CN1658302A - 光盘驱动设备 - Google Patents

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Abstract

一种光盘驱动设备，具有：发光元件1a、12a；分路从这些发光元件1a、12a射出的第1光束和第2光束的光束分裂器3；检测在光束分裂器3分路的前光的光检测器4；孔径限制部件5；使用从所述光检测器4得到的信号而控制发光元件1a、12a射出的光量的控制器50。光检测器4具有：圆形的第1检测区域，受光第1光束的内侧光束；和圆环形的第2检测区域，受光第1光束的外侧光束。当大数值孔径时，根据第1检测区域和第2检测区域的受光量，控制器50进行光量控制；当小数值孔径时，根据第1检测区域的受光量，控制器50进行光量控制。

Description

光盘驱动设备
技术领域
本发明涉及一种光盘驱动设备，通过向光盘照射光束而进行信息的记录和/或再生。
背景技术
到目前为止，如日本专利公开公报平成10-222864号所示，通过两个数值孔径(NA；Numerical Aperture)来进行信息的记录或再生的光盘驱动设备已为公知。
图15是示意在上述公报中记载的、以往的光盘驱动设备的概况图。如图15所示，光盘驱动设备包括：多个受发光组件131、132；作为光路一致机构的偏光束分裂器135；准直透镜139；作为光束分路机构的半反射镜(half mirror)143；一个光检测器144以及物镜140。受发光组件131具有发光元件133和第1受光元件161，受发光组件132具有发光元件134和第1受光元件162。光检测器144具有第2受光元件151。发光元件133和发光元件134不是被同时驱动，而是只驱动该两元件中的其中之一而进行发光。
当要驱动光盘(记录载体)141时，则驱动发光元件133。这时，从发光元件133射出的光束136穿过偏光束分裂器135，通过准直透镜139被转换成大致平行的光。被转换成大致平行光的光束136，通过物镜140被聚光在光盘141上。来自光盘141的反射光，沿着与来时走过的光路正好相反的光路返回到受发光组件131。在受发光组件131内，该反射光通过全息元件(没图示)被导入到第1受光元件161而受光。
当要驱动光盘(记录载体)142时，则驱动发光元件134。这时，从发光元件134射出的光束137，在偏光束分裂器135被反射呈直角弯曲，从而与光束136通过同样的光路。被反射的光束137，通过准直透镜139被转换成大致上平行的光，此后通过物镜140被聚光在光盘142上。来自光盘142的反射光，沿着与来时走过的光路正好相反的光路返回到受发光组件132。在受发光组件132内，该反射光被导入到第1受光元件162而受光。
所述半反射镜143，用来反射来自准直透镜139的平行光的一部分，而让其剩余的部分穿透。通过了半反射镜143的光束136的反射光以及光束137的反射光，都通过检测器144里的唯一的第2受光元件151，作为前光(front light)被受光。从该检测器144输出的信号被反馈到发光元件的驱动电路，从而使发光元件133或发光元件134的输出保持在一定的程度上。
这样，即可以向光盘141或光盘142记录信号，又可以将已被记录在光盘141或光盘142上的信号进行再生。
然而，根据上述以往的构成，如图16所示，通过第2受光元件151被检测出的光束只限于光束136、137的中央部分。而由于周围的温度、发光输出量等变化，使发光元件133、134的发光状态出现变化时，就无法维持发光元件133、134的发光量和第2受光元件151的受光量之间的比例关系，因此存在不能正确控制光量的问题。
另外，当在一个光盘驱动设备上用多个数值孔径(即，开口数)进行记录或再生时，会出现，即使设定成在某一个数值孔径之下利用第2受光元件151可以检测出光束的全部光量，然而，在其他数值孔径之下却只能检测出光束的一部分或者把不必要的部分也给检测出来的情况，因此，存在不能正确控制光量的问题。
发明内容
本发明是为了解决上述以往技术问题而做出的，其目的在于提供一种可适合于于多个数值孔径的光盘驱动设备，针对在各数值孔径之下的各光量控制，可以使发光元件维持稳定的发光量。
为解决上述问题，本发明所提供的光盘驱动设备，是以与多个光盘分别相对应的各数值孔径下运行为前提的，它包括：光源机构；将从所述光源机构射出的光束分路为第1光束和第2光束的分路元件，；受光通过所述分路元件被分路的所述第1光束的第1检测器；根据所述第1检测器的受光量而控制所述光源机构的发光量的控制器；以及受光被光盘反射后的所述第2光束的第2检测器；其中，所述第1检测器具有：受光所述第1光束的内侧光束的第1检测区域；和受光所述第1光束的外侧光束的至少一个或多个第2检测区域；所述控制器，可在第1控制状态和第2控制状态之间转换；其中所述第1控制状态，根据所述第1检测区域的受光量来控制所述光源机构的射出量；所述第2控制状态，根据所述第1检测区域和所述第2检测区域的受光量来控制所述光源机构的射出量。
根据上述构成，当将数值孔径设定为较小的时候，控制器就根据第1检测区域的受光量，来控制光源机构的射出量。这时，该第1检测区域只受光第1光束的内侧光束(光束的内侧部分)。另一方面，当将数值孔径设定为较大的时候，控制器就根据第1检测区域的受光量和第2检测区域的受光量的双方，来控制光源机构的射出量。这时，第1检测区域受光第1光束的内侧光束，第2检测区域受光第1光束的外侧光束(光束的外侧部分)。如此，通过按照各数值孔径相应地改变检测区域，在各数值孔径之下都可以检测出与数值孔径相对应的第1光束的全光量。因此，在适合于多个数值孔径的光盘驱动设备，可对各数值孔径之下的光量进行正确的光量控制。
本发明的光盘驱动设备还可以包括配置于所述分路元件和所述光盘之间的孔径限制部件，使被所述分路元件分路的所述第2光束穿过所述孔径限制部件，其中，所述孔径限制部件至少可在第1孔径状态和第2孔径状态之间转换；其中所述第2孔径状态是指，让光束的直径较所述第1孔径状态的孔径还要大的所述第2光束穿过的状态。
根据上述构成，通过孔径限制部件，可以将射入至光盘的第2光束的数值孔径设定成多段。
