的厚度Δ_k，k+1和间隔材料的折射系数n_m相应的信息的装置。

根据本发明的第十三方面，其构成第十一方面的进一步发展，所述控制单元被进一步设置成用于存储与在OPC过程期间记录在任何一层的第二部分中的轨迹的最大数量相应的信息，并且另外还用于在另外的层上写入标记使得在所有层的OPC区域的第二部分中记录相同数量的轨迹。

本发明的上述和其它目的、特征和优点通过下述结合附图的对优选实施例的说明将变得显而易见，其中：

图1为在OPC操作期间具有阶梯形OPC区域的多层盘的截面示意图；

图2为在一不同状态下在OPC操作期间具有阶梯形OPC区域的多层盘的截面示意图；

图3为多层盘中的两个记录层的最大偏差的示意平面图；

图4为具有n个记录层的多层盘的剖面图案，其示出了第一层L0和最后层Ln-1；和

图5为具有n个记录层的多层盘的剖面图案，其示出了一对连续层Li和Li-1。

图1表示根据本发明的可写光学记录载体的第一实施例的剖面图。所述可写光学记录载体在本情况中为包括四个记录层L0至L3的多层盘100，其中相对于入射光束，L0是第一层或最外层，而L3是最深层。换句话说，L0定义了盘的光束入射侧。每层L0至L3都分别包括一个OPC区101、111、121和131。除了最深层L3的OPC区之外，每个OPC区都分别具有第一部分102、112和122，其具有代表未记录层的平均反射值。另外，每个记录层L0至L3包括用于存储控制数据或用户数据的未写入数据区104、114、124、134。在图1中示出了从所述入射侧进入盘的OPC测试激光束106。箭头105、115、125表示在焦点未对准层L0至L2的OPC区的第一部分处反射的杂散光，而光束106聚焦在最深层L3上。在本情况中，只给层L0、L1、L2层提供第一部分就足够了。然而，也可以给层L3提供具有代表记录层的平均反射值的第一部分。

图2表示4层盘200的相同实施例。OPC测试激光束206在本情况中被聚焦在盘200的第二层L1上，而箭头205、225、235表示在焦点未对准层L0、L2和L3处反射的光。更精确地，光分别在L0的OPC区域的第一(写入)部分212和L2与L3的OPC区域的第二(未写)部分223、233处进行反射。

从图1和2都能看出OPC区被设置成部分重叠，以致使得每对相继记录层的OPC区的第一部分形成一个台阶，并且所述多个记录层的OPC区具有阶梯的形态。由于其形状，这些区域也被称作为阶梯区域。

阶梯区域的方向由对各层进行记录的顺序(从顶部到底部或从底部到顶部)定义。在图1和2所示的实施例中，记录的顺序是从顶部到底部(L0到L3)。如果记录的相反顺序(从底部到顶部)是优选的，则只给层L1、L2、L3提供第一部分就将是足够的。

一般，由通用光盘记录器在实际的记录处理之前执行OPC过程，因为例如在实时记录影片期间，层跳跃需要执行新的OPC过程是不可接受的，其将导致部分影片损失。因此，OPC区域应在OPC过程开始之前就已存在。例如当将“空白”盘首次安装在记录器上时，可借助记录器本身通过写入适当标记来产生所述OPC区域，或者它们已经被预先记录(ROM)在现成的盘上。在前者的情况中，可在记录器中提供控制单元，其被设置成用于在记录器检测到没有OPC区域存在时在OPC过程开始之前执行OPC区域写入过程。因此，例如将要由写入单元写入的“伪数据”可被存储在记录器的表或存储器中。所述控制单元可进一步被设置成用于控制写入单元以产生按照所存储的伪数据调制的写入光束。然后，在盘的层(在图1和2所示的例子中，仅在层L0、L1、L2上)上的预定位置处写入标记，由此在这些层的每一个上形成最佳功率校准区的第一部分，其具有代表记录层的平均反射值。

