CN101960520A - 信息记录介质和信息记录装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种信息记录介质，可以通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为3以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，在从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举的情况下，第i(i是满足2≤i≤n-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第i+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第j(j是满足1≤j≤i-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第j+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差。

Description

信息记录介质和信息记录装置
技术领域
本发明涉及通过照射激光来进行信息记录的信息记录介质，特别涉及具有3层以上信息记录层的信息记录介质和适合该信息记录介质的信息记录装置。
背景技术
记录大容量信息的信息记录介质的开发正在盛行。作为记录大容量信息的方法，通过照射由要记录的信息所调制的光，例如照射激光，能够记录信息。这种信息记录介质包括：一处仅能记录一次信息的一次写入型信息记录介质；和可多次改写信息的可改写型信息记录介质。一般，分别称为一次写入型光盘和可改写型光盘。
为了提高光盘的记录容量，使信息记录层多层化非常有效。在DVD和BD中，已经实现了具有2个信息记录层的光盘。
这种光盘在各信息记录层具备适合记录信息的记录条件，特别是用来决定光记录功率的测试记录区。在使用光盘装置对光盘记录信息时，在装置启动时或记录之前，使用测试记录区来使记录功率最优化。例如，专利文献1公开了一种一次写入型光盘的记录功率的决定方法。
专利文献1：特开2002-358648号公报
专利文献1公开了具备2个信息记录层的光盘所涉及的技术。但是，没有公开具备3个以上信息记录层的光盘的结构、特别是测试记录区的配置和它的使用方法。
发明内容
本发明的目的是解决这种以往的技术课题，提供一种具有3个以上信息记录层、能以合适的条件在各信息记录层上记录信息的信息记录介质和适合这种信息记录介质的信息记录装置。
本发明的信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为3以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，第i(i是满足2≤i≤n-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第i+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第j(j是满足1≤j≤i-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第j+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差。
本发明的另一信息记录介质，至少具有3层信息记录层。距离激光入射面相对较近一侧的相邻的1对信息记录层上分别形成的1对测试记录区之间的半径方向的间隔，大于距离所述激光入射面相对较远一侧的相邻的1对信息记录层上分别形成的1对测试记录区之间的半径方向的间隔。
本发明的另一信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为3以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，第k(k是满足1≤k≤n-2的整数)信息记录层的测试记录区以及第k+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第k信息记录层的测试记录区以及第k+2信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差。
在某个优选的实施方式中，所述n是4，所述k是1。
本发明的另一信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为4以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，第k’(k’是满足1≤k’≤n-3的整数)信息记录层的测试记录区以及第k’+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第k’+1信息记录层的测试记录区以及第k’+3信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差。
本发明的另一信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为3以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，第3层的信息记录层的测试记录区比第1层的信息记录层的测试记录区更位于外周侧，第1层的信息记录层的测试记录区比第2层的信息记录层的测试记录区更位于外周侧。
在某个优选的实施方式中，所述n是4。
本发明的另一种信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为4以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，第3层的信息记录层的测试记录区比第2层的信息记录层的测试记录区更位于外周侧，第2层的信息记录层的测试记录区比第4层的信息记录层的测试记录区更位于外周侧。
本发明的另一信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为4以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，第3层的信息记录层的测试记录区比第1层的信息记录层的测试记录区更位于外周侧，第1层的信息记录层的测试记录区比第4层的信息记录层的测试记录区更位于外周侧。
本发明的另一信息记录介质能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层(n为3以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的、在互不相同的半径位置上设置的测试记录区。在所述测试记录区上设有多个副区。当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，在第i(i是满足2≤i≤n的偶数)信息记录层，所述激光从外周侧向内周侧扫描，在所述测试记录区，副区从内周侧向外周侧使用，在第i-1信息记录层，所述激光从内周侧向外周侧扫描，在所述测试记录区，副区从外周侧向内周侧使用。
本发明的信息再现装置对上述任意一项所述的信息记录介质进行再现。所述信息记录介质在所述n层的信息记录层的至少1个信息记录层上具有控制区。至少执行以下步骤中的一个，分别是：从所述控制区再现与所述信息记录介质相关的信息的步骤；和在所述n层的信息记录层的任意1个信息记录层上，再现以使用该层测试记录区调整后的记录功率所记录的数据。
本发明的信息记录装置对上述任意一项所述的信息记录介质进行记录。使用所述n层信息记录层的任意1层的测试记录区，决定激光的记录功率。以决定的记录功率照射所述激光，在所述任意1层上记录数据。
本发明的再现方法对上述任意一项所述的信息记录介质进行再现。所述信息记录介质在所述n层的信息记录层的至少1个信息记录层上具有控制区。所述再现方法至少执行以下步骤中的一个，分别是：从所述控制区再现与所述信息记录介质相关的信息的步骤；和在所述n层的信息记录层的其中1层上，再现以使用该层测试记录区调整后的记录功率所记录的数据。
本发明的记录方法在上述任意一项所述的信息记录介质上记录数据。包含以下步骤：使用所述n层信息记录层的任意1层的测试记录区，决定激光的记录功率；和以决定后的记录功率照射所述激光，在所述任意1层上记录数据。
根据本发明，在具有3个以上信息记录层的光盘，各信息记录层上设有测试记录区。因此，即便由于信息记录层的叠层而使每个信息记录层的激光照射强度和热环境等不同，也能够使用要进行记录的信息记录层的测试记录区，在该信息记录层的环境下进行测试记录。因此，能够决定最适合各信息记录层的记录功率。
附图说明
图1是表示根据本发明的信息记录介质的第1实施方式的结构的分解立体示意图。
图2是表示图1的信息记录介质的测试记录区的配置的示意图。
图3是表示用来比较的信息记录介质的测试记录区的配置的示意图。
图4(a)是表示图1的信息记录介质的各信息记录层的结构的示意图，(b)和(c)分别是表示测试记录区的使用方向的示意图。
图5(a)和(b)是表示第1实施方式的信息记录介质的测试记录区的其它配置的示意图。
图6是表示第1实施方式的信息记录介质的测试记录区的其它配置的示意图。
图7是说明信息记录层L2的劣化区域对信息记录层L0、L1的影响的示意图。
图8是表示第1实施方式的信息记录介质的测试记录区的其它配置的示意图。
图9是表示第2实施方式的信息记录介质的测试记录区的配置的示意图。
图10是表示第2实施方式的信息记录介质的测试记录区的其它配置的示意图。
图11是表示第2实施方式的信息记录介质的测试记录区的其它配置的示意图。
图12是表示第2实施方式的信息记录介质的测试记录区的其它配置的示意图。
图13是表示根据本发明的信息记录装置的实施方式的框图。
图14是表示根据本发明的信息记录介质的第4实施方式的结构例的示意图。
图15是表示单层信息记录介质的结构的示意图。
图16是表示双层信息记录介质的结构的示意图。
图17是表示3层信息记录介质的结构的示意图。
图18是表示4层信息记录介质的结构的示意图。
图19是表示根据本发明的信息记录介质的第4实施方式的物理结构的示意图。