本发明的光盘驱动设备还可以包括设置于所述光源机构和所述分路元件之间的准直透镜，将自所述光源机构至所述分路元件的光束转换成平行光束；所述第1检测区域还可以呈圆形，其直径与穿过在所述第1孔径状态下的所述孔径限制部件的所述第2光束的直径大致上相同；所述第2检测区域还可以呈圆环形，设置于所述第1检测区域周围，其外径与穿过在所述第2孔径状态下的所述孔径限制部件的所述第2光束的直径大致上相同。
根据上述构成，由于是平行光束被射入到分路元件，这样从分路元件射出的第1光束以及第2光束的直径就和向第1检测器射入时的第1光束的直径相同。因此，只要将孔径限制部件在第1孔径状态下的孔径和第1检测区域的直径设定为大致上相同即可，或者将孔径限制部件在第2孔径状态下的孔径和第2检测区域的外径设定为大致上相同就可以。从而在各数值孔径之下，都可以容易并确实地进行全光量的检测。
本发明的光盘驱动设备的所述孔径限制部件还可以进行孔径限制的动作，以调整所述第2光束的直径；并且，所述控制器还可以连同所述孔径限制部件的孔径限制动作而转换所述第1控制状态和所述第2控制状态之间。
根据上述构成，在各数值孔径之下，可以确实地调整控制器的控制状态，可以确实地控制光源机构射出的光量。
本发明的光盘驱动设备还可以具有孔径限制部件，配置于所述分路元件和所述光盘之间，使被所述分路元件分路的所述第2光束穿过所述孔径限制部件中，其中，所述光源机构具有多个光源，各射出不同波长的光；所述孔径限制部件还可以具有滤光器，根据穿过的所述第2光束的波长而调整所述光束的直径；而且，所述控制器还可以根据所述各光源射出的光而转换其控制状态。
根据上述构成，可以简化孔径限制部件的构成，同时可以确实地控制光源机构射出的光量。
本发明的光盘驱动设备的所述光源机构还可以具有多个光源，各射出不同波长的光；并且，所述控制器还可以根据所述各光源射出的光而转换其控制状态。
根据上述构成，由于第1检测器根据受光的光束的波长选择检测区域，因此，在各数值孔径之下、使用波长各不同的光束时，与各数值孔径相应地可以高精度地进行光量的检测。本发明的光盘驱动设备的所述光源机构还可以具有第1光源和第2光源，所述第2光源射出比所述第1光源波长短的光；所述第1检测区域受光从所述第1光源射出而被所述分路元件分路的所述第1光束；所述第2检测区域受光从所述第2光源射出而被所述分路元件分路的所述第1光束。
根据上述构成，在使用波长彼此不同的两个光源的情况下，使从第2光源射出波长短的光束的直径变大也好，通过第1检测器可以检测该光束的全光量，在设定有多个数值孔径的场合下也可以高精度地进行光量的检测。
本发明的光盘驱动设备的所述数值孔径还可以被设定为选自约0.45、约0.6和约0.85中的任意两种。
根据上述构成，在一个光盘驱动设备中，将数值孔径设定为选自以CD(Compact Disc)为代表的约0.45、以DVD(Digital Versatile Disc)为代表的约0.6和以BD(Blu-ray Disc)为代表的约0.85中的任意两种的情况下，可以得到用于控制与各数值孔径相应的光量的信号。
本发明的光盘驱动设备的所述光源机构还可以具有：第1光源；第2光源，所述第2光源射出比所述第1光源波长短的光；和第3光源，所述第3光源射出比所述第2光源波长短的光；所述第1检测器还可以具有：第1检测区域，受光所述第1光束的内侧光束；第2检测区域，受光所述第1光束的外侧光束；和第3检测区域，受光所述第1光束的最外侧光束；所述控制器还：可以转换第1控制状态、第2控制状态和第3控制状态之间；所述第1控制状态，根据所述第1检测区域的受光量而控制所述第1光源的射出量；所述第2控制状态，根据所述第1检测区域和所述第2检测区域的受光量而控制所述第2光源的射出量；所述第3控制状态，根据所述第1检测区域、所述第2检测区域和所述第3检测区域的总受光量而控制所述第3光源的射出量。
根据上述构成，在使用波长彼此不同的三个光源的情况下，与波长相应地使从光源射出的光束直径变大也好，通过第1检测器都可以检测该光束的全光量，在设定有多个数值孔径的场合下也可以高精度地进行光量的检测。
本发明的光盘驱动设备的所述数值孔径还可以被设定为为约0.45、约0.6和约0.85。
根据上述构成，在一个光盘驱动设备中，将数值孔径设定为约0.45、约0.6和约0.85时，可以得到用于控制与各数值孔径相应的光量的信号。
本发明的光盘驱动设备的所述多个光源还可以分别被设置于不同的封装件中。这时，作为光源可以使用通用件。
本发明的光盘驱动设备的所述第1检测区域和第2检测区域还可以呈同心圆状地被配置。
根据上述构成，只要是第1检测器的检测区域图形与第1光束的内侧光束以及外侧光束相应，就可以得到用于控制与各数值孔径相应的光量的信号。由此可以简化设备的构成。
本发明的光盘驱动设备还可以具有衍射元件，配置于所述分路元件和所述第1检测器之间，所述衍射元件还可以具有往第1检测区域衍射所述内侧光束的第1衍射区域、和往第2检测区域衍射所述外侧光束的第2衍射区域。
根据上述构成，可以使通过分路元件被分路的第1光束的内侧光束以及外侧光束分别进行衍射而分离，因此可以提高第1检测器的检测区域图形的自由度。另外，上述构成易于第1检测器位置的调整。
本发明的光盘驱动设备还可以具有聚光元件，配置于所述衍射元件和所述第1检测器之间。
根据上述构成，通过衍射元件与数值孔径相应地进行分开光束之后，再通过聚光元件将该分开后的光束聚光在第1检测器上，从而可以得到用于控制光量的信号。
本发明的光盘驱动设备还可以具有另一孔径限制部件，配置于所述分路元件和所述第1检测器之间，使被所述分路元件分路的所述第1光束穿过，其中，所述另一孔径限制部件至少可以在第1孔径状态和第2孔径状态之间转换；其中所述第2孔径状态是指，让光束的直径较所述第1孔径状态的孔径还要大的与所述第2光束大致上相同直径的光束穿过。
根据上述构成，通过孔径限制部件，可以调整通过分路元件被分路过的第1光束的直径，因此，可以在各检测区域受光第1光束的全光量。
本发明的光盘驱动设备的所述分路元件可以具有全息元件。这样，可以提高部件的集成度。