注意，通过记录器写入的或预先记录的OPC区域中的数据质量并不重要，只要它能产生代表记录层的平均反射值，例如未写入初始态层的反射率为75％，而写入(漂白或非晶)区域的反射率为25％。

在下面，我们考虑靠近盘的内侧半径R_min(中心)的OPC区和相对于盘的激光入射侧进行从顶部到底部记录的情况。本发明也可应用于底部到顶部记录。另外，下列论述可以以直接的方式扩展至任何其它半径，优选的扩展至靠近盘的外径R_max(外周)的OPC区域。

为了确保在OPC期间和在用户数据记录期间遇到相同的情形(由/通过上面和下面层的反射/透射)，接下来要确定最小阶梯宽度。考虑了两种影响：各层的偏差或偏心率以及入射激光束的锥形光束的顶角。

入射读取或写入光束由记录器的读取/写入单元的物镜进行聚焦。这就产生一个具有由物镜的数值孔径NA定义的顶角θ的锥形光束。它是：

NA＝n_m×sin(Θ)，                                  (2)

其中n_m是通过其传播的介质的折射系数，所述介质例如是将记录层分隔开的间隔材料。

在位于距离Δ处的焦点未对准层上，产生的光点半径R为：

$R=\mathrm{\Δ}\×\frac{{\sin }^2\left(\mathrm{\Θ}\right)}{\sqrt{1-{\sin }^2\left(\mathrm{\Θ}\right)}}=\mathrm{\Δ}\×\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{n_m^2-{\mathrm{NA}}^2}}----\left(3\right)$

通过该半径R确定阶梯区域的最小宽度以便保证OPC测试光束总是通过具有代表已记录层的平均反射的位于较高的层(顶部到底部记录)。

到现在为止，还未考虑各层的可能偏差的情况。多层盘中的层应关于一个参考点，例如盘的重力的理想几何中心对齐。相对于该参考点，各个层定位的公差，换句话说各层的预制凹槽螺旋的偏心距为ε。这意味着多层盘中的任何层对相对于彼此都几乎偏移+2ε或-2ε，参见图3。示出了两个典型层的OPC区域的内部半径R_min302和312。它们的中心304、314偏移+2ε(向右)或-2ε(向左)。为了校正最大可能的偏差或偏心率，将考虑对连续层的阶梯区域的宽度额外增加2ε，如下所示。

N叠层的盘的最深层Ln-1上的OPC区的开始位置被定义为R_OPC，Ln-1。当Ln-1处于焦点对准时，第一层L0上相对于入射光的光点的宽度w_Ln-1，L0可从上面给出的等式(3)计算得到。为了保证在Ln-1中的未写入第二部分433上执行OPC时锥形光束406全部由L0中的写入第一部分402捕获，Ln-1中的OPC区域的第二部分应开始于：

$R_{\min ,\mathrm{Ln}-1}+2\mathrm{\ϵ}+{\mathrm{\Δ}}_{\mathrm{tot}}\×\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{n_m^2-{\mathrm{NA}}^2}},----\left(4\right)$

其中Δ_tot为Ln-1和L0之间的总的垂直距离(所有间隔的厚度和)，参见图4。

另外，为了保证在Lk+1中的未写入第二部分523上执行OPC时聚焦在层Lk+1上的光束的光锥506全部通过下一个较高层Lk中的已记录第一部分502，两个连续层Lk和Lk+1之间的阶梯尺寸应为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1}$

其中Δ_k，k+1为相继层间的间隔厚度，参见图5。注意，不同层之间的Δ_k，k+1可发生变化。

这些考虑意味着在n层盘中，对于每层Li(i＝0......n-1)的OPC区的第一部分的最小宽度wi都应该遵守下列等式：

$w_t=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·\underset{k=0}{\overset{n-2}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1}$

$+(1-{\mathrm{\δ}}_{i,n-1})\·\underset{k=1}{\overset{n-2}{\mathrm{\Σ}}}[2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1}]----\left(6\right)$