图20(a)和(b)分别是表示激光光束的光点和磁道上记录的标记的示意图。
图21是使光束照射在磁道上记录的标记列的情况的示意图。
图22是表示OTF与最短记录标记之间关系的曲线图。
图23是表示OTF与最短记录标记之间关系的另一曲线图。
图中：
D0、D1、D2、D3…数据区，
L0、L1、L2、L3…信息记录层，
R0、R1、R2、R3…读入区，
T0、T1、T2、T3…测试记录区，
110…基板，
111、112…中间层，
113…封面层。
具体实施方式
下面，参照附图，说明根据本发明的信息记录介质的第1实施方式。本发明的信息记录介质是一次写入型或可改写型。
图1是表示本发明的信息记录介质的第1实施方式的结构的分解立体示意图。如上所述，能够对信息进行光学记录、对所记录的信息进行光学再现的信息记录介质一般被称为光盘，所以，以下将信息记录介质称作光盘。此外，所谓“信息”是指记录在信息记录介质上的文字信息、声音信息、图像信息、程序和其它各种信息。这些信息被数字化，或记录在信息记录介质上，或被各种信息处理装置处理。一般，将计算机处理的“信息”定义为“数据”，所以，在本申请说明书中，“信息”与“数据”同义。本申请说明书中，按照一般或惯用的表现，有选择地使用“信息”或“数据”用语。例如，光盘等一般称作“信息记录介质”，记录信息的区域称作“数据区”。
如图1所示，光盘101包括：基板110、信息记录层L0、L1、L2、中间层111、112、和封面层113。基板110与封面层113之间配置有信息记录层L0、L1、L2，信息记录层L0被配置在基板110侧，信息记录层L2被配置在封面层113侧。因为从封面层113侧照射由要记录的信息调制的激光200，所以信息记录层从距离成为激光200入射面的封面层113的表面的较远一侧开始，按照L0、L1、L2的顺序被配置。中间层111被设置于信息记录层L0与信息记录层L1之间，中间层112被设置于信息记录层L1与信息记录层L2之间。
基板110、信息记录层L0、L1、L2、中间层111、112、和封面层113按照上述配置被叠层，相互接合，通过叠层构成的光盘101的中心设有夹孔114。基板110、中间层111、112、和封面层113例如由聚碳酸酯树脂等形成。
信息记录层L0、L1、L2分别设有被设置成同心圆状或螺旋状的记录数据的磁道。此外，信息记录层L0、L1、L2还分别设有数据区D0、D1、D2；和比数据区D0、D1、D2更靠内周侧设置的读入区R0、R1、R2。
数据区D0、D1、D2是记录用户数据的区域。在光盘101是一次写入型的情况下，数据区D0、D1、D2在相同位置只能记录一次信息。不能改写已记录的信息。在光盘101是可改写型的情况下，数据区D0、D1、D2能够记录信息，并能以其它信息改写已记录的信息。
读入区R0、R1、R2至少分别具有作为再现专用区的控制区(也称为PIC(Permanent Information & Control Data)区)和可以记录信息的测试记录区(也称为OPC(Optimum Power Control)区)。
测试记录区用于调整对数据区记录信息时使用的激光的记录功率。具体而言就是，改变记录功率，同时对测试记录区照射由规定信息调制后的激光，形成记录标记。其后，对形成的记录标记照射激光，再现记录的信息，通过评价再现信息的质量，决定最合适的记录功率。
读入区R0的测试记录区用于调整对同一信息记录层L0的数据区记录信息的激光的记录功率。同样，读入区R1、R2的测试记录区分别用于调整对数据区D1、D2记录信息的激光的记录功率。
控制区记录有(保存有)盘信息、媒介(光盘)制造商推荐的用户数据记录时的照射功率等记录参数信息。用于向各信息记录层L0、L1、L2记录信息的最合适记录参数因信息记录层的不同而不同。在本实施方式中，在读入区R0、R1、R2的各个控制区中，不仅记录有对同一信息记录层的数据区记录信息的记录参数信息，也记录有对其它信息记录层记录信息的记录参数信息。具体而言就是，在读入区R0的控制区，记录有用于对信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2记录信息的记录参数信息。同样，在读入区R1、R2的各个控制区，也记录有用于对信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2记录信息的记录参数信息。
这样，从任意一个信息记录层的控制区都可以得到所有信息记录层的记录参数信息。因此，与仅在各信息记录层的控制区记录该信息记录层所涉及的记录参数信息的情况相比，可以缩短直至记录用户数据的时间。此外，即便是因为外部干扰等，而开始对与希望的信息记录层不同的错误信息记录层进行再现时，也可以通过再现该错误信息记录层的控制区，得到想要的信息记录层的记录参数信息。
其中，对控制区的记录参数的记录方法不限于此。也可以在各信息记录层的控制区，仅记录用于对该信息记录层的数据区进行记录的记录参数信息。这种情况下，由于要记录在各控制区的记录参数信息的量变少，所以可以减小控制区。因此，如下所述，即便是因信息记录层增加，使各层的测试记录区的半径位置不同，也容易确保控制区。
此外，在光盘101是一次写入型的情况下，也可以在任意一个信息记录层的控制区，记录用来在该光盘101所包含的所有信息记录层的数据区记录信息的记录参数信息。在这种情况下，记录有所有信息记录层的记录参数信息的控制区可以配置在距离光入射面最远的信息记录层。
例如，在光盘101是一次写入型的情况下，用于对信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2记录信息的记录参数信息也可以仅记录在信息记录层L0的读入区R0上设置的控制区。
此外，在这种情况下，从封面层113的激光200的入射面(盘101表面)到信息记录层L0的深度(厚度)也可以和具有1个信息记录层的光盘的从盘表面到其信息记录层的深度一致。这样，使用对具有1个信息记录层的光盘进行记录再现的光盘装置，能够得到光盘101的信息记录层L0、L1、L2的任意信息记录层的盘信息，能够简化光盘装置的结构。
另外，对于从该信息记录层再现的再现信号来说，信息记录层距离光盘表面越远，倾斜对信号质量的劣化影响越大。所以，在光盘具有多个信息记录层的情况下，优选：从表面到最靠近基板侧的信息记录层(基准层)的深度，与具有1个信息记录层的光盘的从盘表面到其信息记录层的深度相等。在这种情况下，在与最靠近基板侧的信息记录层上所设的盘信息区域相对应的其它信息记录层的区域上，设置与数据区相同的沟槽结构，就可以不管光盘的半径位置，使到达最靠近基板侧的信息记录层的激光的透过率相同。因此，不需要用来再现最靠近基板侧的信息记录层的盘信息的特别检测机构，能够简化光盘装置的结构，进而使其它层的制作变得容易。
图2是光盘101的截面示意图，表示读入区R0、R1、R2的测试记录区的配置。图2和以后的附图不表示中间层111、112。此外，激光200在图2中是从上方照射，盘的外周方向是如箭头所示的右侧。
如图2所示，信息记录层L0、L1、L2的读入区R0、R1、R2各自安排了测试记录区T0、T1、T2的位置。测试记录区T0、T1、T2被配置在彼此不同的半径位置，从信息记录层L0、L1、L2的叠层方向，也就是激光200的入射方向观察，相互之间均不重合。
更为具体而言就是，在光盘101上，与配置在最内周侧的信息记录层L1的测试记录区T1的外周端部T1b相比，配置在第2内周侧的信息记录层L0的测试记录区T0的内周端部T0a处于外周侧，设置了测试记录区不重叠的间隙(间隔)。该间隙具有由内周端部T0a的半径位置与外周端部T1b的半径位置之差规定的距离。此外，与配置在第2内周侧的信息记录层L0的测试记录区T0的外周端部T0b相比，配置在最外周侧的信息记录层L2的测试记录区T2的内周端部T2a处于外周侧，设置了距离由内周端部T2a与外周端部T0b的半径位置之差规定的间隙。
若从离激光200入射面最远的一侧，对3个信息记录层L0、L1、L2进行列举的情况下，作为第3层信息记录层的信息记录层L2的测试记录区T2比作为第1层信息记录层的信息记录层L0的测试记录区T0更处于外周侧；信息记录层L0的测试记录区T0比作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区T1更处于外周侧。
下面，对这种测试记录区T0、T1、T2的配置所带来的效果进行说明。考虑图3所示的情况，与本实施方式不同，测试记录区T0、T1、T2分别配置在信息记录层L0、L1、L2中相同的半径位置上。也就是说，测试记录区T0的内周端部T0a、测试记录区T1的内周端部T1a和测试记录区T2的内周端部T2a的半径位置彼此一致，测试记录区T0的外周端部T0b、测试记录区T1的外周端部T1b和测试记录区T2的外周端部T2b的半径位置彼此一致，测试记录区T0、T1、T2完全重合。在这种情况下，一旦例如信息记录层L1的测试记录区T1被破坏，由于测试记录区T1的激光透过率就会大大减低，因此激光不能准确到达比信息记录层L1距离激光更远的信息记录层L0的测试记录区T0。其结果，进行测试记录的光盘装置无法访问信息记录层L0的测试记录区T0。
此外，不到破坏的程度，用较高照射功率对信息记录层L1的测试记录区T1进行测试记录，若测试记录区T1的透过率变化，则由于对测试记录区T1记录的有无，会使到达信息记录层L0的激光的强度的发生变化。
在测试记录区T2被破坏，或者测试记录区T2的激光透过率发生变化的情况下，测试记录区T0、T1有可能受到影响。因此，在图3所示的测试记录区的配置中，由于使用信息记录层L0、L1的测试记录区T0、T1，无法正确进行测试记录，所以可能无法正确决定信息记录层L0、L1的记录功率。
相对于此，根据图2所示的本实施方式的测试记录区的配置，测试记录区T0、T1、T2的半径位置不同，测试记录区T0、T1、T2在信息记录层的叠层方向不重叠。因此，即便信息记录层L1的测试记录区T1被破坏，激光也不受被破坏的测试记录区T1的影响，或者几乎不受影响，准确到达信息记录层L0的测试记录区T0。因此，能够使用信息记录层L0的测试记录区T0，正确地进行测试记录，能够正确决定信息记录层L0的记录功率。同样，即便信息记录层L2的测试记录区T2被破坏，也能够正确决定信息记录层L0、L1的记录功率。