本发明的光盘驱动设备，不仅可以适用于具有多个数值孔径的情形，而且在各数值孔径之下，还可以使发光元件维持稳定的发光量。
附图说明
图1是示意本发明的实施例1的光盘驱动设备的构成的概况图。
图2是设置于所述光盘驱动设备的光检测器和驱动控制电路的示意图。
图3是示意本发明的实施例2的光盘驱动设备的构成的概况图。
图4是示意本发明的实施例3的光盘驱动设备的构成的概况图。
图5是示意本发明的实施例4的光盘驱动设备的构成的概况图。
图6是设置于所述光盘驱动设备的光检测器和驱动控制电路的示意图。
图7是示意设置于所述光盘驱动设备的全息元件的构成的概况图。
图8是示意本发明的实施例5的光盘驱动设备的构成的概况图。
图9是示意本发明的实施例6的光盘驱动设备的构成的概况图。
图10是示意所述光盘驱动设备的全息元件上形成的衍射区域的概况图。
图11是示意本发明的实施例7的光盘驱动设备的构成的概况图。
图12是设置于所述光盘驱动设备的光检测器和驱动控制电路的示意图。
图13是示意本发明的实施例8的光盘驱动设备的构成的概况图。
图14是示意本发明的实施例9的光盘驱动设备的构成的概况图。
图15是示意以往的光盘驱动设备的构成的概况图。
图16是概略示意以往的光盘驱动设备中的检测器和射入于该检测器的光束的波形的概念图。
具体实施方式
以下，就本发明的实施例，参照附图进行说明。
(实施例1)
图1表示本发明的实施例1的光盘驱动设备。图2是设置于所述光盘驱动设备的光检测器和驱动控制电路的示意图。如图1所示，本发明的光盘驱动设备是具有可以设定两种数值孔径(大数值孔径和小数值孔径)的结构的设备，作为主要构成部件，包括：作为光源的发光元件1a；准直透镜2；作为分路元件的光束分裂器3；作为第1检测器的光检测器4；孔径限制部件5；物镜6；作为第2检测器的光检测器9；以及控制器50。当装填作为记录载体的光盘7a时，本光盘驱动设备被设定为大数值孔径，当装填光盘7b时，被设定为小数值孔径。
发光元件1a是被装载在封装件1上，构成射出光束的发光部。准直透镜2，被配置于所述发光元件1a和光束分裂器3之间，将从发光元件1a射出而前往光束分裂器3的光束10转换成大致平行的光。光束分裂器3，用于分路被转换成大致上平行光的光束10，并具有反射面3a。在光束分裂器3的反射面3a上，光束10被分路为：要射入到光检测器4的第1光束；和要射入到物镜6(以及作为记录载体的光盘7a、7b)的第2光束。
所述光检测器4，检测平行光束10中在光束分裂器3的反射面3a上被反射的第1光束。
所述孔径限制部件5，被配置于光束分裂器3和物镜6之间。孔径限制部件5，是通过限制平行光束10中的、穿过光束分裂器3的反射面3a而射入到物镜6的第2光束的直径(光束径)来进行调整的，可在第1孔径状态和第2孔径状态之间转换。其中，第1孔径状态是指被设定为小数值孔径时的孔径状态，在该状态下，通过屏蔽第2光束的外周光束(光束的外侧部分)而使第2光束10b的光束直径以φB为直径穿过。在图1中，所述第2光束10b以实线表示。另一方面，第2孔径状态是指被设定为大数值孔径时的孔径状态，在该状态下，第2光束10a的光束直径以φA为直径穿过。在图1中，所述第2光束10a以虚线表示。
孔径限制部件5，通过控制对液晶元件的施加电压，来转换上述的孔径状态。该孔径限制部件5的孔径状态的转换，是由以后将要说明的的所述控制器50来进行的。孔径限制部件5，即可采用在第2光束的光路中、设置可插入取出的遮光部件的结构来进行孔径状态的转换，其中所述遮光部件具有直径φA和φB的开口部；也可采用其开口部的内径可在φA和φB之间变动的遮光部件来进行孔径状态的转换。在这种情况下，孔径限制部件的驱动控制是由所述控制器50进行的。
所述物镜6用来在光盘7a、7b上聚光光束。光盘7a是孔径限制部件5在第2孔径状态(大数值孔径)下，使直径为φA的第2光束10a聚光而进行记录或者再生时使用的记录载体。光盘7b是孔径限制部件5在第1孔径状态(小数值孔径)下，使直径为φB的第2光束10b聚光而进行记录或者再生时使用的记录载体。
在分路元件(光束分裂器)3和光检测器9之间，还配设有检测透镜8。该检测透镜8使由光盘7a、7b反射的光束聚光在光检测器9上。光检测器9用于检测伺服信号以及射频信号(RF信号)。
如图2所示，光检测器4具有第1检测区域4b和第2检测区域4a。这两个检测区域4a、4b呈大致上同心圆状地被配置在光检测器4上，从而构成光检测部。第1检测区域4b具有与第2光束在小数值孔径时的直径φB大致上相同外径的圆形区域。由此，在小数值孔径时的第1光束、或在大数值孔径时的第1光束的内侧光束被射入到第1检测区域4b。另一方面，第2检测区域4a是以围绕第1检测区域地形成在第1检测区域的周围，具有与第2光束在小数值孔径时的直径φB大致上相同尺寸的内径、并且与第2光束在大数值孔径时的直径φA大致上相同尺寸的外径而形成的圆环形区域。由此，第1光束的外侧光束被射入到第2检测区域4a。
所述控制器50具有发光元件驱动电路51、驱动控制电路52和孔径转换电路53。
驱动控制电路52，输入来自光检测器4的检测信号，另外还向发光元件驱动电路51输出控制信号。该驱动控制电路52具有，两个电流电压转换放大器54a、54b和加法放大器55a，可以转换第1控制状态和第2控制状态。在第1控制状态之下，与在第1检测区域4b受光的第1光束受光量相对应的控制信号被输出。在第2控制状态之下，与在两个检测区域4a、4b受光的第1光束受光量相对应的控制信号被输出。
发光元件驱动电路51，按照来自驱动控制电路52的输出电压，相应地向发光元件1a输出反馈信号，从而控制发光元件1a射出的光量。
孔径转换电路53，按照被装填的光盘7a、7b的基材厚度(自光盘的物镜6一侧表面至记录层的距离)，相应地控制孔径限制部件5的孔径限制的转换。该转换控制，例如可以通过对液晶元件的施加电压进行控制的方式来进行。下面说明如上构成的光盘驱动设备的动作。在光盘驱动设备装填有光盘7a的情况下，控制器50，在将孔径限制部件5转换成大数值孔径的第2孔径状态的同时，也将驱动控制电路52转换成第2控制状态。