其中，Δ_k，k+1为层k+1和k之间的间隔厚度。注意第一个求和项相当于Ln-1和L0之间的总的间隔厚度Δ_tot，并且由于Kronecker德尔塔函数δ_i，n-1，对于i＝n-1，最后的求和项将趋于零。注意，最深层Ln-1并不需要具有与已记录层相应的平均反射值的第一部分，因为没有将要对其进行聚焦的更深的层。因此，也可将w_n-1设为零。另外，第一层L0并不需要具有与未记录层相应的平均反射值的第二部分，因为如果需要也可以在第一层的用户数据区中执行OPC过程。因此，可将OPC区的最大宽度限制为w₀。

通过用轨迹间距除阶梯宽度来获得需要包含(伪)数据的OPC区的第一部分中的轨迹数量。

OPC区的第二部分，即在层中发生OPC过程的地方总是被定义为邻近其第一部分。这确保对于单盘上执行的多OPC过程来说，在较高(较低)位于焦点未对准层中需要有数据(没有数据)的要求被满足，尤其是当每层上的每个OPC使用相同数量的轨迹时。对于OPC区可用的总长度可通过其它要求来设置。

当在OPC过程中新的测试数据被写入到任一层的OPC区的第二部分中时，最小阶梯尺寸的条件可能不再被满足。因此，在本发明的另一个实施例中，用于记录的设备被设置成用于(临时)存储与在OPC过程期间在该层上记录的轨迹(或数据块)的最大数量相应的信息。另外，它被设置成用于在其它的层上记录导致代表已记录层的平均反射值的数据或标记，使得相同数量的轨迹(数据块)被记录在所有层上的OPC区的第二部分中。

例如，在NA＝0.65、n_m＝1.55、Δ＝50μm、2ε＝70μm并且根据等式(6)OPC区在盘的内径的双层DVD+R中，我们得到下列结果：L1(最深层)中的OPC区的第二部分的第一部分内径开始于在从R_min，L1处的L1轨迹的开端(内径)计算起的下述宽度：

w1＝70+0.46*50＝93μm＝126轨迹

对于L0(第一层)，OPC区的第一部分的宽度从在R_min，L0处的L0轨迹的开端计算：

w0＝70+0.46*50+70+0.46*50＝186mm＝251轨迹

L0中的OPC区的第二部分紧跟在w₀后面开始。

在NA＝0.65、n_m＝1.55、Δ＝50μm、2ε＝70μm的四层DVD+R中，根据等式(6)，对在盘的内径上的OPC区，我们得到下列结果：

w₃＝70+0.46*150+70+0.46*50＝139mm＝282轨迹

w₂＝70+0.46*150+70+0.46*50+70+0.46*50＝232mm＝314轨迹

w₁＝70+0.46*150+70+0.46*50+70+0.46*50+70+0.46*50＝325mm＝439轨迹，和

w₀＝70+0.46*150+70+0.46*50+70+0.46*50+70+0.46*50+70+0.46*50＝418mm＝565轨迹。

每个宽度w_i都是从在R_min，Li处的相应轨迹的开端(内径)开始计算的。

OPC区的第二部分再次开始于与其第一部分连续。

在除了OPC区在盘的外径上之外其余与上述相同的实施例中，对于w_i我们会得到具有相同绝对值的结果，但是具有负号。因此，每个宽度w_i都是从在R_max，Li处的相应轨迹的末端(外径)开始计算的。在这种情况中，优选的应该从外径朝向内径执行OPC。

在本发明的一个实施例中，在阶梯区域中写入的结果包含控制信息。

应该注意本发明并不局限于包括2或4层的光学记录载体，而是也可应用于包括3、5或更多层的记录载体。另外也不限制于内径或外径OPC区，而是也可以应用于任何其它OPC区的设置方式。

Claims (13)

1.在具有孔径为NA的物镜的记录装置中使用的可写光盘，包括每次由间隔材料分开的多个记录层L0，......，Ln-1，每个记录层包括最佳功率校准区，其中至少层L0，......，Ln-2，或L1，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第一部分，其具有代表已记录层的平均反射值，每个记录层L0，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第二部分，其具有代表未记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对相继的记录层Lk、Lk+1的第一部分形成一个台阶，其最小台阶尺寸w_k，k+1为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1},$