此外，基于同样理由，即便测试记录区T0、T1、T2的激光的透过率变化，激光也可以准确到达信息记录层L0、L1、L2的测试记录区T0、T1、T2。因此，可以使用信息记录层L0、L1、L2的测试记录区T0、T1、T2正确进行测试记录，可以正确决定信息记录层L0、L1、L2的记录功率。
另外，例如在利用信息记录层的相变化的可改写型光盘中，即便透过率在无定形状态的记录标记和结晶状态的记录标记上不同，在记录功率决定以后，消去标记就可以不使信息记录层的透过率变化。但是，对于仅可记录一次的一次写入型光盘，信息记录层的记录膜特性是不可逆的。因此，本实施方式的测试记录区的配置对一次写入型光盘特别有用。
下面，说明测试记录区T0、T1、T2的使用方向。如图2中的箭头所示，信息记录层L0、L2中，以激光从内周向外周扫描信息记录层L0、L2的方式构成磁道。相对于此，在信息记录层L1中，以激光从外周向内周扫描信息记录层L1的方式构成磁道。例如，磁道为螺旋状的情况下，磁道的螺旋走向在信息记录层L0、L2和信息记录层L1上是相反的。因此，在对信息记录层L0和信息记录层L1连续记录或再现信息的情况下，在数据区D0的最外周位置完成对信息记录层L0的最后的记录或再现之后，可以使激光原样维持在相同的半径位置，从数据区D1的最外周位置，开始信息记录层L1的最初的记录或再现。此外，在数据区D1的最内周位置完成对信息记录层L1的最后的记录或再现之后，可以使激光原样维持在相同的半径位置，从数据区D2的最内周位置，开始信息记录层L2的最初的记录或再现。因此，每当向下一信息记录层移动的时候，不用使激光跳跃到光盘101的最内周位置或最外周位置，就能进行信息的记录或再现。其中，如果满足后述的要点，各层上的激光光点的行进方向也可以不限定于此。
对此，优选，测试记录区T0、T1、T2的使用方向与各信息记录层的激光光点的行进方向相反。以下，对测试记录区的使用方向进行说明。
如已说明的那样，设在各信息记录层上的测试记录区是用来对该信息记录层的数据区记录数据时决定激光照射功率的测试记录区域。例如，以1mW来增加照射频率，同时记录测试数据，记录之后再现进行了过测试记录的区域，决定再现信号的错误率和抖动等再现指标最好的照射功率。
记录测试数据时的照射功率例如参照控制区，在记录于控制区中的推荐照射功率附近决定即可。但是，根据光盘对于激光的灵敏度偏差或对光盘进行记录的光盘装置的光学头性能偏差等，推定设定功率与实际的照射功率之间存在偏离的情况下，可以考虑所存在的偏差。在这种情况下，可以在推荐功率的±20％左右的功率范围内，例如以5％为单位改变照射功率，同时记录测试数据。
此外，也可以决定除再现指标最好的照射功率以外的其它照射功率。例如，对错误率和抖动等设定基准值，将基准值以下的照射功率范围的中央附近的功率定为记录用户数据时的记录功率。根据该决定方法，即使在例如记录用户数据的过程中，发射激光的光源温度变化，实际照射功率相对于设定功率发生变动，该情况下只要变动是在基准值以下的照射功率范围之内，就可以维持良好的记录质量。此外，即使光盘发生弯曲，只要弯曲带来的记录功率的变动是在基准值以下的照射功率范围以内，就可以保持良好的记录质量。
另一方面，在这种记录功率的决定方法中，需要以较大范围改变测试记录区中的照射功率，这样以高功率记录的测试记录区有可能劣化。
对于可改写型光盘，只要没有因测试记录而带来的劣化问题，就能够在相同区域进行多次的测试记录。因此，无需对测试记录区的使用方法特别设限。但是，对于只能记录1次数据的一次写入型光盘，如上所述，由于在决定记录功率中，以多个照射功率来记录测试数据，所以对于测试记录区的未记录区，从端部开始顺序使用要比随机(蚕食性地)使用有效。对于可改写型光盘，重复地进行记录也会使记录性能发生变化，这时，与一次写入型光盘相同，优选从端部顺序使用测试记录区。
图4(a)表示光盘101的信息记录层L0、L1、L2中的任意1个信息记录层Ln(n是0、1或2)。如上所述，信息记录层Ln设有读入区Rn，读入区Rn内设有测试记录区Tn。对测试记录区T0、T1、T2分配了地址，各测试记录区包含被称为簇(cluster)的副区，该副区是规定数目的地址连续的区域。图4(b)和(c)示意地表示测试记录区Tn的副区t1、t2、t3、t4、t5、…。例如，上述的1次测试记录就会使用1个副区。构成信息记录层L0、L1、L2的测试记录区T0、T1、T2的副区(簇)的个数彼此相等。也就是说，测试记录区T0、T1、T2的大小彼此相等。
如图2所示，在信息记录层L0，激光从内周向外周扫描信息记录层L0。因此，测试记录区T0的副区如图4(b)所示，沿着箭头所示的激光扫描方向，存在被分配了地址的多个副区t1、t2、t3、t4、t5、…。在这种情况下，多个副区t1、t2、t3、t4、t5、…从外周向内周被使用。也就是说，在未使用的副区t1、t2、t3、t4、t5、…中，是从最外周侧开始被顺序使用。在图4(b)中，是按照t5、t4、t3、t2、t1的顺序使用。其中，在各副区内，如箭头所示的那样，按照激光的扫描方向进行测试记录。在信息记录层L2，激光从内周向外周扫描信息记录层L2。所以，多个副区t1、t2、t3、t4、t5、…从外周向内周以t5、t4、t3、t2、t1的顺序被使用。
与此相对，在信息记录层L1，激光从外周向内周扫描信息记录层L1。因此，测试记录区T1的副区如图4(c)所示，沿着箭头所示的激光扫描方向，存在被分配了地址的多个副区t1、t2、t3、t4、t5、…。多个副区t1、t2、t3、t4、t5、…从内周向外周被使用。也就是说，在未使用的副区t1、t2、t3、t4、t5、…中，是从最内周侧开始按照t5、t4、t3、t2、t1的顺序使用。
这样，测试记录区的副区的使用方向与激光的扫描方向、即光点的行进方向相反。由此，即便是测试记录区的某个副区在测试记录时由于强照射功率而破坏，很难追踪光点的轨迹，该情况下因为测试记录区的使用方向与光点的行进方向相反，所以能够不用通过被破坏的副区，到达进行测试记录的区域。例如，上次的测试记录使得信息记录层L0的测试记录区T0的副区t5由于强照射功率而破坏，即使是这种情况下，也可以在下次的测试记录时以未记录的测试记录区t1、t2、t3、t4为顺序检测地址，能够检测出未使用的最外周的副区t4。
此外，由图2可知，如上所述，在使用各信息记录层的测试记录区的情况下，任意相邻的测试记录区之间，相互都会从较远的一方开始使用测试记录区。例如，信息记录层L0的测试记录区T0从外周端部T0b侧的副记录区开始使用，信息记录层L1的测试记录区T1从内周端部T1a侧的副记录区开始使用。因此，特别是在测试记录的次数较少的期间，能够进一步降低其它层的影响，正确决定记录功率。
这样，根据本实施方式的光盘，在具有3个以上信息记录层的光盘中，各信息记录层中设有测试记录区。因此，即便信息记录层的叠层使每个信息记录层的激光照射强度和热环境等不同，也能够使用要进行记录的信息记录层的测试记录区，在该信息记录层的环境下进行测试记录。因此，能够决定最适于各信息记录层的记录功率。
此外，各信息记录层以在叠层方向相互不产生重合的方式，彼此被配置在不同的半径位置上。因此，能够不受其它信息记录层的测试记录区的记录状态的影响，或者对其影响进行抑制，来正确进行测试记录，能够正确决定各信息记录层使用的记录功率。
此外，在各信息记录层的测试记录区的使用方向与该信息记录层的激光的操作方向相反的情况下，即使测试记录区的一部分由于强照射功率而破坏，也能够正确使用测试记录区剩余的区域。此外，能够降低其它层的影响，正确决定记录功率。
下面，参照图2，对测试记录区T0、T1、T2的更为优选的配置进行说明。
一般，在对信息记录层L0照射激光的情况下，激光需要透过信息记录层L1、L2；在对信息记录层L1照射激光的情况下，激光需要透过信息记录层L2。因此，信息记录层L2的激光透过率最高，信息记录层L1、信息记录层L0的透过率顺次降低。
此外，从信息记录层的设计观点出发，如果已开发出具有2个信息记录层的光盘，则优选：将已有的信息记录层当作信息记录层L0、L1使用，只对透过率高的信息记录层L2进行新的开发。
但是，由于信息记录层L2中要求高透过率，所以设计的自由度不大，与信息记录层L0、L1相比，记录条件稍微变化，例如记录功率的变化，其记录特性就容易恶化。在信息记录层L1与信息记录层L0之间，同样的关系也成立。也就是说，一般越是透过率高的信息记录层，设计的自由度越小，由于记录条件稍微变化，例如记录功率的变化，其记录特性就容易恶化。
另一方面，例如，在对信息记录层L2照射激光时，一部分激光透过信息记录层L2，由信息记录层L1上反射后，再回到信息记录层L2。这时，如果信息记录层L1的测试记录区T1破坏或劣化，则由于测试记录区T1的反射率发生变化，所以从测试记录区T1返回到信息记录层L2的反射光或杂散光会使激光的量发生变化。因此，如果测试记录区T1与测试记录区T2接近，则从测试记录区T1返回信息记录层L2的激光的变动作为噪声分量，将重叠在测试记录区T1反射的激光上。其结果就是，无法使用信息记录层L2来进行正确的测试记录，无法正确决定信息记录层L2的记录功率。
本实施方式的光盘101中考虑到这一点，优选：位于靠近激光入射面一侧的相邻的信息记录层的测试记录区的半径位置差，大于位于远离激光入射面一侧的相邻的信息记录层的测试记录区的半径位置差。也就是说，优选：距离激光200的入射面相对较近一侧的相邻的1对信息记录层L1、L2上分别形成的1对测试记录区T2、T1间的半径方向的间隔(T2a与T1b的间隔)，设定得大于距离激光入射面相对较远一侧的相邻的1对信息记录层L0、L1上分别形成的1对测试记录区T1、T0间的半径方向的间隔(T0a与T1b的间隔)。
具体而言就是，如果从距离激光200入射面最远的一侧，对各信息记录层L0、L1、L2进行列举的话，作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区T1和作为第3层信息记录层的信息记录层L2的测试记录区T2中的、配置在内周侧的测试记录区T1的外周端部T1b的半径位置与配置在外周侧的测试记录区T2的内周端部T2a的半径位置之间的半径位置差(T2a-T1b)，大于作为第1层信息记录层的信息记录层L0的测试记录区T0和作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区T1中的、配置在内周侧的测试记录区T1的外周端部T1b的半径位置与配置在外周侧的测试记录区T0的内周端部T0a的半径位置之间的半径位置差(T0a-T1b)。