从发光元件1a射出的光束10，通过准直透镜2被转换成大致上平行光之后，射入到光束分裂器3。该射入到光束分裂器3的光束10，作为其中一部分的第2光束穿透光束分裂器3的反射面3a，另外，作为该光束10的剩余部分的第1光束则被光束分裂器3的反射面3a反射。
穿透了反射面3a的第2光束，在穿过孔径限制部件5时，变成其光束径φA被孔径限制过的光束10a。该光束10a穿过物镜6之后，成焦在光盘7a上。在光盘7a反射的光束10a，穿过物镜6以及孔径限制部件5之后，射入到光束分裂器3。该光束10a被反射面3a反射之后，通过检测透镜8在光检测器9上成为光点，由此可检测出伺服信号以及射频信号。
另外，在所述光束分裂器3的反射面3a被反射的第1光束射入到光检测器4。该第1光束，是从大数值孔径时的光束10分路的，射入到第1检测区域4b和第2检测区域4a的全面。因此，光检测器4可检测出与直径为φA的第2光束10a相应的第1光束的光量。在两个检测区域4b、4a所得到的电流，分别通过各自的电流电压转换放大器54a、54b被转换成电压。然后，在驱动控制电路52，得到单独信号C和加法信号D；其中所述单独信号C是指来自与第1检测区域4b连接的电流电压转换放大器54a的信号，所述加法信号D、是指通过加法放大器55a、将来自两个电流电压转换放大器54a、54b的信号进行加法运算而得到的信号。这样，在大数值孔径时，加法信号D被输出到发光元件驱动电路51，根据来自该发光元件驱动电路51的反馈信号，控制使发光元件1a的输出保持一定。换言说，在大数值孔径时，受光光束径为φA的光束的光量，并进行与之相应地控制。
另一方面，在光盘驱动设备装填有光盘7b的情况下，孔径限制部件5被转换成小数值孔径的第1孔径状态的同时，驱动控制电路52也被转换成第2控制状态。
穿透光束分裂器3的反射面3a并通过了孔径限制部件5的第2光束，变成其光束径φB被孔径限制过的光束10b，接着，如上同样地穿过物镜6之后，成焦在光盘7b上。然后，该光束10b，穿过物镜6、孔径限制部件5，再射入到光束分裂器3之后，被反射面3a反射，在光检测器9上成为光点。
另外，在光束分裂器3的反射面3a被反射的第1光束，射入到光检测器4的第1检测区域4b和第2检测区域4a。然后，驱动控制电路52向发光元件驱动电路51输出来自与第1检测区域4b连接的电流电压转换放大器54a的单独信号C。换言说，在小数值孔径时，检测出与光束径为φ B的第2光束10b相对应的第1光束10b的光量。接着，使发光元件1a的输出维持一定地进行控制。
根据上述构成，可以得到适应于各数值孔径(或者对于作为记录或再生对象的光盘)，的用于检测前光的信号，通过与数值孔径(或者作为记录或再生对象的光盘)互相配合则可以正确地驱动发光元件1a。
在本实施例1中，光束分裂器3分路时的第1光束以及第2光束的直径是与射入到光检测器4时的第1光束的直径相同的。而且，孔径限制部件5在第1孔径状态下的孔径是和第1检测区域4b的直径大致上相同的，并且孔径限制部件5在第2孔径状态下的孔径是和第2检测区域4a的外径大致上相同的，因此对各数值孔径，都可以容易地检测出正确的全光量。
又，在本实施例1中，由于第1控制状态和第2控制状态之间的转换是连同孔径限制部件5的孔径限制动作而进行的，因此可按照各数值孔径准确地调整控制器50的控制状态，从而可以准确地对发光元件射出的光量进行控制。
又，在本实施例1中，由于第1检测区域4b和第2检测区域4a呈大致上同心圆状地被配置，因此，只需在光检测器4上形成有与第1光束的内侧光束以及外侧光束相对应的检测区域图案，就可以得到用于控制与各数值孔径相应的光量的信号，因此可以简化设备的结构。
(实施例2)
图3表示本发明的实施例2的光盘驱动设备。如图3所示，在本实施例2中，光盘驱动设备设置有：在大数值孔径时使用的发光元件1a；和在小数值孔径时使用的发光元件1b。在图3中，从发光元件1a射出的光束10以虚线表示，从发光元件1b射出的光束11以实线表示。
发光元件1a以及发光元件1b各射出波长彼此不同的光。例如，发光元件1a射出带有波长405nm的光，而发光元件1b射出带有波长650nm的光。在本实施例2中，两件发光元件1a、1b被配置于同一封装件1上。发光元件1a以及发光元件1b不只限于上面例子，也可以是由405nm、650nm和790nm的波长构成的组中，以从发光元件1a射出的光的波长短于从发光元件1b射出的光的波长的各种组合。
孔径限制部件5，屏蔽从发光元件1a射出的第2光束10的外周(外侧)部分，只让直径为φA的光束10a穿过并导入到物镜6。而且，孔径限制部件5，还屏蔽从发光元件1b射出的第2光束11的外周(外侧)部分，只让直径为φB的光束11a穿过并导入到物镜6。当高密度地记录或者再生光盘7a时，控制器50使发光元件1a发光的同时，通过孔径限制部件5的孔径限制，对发光元件1a射出的光束10进行孔径限制使其光束直径变为φA。当低密度地记录或者再生光盘7b时，控制器50则使发光元件1b发光的同时，通过孔径限制部件5的孔径限制，对发光元件1b射出的光束11进行孔径限制使其光束直径变为φB。发光元件1a和发光元件1b是不会被同时驱动的，与作为记录或再生对象的光盘7a、7b相对应，其中一方的发光元件被驱动而进行发光。其他动作因为与实施例1相同，在此省略其详细的说明。
根据上述构成，由于根据光检测器4受光的第1光束的波长，选择检测区域4b、4a，因此，在各数值孔径之下，各使用波长彼此不同的光束时，根据数值孔径的大小，可以高精度地进行检测光量。
另外，孔径限制部件5也可以由根据穿过的光束波长来调整光束径的波长选择方式滤光器构成。这时，可以省略孔径转换电路53。
本实施例的其他构成等是和实施例1相同。
(实施例3)
图4表示本发明的实施例3的光盘驱动设备。如图4所示，在本实施例3中，与实施例2不同，在本发明光盘驱动设备的多个发光元件分别被配置于不同的封装件上。
在本实施例3中，发光元件1a被装载在封装件1上，另外，发光元件12a被装载在封装件12上。
在图4中，从发光元件1a射出的光束15中，通过孔径限制部件5其外周(外侧)部分被屏蔽而变成直径为φA的光束15a以虚线表示。又，在该图中，从发光元件12a射出的光束16中，通过孔径限制部件5其外周(外侧)部分被屏蔽而变成直径为φB的光束16a以实线表示。
