CN1624804A - 高电压开关电路 - Google Patents

高电压开关电路 Download PDF

Info

Publication number
CN1624804A
CN1624804A CNA2004100544914A CN200410054491A CN1624804A CN 1624804 A CN1624804 A CN 1624804A CN A2004100544914 A CNA2004100544914 A CN A2004100544914A CN 200410054491 A CN200410054491 A CN 200410054491A CN 1624804 A CN1624804 A CN 1624804A
Authority
CN
China
Prior art keywords
voltage
high voltage
discharge
signal
transmission
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2004100544914A
Other languages
English (en)
Other versions
CN100555459C (zh
Inventor
金英珠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
Hynix Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hynix Semiconductor Inc filed Critical Hynix Semiconductor Inc
Publication of CN1624804A publication Critical patent/CN1624804A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100555459C publication Critical patent/CN100555459C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/06Modifications for ensuring a fully conducting state
    • H03K17/063Modifications for ensuring a fully conducting state in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/04Modifications for accelerating switching
    • H03K17/041Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/0412Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
    • H03K17/04123Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/10Modifications for increasing the maximum permissible switched voltage
    • H03K17/102Modifications for increasing the maximum permissible switched voltage in field-effect transistor switches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

本发明提供了一种半导体设备的高电压开关电路,其通过在用于对高电压放电的放电单元中将一高于电源电压的电压提供给放电晶体管的栅极端子来减少放电时间。

Description

高电压开关电路
技术领域
本发明涉及一种半导体设备的高电压开关电路,并且特别涉及一种能够减少放电时间的高电压开关电路。
背景技术
“与非”(NAND)闪存设备在程序、擦除及读取操作中需要高于输入电源电压的泵送电压(pumping voltage)。在程序操作中,成对执行编程与验证操作。在验证操作中,将非常低的偏压(相较于在编程操作中的)提供给字线(wordline)。重复该过程直至在这两个操作中设置的最大循环内成功执行了验证操作。用于验证操作的偏压放电时间相当长,并且在擦除操作中会更长。
图1是示出了传统高电压开关电路的放电问题的波形图。
参照图1,根据一预定允许信号(enable signal)提供一高电压,该高电压是来自一泵送单元的输出。当由于该允许信号的变化而不提供高电压时,传统高电压开关电路中产生超过约1μs的放电时间。即,普通放电电路通过使用高电压NMOS晶体管来对高电压放电,其中该高电压NMOS晶体管的漏极端子连接至一充电泵端子,将其源极端子连接至接地电源,且连接其栅极端子以接收电源电压。当仅使用电源电压时,在操作电源电压范围的低电源电压情况下,放电时间比在普通模式下被延迟得更长。可以控制NMOS的尺寸来克服前述问题,其并不能有效减少放电时间。
发明内容
本发明涉及一高电压开关电路,该高电压开关电路通过一使用泵电容(pumping cap)的放电单元来控制高电压(其是来自高电压开关单元的输出)的放电时间。
本发明的一个方面提供了一种高电压开关电路,其包括:一放电节点;一用于根据高电压传输允许信号及时钟信号来切换外部高电压的高电压开关单元;一用于根据放电节点来对高电压(其是来自高电压开关单元的输出)放电的第一NMOS晶体管;一用于根据高电压传输允许信号将电源电压传输至放电节点的电源电压传输单元;一用于根据高电压传输允许信号来控制放电节点的电压的第二NMOS晶体管;及一用于根据高电压传输允许信号与时钟信号来将放电节点的电压提高一预定电平的电压泵送单元。
最好,电源电压传输单元包含串联连接于电源电压与放电节点之间的一PMOS晶体管及一第三NMOS晶体管。根据高电压传输允许信号来驱动该PMOS晶体管,且根据通过该PMOS晶体管传输的电源电压来驱动该第三NMOS晶体管。
最好,电压泵送单元包含:一用于使高电压传输允许信号反相的反相器;一用于对来自该反相器的输出和时钟信号进行“与非”(NAND)操作的“与非”(NAND)门;用于根据来自该“与非”(NAND)门的输出来将放电节点的电压提高一预定电平的与电容耦合的第四NMOS晶体管。