其中ε代表每个记录层的最大半径偏差，Δ_k，k+1代表相继层Lk和Lk+1之间的间隔材料的厚度，n_m为间隔材料的折射系数，并且其中所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。

2.根据权利要求1所述的可写光盘，其特征在于所述最佳功率校准区被设置成靠近所述盘的中心，所述第一部分形成同心圆。

3.根据权利要求1所述的可写光盘，其特征在于所述最佳功率校准区被设置成靠近所述盘的外周，所述第一部分形成同心圆。

4.根据权利要求2或3所述的可写光盘，其特征在于在远离所述盘的光束入射侧观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层减小。

5.根据权利要求2或3所述的可写光盘，其特征在于在远离所述盘的光束入射侧观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层增加。

6.在可写光盘上形成最佳功率校准区的方法，所述盘包括由间隔材料分开的多个记录层L0，......，Ln-1，其中借助具有孔径为NA的物镜的写入记录装置在所述记录层上写入标记，由此在每个记录层上形成最佳功率校准区，使得至少层L0，......，Ln-2，或L1，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第一部分，其具有代表已记录层的平均反射值，每个记录层L0，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第二部分，其具有代表未记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对相继的记录层Lk、Lk+1的第一部分形成一个台阶，其最小台阶尺寸为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1},$

其中ε代表每个记录层的最大半径偏差，Δ_k，k+1代表相继层Lk和Lk+1之间的间隔材料的厚度，n_m为间隔材料的折射系数，并且其中所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于靠近所述盘的中心写入所述最佳功率校准区，所述第一部分形成同心圆。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于靠近所述盘的外周写入所述最佳功率校准区，所述第一部分形成同心圆。

9.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于写入所述最佳功率校准区使得在远离所述盘的光束入射侧观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层减小。

10.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于写入所述最佳功率校准区使得在远离所述盘的光束入射侧观看，所述同心圆的半径从记录层到记录层增加。

11.被设置成用于在可写光盘上记录数据的设备，所述盘包括多个记录层L0，......，Ln-1，它们具有最大半径偏差ε，并且由位于每两个相继层Lk、Lk+1之间的具有厚度Δ_k，k+1并具有折射系数n_m的间隔材料分隔开，所述设备包括：

具有孔径为NA的物镜的写入单元，所述写入单元被设置成用于在所述记录层上写入标记；

控制单元，其被设置成用于控制所述写入单元，使得在所述记录层的预定位置处写入标记，由此在每个记录层上形成最佳功率校准区，其中至少层L0，......，Ln-2，或L1，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第一部分，其具有代表已记录层的平均反射值，每个记录层L0，......，Ln-1的最佳功率校准区具有第二部分，其具有代表未记录层的平均反射值，并且所述最佳功率校准区部分地重叠使得每对相继的记录层Lk、Lk+1的第一部分形成一个台阶，其最小台阶尺寸为：

$w_{k,k+1}=2\mathrm{\ϵ}+\frac{\mathrm{NA}}{\sqrt{{n_m}^2-{\mathrm{NA}}^2}}\·{\mathrm{\Δ}}_{k,k+1},$

并且其中所述多个记录层的第一部分具有阶梯的形态。

12.根据权利要求11所述的设备，其特征在于所述设备还包括：

用于从所述可写光盘获得与每个记录层的最大半径偏差ε、两个连续层Lk、Lk+1之间的间隔材料的厚度Δ_k，k+1和间隔材料的折射系数n_m相应的信息的装置。

13.根据权利要求11所述的设备，其特征在于所述控制单元被进一步设置成用于存储与在OPC过程期间记录在任何一层的第二部分中的轨迹的最大数量相应的信息，并且另外还用于在另外的层中写入标记使得在所有层的OPC区域的第二部分中记录相同数量的轨迹。

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