发光元件1a以及发光元件12a各射出波长彼此不同的光。例如，发光元件1a射出带有波长405nm的光，而发光元件12a射出带有波长650nm的光。在大数值孔径时、驱动发光元件1a，而在小数值孔径时、驱动发光元件12a。发光元件1a和发光元件12a不同时被驱动，与作为记录或再生对象的光盘相对应，只驱动其中的任意一个。而且发光元件1a以及发光元件12a不只限于上面的例子，也可以是由405nm、650nm和790nm的波长构成的组中，以从发光元件1a射出的光的波长短于从发光元件12a射出的光的波长的各种组合。
在发光元件12a和光束分裂器3之间还配置有准直透镜13。准直透镜2使从发光元件1a射出而前往光束分裂器3的光束15转换成大致上平行的光。另外，准直透镜13也使从发光元件12a射出而前往光束分裂器3的光束16转换成大致上平行的光。
在光束分裂器3，彼此成为垂直方向地射入有来自发光元件1a的光束15和来自发光元件12a的光束16。光束分裂器3的反射面3a，将从发光元件1a射出的光束分路为第1光束和第2光束。第1光束在反射面3a被反射而被折到和原来的方向垂直的方向，并被导入到光检测器4。第2光束，则在穿透反射面3a之后被导入到物镜6。还有，光束分裂器3的反射面3a，将从发光元件12a射出的光束分路为第1光束和第2光束。第1光束穿透反射面3a之后，被导入到光检测器4。第2光束在反射面3a被反射而被折到原来的垂直方向，并被导入到物镜6。
在光束分裂器3和孔径限制部件5之间，配置有光束分裂器14。光束分裂器14用于分路光束，具有反射面14a。该反射面14a，即可以使来自光束分裂器3的光束穿透而导入到物镜6，又可以将穿透了物镜6的光束反射并导入到光检测器9。
孔径限制部件5被配置于光束分裂器14和物镜6之间。
当为高密度地记录或者再生光盘7a的大数值孔径时，发光元件1a进行发光，孔径限制部件5对该发光元件1a射出的光束15进行孔径限制使其光束径变为φA。当为低密度地记录或者再生光盘7b的小数值孔径时，发光元件12a进行发光，孔径限制部件5对该发光元件12a射出的光束16进行孔径限制使其光束径变为φB。在大数值孔径时，从发光元件1a射出的光束15，通过准直透镜2被转换成大致上平行的光，射入到光束分裂器3之后被分路为第1光束和第2光束。第2光束穿透反射面3a后射入到光束分裂器14，然后，穿透反射面14a而通过孔径限制部件5的孔径限制使其光束径变为φA。该光束15a射入到物镜6而在光盘7a上成为焦点。接着，在光盘7a反射的光束15a，穿过物镜6以及孔径限制部件5后，射入到光束分裂器14，然后，在该反射面14a上被反射之后，通过检测透镜8被聚光在光检测器9上。这样，就可以检测出伺服信号以及射频信号。
另一方面，在小数值孔径时，从发光元件12a射出的光束16通过准直透镜13被转换成大致上平行光，然后，射入到光束分裂器3，被分路为第1光束和第2光束。第2光束被反射面3a反射后，射入到光束分裂器14，然后，穿透该反射面而通过孔径限制部件5的孔径限制使其光束径变为φB。该光束16a射入到物镜6而在光盘7b上成为焦点。在光盘7b反射的光束16a再次穿过物镜6以及孔径限制部件5后，射入到光束分裂器14。然后，在该反射面14a上被反射之后，通过检测透镜8被聚光在光检测器9上。这样，就可以检测出伺服信号以及射频信号。
无论是在大数值孔径还是在小数值孔径，在所述光束分裂器3的反射面3a分路的第1光束都射入到光检测器4。这时，从发光元件1a射出的光束，在第1检测区域4b以及第2检测区域4a被检测。然后，从各检测区域4b、4a的检测信号，分别通过各自的电流电压转换放大器54a、54b被转换成电压，从而得到由单独信号C和加法放大器55a运算的加法信号D。
在大数值孔径时，加法信号D被用于来自控制器50的反馈信号，使发光元件1a的输出维持一定地进行控制。换言说，在大数值孔径时，根据外侧光束的受光量和内侧光束的受光量之总受光量来进行光量的控制。另外，在小数值孔径时，单独信号C作为来自控制器50的反馈信号被使用，使发光元件12a的输出维持一定地进行控制。换言说，在小数值孔径时，根据内侧光束的受光量来进行光量的控制。
根据上述构成，即使将从发光元件1a射出的波长短的光束直径变大，通过光检测器4也可以检测出该光束的全光量，即使设定有多个数值孔径，也可以高精度地进行光量的控制。
另外，孔径限制部件5，也可以由根据穿过的光束波长来调整光束径的波长选择方式滤光器构成，这样就可以简化孔径限制部件5的结构。在这种情况下，也可以省略孔径转换电路53。
本实施例的其他构成等是和实施例2相同的。
(实施例4)
图5表示本发明的实施例4的光盘驱动设备，图6表示设置于本光盘驱动设备的光检测器和驱动控制电路。
如图5所示，在光束分裂器3和光检测器(第1检测器)18之间，配置有全息元件17。该全息元件17用于与数值孔径相应地分离前光。光检测器18用于检测在全息元件17被分离的前光。
如图7所示，全息元件17具有第1衍射部17b和第2衍射部17a。两衍射部17b、17a呈大致上同心圆状地被形成，其中，第1衍射部17b是其直径大致上为φB的圆形状的衍射区域，第2衍射部17a是形成在第1衍射部17b的周围、其外径大致上为φA的圆环形的衍射区域。第1衍射部17b的外径，与在小数值孔径时由孔径限制部件5的孔径限制所得到的第2光束的光束径φB基本上相同。第2衍射部17a的外径，与在大数值孔径时由孔径限制部件5的孔径限制所得到的从发光元件1a射出的第2光束的光束径φA基本上相同。
如图6所示，在光检测器18中设置有第1检测区域18b和第2检测区域18a。第1检测区域18b射入有衍射于第1衍射部17b的前光，在该第1检测区域18b上形成有其光点18d。另外，第2检测区域18a射入有衍射于第2衍射部17a的前光，在该第2检测区域18a上形成有其光点18c。
与所述光点18d相比，第1检测区域18b形成为大区域。换言说，虽然从两个发光元件1a、12a射出的光的振荡波长互不相同，从而产生在第1衍射部17b被衍射时的衍射方向也互不相同，但是，第1检测区域18b却具有一定的面积，其大小足以受光这些光束。