本发明的另一方面提供了一种高电压开关电路,其包括:一放电节点;一用于根据高电压传输允许信号及时钟信号来切换外部高电压的高电压开关单元;一用于根据放电节点来对高电压(其是来自高电压开关单元的输出)放电的第一NMOS晶体管;一用于根据高电压传输允许信号来将电源电压传输至放电节点的电源电压传输单元,其中该电源电压传输单元包含串联连接于电源电压与放电节点之间的一PMOS晶体管及一第三NMOS晶体管;一用于根据高电压传输允许信号来控制放电节点的电压的第二NMOS晶体管;及一用于根据高电压传输允许信号与时钟信号来将放电节点的电压提高一预定电平的电压泵送单元,其中该电压泵送单元包含一用于将高电压传输允许信号反相的反相器;一用于对来自该反相器的输出和时钟信号进行“与非”(NAND)操作的“与非”(NAND)门及用于根据来自该“与非”(NAND)门的输出来将放电节点的电压增加一预定电平的与电容耦合的第四NMOS晶体管。
附图说明
图1是示出传统高电压开关电路的放电问题的波形图;
图2是说明根据本发明的高电压开关电路的电路图;和
图3是示出根据本发明的高电压开关电路的电压变化的波形图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述根据本发明的优选实施例的高电压开关电路。
图2是说明根据本发明的高电压开关电路的电路图。
如图2所示,该高电压开关电路包含一用于根据高电压传输允许信号EN与时钟信号CLK来切换一外部高电压Vpp的高电压开关单元10,及一用于根据高电压传输允许信号EN与时钟信号CLK来对来自该高电压开关单元10的输出放电的放电单元20。该高电压开关电路进一步包含一用于根据时钟信号CLK与高电压传输允许信号EN来产生一高电压的高电压发生泵送单元(未示出)。
放电单元20包含一放电节点Q1;一用于根据放电节点Q1将高电压开关单元10的高电压输出节点放电为接地电源Vss的第一NMOS晶体管N1;一用于根据高电压传输允许信号EN来将电源电压Vcc传输至放电节点Q1的电源电压传输单元21;一用于根据高电压传输允许信号EN来控制放电节点Q1的电压的第二NMOS晶体管N2;及一用于根据高电压传输允许信号EN与时钟信号CLK来将放电节点Q1的电压提高一预定电平的电压泵送单元22。
电源电压传输单元21包含串联连接于电源电压Vcc与放电节点Q1之间的一第一PMOS晶体管P1与一第三NMOS晶体管N3。根据高电压传输允许信号EN来驱动该第一PMOS晶体管P1,且根据该第一PMOS晶体管P1的源极端子来驱动该第三NMOS晶体管N3。该第三NMOS晶体管N3的一井(well)耦接于电源电压Vcc。
电压泵送单元22包含一用于将高电压传输允许信号EN反相的第一反相器I1、一用于对来自该第一反相器I1的输出和时钟信号CLK进行“与非”(NAND)操作的“与非”(NAND)门ND1,及一用于根据来自该“与非”(NAND)门ND1的输出来将放电节点Q1的电压提高一预定电平的与电容耦合的第四NMOS晶体管N4。
第一NMOS晶体管N1是用于对高电压输出节点的高电压Vout放电的放电晶体管。最好,将一高电压晶体管用作该第一NMOS晶体管N1,且将自然晶体管(native transistor)用作第三及第四NMOS晶体管N3及N4。高电压开关单元10具有一用于切换高电压的高电压NMOS晶体管,且可将该高电压开关单元10具体化为用于将高电压提供给该高电压NMOS晶体管的各种电路。
现在将解释根据本发明的高电压开关电路的运行。
该高电压开关电路是一用于切换高电压的电路。当高电压传输允许信号EN为逻辑高时,高电压开关电路切换一充电高电压,且当高电压传输允许信号EN为逻辑低时,高电压开关电路对高电压放电。
当高电压传输允许信号EN为逻辑高时,一内部时钟发生器产生一时钟信号以驱动高电压发生泵送单元,从而产生高电压Vpp。由根据高电压传输允许信号EN与时钟信号CLK而允许(enabled)的高电压开关单元10将该高电压Vpp输出至高电压输出节点Vout。在放电单元20中,根据高电压传输允许信号EN不驱动第一PMOS晶体管P1,而驱动第二NMOS晶体管N2以将接地电源Vss提供给放电节点Q1。由于不是由逻辑低接地电源状态的放电节点Q1来驱动第一NMOS晶体管N1,所以通过高电压输出节点将高电压Vout(其是来自高电压开关单元10的输出)传输至后续端子。
另一方面,当高电压传输允许信号EN为逻辑低时,使得高电压发生泵送单元的运行停止,并且使得高电压开关单元20的运行也停止。因此,不再产生及传输高电压。此处,驱动放电单元20对高电压Vout(其是来自高电压开关单元10的输出)放电。根据逻辑低高电压传输允许信号EN不驱动第二NMOS晶体管N2,且根据高电压传输允许信号EN驱动第一PMOS晶体管P1。由第一PMOS晶体管P1与第三NMOS晶体管N3将电源电压Vcc提供给放电节点Q1。由第一反相器I1反相的高电压传输允许信号EN变成逻辑高,并被提供给“与非”(NAND)门ND1。由提供给“与非”(NAND)门ND1的另一输入端的时钟信号CLK来改变与电容耦合的第四NMOS晶体管N4的一侧节点的电压。与电容耦合的第四NMOS晶体管N4将提供给放电节点Q1的电源电压Vcc提高一预定电平。因此,通过提高第一NMOS晶体管N1(其由放电节点Q1驱动)的栅极端子的电压可有效地对高电压输出节点的高电压Vout(其是来自高电压开关单元10的输出)进行放电。
通常,考虑到高电压输出节点的负载电容为几百个pF,必须对高电压进行放电。当仅将电源电压提供给第一NMOS晶体管N1时,放电时间由于Vgs差异的限制而具有限制。根据本发明,将电压泵送单元22安置于放电单元20中,以便将高于电源电压Vcc的电压提供给放电节点Q1。通过有效地控制放电节点Q1来获得用于充分控制Vgs的偏压电平,其在放电时间内是有利的。
图3是示出根据本发明的高电压开关电路的电压变化的波形图。
如图3所示,当高电压传输允许信号EN为逻辑高时,高电压开关电路切换一超过5V的高电压,且当高电压传输允许信号EN为逻辑低时,高电压开关电路在预定放电时间内将超过5V的高电压放电至0V。根据本发明,高电压开关电路通过将电压泵送单元22安置于放电单元20中,来将一高于电源电压Vcc的电压提供给放电晶体管,以将放电时间维持在500ns以下。
如前所述,根据本发明,高电压开关电路通过在用于对高电压放电的放电单元中将一高于电源电压的电压提供给放电晶体管的栅极端子,来减少放电时间。
尽管已结合在附图中所示的本发明的实施例描述了本发明,但是本发明不限于此。本领域普通技术人员应该明白,在不脱离本发明的范围和精神的情况下,可对其作出替换、更正及改变。