根据这种测试记录区的配置，通过扩大受相邻的信息记录层的反射影响较大的一对信息记录层间的间隔，能够减小来自相邻的信息记录层的反射的影响。因此，能够在各信息记录层的测试记录区进行正确的测试记录，能够正确决定各信息记录层上使用的记录功率。此外，通过相对缩小受相邻的信息记录层的反射影响较小的一对信息记录层间的间隔，从而不必将信息记录层间设置的间隔设定得过大，能够有效地利用读入区的面积。此外，不必扩大读入区，就能够确保充分的数据区。
另外，如上所述，在对相邻的信息记录层的测试记录区的间隔进行设定的情况下，也可以使信息记录层L0的测试记录区T0和信息记录层L1的测试记录区T1与原本就有2个信息记录层的光盘的测试记录区的配置一致。这时，对已有的光盘装置仅进行较为简单的序列变更，就能够对本实施方式的光盘101的测试记录区T0、T1进行测试记录。
上述的测试记录区的配置适合应用在仅记录1次用户数据的一次写入型光盘。但是，在具有3层以上的可进行光学记录的信息记录面的可改写型光盘上，通过采用上述的测试记录区的配置，能够不受相邻的信息记录层的影响，正确决定各信息记录层的记录功率。
具体而言就是，在可改写型光盘的情况下，可以将信息记录层L0、L1、L2的测试记录区T0、T1、T2配置成图5(a)和(b)所示的那样。
图5(a)所示的光盘102的测试记录区T0、T1、T2的配置与图2所示的配置相同。其中，在可改写型光盘的情况下，测试记录区T0、T1、T2的使用方向没有限制。这是因为在可改写型光盘中，在进行测试记录后，通过消去记录标记，就可以不使记录区T0的透过率变化。此外，在可改写型光盘的情况下，测试记录区T0、T1、T2的任意副区都可以随机访问。
此外，在可改写型光盘的情况下，测试记录区T0、T1、T2也可以被配置成图5(b)的光盘102’所示的那样。在该形态中，信息记录层L2的测试记录区T2被配置在最内周侧；信息记录层L1的测试记录区T1被配置在最外周侧。信息记录层L0的测试记录区T0与信息记录层L2的测试记录区T2相比被配置在外周侧；与信息记录层L1的测试记录区T1相比被配置在内周侧。
此外，如果从距离激光200入射面最远的一侧，对各信息记录层进行列举的话，作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区T1和作为第3层信息记录层的信息记录层L2的测试记录区T2之中、配置在内周侧的测试记录区T2的外周端部T1b与被配置在外周侧的测试记录区T1的内周端部T1a之间的半径位置差(T1a-T2b)，大于作为第1层信息记录层的信息记录层L0的测试记录区T0和作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区L1之中、配置在内周侧的测试记录区T0的外周端部T0b与配置在外周侧的测试记录区T1的内周端部T1a之间的半径位置差(T1a-T0b)。
此外，在本实施方式中，3个测试记录区T0、T1、T2以彼此不重合的方式设置在不同的半径位置上。但是，在信息记录层L1的反射光对信息记录层L2的影响小、信息记录层L2的透过光对信息记录层L1的影响小的情况下，也可以像图6所示的光盘103那样，使信息记录层L0的测试记录区T0与信息记录层L2的测试记录区T2间的半径位置差小于图2所示的测试记录区的配置。
图6表示使测试记录区T0与测试记录区T2之间的半径位置差最小的情况即半径位置差为零时的测试记录区的配置。因此，测试记录区T2的内周端部T2a以及外周端部T2b与测试记录区T0的内周端部T0a以及外周端部T0b完全一致，测试记录区T2与测试记录区T0完全重合。不过，测试记录区T0与测试记录区T2也可以部分重合。
也就是，靠近于激光200入射面侧的信息记录层的测试记录区也可以接近离激光200入射面侧较远的信息记录层来配置。具体而言就是，如果从距离激光200入射面最远的一侧，对3个信息记录层L0、L1、L2进行列举的话，作为第1层信息记录层的信息记录层L0的测试记录区T0以及作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区T1之中、配置在内周侧的测试记录区T1的内周端部T1a的半径位置与配置在外周侧的测试记录区T0的外周端部T0b的半径位置之间的半径位置差，也可以大于作为第1层信息记录层的信息记录层L0的测试记录区T0以及作为第3层信息记录层的信息记录层L2的测试记录区T2之中、配置在内周侧的测试记录区T0a的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区T2的外周端部T2b的半径位置之间的半径位置差。
图7是表示信息记录层L2的劣化区域对信息记录层L0、信息记录层L1的影响的示意图。认为：包含在信息记录层L2的测试记录区T2中副区由于强照射功率而破坏，从而形成劣化区130、131。劣化区130与劣化区131的大小相同。相对于聚焦在信息记录层L1时的、劣化区130在信息记录层L2的激光20的点上所占的比例，聚焦在信息记录层L0时的、劣化区131在信息记录层L2的激光200’的点上占的比例较小。因此，就包含在测试记录区T2中的副区被破坏所带来的影响而言，信息记录层L0比信息记录层L1小。因此，可以像图6所示的测试记录区的配置那样，减小信息记录层L0的测试记录区T0与信息记录层L2的测试记录区T2之间的半径位置差。由此，能够抑制其它信息记录层的测试记录区的影响，对各测试记录区进行正确的测试记录，能够正确决定各信息记录层使用的记录功率。此外，还能够减小读入区的面积，确保充足的数据区。
另外，在图2所示的实施方式中，距离激光200的入射面相对较近一侧的相邻的1对信息记录层L1、L2上分别形成的1对测试记录区T2、T1间的半径方向的间隔(T2a与T1b的间隔)，设定得大于距离激光入射面相对较远一侧的相邻的1对信息记录层L0、L1上分别形成的1对测试记录区T1、T0间的半径方向的间隔(T0a与T1b的间隔)。但是，例如在信息记录层L0与信息记录层L1在厚度方向上的距离小于信息记录层L1与信息记录层L2在厚度方向上的距离的情况下，例如，如图1所示，在中间层111的厚度小于中间层112的厚度的情况下，可认为信息记录层L0与信息记录层L1之间的影响比信息记录层L1与信息记录层L2之间的大。在这种情况下，也可以如图8所示的光盘104那样，使距离入射面较近一侧的相邻的信息记录层L2、L1的测试记录区T2、T1的半径位置差，小于距离入射面较远一侧的相邻的信息记录层L1、L0的测试记录区T1、T0的半径位置差。
尤其是为了减小读入区的面积，在使距离激光的入射面较近一侧的相邻的信息记录层L2、L1的测试记录区T2、T1的半径位置差(间隔)减小至最小界限的情况下，如本实施方式那样，通过使距离激光的入射面较远一侧的相邻的信息记录层L1、L0的测试记录区T1、T0的半径位置差(间隔)，大于距离激光的入射面较近一侧的信息记录层L2、L1的测试记录区T2、T1的半径位置差(间隔)，能够降低来自信息记录层L1的反射光的影响，从而决定正确的记录功率。
在本实施方式中，虽然光盘101具有3个信息记录层，但本发明也可以用于具有4个以上信息记录层的光盘。在这种情况下，优选：在4个以上的信息记录层中，使距离激光的入射面最远的信息记录层为L0，与信息记录层L0相邻地以L1、L2为顺序设置信息记录层。
(第2实施方式)
下面，参照附图，对根据本发明的信息记录介质的第2实施方式进行说明。根据本发明的信息记录介质也是一次写入型或可改写型。第2实施方式的光盘还包含信息记录层L3，在具备4个信息记录层这一点上，与第1实施方式的光盘101不同。在图1所示的光盘101中，在信息记录层L2与封面层113之间设置信息记录层L3，在信息记录层L3与信息记录层L2之间设置新的中间层。
图9是第2实施方式的光盘105的截面示意图。与图2同样，没有表示中间层。如图9所示，在光盘101的结构中追加的信息记录层L3的内周侧设置了读入区R3，在读入区R3内存在测试记录区T3。
如图9所示，测试记录区T0、T1、T2分别位于信息记录层L0、L1、L2、L3的读入区R0、R1、R2、R3。测试记录区T0、T1、T2、T3被配置在彼此不同的半径位置上，从信息记录层L0、L1、L2、L3的叠层方向，即激光200的入射方向观察，彼此互不重合。
更为具体而言就是，在光盘105上，与配置在最内周侧的信息记录层L3的测试记录区T3的外周端部T3b相比，配置在第2内周侧的信息记录层L1的测试记录区T1的内周端部T1a处于外周侧，设置了测试记录区不重叠的间隙(间隔)。该间隙具有由内周端部T3b的半径位置与外周端部T1a的半径位置之差规定的距离。
此外，与配置在第2内周侧的信息记录层L1的测试记录区T1的外周端部T1b相比，配置在第3内周侧的信息记录层L0的测试记录区T0的内周端部T0a处于外周侧，设置了距离由内周端部T0a与外周端部T1b的半径位置之差规定的间隙。
此外，被配置在第3内周侧的信息记录层L0的测试记录区T0的外周端部T0b相比，配置在最外周侧的信息记录层L2的测试记录区T2的内周端部T2a处于外周侧，设置了距离由内周端部T2a与外周端部T0b的半径位置之差规定的间隙。
若从距离激光200入射面最远的一侧，对4个信息记录层L0、L1、L2、L4进行列举的话，作为第3层信息记录层的信息记录层L2的测试记录区T2与作为第1层信息记录层的信息记录层L0的测试记录区T0相比，处于外周侧；信息记录层L0的测试记录区T0与作为第2层信息记录层的信息记录层L1的测试记录区T1相比，处于外周侧。
此外，信息记录层L2的测试记录区T2与信息记录层L1的测试记录区相比，处于外周侧；信息记录层L1的测试记录区T1与作为第4层信息记录层的信息记录层L3的测试记录区T3相比，处于外周侧。
此外，第3信息记录层L2的测试记录区T2与信息记录层L0的测试记录区T0相比，处于外周侧；信息记录层L0的测试记录区T0与信息记录层L3的测试记录区T3相比，处于外周侧。