在本实施例4中，在大数值孔径时，从发光元件1a射出后、通过准直透镜2被转换成大致上平行的光而射入到光束分裂器3的光束15中，在反射面3a反射的第1光束(前光)射入到全息元件17。在该大数值孔径时，在全息元件17的第1衍射部17b，内侧光束被衍射的同时，在第2衍射部17a，外侧光束被进行衍射。这时，内侧光束和外侧光束各朝不同方向被衍射，然后，内侧光束是在光检测器18的第1检测区域18b上、外侧光束是在第2检测区域18a上，分别作为光点18d、18c被聚光。
另一方面，在小数值孔径时，从发光元件12a射出后、通过准直透镜13被转换成大致上平行的光而射入到光束分裂器3的光束16中，穿透反射面3a的第1光束(前光)射入到全息元件17。该光束16的内侧光束是，在全息元件17的第1衍射部17b被衍射之后，通过光检测器18的第1检测区域18b被进行检测。另，光束16的外侧光束是，在第2衍射部17a被衍射后，通过第2检测区域18a被进行检测。
在检测区域18b、18a所产生的电流，分别通过各自的电流电压转换放大器54a、54b被转换成电压，然后，得到单独信号E、和通过加法放大器55a的加法信号F。在大数值孔径时，加法信号F被用于反馈信号，实施发光元件1a的光量控制。另外，在小数值孔径时，单独信号E被用于反馈信号，实施发光元件12a的光量控制。还有，检测伺服信号以及射频信号的动作是和实施例3相同的。
根据本实施例4，可以使通过光束分裂器3被分路的第1光束的内侧光束以及外侧光束，分别通过全息元件17的各衍射部17b、17a被衍射而分离，因此，可以提高光检测器18的检测区域图形的自由度。
还有，在本实施例4中，由于将在各衍射部17a、17b衍射的光束能够聚光在检测区域18a、18b上地、形成了各衍射部17a、17b的图形，因此可以使光检测器18进行进一步的小型化。
另外，孔径限制部件5可以由根据穿过的光束波长来调整光束径的波长选择方式滤光器构成，这时，可以省略孔径转换电路53。
本实施例的其他构成等是和实施例3相同的。
(实施例5)
图8表示本发明的实施例5的光盘驱动设备。如图8所示，在全息元件17和光检测器18之间，配置有聚光透镜19。该聚光透镜19用于将从光束分裂器3射出的光束聚光在光检测器18上。
在本实施例5中，在大数值孔径时，从发光元件1a射出后、通过准直透镜2而射入到光束分裂器3的光束15中，在反射面3a反射的第1光束(前光)射入到全息元件17。在全息元件17的衍射区域17a以及衍射区域17b被衍射的第1光束，通过聚光透镜19各在光检测器18的检测区域18a、18b上，以光点18c、18d分别被进行聚光。
另一方面，在小数值孔径时，从发光元件12a射出后、通过准直透镜13而射入到光束分裂器3的光束16中，穿透反射面3a的第1光束射入到全息元件17。之后，在该小数值孔径时，射入到全息元件17的第1光束在全息元件17被衍射后，通过聚光透镜19被聚光在光检测器18的检测区域18a、18b上。
在检测区域18b、18a各产生的电流各通过电流电压转换放大器54a、54b被转换成电压，然后，得到单独信号E、和通过加法放大器55a的加法信号F。在大数值孔径时是将加法信号F、在小数值孔径时是将单独信号E各被用于反馈信号，从而各实施发光元件1a、12a的光量控制。另外，检测伺服信号以及射频信号的动作是和实施例4相同的。
根据本实施例5，通过聚光透镜19将第1光束聚光在光检测器18上，从而可以得到用于控制光量的信号。
另外，孔径限制部件5可以由根据穿过的光束波长来调整光束径的波长选择方式滤光器构成，这时，可以省略孔径转换电路53。
本实施例的其他构成等是和实施例4相同的。
(实施例6)
图9表示本发明的实施例6的光盘驱动设备，图10表示在全息元件21上形成的衍射区域。
如图9所示，发光元件20a被配设于集成单元20之内。在本实施例6中，与实施例1相同，光盘驱动设备具有一个发光元件20a。在集成单元20之内配设有光检测器20b。该光检测器20b是用于检测前光、射频信号以及伺服信号的光检测器。
在集成单元20装设有全息元件21。该全息元件21被配置于发光元件20a和准直透镜2之间。在全息元件21的上侧表面部分形成有用于检测伺服信号以及用于检测射频信号的衍射区域21b，在下侧表面部分(来自发光元件20a射入的光的射入一侧表面)形成有用于检测前光的衍射区域21a。该衍射区域21a的外径φA’是和在大数值孔径时被孔径限制过的光束径φA相对应，衍射区域21b的外径φB’是和在小数值孔径时被孔径限制过的光束径φB相对应的。
在本实施例6中，从发光元件20a射出的光束10的一部分是在衍射区域21b以及在衍射区域21a被衍射而被反射之后，聚光在光检测器20b上的第1检测区域以及第2检测区域(没图示)。从该两个检测区域输出的电流各通过电流电压转换放大器54a、54b被转换成电压，然后，通过加法放大器55a得到信号。再有，根据在大数值孔径时或在小数值孔径时的各情况，选择这些信号，对发光元件20a进行驱动控制，从而进行使发光元件20a的输出维持一定的控制。
另外，穿透全息元件21的零次光通过准直透镜2被转换成大致上平行光之后，通过孔径限制部件5的孔径限制、在大数值孔径时其光束径被限制成为φA，在小数值孔径时其光束径被限制成为φB。该光束，射入到物镜6之后，在大数值孔径时在光盘7a上、在小数值孔径时在光盘7b上分别成焦。在光盘7a、7b被反射的光束，再次穿过物镜6、孔径限制部件5，射入到准直透镜2而被聚光，然后射入到全息元件21。该光束被衍射于全息元件21表面的衍射区域21b，在光检测器20b上的光检测部成焦，从而得到伺服信号以及射频信号。
本实施例的其他构成等是和实施例1相同的。
(实施例7)
图11表示本发明的实施例7的光盘驱动设备。如图11所示，在本实施例7中，被收容在封装件22的发光元件22a可以射出两种彼此波长互不相同的光。该发光元件22a具有两个芯片，各射出波长彼此不同的光。但是，由于这些芯片是接近地被配置，因此为了图示方便，在图11中，以从同一位置射出地表示。