Claims (6)

1.一种高电压开关电路,其包括:
一放电节点;
一用于根据一高电压传输允许信号及一时钟信号来切换一外部高电压的高电压开关单元;
一用于根据该放电节点来对一高电压放电的第一NMOS晶体管,所述高电压是来自该高电压开关单元的输出;
一用于根据该高电压传输允许信号来将一电源电压传输至该放电节点的电源电压传输单元;
一用于根据该高电压传输允许信号来控制该放电节点的一电压的第二NMOS晶体管;及
一用于根据该高电压传输允许信号及该时钟信号来将该放电节点的电压提高一预定电平的电压泵送单元。
2.如权利要求1所述的电路,其中该电源电压传输单元包含串联连接于该电源电压与该放电节点之间的一PMOS晶体管与一第三NMOS晶体管。
3.如权利要求2所述的电路,其中根据该高电压传输允许信号来驱动该PMOS晶体管,并且根据通过该PMOS晶体管传输的该电源电压来驱动该第三NMOS晶体管。
4.如权利要求1所述的电路,其中该电压泵送单元包含:
一用于将该高电压传输允许信号反相的反相器;
一用于对来自该反相器的输出和该时钟信号进行NAND操作的NAND门;及
用于根据自该NAND门的输出来将该放电节点的电压提高该预定电平的与电容耦合的第四NMOS晶体管。
5.一种高电压开关电路,其包括:
一放电节点;
一用于根据一高电压传输允许信号与一时钟信号来切换一外部高电压的高电压开关单元;
一用于根据该放电节点来对一高电压放电的第一NMOS晶体管,该高电压是来自该高电压开关单元的输出;
一用于根据该高电压传输允许信号来将一电源电压传输至该放电节点的电源电压传输单元,其中,该电源电压传输单元包含串联连接于该电源电压和该放电节点之间的一PMOS晶体管与一第三NMOS晶体管;
一用于根据该高电压传输允许信号来控制该放电节点的一电压的第二NMOS晶体管;及
一用于根据该高电压传输允许信号与该时钟信号来将该放电节点的电压提高一预定电平的电压泵送单元,其中,该电压泵送单元包含:一用于将该高电压传输允许信号反相的反相器、一用于对来自该反相器的输出和该时钟信号进行NAND操作的NAND门、和一用于根据来自该NAND门的输出来将该放电节点的电压提高该预定电平的与电容耦合的第四NMOS晶体管。
6.如权利要求5所述的电路,其中根据该高电压传输允许信号来驱动该PMOS晶体管,并且根据通过该PMOS晶体管传输的该电源电压来驱动该第三NMOS晶体管。
CNB2004100544914A 2003-12-05 2004-07-22 高电压开关电路 Expired - Lifetime CN100555459C (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR88269/2003 2003-12-05
KR1020030088269A KR100554841B1 (ko) 2003-12-05 2003-12-05 고전압 스위치 회로
KR88269/03 2003-12-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1624804A true CN1624804A (zh) 2005-06-08
CN100555459C CN100555459C (zh) 2009-10-28