与第1实施方式同样，根据图9所示的本实施方式的测试记录区域的配置，测试记录区T0、T1、T2、T3的半径位置不同，测试记录区T0、T1、T2、T3在信息记录层的叠层方向不重叠。因此，例如，即便信息记录层L1的测试记录区T1被破坏，激光也不受被破坏的测试记录区T1的影响，或者几乎不受影响，而准确到达信息记录层L0的测试记录区T0。因此，能够使用信息记录层L0的测试记录区T0，正确地进行测试记录，能够正确决定信息记录层L0的记录功率。同样，即便信息记录层L2、L3的测试记录区T2、T3被破坏，也能够正确决定信息记录层L0、L1、L2的记录功率。
此外，基于同样理由，即便测试记录区T0、T1、T2、T3的激光透过率发生变化，激光也准确地到达信息记录层L0、L1、L2、L3的测试记录区T0、T1、T2、T3。因此，能够使用信息记录层L0、L1、L2、L3的测试记录区T0、T1、T2、T3进行正确的测试记录，能够正确决定信息记录层L0、L1、L2、L3的记录功率。
下面，说明测试记录区T0、T1、T2、T3的使用方向。如图9中的箭头所示，在信息记录层L0、L2中，以激光从内周向外周扫描记录层L0、L2的方式构成磁道。相对于此，在信息记录层L1、L3中，以激光从外周向内周扫描记录层L1、L3的方式构成磁道。因此，与第1实施方式同样，每当向下一信息记录层移动的时候，不用使激光跳跃到光盘105的最内周位置或最外周位置，就能够进行信息的记录或再现。
对此，测试记录区T0、T1、T2、T3与第1实施方式同样，优选使用方向与各信息记录层的激光光点的行进方向相反。由此，就像在第1实施方式说明的那样，即便测试记录区的某个副区在测试记录时由于强照射功率而被破坏，从而很难追踪光点的轨迹，在该情况下只要测试记录区的使用方向与光点的行进方向相反，就能够不用通过被破坏的副区，到达进行测试记录的区域。此外，特别是在测试记录的次数较少的期间，可以进一步降低其它层的影响，正确决定记录功率。
另外，在本实施方式中，虽然光盘105具有4个信息记录层，但本发明也可以用于具有4个以上的信息记录层的光盘。在这种情况下，如果设信息记录层的层数为n(n是3以上的整数)，从距离上述激光的入射面最远的一侧，对上述n层的信息记录层进行列举的话，在第i个(i是满足2≤i≤n的偶数)信息记录层，上述激光从外周侧向内周侧扫描，在上述测试记录区，从内周侧向外周侧来使用副区；在第i-1个信息记录层，上述激光从内周侧向外周侧扫描，在上述测试记录区，从外周侧向内周侧来使用副区。
这样，根据本实施方式的光盘，在具有3个以上信息记录层的光盘中，在各信息记录层设有测试记录区。所以，即便信息记录层的叠层使每个信息记录层的激光照射强度和热环境等不同，也能够使用要进行记录的信息记录层的测试记录区，在该信息记录层的环境下进行测试记录。因此，能够决定最适于各信息记录层的记录功率。
此外，各信息记录层配置在彼此不同的半径位置上，使得在叠层方向相互不产生重合。因此，能够不受其它信息记录层的测试记录区的记录状态的影响，或可抑制其影响，从而正确地进行测试记录，能够正确决定各信息记录层使用的记录功率。
此外，在各信息记录层的测试记录区的使用方向与该信息记录层的激光的操作方向相反的情况下，即使测试记录区的一部分由于强照射功率而被破坏，也能够正确使用测试记录区剩余的区域。此外，能够降低其它层的影响，正确决定记录功率。
与第1实施方式同样，在测试记录区T0、T1、T2、T3上，存在更为优选的配置。参照图9，对该配置进行说明。
在对信息记录层L0照射激光的情况下，激光需要透过信息记录层L1、L2、L3；在对信息记录层L2照射激光的情况下，激光需要透过信息记录层L3。因此，信息记录层L3的激光透过率最高，信息记录层L2、信息记录层L1、信息记录层L0的透过率顺次降低。
此外，从信息记录层的设计观点出发，若已经开发了具有3个信息记录层的光盘，则优选：将已有的信息记录层当作信息记录层L0、L1、L2使用，只对透过率高的信息记录层L3进行重新开发。
但是，由于对信息记录层L3要求高透过率，所以设计的自由度不大，与信息记录层L0、L1、L2相比记录条件稍微发生变化，例如记录功率变动，其记录特性便容易恶化。在信息记录层L2与信息记录层L1之间以及信息记录层L1与信息记录层L0之间，同样的关系也成立。也就是说，一般越是透过率高的信息记录层，设计的自由度越小，记录条件稍微发生变化，例如记录功率变动，其记录特性便容易恶化。
另一方面，例如在对信息记录层L3照射激光时，一部分光透过信息记录层L3，由信息记录层L2反射之后，再返回到信息记录层L2。这时，如果信息记录层L2的测试记录区T2破坏或劣化，由于测试记录区T2的反射率发生变化，所以从测试记录区T2返回到信息记录层L3的反射光或杂散光会使激光的量发生变化。因此，如果测试记录区T2与测试记录区T3接近，则从测试记录区T2返回信息记录层L3的激光的变动作为噪声分量，会重叠在测试记录区T2反射的激光上。其结果就是，无法使用信息记录层L3正确地进行测试记录，无法正确决定信息记录层L3的记录功率。
本实施方式的光盘105考虑到这一点，优选：距离激光入射面较近一侧的相邻的信息记录层的测试记录区的半径位置差，大于距离激光入射面较远一侧的相邻的信息记录层的测试记录区的半径位置差。也就是说，优选：距离激光200的入射面相对较近一侧的相邻的1对信息记录层L1、L2上分别形成的1对测试记录区T2、T1间的半径方向的间隔(T2a与T1b的间隔)，设定得大于距离激光入射面相对较远一侧的相邻的1对信息记录层L0、L1上分别形成的1对测试记录区T1、T0间的半径方向的间隔(T0a与T1b的间隔)。
此外，优选：距离激光200的入射面相对较近一侧的相邻的1对信息记录层L2、L3上分别形成的1对测试记录区T2、T3间的半径方向的间隔(T2a与T3b的间隔)，设定得大于距离激光入射面相对较远一侧的相邻的1对信息记录层L0、L1上分别形成的1对测试记录区T1、T0间的半径方向的间隔(T0a与T1b的间隔)以及信息记录层L1、L2上分别形成的1对测试记录区T1、T2间的半径方向的间隔(T2a与T1b的间隔)。
具体而言就是，若从距离激光200入射面最远的一侧，对各信息记录层L0、L1、L2进行列举的话，第i层(i是满足2≤i≤3的整数)信息记录层的测试记录区以及第i+1层信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第j层(j是满足1≤j≤i-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第j+1层信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差。
在本实施方式中，光盘105虽然具有4个信息记录层，但本发明也可以应用在具有4个以上信息记录层的光盘。在这种情况下，上述关系对以下条件成立，即n是包含在光盘中的信息记录层的层数，是3以上的整数，i是满足2≤i≤n-1的整数。
根据这种测试记录区的配置，通过扩大受相邻的信息记录层的反射影响较大的一对信息记录层间的间隔，能够减小来自相邻的信息记录层的反射的影响。因此，能够对各信息记录层的测试记录区进行正确的测试记录，能够正确决定各信息记录层上使用的记录功率。此外，通过相对缩小受相邻的信息记录层的反射影响较小的一对信息记录层间的间隔，能够不必将信息记录层间设置的间隔设定得过大，从而有效地利用读入区的面积。此外，不必扩大读入区，能够确保充足的数据区。
另外，如上所述，在对相邻的信息记录层的测试记录区的间隔进行设定的情况下，也可以使信息记录层L0的测试记录区T0和信息记录层L1的测试记录区T1与原本就有2个信息记录层的光盘的测试记录区的配置一致。这时，对已有的光盘装置仅进行较为简单的序列变更，就可以对本实施方式的光盘101的测试记录区T0、T1进行测试记录。
在本实施方式中，4个测试记录层T0、T1、T2、T3以彼此不重合的方式配置在不同的半径位置上。但是，就像参照图7说明的那样，在信息记录层L2的反射光对信息记录层L3的影响较小，信息记录层L3的透过光对信息记录层L2的影响较小，信息记录层L3的透过光对信息记录层L1的影响较小，信息记录层L2的透过光对信息记录层L0的影响较小的情况下，也可以像图10所示的光盘106那样，使信息记录层L0的测试记录区T0与信息记录层L2的测试记录区T2的半径位置差，以及信息记录层L1的测试记录区T1与信息记录层L3的测试记录区T3的半径位置差，小于与图9所示的配置对应的半径位置差。
图9表示将测试记录区T0与测试记录区T2的半径位置差以及测试记录区T1与测试记录区T3的半径位置差设为零的情况。因此，测试记录区T2的内周端部T2a以及外周端部T2b，与测试记录区T0的内周端部T0a以及外周端部T0b完全一致，测试记录区T2与测试记录区T0完全重合。此外，测试记录区T3的内周端部T3a以及外周端部T3b，与测试记录区T1的内周端部T1a以及外周端部T1b完全一致，测试记录区T3与测试记录区T1完全重合。但是，测试记录区T2与测试记录区T0可以部分重合。此外，测试记录区T3与测试记录区T1也可以部分重合。
也就是，离激光200入射面侧较近的信息记录层的测试记录区可以接近离激光200入射面侧较远的信息记录层来配置。具体而言就是，如果从距离开激光200入射面最远的一侧，对信息记录层L0、L1、L2、L3进行列举的话，第k层(k是满足1≤k≤2的整数)信息记录层的测试记录区以及第k+1层信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，也可以大于第k层信息记录层的测试记录区以及第k+2层信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差。
此外，信息记录层L1的测试记录区T1以及信息记录层L2的测试记录区T2之中、配置在内周侧的测试记录区T1的内周端部T1a的半径位置与配置在外周侧的测试记录区T2的外周端部T2b的半径位置之间的半径位置差，也可以大于信息记录层L1的测试记录区T1以及信息记录层L3的测试记录区T3之中、配置在内周侧的测试记录区T3的内周端部T3a的半径位置与配置在外周侧的测试记录区T1的外周端部T1b的半径位置之间的半径位置差。
在本实施方式中，光盘105虽然具有4个信息记录层，但本发明也可以应用在具有4个以上信息记录层的光盘。在这种情况下，上述第1个关系对以下条件成立，即n是包含在光盘中的信息记录层的层数，是3以上的整数，k是满足1≤k≤n-2的整数。