发光元件1a可以射出波长405nm的光束15，发光元件22a可以射出波长790nm的光束24和波长650nm的光束23。发光元件1a和发光元件22a不同时驱动，只有其中之一被驱动而进行发光。而且，发光元件22a不是同时射出波长790nm的光束24和波长650nm的光束23，而是只射出其中之一波长的光束。
孔径限制部件26，是用于对穿过的光束进行孔径限制的，可以进行使直径变成φA、φB、φC之3种的孔径限制。孔径限制部件26的构造可以是，例如利用对液晶元件的施加电压来转换其孔径状态。
从发光元件22a射出的光束23、24穿透光束分裂器3的反射面3a后，射入到作为第1检测器的光检测器25。如图12所示，该光检测器25形成有呈大致上同心圆状地被配置的三个检测区域。在第1检测区域25c的周围形成有第2检测区域25b，在其周围形成有第3检测区域25a。第1检测区域25c由与小径光束径的φC大致上相同直径的圆形区域构成。第2检测区域25b由内径为φC、外径为中径光束径的φB的圆环形区域构成。第3检测区域25a由内径为φB、外径为大径光束径的φA的圆环形区域构成。第1检测区域25c受光内侧光束，第3检测区域25a受光最外侧光束，第2检测区域25b受光内侧光束和最外侧光束之间的外侧光束。
控制器50的孔径转换电路53，使发光元件1a、22a以各波长发光，通过检测这时被装填的光盘的反射率、信号种类、振幅、频率等来特别指定光盘，基于被指定的光盘进行由孔径限制部件26进行的孔径限制，并且再选定要使用的发光元件1a、22a。
驱动控制电路52，具有三个电流电压转换放大器54a、54b、54c和两个加法放大器55a、55b，可在第1控制状态、第2控制状态和第3控制状态之间转换。在第1控制状态之下，与在第1检测区域25c受光的受光量相应地输出控制信号。在第2控制状态之下，从第1检测区域25c的受光量和第2检测区域25b的受光量来加法运算受光量，与该加法运算的受光量相应地输出控制信号。在第3控制状态之下，从第1检测区域25c的受光量、第2检测区域25b的受光量和第3检测区域25a的受光量来加法运算总受光量，与该总受光量相应地输出控制信号。
在本实施例7中，当进行光束径为φA的孔径限制时，即在大孔径限制时，控制器50的驱动控制电路52转换成第3控制状态。在该大孔径限制时，从发光元件1a射出光束。从该发光元件1a射出而在光束分裂器3的反射面3a被反射的光束是通过光检测器25被检测，另外，穿透反射面3a的光束是和实施例3相同地通过光检测器9被检测。
光检测器25通过第1检测区域25c、第2检测区域25b以及第3检测区域25a的全区域受光从发光元件1a射出的光。又，从各检测区域25c、25b、25a的输出信号，各通过电流电压转换放大器54a、54b、54c输入到加法放大器55a、55b，作为全检测区域25c、25b、25a的加法信号E而被输出，与该加法信号E相应地使发光元件1a的输出维持一定，来进行控制。
另外，当进行光束径为φB的孔径限制时，即在中孔径限制时，控制器50的驱动控制电路52转换成第2控制状态。在该中孔径限制时，从发光元件22a射出光束。该光束是3种波长中第2短波长的光，是从发光元件22a射出的光之中的短波长的光。从发光元件22a射出而穿透光束分裂器3的反射面3a的光束是通过光检测器25被检测，另外，被反射面3a反射的光束是和实施例3相同地通过光检测器9被检测。
来自光检测器25的检测区域25c、25b的输出信号，各通过电流电压转换放大器54a、54b输入到加法放大器55a，作为加法信号D而被输出。然后，与该加法信号D相应地使发光元件22a的输出维持一定，来进行控制。
还有，当进行光束径为φC的孔径限制时，即在小孔径限制时，控制器50的驱动控制电路52转换成第1控制状态。在该小孔径限制时，从发光元件22a射出光束。该光束是从发光元件22a射出的光之中的长波长的光。从发光元件22a射出而穿透光束分裂器3的反射面3a的光束是通过光检测器25被检测，另外，被反射面3a反射的光束是和实施例3相同地通过光检测器9被检测。
来自光检测器25的检测区域25c的输出信号，通过电流电压转换放大器54a，作为单独信号C而被输出。然后，与该单独信号C相应地使发光元件22a的输出维持一定，来进行控制。
本实施例的其他构成等是和实施例3相同的。
(实施例8)
图13表示本发明的实施例8的光盘驱动设备。如图13所示，在本实施例8中，本发明光盘驱动设备的三个发光元件1a、22a、28a分别被配置于不同的封装件1、22、28上。从发光元件1a射出的光束15的波长是405nm，从发光元件22a射出的光束23的波长是790nm，从发光元件28a射出的光束27的波长是650nm。这些发光元件1a、22a、28a不同时被驱动，只有其中之一被选择地而驱动。
在准直透镜2和光束分裂器3之间配置有光束分裂器30。在该光束分裂器30和发光元件28a之间配置有准直透镜32。该准直透镜32使从发光元件28a射出而前往光束分裂器30的光束27转换成大致上平行光。
光束分裂器30即让从发光元件1a射出的光束15穿透，又具有反射面30a，使从发光元件28a射出的光束27以反射角45度地反射。
在本实施例8中，当大数值孔径时，从发光元件1a射出光束15。该光束15穿过准直透镜2、光束分裂器30的反射面30a之后，通过光束分裂器3的反射面3a被分路。
当中数值孔径时，从发光元件28a射出光束27。该光束27穿过准直透镜32，被光束分裂器30的反射面30a之后，射入到光束分裂器3。然后，该光束27通过反射面3a被分路。
当小数值孔径时，从发光元件22a射出光束23。该光束23穿过准直透镜13，射入到光束分裂器3。然后，该光束23通过反射面3a被分路。
无论是大数值孔径、中数值孔径还是小数值孔径，在任何一种情况下，被光束分裂器3分路后的光束15、27、23的光路都是和实施例7相同的。本实施例的其他构成等是和实施例7相同的。
(实施例9)
图14表示本发明的实施例9的光盘驱动设备。如图14所示，在本实施例9中，在光束分裂器3和光检测器4之间配置有孔径限制部件34。