Family

ID=34632118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2004100544914A Expired - Lifetime CN100555459C (zh) 2003-12-05 2004-07-22 高电压开关电路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7053689B2 (zh)
JP (1) JP4355625B2 (zh)
KR (1) KR100554841B1 (zh)
CN (1) CN100555459C (zh)
TW (1) TWI272615B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101159168B (zh) * 2006-10-02 2012-06-13 三星电子株式会社 半导体存储器件及其操作方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100520682B1 (ko) * 2004-02-25 2005-10-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 고전압 스위치 회로
JP4199765B2 (ja) * 2005-12-02 2008-12-17 マイクロン テクノロジー,インコーポレイテッド 高電圧スイッチング回路
KR100843004B1 (ko) * 2006-04-14 2008-07-01 주식회사 하이닉스반도체 플래쉬 메모리 소자 및 그 구동 방법
US7592858B1 (en) * 2008-04-15 2009-09-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Circuit and method for a gate control circuit with reduced voltage stress
US8106701B1 (en) * 2010-09-30 2012-01-31 Sandisk Technologies Inc. Level shifter with shoot-through current isolation
US8537593B2 (en) 2011-04-28 2013-09-17 Sandisk Technologies Inc. Variable resistance switch suitable for supplying high voltage to drive load
US8395434B1 (en) 2011-10-05 2013-03-12 Sandisk Technologies Inc. Level shifter with negative voltage capability
US9330776B2 (en) 2014-08-14 2016-05-03 Sandisk Technologies Inc. High voltage step down regulator with breakdown protection

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5877635A (en) * 1997-03-07 1999-03-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Full-swing buffer circuit with charge pump
JP3696125B2 (ja) * 2000-05-24 2005-09-14 株式会社東芝 電位検出回路及び半導体集積回路
KR100526576B1 (ko) * 2003-05-30 2005-11-03 주식회사 하이닉스반도체 고전압 전달 회로

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101159168B (zh) * 2006-10-02 2012-06-13 三星电子株式会社 半导体存储器件及其操作方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100554841B1 (ko) 2006-03-03
US7053689B2 (en) 2006-05-30
TW200519952A (en) 2005-06-16
JP2005176296A (ja) 2005-06-30
KR20050055214A (ko) 2005-06-13
TWI272615B (en) 2007-02-01
CN100555459C (zh) 2009-10-28
US20050122157A1 (en) 2005-06-09
JP4355625B2 (ja) 2009-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110544495B (zh) 电压控制装置及存储器系统
US6278318B1 (en) Booster circuit associated with low-voltage power source
US6084800A (en) Circuit of boosting a voltage for use in a flash memory device
US7439792B2 (en) High voltage generation circuit and semiconductor device having the same
CN1624804A (zh) 高电压开关电路
CN116317542A (zh) 一种双电荷泵电路系统
US7030684B2 (en) High voltage switch circuit of semiconductor device
CN102237788A (zh) 电荷泵电路及存储器
CN103680621A (zh) 具有电荷泵的nvm及其方法
US5969961A (en) Load pump type of voltage generator circuit
US6847250B2 (en) Pumping circuit for outputting program voltage and program verify voltage of different levels
CN1116684C (zh) 字线驱动器、使用其的存储器及降低电压源能耗的方法
KR100355089B1 (ko) 전원 회로
CN102290101A (zh) 源线偏置电路及存储器
KR100342978B1 (ko) 플래쉬메모리셀의소오스드라이버회로
CN1637932A (zh) 铁电存储装置、电子设备、以及驱动方法
CN1124687C (zh) 用于产生数字信号的电路装置
KR100714045B1 (ko) 고전압 스위치 제어 회로
CN103093813B (zh) 半导体器件
CN109785890B (zh) Otp rom电路中的电源开关电路
WO1998027477A1 (en) A regulator system for charge pump circuits
KR100560769B1 (ko) 고전압 펌핑 회로
CN115019849A (zh) 存储器及存储装置
CN115910144A (zh) 驱动电路、存储设备及驱动电路控制方法
KR100633440B1 (ko) 고전압 발생 효율을 향상시키는 고전압 발생회로 및 이를포함하는 불휘발성 반도체 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CX01 Expiry of patent term
CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20091028