此外，上述第2关系规定：第k’层(k’是满足1≤k’≤n-3的整数)信息记录层的测试记录区以及第k’+1层信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第k’+1层信息记录层的测试记录区以及第k’+3层信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差。
由此，能够抑制其它信息记录层的测试记录区的影响，对各测试记录区进行正确的测试记录，能够正确决定各信息记录层使用的记录功率。此外，还能够减小读入区的面积，确保充足的数据区。
此外，在信息记录层L3的透过光对信息记录层L1的影响较小的情况下，也可以像图11所示的光盘107那样，减小信息记录层L1的测试记录区T1与信息记录层L3的测试记录区T3的半径位置差。图11中虽然表示测试记录区T1与测试记录区T3的半径位置差为零的情况，但也能以测试记录区T3与测试记录区T1部分重合的方式，配置测试记录区T3。由此，能够缩小读入区面积，确保充足的数据区。
此外，在信息记录层L3的透过光对信息记录层L0、L2的影响较小、信息记录层L2的反射光对信息记录层L3的的影响较小的情况下，也可以像图12所示的光盘108那样，缩小信息记录层L0的测试记录区T0与信息记录层L3的测试记录区T3的半径位置差，并缩小测试记录区T3与测试记录区T2的半径位置差。图12虽然表示测试记录区T0与测试记录区T3的半径位置差为零的情况，但也可以将测试记录区T3配置成测试记录区T3与测试记录区T0部分重合。由此，能够缩小读入区面积，确保充足的数据区。
至此，第1和第2实施方式中例示了具有3个和4个信息记录层的光盘，并对本发明已进行了说明。本发明的光盘不限于这些第1和第2实施方式，也可以具有5个以上的信息记录层。
(第3实施方式)
下面，参照附图，对根据本发明的信息记录装置、信息再现装置、记录方法、再现方法的实施方式进行说明。图13是本实施方式的信息记录装置300的框图。信息记录装置300可以进行数据的记录和再现，其包括：主轴电动机302、光学头303、光束控制部304、伺服部305、再现二值化部306、数字信号处理部307、记录补偿部308、和CPU309。
光盘301是作为第1实施方式或第2实施方式说明的光盘。这里，将第1实施方式的光盘101作为光盘301使用。主轴电动机302以规定速度使光盘301旋转。光学头303将光束照射在光盘301上。此外，光学头303还将光束照射在光盘301上之后的反射光转换成电信号，输出再现信号。光束控制部304根据CPU309的指示，控制光学头303输出的光束的照射功率。
伺服部305进行光学头303和光学头303射出的光束的位置控制、光束的聚焦和追踪控制、主轴电动机302的旋转控制。再现二值化部306放大从光学头303得到的再现信号(数据信息是和信号；与盘信息区和地址有关的信息是差信号)，并进行2值化处理，由此生成2值化信号。此外，还通过内部的PLL(未图示)，生成与2值化信号同步的时钟。
数字信号处理部307对2值化信号进行规定的解调处理和纠错处理。在记录数据时，进行对记录数据附加纠错代码的处理和规定的调制处理，生成调制数据。记录补偿部308将调制数据转换成由脉冲列构成的光调制数据，然后，根据盘信息区的再现信号和预先存贮在CPU309中的数据，微调光调制数据的脉冲幅度等，将其转换为适合于凹坑(pit)形成的记录脉冲信号。
CPU309控制信息记录装置300整体。主机单元310例如由计算机(未图示)及应用程序(未图示)和操作系统(未图示)构成，对光盘驱动器300实行记录和再现的请求。
当光盘301被装入信息记录装置300时，光束控制部304和伺服部305使光学头303以规定的照射功率，再现信息记录层L0的读入区R0的控制区，读取对信息记录层L0、信息记录层L1、信息记录层L2进行记录时的照射功率信息等记录参数信息。
当有来自于主机单元310的记录请求时，光束控制部304和伺服部305使光学头303以规定的照射功率，再现设在信息记录层L0的读入区R0上的测试记录区T0。CPU309对光束控制部304设定进行测试记录时的照射功率，通过光学头303使用多个不同的照射功率，进行测试数据的记录，再现已记录的测试数据。根据得到的再现信号的错误率和抖动等，决定对信息记录层L0的数据区D0记录时的记录功率。
对信息记录层L1、L2执行同样的动作。具体而言就是，光束控制部304和伺服部305使光学头303以规定的照射功率，再现设在信息记录层L1的读入区R1上的测试记录区T1。CPU309对光束控制部304设定进行测试记录时的照射功率，通过光学头303使用多个不同的照射功率，进行测试数据的记录，再现已记录的测试数据。根据得到的再现信号的错误率和抖动等，决定对信息记录层L1的数据区D1记录时的记录功率。
接着，光束控制部304和伺服部305使光学头303以规定的照射功率，再现设在信息记录层L2的读入区R2上的测试记录区T2。CPU309对光束控制部304设定进行测试记录时的照射功率，通过光学头303使用多个不同的照射功率，进行测试数据的记录，再现已记录的测试数据。根据得到的再现信号的错误率和抖动等，决定对信息记录层L2的数据区D2记录时的记录功率。这样，用来对所有的信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2记录信息的记录功率就被决定。
接着，用已决定的记录功率照射激光，用户数据就被记录在各信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2上。这时，按照上述步骤决定的照射功率被用在每个信息记录层上。
再现记录在各信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2上的用户数据时，就是再现记录在控制区的盘信息等，使用得到的盘信息再现数据区D0、D1、D2上所记录的用户数据。
另外，在本实施方式中，虽然测试记录区T0、T1、T2仅设在盘的内周，但测试记录区也可以设在外周。此外，在有记录请求时，分别决定用于对所有的信息记录层L0、L1、L2的数据区D0、D1、D2进行记录的所有的记录功率。但是，在CPU309判断出仅对信息记录层L0的进行记录就可完成所请求的信息记录时，可以仅决定对数据区R0进行记录时的照射功率。由此，能够缩短用户数据开始记录前的时间。
此外，在本实施方式中，虽然在有记录请求时，分别决定对所有的信息记录层的数据区进行记录的所有的记录功率，但是，也可以通过CPU309的判断，决定首次进行记录的信息记录层的记录功率，在其它的时间点决定剩下的信息记录层的记录功率。这样，能够缩短用户数据开始记录前的时间。
例如，在具有3个信息记录层的光盘中，在各层的内周和外周进行测试记录的情况下，总共要执行6次测试记录序列。因此，在用户数据开始记录前，往往要花很长时间。
因此，预先准备多种进行测试记录的信息记录层或者层数的模型，例如，通过CPU309预测是否需要2层以上的记录，如果不需要2层以上的记录，就只执行信息记录层L0和信息记录层L1的测试记录，这样就能够缩短用户数据开始记录前的时间。
(第4实施方式)
作为可应用本发明的记录介质的一例，存在蓝光光盘(BD)和其它规格的光盘，但本实施方式中对将第1和第2实施方式的光盘用于BD的实例进行说明。
<主要参数>
BD按照记录膜的特性，存在以下类型：只读型的BD-ROM、一次写入型的BD-R、可改写型的BD-RE等。本发明也可以应用在BD和其它规格的光盘中的ROM(只读型)、R(一次写入型)、RE(可改写型)的任意一类记录介质上。关于蓝光光盘的主要光学常数和物理格式，已经在“蓝光光盘读本”(OHM社出版)和蓝光联盟的网页(http://www.blu-raydisc.com/)所登载的白皮书上公开。
BD使用波长约为405nm(若相对于标准值405nm将误差范围允许值设定为±5nm，则为400～410nm)的激光和数值孔径(NA：Numerical Aperture)约为0.85(若相对于标准值0.85将误差范围允许值设定为±0.01，则为0.84～0.86)的物镜。BD的磁道间距约为0.32μm(若相对于标准值0.32μm将误差范围允许值设定为±0.010μm，则为0.310～0.330μm)，信息记录层设置1层或2层。信息记录层的记录面由从激光射入侧开始的单面单层或单面双层构成。BD的保护层表面到记录面的距离是75μm～100μm。
记录信号的调制方式利用17PP调制，被记录的标记的最短标记(2T标记：T是基准时钟周期(按规定的调制规则记录标记时的调制基准周期))的标记长是0.149μm(或0.138μm)(通道位长：T是74.50nm(或69.00nm))。记录容量是：单面单层为25GB(或27GB)(更为具体就是，25.025GB(或27.020GB))，或单面双层为50GB(或54GB)(更为具体就是，50.050GB(或54.040GB))。
对于通道时钟频率，标准速度(BD1×)的传输率下是66Mhz(通道比特率(channel bit rate)是66.000Mbit/s)，4倍速(BD4×)的传输率下是264Mhz(通道比特率是264.000Mbit/s)，6倍速(BD6×)的传输率下是396Mhz(通道比特率是396.000Mbit/s)，8倍速(BD8×)的传输率下是528Mhz(通道比特率是528.000Mbit/s)。
标准线速度(基准线速度、1×)是4.917m/sec(或4.554m/sec)。2倍(2×)、4倍(4×)、6倍(6×)和8倍(8×)的线速度分别是9.834m/sec、19.668m/sec、29.502m/sec和39.336m/sec。高于标准线速度的线速度一般是标准线速度的正整数，。但也不限于是整数，也可以是正实数倍。此外，也可以定义0.5倍(0.5×)等比标准线速度慢的线速度。
另外，上述的诸条件涉及到的是已经被商品化的主要是每层约为25GB(或约27GB)的单层或双层的BD。为了提高BD的记录容量，使每层的记录容量约为32GB或约为33.4GB的高密度BD和层数是3层或4层的BD正在研究。下面，对将本发明应用于这种BD的实例进行说明。
<信息记录层的多层化>