孔径限制部件34是用于对通过光束分裂器3被分路后的第1光束进行孔径限制的，该孔径限制部件34由根据穿过的光束波长来调整光束径的波长选择方式滤光器构成。即，当从发光元件1a射出的光束10穿过孔径限制部件34时，孔径限制部件34屏蔽该光束的外周(外侧)部分而使其直径变为φA的光束后穿过去(第2孔径状态)。另外，当从发光元件1b射出的光束11穿过孔径限制部件34时，孔径限制部件34屏蔽该光束的外周(外侧)部分而使其直径变为φB的光束后穿过去(第1孔径状态)。
孔径限制部件34，不只限于由波长选择方式滤光器构成。转换第1孔径状态和第2孔径状态之间的方式，例如也可以是：对液晶元件的施加电压进行控制，从而转换第1孔径状态和第2孔径状态的方式；通过具有其开口直径是可改变的开口部的遮光部件而转换孔径状态的方式；通过插入或取出具有其开口直径彼此不同的多个开口部的遮光部件而转换孔径状态的方式等等。本实施例的其他构成等是和实施例2相同的。

Claims (16)

1、一种光盘驱动设备，可以与多个光盘分别相对应的数值孔径来运行，其特征在于包括：
光源机构；
分路元件，将从所述光源机构射出的光束分路为第1光束和第2光束；
第1检测器，受光通过所述分路元件被分路的所述第1光束；
控制器，根据所述第1检测器的受光量来控制所述光源机构的发光量；以及
第2检测器，受光被光盘反射后的所述第2光束；其中，
所述第1检测器具有，受光所述第1光束的内侧光束的第1检测区域，和受光所述第1光束的外侧光束的至少一个或多个第2检测区域；
所述控制器可在第1控制状态和第2控制状态之间转换；其中所述第1控制状态，根据所述第1检测区域的受光量来控制所述光源机构的射出量，所述第2控制状态，根据所述第1检测区域和所述第2检测区域的受光量来控制所述光源机构的射出量。
2、根据权利要求1所述的光盘驱动设备，其特征在于还包括：孔径限制部件，被配置于所述分路元件和所述光盘之间，让被所述分路元件分路的所述第2光束穿过，其中，
所述孔径限制部件至少可在第1孔径状态和第2孔径状态之间转换；其中所述第2孔径状态是指，让光束的直径较所述第1孔径状态的孔径还要大的所述第2光束穿过的状态。
3、根据权利要求2所述的光盘驱动设备，其特征在于还包括：准直透镜，被设置于所述光源机构和所述分路元件之间，将自所述光源机构至所述分路元件的光束转换成平行光束；其中，
所述第1检测区域，呈圆形，其直径与穿过在所述第1孔径状态下的所述孔径限制部件的所述第2光束的直径大致上相同；
所述第2检测区域，呈圆环形，被设置在所述第1检测区域的周围，其外径与穿过在所述第2孔径状态下的所述孔径限制部件的所述第2光束的直径大致上相同。
4、根据权利要求3所述的光盘驱动设备，其特征在于：
所述孔径限制部件，进行孔径限制的动作，以调整所述第2光束的直径；
所述控制器，与所述孔径限制部件的孔径限制动作连动，进行所述第1控制状态和所述第2控制状态之间的转换。
5、根据权利要求1所述的光盘驱动设备，其特征在于还包括：让被所述分路元件分路的所述第2光束穿过的孔径限制部件，被配置于所述分路元件和所述光盘之间，其中，
所述光源机构具有多个光源，分别射出不同波长的光；
所述孔径限制部件，具有滤光器，根据所述第2光束的波长来调整穿过的所述第2光束的直径；
所述控制器，根据所述多个光源的其中某一个光源射出的光来进行控制状态的转换。
6、根据权利要求1或2所述的光盘驱动设备，其特征在于：
所述光源机构具有多个光源，分别射出不同波长的光；
所述控制器，根据所述多个光源的其中某一个光源射出的光来进行控制状态的转换。
7、根据权利要求6所述的光盘驱动设备，其特征在于：
所述光源机构具有第1光源和第2光源，所述第2光源射出比所述第1光源波长短的光；
所述第1检测区域，受光从所述第1光源射出而被所述分路元件分路的所述第1光束；
所述第2检测区域，受光从所述第2光源射出而被所述分路元件分路的所述第1光束。
8、根据权利要求7所述的光盘驱动设备，其特征在于，所述数值孔径被设定为选自约0.45、约0.6和约0.85中的任意两种。
9、根据权利要求6所述的光盘驱动设备，其特征在于：
所述光源机构具有第1光源、第2光源以及第3光源，其中所述第2光源射出比所述第1光源波长短的光，所述第3光源射出比所述第2光源波长短的光；
所述第1检测器，具有受光所述第1光束的内侧光束的第1检测区域、受光所述第1光束的外侧光束的第2检测区域以及受光所述第1光束的最外侧光束的第3检测区域；
所述控制器，可以在第1控制状态、第2控制状态以及第3控制状态之间转换；其中，所述第1控制状态，根据所述第1检测区域的受光量来控制所述第1光源的射出量；所述第2控制状态，根据所述第1检测区域和所述第2检测区域的受光量来控制所述第2光源的射出量；所述第3控制状态，根据所述第1检测区域、所述第2检测区域以及所述第3检测区域的总受光量来控制所述第3光源的射出量。
10、根据权利要求9所述的光盘驱动设备，其特征在于，所述数值孔径被设定为约0.45、约0.6和约0.85。
11、根据权利要求6所述的光盘驱动设备，其特征在于，所述多个光源分别被设置于不同的封装件中。
12、根据权利要求1～5中任意一项所述的光盘驱动设备，其特征在于，所述第1检测区域和第2检测区域呈同心圆状地被配置。
13、根据权利要求1～5中任意一项所述的光盘驱动设备，其特征在于还包括，衍射元件，被配置于所述分路元件和所述第1检测器之间，
所述衍射元件，具有往第1检测区域衍射所述内侧光束的第1衍射区域、和往第2检测区域衍射所述外侧光束的第2衍射区域。
14、根据权利要求13所述的光盘驱动设备，其特征在于还包括，聚光元件，被配置于所述衍射元件和所述第1检测器之间。
15、根据权利要求1或2所述的光盘驱动设备，其特征在于还包括，另一孔径限制部件，被配置于所述分路元件和所述第1检测器之间，使被所述分路元件分路的所述第1光束穿过，其中，
所述另一孔径限制部件，至少可以在第1孔径状态和第2孔径状态之间转换；其中所述第2孔径状态是指，让光束的直径较所述第1孔径状态的孔径还要大的与所述第2光束大致上相同直径的光束穿过。
16、根据权利要求1～5中任意一项所述的光盘驱动设备，其特征在于，所述分路元件由全息元件构成。
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