在采用激光从保护层(封面层)侧射入、从而再现和/或记录信息的单面盘的构成时，要想使信息记录层为2层以上，需要在基板与保护层之间设置多个信息记录层。图14是表示这种多层磁盘的结构例。图14所示的光盘具有(n+1)层信息记录层502(n是0以上的整数)。具体而言，在光盘上，从激光200入射侧的表面开始，顺序叠层了封面层501、(n+1)个信息记录层(Ln～L0层)502、和基板500。此外，在(n+1)个信息记录层502之间，分别插入了具有光学缓冲材料作用的中间层503。也就是说，在与光入射面隔着规定距离的最里侧的位置(离光源最远的位置)设置了基准层(L0)，从基准层(L0)开始，以在光入射面侧增加层的方式，对信息记录层的进行叠层(L1、L2、…Ln)。
这里，与单层盘进行比较，也可以使多层盘上的光入射面到基准层L0的距离，大致与单层盘上的光入射面到信息记录层的距离相同(例如是0.01mm左右)。这样，不管层数如何，使到达最里层(最远层)的距离固定(即，设定与单层盘的情况几乎相同的距离)，就可以不论单层、多层，保持访问基准层的兼容性。此外，还可以抑制伴随层数增多的倾斜影响的增加。之所以能够抑制倾斜影响的增加，是因为尽管最里层受倾斜的影响最大，但通过将到达最里层的距离设为为几乎与单层盘相同，从而即使层数增加，到达最里层的距离也不会增加。
此外，关于光点的行进方向(或者，也称作循轨方向、盘旋方向)，既可以是并行轨道路径，也可以是反向轨道路径。对于并行轨道路径，所有的信息记录层上，光点的行进方向都是相同的。也就是说，在所有信息记录层上，光点的行进方向都是从内周向外周方向行进，或者从外周向内周方向行进。
另一方面，对于反向轨道路径，某信息记录层上和与该信息记录层相邻的信息记录层上，光点的行进方向是相反的。具体来说，基准层(L0)上的光点行进方向是由内周向外周的方向时，信息记录层L1上的光点行进方向就是由外周向内周的方向，信息记录层L2上就是由内周向外周的方向。也就是说，对于光点的行进方向，信息记录层Lm(m是0和偶数)上是由内周向外周的方向，信息记录层Lm+1上是由外周向内周的方向。或者，信息记录层Lm上(m是0和偶数)是由外周向内周的方向，信息记录层Lm+1上是由内周向外周的方向。
随着数值孔径NA增大、焦距变短，还有为了抑制倾斜所带来的光点会发生偏离，保护层(封面层)的厚度被设定得较薄。CD中将数值孔径NA设定为0.45，DVD中将数值孔径NA设定为0.65，相对于此，BD中设定成约为0.85。例如，在信息记录介质的大约总厚度1.2mm中，可以将保护层的厚度设定为10～200μm。更为具体而言就是，若单层盘的话，可以在约1.1mm的基板上设置约0.1mm的透明保护层；若双层盘的话，设置约0.075mm的保护层，并且在保护层上设置约0.025mm的中间层(Space Layer)。
<1层至4层的各结构例>
这里，图15表示单层盘的结构例，图16表示双层盘的结构例，图17表示3层盘的结构例，图18表示4层盘的结构例。如上所述，当使光照射面至基准层L0的距离固定时，不论哪一个盘，盘的总厚度都约为1.2mm(如果包含标签印刷等，优选是1.40mm以下)，基板500的厚度约为1.1mm。此外，从光照射面至基准层L0的距离约为0.1mm。在图15所示的单层盘(图14的n＝0的情况)上，封面层5011的厚度约为0.1mm。此外，在图16的双层盘(图14的n＝1的情况)上，封面层5012的厚度约为0.075mm，中间层5302的厚度约为0.025mm。此外，在图17的3层盘(图14的n＝2的情况)和图18的4层盘(图14的n＝3的情况)上，可以进一步减小封面层5014的厚度和/或中间层5304的厚度。
此外，在这种使用了具有高NA物镜的光学头的记录再现装置中，由于从磁盘的光照射表面至信息记录层的厚度所产生的球面像差等像差，将极大影响聚焦在信息记录层上的激光质量。因此，设置了修正因厚度而产生的像差的机构。
对于从光信息记录介质的保护层表面到对信息进行记录再现的信息记录层的厚度，像差修正机构为了修正因该厚度而产生的球面像差等像差分量，将提供抵消各信息记录层发生的像差分量的像差。该像差修正机构本来的光学设计是为了对单层构造介质的信息记录层减小像差，也考虑了对双层构造的信息记录介质进行记录再现时的像差。设计上的最小像差位置设定在距离保护层表面约80μm到90μm左右。因此，在将记录再现光聚焦在不同于最小像差位置的厚度的信息记录层上时，就需要控制像差修正机构，设定并修正各信息记录层上的像差修正值。
<BD的物理结构>
图19表示根据本实施方式的光盘510的物理结构。在圆盘状的光盘510上，形成有例如同心圆状或螺旋状的多个磁道511，在各磁道512上，形成有被细分的多个扇区。另外，如后所述，各磁道512上数据以预先规定了大小的块513为单位，进行记录。
根据本实施方式的光盘510与现有的光盘(例如25GB的BD)相比，扩充了每个信息记录层的记录容量。记录容量扩充是通过提高记录线密度实现的，例如通过进一步缩短光盘上记录的记录标记的标记长来实现。这里，所谓的“提高记录线密度”是指缩短通道比特长。该通道比特是指，相当于基准时钟周期T(根据规定的调制规则来记录标记时的调制基准周期T)的长度。另外，光盘510也可以多层化。其中，以下为了便于说明，仅讨论1个信息记录层。此外，在设有多个信息记录层的情况下，即使设在各信息记录层的磁道宽度相同时，也可以通过使各层的标记长不同，同一层中标记长相同，从而使各层的记录线密度不同。
磁道512以64kB(千字节)为数据记录单位，被分成块513，块地址值被顺序分配。块513被分割为规定长度的子块，3个子块构成1个块。子块从前面开始按照0到2的顺序被分配子块编号。
<记录密度>
下面，利用图20(a)、(b)、图21和图22，说明记录密度。
图20(a)表示25GB的BD的例子。在BD中，激光200的波长是405nm，物镜220的数值孔径(Numerical Aperture；NA)是0.85。
与DVD同样，在BD中，记录数据也作为物理变化的标记列520、521记录在光盘磁道512上。在该标记列中，将长度最短的标记称为“最短标记”。图中，标记521是最短标记。
在记录容量为25GB的情况下，最短标记521的物理长度是0.149μm。它相当于DVD的约1/2.7，即便改变光学系统的波长参数(405nm)和NA参数(0.85)，来提高激光的分辨率，也已经接近光学分辨率的极限，也就是光束能够识别记录标记的极限。
图21表示光束照射于磁道512上记录的标记列的情况。在BD中，根据上述光学系统参数，光点210的直径约为0.39μm。在不改变光学系统的构造而提高记录线密度的情况下，由于记录标记相对于光点210的点直径会变小，因此导致再现分辨率变差。
例如，图20(b)是表示记录密度比25GB的BD高的光盘的实例。对于该盘，激光200的波长也是405nm，物镜220的数值孔径(Numerical Aperture；NA)也是0.85。在该盘的标记列524、525中，最短标记525的物理长度是0.1115μm。与图20(a)相比，点直径相同，约为0.39μm，但因为记录标记相对变小且标记间隔也变窄，所以再现分辨率变差。
在由光束再现记录标记时，再现信号的振幅随记录标记的变短而减小，达到光学分辨率的极限零。将该记录标记的周期的倒数称为空间频率，将空间频率与信号振幅的关系称为OTF(Optical Transfer Function)。信号振幅随空间频率的提高，几乎直线下降。将信号振幅为零的再现极限频率称为OTF截止频率(cut off)。
图22是记录容量为25GB的BD中的OTF与最短记录标记之间的关系的曲线图。BD的最短标记的空间频率相对于OTF截止频率约为80％，接近OTF截止频率。此外可知，最短标记的再现信号的振幅也变得非常小，约为可检测的最大振幅的10％。在BD的最短标记的空间频率非常接近OTF截止频率的情况下，也就是说，再现振幅几乎不出现的情况下，此时的记录容量在BD中相当于31GB左右。当最短标记的再现信号的频率在OTF截止频率附近时，或者是超过它的频率时，有时也许会超过激光分辨率的极限，形成再现信号的再现振幅小、SN比急剧恶化的区域。
因此，图20(b)的高记录密度光盘的记录线密度根据再现信号的最短标记的频率接近OTF截止频率的情况(也包含其在OTF截止频率以下的情况，但不是大幅低于OTF截止频率的情况)，可以假定其在OTF截止频率以上的情况。
图23是表示最短标记(2T)的空间频率比OTF截止频率高且2T的再现信号的振幅为0时的信号振幅与空间频率之间关系的一例的曲线图。在图23中，最短标记长2T的空间频率是OTF截止频率的1.12倍。
<波长、数值孔径、标记长之间的关系>
高记录密度光盘中波长、数值孔径、标记长/间隔长之间关系如下。
当设最短标记长为TMnm、最短间隔长为TSnm，用“P”表示(最短标记长+最短间隔长)时，P是(TM+TS)nm。在17调制的情况下，P＝2T+2T＝4T。在使用激光波长λ(405nm±5nm，即400～410nm)、数值孔径NA(0.85±0.01，即0.84～0.86)、最短标记+最短间隔长P(在17调制的情况下，最短长度是2T，所以P＝2T+2T＝4T)的3个参数的情况下，若基准T变小直至满足以下不等式，则最短标记的空间频率就会超过OTF截止频率。
P≤λ/2NA
在设定NA＝0.85、λ＝405时，相当于OTF截止频率的基准T通过下式求得。另外，在满足P＞λ/2NA的情况下，最短标记的空间频率低于OTF截止频率。
T＝405/(2×0.85)/4＝59.558nm
这样，仅提高记录线密度，SN比也会因光学分辨率的极限而变差。因此，从系统余量的观点来看，由信息记录层的多层化引起的SN比劣化有时是不能允许的。特别是，如上所述，由于最短记录标记的频率超过OTF截止频率，所以SN比的劣化变得很明显。
至此，对最短标记的再现信号的频率与OTF截止频率进行比较，说明了记录线密度。再有，如果BD的高密度化再进一步发展，根据第二短的标记(或者第三短的标记(在第二短的标记以上的标记))的再现信号的频率与OTF截止频率之间的关系，基于与上述同样的原理，能够设定分别对应它们的记录密度(记录线密度、记录容量)。
<记录密度和层数>
这里，对于具有波长为405nm、数值孔径为0.85等配置的BD，在最短标记的空间频率为OTF截止频率附近的情况下，每层的具体记录容量例如可以假定为：约29GB(例如，29.0GB±0.5GB，或29GB±1GB等)或其以上；或者约30GB(例如，30.0GB±0.5GB，或30GB±1GB等)或其以上；或者约31GB(例如，31.0GB±0.5GB，或31GB±1GB等)或其以上；或者约32GB(例如，32.0GB±0.5GB，或32GB±1GB等)或其以上等等。
此外，在最短标记的空间频率为OTF截止频率以上时，每层的记录容量例如可以假定为：约32GB(例如，32.0GB±0.5GB，或32GB±1GB等)或其以上；或者约33GB(例如，33.0GB±0.5GB，或33GB±1GB等)或其以上；或者约33.3GB(例如，33.3GB±0.5GB，或33.3GB±1GB等)或其以上；或者约33.4GB(例如，33.4GB±0.5GB，或33.4GB±1GB等)或其以上；或者约34GB(例如，34.0GB±0.5GB，或34GB±1GB等)或其以上；或者约35GB(例如，35.0GB±0.5GB，或35GB±1GB等)或其以上等等。
特别是，在记录密度约为33.3GB的情况下，由3层能够实现约100GB(99.9GB)的记录容量。如果是约33.4GB的话，由3层能够实现100GB以上(100.2GB)的记录容量。这几乎与4层25GB的BD的记录容量相同。例如，当记录密度是33GB时，33×3＝99GB，与100GB相差1GB(1GB以下)；当记录密度是34GB时，34×3＝102GB，与100GB相差2GB(2GB以下)；当记录密度是33.3GB时，33.3×3＝99.9GB，与100GB相差0.1GB(0.1GB以下)；当记录密度是33.4GB时，33.4×3＝100.2GB，与100GB相差0.2GB(0.2GB以下)。
另外，当记录密度被大幅扩张时，如上所述，由于最短标记的再现特性的影响，会使得精密的再现十分困难。因此，在抑制记录密度大幅扩张的同时，用大约33.4GB来作为实现100GB以上的记录密度是现实的。
这里，光盘的结构出现如下选择：是选择每层25GB的4层构造，还是每层33～34GB的3层构造。多层化带来各信息记录层的再现信号的振幅减小(SN比劣化)和多层杂散光(来自相邻的信息记录层的信号)的影响等。因此，通过选择33～34GB的3层盘，而不是25GB的4层盘，可以尽量抑制那种杂散光的影响，同时又以较少的层数(不是4层，是3层)实现约100GB。因此，希望尽量回避多层化而又想实现约100GB的磁盘制造商可以选择33～34GB的3层盘；另一方面，希望维持现有格式(记录密度是25GB)实现100GB的磁盘制造商可以选择25GB的4层盘。这样，目的不同的制造商可以通过彼此不同的结构可以分别实现目的，能够带来磁盘设计的自由度。
此外，当设定每层的记录密度为30～32GB左右时，用3层盘虽然达不到100GB(90～96GB)，但用4层盘能够实现120GB以上。其中，当设定记录密度约为32GB时，用4层盘能够实现128GB的记录容量。该128这个数字也是便于计算机处理的、与2的幂(2的7次方)一致的数值。另外，与用3层实现约100GB的记录密度的情况相比，这种情况对于最短标记的再现特性不严格。
据此，在记录密度扩张时，通过设置多种记录密度(例如约为32GB和33.4GB等)，由多种记录密度和层数的组合，可以对磁盘制造商予以设计上的自由度。例如可以对抑制多层化影响同时又希望大容量化的制造商提供以下选项：制造基于33～34GB的3层化的约100GB的3层盘；对抑制再现特性影响同时又希望大容量化的制造商提供以下选项：制造基于30～32GB的4层化的约120GB以上的4层盘。
在BD中采用其中一个结构的情况下，通过采用第1实施方式或第2实施方式的光盘构造，能够决定最适合各信息记录层的记录功率。因此，在特别是因线记录密度的提高而要求更加正确地形成记录标记的情况下，能够使用最合适的记录功率，来进行准确的记录。
(产业上的利用可能性)
本发明适用于各种信息记录介质和信息记录装置，尤其适用于具有3层以上信息记录层的一次写入型或可改写型信息记录介质以及与其对应的信息记录装置。

Claims (14)

1.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为3以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
第i信息记录层的测试记录区以及第i+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第j信息记录层的测试记录区以及第j+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差，其中，i是满足2≤i≤n-1的整数，j是满足1≤j≤i-1的整数。
2.一种信息记录介质，其特征在于，
至少具有3层信息记录层，
距离激光入射面相对较近一侧的相邻的1对信息记录层上分别形成的1对测试记录区之间的半径方向的间隔，大于距离所述激光入射面相对较远一侧的相邻的1对信息记录层上分别形成的1对测试记录区之间的半径方向的间隔。
3.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为3以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
第k信息记录层的测试记录区以及第k+1信息记录层的测试记录区之中，配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第k信息记录层的测试记录区以及第k+2信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，其中k是满足1≤k≤n-2的整数。
4.根据权利要求3所述的信息记录介质，其特征在于，
所述n是4，所述k是1。
5.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为4以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
第k’信息记录层的测试记录区以及第k’+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，大于第k’+1信息记录层的测试记录区以及第k’+3信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的内周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的外周端部的半径位置之间的半径位置差，其中k’是满足1≤k’≤n-3的整数。
6.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为3以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
与第1层的信息记录层的测试记录区相比，第3层的信息记录层的测试记录区位于外周侧，
与第2层的信息记录层的测试记录区相比，所述第1层的信息记录层的测试记录区位于外周侧。
7.根据权利要求6所述的信息记录介质，其特征在于，
所述n是4。
8.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为4以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
与第2层的信息记录层的测试记录区相比，第3层的信息记录层的测试记录区位于外周侧，
与第4层的信息记录层的测试记录区相比，所述第2层的信息记录层的测试记录区位于外周侧。
9.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为4以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
与第1层的信息记录层的测试记录区相比，第3层的信息记录层的测试记录区位于外周侧，
与第4层的信息记录层的测试记录区相比，所述第1层的信息记录层的测试记录区位于外周侧。
10.一种信息记录介质，能通过激光进行数据记录，具有相互叠层的n层信息记录层，其中n为3以上的整数，其特征在于，
所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的、设置在彼此不同的半径位置上的测试记录区，
在所述测试记录区设有多个副区，
当从距离所述激光入射面最远的一侧，对所述n层信息记录层进行列举时，
在第i信息记录层，所述激光从外周侧向内周侧扫描，在所述测试记录区，从内周侧向外周侧使用副区，其中i是满足2≤i≤n的偶数，
在第i-1信息记录层，所述激光从内周侧向外周侧扫描，在所述测试记录区，从外周侧向内周侧使用副区。
11.一种信息再现装置，对权利要求1～10中任意一项所述的信息记录介质进行再现，其特征在于，
所述信息记录介质在所述n层的信息记录层的至少1个信息记录层上具有控制区，
所述信息再现装置至少执行以下步骤中的一个，分别是：
从所述控制区再现与所述信息记录介质相关的信息的步骤；和
在所述n层的信息记录层的任意1个信息记录层上，再现以使用该层测试记录区调整之后的记录功率所记录的数据。
12.一种信息记录装置，对权利要求1～10中任意一项所述的信息记录介质进行记录，其特征在于，
使用所述n层信息记录层的任意1层的测试记录区，决定激光的记录功率，
以所决定的记录功率照射所述激光，对所述任意1层记录数据。
13.一种再现方法，对权利要求1～10中任意一项所述的信息记录介质进行再现，其特征在于，
所述信息记录介质在所述n层的信息记录层的至少1个信息记录层上具有控制区，
所述再现方法中至少执行以下步骤中的一个，分别是：
从所述控制区再现与所述信息记录介质相关的信息的步骤；和
在所述n层的信息记录层的任意1层上，再现以使用该层测试记录区调整后的记录功率所记录的数据。
14.一种记录方法，在权利要求1～10中任意一项所述的信息记录介质上记录数据，其特征在于，包含以下步骤：
使用所述n层信息记录层的任意1层的测试记录区，决定激光的记录功率的步骤；和
以决定后的记录功率照射所述激光，在所述任意1层上记录数据。
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